JPS6316705B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6316705B2 JPS6316705B2 JP54028907A JP2890779A JPS6316705B2 JP S6316705 B2 JPS6316705 B2 JP S6316705B2 JP 54028907 A JP54028907 A JP 54028907A JP 2890779 A JP2890779 A JP 2890779A JP S6316705 B2 JPS6316705 B2 JP S6316705B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- high frequency
- oscillator
- sample
- frequency
- magnetic resonance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はパルス核磁気共鳴装置（NMR装置）
を用いた核磁気共鳴測定方法に関し、特に単一の
高周波発振源のみでスピン結合の情報を得るため
の所謂ホモデカツプリング法及び特定のスペクト
ルピークを飽和させる所謂サチユレーシヨン法を
行うことのできる核磁気共鳴測定方法に関する。
を用いた核磁気共鳴測定方法に関し、特に単一の
高周波発振源のみでスピン結合の情報を得るため
の所謂ホモデカツプリング法及び特定のスペクト
ルピークを飽和させる所謂サチユレーシヨン法を
行うことのできる核磁気共鳴測定方法に関する。
NMRにおけるホモデカツプリング法では、同
種核間のスピン−スピン結合（ホモカツプリン
グ）により生じた第１図ａに示す様に分裂したス
ペクトルピークに相当する周波数例えば1の高周
波を観測用高周波とは別個の発振器で作成し、試
料に照射することが行われている。この様にすれ
ばカツプリングが切断される（デカツプリング）
ため、分裂していたピークを第１図ｂに示す様に
１本の鋭いピークにすることが可能である。
種核間のスピン−スピン結合（ホモカツプリン
グ）により生じた第１図ａに示す様に分裂したス
ペクトルピークに相当する周波数例えば1の高周
波を観測用高周波とは別個の発振器で作成し、試
料に照射することが行われている。この様にすれ
ばカツプリングが切断される（デカツプリング）
ため、分裂していたピークを第１図ｂに示す様に
１本の鋭いピークにすることが可能である。
更に例えば水を含んだ試料について水素核（Ｈ
核）の観測を行う際には、第２図ａに示す様に水
に含まれるＨ核によるスペクトルピークが観測し
たい試料のスペクトルピークに比べ極めて大きな
強度で現われる。そして大強度のピークでダイナ
ミツクレンジが制限されるため、観測したい試料
のピークを感度よく検出することができない。そ
こでこの様な場合観測用高周波パルスを試料に照
射する前に、水に含まれるＨ核によるスペクトル
ピークに相当する周波数例えば2の高周波を照射
し、該ピークを飽和させてしまうサチユレーシヨ
ン法が用いられる。この様にすれば飽和により上
記大強度のピークが第２図ｂに示す様に消滅する
ため、観測したい試料のピークを感度よく検出す
ることができる。
核）の観測を行う際には、第２図ａに示す様に水
に含まれるＨ核によるスペクトルピークが観測し
たい試料のスペクトルピークに比べ極めて大きな
強度で現われる。そして大強度のピークでダイナ
ミツクレンジが制限されるため、観測したい試料
のピークを感度よく検出することができない。そ
こでこの様な場合観測用高周波パルスを試料に照
射する前に、水に含まれるＨ核によるスペクトル
ピークに相当する周波数例えば2の高周波を照射
し、該ピークを飽和させてしまうサチユレーシヨ
ン法が用いられる。この様にすれば飽和により上
記大強度のピークが第２図ｂに示す様に消滅する
ため、観測したい試料のピークを感度よく検出す
ることができる。
上述の様に従来ホモデカツプリング法及びサチ
ユレーシヨン法を実施する場合、観測用高周波を
発生するための発振器と、ホモデカツプリング用
又はサチユレート用の高周波を発生するための発
振器の２つの発振器を備えたNMR装置が必要で
あつた。
ユレーシヨン法を実施する場合、観測用高周波を
発生するための発振器と、ホモデカツプリング用
又はサチユレート用の高周波を発生するための発
振器の２つの発振器を備えたNMR装置が必要で
あつた。
本発明はこの点に鑑みてなされたものであり、
単一の発振周波数可変型発振器を備えたNMR装
置を用いて両法を実施することのできる核磁気共
鳴測定方法を提供することを目的とするものであ
る。以下図面を用いて本発明を詳述する。
単一の発振周波数可変型発振器を備えたNMR装
置を用いて両法を実施することのできる核磁気共
鳴測定方法を提供することを目的とするものであ
る。以下図面を用いて本発明を詳述する。
第３図は本発明の一実施例を示すQD型NMR
装置の構成図であり、同図において１は直流磁場
内に置かれたNMRプローブである。該NMRプ
ローブ１には単一の高周波発振器２から発生した
高周波がゲート回路３、駆動回路４を介して供給
されるが、そのレベルは切換回路５により切換え
て回路中にアツテネータ６を挿入することによつ
て２段階に変化させることが、できる。
装置の構成図であり、同図において１は直流磁場
内に置かれたNMRプローブである。該NMRプ
ローブ１には単一の高周波発振器２から発生した
高周波がゲート回路３、駆動回路４を介して供給
されるが、そのレベルは切換回路５により切換え
て回路中にアツテネータ６を挿入することによつ
て２段階に変化させることが、できる。
高周波の照射に伴ないNMRプローブ１から得
られた検出信号は増巾器７を介して２つの位相敏
感検出器（PSD）８，９に送られる。該PSD８，
９には試料に照射された高周波と同一周波数で
90゜位相の異なる２つの高周波が参照信号として
前記発振器２から供給されており、該PSD８，
９から得られた２つのFID信号はＡ−Ｄ変換器１
０，１１を介してコンピユータ１２に送られ記憶
される。該コンピユータ１２は上記２つのFID信
号に基づいてフーリエ変換を行い、NMRスペク
トルを得る。得られたNMRスペクトルは表示手
段１３により適宜表示される。尚上記コンピユー
タ１２は予め定められたプログラムに従つて前記
ゲート回路３及び切換回路５を制御する。
られた検出信号は増巾器７を介して２つの位相敏
感検出器（PSD）８，９に送られる。該PSD８，
９には試料に照射された高周波と同一周波数で
90゜位相の異なる２つの高周波が参照信号として
前記発振器２から供給されており、該PSD８，
９から得られた２つのFID信号はＡ−Ｄ変換器１
０，１１を介してコンピユータ１２に送られ記憶
される。該コンピユータ１２は上記２つのFID信
号に基づいてフーリエ変換を行い、NMRスペク
トルを得る。得られたNMRスペクトルは表示手
段１３により適宜表示される。尚上記コンピユー
タ１２は予め定められたプログラムに従つて前記
ゲート回路３及び切換回路５を制御する。
上述の如き構成において、はじめにホモデカツ
プリング法を行う場合について述べる。
プリング法を行う場合について述べる。
オペレータは先ず通常の測定法によりホモカツ
プリングの生じた例えば第１図ａに示す様な
NMRスペクトルを測定する。即ち、発振器２の
周波数を適宜な値例えば0に設定すると共に切換
回路５をQ1側に倒し、更にゲート回路３を第４
図ａに示す様なゲート信号で開き、試料に第４図
ｂに示す様な適宜な巾の観測用高周波パルスを印
加する。そして該高周波パルスの照射後次の照射
までの適宜な期間PSD８，９による検波が行わ
れる。得られたFID信号に基づいてフーリエ変換
を行うことにより第１図ａに示す様なNMRスペ
クトルを得ることができる。
プリングの生じた例えば第１図ａに示す様な
NMRスペクトルを測定する。即ち、発振器２の
周波数を適宜な値例えば0に設定すると共に切換
回路５をQ1側に倒し、更にゲート回路３を第４
図ａに示す様なゲート信号で開き、試料に第４図
ｂに示す様な適宜な巾の観測用高周波パルスを印
加する。そして該高周波パルスの照射後次の照射
までの適宜な期間PSD８，９による検波が行わ
れる。得られたFID信号に基づいてフーリエ変換
を行うことにより第１図ａに示す様なNMRスペ
クトルを得ることができる。
次にオペレータは得られたNMRスペクトルに
基づいてデカツプリングすべきスペクトルピーク
に相当する周波数、例えば第１図ａでは1を求め
る。QD型NMR装置では試料に照射した観測用
高周波の周波数0を中心（OH2）としてその両隣
に（正側、負側に）NMRスペクトルが得られる
ことに注意すれば、容易に1に求めることができ
る。
基づいてデカツプリングすべきスペクトルピーク
に相当する周波数、例えば第１図ａでは1を求め
る。QD型NMR装置では試料に照射した観測用
高周波の周波数0を中心（OH2）としてその両隣
に（正側、負側に）NMRスペクトルが得られる
ことに注意すれば、容易に1に求めることができ
る。
そして次にオペレータは発振器２の周波数を1
に設定し、再度測定を行う。即ち、ゲート回路３
は第４図ｃに示す様なゲート信号に従つて観測用
高周波パルス照射期間以外の期間に断続的に開閉
される。又切換回路５は第４図ｆに示すような切
換信号に従つて切換えられるため、ゲート回路３
に供給される高周波は第４図ｄに示す様に観測用
高周波パルス照射期間中は高レベルとなり、それ
以外の期間中はホモデカツプリングに適した低レ
ベルとなる。従つて該ゲート回路３から取り出さ
れる高周波は第４図ｅに示す様になり、試料には
観測用高周波パルスP1の照射後のFID信号取得期
間中、同一周波数で低レベルのホモデカツプリン
グ用高周波パルスP2が断続的に照射されること
になる。そのためその期間中第１図ａにおける1
に相当する結合が切断され、得られるNMRスペ
クトルは第１図ｂに示す様に１本の鋭いピークを
持つたものとなる。ただし、この時得られるスペ
クトルは厳密に言うと第１図ｂに示すものと若干
異なり、スペクトルの中心周波数は1となること
は言うまでもない。
に設定し、再度測定を行う。即ち、ゲート回路３
は第４図ｃに示す様なゲート信号に従つて観測用
高周波パルス照射期間以外の期間に断続的に開閉
される。又切換回路５は第４図ｆに示すような切
換信号に従つて切換えられるため、ゲート回路３
に供給される高周波は第４図ｄに示す様に観測用
高周波パルス照射期間中は高レベルとなり、それ
以外の期間中はホモデカツプリングに適した低レ
ベルとなる。従つて該ゲート回路３から取り出さ
れる高周波は第４図ｅに示す様になり、試料には
観測用高周波パルスP1の照射後のFID信号取得期
間中、同一周波数で低レベルのホモデカツプリン
グ用高周波パルスP2が断続的に照射されること
になる。そのためその期間中第１図ａにおける1
に相当する結合が切断され、得られるNMRスペ
クトルは第１図ｂに示す様に１本の鋭いピークを
持つたものとなる。ただし、この時得られるスペ
クトルは厳密に言うと第１図ｂに示すものと若干
異なり、スペクトルの中心周波数は1となること
は言うまでもない。
次にサチユレーシヨン法を実施する場合につい
て述べる。
て述べる。
オペレータは先に述べたホモデカツプリング法
と全く同様に先ず通常の測定法により試料中に含
まれる例えば水に起因する強大なピークが現われ
た第２図ａに示す様なNMRスペクトルを得る。
と全く同様に先ず通常の測定法により試料中に含
まれる例えば水に起因する強大なピークが現われ
た第２図ａに示す様なNMRスペクトルを得る。
そして、次に強大なピークに相当する周波数2
を求め、発振器の周波数を2に設定し、再度測定
を行う。即ちゲート回路３は第４図ｇに示すよう
なゲート信号に従つて開閉される。又切換回路５
は第４図ｆに示すような切換信号に従つて切換え
られるためゲート回路３に供給される高周波は第
４図ｄに示す様に観測用高周波パルス照射期間中
は高レベルとなり、それ以外の期間は強大なピー
クを飽和させるのに適したレベルとなる。従つて
該ゲート回路３から取り出される高周波は第４図
ｈに示す様になり、試料には観測用高周波パルス
P1の照射前の所定期間、同一周波数で低レベル
のサチユレーシヨン用高周波P3が照射されるこ
とになる。この様にすれば、予めサチユレーシヨ
ン用高周波によつて水に含まれるＨ核を飽和させ
た後観測用高周波パルスを照射して測定が行われ
るため、得られるNMRスペクトルは第２図ｂに
示す様に強大なピークが消滅したものとなる。た
だし、この時得られるスペクトルも厳密に言うと
第２図ｂに示すものと若干異なり、スペクトルの
中心周波数は2となることは言うまでもない。
を求め、発振器の周波数を2に設定し、再度測定
を行う。即ちゲート回路３は第４図ｇに示すよう
なゲート信号に従つて開閉される。又切換回路５
は第４図ｆに示すような切換信号に従つて切換え
られるためゲート回路３に供給される高周波は第
４図ｄに示す様に観測用高周波パルス照射期間中
は高レベルとなり、それ以外の期間は強大なピー
クを飽和させるのに適したレベルとなる。従つて
該ゲート回路３から取り出される高周波は第４図
ｈに示す様になり、試料には観測用高周波パルス
P1の照射前の所定期間、同一周波数で低レベル
のサチユレーシヨン用高周波P3が照射されるこ
とになる。この様にすれば、予めサチユレーシヨ
ン用高周波によつて水に含まれるＨ核を飽和させ
た後観測用高周波パルスを照射して測定が行われ
るため、得られるNMRスペクトルは第２図ｂに
示す様に強大なピークが消滅したものとなる。た
だし、この時得られるスペクトルも厳密に言うと
第２図ｂに示すものと若干異なり、スペクトルの
中心周波数は2となることは言うまでもない。
以上詳述した如く本発明によれば、単一の発振
周波数可変型発振器を備えたNMR装置を用いて
ホモデカツプリング法及びサチユレーシヨン法を
行うことのできる核磁気共鳴測定方法が実現され
る。
周波数可変型発振器を備えたNMR装置を用いて
ホモデカツプリング法及びサチユレーシヨン法を
行うことのできる核磁気共鳴測定方法が実現され
る。
第１図はホモデカツプリング法を説明するため
のスペクトル図、第２図はサチユレーシヨン法を
説明するためのスペクトル図、第３図は本発明の
一実施例を示すQD型NMR装置の構成図、第４
図はその動作を説明するための波形図である。 ２：高周波発振器、３：ゲート回路、５：切換
回路、６：アツテネータ、８，９：PSD、１
２：コンピユータ。
のスペクトル図、第２図はサチユレーシヨン法を
説明するためのスペクトル図、第３図は本発明の
一実施例を示すQD型NMR装置の構成図、第４
図はその動作を説明するための波形図である。 ２：高周波発振器、３：ゲート回路、５：切換
回路、６：アツテネータ、８，９：PSD、１
２：コンピユータ。
Claims (1)
- １ 発振周波数可変型発振器と、該発振器から発
生した高周波をパルス的に取出し観測用高周波パ
ルスとして試料に照射するためのゲート回路と、
該発振器から発生する高周波のレベルを減少させ
るレベル変化手段とを備え、該レベル変化手段に
よつてレベルが減少した高周波を観測用高周波パ
ルス照射期間以外の期間に試料に照射し得るよう
に構成した核磁気共鳴装置を用いる核磁気共鳴測
定方法であつて、デカツプリングすべきスペクト
ルピークに相当する周波数を求める第１の段階
と、前記発振器の発振周波数を該第１の段階で求
めた周波数に設定する第２の段階と、該発振器か
ら発生した高周波を前記ゲート回路を介してパル
ス的に取出し観測用高周波パルスとして試料に照
射すると共に、前記レベル変化手段によつてレベ
ルが減少した高周波を該高周波パルス照射期間以
外の期間に試料にデカツプリング用高周波として
照射して核磁気共鳴測定を行う第３の段階とから
成ることを特徴とする核磁気共鳴測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2890779A JPS55121142A (en) | 1979-03-13 | 1979-03-13 | Pulse nuclear magnetic resonator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2890779A JPS55121142A (en) | 1979-03-13 | 1979-03-13 | Pulse nuclear magnetic resonator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55121142A JPS55121142A (en) | 1980-09-18 |
| JPS6316705B2 true JPS6316705B2 (ja) | 1988-04-11 |
Family
ID=12261467
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2890779A Granted JPS55121142A (en) | 1979-03-13 | 1979-03-13 | Pulse nuclear magnetic resonator |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55121142A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101590572B1 (ko) * | 2013-10-18 | 2016-02-01 | 주식회사 엘지화학 | 폴리 올레핀 분지의 분석 방법 및 이를 이용한 시스템 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5068371A (ja) * | 1973-10-20 | 1975-06-07 |
-
1979
- 1979-03-13 JP JP2890779A patent/JPS55121142A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55121142A (en) | 1980-09-18 |
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