JPS6244325B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、主としてテープレコーダ等の磁気
録音再生装置の生産工程において用いられる誤配
線検査装置に関し、とくに複数の記録トラツクに
対する複数の磁気ヘツドから、録音／再生切り換
え用スイツチにいたる間に、誤配線があるか否か
を、適格かつ短時間に検査できるように構成した
ものである。

一般に、単一の磁気テープ面に複数の記録トラ
ツクを並設して、情報の記録および再生をそれぞ
れ複合的に行なわせる多トラツク形式の磁気録音
再生装置においては、第１図に示すように、第１
の磁気ヘツド１と第１の増幅回路２との間に、録
音／再生切り換え用の第１スイツチ３を接続する
一方、第２の磁気ヘツド４と第２の増幅回路５と
の間に、録音／再生切り換え用の第２スイツチ６
を接続することが行なわれている。このため、第
１、第２の磁気ヘツド１，４から第１、第２の増
幅回路２，５に通じる配線が比較的複雑となり、
たとえば、第１の磁気ヘツド１を第２スイツチ６
に接続し、第２の磁気ヘツド４を第１スイツチ３
に接続するというような誤配線を招きやすく、と
くにトラツク数の多い磁気録音再生装置におい
て、かかる誤配線を検査するのに、かなりの時間
と労力を要している。なお、７，８はスピーカを
示す。

この発明は、前述の点に留意してなされたもの
であり、この発明の誤配線検査装置によると、前
記のような誤配線の有無を、適格かつ短時間に検
出することができ、生産能率を向上させうるもの
である。

つぎに、この発明の誤配線検査装置を、図面に
示した２トラツク形式の実施例とともに説明する
と、第２図は、第１、第２の磁気ヘツド１，４お
よびこれに接続された録音／再生切り換え用の第
１、第２スイツチ３，６とからなる供試回路を、
誤配線検査装置に接続した回路構成を示してい
る。そして、誤配線検査装置の第１の増幅器９の
信号出力端子は、第１の整流器１０を通じて符号
化手段としての第１の比較回路１１に接続され、
第２の増幅器１２の信号出力端子は、第２の整流
器１３を通じて符号化手段としての第２の比較回
路１４に接続されている。また、第１、第２の比
較回路１１，１４の被験符号信号出力端子は、第
１の論理積回路１５および第１のインバータ回路
１６を通じたのち、無安定マルチバイブレータ１
７および分周器１８の各リセツト信号入力端子に
接続されており、第１の論理積回路１５、第１の
インバータ回路１６、無安定マルチバイブレータ
１７、分周器１８および後述の第２のインバータ
回路、第２の論理積回路により、同期信号を発生
する同期信号発生手段が構成されている。

さらに、第１、第２の比較回路１１，１４の信
号出力端子は、第１、第２の排他論理和回路１
９，２０の各一方の信号入力端子にもそれぞれ接
続されており、第１、第２の排他論理和回路１
９，２０の各信号出力端子は、論理和回路２１を
通じてＤフリツプフロツプ回路２２の信号入力端
子Ｄに接続されている。また、無安定マルチバイ
ブレータ１７の信号出力端子は、第２のインバー
タ回路２３を通じて第２の論理積回路２４の一方
の信号入力端子に接続され、第２の論理積回路２
４の信号出力端子は、分周器１８の信号入力端子
に接続され、分周器１８の２分の１信号出力端子
は、単安定マルチバイブレータ２５を通じてＤフ
リツプフロツプ回路２２のトリガ信号入力端子Ｔ
に接続され、Ｄフリツプフロツプ回路２２の信号
出力端子は、第２の論理積回路２４の他方の信
号入力端子に接続され、分周器１８の同期信号出
力用の４分の１信号出力端子は、基準符号信号を
発生する基準符号信号発生手段としてのデコーダ
２６の信号入力端子に接続されている。さらに、
デコーダ２６の２つの信号出力端子ａ，ｂは、ダ
イオードマトリツクス回路２７を通じて第１、第
２の排他論理和回路１９，２０の各他方の信号入
力端子に接続されている。なお、２８はリセツト
用スイツチを示す。ここで、両排他論理和回路１
９，２０、論理和回路２１により、被験符号信号
と基準符号信号との不一致を検出する検出手段が
構成されている。

そして、第１、第２の磁気ヘツド１，４は、第
３図に示すようなパターンに磁化された試験用磁
気テープ３０に接し、このパターンによる識別信
号を再生する。すなわち、誤配線の有無検査にさ
いしては、第１、第２の磁気ヘツド１，４および
第１、第２スイツチ３，６を所定位置に装備した
供試磁気録音再生装置に対し、第３図に示すよう
なパターンに磁化されている識別信号発生手段と
しての試験用磁気テープ３０を装着して再生動作
をさせる。この磁気テープ３０は、その全幅にわ
たつて一定の信号を記録しているＲ領域３１と、
前記信号と同様周波数の識別信号を第１記録トラ
ツク３２に記録している第１領域３３と、前記信
号と同様周波数の識別信号を第２記録トラツク３
４に記録している第２領域３５とを、順次にテー
プの長さ方向へ繰り返し配列したパターンを有し
ており、第１、第２領域３３，３５の各時間長Ｔ
は一定に揃えてある。

試験用磁気テープ３０の第１、第２記録トラツ
ク３２，３４に記録されている前記パターンによ
る識別信号が、第１、第２の磁気ヘツド１，４に
よつて並列的に再生されていくと、第１、第２の
増幅器９，１２および第１、第２の整流器１０，
１３を通じて第１、第２の比較回路１１，１４に
それぞれ一定レベルの再生信号が選択的に入力さ
れ、第１、第２の比較回路１１，１４からとり出
される被験符号信号のレベルは、入力信号がある
とき“１”となり、入力信号がないとき“０”と
なるので、磁気テープ３０のＲ領域３１が再生さ
れる都度、両比較回路１１，１４からの被験符号
信号のレベルがともに“１”となつて第１の論理
積回路１５の信号出力端子に“１”の信号が、そ
して、第１のインバータ回路１６の信号出力端子
には“０”の信号がそれぞれとり出され、無安定
マルチバイブレータ１７および分周器１８にリセ
ツト信号が周期的に加わることになる。

無安定マルチバイブレータ１７は、第４図のＡ
に示すように、磁気テープ３０の第１、第２の領
域３３，３５の各時間長Ｔの２分の１に相当する
周期で発振し、この同期発振出力は、第２のイン
バータ回路２３によつて位相反転され、第２の論
理積回路２４を通じて分周器１８に加わる。この
ため、分周器１８の２分の１信号出力端子から
は、第４図のＢに示す波形の信号がとり出され、
単安定マルチバイブレータ２５からは、第４図の
Ｃに示すようなパルス信号（ただしｔ＜Ｔ／２）
がとり出される。また、分周器１８の４分の１信
号出力端子からは、第４図のＤに示す波形を有し
前記被験符号信号に同期した同期信号がとり出さ
れてデコーダ２６に加わるが、この信号のレベル
は、磁気テープ３０の第１領域３３に対応して
“０”、第２領域３５に対応して“１”となる。

デコーダ２６は、入力信号レベルが“０”のと
き、一方の信号出力端子ａを“０”のレベルに、
他方の信号出力端子ｂを“１”のレベルにする。
また、入力信号レベルが“１”のとき、一方の信
号出力端子ａを“１”のレベルに、他方の信号出
力端子ｂを“０”のレベルにする。そして、信号
出力端子ａ，ｂに得られる２系列の基準信号が、
ダイオードマトリツクス回路２７、第１、第２の
排他論理和回路１９，２０および論理和回路２１
を通じてＤフリツプフロツプ回路２２の信号入力
端子Ｄに加わる。

Ｄフリツプフロツプ回路２２のトリガ信号入力
端子Ｔに第４図のＣに示す波形のトリガ信号が加
わると、そのときの信号入力端子Ｄにおけるレベ
ル状態が、信号出力端子Ｑにとり出され、その逆
位相の信号が、信号出力端子にとり出される。
すなわち、トリガ信号入力端子Ｔにトリガ信号が
入つたとき、信号入力端子Ｄのレベルが“１”で
あれば、信号出力端子Ｑのレベルは“１”とな
り、信号出力端子のレベルは“０”となる。そ
して、信号出力端子Ｑのレベルが“１”となつた
とき、「BAD」の表示信号が現われることにな
る。

リセツト用スイツチ２８が開放している限り、
リセツト信号入力端子Ｒは“１”のレベルに保持
されるが、リセツト用スイツチ２８を閉止する
と、リセツト信号入力端子Ｒは“０”のレベルと
なり、Ｄフリツプフロツプ回路２２はリセツトさ
れ、信号出力端子Ｑは“０”のレベルとなる。

このような回路構成において、第１、第２の磁
気ヘツド１，４から第１、第２の増幅器９，１２
までの配線が正常な場合の動作はつぎのとおりと
なる。

まず、検査の開始に先きだつて、リセツト用ス
イツチ２８を瞬時的に閉止し、Ｄフリツプフロツ
プ回路２２をリセツトさせる。ついで、試験用磁
気テープ３０を走行させて、第１、第２の磁気ヘ
ツド１４から２系列の識別信号をとり出す。磁気
テープ３０のＲ領域３１が再生される期間、第
１、第２の磁気ヘツド１，４の双方から識別信号
がとり出されるので、第１のインバータ回路１６
の信号出力端子は“０”のレベルとなり、無安定
マルチバイブレータ１７および分周器１８はとも
にリセツトの状態となる。

しかし、磁気テープ３０の第１領域３３が再生
されると、第１のインバータ回路１６の信号出力
端子におけるレベルが“１”となり、前記リセツ
トが解かれ、第１の排他論理和回路１９の一方の
信号入力端子が“１”のレベル、第２の排他論理
和回路２０の一方の信号入力端子が“０”のレベ
ルとなる。また、分周器１８の４分の１信号出力
端子におけるレベルが“０”となり、デコーダ２
６の一方の信号出力端子ａにおけるレベルが
“０”、他方の信号出力端子ｂにおけるレベルが
“１”となる。従つて、ダイオードマトリツクス
回路２７の信号出力のうち、第１の排他論理和回
路１９への入力が“１”、第２の排他論理和回路
２０への入力が“０”となり、第１、第２の排他
論理和回路１９，２０の各信号出力端子における
レベルはともに“０”となり、Ｄフリツプフロツ
プ回路２２の信号入力端子Ｄは“０”のレベルと
なり、トリガ信号入力端子Ｔにトリガ信号が入つ
たときも、信号出力端子Ｑにおけるレベルは
“０”のままとなり、「BAD」の表示信号は現わ
れない。

磁気テープ３０の第２領域３５が再生される期
間、第１の比較回路１１の信号出力端子における
レベルは“０”、第２の比較回路１４の信号出力
端子におけるレベルは“１”となるが、分周器１
８の４分の１信号出力端子におけるレベルが
“１”となるので、デコーダ２６の一方の信号出
力端子ａにおけるレベルは“１”、他方の信号出
力端子ｂにおけるレベルは“０”となり、論理和
回路２１の信号出力端子におけるレベルはやはり
“０”となり、結果的には、前述と同様に
「BAD」の表示信号が現われない。

つぎに、第１、第２の磁気ヘツド１，４と第
１、第２スイツチ３，６との間に誤配線があつ
て、第１の磁気ヘツド１の出力信号が第２の比較
回路１４側へ、また、第２の磁気ヘツド４の出力
信号が第１の比較回路１１側へそれぞれ送り込ま
れた場合を考えると、磁気テープ３０の第１領域
３３が再生される期間、第１の比較回路１１の信
号出力端子におけるレベルは“０”、第２の比較
回路１４の信号出力端子におけるレベルは“１”
となる。そして、第１の排他論理和回路１９の一
方の信号入力端子におけるレベルは“０”、第２
の排他論理和回路２０の一方の信号入力端子にお
けるレベルは“１”となる。

一方、デコーダ２６の信号入力端子におけるレ
ベルは“０”となるから、デコーダ２６の一方の
信号出力端子ａにおけるレベルは“０”、他方の
信号出力端子ｂにおけるレベルは“１”となり、
ダイオードマトリツクス回路２７から第１の排他
論理和回路１９への信号は“１”、第２の排他論
理和回路２０への信号は“０”となり、Ｄフリツ
プフロツプ回路２２の信号入力端子Ｄにおけるレ
ベルは“１”となる。このため、Ｄフリツプフロ
ツプ回路２２のトリガ信号入力端子Ｔにトリガ信
号が加わると、信号出力端子Ｑにおけるレベルは
“１”となり、「BAD」の表示信号が現われて、
誤配線のあることがわかる。

また、第１、第２の磁気ヘツド１，４からの被
験信号が、磁気テープ３０の第１領域３３または
第２領域３５の再生時に、第１、第２の比較回路
１１，１４から同時に出力される場合や、第１領
域３３または第２領域３５の再生時に、第１、第
２の比較回路１１，１４のいずれからも出力され
ない場合においても、「BAD」の表示信号が現わ
れることになる。

なお、以上は２つの記録トラツクに対する第
１、第２の磁気ヘツドを備えた場合の実施例につ
いてのべたが、分周器１８の出力周波数の分割
数、デコーダ２６の入出力特性、ダイオードマト
リツクス回路２７の入出力特性、排他論理和回路
１９，２０の数および論理和回路２１等を適当に
選ぶことにより、３個以上の磁気ヘツドを備えた
多トラツク形式の磁気録音再生装置の誤配線検査
にも同様に適用できる。さらに、試験用磁気テー
プ３０からの再生信号を識別信号として第１、第
２の磁気ヘツド１，４に加える代りに、別途に準
備した識別信号発生器からの出力信号を、第１、
第２の磁気ヘツドに直接印加することもできる。

以上のように、この発明は、第１、第２の磁気
ヘツドと、前記両磁気ヘツドにそれぞれ接続され
た録音／再生切り換え用スイツチとの誤配線の有
無を検査する誤配線検査装置において、前記第
１、第２の磁気ヘツドに識別信号を同時および交
互に順次に与える識別信号発生手段と、前記第
１、第２の磁気ヘツドから前記スイツチを通じて
入力される信号の有無を符号化して２系列の被験
符号信号を発生する符号化手段と、前記被験符号
信号の入力により前記被験符号信号に同期した同
期信号を発生する同期信号発生手段と、前記同期
信号の入力により２系列の基準符号信号を発生す
る基準符号信号発生手段と、前記被験符号信号お
よび前記基準符号信号を入力として両信号の不一
致を検出する検出手段とを備えてなることを特徴
とする誤配線検査装置である。

したがつてこの発明によると、磁気ヘツドと録
音／再生切り換え用スイツチとの間に誤配線があ
るか否かを、適格かつ短時間に検査することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は磁気録音再生装置の主として磁気ヘツ
ドと録音／再生切り換え用スイツチとの接続関係
を示す電気回路図、第２図はこの発明の誤配線検
査装置の１実施例の電気回路図、第３図は同実施
例の装置に用いられる試験用磁気テープの磁化パ
ターンを示す平面図、第４図のＡ〜Ｄは同装置の
各部における電圧波形を示す波形図である。 １……第１の磁気ヘツド、３，６……録音／再
生切り換え用スイツチ、４……第２の磁気ヘツ
ド、１１，１４……比較回路、１５，２４……論
理積回路、１７……無安定マルチバイブレータ、
１８……分周器、１９，２０……排他論理和回
路、２１……論理和回路、２２……Ｄフリツプフ
ロツプ回路、２６……デコーダ、２７……ダイオ
ードマトリツクス回路、３０……試験用磁気テー
プ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 第１、第２の磁気ヘツドと、前記両磁気ヘツ
   ドにそれぞれ接続された録音／再生切り換え用ス
   イツチとの誤配線の有無を検査する誤配線検査装
   置において、 前記第１、第２の磁気ヘツドに識別信号を同時
   および交互に順次に与える識別信号発生手段と、
   前記第１、第２の磁気ヘツドから前記スイツチを
   通じて入力される信号の有無を符号化して２系列
   の被験符号信号を発生する符号化手段と、前記被
   験符号信号の入力により前記被験符号信号に同期
   した同期信号を発生する同期信号発生手段と、前
   記同期信号の入力により２系列の基準符号信号を
   発生する基準符号信号発生手段と、前記被験符号
   信号および前記基準符号信号を入力として両信号
   の不一致を検出する検出手段とを備えてなること
   を特徴とする誤配線検査装置。