JPS633370B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁気記録再生装置（以下VTRという）
に使用される磁気ヘツド（以下単にヘツドとい
う）の特性のうち比較的物理的な特性すなわちト
ラツク幅、インダクタンス、絶縁抵抗、導電抵抗
などを一括して半自動的に測定検査する装置を提
供するものである。

アジムス記録方式のVTRにおいては、トラツ
ク角度の異なる２個のヘツドすなわち、Ｌヘツド
とＲヘツドをペアで使用しているので、２つのヘ
ツドの特性の均一性がVTRの性能に大きく影響
をもたらす。従つてＬヘツドとＲヘツドの特性を
測定検査し、２つのヘツドの最も良い組合せを決
定するペアリングが必要である。本発明の装置は
このペアリングを決定するに必要な特性のうちト
ラツク幅、インダクタンスの測定検査と絶縁抵
抗、導通抵抗などを一括して測定するものであ
る。

従来、上記のようなヘツドの物理的な特性の測
定検査は第１図に示す検査工程およびペアリング
工程において、磁気ヘツド組立後、工程１でＬ／
Ｒの区分と同時にトラツク幅の測定を行ない、ヘ
ツドに番号を付与して測定値を記録し、工程２で
電磁変換特性検査後、工程３でインダクタンスの
測定検査を測定器で１個づつ測定し測定値をよみ
とつて記録する。工程４のペアリングで工程１、
同２、同３の測定値のデータによりＬヘツドとＲ
ヘツドの最も良い組合せを決定する。その後工程
５で絶縁抵抗と導通抵抗を測定検査していた。従
つて工程１→（工程２）→工程３→（工程４）→
工程５とヘツドの取扱い及び搬送が多く、ヘツド
を傷つけたり、割つたりする不良トラブルとな
り、また工程５の絶縁検査、導通検査で不良とな
ると工程４までが時間のロスとなり、また測定値
の記録、合格不合格の判定及び選別は手作業とな
り、能率、作業性、信頼性等で問題であつた。

本発明は従来の問題を専用キヤリヤーの開発、
ヘツド搬送機構の開発、ヘツドの物理的な特性の
一括測定検査法の開発、合格不合格ヘツドの自動
選別法の開発により解決した。以下、本発明の一
実施例を図に基づいて説明する。

第２図に本発明実施例の検査工程、ペアリング
工程を示す。工程１でＬ／Ｒ区分後、工程２で電
磁変換特性検査してヘツドに番号を付与して試料
供給キヤリヤーに格納し、工程３の自動測定検査
装置に該試料供給キヤリヤーを装置して物理的な
特性の測定検査を行ない、合格ヘツドのみを合格
試料収納キヤリヤーで取り出し、工程４でペアリ
ングする。従つて、従来３工程で実施していた物
理的な特性の測定検査を、本実施例では１工程で
しかも半自動的に実施するものであつて、能率、
作業性、信頼性を大きく向上させるものである。

第３図および第４図は試料１（この実施例では
磁気ヘツド）の平面図、右側面図を示し、ヘツド
チツプ１ａはプリント板１ｂとともにユニツトベ
ース１ｃに接着固定されている。プリント板１ｂ
には端子Ａ１ｄ、端子Ｂ１ｅが形成され、ヘツド
チツプ１ａに電磁変換を得るために巻線したリー
ド線１ｆの両端部とはんだ付け接続されている。
ユニツトベース１ｃには取付用孔１ｇが開孔され
ている。

第５図は本実施例装置の全体外観図を示し、測
定器ボツクス２は、モニターテレビジヨン３とテ
レビジヨンコントロールユニツト４と、操作表示
パネル５と、測定器６を有し、テーブル７は試料
１の搬送機構部８と、ITVカメラ９を搭載した
顕微鏡１０を有している。１１は制御回路ボツク
スである。試料供給キヤリヤー１２に格納された
試料１は、搬送機構部８で顕微鏡１０の下部の測
定位置に搬送され、該試料１のトラツク幅は、顕
微鏡１０とITVカメラ９で、２本の黒もしくは
白の電子ライン３ａをテレビジヨンコントロール
ユニツト４で移動可能に画面上に発生させたモニ
ターテレビジヨン３に拡大投与され、２本の電子
ライン３ａをトラツク幅位置に合わせると、テレ
ビジヨンコントロールユニツト４により２本の電
子ライン３ａの間隔を顕微鏡１０の像の距離に換
算して操作表示パネル５に表示する。インダクタ
ンス、絶縁抵抗、導通抵抗は試料測定部１３が、
該試料１の端子Ａ１ｄ同Ｂ１ｅと当接し、該試料
測定部１３と接続した測定器６により測定し、操
作表示パネル５に表示する。測定検査で合格、不
合格の判定は制御回路ボツクス１１に内蔵したマ
イクロコンピユータ１４が行ない、不合格の試料
１は搬送機構部８で搬出され、合格の試料１は合
格試料収納キヤリヤー１５に整然と収納される。

次に本発明実施例の主要部である試料１の搬送
機構部８および試料測定部１３を説明する。第６
図および第７図は試料１の搬送機構部８および試
料測定部１３の正面図、平面図で、試料供給キヤ
リヤーと１２を装着し往復移動する試料供給部１
６と、試料案内レール１７に前記試料供給キヤリ
ヤー１２に格納した試料１を押し出し搬送する往
復移動自在な試料押出し部１８と、押し出し搬送
された試料１を前記試料案内レール１７で所定量
の搬送を繰り返す試料順次送り部１９と、順次送
りされた試料１を１個づつ取り出して所定量の間
隔をもつて試料測定部１３に搬送および該試料測
定部１３で測定検査した試料１の取り出し搬送を
行なう試料間隔送り部２０と、測定検査して不合
格となつた試料１を自然落下搬出する不合格試料
落下部２１と、測定検査して合格となつた試料１
を前記試料間隔送り部２０であらかじめ設定した
位置まで搬送すると合格の試料１の下部案内を解
除して自然落下させる合格試料落下部２２と、自
然落下された合格の試料１を整然と収納する合格
試料収納キヤリヤー１５を装着した往復移動する
合格試料収納部２３の各ブロツクで構成してい
る。

２４は試料押し出しプーリでモータ２５と連結
し該試料押し出しプーリ２４に巻回したロープ２
６ａを、ガイドプーリ２７ａ，２７ｂ，２７ｃを
介して前記試料押し出し部１８に固定し、該モー
タ２５の駆動で試料押し出し部１８を矢印ホ，ヘ
方向へ往復移動させ、前記供給キヤリヤー１２に
収納された試料１の搬送をなし得る。２８は試料
順次送りプーリで、パルスモータ２９の回転軸に
連結され、該試料順次送りプーリ２８に巻回した
ロープ２６ｂを、ガイドプーリ２７ｄ，２７ｅ，
２７ｆ，２７ｇを介して前記試料順次送り部１９
に固定し、該パルスモータ２９の駆動で前記試料
案内レール１７の試料１を所定量搬送なし得る。
３０は顕微鏡１０を固定したＸ−Ｙテーブルで固
定板３１および保持板３２を介しテーブル７に固
定され、該顕微鏡１０のＸ方向Ｙ方向の調整はＸ
−Ｙテーブル３０に付設の調整用マイクロメータ
（図示せず）と連動可能に取り付けたパルスモー
タ（図示せず）をＸ調整スイツチ３３とＹ調整ス
イツチ３４で駆動させることにより行なう。Ｚ方
向の調整は該顕微鏡１０のＺ方向調整ツマミ１０
ａと連動可能に取り付けたパルスモータ（図示せ
ず）をＺ調整スイツチ３５で駆動させることによ
り行なう。従つてモニターテレビジヨン３に拡大
投写された試料１のヘツドチツプ１ａの前面形状
の画面上の位置は容易に調整することができる。
３６と３７は前記テレビジヨンコントロールユニ
ツト４と接続され、前記モニターテレビジヨン３
の画面上の２本の電子ライン３ａを画面上に拡大
投与された試料１のトラツク幅に手動回転させて
位置合わせする電子ライン調整ツマミＡ、同Ｂで
ある。３８は測定スイツチである。

第８図は試料１の搬送機構部８のブロツク図を
示す。試料供給キヤリヤー１２に格納された試料
１は各ブロツクで搬送され、試料測定部１３で測
定検査され、合格試料１だけが合格試料収納キヤ
リヤー１５に収納され取り出される。

次に試料１の搬送機構部８および試料測定部１
３を詳細説明する。第９図および第１０図は試料
供給キヤリヤー１２の平面図、右側面図を示す。
試料格納台１２ａは試料１を格納する試料格納溝
１２ｂを複数列、例えば10列有し、試料１を該試
料格納溝１２ｂの１列に複数個例えば10個格納す
る。該試料１の格納される試料格納溝１２ｂには
各々番号が付与してあり、前記第２図の工程２の
電磁変換特性検査で測定検査され番号が付与され
試料１を整列に格納する。前記試料格納台１２ａ
の両側面部には、試料通過溝１２ｄを有したスラ
イド板１２ｃがスライドガイド板Ａ１２ｅ、同Ｂ
１２ｆにより保持され、前記スライド板１２ｃの
ばね掛け板１２ｇと前記試料格納台１２ａに固定
したばね掛け軸１２ｈとばね１２ｉで連結され、
通常（試料供給部１６に装着しない時）は前記試
料格納台１２ａの試料格納溝１２ｂと、前記スラ
イド板１２ｃの試料通過溝１２ｄは位置が食い違
い、前記試料格納溝に格納した試料１の落下を防
止する構成である。試料供給キヤリヤー１２を試
料供給部１６に装着すると、前記スライド板１２
ｅは前記試料格納台１２ａの試料格納溝１２ｂ
と、スライド板１２ｃの試料通過溝１２ｄが位置
合致する位置まで移動なし得、試料１の通過を可
能とする。

第１１図は試料供給部１６の構成図を示す。３
９は試料供給台で、試料供給キヤリヤー１２のス
ライド板１２ｃを規制して移動させる。スライド
板規制台４０を有し（すなわち試料格納溝１２ｂ
と試料通過溝１２ｄとを一致させ）、ボールブツ
シユ４１を内蔵した試料供給台保持台Ａ４２と、
同Ｂ４３とを介してガイド軸４４に摺動可能に取
り付けされている。該ガイド軸４４はガイド軸ホ
ルダー４５を介してテーブル７に固定され、上記
試料供給台保持台Ａ４２には、ボールねじナツト
４６がナツト取付板４７を介して固定されてい
る。ボールねじ４８はテーブル７に固定されかつ
ボールベアリング４９を内蔵したボールねじホル
ダー５０に回転可能に取り付けられている。該ボ
ールねじ４８の一端に取り付けた歯車Ａ５１はモ
ータ取付台５２に固定されたパルスモータ５３の
軸に取付けられた歯車５４とかみ合い、該パルス
モータ５３の回転駆動を前記試料供給台３９に伝
導し、該試料供給台３９を矢印イ，ロ方向へ往復
移動させる。該パルスモータ５３は、前記試料供
給台３９に装着する前記試料供給キヤリヤー１２
の試料格納溝１２ｂの１ピツチ分の送りパルスで
試料１の測定検査の進行に応じて、該試料供給キ
ヤリヤー１２を試料格納溝１２ｂのピツチ（ｐ）
数分のピツチ送り（矢印イ方向）を行なう。つま
り試料供給キヤリヤー１２の１列目の試料格納溝
１２ｂに格納した複数個の試料１が前記試料押し
出し部１８で試料案内レール１７に押し出し搬送
されると、前記パルスモータ５３が駆動し、２列
日の試料格納溝１２ｂが前記試料押し出し部１８
と係合する位置に矢印イ方向へピツチ送りされ
る。ピツチ送りおよび試料１の押し出しが完了す
ると、パルスモータ５３は逆転連続駆動で試料供
給台３９をスタート位置に復帰させる。

第１２図および第１３図は試料案内レール１７
及び不合格試料落下部２１の構成の側面図および
XII−XII矢視図を示す。試料案内レール１７は、試
料案内台Ａ１７ａ、同Ｂ１７ｂ、同Ｃ１７ｃと、
案内台保持台Ａ１７ｄ、同Ｂ１７ｅで構成されて
いる。試料案内台Ａ１７ａと同Ｂ１７ｂとの間に
付設した空隙αには前記試料順次送り部１９の突
起７ａが通過をなし得て試料１の順次送りを可能
とし、試料案内台Ａ１７ａと同Ｃ１７ｃに付設し
た空隙βには前記試料間隔送り部２０の試料送り
軸９４が通過をし得て試料１の間隔送りを可能と
している。第１３図中、ａは試料順次送り部１９
による試料１の順次送り出し位置、ｂは試料１の
測定位置、ｃは試料間隔送り台９２による試料１
のつかみ位置である。５５は上記ｃ位置に配設さ
れた不合格試料落下台で、試料案内レール１７の
一部を形成し、前記試料案内台Ａ１７ａに固定さ
れたガイド軸５６に摺動可能に取り付けされ、該
ガイド軸５６に外嵌し保持板５７で規制したばね
５８で前記試料案内台Ａ１７ａは通常は圧接され
ている。該不合格試料落下台５５はテーブル７に
取付板５９を介して固定したソレノイド６０の可
動軸６０ａと連結した支点軸６１で回動可能な連
動板６２と連動可能に連動軸６３で連結し、該ソ
レノイド６０の動作で不合格試料落下台５５が矢
印ニ方向へ摺動し、試料案内レール１７の一部を
解除する。従つて前記試料測定部１３で測定検査
し不合格の試料１が前記試料間隔送り部２０で不
合格試料落下台５５上に搬送されると、ソレノイ
ド６０に信号が与えられて動作し該不合格の試料
１は自重で間隙１５０内を通つて自然落下し、搬
出される。合格の試料１が搬送されると不合格試
料落下台５５は矢印ハ方向へ移動して、再び試料
案内レールとなる。

第１４図および第１５図は試料押し出し部１８
および試料順次送り部１９の構成図の正面図、正
面図を示す。６４は試料押し出しの突起６４ａを
有した試料押し出し台で、ボールブツシユ６５を
内蔵し、ガイド軸６６に摺動可能に取り付けされ
ている。該ガイド軸６６はテーブル７に固定した
ガイド軸ホルダーＡ６７、同Ｂ６８に保持されて
いる。前記第６図の試料押し出しプーリ２４に巻
回したロープ２６ａを、ガイドプーリ２７ａ，２
７ｂ，２７ｃを介して試料押し出し台１４にロー
プ固定板Ａ６９、同Ｂ７０で固定している。前記
試料押し出し台６４の突起６４ａは、前記試料供
給台３９に装着した試料供給キヤリヤー１２の試
料格納溝１２ｂの１列目の中を該試料供給台３９
がピツチ送りする前の位置で往復移動する位置に
設定され、従つて前記モータ２５の駆動で試料押
し出し台６４は矢印ホ方向へ移動し、突起６４ａ
によつて試料供給キヤリヤーロの試料格納溝１２
ｂ内に格納された試料１を１列同時に前記試料案
内レール１７に押し出し搬送し、押し出しが完了
すると該試料供給キヤリヤー１２のピツチ移動時
に当接しない位置（第１５図状態）に矢印ヘ方向
へ復帰し、次の試料１の押し出しに備える。７１
は試料順次送り台でボールブツシユ（図示せず）
を内蔵し、ガイド軸６６に摺動可能に取り付けさ
れ、前記第７図の試料順次送りプーリ２８に巻回
したロープ２６ｂをガイドプーリ２７ｄ，２７
ｅ，２７ｆ，２７ｇを介して該試料順次送り台７
１にロープ固定板Ｃ７２、同Ｄ７３に固定してい
る。７４は前記試料案内レール１７の空隙α，β
に係合し試料１の順次送りをする突起７４ａを有
した試料順次送り板で、前記試料順次送り台７１
に固定されたガイド軸７５に摺動可能に取付けさ
れ、該ガイド軸７５に外嵌したばね７６で矢印ト
方向へ付勢され、規制板７７に通常は圧接されて
いる。該試料順次送り板７４は、ボールブツシユ
保持板７８に取り付けされたソレノイド７９の可
動軸７９ａと連結した支点軸８０で回動可能な連
動板８１と連動可能に連動軸８２と連結し、該ソ
レノイド７９の動作で矢印ト，チ方向へ摺動す
る。従つて、前記試料押し出し部１８の動作時
は、試料押し出し時位置（第１５図実線位置）で
ソレノイド７９が動作して試料押し出し板７４を
矢印チ方向へ動作させて前記試料案内レール１７
に係合していた突起７４ａを逃がし、試料押し出
しを完全になし得、その状態を維持して、前記パ
ルスモータ２９の連続駆動で前記試料順次送り台
７１を該試料押し出し板７４の突起７４ａが押し
出し搬送された試料１の最後尾の試料端に係合す
る位置まで矢印ヘ方向へ移動させ、その位置で該
ソレノイド７９を復帰させて第１５図仮想線で示
すごとく突起７４ａをレール１７内に挿入し、次
に前記パルスモータ２９を逆転駆動させて、各試
料１を順番に(a)位置へ送り込むものである。

第１６図および第１７図は試料間隔送り部２０
と合格試料落下部２２の構成図の平面図、右側面
図を示し、第１８図は試料間隔送り部２０の詳細
図を示す。８３は摺動板で、ガイド軸８４に摺動
可能に取り付けたボールブツシユ８５を内蔵した
Ｘ方向送り台８６に固定され、該ガイド軸８４は
テーブル７に固定したガイド軸ホルダーＣ８７、
同Ｄ８８に保持されている。８９はエアーシリン
ダーＡでシリンダーロツド８９ａは、ロツドホル
ダーＡ９０を介しボールブツシユ保持板９１と連
結され、該エアーシリンダーＡ８９の動作で摺動
板８３をＸ方向すなわち矢印ホ，ヘ方向への移動
をさせる。９２は試料間隔送り台で、ばね９３を
内蔵し弾性を有した試料送り軸９４と、試料送り
の突起９５ａを複数有した試料送りラツク９５を
具備し、軸受台９６を介しガイド軸９７に摺動可
能に取付けされ、該ガイド軸９７は前記摺動板８
３に固定したガイド軸ホルダー９８に保持されて
いる。９９はエアーシリンダーＢで、前記摺動板
８３に取付台１００を介して固定され、シリンダ
ーロツド９９ａはロツドホルダーＢ１０１を介し
前記試料間隔送り台９２と連結され、該エアーシ
リンダーＢ９９の動作で該試料間隔送り台９２を
Ｙ方向の移動をさせる。従つて該試料間隔送り台
９２はＸ方向、Ｙ方向の移動を行なうことができ
る。試料１の間隔送りを第１８図により詳述す
る。前記試料案内レール１７の(a)位置に前記試料
順次送り部１９で試料１が順次送りされると、前
記試料間隔送り台９２は矢印ヌ方向への移動を行
ない（第１８図は矢印ヌ方向へ移動し終つた状態
を示す）、試料１の取付孔１ｇに試料送り軸９４
が嵌合し、次に該試料１を矢印ホ方向への移動で
測定位置である(b)の位置に取り出し搬送する。次
に矢印リおよびヘ方向への移動を行なつて元の位
置に復帰する。この時前記試料順次送り部１９が
動作し、次の試料１を(a)位置に順次送りする試料
１の測定検査が完了すると、該試料間隔送り台９
２は矢印ヌ，ホ，リおよびヘ方向へのＸ−Ｙ移動
で(a)位置の試料１は(b)位置に、(b)位置の試料１は
(c)位置に搬送される。(c)の位置は前記不合格試料
落下部２１であり、不合格の試料１が(c)位置に搬
送されると自然落下搬出される。合格の試料１は
前記矢印ヌ，ホ，リおよびヘ方向へのＸ−Ｙ移動
で試料送りラツク９５の突起９５ａと係合して搬
送される。１０２，１０３は合格試料１の落下案
内をする上シユーター、下シユーターで結合板１
０４で結合され、シユータ固定台１０５を介しテ
ーブル７に固定されている。１０６は合格試料１
の案内レールの一部を形成した合格試料落下台
で、ガイド軸１０７に摺動可能に取り付けされ、
該ガイド軸１０７は、一端を前記上シユーター１
０２に保持され、一端を取付傾斜台１０８に固定
されたガイド軸ホルダー１０９に保持されてい
る。１１０はエアーシリンダーＣで、前記取付傾
斜台１０８に取付台１１１を介して固定され、シ
リンダーロツド１１０ａ、ロツドホルダーＣ１１
２を介し合格試料落下台１０６と連結され、該エ
アーシリンダーＣ１１０の動作で該合格試料落下
台１０６は矢印ル，ヲ方向へ摺動し、合格試料１
の案内レールの一部を解除する。従つて合格試料
があらかじめ設定した位置に搬送されると、エア
ーシリンダーＣ１１０が動作し、合格試料落下台
１０６に案内されていた合格の試料１は全数自重
で、前記上シユーター１０２と下シユーター１０
３に設けた合格試料落下案内溝１１３に案内され
て自然落下する。１１４は試料案内台Ｄで、案内
台保持台Ｃ１１５、同Ｄ１１６を介し前記上シユ
ーター１０２に固定されている。

第１９図は合格試料収納部２３の構成図を示
す。１１７は合格試料収納台で、前記合格試料収
納キヤリヤー１５を装着し、ボールブツシユ１１
８を内蔵した収納台保持台Ａ１１９と同Ｂ１２０
を介してガイド軸１２１に摺動可能に取り付けさ
れ、該ガイド軸１２１はガイド軸ホルダーＡ１２
２と同Ｂ１２３を介して固定され、該収納台保持
台Ａ１１９には、ボールねじナツト１２４がナツ
ト取付板１２５を介して固定されている。ボール
ねじ１２６は、前記ガイド軸ホルダーＡ１２２に
固定されたボールベアリング１２７を内蔵したボ
ールねじホルダーＡ１２８と、ボールねじ取付板
Ａ１２９、同Ｂ１３０を介して固定したボールベ
アリング１２７を内蔵したボールねじホルダーＢ
１３１とに回転可能に取り付けされている。該ボ
ールねじ１２６の一端に取り付けた歯車Ａ１３２
は、ボールねじ取付板Ａ１２９にモータ取付台１
３３を介して固定されたパルスモータ１３４の軸
に取り付けた歯車Ｂ１３５とかみ合い、該パルス
モータ１３４の回転駆動を、前記合格試料収納台
１１７に伝導し、この合格試料収納台１１７を矢
印ワ，カ方向へ往復移動させる。該パルスモータ
１３４は、前記合格試料収納台１１７に装着する
前記合格試料収納キヤリヤー１５の合格試料収納
傾斜枠１５ａの１ピツチ分の送りパルスで合格試
料１の収納に応じて、該合格試料収納キヤリヤー
１５を合格試料収納傾斜枠１５ａのピツチ（ｐ）
数分の矢印ワ方向へのピツチ送りを行なう。つま
り合格試料収納キヤリヤー１５の１列目の合格試
料収納傾斜枠１５ａに合格試料１が収納される
と、前記パルスモータ１３４が駆動し、２列目の
合格試料収納傾斜枠１５ａが、前記合格試料落下
部２２の合格試料の落下する位置と係合する位置
にピツチ送りされる。ピツチ送りおよび合格試料
１の収納が完了すると、パルスモータ１３４は逆
転連続駆動で合格試料収納台１１７をスタート位
置（第１９図位置）に復帰させる。

第２０図および第２１図は合格試料収納キヤリ
ヤー１５の平面図、右側面図を示す。合格試料収
納キヤリヤー１５は合格試料１を収納する前記試
料供給キヤリヤー１２の試料格納溝１２ｂの１列
に格納される試料数と同一の合格試料収納傾斜枠
１５ａを１列に、かつ前記試料格納溝１２ｂと同
数列有し、各々の合格試料収納傾斜枠１５ａには
前記試料格納溝１２ｂに付与した番号と、対応す
る位置に同番号が付与されている。従つて前記合
格試料落下部２２より自然落下された合格試料
は、前記試料供給キヤリヤー１２の試料番号と同
番号の指定ある合格試料収納キヤリヤー１５の合
格試料収納傾斜枠１５ａに整然と収納される。

第２２図および第２３図は試料測定部１３の構
成図の平面図、右側面図を示す。１３６は測定台
で、ばね１３７を内蔵し弾性を有する試料固定軸
１３８と、同じくばねを内蔵し弾性を有する絶縁
板１３９に保持した測定ピン１４０を有し、ガイ
ド軸１４１に摺動可能に取り付けされている。該
ガイド軸１４１は基板１４２に固定されたガイド
軸ホルダー１４３に取り付けされている。該基板
１４２は取付板１１４を介してテーブル７に固定
されている。１４５はエアーシリンダーＤで、前
記基板１４２に取付台１４６を介して固定され、
シリンダーロツド１４５ａはロツドホルダーＤ１
４７を介し前記測定台１３６と連結され、該エア
ーシリンダーＤ１４５の動作で該測定台１３６を
移動させる。従つて前記試料間隔送り部２０で前
記第１８図の(b)の測定位置に搬送された試料１の
取付孔１ｇに、前記試料固定軸１３８が嵌合し押
圧固定すると同時に、前記測定ピン１４０が該試
料１の端子Ａ１ｄ、同Ｂ１ｅに当接し、該試料１
の物理的特性の測定検査を可能とする。

以上説明したように本発明は次のような効果を
呈する。

試料測定部で、試料、たとえば磁気ヘツドを
押圧し位置固定すると同時に測定ピンが磁気ヘ
ツドの端子に当接するものである。したがつて
該測定ピンと接続した測定器により、インダク
タンス、絶縁抵抗、導通抵抗を一括して測定検
査し、一方トラツク幅の測定を同時におこなつ
て、モニターテレビジヨンの画面上の２本の電
子ラインを拡大投写された磁気ヘツドのトラツ
ク幅に位置合致させ測定することができ、測定
時間の大幅な短縮が得られる。

試料の合格、不合格の判定を測定検査後ただ
ちに行ない、その結果により不合格の試料を落
下搬出し、合格の試料だけを合格試料収納キヤ
リヤーに整列収納することができる。従つて不
合格の試料の選別搬出が不要で、かつ合格、不
合格の試料の合否割合が容易に判断できる。

試料供給キヤリヤーは本装置に使用しない状
態では、両側に付設したスライド板が試料の落
下を防止する位置にあり、試料の運搬が容易に
行なえ有効的な活用ができる。

試料供給キヤリヤーに整列して格納した試料
を、１列の複数個を同時に試料案内レールに沿
つて搬送し得、搬送された試料は所定量の順次
送りと、所定量の間隔送りで測定位置に搬送さ
れて測定検査することにより、試料供給キヤリ
ヤーから１個づつ取り出す必要がなく、時間の
短縮化ができる。

不合格の試料の搬出と、合格の試料の合格試
料供給キヤリヤーへの収納を試料の自重で自然
落下させて可能ならしめたことにより、特別な
手段を採用せずに簡略化が得られる。

合格試料収納キヤリヤーにおいて、不合格の
試料が入る箇所を欠番にすることにより、試料
の番号を合格試料収納キヤリヤーの各試料収納
傾斜枠に付与した番号にて決定することがで
き、試料の取り出し等が容易である。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の検査およびベアリング工程図、
第２図以下は本発明の一実施例を示し、第２図は
検査およびペアリング工程図、第３図は被測定物
試料（磁気ヘツド）の正面図、第４図は同右側面
図、第５図は自動測定検査装置の全体外観図、第
６図は試料の搬送機構部の全体構成を示す正面
図、第７図は同平面図、第８図は試料の搬送機構
部のブロツク図、第９図は試料供給キヤリヤーの
構成を示す平面図、第１０図は同右側面図、第１
１図は試料供給部の構成図、第１２図は試料案内
レールおよび合格試料落下部の構成を示す側面
図、第１３図は第１２図のXII−XII矢視図、第１４
図は試料押し出し部および試料順次送り部の構成
を示す正面図、第１５図は同平面図、第１６図は
試料間隔送り部および合格試料落下部の構成を示
す平面図、第１７図は同右側面図、第１８図は試
料間隔送り部の詳細図、第１９図は合格試料収納
部の構成図、第２０図は合格試料収納キヤリヤー
の平面図、第２１図は同右側面図、第２２図は試
料測定部の構成を示す平面図、第２３図は同右側
面図である。 １……試料、１２……試料供給キヤリヤー、１
２ａ……試料格納台、１２ｂ……試料格納溝、１
２ｃ……スライド板、１２ｄ……試料通過溝、１
３……試料測定部、１５……合格試料収納キヤリ
ヤー、１５ａ……合格試料収納傾斜枠、１６……
試料供給部、１７……試料案内レール、１８……
試料押し出し部、１９……試料順次送り部、２０
……試料間隔送り部、２１……不合格試料落下
部、２２……合格試料落下部、５２……モータ、
５３……パルスモータ、５５……不合格試料落下
台、６０……ソレノイド（駆動装置）、６４……
試料押し出し台、７１……試料順次送り台、７９
……ソレノイド（駆動装置）、８９……エアーシ
リンダー、９２……試料間隔送り台、９５……試
料送りラツク、９９……エアーシリンダー、１０
６……合格試料落下台、１１０……エアーシリン
ダー、１１７……合格試料収納台、１３４……パ
ルスモータ、１３８……試料固定軸（押圧体）、
１４０……測定ピン、１４５……エアーシリンダ
ー。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被測定試料を格納する試料供給キヤリヤー
   と、試料測定部と、上記試料供給キヤリヤー内の
   適当数の試料を試料案内レールに沿つて上記試料
   測定部に送り込む試料送り込み手段と、上記試料
   測定部において測定された試料をこの測定部から
   送り出す送り出し手段と、該送り出し手段により
   送り出されてきた試料のうち、合格のものを収納
   する合格試料収納部と、不合格のものを収納する
   不合格試料収納部とを備え、 上記試料供給キヤリヤーに、試料格納溝を複数
   列有する試料格納台と、該格納台の両側面にこの
   側面に沿つて一定小範囲内往復移動自在に配設さ
   れると共に試料通過溝を試料格納溝と同数有する
   スライド板と、該スライド板を各試料通過溝が各
   試料格納溝に一致しないように一方向へ付勢する
   ばねとを有せしめ、 上記試料測定部に、試料を押圧固定する押圧体
   と、押圧固定された試料の接続端子に当接する測
   定ピンとを有せしめ、 上記試料送り込み手段に、上記試料供給キヤリ
   ヤーの各試料格納溝内の各試料を試料案内レール
   まで押し出す試料押し出し部と、該押し出し部に
   より押し出されてきた各試料を順番に上記試料測
   定部に送り込む試料順次送り部とを有せしめ、 上記送り出し手段に、上記試料送り込み手段に
   より送り込まれてきた各試料に係合してこの各試
   料を１個づつ測定位置にもたらし、さらにこの測
   定位置から搬出する試料送り軸と、該試料送り軸
   により搬出されてきた試料の両側面に突起が当接
   してこの試料を送り出す試料送りラツクをもつた
   試料間隔送り部とを有せしめ、 上記合格試料収納部に、上記送り出し手段の下
   方において上記試料案内レールに接続された合格
   試料落下台と、該合格試料落下台上の所定位置に
   合格試料が達したのを検知して、その検知指令に
   より合格試料落下台を案内レールから外して合格
   試料を自然落下させる駆動装置を有せしめ、 上記不合格試料収納部に、上記試料間隔送り部
   の下方において上記試料案内レールの一部を形成
   する不合格試料落下台と、試料測定部からの不合
   格指令にもとづいて上記試料落下台を案内レール
   から外して不合格試料を自然落下させる駆動装置
   を有せしめることを特徴とする自動測定検査装
   置。 ２ 試料供給キヤリヤーは、各試料格納溝のピツ
   チと同ピツチづつピツチ送りされることを特徴と
   する特許請求の範囲第１項記載の自動測定検査装
   置。 ３ 合格試料収納部に合格試料収納キヤリヤーを
   配設し、該合格試料収納キヤリヤーに、試料供給
   キヤリヤーの試料格納溝内の試料と同数の合格試
   料収納傾斜枠を設け、該各傾斜枠に試料格納溝内
   の各試料に対応する番号を付したことを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項記載の自動測定検査装
   置。