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JPS6253945B2 - - Google Patents
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JPS6253945B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6253945B2
JPS6253945B2 JP61111569A JP11156986A JPS6253945B2 JP S6253945 B2 JPS6253945 B2 JP S6253945B2 JP 61111569 A JP61111569 A JP 61111569A JP 11156986 A JP11156986 A JP 11156986A JP S6253945 B2 JPS6253945 B2 JP S6253945B2
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JP
Japan
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cassette
wafers
pitch
boat
wafer
Prior art date
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Application number
JP61111569A
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Japanese (ja)
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JPS6242431A (en
Inventor
Kazuhiro Sugita
Kiichi Saito
Haruhiko Makino
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPS6253945B2 publication Critical patent/JPS6253945B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、半導体素子の製造工程の自動化に使
用される半導体ウエハ処理間隔変換装置に係わ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor wafer processing interval conversion apparatus used for automating the manufacturing process of semiconductor devices.

半導体素子の製造工程に於ては、熱拡散処理、
CVD(化学気相成長)処理あるいはアニール処
理など所謂横形加熱炉を用いた処理工程があり、
これらの処理工程では半導体ウエーハをカセツト
から取り出し、一定間隔をもつて配列した状態で
加熱炉に移送し、処理終了後に再び元のカセツト
に戻すという一連の作業工程の自動化が望まれて
いる。従来の装置を用いた場合の斯種の作業手順
は、(i)カセツトからピンセツトで半導体ウエーハ
を取り出す、(ii)このウエーハをピンセツトで所定
ピツチをもつてボートに並べる、(iii)該ボートをボ
ート受け台に乗せる、(iv)該ボート受け台を手に持
つて炉芯管内にボートを移す、(v)ボートにボート
挿入棒を引つかけてボートローダを作動させ、炉
芯管の中心部にボートを挿入する、(vi)ボートの挿
入で炉芯管内部の温度が下るので回復を待つてガ
スを注入し、拡散又はCVDなどの処理を行う、
(vii)処理が終了した後は上記の逆順(v)〜(i)の作業を
行つて処理されたウエーハを元の同じカセツトに
収納する、というものである。このような作業手
順のうち、(v)のボートローダ作業から(vi)の炉内本
処理までが自動化されているだけで、他の作業は
全て手作業にたよつている。
In the manufacturing process of semiconductor devices, thermal diffusion treatment,
There are treatment processes that use so-called horizontal heating furnaces, such as CVD (chemical vapor deposition) treatment or annealing treatment.
In these processing steps, it is desired to automate the series of steps in which the semiconductor wafers are taken out of the cassette, arranged at regular intervals and transferred to a heating furnace, and then returned to the original cassette after the processing is completed. The procedure for this type of work when using conventional equipment is (i) taking out the semiconductor wafers from the cassette with tweezers, (ii) using tweezers to line up the wafers on a boat with a predetermined pitch, and (iii) placing the wafers on the boat. (iv) Hold the boat cradle in your hand and move the boat into the furnace core tube. (v) Pull the boat insertion rod onto the boat to operate the boat loader and place the boat in the center of the furnace core tube. (vi) Inserting the boat will lower the temperature inside the furnace core tube, wait for it to recover, then inject gas and perform processing such as diffusion or CVD.
(vii) After the processing is completed, the above operations (v) to (i) are performed in reverse order, and the processed wafers are stored in the same original cassette. Of these work steps, only the steps from (v) boat loader work to (vi) in-furnace main processing are automated; all other work is done manually.

本発明は、上述の点に鑑み、半導体素子の製造
において、その横形加熱炉を用いた処理工程の自
動化を可能にするために、自動的に収納器(カセ
ツト)に収納された半導体ウエハを処理に応じて
所要の処理間隔に変換して処理ボートに移載でき
るようにした半導体ウエハ処理間隔変換装置を提
供するものである。
In view of the above-mentioned points, the present invention has been devised to automatically process semiconductor wafers stored in a storage container (cassette) in order to automate the processing process using a horizontal heating furnace in the manufacture of semiconductor devices. The object of the present invention is to provide a semiconductor wafer processing interval converting device that can convert the processing interval to a required processing interval according to the requirements and transfer the processing interval to a processing boat.

以下、図面を用いて本発明を詳細説明しよう。 Hereinafter, the present invention will be explained in detail using the drawings.

第1図は本発明の半導体ウエハ処理間隔変換装
置を備えた半導体製造装置の全体を示すものであ
る。この半導体製造装置は、複数の被処理物即ち
半導体ウエーハを収納した収納器(カセツト)か
らウエーハを取り出し、これを一定間隔をもつて
配列支持し指定の加熱炉に挿入して所定の処理
(拡散、CVD、又はアニールなどの処理)を行
い、処理後のウエーハを再び元のカセツトに収納
するという一連の作業をコンピユータ制御によつ
て自動的に行うように構成されるもので、同図示
の如く、上記全ての作業工程をマイクロコンピユ
ータによつて自動制御する制御操作部1と、複数
の半導体ウエーハ3を収納し、夫々コード番号を
付された複数(本例では12個)の収納器即ちカセ
ツト2〔2A,2B…2L〕と、例えば垂直方向
に配列された3つの加熱炉4A,4B,4Cを備
えた処理部4と、ウエーハ3をカセツト2と処理
部4との間で移送する移送装置5とを有して成
る。各カセツト2は相対向する一方の側面が開放
されたような箱型をなし、夫々に例えば1ロツト
分25枚の半導体ウエーハ3が高さ方向に所定ピツ
チ(例えば4.76mmピツチ)をもつて積層状に収納
される。この複数のカセツト2は第2図に示すよ
うに2列に配列されると共に、矢印a,b,c及
びd方向に沿つて1カセツト分づつ間歇的に且つ
循環的に移送するようになされ、各カセツト2に
付されたコード番号が位置S0に来たときにホトセ
ンサDによつて認識され、選択される。このため
各カセツト2の横にはマイクロコンピユータが確
認できるような例えば4つの穴10を設け、之に
対応して反射型発光ダイオードD1,D2,D3,D4
からなるホトセンサDによつて反射する所と反射
しない所とを読み分け、4ビツト16進の信号を作
り出しカセツトのコード番号をデジタル化する。
反射する所は金属の表面そのままとし、反射しな
い所は発光ダイオードの赤外線光が反射しない黒
いラバーが貼着される。カセツト2を循環的に移
送する機構6は、カセツト2の2つの列の下方に
夫々配され各カセツト2間に対応する位置に爪7
を一体に有した1対の送り爪部材8A,8Bと、
列の両端に対応して設けられた1対のアーム9
A,9Bとから構成される。この場合には、送り
爪部材8AがシリンダーCY2により上昇し各爪7
がカセツト間に挿入されて後シリンダーCY1で矢
印a方向に1カセツト分移動されることによつて
一方の列のカセツト2A〜2Fが各爪7に押され
て1カセツト分だけ移送され、カセツト2Aが位
置S0に持来される。次にシリンダーCY8によるア
ーム9Aの矢印b方向の移動で位置S0のカセツト
2Aが他の列側に移送され、又シリンダーCY9
よるアーム9Bの矢印d方向の移動でカセツト2
Gが一方の列側に移送される。続いて送り爪部材
8BがシリンダーCY3により上昇し且つシリンダ
ーCY4で矢印c方向に移動されることによつて上
記と同様に他方の列のカセツト2A,2L…2H
が1カセツト分だけ移送され、このようにして各
カセツト2は循環移送される。
FIG. 1 shows an entire semiconductor manufacturing apparatus equipped with a semiconductor wafer processing interval converting apparatus according to the present invention. This semiconductor manufacturing equipment takes out the wafers from a container (cassette) containing a plurality of objects to be processed, that is, semiconductor wafers, supports them in an array at regular intervals, inserts them into a designated heating furnace, and performs a predetermined process (diffusion). , CVD, annealing, etc.) and storing the processed wafers back into their original cassettes. , a control operation unit 1 that automatically controls all of the above-mentioned work processes by a microcomputer, and a plurality of storage containers (12 in this example) that store a plurality of semiconductor wafers 3 and are each assigned a code number. 2 [2A, 2B...2L], a processing section 4 equipped with, for example, three heating furnaces 4A, 4B, 4C arranged vertically, and a transfer section for transferring wafers 3 between the cassette 2 and the processing section 4. It comprises a device 5. Each cassette 2 has a box shape with one opposing side surface open, and each cassette 2 has, for example, 25 semiconductor wafers 3 for one lot stacked at a predetermined pitch (for example, 4.76 mm pitch) in the height direction. It is stored in a shape. The plurality of cassettes 2 are arranged in two rows as shown in FIG. 2, and are transported intermittently and cyclically one cassette at a time along the directions of arrows a, b, c, and d. The code number assigned to each cassette 2 is recognized and selected by the photosensor D when it reaches position S0 . For this purpose, for example, four holes 10 are provided next to each cassette 2 so that the microcomputer can check them, and correspondingly reflective light emitting diodes D 1 , D 2 , D 3 , D 4 are provided.
The photosensor D consists of a photo sensor D that distinguishes between reflected areas and non-reflected areas, generates a 4-bit hexadecimal signal, and digitizes the code number of the cassette.
The reflective parts are left with the same metal surface, and the non-reflective parts are covered with black rubber that does not reflect the infrared light from the light emitting diode. A mechanism 6 for cyclically transporting the cassettes 2 is provided with claws 7 disposed below the two rows of cassettes 2 and located between each cassette 2.
a pair of feed claw members 8A, 8B integrally having;
A pair of arms 9 provided corresponding to both ends of the row
It is composed of A and 9B. In this case, the feed claw member 8A is raised by the cylinder CY 2 and each claw 7
is inserted between the cassettes and moved by one cassette in the direction of the arrow a by the rear cylinder CY 1 , so that the cassettes 2A to 2F in one row are pushed by each claw 7 and transferred by one cassette, and the cassettes are 2A is brought to position S0 . Next, the cylinder CY 8 moves the arm 9A in the direction of arrow b to transfer the cassette 2A at position S0 to the other row, and the cylinder CY 9 moves the arm 9B in the direction of the arrow d to transfer the cassette 2A to the other row.
G is transferred to one column side. Subsequently, the feed claw member 8B is raised by the cylinder CY 3 and moved in the direction of the arrow c by the cylinder CY 4 , thereby moving the cassettes 2A, 2L...2H of the other row in the same manner as above.
is transferred by one cassette, and in this way each cassette 2 is transferred in a circular manner.

一方、移送装置5は第3図に示す如くホトセン
サDによつて指定されたカセツト2内のウエーハ
3を一旦カセツト2と同一ピツチをもつて移し替
えるピツチ変換用小ケース12と、この小ケース
12からウエーハ3を1枚ずつエアーベアリング
13で移送し予め設定された所定ピツチをもつて
順次に配列するピツチ変換用大ケース14が設け
られる。小ケース12は位置S0に持来されたカセ
ツト2と近接対向する位置に在り、エアーベアリ
ング13を跨いでパルスモータM1を含む上下移
動手段15を介して1ピツチづつ垂直方向に上下
移動可能に配される。なお、位置S0において指定
されたカセツト2と小ケース12間でのウエーハ
3の移し替えを行うために、カセツト2と小ケー
ス12間に渡る上方には第2図で示すようにシリ
ンダーCY7で上下動する支持体17と、この支持
体17に保持され夫々シリンダーCY5及びCY6
て互いに逆方向に駆動するアーム16A及び16
Bからなる移し替え機構30が設けられる。この
移し替え機構30において、例えばカセツト2か
ら小ケース12にウエーハ3を移すときはシリン
ダーCY7により支持体17が下げられて後シリン
ダーCY5が作動してアーム16Aが矢印H方向に
動き、このアーム16Aによつてカセツト2内の
25枚のウエーハ3が一度に小ケース12内に移し
替えられる。小ケース12からカセツト2へウエ
ーハ3を移すときはシリンダーCY6によりアーム
16Bを矢印Y方向に動かして行われる。
On the other hand, as shown in FIG. 3, the transfer device 5 includes a pitch conversion small case 12 for transferring the wafers 3 in the cassette 2 specified by the photosensor D to the cassette 2 at the same pitch as the cassette 2, and a small case 12 for pitch conversion. A large case 14 for pitch conversion is provided in which the wafers 3 are transferred one by one using an air bearing 13 and are arranged sequentially at a predetermined pitch. The small case 12 is located in a position close to and facing the cassette 2 brought to the position S0 , and can be vertically moved one pitch at a time via a vertical moving means 15 including a pulse motor M1 across an air bearing 13. will be distributed. In addition, in order to transfer the wafers 3 between the cassette 2 and the small case 12 specified at the position S0 , a cylinder CY7 is installed above the cassette 2 and the small case 12 as shown in FIG. a support 17 that moves up and down, and arms 16A and 16 held by this support 17 and driven in opposite directions by cylinders CY 5 and CY 6 , respectively.
A transfer mechanism 30 consisting of B is provided. In this transfer mechanism 30, for example, when transferring the wafer 3 from the cassette 2 to the small case 12, the support 17 is lowered by the cylinder CY 7 , and then the cylinder CY 5 is operated and the arm 16A moves in the direction of arrow H. inside the cassette 2 by the arm 16A.
Twenty-five wafers 3 are transferred into the small case 12 at one time. When transferring the wafer 3 from the small case 12 to the cassette 2, the cylinder CY 6 moves the arm 16B in the direction of arrow Y.

ピツチ変換用大ケース14は、小ケース12と
対向するようにエアーベアリング13の他端にこ
れを跨ぎパルスモータM2を含む上下移動手段3
2を介して1ピツチづつ垂直方向に上下移動可能
に設けられると共に、上り切つたところでモータ
M3により水平に倒れるよう構成される。この場
合、大ケース14はウエーハ3が収容されるピツ
チが例えば4.0mmピツチとなされ、4.0mmピツチと
したときには100枚(4カセツト分)のウエーハ
3が、8.0mmピツチとしたときには50枚(2カセ
ツト分)のウエーハ3が、12.0mmピツチとしたと
きには25枚(1カセツト分)のウエーハ3が夫々
収容される。小ケース12から大ケース14への
ウエーハ3に移送は、ウエーハ3が収納された小
ケース12を1ピツチづつ降下させ積層されたウ
エーハ3を下から順次エアーベアリング13に沿
つて大ケース14側に送り、大ケース14では小
ケース12の降下と同期して1ピツチづつ上昇さ
せ上方から順次ウエーハ3を収容するように行わ
れる。大ケース14から小ケース12へのウエー
ハ3の移送は上記と逆に小ケース12を下から1
ピツチづつ上昇させ、大ケース12を上から1ピ
ツチづつ降下させて行われる。ウエーハ3が大ケ
ース14に移し終えた状態では各ウエーハ3のフ
アセツト31(位置合せ用にウエーハの一部を水
平に切断した部分)が揃つていない。従つて、各
ウエーハ3のフアセツト31を共に揃える手段1
8が大ケース14の下部に設けられる。この手段
18は例えば収容された全ウエーハ3の周側に共
通して転接しモータM4にて回転される棒状回転
体33にて構成され、この棒状回転体33によつ
て各ウエーハ3が回転されたときウエーハ3のフ
アセツト31の部分で棒状回転体33を難れ、ウ
エーハ3の回転が停止されることによつて各ウエ
ーハ3のフアセツト31が揃えられる。又、大ケ
ース14の下部には、大ケース14に収容された
全ウエーハ3を大ケース14より上方に持上げる
ためのウエーハリフト19が配される。CY10
ウエーハリフト19を上下動するためのシリンダ
ーである。
The pitch conversion large case 14 is attached to the other end of the air bearing 13 so as to face the small case 12, and the vertical movement means 3 including the pulse motor M 2 is connected to the other end of the air bearing 13 and straddles the same.
2 so that it can be moved up and down in the vertical direction one pitch at a time, and when it reaches the top, the motor
Constructed to fall horizontally by M 3 . In this case, the large case 14 accommodates wafers 3 at a pitch of 4.0 mm, for example. When the pitch is 4.0 mm, 100 wafers 3 (4 cassettes) can be accommodated, and when the pitch is 8.0 mm, 50 wafers 3 (2 cassettes) can be accommodated. When the wafers 3 (for one cassette) have a pitch of 12.0 mm, 25 wafers 3 (for one cassette) can be accommodated. To transfer the wafers 3 from the small case 12 to the large case 14, the small case 12 containing the wafers 3 is lowered one pitch at a time, and the stacked wafers 3 are sequentially moved from the bottom along the air bearing 13 to the large case 14 side. The large case 14 is moved up one pitch at a time in synchronization with the lowering of the small case 12, and the wafers 3 are sequentially received from above. To transfer the wafer 3 from the large case 14 to the small case 12, move the small case 12 from the bottom to the top.
This is done by raising the large case 12 one pitch at a time and lowering the large case 12 from above one pitch at a time. When the wafers 3 have been transferred to the large case 14, the facets 31 (a portion of the wafer cut horizontally for alignment) of each wafer 3 are not aligned. Therefore, the means 1 for aligning the facets 31 of each wafer 3 together
8 is provided at the bottom of the large case 14. This means 18 is composed of, for example, a rod-shaped rotating body 33 which is in common rolling contact with the circumferential side of all the accommodated wafers 3 and rotated by a motor M4 , and each wafer 3 is rotated by this rod-shaped rotating body 33. When the wafers 3 are rotated, the facets 31 of the wafers 3 hit the bar-shaped rotating body 33, and the rotation of the wafers 3 is stopped, thereby aligning the facets 31 of the wafers 3. Further, a wafer lift 19 for lifting all the wafers 3 housed in the large case 14 above the large case 14 is arranged at the lower part of the large case 14 . CY 10 is a cylinder for moving the wafer lift 19 up and down.

さらに、移送装置5においては、第4図に示す
ように大ケース14に収容されたウエーハ3を一
括して保持し、指定の加熱炉4〔4A,4B又は
4C〕のボート20上に移すウエーハチヤツク2
1が設置される。このチヤツク21は、パルスモ
ータM6を含む垂直移動手段(例えば送りネジ機
構等)34を介して垂直方向に移動可能に配され
ると共に、モータM5を含む水平移動手段35を
介して水平方向に移動可能に配される。CY11
チヤツク21の開閉を行うためのシリンダーであ
る。又、3つの加熱炉4A,4B,4Cを備えた
処理部4においては、夫々加熱炉4A,4B,4
Cに対応してボート20が設けられ、このボート
20は夫々のボートローダアーム36A,36
B,36Cが連結されボートローダ37A,37
B,37Cによつて炉に対して出入される。尚、
各加熱炉4A,4B,4Cの外の入口近傍には
夫々ボート20を受ける受台38が設けられ、ボ
ート20が炉内に挿入された時点では夫々対応す
るシリンダーCY12,CY13,CY14により横に移動
され待機状態となされる。
Further, in the transfer device 5, as shown in FIG. 4, the wafers 3 housed in the large case 14 are collectively held and transferred onto the boat 20 of the designated heating furnace 4 [4A, 4B or 4C]. 2
1 is installed. The chuck 21 is arranged to be movable in the vertical direction via a vertical moving means (for example, a feed screw mechanism, etc.) 34 including a pulse motor M6 , and horizontally via a horizontal moving means 35 including a motor M5 . movably arranged. CY 11 is a cylinder for opening and closing chuck 21. In addition, in the processing section 4 equipped with three heating furnaces 4A, 4B, 4C, heating furnaces 4A, 4B, 4
A boat 20 is provided corresponding to C, and this boat 20 has respective boat loader arms 36A, 36
B, 36C are connected and boat loaders 37A, 37
B and 37C are used to enter and exit the furnace. still,
A cradle 38 for receiving the boat 20 is provided near the outside entrance of each heating furnace 4A, 4B, 4C, and when the boat 20 is inserted into the furnace, the corresponding cylinder CY 12 , CY 13 , CY 14 is inserted. It is moved sideways and placed in a standby state.

次に、かかる構成の動作を説明する。 Next, the operation of this configuration will be explained.

夫々例えば1ロツト分25枚の半導体ウエーハ3
を収納した複数、本例では12個のカセツト2が第
1図で示されるように所定位置に送られると、以
後コンピユータ制御され、先ず12個のカセツト2
がカセツト移送機構6によつて1カセツト分づつ
順次間歇的に且つ循環的に移送される。1番目の
カセツト2Aが位置S0に移送されるとホトセンサ
Dによつてカセツト2Aのコード番号が確認さ
れ、このカセツト2Aが指定されたものである
と、第2図に示す如くシリンダーCY7によつて支
持体17が降下し、アーム16Aがカセツト2A
の開放された側面に対向され、次にシリンダー
CY5によつてアーム16Aがカセツト2A内を通
過する如く矢印H方向に移動されることによつて
カセツト2A内の25枚のウエーハ3が全てピツチ
変換用小ケース12内に移し替えられる。次にエ
アーベアリング13が作動し、エアーベアリング
13と対向する最下層のウエーハ3がエアーベア
リング13上を移送し、ピツチ変換用大ケース1
4の最上部に収容され、以後順次小ケース12が
1ピツチづつ降下して下方より1枚づつウエーハ
3がエアーベアリング13を通じて1ピツチづつ
上昇する大ケース14内に例えば4mmピツチで収
容される。(なお、大ケース14に収納するピツ
チは予めその大ケース14に間歇的に上昇するピ
ツチを指定することによつて4mmピツチ、8mmピ
ツチ、12mmピツチ等自由に選択できる。)1カセ
ツト分のウエーハ3の収容が終ると、次に同様に
して第2、第3、第4のカセツト2B,2C,2
Dのウエーハ3が大ケース14の次の段から入
り、第5図に示す如く、4つのカセツト2A〜2
Dの計100枚のウエーハ3が大ケース14に収容
される。大ケース14に指定されたカセツト2の
ウエーハ3が全て収容されると、次に大ケース1
4はモータM3の駆動で第3図の鎖線で示す如く
水平に倒れる。続いて、モータM4によつて棒状
回転体33が回転し、各ウエーハ3のフアセツト
31が揃えられて後、シリンダーCY10によりウ
エーハリフト19が上昇し、大ケース14内の全
ウエーハ3が持上げられる。次に、第4図の位置
S34に待機していたウエーハチヤツク21が垂直
移送手段34により位置S31まで降下しシリンダ
ーCY11をしてリフト19上の全ウエーハ3をつ
かみ上げて後、指定の加熱炉、例えば第1の加熱
炉4Aの高さに対応する位置まで上昇し、その後
水平移送手段34を介して矢印E方向に水平移動
され、ウエーハ3が指定の加熱炉4Aのボート2
0上に載置される。このときボート20は受台3
8上に保持されている。ウエーハチヤツク21は
ウエーハ3をボート20上に載置した後は矢印H
方向に水平移動され、垂直方向の定位置S34に復
帰して待機される。ボート20はウエーハ3が載
置された後、ボートローダアーム36A及びボー
トローダ37Aを介して加熱炉4Aに挿入され
る。このようにして指定された4カセツト分づつ
の半導体ウエーハ3が夫々指定の加熱炉4B及び
4Cに挿入される。そして加熱炉内に於て所要の
処理(拡散、CVD、アニール等の処理)が施さ
れる。
For example, 25 semiconductor wafers for one lot 3
When a plurality of cassettes 2, in this example 12 cassettes 2, containing .
The cassette transfer mechanism 6 sequentially transfers one cassette at a time intermittently and cyclically. When the first cassette 2A is transferred to position S0 , the code number of cassette 2A is confirmed by photosensor D, and if this cassette 2A is the designated one, a code number is sent to cylinder CY7 as shown in FIG. Therefore, the support body 17 is lowered, and the arm 16A is attached to the cassette 2A.
facing the open side of the cylinder, then the cylinder
By moving the arm 16A in the direction of arrow H by CY 5 so as to pass through the cassette 2A, all 25 wafers 3 in the cassette 2A are transferred into the small case 12 for pitch conversion. Next, the air bearing 13 is activated, and the lowermost wafer 3 facing the air bearing 13 is transferred on the air bearing 13, and the pitch conversion large case 1
Thereafter, the small case 12 is lowered one pitch at a time, and the wafers 3 are housed one by one from below at a pitch of 4 mm, for example, in the large case 14, which is raised one pitch at a time through an air bearing 13. (The pitch to be stored in the large case 14 can be freely selected such as 4 mm pitch, 8 mm pitch, 12 mm pitch, etc. by specifying the pitch that will rise intermittently to the large case 14 in advance.) Wafers for one cassette 3, the second, third, and fourth cassettes 2B, 2C, and 2 are placed in the same manner.
The wafers 3 of D enter from the next stage of the large case 14, and as shown in FIG.
A total of 100 wafers 3 D are housed in the large case 14. When all the wafers 3 in the designated cassette 2 are stored in the large case 14, the next large case 1
4 is driven by the motor M3 , and falls horizontally as shown by the chain line in FIG. Next, the rod-like rotating body 33 is rotated by the motor M4 , and after the facets 31 of each wafer 3 are aligned, the wafer lift 19 is raised by the cylinder CY10 , and all the wafers 3 in the large case 14 are lifted. It will be done. Next, the position shown in Figure 4
The wafer chuck 21, which was waiting at S34 , descends to the position S31 by the vertical transfer means 34, uses the cylinder CY11 to pick up all the wafers 3 on the lift 19, and then transfers them to a designated heating furnace, for example, the first heating furnace. The wafer 3 is raised to a position corresponding to the height of the furnace 4A, and then horizontally moved in the direction of arrow E via the horizontal transfer means 34, and the wafer 3 is transferred to the boat 2 of the designated heating furnace 4A.
0. At this time, the boat 20 is
It is held on 8. After placing the wafer 3 on the boat 20, the wafer chuck 21 moves in the direction of arrow H.
It is moved horizontally in the direction S34, and then returned to the normal position S34 in the vertical direction and is put on standby. After the wafers 3 are placed on the boat 20, the boat 20 is inserted into the heating furnace 4A via the boat loader arm 36A and the boat loader 37A. In this way, four designated cassettes of semiconductor wafers 3 are inserted into designated heating furnaces 4B and 4C, respectively. Then, necessary treatments (diffusion, CVD, annealing, etc.) are performed in a heating furnace.

処理された後、各加熱炉4A,4B,4Cから
ウエーハ3を載置したボート20が夫々取出さ
れ、以後は挿入時の動作と全く逆の順序で指定さ
れた元のカセツト2に夫々のウエーハ3が収納さ
れる。即ち、先づ、ウエーハチヤツク21が動作
して加熱炉4Cで処理されたウエーハ3をつかん
でピツチ変換用大ケース14内のウエーハリフト
19上に載置する。リフト19はシリンダー
CY10により降下し、ウエーハ3は大ケース14
内に収容される。ウエーハチヤツク21は元の位
置S34に復帰される。大ケース14はモータM3
よりエアーベアリング13上に対向する如く起立
し、続いてエアーベアリング13の動作で大ケー
ス14内のウエーハ3が1枚づつ小ケース12内
に収納される。このとき大ケース14は1ピツチ
づつ降下し、之に対応して小ケースは1ピツチづ
つ上昇する。一方、カセツト2側においては、カ
セツト移送機構6によつてカセツト2を移送させ
ると共にホトセンサDによつて各カセツト2のコ
ード番号を確認し、指定のカセツト、この場合は
カセツト2Lを選択して位置S0に待機させる。1
カセツト分(即ちカセツト2Lに収納される分)
の25枚のウエーハ3が小ケース12に収納される
と、シリンダCY7が作動して支持体17が降下
し、続いてシリンダCY6によりアーム16Bが矢
印Y方向に移動して小ケース12内の全ウエーハ
3が指定された元のカセツト2Lに収納される。
同様にして、大ケースの次の25枚のウエーハ3
が、カセツト2Kに収納される等して順次対応す
るウエーハ3がカセツト2J,2Iに収納され
る。加熱炉4Cのウエーハ3の収納が終了した後
は、上記と同様の動作が繰返えされ、第2の加熱
炉4Bのウエーハ3及び第1の加熱炉4Aのウエ
ーハ3が夫々対応する元のカセツト2に収納され
る。
After being processed, the boat 20 carrying the wafers 3 is taken out from each of the heating furnaces 4A, 4B, and 4C, and the wafers are then loaded into the original cassette 2 in the completely reverse order of insertion. 3 is stored. That is, first, the wafer chuck 21 operates to grab the wafer 3 processed in the heating furnace 4C and place it on the wafer lift 19 inside the large case 14 for pitch conversion. Lift 19 is a cylinder
Descending by CY 10 , wafer 3 is in large case 14
contained within. The wafer chuck 21 is returned to its original position S34 . The large case 14 is erected by the motor M3 so as to face the air bearing 13, and then the wafers 3 in the large case 14 are stored one by one into the small case 12 by the operation of the air bearing 13. At this time, the large case 14 descends one pitch at a time, and the small case correspondingly rises one pitch at a time. On the other hand, on the cassette 2 side, the cassette 2 is transferred by the cassette transfer mechanism 6, the code number of each cassette 2 is confirmed by the photosensor D, and the designated cassette, in this case cassette 2L, is selected and placed in position. Make S 0 standby. 1
Cassette portion (i.e. the amount stored in cassette 2L)
When the 25 wafers 3 are stored in the small case 12, the cylinder CY 7 is actuated to lower the support 17, and then the cylinder CY 6 moves the arm 16B in the direction of the arrow Y to move it into the small case 12. All wafers 3 are stored in the designated original cassette 2L.
In the same way, the next 25 wafers 3 in the large case
The wafers 3 are stored in cassette 2K, and the corresponding wafers 3 are sequentially stored in cassettes 2J and 2I. After the wafers 3 in the heating furnace 4C have been stored, the same operation as described above is repeated, and the wafers 3 in the second heating furnace 4B and the wafers 3 in the first heating furnace 4A are returned to their corresponding original locations. It is stored in cassette 2.

上述せる如く本発明によれば、半導体ウエハを
様々な処理に応じた処理間隔に変換することが可
能で、均一な処理を行うことができる。更にこの
装置を組込めば半導体素子の製造に際して、その
横形加熱炉を用いた拡散、CVD、アニール等の
処理工程の全作業、即ち半導体ウエーハをカセツ
トから取出し一定間隔をもつて配列した状態で加
熱炉に移送し、処理終了後に再び元の指定された
カセツトに戻すという一連の作業工程が自動的に
行えるものである。従つて之により終夜無人稼動
が可能になり、装置の稼動率が向上すると共に、
作業者の削減も計られる等の利点がある。
As described above, according to the present invention, semiconductor wafers can be processed at different processing intervals according to various processes, and uniform processing can be performed. Furthermore, if this device is installed, all processing steps such as diffusion, CVD, and annealing using the horizontal heating furnace can be performed during the manufacture of semiconductor devices, in other words, semiconductor wafers are taken out of the cassette and heated while being arranged at regular intervals. A series of work steps such as transporting the cassette to the furnace and returning it to the original designated cassette after processing is completed can be performed automatically. Therefore, this makes it possible to operate unattended all night, improving the operating rate of the equipment, and
It has the advantage of reducing the number of workers.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の半導体ウエハ処理間隔変換装
置を半導体製造装置に用いた場合の全体を示す斜
視図、第2図はそのカセツト部分を示す略線的配
置図、第3図はそのウエーハの移送装置の要部の
略線的配置図、第4図はその他の要部の略線的配
置図、第5図は動作の説明に供する図である。 1は制御操作部、2はカセツト、3はウエー
ハ、4は処理部、5は移送装置、Dはホトセン
サ、12はピツチ変換用小ケース、13はエアー
ベアリング、14はピツチ変換用大ケース、21
はウエーハチヤツクである。
FIG. 1 is a perspective view showing the entire semiconductor wafer processing interval conversion device of the present invention when it is used in semiconductor manufacturing equipment, FIG. 2 is a schematic layout diagram showing the cassette portion thereof, and FIG. FIG. 4 is a schematic layout diagram of the main parts of the transfer device, FIG. 4 is a schematic layout diagram of other main parts, and FIG. 5 is a diagram for explaining the operation. 1 is a control operation unit, 2 is a cassette, 3 is a wafer, 4 is a processing unit, 5 is a transfer device, D is a photosensor, 12 is a small case for pitch conversion, 13 is an air bearing, 14 is a large case for pitch conversion, 21
is a wafer hack.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数の半導体ウエハを一定間隔で収納する収
納器と、 前記半導体ウエハの処理間隔を決定する間隔変
換用容器と、 前記収納器と前記間隔変換用容器とを上記複数
の半導体ウエハが縦方向に所定間隔をあけて積載
されるように配置し両者を相対的に上下方向に移
動させる手段と、 前記収納器から前記半導体ウエハを順次取り出
し前記間隔変換用容器へ任意の定間隔で縦方向に
配する移送手段と、 前記半導体ウエハが縦方向に配された間隔変換
用容器を横にする手段と、 前記半導体ウエハを上記間隔変換用容器から上
方に突出させる押上手段と、 上記突出した半導体ウエハを処理間隔を保つた
まま一括して支持し、処理ボートに移載するチヤ
ツクとを有する半導体ウエハ処理間隔変換装置。
[Scope of Claims] 1. A storage container that stores a plurality of semiconductor wafers at regular intervals; an interval conversion container that determines the processing interval of the semiconductor wafers; means for arranging semiconductor wafers to be stacked vertically at predetermined intervals and moving both vertically relative to each other; transport means arranged vertically at intervals; means for laying down the interval changing container in which the semiconductor wafers are arranged vertically; pushing means for protruding the semiconductor wafers upward from the interval changing container; A semiconductor wafer processing interval conversion apparatus comprising a chuck for collectively supporting the protruding semiconductor wafers while maintaining processing intervals and transferring them to a processing boat.
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