JPS6236592B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本発明は、検査硬貨による発振磁界への影響度
に基づきその適正を判別するための硬貨選別方法
に関する。

(ロ) 従来の技術 一般にかかる硬貨選別は、発振磁界中に検査硬
貨を置くことによつて生じる影響度をインダクタ
ンス・周波数・位相・誘起電圧等の変化により捉
えて、硬貨の特性を測定するものである。そして
従来の硬貨選別装置としては特公昭52−6200号公
報に開示されている構成があり、これは硬貨測定
器を検査用と基準用とで二通り設け基準用には予
め真硬貨を置き検査用に検査すべき硬貨が経過し
た時両者の測定結果を比較することでこの硬貨の
適正を判定するものである。また基準の設定とし
ては、可変抵抗或いは可変キヤパシターを用い
て、基準用硬貨の電気的条件と同一とするように
した例えば特公昭48−799号公報に示す構成もあ
る。しかしながら最近は特開昭49−95692号公報
で開示されているように、かかる基準用硬貨や基
準設定部品に代わり半導体メモリを用いて、適正
硬貨の受入範囲情報や許容誤差範囲等の基準情報
を設定するようになつてきている。

しかしながら前記基準情報は大幅に異なる情報
の硬貨を弁別する場合は受入許容誤差範囲を拡大
せしめることが可能であり実用上問題はないが、
硬貨の種類によつて硬貨検査情報が極めて酷似し
ていたり、また精巧な偽貨を投入された場合受入
許容範囲を他の正貨又は偽貨と弁別するため正貨
の受入率をあまり大きく低下させない程度に可能
な限り狭い範囲とする必要がある。この場合交番
磁界の周波数、電圧、温度又これらの測定回路に
於ける各種電気的素子の外的変化による影響はも
とより、硬貨の安定した転動による硬貨測定器か
らの測定情報を常に安定した条件となるよう回
路、素子、機構に工夫が施さなければならず装置
が複雑化する。そのため特開昭48−29499号公報
には、かかる検査条件の変動分を硬貨の測定値か
ら加減算することで、変動による影響を打消すよ
うにした硬貨選別方法についてが開示されてい
る。しかしこのような補正は必ずしも完全とはい
えず、以下の説明で明らかとなる。

(ハ) 発明が解決しようとする問題点 問題点を述べる前に硬貨選別装置の具体的な構
成を第１図から第３図までによつて説明する。第
１図で硬貨選別装置の上部の受口２より投入され
た硬貨は硬貨通路１６の一側を構成する角度約10
゜の傾斜を持つた基板Ａ２及び下方に位置するレ
ール上を他側の基板Ｂ９により構成される硬貨通
路１６を転動し、順次配列された材質センサー
４、板厚センサー５、直径センサー６の各部を通
過しこれらの複数の検査器の情報が予め定められ
た基準値情報と各々一致した場合受入ゲート７を
吸引せしめ正貨通路８に導入するよう構成されて
いる。板厚センサーは基板３と基板９のそれぞれ
の壁に埋めこまれたポツト型のフエライト材で作
られたコア１０とその内部に巻回されたコイル１
１及びコア１２とその内部に巻回されたコイル１
３より構成され、その通路寸法Ａは使用される硬
貨の最大厚みに若干の余裕を持つた寸法に設定さ
れている。投入された硬貨１８の厚さはこの例の
構成に於いては硬貨のほぼ中央部の凹部の厚さＴ
が測定されることとなり、この寸法は基板９側セ
ンサーからの寸法Ｂと基板３からの寸法Ｃを測定
することにより硬貨中央部の厚さＴを間接的に検
出することになる。

第３図は第２図に示した各々のコイル１１，１
３の接続方法とその回路構成である。なお本回路
は説明上板厚検査回路のみを示しており他の検査
回路は省略している。コイル１３とコイル１１は
相互インダクタンスが負となるよう互に発振磁界
を打ち消すように直列逆相接続を行ない発振回路
１９に入る。前記直列逆相接続は通路寸法Ａが変
化した場合、例えば広くなつた場合にはコイル１
３とコイル１１の合計のインダクタンスが大きく
なつて発振周波数が下がり、通路寸法の増加によ
る低下分を補償するよう作用するものである。

発振回路１９は内蔵されたキヤパシターとコイ
ル１３とコイル１１により得られるインダクタン
スとで決定される発振周波数で発振するよう構成
され、更に発振波形を正弦波から論理回路レベル
になるよう波形整形回路を内蔵している。発振回
路１９の出力は判定演算回路２１に入力されてお
り、該回路では硬貨がコイル１３とコイル１１と
の間を通過したときの発振磁界の影響度である発
振周波数の値と記憶装置２２に設定している基準
情報とを照合し、許容誤差範囲内で一致していれ
ば板厚センサー５による測定結果としては正貨で
あることを示す信号２３或いは複数の硬貨種のう
ちのある特定種類であることを示す信号２３を出
力する。

第４図は上記した構成の硬貨選別装置におい
て、硬貨の存在しないとき及び厚さ1.0mm・1.5
mm・2.0mmの各硬貨が存在するときの周波数変化
を示すもので、この特性図により検査条件の変動
に応じて硬貨の測定値を有効に補正しなければな
らないことが理解できる。即ち、同図において、
横軸Ｔは各種投入硬貨又は相当する偽貨等の中央
部の厚さ寸法を表わし縦軸は第３図に於ける発振
回路１９の出力２０である発振周波数を示してお
り、T₀点は硬貨の投入が無い場合の発振周波数
であり待機時周波数である。この待機時周波数は
前述のようにコイル１３，１１と発振回路１９の
内部のコンデンサー及び発振器の特性によつて決
定される周波数である。T₀線上の_１，_０，
_２は待機時周波数であり、_０は工場等での調
整時に記憶装置２２に基準情報を設定した時の発
振周波数であり、_１，_２はいずれも外的要因
例えばポツトコア１０又は１２のフエライト等の
透磁率や発振回路内部のコンデンサーの容量変化
や通路寸法Ａの経時変化等による検査条件の変化
に伴ない待機発振周波数が変化した状態を示して
いる。_２，_０，_１の関係は周波数で_２＞
_０＞_１であり、_２は周波数の上昇、_１は
周波数の下降を夫々示している。この例では説明
上理解しやすいように（_２−_０）＝（_０−
_１）としている。このような条件に於いて硬貨厚
みＴを種々変えた場合その発振周波数の変化はグ
ラフのようになり、例えば2.0mmの厚さの硬貨を
投入した場合各々の待機周波数に応じて待機周波
数が_０の場合は₀T₂.₀，_１の場合は₁T₂.
₀，_２の場合は₂T₂.₀となり、その各々の差
（₂T₂.₀）−（₀T₂.₀）は（₀T₂.₀）−（₁T₂.₀）
よ
り大きくなる。またそれぞれの差は待機周波数の
それぞれの差すなわち（_２）−（_０）や（
_０）−（_１）よりも大きくなつていることが理解
出来る。また、1.0mmの硬貨を投入した場合の同
様の差も同じ傾向を示しているが（₂T₂.₀）−
（₀T₂.₀）より同条件のT₁.₀部の発振周波数の差
は小さい。この理由は待機発振周波数に対し硬貨
投入時の変化は等比変化をすることと、厚い硬貨
の方が特に基板９側のセンサーに近ずくためコイ
ル１３の変化が大きくなつて、インダクタンス変
化が指数函数的に増大する傾向にあることを示し
ている。

このように検査条件の変動に対して測定周波数
の変化は一様ではなく、上記した特開昭48−
29499号公報で示されているような硬貨投入時の
発振周波数より待機時の発振周波数の変動分をそ
のまま加減算する補正の方法や、待機時の発振周
波数の変動分に一率の補正係数を乗じて補正する
方法は不完全である。したがつてかかる補正の下
では正貨のみを受け入れようとして、許容誤差範
囲を狭く設定することは非常に困難となる。

したがつて本発明は、検査硬貨により得られた
測定値を、待機周波数の変動の具合や硬貨の特性
（例えば厚さ）の違いから派生する測定の不均衡
の度合に応じて補正することができる硬貨選別方
法を提供するものである。

(ニ) 問題点を解決するための手段 上記の問題点を解決するために本発明に依る硬
貨選別方法は、第４図の特性図で説明すると、装
置の調整時において発振磁界に硬貨が存在しない
ときの測定値である第１待機値_０を予め設定し
ておき、装置の稼動時において発振磁界に検査硬
貨が存在する直前の測定値である第２待機値_２
を検出すると、第１待機値と第２待機値との差
（_２−_０）に所定の第１の補正係数αを掛け
て検査条件の変動度を示す第１補正値（_２−
_０）・αを演算し、装置の稼動時において発振磁
界に検査硬貨が存在すると、そのときの前記影響
度を示す硬貨の測定値₂T₂.₀と前記第２待機値
との差（₂T₂.₀−_２）に所定の第２の補正係
数βを掛けて硬貨の特性変化に原因する変動度を
示す第２補正値（₂T₂.₀−_２）・βを演算し、
次に硬貨測定値₂T₂.₀を第１補正値（_２−
_０）・α，第２補正値（₂T₂.₀−_２）・β及び
第１待機値_０と第２待機値_２との差（_２−
_０）にて次式を演算し、 ｘ＝₂T₂.₀−〔（_２−_０）・α ＋（₂T₂.₀−_２）・β＋（_２−_０）〕
…… この補正による演算値ｘに基づき検査硬貨の
適正を判別する。

(ホ) 作用 式において、硬貨の測定値₂T₂.₀から待機
時の発振周波数の変動分（_２−_０）を引算す
るのは従来の補正であり、これにより待機周波数
の変化に比例して変化した分が補正される。そし
て更に₂T₂.₀から第１補正値（_２−_０）・α
を引算することで、待機周波数の変化にて指数函
数的に変化した部分が補正されることになる。し
かもこのとき待機周波数の変動（_２−_０）に
応じて第１補正値を演算することで、検査周波数
の全ての領域で有効な補正となる。同時に₂T₂.
₀から第２補正値（₂T₂.₀−_２）・βを引算す
ることで、硬貨の特性の差による不均衡に対する
補正が成される。

(ヘ) 実施例 第５図は硬貨選別の制御回路を示しており、装
置の構成及び板厚センサー５の構造は第１図及び
第２図と同じである。硬貨が受口２より投入され
ると先ず材質センサー４を通過し、この材質セン
サー４の出力にて材質判別回路１５は材質の面か
らこの硬貨の適正を判別するが、本発明とは直接
には係りをもたないために説明を省略する。同時
に材質判別回路１５は待機周波数取り込み回路２
６に硬貨投入信号１４を出力する。該信号１４の
入力により待機周波数取り込み回路２６は発振回
路１９の周波数を取り込む。硬貨が材質センサー
４を通過しそれにより材質判別回路１５が硬貨投
入信号１４を出力している状態は、板厚センサー
５にとつては硬貨が通過する直前の待機状態であ
り、待機周波数取り込み回路２６は装置の稼動時
における板厚センサー５の待機周波数を取り込ん
だことになる。記憶装置２２の待機周波数記憶部
２８には装置の生産時等の調整時における板厚セ
ンサー５の待機周波数が設定されており、待機周
波数変動分演算回路２７は調整時と稼動時におけ
る待機周波数の変化を演算して、その結果を補正
回路３０に出力する。しかして材質センサー４を
通過した硬貨が板厚センサー５に達し、ピーク値
検出回路２９はそのときの最大周波数を検出する
と、これを硬貨による影響度を示す測定値として
補正回路３０に出力する。補正回路３０は、調整
時の待機周波数即ち第１待機値と稼動時の待機周
波数即ち第２待機値との差を算出し、その差の値
に待機周波数の変化に対する補正用係数αを掛け
て第１補正値を演算する。また補正回路３０は測
定値と第２待機値との差を演出し、その差の値に
硬貨の厚さの差による不均衡に対する補正用係数
βを掛けて第２補正値を演算する。そして補正回
路３０は、測定値から第１補正値と第２補正値と
待機周波数の変化値を引いて測定値を補正する。
この補正用係数α，βの値はセンサーの感度、通
路寸法の大小、複数の硬貨厚さによる差等で決定
される定数である。このようにして補正回路３０
にて補正された測定値は、照合回路３２で記憶装
置２２の受入許容範囲情報記憶部３に設定されて
いる基準情報と比較される。そして照合回路３２
は補正測定値が受入許容範囲内にあれば板厚測定
に関して正貨又は金種を示す信号２３Ａを出力す
る。

本例では適用した場合に最も効果的である板厚
センサー５にて説明したが、材質センサー４でも
直径センサー６でも同じである。

(ト) 発明の効果 本発明によると、検査条件の変動に応じて全て
の領域での有効な補正が可能となるために、許容
誤差範囲を狭く設定でき正確な硬貨選別を行なう
ことができる。しかも周波数の変動に加えて、硬
貨の厚さ等による特性差によつて影響が出過ぎた
分も補正するために、誤差範囲をとり入れた適確
な判定動作を行なうことが出来るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、硬貨選別装置の概略図、第２図は、
板厚センサーの断面図、第３図は制御回路、第４
図は、硬貨に対する板厚特性、第５図は、本発明
に依る制御回路を示す。 ５……板厚センサー、１３，１１……コイル、
２９……ピーク値検出回路、３０……補正回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 発振磁界を形成し、検査硬貨による発振磁界
   への影響度を測定して該検査硬貨の適正を判別す
   る硬貨選別装置における硬貨選別方法であつて、
   装置の調整時において発振磁界に硬貨が存在しな
   いときの測定値である第１待機値を予め設定して
   おき、装置の稼動時において発振磁界に検査硬貨
   が存在する直前の測定値である第２待機値を検出
   すると、第１待機値と第２待機値との差に所定の
   第１の補正係数を掛けて検査条件の変動度を示す
   第１補正値を演算し、装置の稼動時において発振
   磁界に検査硬貨が存在すると、そのときの前記影
   響度を示す硬貨の測定値と前記第２待機値との差
   に所定の第２の補正係数を掛けて硬貨の特性変化
   に原因する変動度を示す第２補正値を演算し、次
   に前記硬貨測定値を第１補正値・第２補正値及び
   第１待機値と第２待機値との差の値とに基づき補
   正して、該補正による演算値に基づき検査硬貨の
   適正を判別することを特徴とした硬貨選別方法。