JPS6259252B2 - - Google Patents
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- JPS6259252B2 JPS6259252B2 JP57223937A JP22393782A JPS6259252B2 JP S6259252 B2 JPS6259252 B2 JP S6259252B2 JP 57223937 A JP57223937 A JP 57223937A JP 22393782 A JP22393782 A JP 22393782A JP S6259252 B2 JPS6259252 B2 JP S6259252B2
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- neutrons
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/12—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a flowing fluid or a flowing granular solid
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ベルトコンベア等の搬送体で搬送さ
れる粉粒体の水分含有率を測定する水分測定装置
に関する。
れる粉粒体の水分含有率を測定する水分測定装置
に関する。
各種の粉粒体処理を対象とするプロセスにおい
て、原料の水分含有率が、造粒、焼成等の工程に
及ぼす影響は極めて大きく、その水分管理は原料
処理工程における最重要課題となつている。水分
管理は、水分測定装置により水分含有率を測定
し、計算機及び調節計で添加水量制御を行なうも
のであるが、この添加水量の制御性を左右するポ
イントは、水分測定装置であり、種々の方法が試
みられている。その中でもつとも実用例の多い方
法は、中性子の水分による減速能を利用した中性
子水分計である。
て、原料の水分含有率が、造粒、焼成等の工程に
及ぼす影響は極めて大きく、その水分管理は原料
処理工程における最重要課題となつている。水分
管理は、水分測定装置により水分含有率を測定
し、計算機及び調節計で添加水量制御を行なうも
のであるが、この添加水量の制御性を左右するポ
イントは、水分測定装置であり、種々の方法が試
みられている。その中でもつとも実用例の多い方
法は、中性子の水分による減速能を利用した中性
子水分計である。
第1図は純乱法を用いた水分測定装置を示すも
ので、粉粒体原料10がベルトコンベア等の搬送
体12で搬送される。高速中性子源14(例えば
241Am―Be線源)から発したエネルギーの高い
高速中性子が、粉粒体原料10で散乱、減速され
る。このエネルギーの低下する減速能は、水素が
もつとも大きく、単位質量あたりの減速能が他の
元素に比較し100倍以上となる。したがつて、高
速中性子は粉粒子原料10に含有する水を構成す
る水素核と衝突し、18回前後の衝突でエネルギー
が0.025eV程度の熱中性子となる。この減速され
た熱中性子を熱中性子検出器(例えばBF3または
He計数管)16で検出し、計数する。したがつ
て、この原理の水分計では、粉粒体原料1の固体
成分中に水素が含まれていないこと、粉粒体原料
10のかさ密度が一定であることが、水分測定が
可能な条件である。また、この方法では、水分含
有率で測定対象エリアが変化し、水分含有率が高
いほど被測定物の表面附近で散乱された熱中性子
のみが検出されることとなり、昨今の粉粒体原料
の水分制御には適さない。
ので、粉粒体原料10がベルトコンベア等の搬送
体12で搬送される。高速中性子源14(例えば
241Am―Be線源)から発したエネルギーの高い
高速中性子が、粉粒体原料10で散乱、減速され
る。このエネルギーの低下する減速能は、水素が
もつとも大きく、単位質量あたりの減速能が他の
元素に比較し100倍以上となる。したがつて、高
速中性子は粉粒子原料10に含有する水を構成す
る水素核と衝突し、18回前後の衝突でエネルギー
が0.025eV程度の熱中性子となる。この減速され
た熱中性子を熱中性子検出器(例えばBF3または
He計数管)16で検出し、計数する。したがつ
て、この原理の水分計では、粉粒体原料1の固体
成分中に水素が含まれていないこと、粉粒体原料
10のかさ密度が一定であることが、水分測定が
可能な条件である。また、この方法では、水分含
有率で測定対象エリアが変化し、水分含有率が高
いほど被測定物の表面附近で散乱された熱中性子
のみが検出されることとなり、昨今の粉粒体原料
の水分制御には適さない。
第2図は、中性子の透過法によるもので、粉粒
体原料10と搬送体12の一方に中性子源14を
配置し、これから発した高速中性子が、搬送体1
2と粉粒体原料10を透過し、検出器16に入射
する。検出器16は、入射した高速中性子を減速
し熱化する減速材フイルターと、熱中性子検出器
より構成されている。したがつて、熱中性子の検
出計数から、水分含有率を知ることが出来る。こ
の方法では、粉粒体原料10が厚みをもつたもの
であつても、水分含有率に依存せずにトータルの
水分を測定できる利点はあるが、かさ密度の影
響、原料厚さの影響を受け、さらに、搬送体12
の質量変化の影響を受けることとなり、プロセス
制御などを目的とした粉粒体原料の水分測定には
適さない。
体原料10と搬送体12の一方に中性子源14を
配置し、これから発した高速中性子が、搬送体1
2と粉粒体原料10を透過し、検出器16に入射
する。検出器16は、入射した高速中性子を減速
し熱化する減速材フイルターと、熱中性子検出器
より構成されている。したがつて、熱中性子の検
出計数から、水分含有率を知ることが出来る。こ
の方法では、粉粒体原料10が厚みをもつたもの
であつても、水分含有率に依存せずにトータルの
水分を測定できる利点はあるが、かさ密度の影
響、原料厚さの影響を受け、さらに、搬送体12
の質量変化の影響を受けることとなり、プロセス
制御などを目的とした粉粒体原料の水分測定には
適さない。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を解
決し、搬送体で搬送中の粉粒体原料の水分含有率
を、高精度で測定する装置を提供することにあ
る。
決し、搬送体で搬送中の粉粒体原料の水分含有率
を、高精度で測定する装置を提供することにあ
る。
このため本発明は、搬送体により搬送される粉
粒体、中性子とγ線の2種類を2方向に放射する
線源、前記搬送体および粉粒体を透過した中性子
とγ線を検出する第1の検出器、前記線源と搬送
体との間に設けられた減速フイルター、この減速
フイルターを介して前記搬送体に放射され散乱し
た中性子とγ線とを検出する第2の検出器、前記
第1、第2の検出器からの出力によつて前記粉粒
体の水分を求める演算装置とより水分測定装置を
構成したものである。
粒体、中性子とγ線の2種類を2方向に放射する
線源、前記搬送体および粉粒体を透過した中性子
とγ線を検出する第1の検出器、前記線源と搬送
体との間に設けられた減速フイルター、この減速
フイルターを介して前記搬送体に放射され散乱し
た中性子とγ線とを検出する第2の検出器、前記
第1、第2の検出器からの出力によつて前記粉粒
体の水分を求める演算装置とより水分測定装置を
構成したものである。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
第3図において、高速中性子とγ線を同時に放
射する線源(例えばCf―252)20を線源容器2
2に装填し、その放射線をイとロの2方向に放射
するように設定する。イ方向に放射した高速中性
子とγ線は、搬送体24と粉粒体原料26を透過
し、検出器28に入射する。この検出器28は、
1個の有機シンチレータからなるシンチレーシヨ
ン検出器で、高速中性子とγ線を同時に検出す
る。この検出信号を前置増巾器30で増巾し、パ
ルス波形弁別回路32で高速中性子とγ線の波形
弁別を行い、高速中性子成分とγ線成分に分離す
る。この結果を中性子カウンター34とγ線カウ
ンター36で計数し、計数値をそれぞれ演算装置
38に入れる。
射する線源(例えばCf―252)20を線源容器2
2に装填し、その放射線をイとロの2方向に放射
するように設定する。イ方向に放射した高速中性
子とγ線は、搬送体24と粉粒体原料26を透過
し、検出器28に入射する。この検出器28は、
1個の有機シンチレータからなるシンチレーシヨ
ン検出器で、高速中性子とγ線を同時に検出す
る。この検出信号を前置増巾器30で増巾し、パ
ルス波形弁別回路32で高速中性子とγ線の波形
弁別を行い、高速中性子成分とγ線成分に分離す
る。この結果を中性子カウンター34とγ線カウ
ンター36で計数し、計数値をそれぞれ演算装置
38に入れる。
今、粉粒体原料26に含まれる水素量の水換算
質量厚さをMaw、固体成分の質量厚さをMaと
し、搬送体24に含まれる水素量の水換算質量厚
さをMbw、固体成分の質量厚さをMbとする。ま
た、粉粒体原料1と搬送体24のトータルの水換
算質量厚さをMw、固体成分の質量厚さをMcとす
ると、その透過式は次のように表わすことができ
る。
質量厚さをMaw、固体成分の質量厚さをMaと
し、搬送体24に含まれる水素量の水換算質量厚
さをMbw、固体成分の質量厚さをMbとする。ま
た、粉粒体原料1と搬送体24のトータルの水換
算質量厚さをMw、固体成分の質量厚さをMcとす
ると、その透過式は次のように表わすことができ
る。
Io=Iope-(〓nwMw+〓ncMc) ………(1)
I〓=I〓pe-(〓〓wMw+〓〓cMc)………(2)
ここにIo,I〓:中性子、γ線の透過強度
Iop,I〓p:被測定物がない時の中性子γ線の
強度 μow,μoc:中性子の水と固体成分に対する質量
吸収係数(cm2/g) μ〓w,μ〓c:γ線の水と固体成分に対する質量
吸収係数(cm2/g) (1),(2)式からMw,Mcは次のように求まる。
強度 μow,μoc:中性子の水と固体成分に対する質量
吸収係数(cm2/g) μ〓w,μ〓c:γ線の水と固体成分に対する質量
吸収係数(cm2/g) (1),(2)式からMw,Mcは次のように求まる。
Mw=μ〓c o(Iop/Io)−μoc o(I〓p/I〓)/(μowμ〓c−μocμ〓w) ……(3)
Mc=μow o(I〓p/I〓)−μ〓w o(Iop/Io)/(μowμ〓c−μocμ〓w) ………(4)
一方、線源20からロ方向に発した高速中性子
とγ線は、搬送体24の質量厚さを測定するた
め、次の構成とする。
とγ線は、搬送体24の質量厚さを測定するた
め、次の構成とする。
高速中性子は、線源容器22に配置された減速
フイルター40で減速する。中性子の減速は次式
で表わされる。
フイルター40で減速する。中性子の減速は次式
で表わされる。
=E0/2{1+(A−1/A+1)}………(5
) ここに、:1回衝突後のエネルギー E0:衝突前のエネルギー A:ターゲツト元素の質量数 したがつて、Aが1に近いほどは小さくな
り、減速効果が大となる。例えば、3MeVの高速
中性子が0.025eVの熱中性子になるまでに必要な
衝突回数は、Hで18回、Cで118回、Feで531回
となり、Hの減速能が他の元素に比べ極端に大き
い。
) ここに、:1回衝突後のエネルギー E0:衝突前のエネルギー A:ターゲツト元素の質量数 したがつて、Aが1に近いほどは小さくな
り、減速効果が大となる。例えば、3MeVの高速
中性子が0.025eVの熱中性子になるまでに必要な
衝突回数は、Hで18回、Cで118回、Feで531回
となり、Hの減速能が他の元素に比べ極端に大き
い。
中性子のこの性質を利用し、水素の多く含まれ
たパラフインあるいは、ポリエチレンを減速フイ
ルター15の材料に用い、エネルギーを適当に下
げて搬送体24に照射する。このようにしておく
と比較的うすいベルトなどにおいても、ベルトの
みの水素で熱化された熱中性子が後方に散乱して
熱中性子検出器42に入射し検出される。この信
号を中性子カウンター44で増巾計数し、演算装
置38へ入れる。この計数値は、搬送体24の水
換算質量厚さMbwに比例したものであり、したが
つてMbwを求めることができる。
たパラフインあるいは、ポリエチレンを減速フイ
ルター15の材料に用い、エネルギーを適当に下
げて搬送体24に照射する。このようにしておく
と比較的うすいベルトなどにおいても、ベルトの
みの水素で熱化された熱中性子が後方に散乱して
熱中性子検出器42に入射し検出される。この信
号を中性子カウンター44で増巾計数し、演算装
置38へ入れる。この計数値は、搬送体24の水
換算質量厚さMbwに比例したものであり、したが
つてMbwを求めることができる。
また、ロ方向に放射したγ線は、次の方法で搬
送体の固体分の質量厚さを測定する。
送体の固体分の質量厚さを測定する。
γ線の散乱による厚さ測定の原理は、γ線と物
質を構成する原子とのコンプトン散乱に基づくも
ので、物質を構成する原子の核外電子と衝突作用
を行い、入射γ線のエネルギーの一部を電子に与
え、自らはある角度で散乱される。
質を構成する原子とのコンプトン散乱に基づくも
ので、物質を構成する原子の核外電子と衝突作用
を行い、入射γ線のエネルギーの一部を電子に与
え、自らはある角度で散乱される。
この散乱γ線の強度は、散乱体の厚さ、密度す
なわち質量厚さと次式で示す関係となる。
なわち質量厚さと次式で示す関係となる。
I〓=I〓∞(1−e-〓oMb) ………(6)
ここに、I〓:後方に散乱されるγ線強度
I〓∞:散乱の質量厚さが∞のときの
飽和散乱γ線強度 μc:実効質量吸収係数(cm2/g) したがつて、後方散乱γ線強度からベルト質量
厚さMbを求めることができる。
飽和散乱γ線強度 μc:実効質量吸収係数(cm2/g) したがつて、後方散乱γ線強度からベルト質量
厚さMbを求めることができる。
この散乱γ線を検出する検出器46は、無機シ
ンチレータからなるシンチレーシヨン検出器で、
この信号をγ線カウンター48で、増巾計数し演
算装置38へ入れる。
ンチレータからなるシンチレーシヨン検出器で、
この信号をγ線カウンター48で、増巾計数し演
算装置38へ入れる。
(3),(4)式で求めたMw,Mcと、後方散乱された
熱中性子検出およびγ線検出の結果から求められ
るMbw,Mbより、粉粒体原料26のみの水換算
質量厚さと固体成分の質量厚さは Maw=Mw−Mbw ………(7) Ma=Mc−Mb ………(8) となるから、粉粒体原料の水分重量含有率Mは、
次式で求められる。
熱中性子検出およびγ線検出の結果から求められ
るMbw,Mbより、粉粒体原料26のみの水換算
質量厚さと固体成分の質量厚さは Maw=Mw−Mbw ………(7) Ma=Mc−Mb ………(8) となるから、粉粒体原料の水分重量含有率Mは、
次式で求められる。
M=(Maw/Maw+Ma)×100(wt%)……(
9) 以上本発明は、同一線源から発せられる2種類
の放射線を2方向に放射させ、一方は搬送体およ
び粉粒体を透過させ、他方は減速フイルターを介
して搬送体にて散乱させるように構成したため、
かさ密度の影響のない、しかも搬送体の質量変化
も補正した正確な水分を求めることができる。
9) 以上本発明は、同一線源から発せられる2種類
の放射線を2方向に放射させ、一方は搬送体およ
び粉粒体を透過させ、他方は減速フイルターを介
して搬送体にて散乱させるように構成したため、
かさ密度の影響のない、しかも搬送体の質量変化
も補正した正確な水分を求めることができる。
第1図および第2図は従来の水分測定装置を示
す概略図、第3図は本発明になる水分測定装置を
示す概略図である。 20…線源、22…線源容器、24…搬送体、
26…粉粒体、28…検出器、30…前置増巾
器、32…パルス波形弁別回路、34,44…中
性子カウンター、36,48…γ線カウンター、
38…演算装置、40…減速フイルター、42…
熱中性子検出器、46…γ線検出器。
す概略図、第3図は本発明になる水分測定装置を
示す概略図である。 20…線源、22…線源容器、24…搬送体、
26…粉粒体、28…検出器、30…前置増巾
器、32…パルス波形弁別回路、34,44…中
性子カウンター、36,48…γ線カウンター、
38…演算装置、40…減速フイルター、42…
熱中性子検出器、46…γ線検出器。
Claims (1)
- 1 搬送体より搬送される粉粒体、中性子とγ線
の2種類の放射線を2方向に放射する線源、前記
搬送体および粉粒体を透過した中性子とγ線を検
出する第1の検出器、前記線源と搬送体との間に
設けられた減速フイルター、この減速フイルター
を介して前記搬送体に放射され散乱した中性子と
γ線とを検出する第2の検出器、前記第1、第2
の検出器からの出力によつて前記粉粒体の水分を
求める演算装置とより構成したことを特徴とする
粉粒体の水分測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57223937A JPS59114447A (ja) | 1982-12-22 | 1982-12-22 | 粉粒体の水分測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57223937A JPS59114447A (ja) | 1982-12-22 | 1982-12-22 | 粉粒体の水分測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59114447A JPS59114447A (ja) | 1984-07-02 |
| JPS6259252B2 true JPS6259252B2 (ja) | 1987-12-10 |
Family
ID=16806038
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57223937A Granted JPS59114447A (ja) | 1982-12-22 | 1982-12-22 | 粉粒体の水分測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59114447A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2736955B2 (ja) * | 1994-05-13 | 1998-04-08 | 非破壊検査株式会社 | 金属材料中の水素量測定方法及び測定装置 |
| PL1882929T3 (pl) * | 2006-07-28 | 2012-04-30 | Sage Innovations Inc | System detekcji i sposób detekcji oparty na pulsacyjnych cząstkach energetycznych |
| US9389191B2 (en) | 2012-10-22 | 2016-07-12 | Troxler Electronic Laboratories, Inc. | Conveyor system and measuring device for determining water content of a construction material |
-
1982
- 1982-12-22 JP JP57223937A patent/JPS59114447A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59114447A (ja) | 1984-07-02 |
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