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JPS6319934B2 - - Google Patents
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JPS6319934B2 - - Google Patents

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JPS6319934B2
JPS6319934B2 JP54031660A JP3166079A JPS6319934B2 JP S6319934 B2 JPS6319934 B2 JP S6319934B2 JP 54031660 A JP54031660 A JP 54031660A JP 3166079 A JP3166079 A JP 3166079A JP S6319934 B2 JPS6319934 B2 JP S6319934B2
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Berento Heritosen Heritsuto
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Koninklijke Philips Electronics NV
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、円形デイスク状記録担体の情報層内
に、放射ビームを用いて、トラツク状に配置され
た光学的に検知しうる情報区域の形態で情報を書
込むに当り、前記放射ビームを前記情報層上に単
一放射スポツトに集束させ、前記情報層および放
射スポツトを互いに移動させ、前記放射ビームの
強度を、書込むべき情報に応じて、前記情報層内
に光学的に検知しうる変化を与える第1(書込)
レベルと、検知しうる変化を与えない第2(読取)
レベルとの間で切替え、前記放射スポツトをして
前記情報層内に設けたサーボトラツクに追随させ
るようにする情報書込方法に関するものである。
また説明の便宜上本明細書には、上述した方法
に使用する装置、上述した方法により情報を与え
るべき未記録の記録担体(この「未記録の記録担
体」を以後単に「記録担体」と称する)および上
述した方法により情報を与えた記録済記録担体に
ついても記載してある。
記録担体は、述分に高い強度の放射ビームによ
り光学的に検知しうる変化を与えうる情報層を支
持する円形デイスク状基板を以つて構成すること
ができる。記録担体には、この記録担体の表面区
域全体に亘つて延在し光学的に検知しうるサーボ
トラツクが設けられている。このサーボトラツク
はらせんトラツクとするのが好適であるが、この
サーボトラツクは多数の同心サブトラツクを以つ
て構成することもできる。上記サーボトラツク
は、放射ビームにより情報層上に形成された放射
スポツトの位置を情報層の半径方向において制御
しうるようにする。
記録済記録担体とは、ユーザにより使用される
べき情報がユーザにより記録された記録担体を意
味するものとする。
放射ビームとは、赤外線から紫外線までの波長
範囲に位置する波長の電磁放射ビームを意味する
ものとする。
情報区域は例えば標準の寸法を有し、しかも中
間区域と交互に配置する。情報区域は、例えば、
放射につき異なる透過係数又は反射係数を有する
という点で中間区域やトラツク相互間の島領域と
は相違する。情報区域と中間区域との特定順序の
配列は例えはデジタル値0とデジタル値1との所
定の組合せを表わす。
テレビジヨン番組を円形デイスク状の記録担体
に、トラツク状に配列された光学的に検知しうる
区域の形態で記録し、空間周波数および上記の区
域の長さが情報を表わすようにすることが既に提
案されている。このような光学的記録担体におい
ては、情報密度を高くしかつアクセス時間を短く
しうるとともに、読取中には光学的読取ヘツドと
前記の光学的記録担体との間が機械的に接触せ
ず、従つて摩耗が生じない為、上記光学的記録担
体は、ビデオ情報とは異なる情報に対する記録又
は蓄積媒体として、特にユーザ自身が情報を記録
しうる記録又は蓄積媒体としても極めて適してい
ると思われる。この情報の記録例には、コンピユ
ータ(オフイスコンピユータ)から供給される情
報を記録する場合、或いは病院で撮影したレント
ゲン写真を記録する場合等がある。
テレビジヨン番組を光学的記録担体を介して頒
布する為に提案された装置およびその取扱い技術
は、ユーザが自分自身の情報を記録するプロフエ
ツシヨナルな或いはセミプロフエツシヨナルな利
用には容易に適用できない。
まず、テレビジヨン番組を記録担体に書込む場
合、この番組全体が順次に書込まれる。しかし、
記録済記録担体が記録又は蓄積媒体として使用さ
れる場合には、ユーザが情報層の任意の位置に、
ある情報ブロツクを自由に書込みうるようにする
必要がある。
更に、テレビジヨン番組を記録する場合、例え
ば0.5μmの幅と例えば0.5μmの平均長さとを有す
る極めて小さな情報のデイテールを未記録の記録
担体において、例えば1.6μmの一定ピツチを有す
るらせんトラツクに極めて正確に書込む必要があ
る。このことは、記録済記録担体を高精度におい
て一定速度で回転させる必要があり、また、書込
みスポツトはトラツク方向及びこの方向に直交す
る方向に正確に移動させる必要があるということ
を意味する。この目的の為には、書込装置が極め
て精密な駆動および案内機構を有するようにする
必要がある為、書込装置が高価となる。
光学的記録担体をテレビジヨン番組用の伝送媒
体として用いる場合には、精密で高価な書込装置
でも差支えない。実際には、1つの書込装置で多
数の異なるテレビジヨン番組をいわゆるマスタデ
イスクに書込みうる。オーデイオレコード盤の製
造に用いられている技術に類似する技術を用いる
ことにより、1つのマスタデイスクから極めて多
数のデイスクのプレスを行なうことができる。記
録担体をプロフエツシヨナル的にあるいはセミプ
ロフエツシヨナル的に用いる場合でユーザ自身が
情報を記録する場合には、高価な書込装置は極め
て不適当であり、その理由は、ユーザの個人個人
がこのような書込装置を専用に持つ必要がある為
である。
特開昭49−113601号明細書には、記録担体に、
記録に追随するいわゆるフオローオン トラツク
(follow−on track)を設けることが提案されて
いる。このフオローオン トラツクは光学的に検
知しうる連続的なトラツクである。情報を書込む
場合には、フオローオン トラツクに対する書込
スポツトの半径方向位置を、この書込スポツトに
対し固程関係にある2つの付加的放射スポツトを
用いて検知し且つ補正している。この場合、2つ
の付加的放射スポツトを形成するために読取装置
に追加の光学装置が必要となる。
本発明の目的は、それ自体としては既知の多数
の技術を組合せ、光学的記録担体が、簡単な装置
を用いてユーザ自身によつて極めて正確に記録を
行ないうる記録又は蓄積媒体として適したものと
なるようにする情報書込方法を提供する。
かかる目的を達成するため本発明の情報書込方
法は、特定の情報ブロツクを前記情報層の特定ト
ラツク部分に書込む以前に、前記サーボトラツク
に存在しかつ書込むべきトラツク部分に関するす
べての情報を含むセクタアドレス部を、その強度
を前記第2レベルへ切替えた単一放射スポツトに
より検出すると同時に、前記単一放射スポツトの
中心がサーボトラツクの中心線の平均位置と合致
するか否かをチエツクし、情報ブロツクの書込み
に当り前記単一放射スポツトにより該単一放射ス
ポツトの中心が前記サーボトラツクの中心線と合
致するか否かをチエツクするようにすることを特
徴とする。
情報ブロツクとは、1ワードまたは印刷された
文書の1行或いは複数行のような1単位を構成す
るある個数の情報キヤラクタを意味するのとす
る。
本発明による書込方法は、アドレスの読取り、
サーボトラツクの追随、及び情報区域の書込みに
1つの放射スポツトだけ用いる。
書込み中、情報層が放射スポツトに対して移動
する速度(トラツク方向における)は、駆動モー
タの速度を測定し、場合によつてはこの駆動モー
タの速度を補正することにより制御できる。トラ
ツク方向において放射スポツトに対する情報層の
速度のより一層正確な制御は、サーボトラツク内
に含まれ放射スポツトにより読取りうるトラツキ
ング情報を用いることにより行なうことができ
る。従つて、本発明方法においては記録担体上の
セクタアドレス部の読取に当りセクタアドレス部
が読取られる速度を測定し、該速度を、前記セク
タアドレス部に対応するトラツク部分に書込むべ
き情報を供給する速度を制御するのに使用するよ
うにするのが好適である。この供給速度は、書込
むべき情報を供給する周波数を決定する電子的ク
ロツク信号発生器を制御することにより制御でき
る。
セクタアドレス部相互間のサーボトラツク部分
には、光学的に検知しうる連続的なトラツク部を
設けることができる。しかし、セクタアドレス部
間に同一寸法の複数のトラツキング区域のみを位
置させ、これらトラツキング区域間の距離をトラ
ツキング区域の寸法よりも著しく大きくするよう
にすることができる。これらのトラツキング区域
を用いることにより、放射スポツトの中心がサー
ボトラツクの中心線の平均位置と一致するかどう
かを確かめることができる。
トラツキング区域が複数の同期区域を有する場
合、本発明方法においては、前記トラツク部分の
トラツキング区域における同期区域に対する前記
放射スポツトの移動速度を測定し、前記移動速度
を、前記トラツク部分の書込可能部分に書込むべ
き情報を供給する速度を制御するのに使用するよ
うにするのが好適である。この場合、放射スポツ
トが第1セクタアドレス部から第2セクタアドレ
ス部に移動する時間間隔内で情報が書込まれる速
度を補正する信号を発生させることができる。
トラツキング区域の同期区域により読取り中に
あるクロツク周波数を生じる。このクロツク周波
数は前記電子的クロツク信号発生器のクロツク周
波数に一致するようにする。
更に、記録担体の情報層を、著しく大きな強度
の露光により直ちに光学的に検知しうる変化が生
じる材料を以つて構成する場合には、情報ブロツ
クの記録に際し情報が適正に書込まれているかど
うかをチエツクするのに放射スポツトを用いるこ
とができる。この目的のため本発明方法において
は、書込まれた情報をチエツクするため前記情報
層から到来する単一放射ビームの一部を利用し、
該単一放射ビームの一部を電気信号に変換し、該
電気信号を、記録担体の方向に指向させた単一放
射ビームの強度を示す別の電気信号と共に処理し
て、丁度書込まれたばかりの情報を示す電気情報
信号を得るよにうするのが好適である。
書込みを行なうには極めてわずかの時間で足
り、書込まれた区域は極めて短い時間で形成され
る。従つて、丁度書込まれた1つの区域はその一
部が、読取り強度に切替えられた放射スポツトの
下に依然として部分的に位置する為、この区域に
書込が行われたか否かを書込み後直ちに検知しう
る。これにより、用いる符号化(コーデイング)
−変調装置によつては補正されない誤りを検知し
うる。記録した情報ブロツクがこのような誤りを
有する場合には、この情報ブロツクを再書込みす
ることを決定する。このような誤りが生じない場
合には、次の情報ブロツクを記録することが決定
される。
なお光学的に検知しうる情報区域を半導体層中
に書込む書込み処理をチエツクする為に記録済の
記録担体部分を通過する書込みビームを用いるこ
と自体は米国特許第3696344号明細書に記載され
ており既知である。しかし、この場合、上記の書
込みビームの強度を、未記録の記録担体部分を通
過するビームの強度と比較している。更に、この
米国特許第3696344号明細書による書込み方法は、
アドレス部を読取るのに或いはトラツキングの目
的の為に書込放射スポツトを用いていない。
光学的記録担体を用いる場合に達成しうる情報
転送速度は、放射強度の切替え可能最大周波数
と、トラツクが放射スポツトに対して移動する最
大速度及び、依然として検知しうる区域の最大空
間周波数との積によつて決まる。最大情報転送速
度は大きく、例えば30MHzとするが、ある場合、
例えばX線像を転送する場合にはこの値でも依然
として不適当である。光学的記録担体を用いる場
合に情報転送速度を著しく高める為には、本発明
において、情報の書込に当り多数の付加的放射ス
ポツトを2個の隣接したサーボトラツク部分の間
で互いに隣接して投影し、前記付加的放射スポツ
トの強度を書込むべき情報に応じて個別に切替え
て、サーボトラツク部分自体の他に、前記2個の
隣接サーボトラツク部分の間における記録担体の
部分に同時に情報を書込み、前記2個の隣接サー
ボトラツク部分の間に前記付加的放射スポツトの
数に対応する情報トラツクを形成するようにする
のが好適である。
なお複数の放射スポツトを用いて複数の情報ト
ラツクに同時に記録を行うことは西ドイツ国特許
第1499422号明細書に記載されており既知である。
しかし、この場合、アドレス部を読取つたり、ト
ラツクに対する放射スポツトの位置をチエツクす
るのにいずれの放射スポツトも用いていない。
本発明による方法を用いる場合、サーボトラツ
クを設けた特別な記録担体を用いる。本発明方法
に使用する記録担体の第1好適例では、前記サー
ボトラツクがセクタアドレス部と交互に配置され
る光学的に検知し得る連続トラツク部分を備え、
サーボトラツクの連続トラツク部分の完全なアド
レスを各セクタアドレス部におけるアドレス区域
内に符号化して形成し、サーボトラツクの各トラ
ツク円当りに多数のセクタアドレス部を配設する
よう構成する。セクタアドレス部には、トラツク
番号(或いはらせんサーボトラツクの各トラツク
円(各1周部分)の番号)に加えて、例えば前記
トラツク(或いは前記各トラツク円)における関
連するセクタの番号をも入れる。更に、各セクタ
アドレス部の始端に多数の同期区域を設け、読取
り中これら同期区域によりクロツク再生信号を発
生させ、このクロツク再生信号により、書込むべ
き情報を供給する周波数を決定する電子的クロツ
ク信号発生器のクロツク周波数を決める。
サーボトラツクは振幅構体とすることができ
る。すなわち、このサーボトラツクによりその入
射放射ビームの振幅を情報層の他の部分と異なる
ように変化させるようにすることができる。この
場合、アドレスおよび同期区域はサーボトラツク
の他の部分と異なる反射係数或いは吸収係数を有
するようする。サーボトラツクは位相構体とし、
このサーボトラツクに入射する放射ビームの一部
がこのサーボトラツク以外に入射する放射ビーム
の一部と異なる位相を有するようにすると好適で
ある。後者の場合には、アドレスおよび同期区域
をサーボトラツクの他の部分よりも高い或いは低
い位置レベルに配置する。更に、情報層は放射反
射層或いは放射透過層とすることができる。
本発明方法に使用する記録担体においては、サ
ーボトラツクを周期を有する波形(なみがたと読
む、以下同じ)形状のトラツクとし、前記波形形
状の位相をセクタアドレス部の始端に対応させ、
前記波形形状の振幅をサーボトラツクの幅より小
さくし、セクタアドレス部の全長にわたり波形形
状の周期を整数個包含させるのが好適である。
波形形状サーボトラツクを用いることにより、
放射スポツトの中心とサーボトラツクの中心線の
平均位置との間のずれの大きさおよび方向の双方
を簡単に決定できる。またサーボトラツク波形形
状は記録済記録担体の後での読取りに際しても利
用することができる。
本発明方法に使用する記録担体の第2好適例で
は、サーボトラツクはセクタアドレス部を備え、
各セクタアドレス部は対応する書込み可能なトラ
ツク部の完全なアドレスを含み、セクタアドレス
部相互間のトラツク部は光学的に検知し得るトラ
ツキング区域を備え、前記トラツキング区域は、
書込むべき情報区域より長くかつ該トラツキング
区域の長さより実際上大きい一定の相互間距離に
て配置し、前記トラツク部分においてトラツキン
グ区域相互間の部分に情報を配置するように構成
する。
これらのトラツキング区域はサーボトラツクの
中心に対する放射スポツトの位置を制御するのに
用いることができる。
また、本発明方法に使用する記録担体において
は、トラツキング区域が同期区域を有するように
するのが好適である。これらの同期区域はセクタ
アドレス部の始端部における同期区域と同じ機能
を有する。
本発明の記録担体の他の例では、サーボトラツ
クの2個の隣接部分の間の距離をサーボトラツク
の幅の数倍として、前記サーボトラツクの隣接部
分の間に複数の情報トラツクを書込むことができ
るよう構成する。
また本発明の書込方法によれば、光学的放射の
記録スポツトによりトラツクに沿つて情報を書込
んだ記録済記録担体において、前記トラツクがト
ラツク円当り多数のセクタアドレス部を備え、こ
れらのセクタアドレス部が複数のアドレス区域を
備え、前記アドレス区域と、前記セクタアドレス
部間のトラツク部とを位相構体の形態とし、書込
まれた情報をセクタアドレス部相互間のトラツク
部に振幅構体の形態で包含するよう構成した記録
済記録担体が得られる。
本発明の書込方法によつて、光学的放射の記録
スポツトにより記録担体に情報を書込まれた記録
済記録担体を読取るために、放射源と、該放射源
によつて発生する放射ビームの強度を第1(書込)
レベルおよび第2(読取)レベルの間で切替える
装置と、記録済記録担体、または記録担体の情報
層の上に放射ビームを放射スポツトの形態に集束
する対物系と、前記放射スポツトおよび情報層を
相対的に移動させる装置と、前記情報層から到来
する放射ビームの強度を検出する検出器とを備
え、前記検出器の出力端子を電子回路に接続した
情報書込及び読取装置において、前記電子回路
は、前記検出器に接続され該検出器の出力信号を
アドレス信号および情報信号に変換する第1回路
を備え、前記第1回路は第1アドレスレジスタに
接続し、前記第1アドレスレジスタは第1比較回
路の第1入力端子に接続し、前記第1比較回路の
第2入力端子は所望アドレス用の第2アドレスレ
ジスタに接続し、さらに前記電子回路は低域通過
フイルタを介し前記検出器に接続され、トラツク
方向を横切る方向における放射スポツトの位置を
制御するための信号を導出する第2回路と、放射
ビームを情報層上に集束するよう制御する信号を
導出する第3回路とを備えるよう構成すると好適
である。
本発明の書込方法に使用する書込及び読取装置
には書込み中に記録された情報をチエツク(検
査)する装置を設けることができ、つまりかかる
書込及び読取装置においては、前記第1回路の入
力端子を信号処理回路の出力端子に接続し、該信
号処理回路の第1入力端子を前記検出器に接続
し、かつ該信号処理回路の第2入力端子に、記録
担体に指向させた放射の強度を表わす信号を供給
し、書込まれたばかりの情報だけによつて決まる
電気信号を前記信号処理回路の出力端子から送出
するよう構成すると好適である。
放射源はヘリウム−ネオンレーザのような気体
レーザとすることができる。しかし、放射源とし
ては半導体ダイオードレーザが好適である。この
場合、情報層で反射されたレーザビームの強度は
記録担体から離して記録担体に向け配置されたダ
イオードレーザと同一側に配置された1個の放射
感応検出器(感光検出器)で決定することができ
る。この場合にはダイオードレーザから放出され
るレーザ光の強度はダイオードレーザを流れる電
流を測定することによつて決定することができ
る。これがため、書込及び読取装置の光学系が著
しく簡単になる。
光学系を更に簡単化した書込及び読取装置にお
いては、検出器をダイオードレーザの電気抵抗値
を測定する電子回路で構成すると共に、ダイオー
ドレーザの電流に比例した信号を信号処理回路の
第2入力端子に供給するようにする。
情報をサーボトラツク内および1個以上の情報
トラツク内に同時に書込むようにした本発明方法
に使用する書込及び読取装置においては、複数個
の付加的放射源を設け、各放射源に、該放射源に
より放出される放射ビームの強度を第1(書込)
レベルと第2(読取)レベルとの間で切替える装
置を設けると共に、付加的放射源と同数の検出器
を設け、各付加的放射源を各検出器と光学的に結
合させるようにする。
図面につき本発明を説明する。
第1図は本発明方法と関連して用いる記録担体
1の一例を示す平面図である。この記録担体には
例えばらせん状サーボトラツク4が設けられてい
る。本発明ではサーボトラツク4を多数のセクタ
7に分割し、例えば1回転即ち1周当り128個の
セクタに分割する。各セクタ7は書込みに当り記
録担体上に明確に規定された通路に沿つて情報を
記録するのに使われる連続トラツク部9と、関連
するトラツク部9のアドレスをデジタル形式で複
数のアドレス区域に記録したアドレスを含むセク
タアドレス部8とを有する。セクタアドレス部8
のアドレス区域とトラツク部9は光学的に検知し
得るようにする必要がある。情報はセクタアドレ
ス部8相互間のトラツク部9に書込まれる。記録
担体1には適当な放射に露光されると光学的に検
知可能な変化を呈する材料の層を設ける。
サーボトラツク4のみ又はトラツク部9のみを
高反射材料で被覆することができる。この場合サ
ーボトラツク4は振幅構体となる。情報の記録は
書込強度に切換えられた放射によつて反射係数を
局部的に変えることにより行なう。セクタアドレ
ス部8は記録担体の基板に設けた微小孔で構成
し、トラツク部9は基板に設けた凹部で構成する
のが好適である。この場合記録担体の全表面を、
反射係数を制御し得る高反射材料の情報層で被覆
することができる。
第2図は第1図に示す記録担体の好適例の第1
図の2−2′線上の断面図を示す。サーボトラツ
クの半径方向隣接部分を4で示す。サーボトラツ
クのトラツク方向は図面に垂直の方向である。情
報層6は例えばプラスチツクから成る基板5上に
設けられる。
第3図は第1図に示す記録担体の好適例の第1
図の3−3′線上の断面図を示す。各セクタアド
レス部8はアドレス部8aと同期部8bとで構成
する。アドレス部8aは基板に形成した均一寸法
の複数個の微小孔10で構成する。これら微小孔
は符号化及び変調されたデジタルアドレス情報を
表わす。同期部8bは一定順序の微小孔10から
成り、この微小孔の列は一定速度での読取り中に
一定のクロツク信号を発生し、これにより例えば
信号源のクロツク周波数を補正することができ
る。各セクタアドレス部8の後には基板に形成さ
れた凹部から成るトラツク部9が続き、この部分
にはその大部分に情報が書込まれる。
書込装置においては、記録担体から到来する放
射を放射感応検出装置に向ける。この検出装置は
放射ビームが微小孔内に入射したときに放射ビー
ムが2個の微小孔間に入射したときと異なる強度
の放射を受光することによりセクタアドレス部の
微小孔を検出することができる。更に、検出装置
は、放射スポツトがトラツク部9上に照射された
とき、放射スポツトがトラツク部9の側部に照射
されたときとは異なる強度の放射を受光する。こ
れがため、トラツク部又は微小孔10の走査中、
放射スポツトがサーボトラツク4の中心と一致し
ているか否かを検出することができる。更に、サ
ーボトラツクに対する放射スポツトの速度もアド
レス部8aが読取られる速度から決定することが
できる。代案として微小孔の区域10は突起と
し、トラツク部9は情報層の残部から突出させて
もよいこと明らかである。
層6は薄い金属層(例えばテルル)とすること
ができる。トラツク部9の金属層を充分高強度の
レーザ光で局部的に溶解して異なる反射係数をも
つて情報を書込むことができる。この場合、サー
ボ及びアドレス情報を位相構体で含み、ユーザに
より記録された情報をを振幅構体で含む記録担体
が得られる。
層6は入射放射の影響の下で化学的に反応する
材料で二重層、例えばアルミニウム−鉄の二重層
で構成することもできる。この場合、高強度の放
射ビームで照射された部分にはFeAl6が形成さ
れ、この部分は低反射性となる。同様の効果はビ
スマス−テルルの二重層でも得られ、この場合に
はBi2Te3が形成される。層6は非反射層とする
こともできる。この場合にはレーザ光により反射
区域を局部的に形成すればよい。
簡単のため、第1図にはサーボトラツクの数個
のトラツク円のみを示した。実際にはこのサーボ
トラツクは例えば内半径7cmから外半径14cmの区
域に45000個のトラツク円が設けられている。半
径方向におけるトラツク構体の周期は例えば
1.6μmで、トラツク幅は例えば0.5μmである。セ
クタアドレス部8の微小孔の区域10の長さは例
えば0.5μmであり、この長さはトラツク部9に書
込まれる情報区域の平均の長さとすることもでき
る。セクタアドレス部8の長さはトラツク部9の
長さの例えば1/10とする。この場合、斯るトラツ
ク部1個には例えばA−4版1頁の原稿の2行分
の情報を記録することができる。従つてサーボト
ラツクの45000個のトラツク円には各頁30行のA
−4版原稿を約380000頁記録することができる。
放射スポツトの大きさはサーボトラツクの幅の
大きさ程度とする。サーボトラツクの露光におい
て、回折効果が起り、放射ビームは0次サブビー
ム、1次サブビーム、及び多数の高次サブビーム
に別れる。位相構体を有するサーボトラツクは特
定の位相深度を有する。ここで位相深度とは0次
サブビームと1次サブビームとの位相差を意味す
る。
サーボトラツクの中心に対する放射スポツトの
位置は、0次サブビームの断面と1次サブビーム
の断面が部分的にオーバーラツプする平面に配置
された2個の放射感応検出器によつて検出するこ
とができる。この場合、これら検出器はトラツク
方向と平行なラインの両側に位置させる。斯るト
ラツキング方法は、テレビジヨン番組が記録され
た記録担体を読取る場合について“I.E.E.E.
transactions on consumer electronics”
Nov.1976,page 307における“Optical read−
out of avideo disc”に記載されている。この方
法は所定の位相深度を有する下記の位相トラツク
に対し使用することができる。
このサーボトラツクは周期を有する波形(なみ
がたと読む。以下同じ)形状のトラツクとするこ
とができる。
第4図は波形形状トラツク4を有する記録担体
1の一部の平面図を示し、第5図はこのサーボト
ラツク4の1トラツク部7の平面図を示す。波形
形状サーボトラツクを用いると、後に説明するよ
うに、サーボトラツクの中心線11の平均位置に
対する放射スポツトの位置のずれの大きさ及び方
向を、(セクタアドレスの読取りやユーザにより
記録された情報の読取りにも使用される)1個の
放射感応検出器により決定することができる。
波形形状の空間周波数(1/p)はセクタアドレ ス部8の微小孔の区域10の空間周波数より相当
低くして、サーボトラツクの波形形状による検出
信号の変調成分をセクタアドレス部の微小孔の区
域10による変調成分から周波数について弁別し
得るようにする。第5図の例では、波形形状の周
期は1セクタアドレス部8の長さに等しい。波形
形状の周期は1セクタアドレス部より短かくして
もよいが、この場合には1セクタアドレス部当り
の波形形状の周期数及び1トラツク部当りの波形
形状の周期数を常に整数とする必要がある。第5
図の例では1トラツク部9は9個の波形形状周期
を有する。
サーボトラツクの波形形状の振幅aはこのトラ
ツクの幅より小さくして常に放射スポツトの大部
分がサーボトラツク上に入射するようにする。こ
の振幅はトラツク幅の例えば1/10とする。
波形形状サーボトラツクを用いるときは波形形
状の位相を明確に規定する必要がある。本発明の
書込方法に好適な記録担体においてはこのために
波形形状の位相を各セクタアドレス部の始点にロ
ツクする。例えば、各セクタアドレス部の始点に
おいてサーボトラツクの波形形状の横方向変位
(振幅)を第5図に示すように零にする。
本発明の書込方法に好適な記録担体の他の例で
は、隣接セクタアドレス部間のサーボトラツク部
分を連続トラツク部としないで、これらサーボト
ラツク部分を、第6a図に示すように、互いに比
較的大きな間隔を置いて設けられた均一寸法の細
長い孔のような複数個の光学的に検知可能なトラ
ツキング区域12で構成する。第6a図は隣接す
る多数個のサーボトラツク部分の一部を示す。
第6a図においてもセクタアドレス部は同様に
8で示し、関連するトラツク部は9で示す。トラ
ツキング区域12間には所定量の情報、例えば1
ワードを書込むことができる。情報の書込み中、
トラツキング区域はサーボトラツクの中心に対す
る放射スポツトの位置を補正するのに用いる。
トラツキング区域12は互に一定距離離間した
一定の長さの短区域(同期区域とも称す)を含む
こともできる。これら同期区域を第6a図のサー
ボトラツクの一部分を拡大して示す第6b図に1
3で示す。これら同期区域は例えば微小孔とす
る。一定速度で読取中、これら同期区域は一定の
クロツク信号を発生する。これがため、信号源の
クロツク周波数を情報記録中に放射スポツトがあ
るセクタアドレス部から次のセクタアドレス部へ
走行する時間間隔においても補正することができ
る。同期区域に分割されたトラツキング区域の使
用は、2個の順次のセクタアドレス部間の距離が
大きい場合に特に有効である。
このように、本発明の書込方法に好適な記録担
体は記録担体の情報書込み時に使用されるサーボ
情報を含む。この結果、個々のユーザの書込装置
には光学的書込−読取ヘツド及び記録担体の機械
的駆動機構及び光学系の種々の光学素子の無振動
懸垂機構に厳しい要件を課す必要がない。その代
りに、セクタアドレス部を有するサーボトラツク
を記録担体に書込む装置にこれらの要件を課す必
要がある。
本願人に係る特許第1127518号(特公昭56−
52361号公報)にはテレビジヨン番組をホトレジ
スト層が設けられた記録担体に光学的に書込む方
法が開示されている。この方法では、レーザビー
ムの強度を高レベルと低レベルとの間で切替え、
その切替瞬時を書込むべき情報により決定してい
る。従つて、レーザビームに対し移動するホトレ
ジスト層は書込むべき情報に応じて間欠的に露光
される。同様の方法を本発明の書込方法に使用す
る記録担体のサーボトラツクの書込みに用いるこ
とができる。この場合、セクタアドレス部の書込
み中のみ書込ビームの強度を書込むべきアドレス
に応じて高レベルと低レベルの間で切替える。2
個の順次のセクタアドレス部間の時間隔中は書込
ビームを常に高レベルにする。斯くして得られた
露光パターンは既知の現像及びエツチング技術に
より凹凸形状に変換することができる。この凹凸
形状は例えば複数の凹状連続トラツク部と、均一
寸法の複数の凹状区域から成るセクタアドレス部
とを交互に有する。このようにして得られたいわ
ゆるマスターデイスクから、オーデイオレコード
の製造に使用されているのと同様のプレス技術を
用いて例えばプラスチツクの多数のデイスクを製
造することができる。これらデイスク上に書込み
放射で影響される材料層を設けた後に、これらデ
イスクにはユーザが所定の情報を書込むことがで
きる。このように1台の高価な書込装置のみで多
数のユーザにサーボトラツク付記録担体を提供す
ることができる。
波形形状サーボトラツク付記録担体を製造する
場合は、特開昭50−68413号(特願昭49−118302
号)に記載されているように、放射ビームの方向
を該サーボトラツクの書込み中小角度に亘り周期
的に変化させる。この目的のために、方向変調
器、例えば音響−光学変調器を放射ビーム路内に
挿入する。斯る変調器は水やガラスのような媒体
を具えるセルから成り、そのセル上には電子―機
械トランスジユーサが設けられる。これらトラン
スジユーサに信号が供給されると、セル内に音波
が発生する。この結果セル媒体内においていわゆ
るブラツグ回折が生ずるため、セルを通過する放
射ビームは回折される。回折角は電子−機械トラ
ンスジユーサに供給される電気信号の周波数によ
つて決まる。従つてこの周波数を周期的に且つ連
続的に変化させることにより記録されるサーボト
ラツクを波形形状トラツクにすることができる。
第6a図に示すようなトラツキング区域付サー
ボトラツクを書込むときは、比較的長い制御パル
スを書込ビームの強度変調器に、2個のセクタア
ドレス部の書込み間の時間隔中供給する。これら
制御パルスは比較的低い繰返し周波数を有し、ビ
ームの強度を高(書込)レベルに切替える。これ
らの各制御パルスを複数個の短制御パルスに分割
すれば、第6b図に示すサーボトラツクが得られ
る。
第7図は本発明の書込方法に使用する書込及び
読取装置の第1好適例を示す略線図である。円形
デイスク状記録担体を1で示し、この記録担体に
はら線状サーボトラツク4が設けてあるが図示の
便宜のために数個のトラツク円の一部分のみを示
してある。この記録担体1を回転モータ22によ
つてスピンドル21を駆動させることにより回転
させる。ガスレーザ23例えばヘリウム−ネオン
レーザによつて生じた放射ビーム24を鏡28に
よつて記録担体へ反射させ対物レンズ29によつ
て集束させてこの記録担体の放射感応情報層6上
で放射スポツトVを形成する。レンズ26および
27を有する補助光学系を用いて放射ビームを対
物レンズ29に正確に向けるので、放射スポツト
Vは最小の大きさとなる。
この鏡28は傾斜形鏡であり、この鏡を例えば
ダイヤモンド支点37で支承して図面に直交する
第1軸の回りに傾けることが出来ることはもとよ
り、場合によつてはこの第1軸と直交ししかも記
録担体と平行な第2軸の回りで傾けることが出来
るように構成する。電磁コイル38を用いて第1
軸の囲りでの傾斜運動を行なわせて放射スポツト
Vの半径方向の位置を補正し、他方電磁コイル3
9を用いて第2軸の回りでの傾斜運動を行なわせ
て放射スポツトVのトラツクの長手方向の速度す
なわち接線方向の速度を補正する。対物レンズに
よる放射感応層6に対する集束を補正するため
に、この対物レンズ29を可動コイル44中に例
えば懸垂させてこの対物レンズを矢印45の方向
にすなわち光軸に沿つて動かすように構成するこ
とが出来る。
対物レンズ29と傾斜形鏡28とを移動台46
に設ける。この移動台を親ねじ47によつて矢印
49の方向に移動させることが出来る。この親ね
じを移動台モータ48で駆動する。斯して鏡28
によつて行なう微調整の他にこの放射スポツトV
の半径方向の位置の粗調整も可能である。
半径方向の位置を補正するための制御信号はも
とより場合によつては放射スポツトの接線方向の
速度および放射ビームの集束を補正するための制
御信号を第7図にブロツク55で示した電子回路
(出力端子e,gおよびf)によつて供給する。
この電子回路については第8図により詳細に説明
する。またこの回路の構成要素を集積回路(IC)
の形態とし得る。
記録担体の情報層6によつて反射された放射を
例えば半透明鏡30および所要に応じて第2鏡5
7のようなビームスプリツタによつて放射検出器
32へ反射させる。レンズ31によつてこの放射
を検出器上に出来る限り確実に集中させる。この
検出器32の出力信号を電子回路55の入力端子
aに供給する。後述する説明からも明らかとなる
ように、この出力信号を使用して、書込みおよび
読取りの両期間において、半径方向の制御信号お
よび所要に応じて接線方向の制御信号を導出す
る。書込み期間中にこの検出器32からの信号を
使用してさらにアドレスを読取つたり、所要に応
じて同期区域を読取つたりさらには供給された情
報が実際に書込まれているかどうかをチエツクし
たりすることが出来る。ユーザが情報を形成させ
た記録済記録担体の読取り期間中は、検出器32
はアドレス情報とユーザの情報とを供給する。
放射ビーム24の通路には強度変調器25を設
けてあり、この強度変調器によつて放射ビームの
強度を第1(高いすなわち書込)レベルと第2(低
いすなわち読取)レベルとの間で切替えることが
出来る。この変調器を電子回路(出力端子h)5
5を用いて制御する。この変調器25を電気光学
変調器とし得、電気光学結晶の組立体を具えてお
り、この組立体は印加電圧に応動して放射ビーム
の偏光面を回転させる。また変調器は検光子を具
えており、この検光子は偏光の変化を放射ビーム
の強度変化に変換する。
しかしながら、変調器25は音響セルと、例え
ば零次ビームのみを透過させるアパーチヤとを具
える音響光学変調器とすると好適である。この場
合、音響波がこのセルを経て通過しないときには
放射は回折されないので放射の全てがアパーチヤ
を介し記録担体に向けて透過する。その場合この
記録担体の情報層6での放射の強度が十分に高く
なつてこの層を局部的に溶融させる。またこのセ
ルを経て音響波が伝わらない場合には、放射の大
部分が回折されてしまうので、放射源から放出さ
れた放射の例えば20%程度が透過された零次ビー
ム中に含まれるにすぎない。この場合、情報層6
に入射する放射ビームの強度は低くてその層内に
変化を生じさせないが、この強度は既に記録され
ている情報を読取るには十分である。
記録されるべき情報を電子回路55の入力端子
dに接続させてあるメモリ56例えばランダムア
クセスメモリ(RAM)に記憶させる。この電子
回路については第8図にブロツク図として詳細に
示してある。
第8図において60は情報レジスタを示し、こ
のレジスタには記録しようとするある情報ブロツ
クを一時的に記憶する。次いでこの情報ブロツク
が書込まれるべきアドレスをアドレスレジスタ6
1に記憶する。情報レジスタ60を制御回路62
に接続する。この制御回路は多数の電子構成要素
を具えていてこれによつて、供給された情報を変
調して符号化する。この符号化および変調の方法
は本発明の範囲外の事項である。次に本発明の書
込方法に使用する装置の理解を一層深めるために
この供給された情報に対して取り得る処理方法の
一例を概略的に説明する。
ビツトと称せられるデジタル「0」および
「1」の流れをその都度一定個数例えば13ビツト
に分けて多数のビツト行を得る。各ピツト行には
あるビツト数の例えば3ビツトのいわゆるパリテ
イビツトを付加するので一つのビツト行は常に一
定数の「0」と「1」とを含んでいる。従つて誤
り訂正機能が組込まれることとなる。
先づ最初に、斯して得られた全てのビツト行の
第1ビツトを読取つてこれを転送し、次いで全て
の行の第2ビツトを読取つて転送する等々順次全
ての行の最終ビツトまでこれを行なう。この処理
をインタリービングと称する。書込み期間に生ず
る誤りは一般には数ビツトの長さであり、誤りビ
ツトがあまり長くないと仮定すると行当り1個の
誤りビツトが生ずるに過ぎない。このように分布
した誤りを記録済記録担体の読取り時に、前記組
込まれたパリテイチエツクによつて訂正すること
が出来る。
最終的には「0」の個数と「1」の個数とが均
衡するように符号化を行なう。例えば2つの順次
のビツトを4ビツトに変換させる。すなわち
「00」,「11」,「01」および「10」の組合わせの場
合には「0011」,「1100」,「0110」,「1001」へと
夫々変換させる。この点については1970年発行の
文献「Nachrichtentechnische Zeitschrift」第1
号第11〜16頁第7図に開示されている。
斯して符号化された情報を変調器25に供給す
る。
記録担体上に存在するアドレスビツトを前述し
た書込情報ビツトの場合と同様な方法で変調して
符号化しておくことも出来る。
ある情報ブロツクの書込を可能ならしめるため
にはその前に正しいアドレスを見出すことが必要
である。この目的のために、放射ビーム24を読
取レベルに切替える。放射スポツトVの下を特定
のセクタアドレス部が通過する際に直ちにこの記
録担体から反射される反射従つて検出器32の出
力信号は瞬時に読取られたアドレスのビツトの配
列順序に応じて高周波で変調される。この検出器
32からの信号を回路63に供給する。この回路
63においてこの信号は復号されると共に復調さ
れ、この信号はアドレスの読取期間中にアドレス
情報に変換されることとなる。従つてこの回路6
3は回路62とは反対の機能を有しているとみな
し得る。瞬時に読取られたアドレスのビツトをア
ドレスレジスタ64に記憶させる。レジスタ61
および64に含まれている両アドレスの比較を比
較器65で行なう。これらアドレスが同一である
とき、この比較器から情報レジスタ60に信号を
供給するから、このレジスタは記憶している情報
を制御回路62に転送する。
斯様にして書込まれるべき情報ブロツクのビツ
トの配列順序に応じて変調器25を切替えるの
で、レーザ23によつて生じた放射は高い(すな
わち書込)強度の放射パルスと低い(すなわち読
取)強度の放射パルスとに分けられる。
正確なアドレスを見つけ出す場合に、さらに比
較器65で放射スポツトVが所望アドレスにすで
に接近しているかまたは所望アドレスからまだ離
れているかどうかを確認することも出来る。後者
の場合、比較器は移動台モータ48用の制御回路
68に付加的制御信号を供給するので、放射スポ
ツトVを、全ての隣接するトラツク部分を順次に
走査する場合に放射スポツトが半径方向に移動す
る速度よりも著しく速い速度で半径方向に移動さ
せることが出来る。この放射スポツトがこの所望
アドレスに十分接近して近づくと直ちにこの付加
的制御信号の発生は停止する。
アドレスの読取および情報ブロツクの書込の
際、放射スポツトの中心をサーボトラツクの中心
線上に位置決めさせる必要がある。放射スポツト
の半径方向の位置ずれは、既に説明したように、
1個の検出器32の代わりに2個の副検出器を使
用すれば検出出来る。その場合には、これら副検
出器をサーボトラツクによつて半径方向に回折さ
れた1次ビームが零次ビームと部分的にオーバー
ラツプする面内に配設する。従つて、これら副検
出器をトラツク方向と事実上平行な線の両側に配
設し、その場合、第1副検出器を零次ビームと+
1次ビームとがオーバーラツプする区域に位置決
めさせ、第2副検出器を零次ビームと−1次ビー
ムとがオーバーラツプする区域に位置決めさせ
る。これら副検出器の出力信号間の差は放射スポ
ツトの半径方向の位置ずれの大きさと方向とに依
存する。これら両副検出器からの信号を加え合わ
せて得られる信号は第7図に示した単一の検出器
32によつて供給される信号と同じであり、アド
レスの読取期間にこれからアドレス情報を導出さ
せることが出来る。
サーボトラツクが第7図に示すように波形形状
トラツクである場合には、サーボトラツクの中心
線に対する放射スポツトの半径方向の位置を単一
検出器32で決定することも出来る。放射スポツ
トの半径方向位置のサーボ制御についての説明の
場合には、サーボトラツクは波形形状トラツクで
あるとする。
放射スポツトVが斯様なトラツクに沿つて移動
する場合には、記録担体によつて反射された放射
従つて検出器32の出力信号は付加的な変調を受
ける。
この放射スポツトがサーボトラツクの中心線を
正確にたどる場合にはこの付加的変調の時間周波
数はこのサーボトラツクの波形形状の空間周波数
に対応する時間周波数の2倍である。この放射ス
ポツトの中心がサーボトラツクの中心線からずれ
た場合には、この付加的変調の周波数は波形形状
の空間周波数に対応する周波数に等しくなる。こ
れがため、検出器32からの信号が空間周波数の
周期成分を含むかどうかを検出することによつ
て、放射スポツトVとサーボトラツク4の中心線
との間のずれの存否を確認することが可能であ
る。
これがため、第8図に示すように、検出器32
から低域フイルタ66へ信号を供給する。サーボ
トラツクの波形形状の周波数が30kHzであるとす
ると、このフイルタは例えば60kHzよりも低い周
波数のみを通過させるものである。サーボトラツ
クに対する放射スポツトの半径方向の位置ずれの
方向を決定するために、フイルタ66の出力信号
の位相を基準位相と比較する必要がある。この目
的のため、サーボトラツクの波形形状の位相をあ
る1個のセクタアドレス部の始端部と対応させて
おく。例えば第5図に示すように、ある1個のア
ドレス部の始端部におけるサーボトラツクの横方
向変位は零である。このフイルタ66の出力信号
を位相比較器67に供給してそこでこの信号の位
相を回路63からの基準位相と比較する。位相が
同一であるときには、この放射スポツトの中心は
例えばサーボトラツクの中心線に対してすなわち
記録担体の中心に向つてわずかにずれているに過
ぎず、一方、この放射スポツトの中心がサーボト
ラツクの中心線に対して記録担体の外側方向に少
しずれている場合には、フイルタ66の出力信号
と回路63からの基準信号との間に、180゜の位相
差が生じる。
斯様にして得られた半径方向誤差信号Srを制御
回路68に供給する。この制御回路から供給され
る制御信号を傾斜形鏡28(第7図参照)のコイ
ル38に供給することによりこの鏡を傾斜させて
検出器32からの信号中の波形形状トラツクの周
波数成分の振幅が零になるようにする。斯して放
射スポツトの中心をサーボトラツクの中心線上に
正確に位置させることが出来る。
この制御回路68を移動台モータ48用のモー
タ制御装置50に接続する。このモータは均一速
度で移動台46を駆動して記録担体の回転に際し
トラツクの全てのトラツク円を完全に走査させる
ことが出来る。その場合この鏡28を用いて放射
スポツトの半径方向位置の不正確さを補正する。
またこの鏡を用いて放射スポツトをトラツクの1
つのトラツク円から他のトラツク円へと移動させ
ることも出来る。この鏡のみで走査出来る記録担
体上の区域は制限される。代案として、放射スポ
ツトを対物レンズ29の視野内に保持するため
に、鏡28のその中心位置に対するずれに応答さ
せて移動台モータ48を制御することが可能であ
る。
またサーボトラツクの波形形状を使用して、ユ
ーザによつて書込まれた記録済記録担体を読取る
ため放射スポツトを情報トラツクに対して正確に
位置決めさせることも出来る。
情報ビツトが一定周波数で供給される場合に
は、トラツクに対する放射スポツトの接線方向速
度すなわちトラツク方向の速度を、一定に維持す
る必要がある。この目的のため、モータ22の速
度すなわち記録担体の回転速度を一定の基準信号
と比較できるので、この速度を既知の方法で補正
できる。
ある条件下ではこの制御は十分に正確とならな
いことがある。その理由は偏心していることがあ
るからであり、従つてその場合には一定速度の回
転であつても記録担体の種々のトラツク部分が同
一速度では走査されなくなるからである。書込ス
ポツトの接線方向速度をさらに正確に制御するた
めに、セクタアドレス部におけるアドレス部また
は同期部を使用することが出来る。
放射スポツトの接線方向速度は前述のビツトを
読取る速度で与えられる。この読取速度を回路6
3から導出することが出来る。情報レジスタ60
には電子クロツク70を接続し、このクロツクは
情報レジスタに含まれているビツトを回路62へ
転送する速度を決める。周波数または位相比較回
路69において、回路63からの信号の周波数ま
たは位相をクロツク70からの信号の周波数また
は位相と比較する。その結果得られた信号Stを使
用してクロツク信号と放射スポツトの接線方向速
度とを互いに適合させるようにする。
このクロツク周波数を第8図に結線76によつ
て示してあるように信号Stで補正することが出来
る。
しかしながら、またこの信号Stを使用して、第
8図に破線で示してあるように、トラツク方向に
おける放射スポツトの速度を補正することも出来
る。この目的のため、信号Stを接線方向速度の制
御回路71に供給し、その出力端子を鏡28用の
コイル39に接続するのでトラツクの長手方向に
おける放射スポツトの速度が、信号Stを零ならし
めるという態様において補正される。
第6b図に示すように記録担体に書込みを行な
う場合には、トラツキング区域12の同期区域か
ら接線方向速度補正用の信号Stを導出することも
できる。
記録担体への記録期間および記録済記録担体か
らの読取期間の両期間中に、対物レンズの集束面
とサーボトラツク面または情報トラツク面との間
のずれを表わす集束誤差信号を発生させるため
に、本例装置は半透明鏡57の後位に第2放射感
応検出器34を具えることが出来る。この検出器
34は4個の副検出器を具えており、これらの出
力信号を電子回路55に供給する。図示の便宜の
ために、第7図においては、検出器34から多数
の入力端子c(第8図および第9図にc1,c2,c3
c4で示してある)への信号線路を唯一個だけ示
す。半透明鏡57と検出器34との間に光学くさ
び部材33を挿入する。第9図に示すようにこの
光学くさび部材は放射ビーム24′を2個の副ビ
ーム24′aおよび24′bに分離させる。これら
副ビームは副検出器34a,34bおよび34
c,34dと夫々協働する。
第7図及び第9図はビーム24をサーボトラツ
ク面即ち情報トラツク面に正確に集束した状態を
示す。この時反射されたビーム24′の焦点Fは
正確に光学くさび部材33の頂点にくる。そして
副ビーム24′a及び24′bが夫々検出器34
a,34b及び34c,34dに入射する。放射
ビーム24の焦点が第7図において情報トラツク
面の上方にずれた時は、第9図の焦点Fは光学く
さび部材33の頂点の左方にくる。この時は副ビ
ーム24′a及び24′bが内方にずれて、検出器
34b及び34cが夫々検出器34a及び34d
よりも多量の放射を受光する。放射ビーム24の
焦点が第7図において情報トラツク面の下方にず
れた時は第9図の焦点Fは光学くさび部材33の
頂点の右方に寄り、検出器34a又は34dが
夫々検出器34b又は34cよりも多量の放射を
受光する。
検出器34a,34b,34c及び34dの出
力端子は夫々回路55の入力端子c1,c2,c3およ
びc4に接続する。この回路55は検出器34aか
ら送られてくる信号と検出器34dから送られて
くる信号とを互いに加え合わせる加算装置80
と、検出器34bから送られてくる信号と検出器
34cから送られてくる信号とを互いに加え合わ
せる加算装置81とを具える。加算装置80と8
1との出力端子を差動増幅器82の入力端子に接
続し、その出力端子に集束誤差信号SFFが現われ
るようにする。この集束誤差信号SFFを集束制御
装置83に印加し、対物レンズ29のコイル44
を流れる電流を制御して(第7図参照)対物レン
ズ29を情報トラツク面に対して位置合わせす
る。
第9図の集束誤差検出装置が優れている点は複
合検出器34が光路上の光学くさび部材33その
他の素子に対してビーム24′の方向に垂直な方
向にずれた場合そのずれが集束誤差信号SFFに対
して及ぼす影響を除去できることである。光学く
さび部材33が複合検出器34に対してずれると
検出器34a及び34b並びに検出器34c及び
34dに入射する副ビーム24′a及び24′bも
同一方向にずれる。光学くさび部材33が上方に
ずれると副ビーム24′a及び24′bは共に複合
検出器34に対して上方にずれるので検出器34
aと34cとは夫々検出器34bや34dよりも
多量の放射を受光する。光学くさび部材33が複
合検出器34に対して下方にずれると副ビーム2
4′aと24′bも下方にずれるので検出器34a
と34cとが受光する放射は検出器34bや34
dが受光する放射よりも少なくなる。第8図に示
すように検出器34aから送られてくる信号と検
出器34cから送られてくる信号とを加算装置8
4で互いに加算し、検出器34bから送られてく
る信号と検出器34dから送られてくる信号とを
加算装置85で互に加算する。これらの加算装置
84と85の出力端子を差動増幅器86の入力端
子に接続し、その出力端子Kから位置誤差信号
SPFを取り出す。この位置誤差信号SPFにより例え
ば光学くさび部材33の、複合検出器34に対す
るビーム方向に垂直な方向での位置を補正でき
る。
光学くさび部材33と4個の副検出器34a〜
34dから成る複合検出器34とを用いる代り
に、検出器34bと34cの位置に3個の検出器
を設け、更にナイフエツジが第9図の光学くさび
部材33の頂点の位置にくるようにナイフエツジ
付き放射吸収器を設けることにより集束誤差信号
SFFを得ることもできる。このナイフエツジ付き
放射吸収器は放射ビーム24′の半分を阻止し、
放射ビーム24が正しく集束されていない場合は
上記2個の検出器の一方が他方の検出器よりも多
量の放射を検出する。そしてこれらの2個の検出
器の差信号から放射ビーム24と情報トラツク面
との間に存在するずれの大きさと方向を表わす信
号を取出せる。
本発明の書込方法に好適な第7図及び第8図の
装置によれば書込動作中追加の放射スポツトを使
わずに、情報が所望通りに実際に書込まれつつあ
るか否かをチエツクできるという重要な特長が得
られる。例えば情報層6における欠陥のため読取
りスポツトの強度と書込みスポツトの強度とが同
一となる情報層6の位置では光学的に検出可能な
変化が生じない、即ち情報区域に書込が行われな
いということが起こり得る。書込みプロセスをチ
エツクするためには情報層6で反射され、検出器
32で検出される放射を利用する。この場合この
放射の強度を書込強度から読取強度に切替えられ
た直後に測定する。この読取強度に切替られた直
後の瞬時には放射スポツトVは依然としてその一
部が1情報ビツトが書込まれた筈である情報区域
上に位置している。例えば情報区域への情報ビツ
トの書込みは50ナノ秒で行われ、一方放射スポツ
トは例えば、平均して1マイクロ秒で1情報区域
の中心から次の情報区域の中心にわたる距離迄移
動することができる。従つて、情報ビツトが実際
に書込まれた場合には、この書込みの行われた情
報層6の部分の反射係数が局部的に変わるから、
検出器32で検出される放射の強度は情報ビツト
が書込まれなかつた場合の強度とは相違する。
検出器32から送られてくる信号は回路63で
変調されデコーデイングされる。この回路63の
出力端子は情報レジスタ74に接続する。なお検
出器32からの信号を回路63に印加する前に例
えば、ゲート回路又はスケール適応回路の形態の
信号処理回路と呼ばれる回路73に通す。この回
路の目的は、回路63において処理される信号
が、丁度書込まれたばかりの情報によつて記録担
体からのレーザビームにおいて生じた強度変化だ
けを表わすようにすることである。この回路73
の入力端子bには変調器25から放射されるレー
ザビームの強度に関する情報を与える信号を印加
する。この信号は半透明鏡30で反射された放射
を所要に応じ補助レンズ35を介して追加の検出
器36で受光することにより得られる(第7図参
照)。
回路73では例えば入力端子bの信号のレベル
を決定し、これに基づいて変調器25から放射さ
れるレーザービームが読取強度を有する時だけ検
出器32からの信号を回路63に転送するように
する。従つて、この場合回路73はゲート回路で
ある。
回路73では検出器32からの信号を他の方法
において入力端子bの信号で処理することもでき
る。例えば検出器32からの信号を入力端子bの
信号で除算することができる。この場合回路73
はスケール適応回路として作動する。
情報レジスタ60に蓄積されている情報ブロツ
クの最後のビツトが変調器25に印加された後
で、情報レジスタ60の内容とレジスタ74の内
容とを比較器75で互いに比較する。両者の内容
が等しい場合は比較器75から情報レジスタ60
に1個の指令を与え、次の情報ブロツクをこの情
報レジスタ60に格納する。レジスタ60と74
の内容が一致しない場合、換言すれば書込み動作
中に誤りが生じ、この誤りが、使用されたエンコ
ード及び変調装置で訂正されていない場合には、
レジスタ60に関連ブロツクを再書込みすべしと
いう指令を送る。更に回路55の出力端子lから
メモリ56に、元のセクタアドレスとは異なるセ
クタアドレスに関連情報ブロツクが書込まれたこ
とを知らせる。
上記方法によれば材料欠陥のため情報区域では
ないにもかゝわらず読取りの際情報区域と解釈さ
れるような区域が形成されているか否かをチエツ
クすることもできることに注意する必要がある。
ユーザにより情報が既に書込まれてある記録済
記録担体を読取る際には回路55の出力端子mに
デコードされ且つ変調された情報信号が現われ
る。この信号は例えばモニタ58で再生するのに
好適である(第7図参照)。
第10図は本発明の書込方法に好適な装置の第
2の例を示し、本例装置では半導体レーザ(即ち
ダイオードレーザ)90を放射源として使用す
る。このようにダイオードレーザを使つて情報構
体を読取ることについては米国特許第3941945号
明細書に記載されている。本件出願人はAlGaAs
ダイオードレーザの製造に成功しており、これは
テルル又はビスマスのような適当な材料から成る
情報層に情報を書込むのに十分なエネルギーを発
生する。
ダイオードレーザ90には2個の電極91を設
け、これらの電極を介して電流源101からダイ
オードレーザ90に電流を供給する。第11図は
この電流Cの関数としての放射強度Iの変化を表
わしたものである。或る電流C1迄ダイオードレ
ーザは放射放出(発光)ダイオードとして作動
し、レーザ作用は起こらない。レーザ作用はこの
レベルC1以上の電流強度で始まる。第10図の
制御回路62で電流レベルを夫々C2又はC3に調
整し、レーザ放射の強度を夫々読取りレベルI2
は書込みレベルI3に設定する。ダイオードレーザ
90から放射される放射を対物レンズ93に入射
させる。使用するレーザのタイプによつてはレン
ズ94及び95から成る円筒形の望遠鏡を設け
る。レーザビーム24は以後本例でも第7図の場
合と同じ光学素子を経て記録担体1に入射する。
また本例でも記録担体1で反射された放射は検出
器32に送られる。
書込み動作中にビツトが実際に書込まれたか否
かをチエツクするために本例でももう一つの検出
器36を設けるが、第10図ではこの検出器36
はダイオードレーザ90の背後に配置する。この
場合、ダイオードレーザは前面から放射される放
射強度に比例する強度の放射を後面から放射する
という事実を利用する。
第7図及び第8図につき説明した態様と異なる
態様で、即ちダイオードレーザ90を読取装置の
光軸に沿つて前後に即ち矢印97の方向に一定周
波数で動かすことにより集束誤差信号を導出する
ことができる。かかる軸方向に振動する放射源に
よる集束誤差検出の原理は本件出願人に係る特開
昭53−17706号公報(特願昭52−92311号)から既
知であり、特にその第9図及びその説明において
詳細に記載されている。その概要を次に述べる。
このようにダイオードレーザ90を周期的に運動
させることはこのレーザダイオードに結合した電
磁コイルに周期的に変化する電流を印加すること
により実現できるが、このレーザダイオードに結
合した圧電駆動装置でこの運動を行わせる方が好
適である。第10図に示すようにダイオードレー
ザ90をロツド92に取付け、このロツド92を
圧電板96に固定し、この圧電板96を取付板1
03に堅固に連結する。なおこの取付板103は
鏡28と対物レンズ29を除く本例装置の他の素
子を取付ける枠の一部を構成する。制御回路98
から一定周波数で周期的に変化する電圧を圧電板
96に供給して、ダイオードレーザ90の周期的
運動を行わせるようにする。
この周期的運動の結果放射ビームは記録担体1
の情報層6上に周期的に、集束された状態及び集
束されない状態となるので、検出器32から取り
出される信号に周期的成分が加えられる。平均し
て見て、即ち周期的運動を除外して見て、放射ビ
ームが情報層6に正しく集束された場合、検出器
32から取り出される信号内の上記周期成分の周
波数はダイオードレーザ90が運動する周波数の
2倍に等しくなる。これに対し平均して見て放射
ビームが正しく集束されていない場合には上記周
期的成分の周波数はダイオードレーザ90が運動
する周波数に等しくなる。また平均して見て放射
ビームが層6の後方に集束しすぎる場合には、周
期的成分の位相は例えば制御回路98からの制御
信号の位相に等しくなる。他方平均して見て放射
ビームが層6の前方に集束しすぎる場合には、周
期的成分の位相は制御回路98からの制御信号の
位相に対して180゜ずれる。こうして平均の集束誤
差の大きさと方向とを、検出器32から取り出さ
れる信号における周期的成分の周波数と位相とか
ら得るようにすることができる。
この目的のため第10図に示すように検出器3
2からの信号を低域フイルタ100に供給し、こ
の低域フイルタ100は制御回路98からの制御
信号の周波数の2倍の周波数よりも低い周波数の
成分だけを通過させる。位相比較器99では低域
フイルタ100から送られてくる信号の位相を制
御回路98から送られてくる信号の位相と比較す
る。位相比較器99の出力信号を例えば制御装置
83に印加して対物レンズ29の位置を補正す
る。
ダイオードレーザ90の運動の周波数はセクタ
アドレス区域や情報区域に書込んだり、読取つた
りする周波数の百分の一以下の程度である。ダイ
オードレーザ90の運動の振幅は情報層6が対物
レンズの焦点深度内に止まるように選択する。こ
の振幅は例えば十分の数μm程度である。
第10図の装置でも放射スポツトの接線位置を
補正するための信号は第7図及び第8図の装置に
つき説明したのと同じ方法で取り出す。
情報トラツクの中心線に対する放射スポツトの
中心の位置を補正するための信号も第7図及び第
8図の装置につき説明したのと同じ方法で取り出
す。従つて零次ビームと1次ビームとが重なり合
う区域内に配置されている2個の検出器を用いて
又は波形形状サーボトラツクを用いて行なう。
殊に米国特許第3941945号明細書から既知のよ
うに、ダイオードレーザ90を読取り装置で使用
する際には一種のフイードバツク効果が生じ、即
ち記録済記録担体で反射されてダイオードレーザ
90に戻つてくる放射がある状態のもとでは更に
放射放出を生ぜしめることがある。その場合放射
強度対電流特性は第11図の実線104ではなく
破線105に沿つて変化する。フイードバツク効
果がある場合には特定電流値C2においてダイオ
ードレーザから放射される放射の強度I4はフイー
ドバツク効果がない場合に同一電流値C2におい
てダイオードレーザから放射される放射の強度I2
よりも高くなる。
このフイードバツク効果を利用してダイオード
レーザ90自体を放射感応検出器として使うこと
ができる。ダイオードレーザ90に反射されてく
る放射の強度は放射スポツトVの位置における層
6の位置の状態に依存する。放射ビームがアドレ
スビツト又は情報ビツトに入射した場合にダイオ
ードレーザが受光する放射の強度は、放射スポツ
トが2個の情報ビツト間又は2個のアドレスビツ
ト間の中間区域に入射した場合の強度とは異なる
ことは明らかである。この放射強度の差異はサー
ボトラツクと情報区域が位相構体であるか又は振
幅構体であるかに依存すること明らかであり、位
相構体の場合は位相深度が重要である。
このフイードバツク効果を利用する装置の好適
例を第12図に示す。
ダイオードレーザ90から放出されたレーザビ
ーム24は鏡105で反射されて対物レンズ29
に送られ、この対物レンズ29により記録担体1
の情報層6上に放射スポツトVとして集束され
る。レーザビーム24の非点収差は円柱レンズ1
04で補正する。記録済記録担体によつて反射さ
れたビームは鏡105によりダイオードレーザ9
0に反射される。ダイオードレーザ90によつて
放出された放射の強度、従つて検出器で受光され
る放射の強度は放射スポツトVの位置における情
報層6の状態によつて決まる。
トラツクに対する放射スポツトVの半径方向位
置と接線速度を補正するサーボ信号は本例でも第
7図及び第8図につき説明した態様で取り出す。
集束誤差を決定するために本例でも第7図に示
すように4個の検出器34a,34b,34c及
び34d並びに光学くさび部材33を設ける。こ
の場合鏡105は記録担体1からの放射を完全に
反射するのではなくこの放射の一部を透過するよ
うにする。このようにして透過した放射ビームは
光学くさび部材33により2個の副ビーム24′
aと24′bとして分割される。これらの副ビー
ム24′a及び24′bは鏡106で反射され、レ
ンズ107により夫々検出器34a,34b及び
検出器34c,34d上に放射スポツトとして集
束される。これらの4個の検出器34a,34b
及び34c,34dの出力信号は先に第8図につ
き説明した態様で処理される。記録済の情報区域
のチエツク動作中にダイオードレーザ90が設定
されているレベル、即ち書込みレベルであるか読
取りレベルであるかに関する表示信号を得るため
に、例えばダイオードレーザ電流が流れる抵抗R
の両端間の電圧を測定することにより電流源10
1により供給される電流を測定することができ
る。
第10図の装置はフイードバツク効果を利用し
ていないことに注意する必要がある。
フイードバツク効果のためにダイオードレーザ
90の電気抵抗も情報層6の放射スポツトVがあ
たつている位置の状態に依存して変化する。この
特性を利用してダイオードレーザ以外の他の放射
感応検出器を含まない装置で以つて記録担体に書
込みを行なつたり、記録済記録担体を読取ること
ができる。斯かる装置の原理を第13図に示す。
ダイオードレーザ90の両端の電圧を結合コンデ
ンサを介して取り出し、これをダイオードレーザ
90を流れる電流で処理すると放射スポツト位置
における情報層6の状態に関する表示信号が得ら
れる。ダイオードレーザ90を流れる電流は抵抗
Rの両端の電圧で表わされる。電流源101と直
列に接続されているコイルLはダイオードレーザ
90の両端子間の信号に対して高インピーダンス
を構成する。
上記方法と上記装置とにより書込みされた記録
済記録担体の好適例はら旋状サーボトラツク又は
反射情報層6内に多数の同心円サブトラツクを含
むサーボトラツクを具え、このサーボトラツクは
位相構体を有する。一トラツク円当り多数のセク
タアドレス部を設けるが、これらも位相構体を有
する。セクタアドレス部の間に振幅構体の形態で
情報が記録される。記録済記録担体を読出す際は
このサーボトラツク構造を使用して情報トラツク
を追跡する。
情報を書込む際には半径方向のサーボ制御によ
り、放射スポツトが蛇行せずに1本のトラツクに
追従するようにするので一般には情報区域は直線
状トラツクに従つて配列される。波形形状サーボ
トラツクを具える記録担体に書込む際は書込み放
射エネルギーの大部分は波形形状サーボトラツク
に入射するので情報区域は波形形状サーボトラツ
クとほぼ一致するトラツクに従つて並ぶ。
上述した装置では1個の放射スポツトを使用す
る。達成可能な情報転送速度Trはレーザの強度
につき切替えまたはスイツチング可能な周波数に
よつて制限され、ダイオードレーザの場合には当
該ダイオードレーザを流れる電流につき切替えま
たはスイツチング可能な周波数によつて制限され
る。更に、最大情報転送速度は記録担体の可能な
回転速度およびトラツクにおける情報区域の最大
空間周波数によつて制限される。特に重要なの
は、最大空間周波数nと、記録担体の特定回転速
度において起る最低トラツク速度との積である。
最大空間周波数は、使用した光学系によつて依然
として個別に読取ることができる区域の空間周波
数である。円形記録担体に対する最低トラツク速
度は半径r0の内部トラツクの速度である。この速
度は関係式2w0×r0で与えられ、ここでw0は記録
担体の毎秒当りの回転数である。レーザの強度に
つきスイツチング可能な最大周波数とは別に、情
報転送速度Trに対しては次の関係式 Tr=2π×w0×r0×n が成立つ。
本発明の書込方法に使用する記録担体の好適例
では最大空間周波数n1.5周期/μm程度であり、
w0は25トラツク円/秒、r0は7mmであつた。従
つてTrは30MHz程度であつた。
情報転送速度は、その強度を個別に制御および
検出できる複数の放射スポツトで以つて書込みお
よび読取りを行うことにより増大することができ
る。その場合多数のダイオードレーザを使用する
ことができる。ダイオードレーザは個別に隣接し
て配置することができるが、合体して一体に形成
することもできる。第14図では複合ダイオード
レーザ90の一例を示し、本例では複合ダイオー
ドレーザ90は4個のレーザ素子901〜904
備える。また複合ダイオードレーザ90はn形
AlGaAsの共通層110を備え、その上に共通電
極110を配置する。4個のp型AlGaAs層11
1〜1124は互に分離して配設し、その上に個
別電極1131〜1134をそれぞれ配設する。4
個の分離領域1141〜1144は能動GaAs領域
であり、これらの分離領域1141〜1144にお
いて個々のダイオードレーザ901〜904に対す
るレーザ動作が生ずる。個々のダイオードレーザ
901〜904は個別電流源1011〜1014によ
つてそれぞれ付勢する。これら個別電流源は個別
制御回路621〜624によつてそれぞれ制御す
る。第14図では発生したレーザビームは読取装
置の方向に指向されている。
第15図に示すように、レーザビーム241
244は第12図におけると同様な光路を辿る。
素子116は例えば円筒レンズとする。第15図
においては第14図の複合ダイオードレーザを底
面図で示してある。個別レーザビーム241〜2
4は対物レンズ29により集束して個別放射ス
ポツトV1〜V4を形成するようにする。かかる光
学系を使用した結果、放射スポツトV1〜V4の間
の距離は対応するレーザ光源901〜904の間の
距離より小さくなる。放射スポツトV4はサーボ
トラツク4上に配置する一方、他の放射スポツト
V1〜V3は所望の相互間距離にて配置し、例えば
隣接する2個のサーボトラツク4の間隔1.6μmに
等しい相互間隔で配置する。情報層6によつて反
射されたレーザビーム241〜244は関連するダ
イオードレーザ901〜904へ戻る。
放射スポツトV1は第12図における放射スポ
ツトVと同一機能を有する。書込みに当りこの放
射スポツトV1はセクタアドレス部を読取り、情
報を書込み、記録された情報区域をチエツクし、
放射スポツトの半径方向および接線方向の位置並
にレーザビームの集束を修正するのに使用する。
使用者により情報を記録された記録担体の読出し
に当つては放射スポツトV1はセクタアドレス部
および情報を読取り、前記サーボ信号を発生させ
るのに使用する。情報層6によつて反射されたレ
ーザビーム241は第12図または第13図に示
したのと同様の態様で処理される。レーザビーム
242〜244は、書込みに際しては、実際の書込
み動作を行なわせかつ記録区域をチエツクするの
に使用され、記録担体の読出しに際しては、情報
の読出しだけに使用される。書込みおよび読出し
に当り、反射されたレーザビーム242〜234
強度は個々のダイオードレーザ902〜904の後
方の放射感応検出器を介して決定することができ
る(第12図における検出器32参照)。また、
前記反射されたレーザビーム242〜244の強度
は第13図におけるダイオードレーザ90につき
前述した如く、個々のダイオードレーザ902
904の端子間の電気抵抗を測定することによつ
て決定することもできる。
複数の放射スポツトを介する書込みに際して
は、サーボトラツク4の隣接トラツク円の相互間
隔が例えば第16図に示す如く6.8μmと比較的大
きい記録担体を使用する。サーボトラツク4はそ
のトラツク円にセクタアドレス部8および情報を
書込むべき区域9を順次備えている。書込み後に
は、サーボトラツク4の区域9に加えて、サーボ
トラツク4の隣接トラツク円の間の区域にも情報
区域が形成される。隣接サーボトラツク4の間の
情報区域は第16図において破線で示したトラツ
ク4′に従つて配設する。また、サーボトラツク
4が波形形状トラツクである場合にも、トラツク
4′は直線トラツクである。情報トラツク4′は振
幅構体を有する一方、サーボトラツク4は位相構
体を有し、区域9が振幅構体の形態で情報を含む
ようにすると好適である。その場合記録担体の読
出しに当りサーボトラツク4を用いて放射スポツ
トの半径方向位置を修正することができる。その
場合サーボトラツク4も直線トラツクにすること
ができる。
以上、本発明の書込方法を、情報層が反射層で
あると仮定して説明したが、代案として、ダイオ
ードレーザにおける帰還作用を使用しないなら
ば、本発明の書込方法を放射透過情報層の場合に
使用することもできる。
放射透過情報層に書込みを行う必要がある場合
には、第7図および第10図における装置の検出
器32を、記録担体を通過する放射ビーム通路に
設けなければならない。その場合集束のためのサ
ーボ信号は、情報層が反射層であるという事実を
利用する第7および8図につき前述した方法によ
つては最早や導出することができない。この目的
のため、例えば特開昭49−80525号(特願昭48−
127147号)に記載されたように、記録担体から到
来する放射ビームにおいて接線方向に前後関係で
2個の検出器を配置するようにすることができ
る。その場合2個の検出器の出力信号の位相差は
放射ビームがトラツクの平面において集束される
範囲に左右される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の情報書込方法に好適な記録担
体の一例の平面図、第2図は第1図の記録担体の
半径方向断面図、第3図は第1図の記録担体のサ
ーボトラツクの接線方向断面図、第4図は波形形
状サーボトラツク付記録担体の一部の平面図、第
5図はそのサーボトラツクの拡大図、第6a及び
6b図は本発明の情報書込方法に好適な記録担体
の他の二例の一部の平面図、第7図は本発明の情
報書込方法に使用するに好適であつて、放射源と
して気体レーザを用いた書込及び読取装置の構成
図、第8図は第7図の装置の電子回路のブロツク
構成図、第9図は集束誤差検出装置の一例の構成
図、第10図は本発明の情報書込方法に使用する
に好適であつて放射源としてダイオードレーザを
用いた書込み及び読取装置の第1の例の構成図、
第11図はダイオードレーザにより放出されるレ
ーザ光の強度変化をダイオードレーザの電流の関
数として示す図、第12図は本発明の情報書込方
法に使用するに好適であつて、放射源としてダイ
オードレーザを用いた書込及び読取装置の第2の
例の構成図、第13図は本発明の情報書込方法に
使用するに好適であつて、放射感応検出器を別個
に用いないようにした書込及び読取装置の要部の
構成図、第14図は複数トラツクを同時に書込み
及び読取るための複合ダイオードレーザの構成を
示す図、第15図は本発明の情報書込方法に使用
するに好適であつて、複数トラツクを同時に書込
み及び読取るようにした装置の構成を示す図、第
16図は第15図の装置により書込まれた記録担
体を示す平面図である。 1……記録担体、4……サーボトラツク、5…
…基板、4′……情報トラツク、6……情報層、
7……セクタ、8……セクタアドレス部、8a…
…アドレス部、8b……同期部、9……トラツク
部、10……微小孔、12……トラツキング区
域、13……同期区域、21……スピンドル、2
2,48……モータ、24,241〜244……放
射ビーム、24′……反射ビーム、25……変調
器、26,27,31,94,95,107……
レンズ、28,37,105,106……鏡、
9,93……対物レンズ、30,57……半透明
鏡、32,34,36……検出器、33……光学
くさび部材、35……補助レンズ、38,39,
44……コイル、46……移動台、47……親ね
じ、50……モータ制御装置、55……電子回
路、56……メモリ、60,64,74……レジ
スタ、62,621〜624,68,71,98…
…制御回路、63……復号兼復調回路、73……
信号処理回路、65……比較器、66,100…
…フイルタ、67,99……位相比較器、69…
…周波数または位相比較器、80,81,84,
85……加算装置、82,86……差動増幅器、
83……集束制御装置、90,901〜904……
ダイオードレーザ、91……電極、92……ロツ
ド、96……圧電板、97……ダイオードレーザ
の運動方向、101,1011〜1014……電流
源、103……取付け板、104……円柱レン
ズ、SFF……集束誤差信号、SPF……位置誤差信
号、V,V1〜V4……放射スポツト、110……
n形AlGaAs共通層、111……共通電極、11
1〜1124……p形AlGaAs層、1131〜11
4……個別電極、1141〜1144……分離領
域、116……円筒レンズ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 円形デイスク状記録担体の情報層内に、放射
    ビームを用いて、トラツク状に配置された光学的
    に検知しうる情報区域の形態で情報を書込むに当
    り、前記放射ビームを前記情報層上に単一放射ス
    ポツトに集束させ、前記情報層および放射スポツ
    トを相対的に移動させ、前記放射ビームの強度
    を、書込むべき情報に応じて、前記情報層内に光
    学的に検知しうる変化を与える第1(書込)レベ
    ルと、検知しうる変化を与えない第2(読取)レ
    ベルとの間で切替え、前記放射スポツトをして前
    記情報層内に設けたサーボトラツクに追随させる
    ようにする情報書込方法において、特定の情報ブ
    ロツクを前記情報層の特定トラツク部分に書込む
    以前に、前記サーボトラツクに存在しかつ書込む
    べきトラツク部分に関するすべてのアドレス情報
    を含むセクタアドレス部を、その強度を前記第2
    レベルへ切替えた単一放射スポツトにより検出す
    ると同時に、前記単一放射スポツトの中心がサー
    ボトラツクの中心線の平均位置と合致するか否か
    をチエツクし、情報ブロツクの書込みに当り前記
    単一放射スポツトにより該単一放射スポツトの中
    心が前記サーボトラツクの中心線と合致するか否
    かをチエツクするようにすることを特徴とする情
    報書込方法。 2 円形デイスク状記録担体の情報層内に、放射
    ビームを用いて、トラツク状に配置された光学的
    に検知しうる情報区域の形態で情報を書込むに当
    り、前記放射ビームを前記情報層上に単一放射ス
    ポツトに集束させ、前記情報層および放射スポツ
    トを相対的に移動させ、前記放射ビームの強度
    を、書込むべき情報に応じて、前記情報層内に光
    学的に検知しうる変化を与える第1(書込)レベ
    ルと、検知しうる変化を与えない第2(読取)レ
    ベルとの間で切替え、前記放射スポツトをして前
    記情報層内に設けたサーボトラツクに追随させる
    ようにする情報書込方法において、特定の情報ブ
    ロツクを前記情報層の特定トラツク部分に書込む
    以前に、前記サーボトラツクに存在しかつ書込む
    べきトラツク部分に関するすべてのアドレス情報
    を含むセクタアドレス部を、その強度を前記第2
    レベルへ切替えた単一放射スポツトにより検出す
    ると同時に、セクタアドレス部が読取られる速度
    を測定し、該速度を、前記セクタアドレス部に対
    応するトラツク部分に書込むべき情報を供給する
    速度を制御するのに使用することを特徴とする情
    報書込方法。 3 円形デイスク状記録担体の情報層内に、放射
    ビームを用いて、トラツク状に配置された光学的
    に検知しうる情報区域の形態で情報を書込むに当
    り、前記放射ビームを前記情報層上に単一放射ス
    ポツトに集束させ、前記情報層および放射スポツ
    トを相対的に移動させ、前記放射ビームの強度
    を、書込むべき情報に応じて、前記情報層内に光
    学的に検知しうる変化を与える第1(書込)レベ
    ルと、検知しうる変化を与えない第2(読取)レ
    ベルとの間で切替え、前記放射スポツトをして前
    記情報層内に設けたサーボトラツクに追随させる
    ようにする情報書込方法において、特定の情報ブ
    ロツクを前記情報層の特定トラツク部分に書込む
    以前に、前記サーボトラツクに存在しかつ書込む
    べきトラツク部分に関するすべてのアドレス情報
    を含むセクタアドレス部を、その強度を前記第2
    レベルへ切替えた単一放射スポツトにより検出
    し、サーボトラツクにおける2個の順次のセクタ
    アドレス部間に配置される光学的に検知し得るト
    ラツキング区域に存在する同期区域に対する前記
    放射スポツトの移動速度を測定し、前記移動速度
    を、対応セクタアドレス部をもつ前記トラツク部
    分の書込可能部分に書込むべき情報を供給する速
    度を制御するのに使用することを特徴とする情報
    書込方法。 4 円形デイスク状記録担体の情報層内に、放射
    ビームを用いて、トラツク状に配置された光学的
    に検知しうる情報区域の形態で情報を書込むに当
    り、前記放射ビームを前記情報層上に単一放射ス
    ポツトに集束させ、前記情報層および放射スポツ
    トを相対的に移動させ、前記放射ビームの強度
    を、書込むべき情報に応じて、前記情報層内に光
    学的に検知しうる変化を与える第1(書込)レベ
    ルと、検知しうる変化を与えない第2(読取)レ
    ベルとの間で切替え、前記放射スポツトをして前
    記情報層内に設けたサーボトラツクに追随させる
    ようにする情報書込方法において、特定の情報ブ
    ロツクを前記情報層の特定トラツク部分に書込む
    以前に、前記サーボトラツクに存在しかつ書込む
    べきトラツク部分に関するすべてのアドレス情報
    を含むセクタアドレス部を、その強度を前記第2
    レベルへ切替えた単一放射スポツトにより検出
    し、その情報層が十分大きい強度の放射スポツト
    に露光された際直ちに光学的に検知し得る変化を
    呈する材料で構成された記録担体に情報を書込む
    に当り、記録に際し書込まれる情報をチエツク
    し、該チエツクを行うため前記情報層から到来す
    る単一放射ビームの一部を利用し、該単一放射ビ
    ームの一部を電気信号に変換し、該電気信号を、
    記録担体の方向に指向させた単一放射ビームの強
    度を示す別の電気信号と共に処理して、丁度書込
    まれたばえりの情報を示す電気情報信号を得るこ
    とを特徴とする情報書込方法。 5 円形デイスク状記録担体の情報層内に、放射
    ビームを用いて、トラツク状に配置された光学的
    に検知しうる情報区域の形態で情報を書込むに当
    り、前記放射ビームを前記情報層上に単一放射ス
    ポツトに集束させ、前記情報層および放射スポツ
    トを相対的に移動させ、前記放射ビームの強度
    を、書込むべき情報に応じて、前記情報層内に光
    学的に検知しうる変化を与える第1(書込)レベ
    ルと、検知しうる変化を与えない第2(読取)レ
    ベルとの間で切替え、前記放射スポツトをして前
    記情報層内に設けたサーボトラツクに追随させる
    ようにする情報書込方法において、特定の情報ブ
    ロツクを前記情報層の特定トラツク部分に書込む
    以前に、前記サーボトラツクに存在しかつ書込む
    べきトラツク部分に関するすべてのアドレス情報
    を含むセクタアドレス部を、その強度を前記第2
    レベルへ切替えた単一放射スポツトにより検出
    し、情報の書込に当りサーボトラツク部分に投影
    される前記単一放射スポツトの他に、多数の付加
    的放射スポツトを前記サーボトラツク部分及びそ
    の隣接サーボトラツク部分の間の記録担体の部分
    に投影し、前記付加的放射スポツトを前記単一放
    射スポトツトに対し整列配置し、前記放射スポツ
    トの強度を書込むべき情報に応じて個別に切替え
    て、前記サーボトラツク部分自体と、前記サーボ
    トラツク部分自体及び前記隣接サーボトラツク部
    分の間における前記記録担体の部分とに同時に情
    報を書込み、前記記録担体の部分に前記付加的放
    射スポツトの数に対応する情報トラツクを形成す
    ることを特徴とする情報書込方法。
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