JPS6239904B2 - - Google Patents
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- JPS6239904B2 JPS6239904B2 JP56015070A JP1507081A JPS6239904B2 JP S6239904 B2 JPS6239904 B2 JP S6239904B2 JP 56015070 A JP56015070 A JP 56015070A JP 1507081 A JP1507081 A JP 1507081A JP S6239904 B2 JPS6239904 B2 JP S6239904B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
- G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
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- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Description
本発明はポジトロンCT装置の同時計数回路、
特に、偶然の同時計数事象を、回路の不感時間を
増大させることなく、検出可能にしたポジトロン
CT装置の同時計数回路に関する。
ポジトロンCT装置の同時計数回路で得られる
同時計数事象には、真の同時計数事象以外に、偶
然の同時計数事象が含まれている。この隅然の同
時計数事象は、ポジトロン消滅の位置情報を持た
ないため、画質の低下の一因となる。
然るに、対向する検出器間で起こる偶然の同時
計数事象は、同時計数回路への入力信号のうち一
方を遅延させ、この遅延させた信号との同時計数
事象を検出することによつて定量的に知ることが
できる。従つて、同時計数回路で得られる同時計
数事象から、上記の方法で得られる隅然の同時計
数事象を差し引くことによつて、真の同時計数事
象のみを容易に取出すことができる。ここで、前
者の同時計数事象を全同時計数事象と呼ぶことに
する。
第1図はかかる従来例の同時計数回路に上記の
偶然の同時計数事象を検出する機能を付加した回
路例図である。図に於いて、検出器1と11とは
互いに対向して設けられた検出器であり、遅延素
子2は一方の検出器1の出力を遅延する遅延素
子、ANDゲート3,30はそれぞれ同時計数事
象を検出するゲートである。ANDゲート3の出
力4は全同時計数事象検出信号、ANDゲート3
0の出力5は偶然の同時計数事象検出信号とな
る。
一方、リング状に複数個の検出器が配置された
ポジトロンCT装置では、回路構成を簡単にする
ため、上記複数個の検出器を幾つかのグループに
分け、グループ間で同時計数事象を検出する方法
が採られている。即ち、リング状に配置された複
数個の検出器を幾つかのグループに分け、各グル
ープ毎に幾つかのグループと対応関係を持たせて
いる。このグループと対応関係を持つ他のグルー
プ間との間で同時計数を行つている。第2図はそ
の便宜的な説明図である。リング状に配置された
検出器を9個のグループa〜iに分けている。図
に於いて、6は検出器リング、7は検出器グルー
プ、各検出器グループは対向する4個のグループ
と対応関係を持たせている。8は検出器グループ
間で得られる同時計数対である。図では、グルー
プa(7)に対して、グループd,e,f,gの4つ
の対向するグループを対応させている。グループ
a以外も同様に、対向する4個のグループと対応
関係を持つている。今、グループaをAグルー
プ、グループd,e,f,gの4つのグループを
Bグループと呼ぶことにする。他の対応関係を持
つグループ間でも同様にAグループ、Bグループ
と呼ぶ。従つて、全検出器グループa〜iのすべ
てが、Aグループ、Bグループになり得る。
第3図は、かかるリング状に配置された検出器
を持つ同時計数回路における偶然の同時計数事象
の検出を可能にした従来例である。この第3図は
検出器グループa及び該グループaに対向した
d,e,f,gとの関係での回路例である。この
回路に於ては、対向グループd,e,f,gの出
力を取り込むORゲート9を設け、該ORゲート9
の出力をANDゲート3,30の一方向の入力と
している。
第3図には図示していないが、グループ化した
構成を採用した場合、対向グループの出力を並列
にORゲート9に入力している関係上、ORゲート
9の出力がどのグループか(その中のどの検出器
か)は該ORゲート9の出力のみでは判別不能で
ある。この判別手段として、エンコーダを設けて
おき、該エンコーダに検出器出力を入力させ、該
入力した検出器番号のコードをこのエンコーダよ
り発生させる手段を設けている。検出器番号はい
わゆる検出器アドレスである。この検出器アドレ
スとその時の出力4,5を対応させて処理装置に
取り込み、適宜処理が行われる。
第4図は、第3図の検出器グループaとgの出
力パルス列10,10Aの幾つかの事例を示す図
である。第1表はその時のグループと出力番号と
の関係を示す。
The present invention provides a coincidence circuit for a positron CT device,
In particular, the positron makes it possible to detect coincidental coincidence events without increasing the dead time of the circuit.
Concerning coincidence counting circuit of CT device. The coincidence events obtained by the coincidence circuit of a positron CT device include not only true coincidence events but also coincidental coincidence events. This random coincidence event does not have positional information of the positron extinction, and therefore contributes to the deterioration of image quality. However, a chance coincidence event that occurs between opposing detectors can be quantitatively determined by delaying one of the input signals to the coincidence circuit and detecting a coincidence event with this delayed signal. You can know. Therefore, by subtracting the random coincidence events obtained by the above method from the coincidence events obtained by the coincidence circuit, only true coincidence events can be easily extracted. Here, the former coincidence event will be referred to as a total coincidence event. FIG. 1 is a diagram showing an example of a circuit in which a function for detecting the above-mentioned coincidental coincidence event is added to the conventional coincidence circuit. In the figure, detectors 1 and 11 are detectors provided facing each other, delay element 2 is a delay element that delays the output of one detector 1, and AND gates 3 and 30 are coincidence counters, respectively. It is a gate that detects an event. Output 4 of AND gate 3 is the total coincidence event detection signal, AND gate 3
Output 5 of 0 becomes a coincidental coincidence event detection signal. On the other hand, in a positron CT device in which multiple detectors are arranged in a ring shape, in order to simplify the circuit configuration, the multiple detectors are divided into several groups and coincidence events are detected between the groups. method is adopted. That is, a plurality of detectors arranged in a ring shape are divided into several groups, and each group is associated with several other groups. Coincidence counting is performed between this group and other groups that have a corresponding relationship. FIG. 2 is a convenient explanatory diagram thereof. The detectors arranged in a ring shape are divided into nine groups a to i. In the figure, 6 is a detector ring, 7 is a detector group, and each detector group has a corresponding relationship with four opposing groups. 8 is a coincidence pair obtained between detector groups. In the figure, group a(7) is associated with four opposing groups, groups d, e, f, and g. Similarly, groups other than group a have corresponding relationships with the four opposing groups. Now, group a will be called group A, and the four groups d, e, f, and g will be called group B. Groups having other correspondence relationships are also called A group and B group. Therefore, all of the detector groups a to i can become the A group and the B group. FIG. 3 shows a conventional example in which it is possible to detect an accidental coincidence event in a coincidence circuit having detectors arranged in a ring shape. This FIG. 3 shows an example of a circuit in relation to a detector group a and d, e, f, and g facing the group a. In this circuit, an OR gate 9 is provided which takes in the outputs of opposing groups d, e, f, and g.
The output of is used as one-way input of AND gates 3 and 30. Although not shown in FIG. 3, when a grouped configuration is adopted, the output of the OR gate 9 is input to the OR gate 9 in parallel, so the output of the OR gate 9 is input to the OR gate 9. Which detector is used) cannot be determined from the output of the OR gate 9 alone. As this determination means, an encoder is provided, and means is provided for inputting a detector output to the encoder and causing the encoder to generate a code corresponding to the input detector number. The detector number is a so-called detector address. This detector address and the outputs 4 and 5 at that time are associated and taken into a processing device, where appropriate processing is performed. FIG. 4 shows some examples of output pulse trains 10, 10A of detector groups a and g of FIG. 3. Table 1 shows the relationship between the groups and output numbers at that time.
【表】
図で、出力10は遅延素子2を通さない前の検
出器aの出力、出力10Aは遅延素子2を通つた
出力を示している。図で、ケースは、a,g同
時発生時であり、この時には出力4から同時発生
の旨の出力が出る。ケース及びケースは、
a,g出力が偶然に同時になる事例であり、
ANDゲート30の出力5がその旨の表示を行
う。かかる回路構成では、出力4が発生する事例
が全同時発生時であり、出力5が偶然の同時発生
時の出力を意味する。尚、a,gがAグループ、
Bグループを交互にとるようになつているのは、
a,gのいずれもAグループ、Bグループをとり
うることを意味している。従つて、a,gグルー
プは、Aグループになる場合とBグループの2通
りが必ずあるため、偶然の同時計数事象はこの両
方で検出されることになる。その結果、全同時計
数事象から偶然の同時計数事象を差し引く場合に
は正規の2倍も差し引くことになる。従つて、偶
然の同時計数事象の補正には上述の修正が必要と
なる。更に、この余分な偶然の同時計数事象の検
出のため、不感時間が増加し、回路の高計数率特
性を低下する結果になることは明らかである。更
に、ハードウエア量も膨大である。
本発明の目的は、高計数時における数え落しも
少なくしてなるポジトロンCT装置の同時計数回
路を提供するものである。
本発明の要旨は、相対向する検出器又は検出器
グループ(以下単にグループという)間にあつ
て、一つのグループに対向する一つまたは複数の
グループを選定したとき、後者に属するグループ
に対向グループとして前者のグループを選定しな
いようにして同時計数対のなかから重複分を除除
き、同時計数回路を構成することにある。以下、
本発明を詳述する。
第5図イ〜リは、第6図に示すグループa〜i
までに至る全グループ間での全組み合せの様子を
示している。偶然の同時計数事象が第3図の回路
構成で2倍検出されるのは、結局のところ、同一
のものを重複して検出するからである。例えば、
a→dとd→aの如くとなる。従つて、上記の同
時計数対の中から重複分を除去して、残つたもの
だけが実際の回路によつて検出されるように対向
グループを決めればよいことになる。第5図イ〜
リで、上記の同時計数対の中から重複分をなくす
ため不必要となる対を破線で示している。即ち、
従来、Bグループとして例えば、d,e,f,g
と選んだのに対してdとeの2グループとし、f
とgがaに対してAグループになるように選べば
よいことになる。第6図はこの様子を示す図であ
つて、矢印の方向は、Aグループ→Bグループを
意味している。
かかる観点のもとになされた本発明の実施例を
第7図に示す。本実施例は、グループaと、グル
ープd,eとの間での検出回路構成を示してい
る。グループaに対向するグループとしてグルー
プd,eを選んだものとしている。但し、対向グ
ループとしては必ず、d,e,f,gの4グルー
プをとる必要があるから、fとgについては、f
を検出器1、aとiを検出器11Aに選んだ回路
と、gを検出器1、aとbを検出器11Aに選ん
だ回路とを設け、それぞれ同時計数対a〜f、a
〜gを検出することになる。さて、第7図の回路
構成によれば、検出器1(グループa)の出力は
ANDゲート3の入力及び遅延素子2の入力とな
り、該遅延素子2によつて遅延された検出器1出
力はANDゲート30の入力となる。一方、検出
器11A(グループd,e)の出力はORゲート
9Aを通りANDゲート3,30の入力となる。
この結果、ANDゲート3からはaとd又はeと
の全同時計数出力4が得られ、ANDゲート5か
らは遅延素子2によつて遅延された結果としての
偶然の同時計数出力5が得られることになる。
本実施例によれば、グループ間の同時計数対を
重複して検出することなく、その結果、特に偶然
の同時計数事象を検出する場合に、上記の重複分
による回路の不感時間を除去し、高計数率特性を
向上することができた。更に、対向検出器グルー
プ数が1/2(対向グループ数が偶数の場合)にな
るため、対向検出器グループ内における計数率が
低下し、高計数率特性をより向上させることにな
る。また、全同時計数出力(出力4)の重複につ
いても、重複分を除去できることになり、全体と
して回路構成が簡略化できた。
尚、本実施例では、検出器グループをグループ
化したときの対向グループ間の適用例を示した
が、グループ化しない事例であつても適用でき
る。[Table] In the figure, output 10 shows the output of detector a before passing through delay element 2, and output 10A shows the output after passing through delay element 2. In the figure, the case is when a and g occur simultaneously, and in this case, an output indicating simultaneous occurrence is output from output 4. Cases and cases are
This is a case where the a and g outputs happen to be at the same time,
Output 5 of AND gate 30 provides an indication to that effect. In such a circuit configuration, the case in which output 4 occurs is when all simultaneous occurrences occur, and output 5 means an output when coincidental occurrences occur. In addition, a and g are A group,
The reason why the B group is taken alternately is that
This means that both a and g can be in group A or group B. Therefore, since there are always two cases in which groups a and g become group A and group B, a coincidental coincidence event will be detected in both cases. As a result, when subtracting a chance coincidence event from all coincidence events, twice the normal number is subtracted. Correcting for coincidental coincidence events therefore requires the above-mentioned modifications. Furthermore, it is clear that due to the detection of this extra chance coincidence event, the dead time increases, resulting in a reduction in the high count rate characteristics of the circuit. Furthermore, the amount of hardware is also enormous. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a coincidence counting circuit for a positron CT apparatus that reduces the number of omissions during high counting. The gist of the present invention is that when one or more groups facing one group are selected between opposing detectors or detector groups (hereinafter simply referred to as groups), a group belonging to the latter is placed in an opposing group. The purpose of this method is to remove duplicates from the coincidence pairs without selecting the former group, thereby constructing a coincidence circuit. below,
The present invention will now be described in detail. Figure 5 I to I are groups a to i shown in Figure 6.
It shows all the combinations among all the groups up to. The reason why coincidental coincidence events are detected twice with the circuit configuration shown in FIG. 3 is that the same event is detected twice. for example,
It becomes like a → d and d → a. Therefore, it is sufficient to remove duplicates from among the above-mentioned coincidence pairs and determine opposing groups so that only the remaining ones are detected by the actual circuit. Figure 5 I
In Figure 2, the pairs that are unnecessary in order to eliminate duplicates from among the above-mentioned coincidence pairs are shown by broken lines. That is,
Conventionally, the B group includes, for example, d, e, f, g.
, we chose two groups, d and e, and f
It is only necessary to select such that and g are in group A for a. FIG. 6 is a diagram showing this situation, and the direction of the arrow means A group→B group. An embodiment of the present invention made from this viewpoint is shown in FIG. This embodiment shows a detection circuit configuration between group a and groups d and e. It is assumed that groups d and e are selected as groups opposing group a. However, since it is necessary to take the four groups d, e, f, and g as opposing groups, for f and g, f
A circuit in which g is selected as the detector 1, and a and i are selected as the detector 11A, and a circuit in which g is selected as the detector 1 and a and b are selected as the detector 11A are provided, and the coincidence pairs a to f, a are provided.
~g will be detected. Now, according to the circuit configuration shown in Fig. 7, the output of detector 1 (group a) is
This becomes an input to an AND gate 3 and an input to a delay element 2, and the output of the detector 1 delayed by the delay element 2 becomes an input to an AND gate 30. On the other hand, the output of the detector 11A (groups d and e) passes through the OR gate 9A and becomes the input to the AND gates 3 and 30.
As a result, a total coincidence output 4 of a and d or e is obtained from the AND gate 3, and a coincidental coincidence output 5 as a result of being delayed by the delay element 2 is obtained from the AND gate 5. It turns out. According to this embodiment, without redundantly detecting coincidence pairs between groups, as a result, especially when detecting a coincidental coincidence event, the dead time of the circuit due to the above-mentioned overlap is removed, We were able to improve the high count rate characteristics. Furthermore, since the number of opposing detector groups is halved (when the number of opposing groups is an even number), the counting rate within the opposing detector group is reduced, further improving the high counting rate characteristic. Further, regarding the duplication of all coincidence outputs (output 4), the duplication can be removed, and the circuit configuration as a whole can be simplified. Although this embodiment shows an example of application between opposing groups when the detector groups are grouped, the present invention can also be applied to cases where the detector groups are not grouped.
第1図、第3図は従来例図、第2図、第4図は
その説明図、第5図イ〜リ及び第6図は本発明の
原理説明図、第7図は本発明の実施例図である。
1,11A……検出器、2……遅延素子、3,
30……ANDゲート、9A……ORゲート。
1 and 3 are diagrams of the conventional example, FIGS. 2 and 4 are explanatory diagrams thereof, FIGS. This is an example diagram. 1, 11A...Detector, 2...Delay element, 3,
30...AND gate, 9A...OR gate.
Claims (1)
用検出器の各検出器と、該検出器に対向する複数
の検出器のうちの一つの検出器により形成される
検出器の組合せに対応する検出器の出力信号を取
り込み処理するポジトロンCT装置の同時計数回
路において、前記リング状に配置された各検出器
の一つの検出器Aと該検出器に対向する複数の検
出器の一つである検出器Bとにより形成される検
出器の組合せAB、および前記検出器Bと該検出
器に対向する複数の検出器の一つである前記検出
器Aとにより形成される検出器の組合せBAに関
し、いずれか一方の検出器の組合せに対応する検
出器の出力信号を取り込み処理することを特徴と
するポジトロンCT装置の同時計数回路。 2 前記検出器A,Bの各々が複数の検出器でな
る検出器グループで構成することを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載のポジトロンCT装置の
同時計数回路。[Claims] 1. A plurality of positron CTs arranged in a ring shape
A positron CT device that captures and processes the output signal of a detector corresponding to a combination of detectors formed by each detector of a detector and one of a plurality of detectors facing the detector. In the coincidence circuit, a combination of detectors AB formed by one detector A of each of the detectors arranged in a ring shape and detector B which is one of the plurality of detectors facing the detector , and the detector combination BA formed by the detector B and the detector A, which is one of the plurality of detectors facing the detector, a detection corresponding to one of the detector combinations. A coincidence counting circuit for a positron CT device, which is characterized by capturing and processing the output signal of the device. 2. The coincidence circuit for a positron CT apparatus according to claim 1, wherein each of the detectors A and B is constituted by a detector group consisting of a plurality of detectors.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56015070A JPS57131086A (en) | 1981-02-05 | 1981-02-05 | Simultaneous counter in positron ct system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56015070A JPS57131086A (en) | 1981-02-05 | 1981-02-05 | Simultaneous counter in positron ct system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57131086A JPS57131086A (en) | 1982-08-13 |
| JPS6239904B2 true JPS6239904B2 (en) | 1987-08-25 |
Family
ID=11878584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56015070A Granted JPS57131086A (en) | 1981-02-05 | 1981-02-05 | Simultaneous counter in positron ct system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57131086A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60144684A (en) * | 1983-12-31 | 1985-07-31 | Shimadzu Corp | coincidence circuit |
| JP2811718B2 (en) * | 1989-02-28 | 1998-10-15 | 株式会社島津製作所 | Positron CT system |
| WO2005091989A2 (en) * | 2004-03-19 | 2005-10-06 | Triumf, Operating As A Joint Venture By The Governors Of The University Of Alberta, The University Of British Columbia, ... | A method and apparatus for vetoing random coincidences in positron emission tomographs |
-
1981
- 1981-02-05 JP JP56015070A patent/JPS57131086A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57131086A (en) | 1982-08-13 |
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