JPS623615B2 - - Google Patents
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- JPS623615B2 JPS623615B2 JP12510478A JP12510478A JPS623615B2 JP S623615 B2 JPS623615 B2 JP S623615B2 JP 12510478 A JP12510478 A JP 12510478A JP 12510478 A JP12510478 A JP 12510478A JP S623615 B2 JPS623615 B2 JP S623615B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
- G01R17/02—Arrangements in which the value to be measured is automatically compared with a reference value
- G01R17/06—Automatic balancing arrangements
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Description
【発明の詳細な説明】
モノリシツク集積回路化AD変換器に使用され
る電圧比較回路には、素子特性の製造ばらつきに
よつて生じるオフセツト電圧を自動的に補正する
手段が必要である。従来技術としては、例えば
ISSCC78,Digest of Technical Papers,176〜
177におけるJ.B.C.ecil et al,“Atwochip PCM
CODEC for Per―Channel Applications”に見
られるように、容量と抵抗による極性信号の積分
回路が用いられているが、この場合、A/D変換
周期毎の過大補償を避けるために大時定数、すな
わち、大容量値と大抵抗値が必要であるため外付
部品の使用を余儀なくされていた。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A voltage comparison circuit used in a monolithically integrated AD converter requires means for automatically correcting offset voltages caused by manufacturing variations in device characteristics. As conventional technology, for example,
ISSCC78, Digest of Technical Papers, 176~
JBCecil et al, “Atwochip PCM
CODEC for Per-Channel Applications", a polar signal integration circuit using capacitance and resistance is used. In this case, in order to avoid overcompensation for each A/D conversion cycle, a large time constant, , large capacitance and resistance are required, which necessitates the use of external components.
本発明の目的は、この電圧比較回路のオフセツ
ト電圧を、モノリシツク集積回路化された素子以
外の何らの外付け電子部品を用いることなく、自
動的に補正する手段および回路構成を提供するも
のである。 An object of the present invention is to provide a means and circuit configuration for automatically correcting the offset voltage of this voltage comparison circuit without using any external electronic components other than monolithically integrated circuit elements. .
以下、本発明を図面を用いて詳述する。 Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.
第1図において、Aは電圧比較器であり、ラツ
チイネーブルパルスP2の印加時点における2つの
入力電圧の大小を比較して、その結果を1または
0の論理レベルをもつパルスP3で出力させる。上
記Aの非反転入力端子には、駆動パルスP1および
P1 (P1とP1 とは論理レベルが互いに相反の関係に
ありP1=P1が成立する。以下も同様である。)で
オン,オフするスイツチS11,S12が接続され、
S11の他端は接続され、S12の他端は比較の対象と
なる入力信号源に接続される。一方、上記Aの反
転入力端子には、一端が接続されたコンデンサ
C2と、パルスP6 でオン,オフ駆動されるスイツ
チS62が接続される。さらに上記スイツチS62の他
端には、パルスP6で駆動されるスイツチS61と、
一端が接地されたコンデンサC1とが接続され
る。さらにまた、スイツチS61の他端には、一端
が接地された抵抗素子R2と、別の抵抗素子R1と
が接続される。 In FIG. 1, A is a voltage comparator, which compares the magnitude of two input voltages at the time of application of the latch enable pulse P2 , and outputs the result as a pulse P3 having a logic level of 1 or 0. . The non-inverting input terminal of A above is connected to the drive pulse P1 and
Switches S 11 and S 12 that are turned on and off are connected at P 1 (the logic levels of P 1 and P 1 are opposite to each other, and P 1 = P 1 holds true. The same applies below).
The other end of S 11 is connected, and the other end of S 12 is connected to the input signal source to be compared. On the other hand, the inverting input terminal of A above has a capacitor connected to one end.
C 2 is connected to a switch S 62 which is turned on and off by pulse P 6 . Further, at the other end of the switch S 62 , there is a switch S 61 driven by the pulse P 6 ,
It is connected to a capacitor C1 whose one end is grounded. Furthermore, a resistance element R 2 whose one end is grounded and another resistance element R 1 are connected to the other end of the switch S 61 .
上記抵抗素子R1の他の一端には、パルスP5で
駆動されるスイツチS51とパルスP5 で駆動される
スイツチS52とが並列に接続され、このスイツチ
S51の他端は正の電圧源に、S52の他端は負荷の電
圧源にそれぞれ接続される。さらに、上記の比較
器Aの出力端には、論理回路Lが接続される。こ
の論理回路Lは、パルスP4の前縁(または後縁)
時点における上記パルスP3の論理レベルを次のP4
の前縁(または後縁)まで保持する機能を有する
もので、その出力パルスが前述のP5およびP5 とな
る。 A switch S 51 driven by pulse P 5 and a switch S 52 driven by pulse P 5 are connected in parallel to the other end of the resistance element R 1 .
The other end of S 51 is connected to a positive voltage source, and the other end of S 52 is connected to a voltage source of the load. Further, a logic circuit L is connected to the output terminal of the comparator A described above. This logic circuit L is the leading edge (or trailing edge) of pulse P 4
The logic level of the above pulse P 3 at the time P 4
The output pulses are P5 and P5 mentioned above.
上記構成において、電圧比較器Aのオフセツト
電圧が十分に小さく製造され、AD変換器の中で
使用されても何ら問題とならない場合において
は、第1図に示す如く比較器の非反転入力端子の
入力換算オフセツト電圧はVa〓0であり、反転
入力端子電圧Vcは±1/2LSB(LSBは最小量子化
電圧幅)以内の電圧値をとるが、環境条件の変化
あるいは製造ばらつき等によつて比較的大きなオ
フセツト電圧が生じた場合には、Vcはそのオフ
セツト電圧値に自動的に追従して変化し、等価的
にオフセツトを打消することができるように動作
する。 In the above configuration, if the offset voltage of voltage comparator A is manufactured to be sufficiently small and there is no problem even if it is used in an AD converter, the non-inverting input terminal of the comparator A can be adjusted as shown in Figure 1. The input equivalent offset voltage is V a =0, and the inverting input terminal voltage V c takes a voltage value within ±1/2LSB (LSB is the minimum quantization voltage width), but it may vary due to changes in environmental conditions or manufacturing variations. If a relatively large offset voltage occurs, V c automatically changes to follow the offset voltage value, and operates to equivalently cancel the offset.
電圧比較器Aの入力換算オフセツトをVd、ス
イツチS61の入力端電圧をVpとする。ここでVp
は、補償用電源電圧±Vに対して|Vp|=
R2/R1+R2V、およびVp>Vdの関係を満すもの
とす
る。 Let V d be the input offset of voltage comparator A, and V p be the input voltage of switch S 61 . Here V p
is |V p |= for compensation power supply voltage ±V
It is assumed that the relationships R 2 /R 1 +R 2 V and V p >V d are satisfied.
いまAD変換器の変換実行に先がけて、第2
図の様なパルスP1を印加すると、S11はオン、
S12はオフの状態となる。このとき非反転入力
端子に発生する入力換算オフセツト電圧Vdが
この時点の反転入力端電圧Vcに比較してVd>
Vc(Vd<Vc)の関係にあれば、ラツチパル
スP2の印加に対してその出力P3は、図の如く1
(0)となる。 Now, before executing the conversion with the AD converter, the second
When applying pulse P 1 as shown in the figure, S 11 turns on,
S12 is in the off state. At this time, the input equivalent offset voltage V d generated at the non-inverting input terminal is compared with the inverting input terminal voltage V c at this time, V d >
If there is a relationship of V c (V d < V c ), the output P 3 will be 1 as shown in the figure when the latch pulse P 2 is applied.
(0).
つぎにパルスP4を図示の時間関係で印加する
と、論理回路Lは少なくともつぎのパルスP4が
入力するまでの時間保持されたパルスP5および
P5 を出力し、このパルスによつて、スイツチ
S51がオン、S52がオフとなる。 Next, when pulse P 4 is applied in the time relationship shown in the figure, the logic circuit L receives pulses P 5 and 5 which are held for at least the time until the next pulse P 4 is input
Outputs P 5 , and this pulse causes the switch to
S 51 is on and S 52 is off.
上記の保持期間内において、上記パルスP1が
0(したがつてスイツチS12がオン)となり、
AD変換のための入力信号の最初の比較判定が
なされる時点までの間にS61をオンとするパル
スP6を印加すると、C1の端子間電圧はVpに充
電される。 Within the above holding period, the above pulse P 1 becomes 0 (therefore, the switch S 12 is turned on),
If a pulse P 6 that turns on S 61 is applied until the first comparison of input signals for AD conversion is made, the voltage between the terminals of C 1 is charged to V p .
つぎにS61をオフ、S62をオンへ切替えると、
比較器Aの反転入力端子電圧Vcは前時点まで
の電圧より増加した値となる。 Next, switch S 61 off and S 62 on,
The inverting input terminal voltage V c of comparator A has a value increased from the voltage up to the previous point in time.
入力信号VINのAD変換は、上記一連の補償動
作終了直後から開始される。もし前回までの補償
が完全でない場合は、次のAD変換が実行される
前に上記の補償動作がくり返される。このとき、
ある環境条件の急変等によつて大幅なオフセツト
が生じた場合、Vcを一早く補償電圧まで立上げ
るには、Vdに対するVpの比を大きくとり、かつ
C2に対するC1の容量比を大きく設定すれば可能
であるが、この場合、過大補償となつて補償電圧
Vcに大きなリツプル電圧が発生するため、等価
的に大きなドリフト電圧が印加されたことにな
り、結果的にAD変換に大きな誤差を生じてしま
う。したがつて、上記Vp,C2対C1の容量比に関
しては設定に最適化が必要となる。 AD conversion of the input signal V IN is started immediately after the above series of compensation operations is completed. If the previous compensation is not complete, the above compensation operation is repeated before the next AD conversion is performed. At this time,
When a large offset occurs due to a sudden change in environmental conditions, etc., in order to quickly raise V c to the compensation voltage, the ratio of V p to V d must be set large, and
This is possible if the capacitance ratio of C 1 to C 2 is set large, but in this case, overcompensation occurs and a large ripple voltage is generated in the compensation voltage V c , so a large drift voltage is applied equivalently. This results in a large error in AD conversion. Therefore, it is necessary to optimize the settings regarding the above-mentioned V p and the capacitance ratio of C 2 to C 1 .
いま、第2図の時間領域の如く、オフセツト
電圧Vdに対する補償電圧Vcの値がごく僅かだけ
大きい補償状態(ただしVd〓Vc)にあるときを
考える。この場合、次の時間領域における上述
の如き一連の補償動作が行われた直後の状態で
は、P3,P5が0であり、S52がオンであるからVc
の値は領域に於ける値より降下する。この降下
電圧をεで表わすと、εは次式で表現できる。 Now, let us consider a case in which the compensation voltage V c is very slightly larger than the offset voltage V d (V d ≦V c ), as shown in the time domain of FIG. 2. In this case, immediately after the above series of compensation operations in the next time domain are performed, P 3 and P 5 are 0, and S 52 is on, so V c
The value of falls below the value in the region. If this voltage drop is expressed by ε, ε can be expressed by the following equation.
ε=Vc−Vc・C2−Vp・C1/C1+C2
ところで、高精度のAD変換器においては、変
換実行時のドリフト電圧振幅が1/2LSB以内に制
限されていることが必要であるから、AD変換精
度をNビツト、最大符号化振幅をVnとすると、
上式は次式のように変換される。 ε=V c −V c・C 2 −V p・C 1 /C 1 +C 2By the way, in a high-precision AD converter, the drift voltage amplitude during conversion is limited to within 1/2LSB. is required, so if the AD conversion accuracy is N bits and the maximum encoding amplitude is V n , then
The above equation is converted as follows.
Vc−Vc・C2−Vp・C1/C1+C2≦Vn/
2N+1
これをコンデンサの容量比について整理すると
となる。 V c −V c・C 2 −V p・C 1 /C 1 +C 2 ≦V n /
2 N+1 If we organize this regarding the capacitance ratio of the capacitor, becomes.
いま、1例として、比較器のオフセツト電圧V
dが50mV,AD変換精度がN=12ビツト、最大振
幅がVm=5Vである場合を取り上げると、補償電
源電圧Vpを100mVとした場合、C2/C1≧245に設定
すればよい。したがつて、具体的には、C1=
0.1pFならばC2≧24.5pFであるから、このコンデ
ンサはIC化素子として十分経済的に実現でき
る。 Now, as an example, the offset voltage V of the comparator
Taking the case where d is 50 mV, AD conversion accuracy is N = 12 bits, and maximum amplitude is Vm = 5 V, if the compensation power supply voltage V p is 100 mV, it is sufficient to set C 2 /C 1 ≧245. Therefore, specifically, C 1 =
If it is 0.1 pF, C 2 ≧24.5 pF, so this capacitor can be realized economically as an IC element.
第3図は、第1図に示したスイツチS61,R62,
コンデンサC1,C2、抵抗R1,R2よりなる補償電
圧発生回路CMPの出力電圧を、サンプルホール
ド回路V/Hへ印加す場合の実施例を示すもので
あり、一般に逐次比較形と称せられるAD変換回
路を構成するものである。CMPにおいて、抵抗
R1,R2は本質的にはなくとも良い。 FIG. 3 shows the switches S 61 , R 62 , and
This shows an example in which the output voltage of a compensation voltage generation circuit CMP consisting of capacitors C 1 and C 2 and resistors R 1 and R 2 is applied to a sample and hold circuit V/H, and is generally referred to as a successive approximation type. It constitutes an AD conversion circuit that can be used. In CMP, resistance
R 1 and R 2 are essentially not necessary.
第3図において、DAはサンプルホールドされ
た入力信号電圧AD変換するための比較近似電圧
を逐次出力するDA変換回路である。ADDは上記
S/HとDAのそれぞれの電圧をアナログ的に加
算する手段又は回路(すなわちサンプル信号と局
部復号信号の差分を得る回路)SARは電圧比較
器Aの出力パルスR3の論理レベルを上記DAへ帰
還する逐次近似レジスタである。第3図における
回路要素で第1図と同一のものは、全て第1図に
示したものと同等の構成、動作を行うものであ
る。 In FIG. 3, DA is a DA conversion circuit that sequentially outputs comparison approximate voltages for AD conversion of sampled and held input signal voltages. ADD is a means or circuit that adds the respective voltages of S/H and DA in an analog manner (i.e., a circuit that obtains the difference between the sample signal and the locally decoded signal). SAR is the logic level of the output pulse R3 of voltage comparator A. This is a successive approximation register that feeds back to the DA above. All of the circuit elements in FIG. 3 that are the same as those in FIG. 1 have the same configuration and operation as those shown in FIG.
第3図においては、P1が印加されてS11がオン
となつたときに発生する入力換算オフセツト電圧
Vd′は、サンプルホールド回路S/Hおよび電圧
比較器Aでそれぞれ発生するオフセツト電圧の総
和となり、補償電圧発生回路CMPの出力電圧V
c′は上記S/HおよびAのオフセツト電圧総和値
Vd′を補償した値を生する。その結果、電圧比較
器Aの非反転入力端子に発生される補償電圧に注
目すれば、その電圧は第1図に示したAのみの入
力換算電圧Vdの極性を正負取替えた値、すなわ
ち−Vdとなるよう動作する。 In FIG. 3, the input-referred offset voltage V d ' generated when P 1 is applied and S 11 is turned on is the offset voltage generated in the sample-and-hold circuit S/H and voltage comparator A, respectively. The sum is the output voltage V of the compensation voltage generation circuit CMP.
c ' produces a value that compensates for the offset voltage summation value V d ' of S/H and A. As a result, if we pay attention to the compensation voltage generated at the non-inverting input terminal of voltage comparator A, we can see that this voltage is the value obtained by changing the polarity of the input conversion voltage Vd of only A shown in FIG. It operates so that Vd .
以上詳述した第2の実施例により、本発明に基
づいた電圧比較器をAD変換器およびその変換の
ために必要な前置アナログ処理装置とともにIC
化あるいはLSI化する場合には、本発明の実施例
で示した様に補償電圧を比較器の一端に帰還する
という方法以外にも、例えばサンプルホールド回
路のホールド増幅器へ補償電圧を帰還する等、本
発明の主旨を適用することが可能であることが明
らかになつた。 According to the second embodiment described in detail above, a voltage comparator based on the present invention is integrated into an IC together with an AD converter and a pre-analog processing device necessary for the conversion.
In addition to the method of feeding back the compensation voltage to one end of the comparator as shown in the embodiment of the present invention, for example, when converting the compensation voltage to the hold amplifier of the sample-and-hold circuit, It has become clear that the gist of the invention can be applied.
第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図は
第1図の実施例を説明するための図、第3図は本
発明の第2の実施例である。
FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram for explaining the embodiment of FIG. 1, and FIG. 3 is a diagram showing a second embodiment of the invention.
Claims (1)
他方の入力部に後記のオフセツト補償電圧が印加
される電圧比較器と上記電圧比較器の出力を保持
する保持回路と、上記保持回路の出力に応じて上
記電圧比較器のオフセツト電圧を補償するよう段
階的に出力電圧が増減する補償電圧発生回路から
構成される回路において、 上記補償電圧発生回路が、上記保持回路の出力
によつて基準電圧の極性を決定する第1手段と、
上記極性が決定された基準電圧を第1のスイツチ
を介して第1のコンデンサに蓄電する第2手段
と、上記第1のコンデンサの電荷を、上記第1の
スイツチと相補的に動作する第2のスイツチを介
して第2のコンデンサに蓄電する第3手段と、上
記第2のコンデンサの電圧を、上記電圧比較器の
一方の入力部に加える第4の手段とを有し、上記
第1、第2のスイツチ動作を、被比較入力信号電
圧の各サンプル値の最初の比較動作が開始される
以前に行なわしめることを特徴とする電圧比較器
用補償回路。 2 第1項記載の電圧比較器用補償回路におい
て、上記電圧比較器の被比較入力信号は逐次比較
形A/D変換器のサンプルホールドされた入力信
号電圧と、該サンプルホールドされた入力信号を
A/D変換するための比較近似電圧を逐次出力す
るD/A変換回路の出力信号との差分信号であつ
て、上記補償回路の出力電圧と比較され、上記保
持回路の出力は、上記A/D変換器で変換された
極性ビツト信号である電圧比較器用補償回路。 3 第2項記載の電圧比較器用補償回路において
上記補償電圧発生回路の出力が、上記サンプル信
号を得るサンプリング回路に加えられる電圧比較
器用補償回路。[Claims] 1. A compared input voltage is applied to one input section,
A voltage comparator to which an offset compensation voltage (described later) is applied to the other input part, a holding circuit for holding the output of the voltage comparator, and a holding circuit for compensating the offset voltage of the voltage comparator in accordance with the output of the holding circuit. A circuit comprising a compensation voltage generation circuit whose output voltage increases and decreases in stages, the compensation voltage generation circuit comprising first means for determining the polarity of the reference voltage based on the output of the holding circuit;
a second means for storing the reference voltage, the polarity of which has been determined, in a first capacitor via a first switch; and a fourth means for applying the voltage of the second capacitor to one input section of the voltage comparator; A compensation circuit for a voltage comparator, characterized in that the second switch operation is performed before the first comparison operation of each sample value of the input signal voltage to be compared is started. 2. In the voltage comparator compensation circuit described in item 1, the compared input signal of the voltage comparator is the sampled and held input signal voltage of the successive approximation type A/D converter, and the sampled and held input signal is A difference signal between the output signal of the D/A conversion circuit that sequentially outputs a comparative approximate voltage for A/D conversion, which is compared with the output voltage of the compensation circuit, and the output of the holding circuit Compensation circuit for voltage comparator whose polarity bit signal is converted by a converter. 3. The voltage comparator compensation circuit according to item 2, wherein the output of the compensation voltage generation circuit is applied to a sampling circuit that obtains the sample signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12510478A JPS5552628A (en) | 1978-10-13 | 1978-10-13 | Compensating circuit for voltage comparator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12510478A JPS5552628A (en) | 1978-10-13 | 1978-10-13 | Compensating circuit for voltage comparator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5552628A JPS5552628A (en) | 1980-04-17 |
| JPS623615B2 true JPS623615B2 (en) | 1987-01-26 |
Family
ID=14901939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12510478A Granted JPS5552628A (en) | 1978-10-13 | 1978-10-13 | Compensating circuit for voltage comparator |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5552628A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6029025A (en) * | 1983-07-14 | 1985-02-14 | Toshiba Corp | Offset/drift correcting circuit for analog-digital converter |
-
1978
- 1978-10-13 JP JP12510478A patent/JPS5552628A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5552628A (en) | 1980-04-17 |
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