JPS6234095B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6234095B2 JPS6234095B2 JP5322979A JP5322979A JPS6234095B2 JP S6234095 B2 JPS6234095 B2 JP S6234095B2 JP 5322979 A JP5322979 A JP 5322979A JP 5322979 A JP5322979 A JP 5322979A JP S6234095 B2 JPS6234095 B2 JP S6234095B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- reaction
- converter
- down counter
- time constant
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は反応終点測定と反応速度測定を共に行
なうことのできる自動化学分析装置に関する。
なうことのできる自動化学分析装置に関する。
［従来の技術］
自動化学分析装置においては、試料と試薬とを
反応管にて反応終点まで反応させて、反応管の比
色測定を行なう所謂、反応終点測定を行なつてい
るが、国際生化学連合において、酵素活性の標準
的測定は短時間で測定が行ない得、妨害物質の影
響のない反応速度法によるべきであるとの勧告が
なされてから、反応速度法による測定が広範に行
なわれるようになつた。
反応管にて反応終点まで反応させて、反応管の比
色測定を行なう所謂、反応終点測定を行なつてい
るが、国際生化学連合において、酵素活性の標準
的測定は短時間で測定が行ない得、妨害物質の影
響のない反応速度法によるべきであるとの勧告が
なされてから、反応速度法による測定が広範に行
なわれるようになつた。
しかし、従来の自動化学分析装置における検出
回路においては、反応終点測定専用か反応速度測
定専用か何れか一方の測定しか行ない得ず、不便
であつた。
回路においては、反応終点測定専用か反応速度測
定専用か何れか一方の測定しか行ない得ず、不便
であつた。
最近、これら両方の測定を行なう事が出来る自
動化学分析装置（例えば、特開昭53−133480号公
報に示す如き装置）が開発されている。
動化学分析装置（例えば、特開昭53−133480号公
報に示す如き装置）が開発されている。
この様な自動化学分析装置の検出回路において
は、被検試料が収容された反応管を光路に配置
し、該反応管を透過した光を光検出器、増幅器を
介してＡ／Ｄ変換器に入力し、ここでデジタル信
号に変換している。そして、該Ａ／Ｄ変換器の出
力をアツプダウンカウンタにより計数し、このカ
ウンタ出力を更に信号処理回路で濃度値に対応し
た信号に変換し、それを表示させる様にしてい
る。
は、被検試料が収容された反応管を光路に配置
し、該反応管を透過した光を光検出器、増幅器を
介してＡ／Ｄ変換器に入力し、ここでデジタル信
号に変換している。そして、該Ａ／Ｄ変換器の出
力をアツプダウンカウンタにより計数し、このカ
ウンタ出力を更に信号処理回路で濃度値に対応し
た信号に変換し、それを表示させる様にしてい
る。
さて、この様な検出回路のＡ／Ｄ変換器は第６
図に示す様に、充放電回路２１、増幅器Ａを介し
た光検出器Ｄの出力と該充放電回路２１の放電電
圧が一致した時に一致信号を発生するコンパレー
タ２２、クロツク信号発生器２３、前記コンパレ
ータ２２から一致信号が入力されるまで、該クロ
ツク信号発生器２３からのクロツク信号を通すゲ
ート回路２４から成り、該ゲート回路２４が通し
たクロツク信号をアツプダウンカウンタ８により
計数する様にしている。
図に示す様に、充放電回路２１、増幅器Ａを介し
た光検出器Ｄの出力と該充放電回路２１の放電電
圧が一致した時に一致信号を発生するコンパレー
タ２２、クロツク信号発生器２３、前記コンパレ
ータ２２から一致信号が入力されるまで、該クロ
ツク信号発生器２３からのクロツク信号を通すゲ
ート回路２４から成り、該ゲート回路２４が通し
たクロツク信号をアツプダウンカウンタ８により
計数する様にしている。
所で、この様なＡ／Ｄ変換器の充放電回路２１
はその時定数や基準電圧が固定されたものが使用
されている。即ち、反応終点測定を行なう場合、
反応終点時の反応管の透過率を表す信号（増幅器
Ａを介した光検出器Ｄの出力に対応したもの）が
透過率０％〜100％の広いレンジの何れにあつて
も、所定測定時間T0の間にコンパレータ２２よ
りそれとの一致信号を発生して増幅器Ａの出力信
号をデジタル信号に変換しなければならないた
め、充放電回路２１の時定数（Ａ／Ｄ変換器の時
定数）はその放電曲線が第５図ａにおいて曲線Ｃ
１になるように短く設定されている。
はその時定数や基準電圧が固定されたものが使用
されている。即ち、反応終点測定を行なう場合、
反応終点時の反応管の透過率を表す信号（増幅器
Ａを介した光検出器Ｄの出力に対応したもの）が
透過率０％〜100％の広いレンジの何れにあつて
も、所定測定時間T0の間にコンパレータ２２よ
りそれとの一致信号を発生して増幅器Ａの出力信
号をデジタル信号に変換しなければならないた
め、充放電回路２１の時定数（Ａ／Ｄ変換器の時
定数）はその放電曲線が第５図ａにおいて曲線Ｃ
１になるように短く設定されている。
［発明が解決しようとする問題点］
一方、反応速度測定では反応進行最中の透過率
の変化、即ち、第５図ａにおいて例えばＬで示す
量に対応した情報を得ることが必要であるが、反
応速度測定時にも第５図ａのＣ１に示す時定数の
短い放電曲線に基づいてこの情報を求めようとす
ると、その測定精度が不充分となる。即ち、この
測定の際の精度は、単位の透過率の変化量ΔＬに
対応する時間幅ΔＴが前記クロツクパルスの何発
分に相当するかによつて決定され、この個数が多
い程精度は高いと言える。しかし乍ら、従来にお
いては、第５図ａから明らかなように、このΔＴ
が小さいため、反応速度測定時の測定精度が不充
分であつた。
の変化、即ち、第５図ａにおいて例えばＬで示す
量に対応した情報を得ることが必要であるが、反
応速度測定時にも第５図ａのＣ１に示す時定数の
短い放電曲線に基づいてこの情報を求めようとす
ると、その測定精度が不充分となる。即ち、この
測定の際の精度は、単位の透過率の変化量ΔＬに
対応する時間幅ΔＴが前記クロツクパルスの何発
分に相当するかによつて決定され、この個数が多
い程精度は高いと言える。しかし乍ら、従来にお
いては、第５図ａから明らかなように、このΔＴ
が小さいため、反応速度測定時の測定精度が不充
分であつた。
本発明はこの様な問題を解決し、反応終点測定
時の広いダイナミツクレンジの信号を確実にデジ
タル信号に変換して検出できると共に、反応速度
測定を高精度に行ない得る自動化学分析装置の検
出回路を提供する事を目的とするものである。
時の広いダイナミツクレンジの信号を確実にデジ
タル信号に変換して検出できると共に、反応速度
測定を高精度に行ない得る自動化学分析装置の検
出回路を提供する事を目的とするものである。
［問題点を解決するための手段］
そこで、本発明は、反応管を透過した光を検出
するための検出器と、該検出器よりの出力信号が
供給される増幅率可変増幅回路と、該増幅率可変
増幅回路の出力信号が供給され、Ａ／Ｄ変換基準
電圧とＡ／Ｄ変換の時定数が可変なＡ／Ｄ変換器
と、該Ａ／Ｄ変換器の出力信号をカウントするた
めのアツプダウンカウンターと、該アツプダウン
カウンターの計数値を表示するための手段と、反
応速度測定又は反応終点測定に応じて前記増幅率
可変増幅回路の増幅率、前記Ａ／Ｄ変換器のＡ／
Ｄ変換基準電圧及びＡ／Ｄ変換の時定数並びにア
ツプダウンカウンターにおけるアツプ又はダウン
カウントの別を自動的に制御するための手段とよ
りなした。
するための検出器と、該検出器よりの出力信号が
供給される増幅率可変増幅回路と、該増幅率可変
増幅回路の出力信号が供給され、Ａ／Ｄ変換基準
電圧とＡ／Ｄ変換の時定数が可変なＡ／Ｄ変換器
と、該Ａ／Ｄ変換器の出力信号をカウントするた
めのアツプダウンカウンターと、該アツプダウン
カウンターの計数値を表示するための手段と、反
応速度測定又は反応終点測定に応じて前記増幅率
可変増幅回路の増幅率、前記Ａ／Ｄ変換器のＡ／
Ｄ変換基準電圧及びＡ／Ｄ変換の時定数並びにア
ツプダウンカウンターにおけるアツプ又はダウン
カウントの別を自動的に制御するための手段とよ
りなした。
［実施例］
第１図は本発明の一実施例を示すもので、図面
において１は光源であり、該光源よりの光は反応
管２を透過した後、光検出器３に投射される。該
反応管２は回転テーブル４に複数取り付けられて
おり、該テーブルの回転により順次新たな反応管
が光源１と検出器３との間に配置される。５は増
幅率可変増幅器であり、該増幅器５の増幅率はマ
イクロコンピユータの如き制御装置６よりの増幅
率制御信号により制御される。６ａは該制御装置
に制御指令を入力するためのキーボードの如き入
力装置である。該増幅率可変増幅器５の出力信号
はＡ／Ｄ変換器７に供給される。該Ａ／Ｄ変換器
７はＡ／Ｄ変換基準電圧とＡ／Ｄ変換の時定数を
変更し得るようになつており、これらの変更は制
御装置６よりのＡ／Ｄ変換基準電圧制御信号と時
定数制御信号によつて行なわれる。該Ａ／Ｄ変換
器は、第４図に示す様に構成されている。尚、該
図中前記第６図と同一番号を付したものは同一構
成要素である。即ち、制御装置６からの基準電圧
制御信号と時定数制御信号により、夫々、充電さ
れるべき基準電圧と該電圧の放電の時定数が制御
される充放電回路２１と、前記増幅器５を介して
光検出器３の出力信号値と該充放電回路２１の放
電電圧値が一致した時に一致信号を発生するコン
パレータ２２、クロツク信号発生器２３、前記コ
ンパレータ２２から一致信号が入力されるまで、
該クロツク信号発生器２３からのクロツク信号を
通すゲート回路２４から成る。
において１は光源であり、該光源よりの光は反応
管２を透過した後、光検出器３に投射される。該
反応管２は回転テーブル４に複数取り付けられて
おり、該テーブルの回転により順次新たな反応管
が光源１と検出器３との間に配置される。５は増
幅率可変増幅器であり、該増幅器５の増幅率はマ
イクロコンピユータの如き制御装置６よりの増幅
率制御信号により制御される。６ａは該制御装置
に制御指令を入力するためのキーボードの如き入
力装置である。該増幅率可変増幅器５の出力信号
はＡ／Ｄ変換器７に供給される。該Ａ／Ｄ変換器
７はＡ／Ｄ変換基準電圧とＡ／Ｄ変換の時定数を
変更し得るようになつており、これらの変更は制
御装置６よりのＡ／Ｄ変換基準電圧制御信号と時
定数制御信号によつて行なわれる。該Ａ／Ｄ変換
器は、第４図に示す様に構成されている。尚、該
図中前記第６図と同一番号を付したものは同一構
成要素である。即ち、制御装置６からの基準電圧
制御信号と時定数制御信号により、夫々、充電さ
れるべき基準電圧と該電圧の放電の時定数が制御
される充放電回路２１と、前記増幅器５を介して
光検出器３の出力信号値と該充放電回路２１の放
電電圧値が一致した時に一致信号を発生するコン
パレータ２２、クロツク信号発生器２３、前記コ
ンパレータ２２から一致信号が入力されるまで、
該クロツク信号発生器２３からのクロツク信号を
通すゲート回路２４から成る。
該Ａ／Ｄ変換器７の出力信号（前記ゲート回路
２４が通したクロツク信号）はアツプダウンカウ
ンター８に供給される。該アツプダウンカウンタ
ー８は制御装置６のアツプカウント／ダウンカウ
ント制御信号に基づいてアツプカウント又はダウ
ンカウントを行なう。該カウンタの出力信号は信
号処理回路９において被検試料の濃度値に対応し
た信号に変換される。該信号処理回路９の出力信
号はラインプリンタの如き表示装置１０に供給さ
れて表示される。
２４が通したクロツク信号）はアツプダウンカウ
ンター８に供給される。該アツプダウンカウンタ
ー８は制御装置６のアツプカウント／ダウンカウ
ント制御信号に基づいてアツプカウント又はダウ
ンカウントを行なう。該カウンタの出力信号は信
号処理回路９において被検試料の濃度値に対応し
た信号に変換される。該信号処理回路９の出力信
号はラインプリンタの如き表示装置１０に供給さ
れて表示される。
上述した如き構成において、反応管２の各々に
収容された試料に対して反応終点測定を行なうの
か、反応速度測定を行なうのかのプログラムが予
め入力装置６ａによつて入力されている。ターン
テーブル４の回転によつて順次反応管２が光源１
から検出器３へ向かう光路上へ配置されると、該
各々の反応管に対して反応終点測定を行なうのか
反応速度測定を行なうのかのプログラムが読み出
され、この指令に基づいて増幅率制御信号が増幅
率可変増幅器５に、Ａ／Ｄ変換基準電圧制御信号
と時定数制御信号とがＡ／Ｄ変換器７に、又、ア
ツプカウント／ダウンカウント制御信号がアツプ
ダウンカウンター８に夫々供給される。
収容された試料に対して反応終点測定を行なうの
か、反応速度測定を行なうのかのプログラムが予
め入力装置６ａによつて入力されている。ターン
テーブル４の回転によつて順次反応管２が光源１
から検出器３へ向かう光路上へ配置されると、該
各々の反応管に対して反応終点測定を行なうのか
反応速度測定を行なうのかのプログラムが読み出
され、この指令に基づいて増幅率制御信号が増幅
率可変増幅器５に、Ａ／Ｄ変換基準電圧制御信号
と時定数制御信号とがＡ／Ｄ変換器７に、又、ア
ツプカウント／ダウンカウント制御信号がアツプ
ダウンカウンター８に夫々供給される。
即ち、もし、反応管２に収容された試料を反応
終点測定で測定する指令が出れば、増幅率可変増
幅器５の増幅率は反応終点測定時に共通な所定の
増幅率となり、試料と試薬との反応終点の濃度に
対応した検出器３の出力信号は該増幅率だけ増幅
されてＡ／Ｄ変換器７に供給される。
終点測定で測定する指令が出れば、増幅率可変増
幅器５の増幅率は反応終点測定時に共通な所定の
増幅率となり、試料と試薬との反応終点の濃度に
対応した検出器３の出力信号は該増幅率だけ増幅
されてＡ／Ｄ変換器７に供給される。
さて、反応終点測定時においては、前記のよう
に増幅器よりの広いダイナミツクレンジの信号を
デジタル信号に変換する必要がある。そのため、
第５図ａの曲線C1に示す曲線が放電曲線となる
よう、充放電回路２１の時定数（Ａ／Ｄ変換器７
のＡ／Ｄ変換の時定数）を短く設定し、又、透過
率100％に対応した電圧を充放電回路２１の基準
電圧（Ａ／Ｄ変換の基準電圧）に設定する。この
様にして時定数と基準電圧が設定されたＡ／Ｄ変
換器７により前記増幅器５の出力は細かい時間幅
毎に繰り返しデジタル信号に変換される。
に増幅器よりの広いダイナミツクレンジの信号を
デジタル信号に変換する必要がある。そのため、
第５図ａの曲線C1に示す曲線が放電曲線となる
よう、充放電回路２１の時定数（Ａ／Ｄ変換器７
のＡ／Ｄ変換の時定数）を短く設定し、又、透過
率100％に対応した電圧を充放電回路２１の基準
電圧（Ａ／Ｄ変換の基準電圧）に設定する。この
様にして時定数と基準電圧が設定されたＡ／Ｄ変
換器７により前記増幅器５の出力は細かい時間幅
毎に繰り返しデジタル信号に変換される。
該デジタル信号に変換された信号はアツプダウ
ンカウンター８に供給される。該アツプダウンカ
ウンター８には制御装置６よりアツプカウントの
実行を命令するアツプカウント／ダウンカウント
制御信号が供給されているため、該アツプダウン
カウンター８においてＡ／Ｄ変換器７よりのデジ
タル信号は一定時間アツプカウントされ、該カウ
ンターの計数値は該一定時間に渡るデジタル信号
値の積分値となる。該計数値は積分時間が一定な
ら前記増幅器Ａより得られる信号の計数時間にお
ける平均値に対応しており、該計数値に基づいて
反応終点測定に基づく濃度値に対応した信号が信
号処理装置９より出され、該信号は表示装置１０
に表示される。
ンカウンター８に供給される。該アツプダウンカ
ウンター８には制御装置６よりアツプカウントの
実行を命令するアツプカウント／ダウンカウント
制御信号が供給されているため、該アツプダウン
カウンター８においてＡ／Ｄ変換器７よりのデジ
タル信号は一定時間アツプカウントされ、該カウ
ンターの計数値は該一定時間に渡るデジタル信号
値の積分値となる。該計数値は積分時間が一定な
ら前記増幅器Ａより得られる信号の計数時間にお
ける平均値に対応しており、該計数値に基づいて
反応終点測定に基づく濃度値に対応した信号が信
号処理装置９より出され、該信号は表示装置１０
に表示される。
又、反応管２に入れられた試料を反応速度測定
で測定する指令が出れば、増幅率可変増幅器５の
増幅率は反応開始時に得られた検出信号が例え
ば、第２図においてE0で示す如き、反応速度測
定時に共通な信号値まで増幅されるように反応速
度測定の都度、自動的に変化する。従つて、反応
速度測定時には増幅器５の出力信号はE0を最初
の値として反応管２の反応進行に伴う濃度変化に
応じて例えば、点線イ，ロ，ハで示すように反応
速度に応じて経時的に変化してゆく。このような
信号はＡ／／Ｄ変換器７に供給され、所定の測定
時間内において、細かい時間幅毎に繰り返し多数
回Ａ／Ｄ変換される。
で測定する指令が出れば、増幅率可変増幅器５の
増幅率は反応開始時に得られた検出信号が例え
ば、第２図においてE0で示す如き、反応速度測
定時に共通な信号値まで増幅されるように反応速
度測定の都度、自動的に変化する。従つて、反応
速度測定時には増幅器５の出力信号はE0を最初
の値として反応管２の反応進行に伴う濃度変化に
応じて例えば、点線イ，ロ，ハで示すように反応
速度に応じて経時的に変化してゆく。このような
信号はＡ／／Ｄ変換器７に供給され、所定の測定
時間内において、細かい時間幅毎に繰り返し多数
回Ａ／Ｄ変換される。
さて、反応速度測定を精度良く行なうには、狭
いレンジにおける反応進行最中の透過率を表す信
号（増幅器５を介した光検出器３の出力に対応し
たもの）の所定の測定時間T0における変化幅Ｌ
を求めれば良く、その為に、第５図ｂの曲線Ｃ２
に示す様に、Ａ／Ｄ変換器７の充放電回路２１の
放電波形が時間T0間に比較的狭い幅Ｌにおいて
変化する様に、充放電回路２１の時定数（Ａ／Ｄ
変換器７のＡ／Ｄ変換の時定数）を長く設定し、
又、前記E0から幅Ｌの最大値を加えた電圧を充
放電回路２１の基準電圧（Ａ／Ｄ変換の基準電
圧）に設定する。この様にして時定数と基準電圧
が設定されたＡ／Ｄ変換器７により、例えば、第
３図において実線で示す如き信号がデジタル信号
に変換された後、アツプダウンカウンター８に供
給される。該アツプダウンカウンターにおいて
は、アツプカウント／ダウンカウント制御信号に
より、細かい時間幅毎に繰り返しAD変換されて
変換器７より送られるクロツクパルスを、第３図
における全計数時間Ｔの半時間Ｔ／２だけアツプ
カウントする。その結果、第３図において斜線Ａ
で示した面積に対応した計数値までの計数が行な
われ、次に、残りのＴ／２の時間においてはダウ
ンカウントが行なわれる。その結果、該アツプダ
ウンカウンター８の計数値は第３図において斜線
Ｂで示した部分の面積に対応したものとなつてい
る。この部分の面積は検出器３よりの検出信号の
変率に対応しているため、アツプダウンカウンタ
ー８の計数値に基づいて表示装置１０に反応速度
測定に基づく濃度測定値が表示されるが、この場
合単位の変化幅ΔＬに対応する時間幅は第５図ｂ
から明らかなようにΔT′となり、前記ΔＴより
かなり大きくなつているため、反応速度測定時の
測定精度を向上できる。
いレンジにおける反応進行最中の透過率を表す信
号（増幅器５を介した光検出器３の出力に対応し
たもの）の所定の測定時間T0における変化幅Ｌ
を求めれば良く、その為に、第５図ｂの曲線Ｃ２
に示す様に、Ａ／Ｄ変換器７の充放電回路２１の
放電波形が時間T0間に比較的狭い幅Ｌにおいて
変化する様に、充放電回路２１の時定数（Ａ／Ｄ
変換器７のＡ／Ｄ変換の時定数）を長く設定し、
又、前記E0から幅Ｌの最大値を加えた電圧を充
放電回路２１の基準電圧（Ａ／Ｄ変換の基準電
圧）に設定する。この様にして時定数と基準電圧
が設定されたＡ／Ｄ変換器７により、例えば、第
３図において実線で示す如き信号がデジタル信号
に変換された後、アツプダウンカウンター８に供
給される。該アツプダウンカウンターにおいて
は、アツプカウント／ダウンカウント制御信号に
より、細かい時間幅毎に繰り返しAD変換されて
変換器７より送られるクロツクパルスを、第３図
における全計数時間Ｔの半時間Ｔ／２だけアツプ
カウントする。その結果、第３図において斜線Ａ
で示した面積に対応した計数値までの計数が行な
われ、次に、残りのＴ／２の時間においてはダウ
ンカウントが行なわれる。その結果、該アツプダ
ウンカウンター８の計数値は第３図において斜線
Ｂで示した部分の面積に対応したものとなつてい
る。この部分の面積は検出器３よりの検出信号の
変率に対応しているため、アツプダウンカウンタ
ー８の計数値に基づいて表示装置１０に反応速度
測定に基づく濃度測定値が表示されるが、この場
合単位の変化幅ΔＬに対応する時間幅は第５図ｂ
から明らかなようにΔT′となり、前記ΔＴより
かなり大きくなつているため、反応速度測定時の
測定精度を向上できる。
上述した様に、本発明では反応速度測定を行な
うのか反応終点測定を行なうのかに応じて、増幅
率可変増幅器の増幅率とアツプダウンカウンター
のアツプ又はダウンの別を制御すると同時に、
Ａ／Ｄ変換器のＡ／Ｄ基準電圧及びＡ／Ｄ変換の
時定数を制御しているので、反応終点測定におい
て広いダイナミツクレンジの信号を確実にAD変
換して検出するというできるという従来装置の特
性を損うことなく、精度の高い反応速度測定を行
なうことができる。
うのか反応終点測定を行なうのかに応じて、増幅
率可変増幅器の増幅率とアツプダウンカウンター
のアツプ又はダウンの別を制御すると同時に、
Ａ／Ｄ変換器のＡ／Ｄ基準電圧及びＡ／Ｄ変換の
時定数を制御しているので、反応終点測定におい
て広いダイナミツクレンジの信号を確実にAD変
換して検出するというできるという従来装置の特
性を損うことなく、精度の高い反応速度測定を行
なうことができる。
第１図は本発明の一実施例を示すための図であ
り、第２図は反応速度測定時におけるＡ／Ｄ変換
すべき信号波形を例示した図であり、第３図は反
応速度測定におけるアツプダウンカウンターの計
数値を説明するための図、第４図は前記第１図に
示した装置の一部詳細図、第５図ａ，ｂは夫々反
応終点測定時、反応速度測定時のＡ／Ｄ変換器の
Ａ／Ｄ変換の時定数と基準電圧の設定を説明する
ために使用した図、第６図は従来のＡ／Ｄ変換器
を示したものである。 １：光源、２：反応管、３：光検出器、４：回
転テーブル、５：増幅器、６：制御装置、６ａ：
入力装置、７：Ａ／Ｄ変換器、８：アツプダウン
カウンター、９：信号処理回路、１０：表示装
置、２１：充放電回路、２２：コンパレーター、
２３：クロツク信号発生回路、２４：ゲート回
路。
り、第２図は反応速度測定時におけるＡ／Ｄ変換
すべき信号波形を例示した図であり、第３図は反
応速度測定におけるアツプダウンカウンターの計
数値を説明するための図、第４図は前記第１図に
示した装置の一部詳細図、第５図ａ，ｂは夫々反
応終点測定時、反応速度測定時のＡ／Ｄ変換器の
Ａ／Ｄ変換の時定数と基準電圧の設定を説明する
ために使用した図、第６図は従来のＡ／Ｄ変換器
を示したものである。 １：光源、２：反応管、３：光検出器、４：回
転テーブル、５：増幅器、６：制御装置、６ａ：
入力装置、７：Ａ／Ｄ変換器、８：アツプダウン
カウンター、９：信号処理回路、１０：表示装
置、２１：充放電回路、２２：コンパレーター、
２３：クロツク信号発生回路、２４：ゲート回
路。
Claims (1)
- １ 反応管を透過した光を検出するための検出器
と、該検出器よりの出力信号が供給される増幅率
可変増幅回路と、該増幅率可変増幅回路の出力信
号が供給され、Ａ／Ｄ変換基準電圧とＡ／Ｄ変換
の時定数が可変なＡ／Ｄ変換器と、該Ａ／Ｄ変換
器の出力信号をカウントするためのアツプダウン
カウンターと、該アツプダウンカウンターの計数
値を表示するための手段と、反応速度測定又は反
応終点測定に応じて前記増幅率可変増幅回路の増
幅率、前記Ａ／Ｄ変換器のＡ／Ｄ変換基準電圧及
びＡ／Ｄ変換の時定数並びにアツプダウンカウン
ターにおけるアツプ又はダウンカウントの別を自
動的に制御するための手段とよりなる自動化学分
析装置における検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5322979A JPS55144549A (en) | 1979-04-28 | 1979-04-28 | Detecting circuit for automatic chemical analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5322979A JPS55144549A (en) | 1979-04-28 | 1979-04-28 | Detecting circuit for automatic chemical analyzer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55144549A JPS55144549A (en) | 1980-11-11 |
| JPS6234095B2 true JPS6234095B2 (ja) | 1987-07-24 |
Family
ID=12936983
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5322979A Granted JPS55144549A (en) | 1979-04-28 | 1979-04-28 | Detecting circuit for automatic chemical analyzer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55144549A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006104006A1 (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-05 | Sysmex Corporation | 検体分析方法および検体分析装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5788349A (en) * | 1980-11-21 | 1982-06-02 | Toshiba Corp | Biochemical analysing apparatus |
-
1979
- 1979-04-28 JP JP5322979A patent/JPS55144549A/ja active Granted
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006104006A1 (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-05 | Sysmex Corporation | 検体分析方法および検体分析装置 |
| JPWO2006104006A1 (ja) * | 2005-03-29 | 2008-09-04 | シスメックス株式会社 | 検体分析方法および検体分析装置 |
| JP4999679B2 (ja) * | 2005-03-29 | 2012-08-15 | シスメックス株式会社 | 検体分析装置 |
| US8545760B2 (en) | 2005-03-29 | 2013-10-01 | Sysmex Corporation | Specimen analyzing method and specimen analyzing apparatus |
| US9028756B2 (en) | 2005-03-29 | 2015-05-12 | Sysmex Corporation | Specimen analyzing method and specimen analyzing apparatus |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55144549A (en) | 1980-11-11 |
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