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JPS627685B2 - - Google Patents
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JPS627685B2 - - Google Patents

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JPS627685B2
JPS627685B2 JP55126696A JP12669680A JPS627685B2 JP S627685 B2 JPS627685 B2 JP S627685B2 JP 55126696 A JP55126696 A JP 55126696A JP 12669680 A JP12669680 A JP 12669680A JP S627685 B2 JPS627685 B2 JP S627685B2
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JP
Japan
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bell gear
gear
bell
heating
reaction gas
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JP55126696A
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JPS5750423A (en
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Teruo Kozai
Shigeki Hayase
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/48Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating by irradiation, e.g. photolysis, radiolysis, particle radiation
    • C23C16/481Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating by irradiation, e.g. photolysis, radiolysis, particle radiation by radiant heating of the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、三重の石英ベルジヤーを有し、外側
の石英ベルジヤーの内面に一様に反射効率の高い
金属膜を被着し、その内側に取り付けられた加熱
ヒータにより内側のベルジヤー内の加熱板に載置
された半導体ウエーハを直接的に、また、金属膜
により反射された、熱線により間接的に加熱する
機構を取り入れた縦型の気相成長装置に関するも
のである。
第1図a,bは加熱ヒータを備えた従来の横型
気相成長装置の一例の斜射図とそのA−A断面図
である。
第1図a,bにおいて、横位置に置かれた石英
製の反応管31の外側の上下に複数個の石英ヒー
タ32が横に並べられて配置され、反応管31の
内部に斜めに置かれた加熱板33の上に載置され
た複数個の半導体ウエーハ30は、加熱ヒータ3
2の通電により高温に加熱されると共に、反応管
31の広い開口の方から流入される高温の反応ガ
ス18に接触し、反応ガスそれ自身または反応ガ
スとウエーハとの間の化学反応による所望物質を
ウエーハ30の上に気相成長させる。
第2図は従来の縦型気相成長装置の一例の断面
図であり、石英製のベルジヤー34が載置された
ベースプレート35の中央を貫通して反応ガス導
入管36および導入管36の外側を囲む加熱板回
転軸37が設けられ、加熱板回転軸37に支持さ
れた加熱板38の上に半導体ウエーハ30が載置
され、加熱板38の回転と共にウエーハ30は回
転し、加熱板38の下に設けられたうず巻き形の
高周波コイル39の通電によりカーボン製の加熱
板は加熱され、高温の加熱板38により加熱され
たウエーハ30に、反応ガス導入管36を通して
導入され排気管40を通して排気される反応ガス
18が接触し、反応ガス18に即応した所望物質
がウエーハ30の上に気相成長される。
以上説明した従来の横形および縦形の気相成長
装置のうち、第1図の抵抗ヒータ加熱では、各加
熱ヒータの抵抗のばらつき、個々の加熱ヒータの
発熱不良により、また、第2図に示した高周波加
熱では、高周波コイルの巻き内径、巻き間隔およ
び加熱板に対する相互位置関係などにより、加熱
板上の温度分布を均一にすることが難しく、した
がつて、半導体ウエーハの温度分布も不均一にな
り、半導体ウエーハ内、半導体ウエーハ間および
気相成長工程間において、成長膜厚および抵抗率
を均一にすることが困難であつた。
また、高周波加熱では約百キロワツトの加熱電
力を必要とするのに比べ加熱ヒータによる加熱で
は数十キロワツトと少いが、その代わり加熱ヒー
タは温度容量が大きいため、急速加熱、急冷の面
において非能率的であつた。
本発明の目的は、比較的消費電力が少くて済
み、しかも急速加熱、急冷が可能で、かつ、膜厚
および抵抗率のばらつきの少い気相成長が行なわ
れる気相成長装置を提供するにある。
本発明の気相成長装置は、内側のベルジヤー
と、この内側のベルジヤーの外側に配置された中
央のベルジヤーと、この中央のベルジヤーの外側
に配置され且つ内面に反射効率の高い金属膜が被
着された外側のベルジヤーと、前記内側のベルジ
ヤー内に設けられた加熱板機能を有する成長基板
載置台(以下、ウエーハ加熱板と称す)と、前記
内側のベルジヤーと前記中央のベルジヤーとの間
に冷却用気体を流す冷却手段と、前記中央のベル
ジヤーと前記外側のベルジヤーとの間に設けられ
た加熱ヒータと、前記内側のベルジヤー内に反応
ガスを導入するための反応ガス導入管と、前記内
側のベルジヤー内からガスを排出するための排出
管とを含む構成を有する。
本発明によれば、内側のベルジヤー内にある回
転する加熱板に載置された半導体ウエーハは、中
央のベルジヤーと外側のベルジヤーとの間に設け
られた加熱ヒータにより直接および外側のベルジ
ヤーの内面に被着された金属膜により反射された
熱線により開接的に加熱されるので、その温度上
昇は急速でかつ均一な温度分布を有し、少ない消
費電力で効率的な加熱が行われる気相成長装置が
得られる。
つぎに、本発明を実施例により説明する。
第3図は本発明の一実施例の断面図である。第
3図において、ベースプレート6の上にシール用
のゴムリング8を介して内側のベルジヤー1が載
置され、内側のベルジヤー1の下部フランジは、
固定爪7に係止されてベースプレート6に完全気
密に固定されている。内側のベルジヤー1の根元
の外側の支持筒体9の上辺には、平板リング10
を介して中央のベルジヤー2とその外側に、外側
のベルジヤー3が取付けられ、さらに、中央のベ
ルジヤー2と外側のベルジヤー3との間には加熱
ヒータ4が、また、外側のベルジヤー3の内面に
は反射効率の高い金属膜、例えば金の被膜5が設
けられている。支持筒体9の外周の一箇所に冷却
気体導入口11が設けられ、これの排出筒12は
中央のベルジヤー2の頂部に設けられ、かつ、排
出筒の外周の一部を水冷装置13により囲まれて
いる。
上記のベースプレート6、内側のベルジヤー
1、中央のベルジヤー2、外側のベルジヤー3、
支持筒体9などを構成要素として一体的なベルジ
ヤー組立14は、本体ベースプレート20の上に
シール用ゴムリング19を介して気密に載置さ
れ、かつ、駆動装置15により本体ベースプレー
ト20から離されて上昇可能とされている。本体
ベースプレート20のほぼ中央位置には、ウエー
ハ加熱板21に直結された回転軸22が貫通さ
れ、回転軸はモータ23により回転駆動される。
次に半導体ウエーハ30を取りつける手順を記
載する。上記に述べた、ベルジヤー組立14を、
本体ベースプレート20に取付けられた石英反応
管用ベースプレート上下駆動装置15により上昇
させ、内側のベルジヤー1内の反応室を大気開放
して、加熱板回転軸22に直結された加熱板21
上に半導体ウエーハ30を載せる。続いて、ベル
ジヤー組立14と本体ベースプレートとのシール
用ゴムリング19を本体ベースプレート20に刻
ざまれたゴムリング溝に取り付け、ベルジヤー組
立14を下降させて本体ベースプレート20と完
全に密着シールする。
次に半導体ウエーハ30を気相成長させるに
は、加熱板回転軸22をモータ23により連続回
転させつつ反応ガス導入口16から反応ガス18
を流し、反応ガス排出口17から回収する。それ
と同時に、冷却気体導入口11から空気又は窒素
等の気体を圧入し、水冷装置13で冷却されてい
る冷却気体排出口12から外部へ排出させつつ、
別に設置されているヒータ加熱電源に接続された
加熱ヒータ4を発熱加熱し、半導体ウエーハ30
上に反応ガスに即応した物質を気相成長させる。
ヒータ加熱電源には、自動温度調節器が取り付
けられており、内側のベルジヤー1内に突出され
ている温度測定端子24にて測定された温度情報
がフイードバツクされ、あらかじめ設定された温
度に自動制御される構造となつている。なお、冷
却気体として空気又は窒素を使用する際、あらか
じめ、冷凍機又は熱交換器を通すことにより室温
より低い温度に冷却させた気体を使用すれば、加
熱ヒータ及び内側、中央、外側の石英ベルジヤー
をより効果的に冷却することが出来、その上内側
ベルジヤー1の内面に析出する気相成長膜を極力
少なくすることが可能である。
以上説明したように、本発明によれば、半導体
ウエーハを少ない電力で効率よくしかも短時間で
均一に所定の気相成長温度に上昇させ、連続して
自動温度制御をすることが出来る為、半導体ウエ
ーハ内の膜厚及び比抵抗等の諸特性の分布が均一
化され、しかも再現性のよい気相成長膜を有する
半導体ウエーハを連続して入手することが出来、
大幅な能率向上が達せられる。
【図面の簡単な説明】
第1図a,bは従来の横形気相成長装置の一例
の斜視図およびそのA−A断面図、第2図は従来
の縦形気相成長装置の一例の断面図、第3図は本
発明の一実施例の断面図である。 1……内側ベルジヤー、2……中央ベルジヤ
ー、3……外側ベルジヤー、4……加熱ヒータ、
5……金属反射膜、6……ベースプレート、7…
…係止爪、8,19……シール用ゴムリング、9
……支持筒体、10……平板リング、11……冷
却気体導入口、12……冷却気体排出筒、13…
…水冷装置、14……ベルジヤー組立、15……
駆動装置、16……反応ガス導入管、17……ガ
ス排出管、18……反応ガス、20……本体ベー
スプレート、21……ウエーハ加熱板、22……
回転軸、23……モータ、24……温度測定端
子、30……半導体ウエーハ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 内側のベルジヤーと、この内側のベルジヤー
    の外側に配置された中央のベルジヤーと、この中
    央のベルジヤーの外側に配置され且つ内面に反射
    効率の高い金属膜が被着された外側のベルジヤー
    と、前記内側のベルジヤー内に設けられた成長基
    板載置台と、前記内側のベルジヤーと前記中央の
    ベルジヤーとの間に冷却用気体を流す冷却手段
    と、前記中央のベルジヤーと前記外側のベルジヤ
    ーとの間に設けられた加熱ヒーターと、前記内側
    のベルジヤー内に反応ガスを導入するための反応
    ガス導入管と、前記内側のベルジヤー内からガス
    を排出するための排出管とを含むことを特徴とす
    る気相成長装置。
JP12669680A 1980-09-12 1980-09-12 Vapor phase growth device Granted JPS5750423A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59200424A (ja) * 1983-04-28 1984-11-13 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Cvd装置
JPH0674504B2 (ja) * 1983-07-21 1994-09-21 キヤノン株式会社 堆積膜の製造方法
JPS61246370A (ja) * 1985-04-23 1986-11-01 Sakaguchi Dennetsu Kk 気相化学反応炉
JPS61250170A (ja) * 1985-04-30 1986-11-07 Sakaguchi Dennetsu Kk 気相化学反応炉
JPS62296413A (ja) * 1986-06-16 1987-12-23 Toshiba Ceramics Co Ltd エピタキシヤル装置用保護ベルジヤ−
JPH0772351B2 (ja) * 1986-12-01 1995-08-02 株式会社日立製作所 金属薄膜選択成長方法
CN102869608A (zh) * 2010-04-12 2013-01-09 Memc电子材料有限公司 包括热辐射屏蔽的用于西门子反应器的钟罩

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5275176A (en) * 1975-12-18 1977-06-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for vapor phase epitaxial growth

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