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JPS63131058A - 表面波探触子 - Google Patents
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JPS63131058A - 表面波探触子 - Google Patents

表面波探触子

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Publication number
JPS63131058A
JPS63131058A JP61275413A JP27541386A JPS63131058A JP S63131058 A JPS63131058 A JP S63131058A JP 61275413 A JP61275413 A JP 61275413A JP 27541386 A JP27541386 A JP 27541386A JP S63131058 A JPS63131058 A JP S63131058A
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JP
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surface wave
probe
wave
ultrasonic
test object
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JP61275413A
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Tadayoshi Yoshimura
吉村 忠良
Toyoki Suetsugu
末次 豊紀
Isao Yakura
矢倉 功
Heihachi Shimada
島田 平八
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Proterial Ltd
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Hitachi Metals Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、弾性部材の表面に超音波の表面波を伝播させ
たときの伝播速度、伝播時間などを測定するための表面
波探触子に関するものである。
[従来の技術] 第10図は従来の表面波探触子の上記利用分野における
使用状態例を説明する断面図である。同図の中で示され
るように、従来の表面波探触子1゜1′は振動子1a、
 1’ aと遅延材(一般にアクリル樹脂)1b、1’
 bを有し、遅延材1b、1b′を伝播する超音波の速
度と試験体3を伝播する超音波の速度との相違によって
モード変換を生じさせ、超音波の表面波を発信したり、
受(ffi したりするものである。
第10図の例で述べると、発信側の表面波探触子1の振
動子1aから超音波を発信し、遅延材1bを伝播させて
試験体3に表面波を伝播させる。
試験体3には、接触媒質4を介して音波をある角度以上
で入射させると、音波のモード変換によって表面波が試
験体3の表面部を矢印Aの方向に伝播する。そして、受
信側の表面波探触子1′において、接触!I!質4′と
遅延材1’ bを伝播して振動子1′aに音波が受信さ
れる。
上記従来の表面波探触子1.1′は一般に広く使用され
ているものであるが、8波の伝播速度。
伝播時間などを正確に測定しようとする場合には不十分
であった。
すなわち、第10図の例で述べると、まず、探触子1及
び1′の接触面1C及び1′Cは音波の進行方向Aに対
して幅があるので、距離りを設定しようとする場合に正
確な基準点が得られない。
また、1C及び1’cは平面であるので、例えば、試験
体3表面の凹凸状況、試験体表面との平行関係などにも
とづく試験体3への接触状態のわずかな相違によっても
、試験体3への音波の入射位置及び試験体3からの受信
位置に変動を生じる。
さらに、接触媒質4.4′の材質、特性、厚みなどによ
って表面波の発信量と受信量に変動を生じる。これらに
より、音波の伝播時間及び伝播距!!ILに変動を生じ
て正確な測定が不可能となる。
上記問題点を解決するために、先に、われわれは特願昭
61−15402号において、音波の伝播速度、伝播時
間などの正確な測定を可能とする表面波探触子を発明し
た。そして、該探触子を利用して、物体の表面に作用し
ている応力値、物体の表面に発生している亀裂の深さな
どを非破壊的に測定することを可能にした。
上記出願は、第8図及び第9図にて示すように、従来の
表面波探触子1と試験体3との間に表面波伝達体2を介
在させることにより得られたものである。そして、第1
0図にて示した従来の表面探触子1を直接試験体3に当
接した場合の問題点を解消するため、第8図及び第9図
にて示すように表面波伝達体2の先端部2aを線状に当
接するようにした。図面は断面図にて描かれているため
点状のようにも見えるが、実際は紙面の直角方向に厚み
があるため線状の接触をしている。試験体3との接触は
、点状の接触を理想とするが、超音波の減衰が著しくな
って、十分に伝達されなくなる。
したがって、実用性を考慮すれば、超音波の出力が許容
する範囲で点に近づいて線状の接触にするのが好ましい
こうすることによって、表面波探触子1より発信された
超音波は伝達体2の表面2bを伝播し、先端部2aにて
試験体3の表面に伝達され、矢印Bの方向に伝播される
。そして、先端部は上述の用に線状の接触をしているの
で、安定した接触状態及び接触位置が得られるのである
以上は発信用探触子の場合について説明したが、受信用
探触子の場合は発信用の場合の矢印の逆方向に伝播され
てきた音波が受信され、同様の効果が得られる。
なお、第9図にて示すように、くさび形の伝達体2の2
b面に探触子1の接触面1Cを当接した場合、表面波の
進行方向(矢印D)に鋭い角部があると表面波の減衰が
大きいので、丸み2dを設けることにより解決した。こ
の場合、丸みの曲率半径は用いられる表面波の波長より
も大きければ良いのであるが、なるべく大きくするほう
が好ましい。
なお、受信用探触子の場合も同様に丸みを設けることに
よって表面波の減衰が防止される。
第11図及び第12図は上記探触子を用いて表面波が伝
播するときの速度すなわち音速度を測定する応用例を説
明するための図である。
第11図にて示すように、試験体3の表面に送信用探触
子1及び2と受信用探触子1′及び2′を任意間隔Mを
あけてあてる。超音波送受信器(図示せず)からパルス
電流を送信用探触子1に供給すると超音波の表面波は試
験体3の表面を矢印Jの方向に伝播し、受信用探触子1
′で電気信号に変えられ、超音波送受信器で増幅される
。そして、音速測定器(図示せず)により、送信用探触
子の接触位1t2aと受信用探触子の接触位置2′ a
との距離Mを伝播した超音波の伝播時間から演算して音
速度が得られる。
第12図は、他の応用例として、試験体3の表面に送信
用と受信用を兼備した送受信探触子5及び2をあてて接
触位置2aから任意の間隔Nをあけて反射用の金属体6
を貼付して測定する例である。超音波送受信器(図示せ
ず)からパルス電流を送受信探触子5に供給すると、超
音波の表面波は試験体3の表面を伝播して反射用の金属
体6に到着する。反射用の金属体6のところで表面波の
一部は反射されて送受信用探触子2及び5に戻ってくる
。同図において、矢印には表面波の伝播方向を示す。戻
ってきた表面波は送受信探触子5により電気信号に変え
られ、超音波送受信器により増幅される。探触子の接触
位置2aと反射用の金属体6との間の1往復距111N
X2と超音波が1往復した時間から音速測定器(図示せ
ず)により音速型が演算して得られる。
これらのようにして精度良く表面波の音速型を測定する
ことにより、試験体表面部の材質判定。
試験体表面に作用している応力値の判定などが可能とな
る。すなわち、試験体はその材質特有の音速変位を有し
ている。そして、圧縮応力の増加とともに音速型は直線
的に増加し、引張応力の増加とともに音速型は直線的に
減少する。したがって、試験体と同一材質または類似材
質の音速型と応力の関係をあらかじめ求めておけば、試
験体の音速型を測定することによって材質や発生してい
る応力値が非破壊的に判明するのである。なお、音速型
と応力の関係は試験体と同一または類似材質の試験片に
圧縮荷重または引張荷重を加えながら試験片の音速型を
測定することによって得られる。
第13図は前記出願の他の応用例として破壊靭性試験片
の疲労予亀裂の深さを用いた例を説明づる正面図である
試験片7は支点R及びSで支持して荷重Tを加える3点
曲げ試験用のものである。発信用探触子1及び伝達体2
の線状接触位置2aから発信された表面波は矢印Uのよ
うにして試験片の表面7aを伝播し、線状接触位置21
 aにて探触子1′及び伝達体2′にて受信される。最
初、溝底7bに亀裂が発生していない状態で表面波が伝
播づる速度すなわち音速度、伝播距離(判明している)
伝播時間を求めておく。次に、疲労予亀裂7Cが発生し
た後に、同様にして測定すると、表面波は亀裂7Cの先
端を迂回するのでそれだけ伝播時間が長くなってくる。
このとき音速型がすでに判明しており、伝播時間が測定
されるので、亀裂7cの深さを知ることができる。
[発明が解決しようとする問題点] 上述した特願昭61−15402号にて示した表面波探
触子を、例えば第11図に示すように、試験体3の表面
にあてて音速を測定する場合、超音波送受信器(図示せ
ず)からパルス電流を送信用探触子1に供給すると、追
音波の表面波は伝達体2の表面をり、E、Fの方向に伝
播し、さらに、試験体30表面をJの方向に伝播し、伝
達体2′の表面をG、H,Qの方向に伝播して受信用探
触子1′で電気信号に変えられ、超音波送受信器で増幅
される。超音波の表面波の伝播経路が上記のように接触
位ff2a及び2’ aにおいて大きく屈曲しているた
め、受信強度が弱くなるという問題点があった。
本発明の目的は、受信強度が大きく、物体の表面に作用
している応力値、物体の表面に発生している亀裂の深さ
などを精度よく非破壊的に測定可能な表面波探触子を提
供することにある。
[問題点を解決するための手段] 上記問題点を解決するために本発明は、振動子と遅延材
とを有する超音波の表面波探触子に表面波伝達体を当接
して設け、前記表面波伝達体の試験体と接触する先端は
線状もしくは幅の狭い帯状にし、かつ、表面波の進行方
向または受信方向の反対方向にある前記表面波伝達体の
後端部には丸みが設けられており、前記後端部と先端と
を結ぶ試験体表面と対向する面は試験体表面となづ角度
が0.2”〜1.2°になるようにしたことを特徴とす
る表面波探触子である。
そして、表面波伝達体の後端部の丸みの曲率半径は、用
いられる表面波の波長よりも大きいことが望ましい。
[作 用] 表面波探触子の表面波伝達体の形状を上述のようにし、
試験体表面との接触位置において表面波の大きな屈曲が
ないので、超音波の減衰が防止され、その結果受信強度
を大きくすることができる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図〜第5図は本発明の詳細な説明する断面図、第7
図は他の実施例を説明する正面図である。各図とも前述
の第8図〜第13図と同一箇所は同一の参照符号が付し
である。
第1図に示すように、探触子1の接触面1Cと伝達体2
の2b面とは接着剤(図示せず)によって固定しである
。これらの場合、接着剤が媒体の役目を果している。こ
うすることによって、振動子1aから発信され遅延材1
bを伝播した音波の表面波へのモード変換を安定化させ
た。
伝達体2の表面の音波伝播方向(矢印D)に鋭い角部が
あると音波が減衰するので、本発明の探触子は角部2d
に丸みを設けたものである。この角部2dの曲率半径は
伝播する音波の波長よりも大きければよい。
探触子1の伝達体2の先端部2aを試験体3の表面に線
状もしくは幅の狭い帯状に当接すると、表面波は2b面
から矢印り、E、Fの方向に伝播して試験体3の表面に
伝達される。
第2図は伝達体2の下部の幅を小さくした接触子の実施
例を示すもので、伝達体2の角部2c。
2dにそれぞれ丸みを設けて音波の減衰を防いでおり、
試験体3の狭い部分、凹状になった部分も測定すること
ができる。
第3図及び第4図は、本発明の探触子を用いて表面波が
伝播するときの速度すなわち音速塵を測定する応用例を
説明するための図である。
第3図にて示すように、試験体3の表面に送信用探触子
1及び2と受信用探触子1′及び2′を任意間隔Mをあ
けてあてる。超音波送受信器(図示せず)からパルス電
流を送信用探触子1に供給すると超音波の表面波はり、
Eを経て試験体3の表面を矢印F、J、Gの方向に伝播
し、H,Qを経て受信用探触子1′で電気信号に変えら
れ、超音波送受信器で増幅される。そして、音速測定器
(図示せず)により、送信用探触子の接触位置2aと受
信用探触子の接触位置2’  aとの距離Mを伝播した
超音波の伝播時間から演算して音速塵が得られる。
第4図は、他の応用例として、試験体3の表面に送信用
と受信用を兼備した送受信探触子5及び2をあてて接触
位置2aから任意の間隔Nをあけて反射用の金属体6を
貼付して測定する例である。
超音波送受信器(図示せず)からパルス電流を送受信探
触子5に供給すると、超音波の表面波はり。
Eを経て試験体3の表面Fを伝播して反射用の金属体6
に到着する。反射用の金属体6のところで表面波の一部
は反射されてF、E、Dを経て送受信用探触子2及び5
に戻ってくる。同図において、矢印には表面波の伝播方
向を示す。戻ってきた表面波は送受信探触子5により電
気信号に変えられ、超音波送受信器により増幅される。
探触子の接触位置2aと反射用の金3休6との間の1往
復距離NX2と超音波が1往復した時間から音速測定器
(図示せず)により音速塵が演算して得られる。
これらのようにして精度良く表面波の音速塵を測定する
ことにより、試験体表面部の材質判定。
試験体表面に作用している応力値の判定などが可能とな
る。すなわち、試験体はその材質特有の音速変位を有し
ている。そして、圧縮応力の増加とともに音速塵は直線
的に増加し、引張応力の増加とともに音速塵は直線的に
減少する。したがって、試験体と同一材質または類似材
質の音速塵と応力の関係をあらかじめ求めておけば、試
験体の音速塵を測定することによって材質や発生してい
る応力値が非破壊的に判明するのである。なお、音速塵
と応力の関係は試験体と同一または類似材質の試片に圧
縮荷重または引張荷重を加えながら試片の音速塵を測定
することによって得られる。
第5図に示すように、探触子1に固定され丸みを設けた
角部2dを有する伝達体2の試験体表面と対向する面が
試験体3の表面となす角部αを変化させて、探触子1の
振動子1aから超音波を発信して探触子1′の振動子1
’  aで受信した場合の受信波形高さく%)(O印)
と、探触子1′の振動子1’ aから超音波を発信して
探触子1の振動子1aで受信した場合の受信波形高さく
%)(・印)のそれぞれをプロットしたものが第6図で
ある。
第6図より、受信波形高さく%)が高いのは、角度αが
0.2′以上1.2°以下の範囲で、この範囲を外れて
当接すると受信波形高さく%)が低くなることがわかる
第7図は本発明の他の応用例として破壊靭性試験片の疲
労予亀裂の深さ測定に用いた例を説明する正面図である
試験片7は支点R及びSで支持して荷ff1Tを加える
3点曲げ試験用のものである。発信用探触子1及び伝達
体2の線状接触位置2aから発信された表面波は矢印U
のようにして試験片の表面7aを伝播し、線状接触位置
2′ aにて探触子1′及び伝達体2′にて受信される
。最初、tM底7bに亀裂が発生していない状態で表面
波が伝播する速度すなわち音速度、伝播距離(判明して
いる)。
伝播時間を求めておく。次に、疲労予亀裂7Cが発生し
た後に、同様にして測定すると、表面波は亀裂7Cの先
端を迂回するのでそれだけ伝播時間が長くなってくる。
このとき音速度が既に判明しおり、伝播時間が測定され
るので、亀裂7Cの深さを知ることができる。
[発明の効果] 本発明よれば、超音波の伝播効率が向上するので受信強
度が大ぎくなり、信号がより明確にとらえられて測定精
度が向上する。
そして、超音波の表面波を用いて残留応力の測定、亀裂
深さなどの高精度測定を可能にしたものであるが、単に
これらの実施例のみに利用が限られるものではない。組
み立てられた状態にある機械や構造物の部材のように試
験体がどのような状態にあっても、超音波の表面波が伝
播する速度(音速度)を測定することにより、表面に発
生している応力値や亀裂深さなどを非破壊的に測定り゛
ることを可能にし、表面波が伝播する弾性体であればす
べての物体に適用できるものである。
このように、本発明の探触子は簡便であるとともに広く
工業製品の管理に効果を発揮するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図はそれぞれ本発明の詳細な説明するた
めの断面図、第3図、第4図、第5図は本発明の探触子
を用いて表面波の伝播速度を測定する方法を説明するた
めの断面図、第6図は伝達体が試験体と当接したときの
角度αと超音波の受信波形高さく%)の関係を示す図、
第7図は破壊靭性試験片の亀裂深さを本発明の探触子を
用いて測定する方法を説明するための正面図、第8図及
び第9図はそれぞれ従来の探触子を説明するための断面
図、第10図、第11図、第12図は従来の探触子を用
いて表面波の伝播速度を測定する方法を説明するための
断面図、第13図は破壊靭性試験片の亀裂深さを従来の
探触子を用いて測定する方法を説明するだめの正面図で
ある。 1.1′・・・探触子、1a、 1’ a・・・撮動子
、lb、1’  b・・・遅延材、2.2′・・・伝達
体、3・・・試験体、5・・・送受信探触子。 第3図 第4図 第5図 1a 1g6図 角度菖(つ 第7図 第8図 119図 第10図 第11図 第13図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)振動子と遅延材とを有する超音波の表面波探触子
    に表面波伝達体を当接して設け、前記表面波伝達体の試
    験体と接触する先端は線状もしくは幅の狭い帯状にし、
    かつ、表面波の進行方向または受信方向の反対方向にあ
    る前記表面波伝達体の後端部には丸みが設けられており
    、前記後端部と先端とを結ぶ試験体表面と対向する面は
    試験体表面となす角度が0.2°〜1.2°になるよう
    にしたことを特徴とする表面波探触子。
  2. (2)表面波伝達体の後端部の丸みは、その曲率半径が
    用いられる表面波の波長よりも大きいことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の表面波探触子。
JP61275413A 1986-11-20 1986-11-20 表面波探触子 Expired - Lifetime JPH0833375B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61275413A JPH0833375B2 (ja) 1986-11-20 1986-11-20 表面波探触子

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JP61275413A JPH0833375B2 (ja) 1986-11-20 1986-11-20 表面波探触子

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JPH0833375B2 JPH0833375B2 (ja) 1996-03-29

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ID=17555154

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JP61275413A Expired - Lifetime JPH0833375B2 (ja) 1986-11-20 1986-11-20 表面波探触子

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007232634A (ja) * 2006-03-02 2007-09-13 Toshiba Corp 応力測定装置およびその測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007232634A (ja) * 2006-03-02 2007-09-13 Toshiba Corp 応力測定装置およびその測定方法

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