JPS624670B2 - - Google Patents
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- JPS624670B2 JPS624670B2 JP13396481A JP13396481A JPS624670B2 JP S624670 B2 JPS624670 B2 JP S624670B2 JP 13396481 A JP13396481 A JP 13396481A JP 13396481 A JP13396481 A JP 13396481A JP S624670 B2 JPS624670 B2 JP S624670B2
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- Japan
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- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 18
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 15
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 6
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/02—Collecting means for receiving or storing samples to be investigated and possibly directly transporting the samples to the measuring arrangement; particularly for investigating radioactive fluids
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はダスト放射線濃度監視装置に係り、特
に原子力発電所等の空気中のダストの放射線濃度
を高精度で効率よく監視するようにしたダスト放
射線濃度監視装置に関する。
に原子力発電所等の空気中のダストの放射線濃度
を高精度で効率よく監視するようにしたダスト放
射線濃度監視装置に関する。
第１図は従来のダスト放射線濃度監視装置の構
成例を示すもので、測定対象とするサンプリング
ポイントS1〜Ｓoからの放射性ダストを、配管７
１〜７ｎ、選択弁２１〜２ｎを通して吸引ポンプ
４により吸引し、ダストサンプラ３内のろ紙５の
放射ダストを捕集し、しやへい体１４で囲われた
放射線検出器６で濃度を検出し、プリアンプ１
０、計数率モジユール１２を介して制御部１３で
計測する。この動作で、サンプリングポイントS1
〜Ｓoの選択は、制御部１３からの制御により選
択弁２１〜２ｎを一定周期で順次切替えて行い、
切替時ごとにろ紙送り機構１１によりろ紙５を移
動させる。また切替前には前のサンプリングポイ
ントのダストをパージ弁８、フイルタ９を介して
外へ放出しておく。
成例を示すもので、測定対象とするサンプリング
ポイントS1〜Ｓoからの放射性ダストを、配管７
１〜７ｎ、選択弁２１〜２ｎを通して吸引ポンプ
４により吸引し、ダストサンプラ３内のろ紙５の
放射ダストを捕集し、しやへい体１４で囲われた
放射線検出器６で濃度を検出し、プリアンプ１
０、計数率モジユール１２を介して制御部１３で
計測する。この動作で、サンプリングポイントS1
〜Ｓoの選択は、制御部１３からの制御により選
択弁２１〜２ｎを一定周期で順次切替えて行い、
切替時ごとにろ紙送り機構１１によりろ紙５を移
動させる。また切替前には前のサンプリングポイ
ントのダストをパージ弁８、フイルタ９を介して
外へ放出しておく。
このように、ダストサンプラ３、制御部１３等
を１個所に集中して固定設置するものを固定形と
いうことにすると、この固定形では、検出される
放射線の濃度はサンプリング配管７１〜７ｎの内
壁等へのダストの付着により低目に評価される。
を１個所に集中して固定設置するものを固定形と
いうことにすると、この固定形では、検出される
放射線の濃度はサンプリング配管７１〜７ｎの内
壁等へのダストの付着により低目に評価される。
このようなダスト捕集損失を低減するため、サ
ンプリングポイント近傍に濃度検出部を接続可能
とする可搬形のものもあり、それを第２図に示
す。これは第１図の構成に、サンプリングポイン
ト近傍にクイツクコネクタ１５を設け、可搬形の
ダストサンプラ３Ａ（構成はダストサンプラ３と
同じ）をこのコネクタ１５を介して目標とするサ
ンプリングポイント（第２図ではS1）に接続し、
専用の可搬測定用吸引ポンプ４Ａで選択弁（S1の
時は弁２１Ａ）を通して吸引することにより、連
続的に濃度検出を行うものである。
ンプリングポイント近傍に濃度検出部を接続可能
とする可搬形のものもあり、それを第２図に示
す。これは第１図の構成に、サンプリングポイン
ト近傍にクイツクコネクタ１５を設け、可搬形の
ダストサンプラ３Ａ（構成はダストサンプラ３と
同じ）をこのコネクタ１５を介して目標とするサ
ンプリングポイント（第２図ではS1）に接続し、
専用の可搬測定用吸引ポンプ４Ａで選択弁（S1の
時は弁２１Ａ）を通して吸引することにより、連
続的に濃度検出を行うものである。
しかし、この可搬形を用いる場合には、従来は
各選択弁の制御方法が確立しておらず、可搬形で
測定する時は他のサンプリングポイントの測定は
停止させるなどの処置をとつていた。
各選択弁の制御方法が確立しておらず、可搬形で
測定する時は他のサンプリングポイントの測定は
停止させるなどの処置をとつていた。
本発明は、上記した従来技術の問題にかんがみ
てなされたもので、その目的は、各サンプリング
ポイントに対し、固定形と可搬形の測定を選択し
てすべてのサンプリングポイントに対する測定を
実行できるようにしたダスト放射線濃度監視装置
を提供するにある。
てなされたもので、その目的は、各サンプリング
ポイントに対し、固定形と可搬形の測定を選択し
てすべてのサンプリングポイントに対する測定を
実行できるようにしたダスト放射線濃度監視装置
を提供するにある。
本発明は、各サンプリングポイントに対して固
定形と可搬形のいずれで測定するかを選択する選
択手段と、該手段により可搬形で測定されるよう
指定されたサンプリングポイントに対しては連続
的に高精度の測定を実行させ、かつ固定形で測定
するよう選択されたサンプリングポイントに対し
ては従来通りのサンプリング測定を行うような制
御機構とを設けたことを特徴とするものである。
定形と可搬形のいずれで測定するかを選択する選
択手段と、該手段により可搬形で測定されるよう
指定されたサンプリングポイントに対しては連続
的に高精度の測定を実行させ、かつ固定形で測定
するよう選択されたサンプリングポイントに対し
ては従来通りのサンプリング測定を行うような制
御機構とを設けたことを特徴とするものである。
以下、本発明を実施例により詳細に説明する。
第３図は本発明をマイクロプロセツサーで実現し
た実施例を示すもので、固定形サンプリングポイ
ント選択スイツチパネル１８、可搬形サンプリン
グポイント選択スイツチパネル１９より、各々、
どのポイントが固定あるいは可搬形に選択されて
いるかをDI信号２００により（この信号線はｎ
本から成る）プロセツサー（CPU）２３に取り
込む。CPU２３では選択されたポイントに対
し、それに応じたDO信号２０１により、吸引ポ
ンプ４，４Ａ、選択弁２１〜２ｎ，２１Ａ〜２
nA等の制御を行う。
第３図は本発明をマイクロプロセツサーで実現し
た実施例を示すもので、固定形サンプリングポイ
ント選択スイツチパネル１８、可搬形サンプリン
グポイント選択スイツチパネル１９より、各々、
どのポイントが固定あるいは可搬形に選択されて
いるかをDI信号２００により（この信号線はｎ
本から成る）プロセツサー（CPU）２３に取り
込む。CPU２３では選択されたポイントに対
し、それに応じたDO信号２０１により、吸引ポ
ンプ４，４Ａ、選択弁２１〜２ｎ，２１Ａ〜２
nA等の制御を行う。
第４図はCPU２３における処理フローの１つ
の方法を概略図で示したもので、判定処理３００
で可搬形での測定要求有と判定された時は固定形
処理１００と可搬形処理２００を交互にくり返
し、要求無しの時は固定形処理１００のみをくり
返す。
の方法を概略図で示したもので、判定処理３００
で可搬形での測定要求有と判定された時は固定形
処理１００と可搬形処理２００を交互にくり返
し、要求無しの時は固定形処理１００のみをくり
返す。
これをタスク構成として見ると、第５図に示す
ようになる。即ち、監視タスク２４（判定処理３
００に対応）が常時DI信号２００を監視し、ど
のサンプリングポイントが固定形あるいは可搬形
として選択されているかを識別し、その情報を可
搬形制御タスク２５（処理２００に対応）と固定
形制御タスク２６（処理１００に対応）に与え
る。可搬形制御タスク２５では、可搬形を選択し
たポイント１点について連続して可搬形での測定
を行うよう制御し、固定形制御タスク２６では、
固定形を選択したポイントについて従来のように
スキヤンしながら測定を行うよう制御する。従つ
て見かけ上はタスク２５，２６は独立に並列動作
し、同時に２点の測定ができ、可搬形に選択され
た１点の集中監視が可能となる。又、可搬形を選
択せず、全てのポイントを固定形で選択した場合
は、従来の固定形としても使用できる。
ようになる。即ち、監視タスク２４（判定処理３
００に対応）が常時DI信号２００を監視し、ど
のサンプリングポイントが固定形あるいは可搬形
として選択されているかを識別し、その情報を可
搬形制御タスク２５（処理２００に対応）と固定
形制御タスク２６（処理１００に対応）に与え
る。可搬形制御タスク２５では、可搬形を選択し
たポイント１点について連続して可搬形での測定
を行うよう制御し、固定形制御タスク２６では、
固定形を選択したポイントについて従来のように
スキヤンしながら測定を行うよう制御する。従つ
て見かけ上はタスク２５，２６は独立に並列動作
し、同時に２点の測定ができ、可搬形に選択され
た１点の集中監視が可能となる。又、可搬形を選
択せず、全てのポイントを固定形で選択した場合
は、従来の固定形としても使用できる。
次に上記の各処理１００，２００の内容を詳細
に述べる。第６図は固定形処理１００の内容を示
すフローチヤートで、DI信号２００により、固
定形に選択されたサンプリングポイントは予めセ
ツトされているとする。まずステツプ１００１で
パージ弁８を開き、吸引ポンプ４を起動し、ステ
ツプ１００２でろ紙送り機構１１を駆動してろ紙
５を一定の長さ移動させ、DI信号２００で固定
形として選択されたサンプリング点の選択弁の１
つをステツプ１００３で開とする。（このように
DO信号２０１を各ステツプで出力する。以下同
様）。
に述べる。第６図は固定形処理１００の内容を示
すフローチヤートで、DI信号２００により、固
定形に選択されたサンプリングポイントは予めセ
ツトされているとする。まずステツプ１００１で
パージ弁８を開き、吸引ポンプ４を起動し、ステ
ツプ１００２でろ紙送り機構１１を駆動してろ紙
５を一定の長さ移動させ、DI信号２００で固定
形として選択されたサンプリング点の選択弁の１
つをステツプ１００３で開とする。（このように
DO信号２０１を各ステツプで出力する。以下同
様）。
続いて測定に移り、ステツプ１００４でパージ
弁８を閉とし、ステツプ１００５で放射線検出器
６よりのAI信号２０２の取込みを、ステツプ１
００６でサンプリング時間だけ続けて取込んだこ
とを確認するまで行う。これはAI信号が時間的
にゆらぎを持つているので、一定時間幅で平均す
るためである。このAI信号２０２の取込みが終
了するとステツプ１００７で今迄選択していたサ
ンプリングポイントの選択弁を閉じてパージ弁を
開とし、ステツプ１００８で平均的な濃度換算を
行い、表示又は記録する。続いて次の測定のため
にステツプ１００９でのろ紙移動、ステツプ１０
１０での次の選択されたサンプリングポイントの
選択弁の開を行つてステツプ１００４へ戻り、以
下同様に濃度を算出する。このサイクルは選択さ
れたサンプリングポイントに対して順次行うよう
にくり返される。
弁８を閉とし、ステツプ１００５で放射線検出器
６よりのAI信号２０２の取込みを、ステツプ１
００６でサンプリング時間だけ続けて取込んだこ
とを確認するまで行う。これはAI信号が時間的
にゆらぎを持つているので、一定時間幅で平均す
るためである。このAI信号２０２の取込みが終
了するとステツプ１００７で今迄選択していたサ
ンプリングポイントの選択弁を閉じてパージ弁を
開とし、ステツプ１００８で平均的な濃度換算を
行い、表示又は記録する。続いて次の測定のため
にステツプ１００９でのろ紙移動、ステツプ１０
１０での次の選択されたサンプリングポイントの
選択弁の開を行つてステツプ１００４へ戻り、以
下同様に濃度を算出する。このサイクルは選択さ
れたサンプリングポイントに対して順次行うよう
にくり返される。
第７図は可搬形処理２００の内容を示すフロー
チヤートで、この処理に先立つてDI信号２００
により可搬形に選択された１つのサンプリングポ
イントはあらかじめセツトされているとする。ま
ずステツプ２００１では可搬形に指定されたサン
プリングポイントの電磁弁を開とし、かつポンプ
４Ａ（第２図）を起動させる。ステツプ２００２
ではろ紙移動を行い、ステツプ２００３，２００
４で一定時間にわたつてAI信号２０２を取込み
（第６図のステツプ１００５，１００６と同じ）、
続いてステツプ２００５で平均的濃度を算出して
ステツプ２００２のろ紙移動へ戻る。この処理で
は同一サンプリングポイントに対し続けて測定を
行うので、くり返しループ中には第６図のような
選択弁及びパージ弁の開閉は含まれず、外部から
の指令で測定を終つた時点でこれの弁の開閉が行
われる。（図示せず）。
チヤートで、この処理に先立つてDI信号２００
により可搬形に選択された１つのサンプリングポ
イントはあらかじめセツトされているとする。ま
ずステツプ２００１では可搬形に指定されたサン
プリングポイントの電磁弁を開とし、かつポンプ
４Ａ（第２図）を起動させる。ステツプ２００２
ではろ紙移動を行い、ステツプ２００３，２００
４で一定時間にわたつてAI信号２０２を取込み
（第６図のステツプ１００５，１００６と同じ）、
続いてステツプ２００５で平均的濃度を算出して
ステツプ２００２のろ紙移動へ戻る。この処理で
は同一サンプリングポイントに対し続けて測定を
行うので、くり返しループ中には第６図のような
選択弁及びパージ弁の開閉は含まれず、外部から
の指令で測定を終つた時点でこれの弁の開閉が行
われる。（図示せず）。
第８図は、第３図の実施例での固定形、可搬形
に対する選択スイツチパネル１８，１９に代つ
て、１つの選択スイツチパネルとしたもので、サ
ンプリングポイント１点毎に固定と可搬のオルタ
ネイトなスイツチを設けている。そして通常は固
定形の制御を行い、可搬形を選択したもの１点の
み可搬形の制御（処理２００）を行い、他のポイ
ントは固定形の制御（処理１００）を行い、可搬
形を選択した点のみスキヤン対象からはずすよう
にしたものである。
に対する選択スイツチパネル１８，１９に代つ
て、１つの選択スイツチパネルとしたもので、サ
ンプリングポイント１点毎に固定と可搬のオルタ
ネイトなスイツチを設けている。そして通常は固
定形の制御を行い、可搬形を選択したもの１点の
み可搬形の制御（処理２００）を行い、他のポイ
ントは固定形の制御（処理１００）を行い、可搬
形を選択した点のみスキヤン対象からはずすよう
にしたものである。
以上の実施例から明らかなように、本発明によ
れば、各サンプリングポイントに対し、可搬形と
固定形の制御を選択して可搬形による高精度の測
定と並行して他の点の固定形による測定が実行で
きるから、特に精度を高くして測定する必要があ
るサンプリングポイントに対して可搬形を選択す
れば、効率の良い測定が可能となる。
れば、各サンプリングポイントに対し、可搬形と
固定形の制御を選択して可搬形による高精度の測
定と並行して他の点の固定形による測定が実行で
きるから、特に精度を高くして測定する必要があ
るサンプリングポイントに対して可搬形を選択す
れば、効率の良い測定が可能となる。
第１図は従来のダスト放射線濃度監視装置の構
成図、第２図は可搬形濃度検出部を付加した構成
図、第３図は本発明をマイクロプロセツサーによ
り実現した実施例を示す概略図、第４図は本発明
の概略動作フローチヤート、第５図は本発明にお
ける概略タスク構成を示す図、第６図は詳細な固
定形処理の動作フローチヤート、第７図は詳細な
可搬形の動作フローチヤート、第８図は本発明の
変形例のスイツチパネル概略図である。 S1〜Ｓo…サンプリングポイント、２１〜２
ｎ，２１Ａ〜２nA…選択弁、３…固定形ダスト
サンプラ、３Ａ…可搬形ダストサンプラ、４，４
Ａ…吸引ポンプ、５，５Ａ…ろ紙、６，６Ａ…放
射線検出器、７１〜７ｎ…サンプリング配管、８
…パージ弁、９…フイルタ、１０，１０Ａ…プリ
アンプ、１１，１１Ａ…ろ紙送り機構、１２，１
２Ａ…計数率モジユール、１３…制御部、１５…
クイツクコネクタ、１８…固定形サンプリングポ
イント選択スイツチパネル、１９…可搬形サンプ
リングポイント選択スイツチパネル、２３…
CPU、２４…監視タスク、２５…可搬形制御タ
スク、２６…固定形制御タスク。
成図、第２図は可搬形濃度検出部を付加した構成
図、第３図は本発明をマイクロプロセツサーによ
り実現した実施例を示す概略図、第４図は本発明
の概略動作フローチヤート、第５図は本発明にお
ける概略タスク構成を示す図、第６図は詳細な固
定形処理の動作フローチヤート、第７図は詳細な
可搬形の動作フローチヤート、第８図は本発明の
変形例のスイツチパネル概略図である。 S1〜Ｓo…サンプリングポイント、２１〜２
ｎ，２１Ａ〜２nA…選択弁、３…固定形ダスト
サンプラ、３Ａ…可搬形ダストサンプラ、４，４
Ａ…吸引ポンプ、５，５Ａ…ろ紙、６，６Ａ…放
射線検出器、７１〜７ｎ…サンプリング配管、８
…パージ弁、９…フイルタ、１０，１０Ａ…プリ
アンプ、１１，１１Ａ…ろ紙送り機構、１２，１
２Ａ…計数率モジユール、１３…制御部、１５…
クイツクコネクタ、１８…固定形サンプリングポ
イント選択スイツチパネル、１９…可搬形サンプ
リングポイント選択スイツチパネル、２３…
CPU、２４…監視タスク、２５…可搬形制御タ
スク、２６…固定形制御タスク。
Claims (1)
- １ 複数の被測定点から該被測定点対応に設けら
れた配管及び第１の選択弁を介して吸引手段によ
り吸引された空気中のダストを捕集する第１の捕
集手段、及び該捕集したダストの放射線濃度を検
出する第１の検出手段を備えた固定形ダストサン
プラと、上記配管の被測定点近傍に直列挿入可能
でかつ上記選択弁とは別の上記被測定点対応に設
けられた第２の選択弁及び上記吸引手段とは別の
吸引手段を介して吸引された空気中のダストを捕
集する第２の捕集手段、及び該捕集したダストの
放射線濃度を検出する第２の検出手段を備えた可
搬形ダストサンプラと、上記固定形ダストサンプ
ラにより測定する第１被測定点と上記可搬形ダス
トサンプラを接続した第２被測定点とを設定する
選択設定手段と、上記第１被測定点に対しては該
被測定点に対応する上記第１の選択弁を１個ずつ
順次開することによりサイクリツクに上記固定形
ダストサンプラでもつてその放射線濃度を検出
し、かつ上記第２被測定点に対しては該被測定点
に対応する上記第２の選択弁を開として上記可搬
形ダストサンプラでもつて連続的にその放射能濃
度を検出するように制御する制御手段とを備えた
ことを特徴とするダスト放射線濃度監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13396481A JPS5835484A (ja) | 1981-08-28 | 1981-08-28 | ダスト放射線濃度監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13396481A JPS5835484A (ja) | 1981-08-28 | 1981-08-28 | ダスト放射線濃度監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5835484A JPS5835484A (ja) | 1983-03-02 |
| JPS624670B2 true JPS624670B2 (ja) | 1987-01-31 |
Family
ID=15117193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13396481A Granted JPS5835484A (ja) | 1981-08-28 | 1981-08-28 | ダスト放射線濃度監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5835484A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0288074U (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-12 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61274241A (ja) * | 1985-05-30 | 1986-12-04 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | ダストモニタの集中管理装置 |
-
1981
- 1981-08-28 JP JP13396481A patent/JPS5835484A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0288074U (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-12 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5835484A (ja) | 1983-03-02 |
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