JPS6337465B2 - - Google Patents
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- JPS6337465B2 JPS6337465B2 JP60155295A JP15529585A JPS6337465B2 JP S6337465 B2 JPS6337465 B2 JP S6337465B2 JP 60155295 A JP60155295 A JP 60155295A JP 15529585 A JP15529585 A JP 15529585A JP S6337465 B2 JPS6337465 B2 JP S6337465B2
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- connector
- probe
- coaxial cable
- ground
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R24/00—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure
- H01R24/38—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts
- H01R24/40—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure having concentrically or coaxially arranged contacts specially adapted for high frequency
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07371—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R2103/00—Two poles
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
以下の順序で本発明を説明する。
A 産業上の利用分野
B 開示の概要
C 従来技術
D 発明が解決しようとする問題点
E 問題点を解決するための手段
F 実施例
f1 インターフエイス装置(第1図)
f2 インターフエイス装置の詳細図(第2図)
f3 同軸コネクタ(第3図)
f4 単一の同軸コネクタ(第4図)
f5 同軸コネクタの一実施例(第5図)
f6 2つのコネクタを接続する実施例(第6
図) G 発明の効果 A 産業上の利用分野 本発明は同軸ケーブルを一端で受け取り、他端
がわの平面に配された信号線用端子および接地用
端子に同軸ケーブルの信号線およびシールド線を
それぞれ電気的に結合する同軸ケーブル用インタ
ーフエース装置に関する。
図) G 発明の効果 A 産業上の利用分野 本発明は同軸ケーブルを一端で受け取り、他端
がわの平面に配された信号線用端子および接地用
端子に同軸ケーブルの信号線およびシールド線を
それぞれ電気的に結合する同軸ケーブル用インタ
ーフエース装置に関する。
B 開示の概要
本発明の集積回路チツプのためのテスト装置の
様な装置に同軸ケーブルの組を相互接続するシス
テムは装着の対応端子と整置してコネクタの各々
を電気的に位置付ける導電材料の関孔板を含む。
各コネクタはコネクタのハウジングから絶縁さ
れ、同軸ケーブルの内部導線と装置の対応する端
子と接続するばねロード・プローブを含む。又板
中には信号復帰プローブが与えられ同軸ケーブル
の外側の導線と電気的に接続し、装置の対応する
端子に対応する信号復帰経路を与える。代替実施
例において、簡単な接続は単一のコネクタ及びコ
ネクタのハウジングの肩から延出す単一信号復帰
プローブの使用によつて行われる。又対向する一
対のコネクタをつつみそれ等のハウジングと電気
的に接触する円筒スリーブを使用して一対のケー
ブルを結合出来る。
様な装置に同軸ケーブルの組を相互接続するシス
テムは装着の対応端子と整置してコネクタの各々
を電気的に位置付ける導電材料の関孔板を含む。
各コネクタはコネクタのハウジングから絶縁さ
れ、同軸ケーブルの内部導線と装置の対応する端
子と接続するばねロード・プローブを含む。又板
中には信号復帰プローブが与えられ同軸ケーブル
の外側の導線と電気的に接続し、装置の対応する
端子に対応する信号復帰経路を与える。代替実施
例において、簡単な接続は単一のコネクタ及びコ
ネクタのハウジングの肩から延出す単一信号復帰
プローブの使用によつて行われる。又対向する一
対のコネクタをつつみそれ等のハウジングと電気
的に接触する円筒スリーブを使用して一対のケー
ブルを結合出来る。
C 従来技術
同軸ケーブルは電気信号の伝送に広く使用され
ている。この様なケーブルはその軸に沿つて配向
された内部導線及びシールドもしくはスリーブ状
に内部導線のまわりに配置された外部導線を有す
る。内部及び外部導線はケーブルに所望のインピ
ーダンスを与えるために適切な誘電特性を有する
絶縁材料の同軸層によつて分離されている。この
様なケーブルは大きな直径のものや小さな直径の
ものなど、種々の寸法のものが製造されている。
ケーブルの終端のコネクタはコネクタ部品の配列
の中でも同軸構造を保持している。コネクタは通
常雄及び雌の配偶体として構成され、コネクタを
互にしつかりと係合するための空間的な溝及び歯
の様なロツク装置を含む。
ている。この様なケーブルはその軸に沿つて配向
された内部導線及びシールドもしくはスリーブ状
に内部導線のまわりに配置された外部導線を有す
る。内部及び外部導線はケーブルに所望のインピ
ーダンスを与えるために適切な誘電特性を有する
絶縁材料の同軸層によつて分離されている。この
様なケーブルは大きな直径のものや小さな直径の
ものなど、種々の寸法のものが製造されている。
ケーブルの終端のコネクタはコネクタ部品の配列
の中でも同軸構造を保持している。コネクタは通
常雄及び雌の配偶体として構成され、コネクタを
互にしつかりと係合するための空間的な溝及び歯
の様なロツク装置を含む。
同軸ケーブルを使用して半導体マイクロ回路を
テストする事に特に興味がもたれる様になつた。
複雑な回路ではテスト装置に接続される端子が多
く、従つて半導体マイクロ回路をテスト装置に接
続するのに、多くのケーブルを使用しなければな
らない。パツドの形の電極を有するチツプとして
形成されたマイクロ回路のテストの場合には、最
小の寸法の同軸ケーブルで接続するとしても、パ
ツドの寸法及び間隔は極めて小さ過ぎる。従つ
て、パツドの組及び同軸ケーブル接続体間をイン
ターフエイスする装置が形成された。
テストする事に特に興味がもたれる様になつた。
複雑な回路ではテスト装置に接続される端子が多
く、従つて半導体マイクロ回路をテスト装置に接
続するのに、多くのケーブルを使用しなければな
らない。パツドの形の電極を有するチツプとして
形成されたマイクロ回路のテストの場合には、最
小の寸法の同軸ケーブルで接続するとしても、パ
ツドの寸法及び間隔は極めて小さ過ぎる。従つ
て、パツドの組及び同軸ケーブル接続体間をイン
ターフエイスする装置が形成された。
この様なインターフエイス装置の使用に伴う問
題はインターフエース装置の帯域幅と物理的寸法
との間の妥協点を見い出して標準の同軸コネクタ
を使用可能にする点にある。従つて現在使用可能
なコネクタの物理的寸法がインターフエイス装置
に制限を加える。この事はインターフエイス装置
がマイクロ回路のパツドの空間的配列を同軸構造
体の空間的配列に変換する装置である事を考えれ
ば容易に明らかであろう。
題はインターフエース装置の帯域幅と物理的寸法
との間の妥協点を見い出して標準の同軸コネクタ
を使用可能にする点にある。従つて現在使用可能
なコネクタの物理的寸法がインターフエイス装置
に制限を加える。この事はインターフエイス装置
がマイクロ回路のパツドの空間的配列を同軸構造
体の空間的配列に変換する装置である事を考えれ
ば容易に明らかであろう。
現在使用されているコネクタは平坦な表面と係
合する様には構成されていないので、たとえマイ
クロ回路のパツドが拡大されても、コネクタ及び
パツド間を直接接続することは出来ない。
合する様には構成されていないので、たとえマイ
クロ回路のパツドが拡大されても、コネクタ及び
パツド間を直接接続することは出来ない。
D 発明が解決しようとする問題点
本発明の目的は、半導体マイクロ回路等の装置
をテストするのに最適な同軸ケーブル用インター
フエース装置を与える事にある。
をテストするのに最適な同軸ケーブル用インター
フエース装置を与える事にある。
E 問題点を解決するための手段
この発明では以上の目的を達成するために、導
電性の板状の保持部材の貫通孔に同軸ケーブル用
コネクタおよび接地用コネクタを挿着する。同軸
ケーブル用コネクタを保持部材に取り付けるに際
しては同軸ケーブルの信号線に結合されるピン部
材が保持部材から絶縁されるようにし、他方この
ピン部材を往復動自在に支持するプローブ本体が
電気的かつ機械的に結合されるようにする。この
場合プローブ本体は同軸ケーブルのシールド線に
結合されるようになつている。またピン部材の一
端は保持部材から突出するようで偏倚されてい
る。他方接地用コネクタは保持部材に機械的かつ
電気的に結合され、この結果、シールド線が接地
コネクタに電気的に接続される。
電性の板状の保持部材の貫通孔に同軸ケーブル用
コネクタおよび接地用コネクタを挿着する。同軸
ケーブル用コネクタを保持部材に取り付けるに際
しては同軸ケーブルの信号線に結合されるピン部
材が保持部材から絶縁されるようにし、他方この
ピン部材を往復動自在に支持するプローブ本体が
電気的かつ機械的に結合されるようにする。この
場合プローブ本体は同軸ケーブルのシールド線に
結合されるようになつている。またピン部材の一
端は保持部材から突出するようで偏倚されてい
る。他方接地用コネクタは保持部材に機械的かつ
電気的に結合され、この結果、シールド線が接地
コネクタに電気的に接続される。
この発明によれば一端で同軸ケーブルを受け取
り、その信号線およびシールド線を、他端の平面
に配された信号線用端子および接地用端子にそれ
ぞれ結合させることができ、しかも簡易に複数の
接地用コネクタを設けることができる(たんに接
地用コネクタを保持部材の孔部に挿入するだけで
よく、他に配線が不要である)。
り、その信号線およびシールド線を、他端の平面
に配された信号線用端子および接地用端子にそれ
ぞれ結合させることができ、しかも簡易に複数の
接地用コネクタを設けることができる(たんに接
地用コネクタを保持部材の孔部に挿入するだけで
よく、他に配線が不要である)。
F 実施例
次に本発明の好ましい実施例について説明す
る。説明は2つの部分に分れる。先ず、本発明の
コネクタを有利に使用したインターフエイス装置
が第1図及び第2図を参照して説明される。残り
の図はコネクタの実施例を説明するのに使用され
る。第3図の実施例は特にインターフエイス装置
に有用である。第1図及び第2図のインターフエ
イス装置はテスト取付け構造体として示されてい
る。
る。説明は2つの部分に分れる。先ず、本発明の
コネクタを有利に使用したインターフエイス装置
が第1図及び第2図を参照して説明される。残り
の図はコネクタの実施例を説明するのに使用され
る。第3図の実施例は特にインターフエイス装置
に有用である。第1図及び第2図のインターフエ
イス装置はテスト取付け構造体として示されてい
る。
f1 インターフエイス装置(第1図)
第1図及び第2図を参照するに、テスト取付け
構造体10は間隔変換器12を含み、その底部に
はプローブ組立体14が取付けられていて保持器
13上のテストされる集積回路15の端子パツド
と接触する様になつている。構造体10、即ち変
換器12及びプローブ(組立体)14は各々正方
形(もしくは長方形)をなし、プローブ14の寸
法は変換器12の寸法よりもはるかに小さく、集
積回路15とインターフエイスをなす様になつて
いる。
構造体10は間隔変換器12を含み、その底部に
はプローブ組立体14が取付けられていて保持器
13上のテストされる集積回路15の端子パツド
と接触する様になつている。構造体10、即ち変
換器12及びプローブ(組立体)14は各々正方
形(もしくは長方形)をなし、プローブ14の寸
法は変換器12の寸法よりもはるかに小さく、集
積回路15とインターフエイスをなす様になつて
いる。
さらに構造体10は正方形のコネクタ板12
0、信号コネクタ保持板122、中央コネクタ板
172、側壁20、間隔変換器キヤツプ16及び
位置付けネスト18を含んでいる。間隔変換器1
2及び剛体のテスト・プローブ14の詳細は1984
年9月21日同時出願の米国特許出願第652981号に
説明されている。
0、信号コネクタ保持板122、中央コネクタ板
172、側壁20、間隔変換器キヤツプ16及び
位置付けネスト18を含んでいる。間隔変換器1
2及び剛体のテスト・プローブ14の詳細は1984
年9月21日同時出願の米国特許出願第652981号に
説明されている。
構造体10の詳細について説明する。正方形の
コネクタ板120は接地された、金めつき黄銅の
様な導電度の高い金属である事が好ましい。正方
形のコネクタ120を垂直に貫通する開孔はその
中に信号コネクタ180及び接地コネクタ162
を位置付け、これ等のコネクタ180,162と
の電気的接続を与える。コネクタ162,180
については以下第3図に関して詳細に説明され
る。しかしながら、ここではこれ等のコネクタは
中心の導線が圧縮可能なばねでロードされた可動
なばねロード型のものである事を述べるだけで十
分である。従つてコネクタ162,180とコネ
クタ板120の間の導電性のインターフエイスは
コネクタ162,180への最短の最も抵抗の少
ない接地接続を与える。接地コネクタ162は正
方形のコネクタ板120に適切に保持される様に
板120の間にプレスばめされる事が好ましい。
コネクタ板120は接地された、金めつき黄銅の
様な導電度の高い金属である事が好ましい。正方
形のコネクタ120を垂直に貫通する開孔はその
中に信号コネクタ180及び接地コネクタ162
を位置付け、これ等のコネクタ180,162と
の電気的接続を与える。コネクタ162,180
については以下第3図に関して詳細に説明され
る。しかしながら、ここではこれ等のコネクタは
中心の導線が圧縮可能なばねでロードされた可動
なばねロード型のものである事を述べるだけで十
分である。従つてコネクタ162,180とコネ
クタ板120の間の導電性のインターフエイスは
コネクタ162,180への最短の最も抵抗の少
ない接地接続を与える。接地コネクタ162は正
方形のコネクタ板120に適切に保持される様に
板120の間にプレスばめされる事が好ましい。
電力コネクタ181,181′も中央コネクタ
板172を略垂直に貫通する開孔中にプレスばめ
される。中央コネクタ板172はAF DELRIN
の如き、十分な構造上の強さを有する優れた誘電
体材料である点で正方形のコネクタ板120とは
著しく異なつている。従つて電力コネクタ181
は追加の絶縁体を要求としないので、設計及び構
造が簡単になる。中央コネクタ板172は一般に
正方形をなし、正方形のコネクタ板120の中央
の開孔内にはめ合にされる様な寸法を有し、中央
のブレース30のまわりに存在する事が好まし
い。電力コネクタ181は全体がシールドされて
いないので、減結合コンデンサ182が十分短か
い接続リードによつて容易に接続出来、望ましく
ない寄生インダクタンスの導入を避ける事が出来
る。
板172を略垂直に貫通する開孔中にプレスばめ
される。中央コネクタ板172はAF DELRIN
の如き、十分な構造上の強さを有する優れた誘電
体材料である点で正方形のコネクタ板120とは
著しく異なつている。従つて電力コネクタ181
は追加の絶縁体を要求としないので、設計及び構
造が簡単になる。中央コネクタ板172は一般に
正方形をなし、正方形のコネクタ板120の中央
の開孔内にはめ合にされる様な寸法を有し、中央
のブレース30のまわりに存在する事が好まし
い。電力コネクタ181は全体がシールドされて
いないので、減結合コンデンサ182が十分短か
い接続リードによつて容易に接続出来、望ましく
ない寄生インダクタンスの導入を避ける事が出来
る。
信号コネクタ保持板122はコネクタ板120
の上に設置され、中央コネクタ板172の一部と
重なつていてこれ等の板を夫々の位置に保持する
様になつている。保持板122は中央及び正方形
のコネクタ板120,172を保持するに十分な
構造上の力を有するAF DELRINの様な誘電体
の材料より成る事が好ましい。
の上に設置され、中央コネクタ板172の一部と
重なつていてこれ等の板を夫々の位置に保持する
様になつている。保持板122は中央及び正方形
のコネクタ板120,172を保持するに十分な
構造上の力を有するAF DELRINの様な誘電体
の材料より成る事が好ましい。
開孔124,126(第3図に一番よく示され
ている)は保持板122を略垂直に貫通している
事が好ましく配線リードがこれを通つて必要に応
じて信号コネクタ180に達し、接地コネクタ1
62に対しては立体的なすき間を与える事が好ま
しい。信号コネクタ180のための開孔はコネク
タの外側の表面上に与えられたフランジ上にはめ
合いに出来る様に中ぐりされる事が好ましい。こ
れ等のフランジは以下第3図に関して詳細に説明
される様に、コネクタ180が正方形のコネクタ
板120中にプレスばめに出来る程深いだけでな
く、信号コネクタ保持板122がコネクタのリー
ド線に対する応力逃しを与えるものである。開孔
は必要に応じて信号コネクタ保持板122中にも
与えられ接地コネクタ162の上部がさまたげら
れずに正方形のコネクタ板120上に延出す様に
なつている。軽量の構造用アルミニウム合金より
形成される事が好ましい側壁20はいくつかのね
じ34によつて支持ブリツジ22に取付けられる
フランジ23を有する。ねじ組立体25は内部が
ねじ切りされた導入体24、これと係合するねじ
28及びしめ付けナツト32を含み、ブリツジ2
2の中央でブレース30に調節可能な圧力を与え
る様になつている。フランジ21は側壁20の内
部表面上に与えられ、十分内側に延びて板122
の上の端の表面と接触する様になつている。変換
器位置付けテスト18がいくつかの中ぐりねじ3
6によつて側壁20の底端に取付けられていて、
側壁20の内方に延び正方形のコネクタ板120
の底端部と接し、保持板122の位置付けを確実
にしている。変換器キヤツプ16は一組の保持セ
グメントから形成され、いくつかの中ぐりねじ3
8によつて、位置付けネスト18を通り側壁20
に取付けられている。
ている)は保持板122を略垂直に貫通している
事が好ましく配線リードがこれを通つて必要に応
じて信号コネクタ180に達し、接地コネクタ1
62に対しては立体的なすき間を与える事が好ま
しい。信号コネクタ180のための開孔はコネク
タの外側の表面上に与えられたフランジ上にはめ
合いに出来る様に中ぐりされる事が好ましい。こ
れ等のフランジは以下第3図に関して詳細に説明
される様に、コネクタ180が正方形のコネクタ
板120中にプレスばめに出来る程深いだけでな
く、信号コネクタ保持板122がコネクタのリー
ド線に対する応力逃しを与えるものである。開孔
は必要に応じて信号コネクタ保持板122中にも
与えられ接地コネクタ162の上部がさまたげら
れずに正方形のコネクタ板120上に延出す様に
なつている。軽量の構造用アルミニウム合金より
形成される事が好ましい側壁20はいくつかのね
じ34によつて支持ブリツジ22に取付けられる
フランジ23を有する。ねじ組立体25は内部が
ねじ切りされた導入体24、これと係合するねじ
28及びしめ付けナツト32を含み、ブリツジ2
2の中央でブレース30に調節可能な圧力を与え
る様になつている。フランジ21は側壁20の内
部表面上に与えられ、十分内側に延びて板122
の上の端の表面と接触する様になつている。変換
器位置付けテスト18がいくつかの中ぐりねじ3
6によつて側壁20の底端に取付けられていて、
側壁20の内方に延び正方形のコネクタ板120
の底端部と接し、保持板122の位置付けを確実
にしている。変換器キヤツプ16は一組の保持セ
グメントから形成され、いくつかの中ぐりねじ3
8によつて、位置付けネスト18を通り側壁20
に取付けられている。
キヤツプ16の保持セグメントの各々には内側
に延びるフランジ17が与えられていて、間隔変
換器12の底端部と係合している。キヤツプ16
の寸法は間隔変換器12の上方表面がコネクタ板
120,172の底面に沿つて一様な間隔で位置
付けられる様に間隔変換器12をコネクタ板12
0,172に取付けるのに適切なものである事が
好ましい。
に延びるフランジ17が与えられていて、間隔変
換器12の底端部と係合している。キヤツプ16
の寸法は間隔変換器12の上方表面がコネクタ板
120,172の底面に沿つて一様な間隔で位置
付けられる様に間隔変換器12をコネクタ板12
0,172に取付けるのに適切なものである事が
好ましい。
間隔変換器12をコネクタ板120,172に
接近する様に移動する際に、種々のコネクタのば
ねでロードされた中央の導線は第3図に関して説
明される様に夫々のコネクタの体内に押込められ
る。その抵抗力は初めは略10gで、最後は20gで
ある事が好ましい。間隔変換器12とコネクタ板
120,172間のギヤツプは実際に可能な限り
小さい方が好ましく、信号プローブ(信号コネク
タ)180がギヤツプを横切る時の信号プローブ
180の中心の導体のシールドされていない部分
の長さが最小にされる事が好ましい。これによつ
て以下詳細に説明される様にシールドされていな
い状態によつて生ずる電気的な不連続の程度が減
少するので好ましい。
接近する様に移動する際に、種々のコネクタのば
ねでロードされた中央の導線は第3図に関して説
明される様に夫々のコネクタの体内に押込められ
る。その抵抗力は初めは略10gで、最後は20gで
ある事が好ましい。間隔変換器12とコネクタ板
120,172間のギヤツプは実際に可能な限り
小さい方が好ましく、信号プローブ(信号コネク
タ)180がギヤツプを横切る時の信号プローブ
180の中心の導体のシールドされていない部分
の長さが最小にされる事が好ましい。これによつ
て以下詳細に説明される様にシールドされていな
い状態によつて生ずる電気的な不連続の程度が減
少するので好ましい。
図示されていないが、ブレース30、正方形の
板120及びスペーサ・ネスト18にはかみあい
だぼを与えることが好ましい。だぼの位置を適切
に選択する事によつてコネクタ162,180,
181の正しい方向が保証され、間隔変換器12
の最上部の表面上の電極に適切に接触する様にな
る。
板120及びスペーサ・ネスト18にはかみあい
だぼを与えることが好ましい。だぼの位置を適切
に選択する事によつてコネクタ162,180,
181の正しい方向が保証され、間隔変換器12
の最上部の表面上の電極に適切に接触する様にな
る。
f2 インターフエイス装置の詳細図(第2図)
好ましい間隔変換器12及びプローブ組立体1
4の代表的な詳細部分が第2図に示されている。
間隔変換器12の構造は上記米国特許出願明細書
に説明されている。ここではコネクタ180,1
62,181からプローブ組立体14への信号の
流れの連続性を示すためにその構造的特徴につい
て繰返し説明する。これによつてコネクタ18
0,162,181の構造はインピーダンスの不
整合が最小になる様に間隔変換器12に対し、も
しくはこれから広い帯域の電磁信号が伝搬出来る
ものである事が理解されよう。
4の代表的な詳細部分が第2図に示されている。
間隔変換器12の構造は上記米国特許出願明細書
に説明されている。ここではコネクタ180,1
62,181からプローブ組立体14への信号の
流れの連続性を示すためにその構造的特徴につい
て繰返し説明する。これによつてコネクタ18
0,162,181の構造はインピーダンスの不
整合が最小になる様に間隔変換器12に対し、も
しくはこれから広い帯域の電磁信号が伝搬出来る
ものである事が理解されよう。
間隔変換器12は通常のセラミツク積層技術を
使用して製造された多層セラミツク(MLC)構
造をなす。この構造体は最小限2つの高い導電性
の材料層46,48によつて分離された3つのプ
レーナ・セラミツク層40,42,44を含む。
導電性の材料は使用される特定のセラミツクの膨
張係数と同じ膨張係数を有する金属もしくは金属
合金である事が好ましい。以下説明される理由の
ために、第1の導電層46は電力平面として、第
2の層48は電力復帰即ち接地平面48として使
用される事が好ましい。
使用して製造された多層セラミツク(MLC)構
造をなす。この構造体は最小限2つの高い導電性
の材料層46,48によつて分離された3つのプ
レーナ・セラミツク層40,42,44を含む。
導電性の材料は使用される特定のセラミツクの膨
張係数と同じ膨張係数を有する金属もしくは金属
合金である事が好ましい。以下説明される理由の
ために、第1の導電層46は電力平面として、第
2の層48は電力復帰即ち接地平面48として使
用される事が好ましい。
層40に与えられた貫通孔がモリブデンの様な
金属の導電性バス52を電力平面である層46
と、究極的に間隔変換器12の最上部表面になる
セラミツク層40の外部表面上に与えられた金も
しくは等価な高導電性の耐酸化、金属もしくは合
金金属である事が好ましい電極62との間に与え
られる。同様に導電性バス54は接地平面である
層48及び表面電極64間に、2つの介在するセ
ラミツク層40,42中の貫通孔及び短絡を防止
する必要のある電力平面46中の適切な開孔を通
して延びている。所望の複数の信号バス56(唯
一つだけが図示されている)が間隔変換器12の
最上部の表面に存在する電極66(第2図には一
つだけが示されている)から信号を、変換器12
の底部表面上に金属薄膜として形成された多くの
導線50の一つ迄伝える。導線50はセラミツク
層40の下部表面から他の導電性の金属層52及
び絶縁体層53によつて分離されている。層52
は導電50及び層51間にはさまれていて層51
はセラミツク層44に接している。バス56はセ
ラミツク層44,42,44の夫々貫通孔電力及
び接地平面(層46及び48)並びに層51及び
53中の開孔を通つて延びている。通常の薄膜付
着技術を使用して、層51を与える。この層51
は間隔変換器12の最下部の表面の略すべてに重
なる高周波(50MHzよりも高い)AC接地基準層
として働く。夫々の信号バス56に電気的に結合
している薄膜導線50は必要に応じたパターンを
なし、以下説明される様にプローブ組立体14の
信号導線102と空間的に相互接続する様になつ
ている。
金属の導電性バス52を電力平面である層46
と、究極的に間隔変換器12の最上部表面になる
セラミツク層40の外部表面上に与えられた金も
しくは等価な高導電性の耐酸化、金属もしくは合
金金属である事が好ましい電極62との間に与え
られる。同様に導電性バス54は接地平面である
層48及び表面電極64間に、2つの介在するセ
ラミツク層40,42中の貫通孔及び短絡を防止
する必要のある電力平面46中の適切な開孔を通
して延びている。所望の複数の信号バス56(唯
一つだけが図示されている)が間隔変換器12の
最上部の表面に存在する電極66(第2図には一
つだけが示されている)から信号を、変換器12
の底部表面上に金属薄膜として形成された多くの
導線50の一つ迄伝える。導線50はセラミツク
層40の下部表面から他の導電性の金属層52及
び絶縁体層53によつて分離されている。層52
は導電50及び層51間にはさまれていて層51
はセラミツク層44に接している。バス56はセ
ラミツク層44,42,44の夫々貫通孔電力及
び接地平面(層46及び48)並びに層51及び
53中の開孔を通つて延びている。通常の薄膜付
着技術を使用して、層51を与える。この層51
は間隔変換器12の最下部の表面の略すべてに重
なる高周波(50MHzよりも高い)AC接地基準層
として働く。夫々の信号バス56に電気的に結合
している薄膜導線50は必要に応じたパターンを
なし、以下説明される様にプローブ組立体14の
信号導線102と空間的に相互接続する様になつ
ている。
プローブ組立体14は一般に接地された導電性
金属の構造基体100並びに誘電体被覆によつて
接地基体100から分離した、中央の導線を有し
又所望のインピーダンス(好ましくは50オーム)
の同軸信号線をなす信号プローブ102、基体1
00に密接に接続されている接地プローブ104
及び低いインピーダンスの中央の導線を覆う薄膜
の絶縁酸化物層を有する電力プローブ106を含
んでいる。
金属の構造基体100並びに誘電体被覆によつて
接地基体100から分離した、中央の導線を有し
又所望のインピーダンス(好ましくは50オーム)
の同軸信号線をなす信号プローブ102、基体1
00に密接に接続されている接地プローブ104
及び低いインピーダンスの中央の導線を覆う薄膜
の絶縁酸化物層を有する電力プローブ106を含
んでいる。
図示された様に、信号プローブ102、接地プ
ローブ104及び電力プローブは基体100中を
その端点が集積回路15の夫々の本来の信号、接
地及び電力パツド(第2図には示されていない、
代表的にはC―4はんだ塊)に適切に接してい
る。プローブ102,104,106の近接端は
間隔変換器12の導線50,層48、及び層46
の夫々の平面に電気的に接続されている。即ち電
力プローブ106は下の2つのセラミツク層4
2,44中の貫通孔並びに素子48,51,53
及び50の接地平面48,51,53及び50中
の開孔を通して間隔変換器12の電力平面46か
ら底面に延びているバス90に電気的に接してい
る。又、バス92は一番下のセラミツク層44中
の貫通孔、素子50,51及び53の平面中の開
孔を通つて間隔変換器12の層48の接地平面か
ら底面迄延び必要に応じて接地プローブ104に
接続している。信号プローブ102は配列体とし
て夫々の薄膜導線50の露出表面と接触する事に
よつて導線50の組と直接電気的に接続してい
る。
ローブ104及び電力プローブは基体100中を
その端点が集積回路15の夫々の本来の信号、接
地及び電力パツド(第2図には示されていない、
代表的にはC―4はんだ塊)に適切に接してい
る。プローブ102,104,106の近接端は
間隔変換器12の導線50,層48、及び層46
の夫々の平面に電気的に接続されている。即ち電
力プローブ106は下の2つのセラミツク層4
2,44中の貫通孔並びに素子48,51,53
及び50の接地平面48,51,53及び50中
の開孔を通して間隔変換器12の電力平面46か
ら底面に延びているバス90に電気的に接してい
る。又、バス92は一番下のセラミツク層44中
の貫通孔、素子50,51及び53の平面中の開
孔を通つて間隔変換器12の層48の接地平面か
ら底面迄延び必要に応じて接地プローブ104に
接続している。信号プローブ102は配列体とし
て夫々の薄膜導線50の露出表面と接触する事に
よつて導線50の組と直接電気的に接続してい
る。
間隔変換器12の好ましい実施例の構造体は電
力層46及び接地層48の平面間に延びる低い接
続インダクタンスの高周波減結合コンデンサ7
4,84を与える事によつて略完結する。コンデ
ンサ74,84は薄膜構造であり、必要に応じて
間隔変換器12の最上部及び最下部上に空間的に
位置付けられる。コンデンサ74,84の接続は
セラミツク層40,42,44中の貫通孔並びに
電力及び接地層46,48中の対応する開孔を通
して延びる夫々、電力バス70,80及び接地バ
ス72,82によつて電力層46及び接地層48
に対してなされる。コンデンサ74,84の接続
部並びに電力及び接地層46,48の長さが短い
事と、バスとしてモリブデンの如きインピーダン
スの低い金属を使用する事によつて接続インダク
タンスは最小になる。コンデンサ74,84の高
周波領域の振舞はコンデンサの電極の寸法及びコ
ンデンサの絶縁材料の誘電性のパラメータに依存
する。間隔の変換器の表面に取付けられ、一体的
なバスによつて接続された薄膜コンデンサを使用
する事によつて、コンデンサを任意の都合のよい
点に位置付ける事が出来、一体的取扱いが容易な
構造体が実現される。
力層46及び接地層48の平面間に延びる低い接
続インダクタンスの高周波減結合コンデンサ7
4,84を与える事によつて略完結する。コンデ
ンサ74,84は薄膜構造であり、必要に応じて
間隔変換器12の最上部及び最下部上に空間的に
位置付けられる。コンデンサ74,84の接続は
セラミツク層40,42,44中の貫通孔並びに
電力及び接地層46,48中の対応する開孔を通
して延びる夫々、電力バス70,80及び接地バ
ス72,82によつて電力層46及び接地層48
に対してなされる。コンデンサ74,84の接続
部並びに電力及び接地層46,48の長さが短い
事と、バスとしてモリブデンの如きインピーダン
スの低い金属を使用する事によつて接続インダク
タンスは最小になる。コンデンサ74,84の高
周波領域の振舞はコンデンサの電極の寸法及びコ
ンデンサの絶縁材料の誘電性のパラメータに依存
する。間隔の変換器の表面に取付けられ、一体的
なバスによつて接続された薄膜コンデンサを使用
する事によつて、コンデンサを任意の都合のよい
点に位置付ける事が出来、一体的取扱いが容易な
構造体が実現される。
本発明に従い構成された構成変換器12の構造
は層46,48,51及びメツシユ平面配列体と
みなされる導線50の配列を与える。電力平面層
46及び薄膜導線50間に介在した接地平面層4
8,51は、電力平面及び薄膜導線を互に分離し
ている。電力平面層46に関して云えば、低い接
続インダクタンスの減結合コンデンサを与える事
によつて、高周波電圧が安定し、電流雑音(dI/
dt)の発生が著しく減少される。薄膜導線50に
関して云えば、基準接地平面層51を与え、薄膜
導線50の寸法及び層53の厚さを標準の伝送線
理論に従つて適切に選択する事によつて導線50
の特性インピーダンスを最適値、好ましくは50オ
ームに保持出来る。従つて信号導線50のインピ
ーダンスは独立して、電力及び接地方面のインピ
ーダンス(一般に1オーム好ましくは0.5乃至0.1
オーム以下)よりもはるかに高い値に設定出来
る。
は層46,48,51及びメツシユ平面配列体と
みなされる導線50の配列を与える。電力平面層
46及び薄膜導線50間に介在した接地平面層4
8,51は、電力平面及び薄膜導線を互に分離し
ている。電力平面層46に関して云えば、低い接
続インダクタンスの減結合コンデンサを与える事
によつて、高周波電圧が安定し、電流雑音(dI/
dt)の発生が著しく減少される。薄膜導線50に
関して云えば、基準接地平面層51を与え、薄膜
導線50の寸法及び層53の厚さを標準の伝送線
理論に従つて適切に選択する事によつて導線50
の特性インピーダンスを最適値、好ましくは50オ
ームに保持出来る。従つて信号導線50のインピ
ーダンスは独立して、電力及び接地方面のインピ
ーダンス(一般に1オーム好ましくは0.5乃至0.1
オーム以下)よりもはるかに高い値に設定出来
る。
再び第1図を参照するに、使用に際し、テスト
構造体10はプローブ組立体14が取付けられた
間隔変換器12を集積回路15と近接して位置付
ける。明らかに、集積回路15は初期のパツケー
ジのまま、適切な支持台13上に取つけられ、回
路15の本来の導電性のパツドの配列体が支持台
13と平行である事が好ましい平面内にある剛体
のテスト・プローブ14に提示され、アクセス可
能にされる事が好ましい。プローブ配線は互に平
行で、集積回路15の接点パツドの対応する配列
体に直交して配置されている事が好ましい。従つ
て、プローブ配線の数はパツドの数に等しいか、
これよりも少ない事が好ましく、必要に応じて集
積回路15に電力及びテスト信号を与え、これか
らの復帰信号を受取る事が出来るものであればよ
い。次に間隔変換器12は支持台13の方に前進
され、プローブの先端は適切な電気的接触を与え
るに十分な圧力で集積回路のパツドと接触する。
構造体10はプローブ組立体14が取付けられた
間隔変換器12を集積回路15と近接して位置付
ける。明らかに、集積回路15は初期のパツケー
ジのまま、適切な支持台13上に取つけられ、回
路15の本来の導電性のパツドの配列体が支持台
13と平行である事が好ましい平面内にある剛体
のテスト・プローブ14に提示され、アクセス可
能にされる事が好ましい。プローブ配線は互に平
行で、集積回路15の接点パツドの対応する配列
体に直交して配置されている事が好ましい。従つ
て、プローブ配線の数はパツドの数に等しいか、
これよりも少ない事が好ましく、必要に応じて集
積回路15に電力及びテスト信号を与え、これか
らの復帰信号を受取る事が出来るものであればよ
い。次に間隔変換器12は支持台13の方に前進
され、プローブの先端は適切な電気的接触を与え
るに十分な圧力で集積回路のパツドと接触する。
プローブ組立体14と反対側の間隔変換器12
の最上部の表面に接するブレース30は側壁20
によつて圧力が間隔変換器12に加えられる時
に、これがたわむのを防止する。間隔変換器12
の初期公称たわみ位置が決められ、その後ねじ組
立体25を調節する事によつて保持される。テス
ト後、テスト構造体10は後退され、集積回路1
5が無傷で除去される。
の最上部の表面に接するブレース30は側壁20
によつて圧力が間隔変換器12に加えられる時
に、これがたわむのを防止する。間隔変換器12
の初期公称たわみ位置が決められ、その後ねじ組
立体25を調節する事によつて保持される。テス
ト後、テスト構造体10は後退され、集積回路1
5が無傷で除去される。
f3 同軸コネクタ(第3図)
第3図を参照するに、間隔変換器の夫々の電極
66,64と接触する第1図にも示された信号コ
ネクタ180及び隣接接地コネクタ162の一本
の拡大断面図が示されている。信号コネクタ18
0の中心にはばねでロードされたプローブ134
が存在する。このプローブは米国マサチユセツツ
州アトルボロ市(Attleboro、Massachusetts)
のパイロン社(PYLON Company)によつて
「ポゴプローブ(POGO PROBE)」(部品番号P
−2784−3)の商品名で販売されているプローブ
を変形したものである。この変形はプローブをベ
リリウム―銅の様な非誘導性の材料で製造してば
ねの接触力を減らしたものである。プローブ13
4は壁の薄い導線性金属の管状ハウジングである
本体135、中心の導線もしくはピン136、金
属のストツパ・ボール138及び圧縮ばね140
を有する。テフロン(Teflon、商標)である事
が好ましいプレスばめ絶縁挿入体132がプロー
ブ134のまわりに、その長さに沿つて同軸的に
与えられている。絶縁体挿入体132は次にコネ
クタ180の本体管128にプレスばめされる。
管128は高導電性の金属、好ましくは金めつき
黄銅で形成され、信号コネクタ180の支持シエ
ルをなしている。本体管128は壁の薄い下方部
分129、比較的厚い壁のフランジ部分130、
及び薄い壁の部分131を有する事が好ましい。
66,64と接触する第1図にも示された信号コ
ネクタ180及び隣接接地コネクタ162の一本
の拡大断面図が示されている。信号コネクタ18
0の中心にはばねでロードされたプローブ134
が存在する。このプローブは米国マサチユセツツ
州アトルボロ市(Attleboro、Massachusetts)
のパイロン社(PYLON Company)によつて
「ポゴプローブ(POGO PROBE)」(部品番号P
−2784−3)の商品名で販売されているプローブ
を変形したものである。この変形はプローブをベ
リリウム―銅の様な非誘導性の材料で製造してば
ねの接触力を減らしたものである。プローブ13
4は壁の薄い導線性金属の管状ハウジングである
本体135、中心の導線もしくはピン136、金
属のストツパ・ボール138及び圧縮ばね140
を有する。テフロン(Teflon、商標)である事
が好ましいプレスばめ絶縁挿入体132がプロー
ブ134のまわりに、その長さに沿つて同軸的に
与えられている。絶縁体挿入体132は次にコネ
クタ180の本体管128にプレスばめされる。
管128は高導電性の金属、好ましくは金めつき
黄銅で形成され、信号コネクタ180の支持シエ
ルをなしている。本体管128は壁の薄い下方部
分129、比較的厚い壁のフランジ部分130、
及び薄い壁の部分131を有する事が好ましい。
本体管128の下方部分129の外側の寸法は
この部分がコネクタ板120中に与えられた開孔
127中に確実にプレスばめされる様に選択され
る事が好ましい。上述の如く、フランジ部分13
0は比較的外径が大きく、下方部分129の端が
コネクタ板120中に挿入される深さを与える肩
を形成している。即ちコネクタ板120の底部表
面と下方部分129の下方の面は同一平面にされ
る。
この部分がコネクタ板120中に与えられた開孔
127中に確実にプレスばめされる様に選択され
る事が好ましい。上述の如く、フランジ部分13
0は比較的外径が大きく、下方部分129の端が
コネクタ板120中に挿入される深さを与える肩
を形成している。即ちコネクタ板120の底部表
面と下方部分129の下方の面は同一平面にされ
る。
市販されているマイクロドツト(Microdot登
録商標)の如き小さな直径の同軸ケーブル183
が信号コネクタ180のプローブ134に取付け
られたテスト・リードとして使用される事が好ま
しい。ケーブル183は一般に誘電性のさや14
3の内部の信号導線142より成るコア144及
びコア144を包囲する同軸接地シールド146
を含む。プローブ134への接続は信号導線14
2の延長端をプローブ134の上方の端の開孔中
にはんだ付けするか、他の適切な手段で取付ける
事によつて行われる。ストツパ・ボール138は
プローブ134の一体部分をなす。誘電性のさや
143の下端は接地シールド146から分離され
て本体管128の上部131に挿入され、プロー
ブ134の上部の端と接している。さや143の
直ぐ下の誘電性材料のワツシヤ155はプローブ
134の最上部を閉じ、絶縁体の挿入体132と
接している。ケーブル183の接地シールド14
6は本体管の上部131のまわりにその長さに沿
つて延びている。その結果、接地シールド146
はプローブ134の全体にわたつて効果的に延
び、絶縁体の挿入体132は信号プローブ134
を接地された本体管128から電気的に絶縁し、
信号線の所望インピーダンスを保持する働きを有
する。絶縁体の挿入体132に適切な材料及び必
要な半径方向の厚さは一般に知られている方法で
選択され、所望の信号線インピーダンスが得られ
る。
録商標)の如き小さな直径の同軸ケーブル183
が信号コネクタ180のプローブ134に取付け
られたテスト・リードとして使用される事が好ま
しい。ケーブル183は一般に誘電性のさや14
3の内部の信号導線142より成るコア144及
びコア144を包囲する同軸接地シールド146
を含む。プローブ134への接続は信号導線14
2の延長端をプローブ134の上方の端の開孔中
にはんだ付けするか、他の適切な手段で取付ける
事によつて行われる。ストツパ・ボール138は
プローブ134の一体部分をなす。誘電性のさや
143の下端は接地シールド146から分離され
て本体管128の上部131に挿入され、プロー
ブ134の上部の端と接している。さや143の
直ぐ下の誘電性材料のワツシヤ155はプローブ
134の最上部を閉じ、絶縁体の挿入体132と
接している。ケーブル183の接地シールド14
6は本体管の上部131のまわりにその長さに沿
つて延びている。その結果、接地シールド146
はプローブ134の全体にわたつて効果的に延
び、絶縁体の挿入体132は信号プローブ134
を接地された本体管128から電気的に絶縁し、
信号線の所望インピーダンスを保持する働きを有
する。絶縁体の挿入体132に適切な材料及び必
要な半径方向の厚さは一般に知られている方法で
選択され、所望の信号線インピーダンスが得られ
る。
接続スリーブ150が与えられ、実質的に信号
コネクタ180が完全する。導電性金属である事
が好ましい、スリーブ150は本体管128の上
部131上に延びている、ケーブル183の接地
シールド146の部分上にプレスばめされる。こ
の様にして、ケーブル183の本体部128の取
付けが効果的に確実にされ、第3図に示された一
体の信号コネクタ183が形成される。
コネクタ180が完全する。導電性金属である事
が好ましい、スリーブ150は本体管128の上
部131上に延びている、ケーブル183の接地
シールド146の部分上にプレスばめされる。こ
の様にして、ケーブル183の本体部128の取
付けが効果的に確実にされ、第3図に示された一
体の信号コネクタ183が形成される。
最後に、焼ばめされる絶縁被覆152がケーブ
ル183及びスリーブ150の一部の上に与えら
れ、ケーブル183と本体管128の接続部が腐
食の如き、環境上の悪影響から防止される。
ル183及びスリーブ150の一部の上に与えら
れ、ケーブル183と本体管128の接続部が腐
食の如き、環境上の悪影響から防止される。
上述の如く、信号コネクタ保持板122には中
ぐり開孔124が与えられ、信号コネクタ180
の上部を受取り、これに取付けられたテスト・リ
ードが通過する様になつている。開孔124の中
ぐり部分は特に本体管128のフランジ部分13
0のみを受取る様な寸法を有する。開孔124の
残り部分の直径はフランジ部分130の直径より
も小さく信号コネクタ保持板122は応力を解放
する様に働く事が好ましい。
ぐり開孔124が与えられ、信号コネクタ180
の上部を受取り、これに取付けられたテスト・リ
ードが通過する様になつている。開孔124の中
ぐり部分は特に本体管128のフランジ部分13
0のみを受取る様な寸法を有する。開孔124の
残り部分の直径はフランジ部分130の直径より
も小さく信号コネクタ保持板122は応力を解放
する様に働く事が好ましい。
接地コネクタ162は信号コネクタ180のプ
ローブ134と同じ構造を有する。しかしなが
ら、接地プローブ162は、これがコネクタ板1
20中の開孔164に直接プレスばめされる点で
著しく異なつている。接地コネクタ162の端子
ピン160は従つて、コネクタ板120の大地基
準電圧に直接導電的に結合され、接地コネクタ1
62には別の電気的接続体は必要なく、その結
果、本発明は別に接地コネクタ・リードを与える
ための複雑さ、材料及び追加の作業空間の使用と
いつた無駄がなくなる。又テスト取付け構造体1
0の複雑さを著しく増大させる事なく任意の数の
接地コネクタを与える事及び位置付ける事が出来
る。上述の様にコネクタ板120上に延びる接地
コネクタ162の任意の部分を収容するのに信号
コネクタ保持板122中に開孔126が与えられ
る。
ローブ134と同じ構造を有する。しかしなが
ら、接地プローブ162は、これがコネクタ板1
20中の開孔164に直接プレスばめされる点で
著しく異なつている。接地コネクタ162の端子
ピン160は従つて、コネクタ板120の大地基
準電圧に直接導電的に結合され、接地コネクタ1
62には別の電気的接続体は必要なく、その結
果、本発明は別に接地コネクタ・リードを与える
ための複雑さ、材料及び追加の作業空間の使用と
いつた無駄がなくなる。又テスト取付け構造体1
0の複雑さを著しく増大させる事なく任意の数の
接地コネクタを与える事及び位置付ける事が出来
る。上述の様にコネクタ板120上に延びる接地
コネクタ162の任意の部分を収容するのに信号
コネクタ保持板122中に開孔126が与えられ
る。
電力コネクタ181(第1図に示され、第3図
には示されていない)は信号コネクタ180の構
造と類似の構造を有する。しかしながら、挿入体
132と同じ様な絶縁体の挿入体ははぶかれてい
る。それは中心の接続板172(第1図)がそも
そも絶縁体であるからである。従つて電力コネク
タ181のプローブは信号基体管128の場合と
同じ様に適切な寸法の基体管中に直接プレスばめ
にされる。しかしながら、電力導線シールドがな
いので、減結合コンデンサ182(第1図)の接
続が簡単になり、しかも接地シールドの破れ目に
よつて電気的不連続が発生する危険がない。又、
コンデンサ182を電力コネクタ181に接続す
る長い導線の必要がなくなり、これに伴なつてコ
ンデンサ182を接続する事によつて導入される
寄生インダクタンスが減少される。
には示されていない)は信号コネクタ180の構
造と類似の構造を有する。しかしながら、挿入体
132と同じ様な絶縁体の挿入体ははぶかれてい
る。それは中心の接続板172(第1図)がそも
そも絶縁体であるからである。従つて電力コネク
タ181のプローブは信号基体管128の場合と
同じ様に適切な寸法の基体管中に直接プレスばめ
にされる。しかしながら、電力導線シールドがな
いので、減結合コンデンサ182(第1図)の接
続が簡単になり、しかも接地シールドの破れ目に
よつて電気的不連続が発生する危険がない。又、
コンデンサ182を電力コネクタ181に接続す
る長い導線の必要がなくなり、これに伴なつてコ
ンデンサ182を接続する事によつて導入される
寄生インダクタンスが減少される。
以上間隔変換器に対する同軸コネクタ・インタ
ーフエイスを使用し、電気的不連続がほとんどな
い信号経路が実現された高速度集積回路テスト取
付け構造体が説明された。
ーフエイスを使用し、電気的不連続がほとんどな
い信号経路が実現された高速度集積回路テスト取
付け構造体が説明された。
構造体10の上述の説明では、信号コネクタ1
80の2次元配列体、これ等の間に介在し、間隔
変換器12の上方表面と接触する接地コネクタ1
62の2次元配列体が与えられた。接地コネクタ
162のすべてはコネクタ板120と接触するの
で、信号コネクタ180の任意の一つの中の信号
のための復帰電流は複数の接地コネクタ162を
通して流れる。この様にして、接地復帰電流は信
号コネクタ180のピン136のまわりに均一に
分布され、これによつてインダクタンス及び遷遊
放射線の効果が減少される。接地復帰経路の対称
性の利点は第4図の実施例で示された如く、唯一
の信号保持プローブ134が存在する本発明の実
施例で与えられる。
80の2次元配列体、これ等の間に介在し、間隔
変換器12の上方表面と接触する接地コネクタ1
62の2次元配列体が与えられた。接地コネクタ
162のすべてはコネクタ板120と接触するの
で、信号コネクタ180の任意の一つの中の信号
のための復帰電流は複数の接地コネクタ162を
通して流れる。この様にして、接地復帰電流は信
号コネクタ180のピン136のまわりに均一に
分布され、これによつてインダクタンス及び遷遊
放射線の効果が減少される。接地復帰経路の対称
性の利点は第4図の実施例で示された如く、唯一
の信号保持プローブ134が存在する本発明の実
施例で与えられる。
f4 単一の同軸コネクタ(第4図)
第4図を参照するに、3本のプローブ(各々は
さらに記号A,B及びCによつて同定される)よ
り成るコネクタ100は回路チツプ支持台202
と隣接し、その信号パラメータが測定されてい
る。コネクタ200を使用する場合には、コネク
タ200は手で回路チツプ支持台202と接触す
る様に移動される。プローブ134と個々のピン
136はチツプ支持台202の一組の端子パツド
204の夫々の一つに接している。ピン136及
びパツド204の個々の一つは記号A,B及びC
によつて同定される。コネクタ200はさらに第
3図に前に示された素子、即ちケーブル183の
シールド146を保持するスリーブ150、プロ
ーブ134Aを包囲する絶縁体の挿入体132並
びに挿入体132とケーブル183のシールド1
43との間のワツシヤ155を含んでいる。ケー
ブル183の導線142は206の個所ではんだ
によつてプローブ134Aと接続している。
さらに記号A,B及びCによつて同定される)よ
り成るコネクタ100は回路チツプ支持台202
と隣接し、その信号パラメータが測定されてい
る。コネクタ200を使用する場合には、コネク
タ200は手で回路チツプ支持台202と接触す
る様に移動される。プローブ134と個々のピン
136はチツプ支持台202の一組の端子パツド
204の夫々の一つに接している。ピン136及
びパツド204の個々の一つは記号A,B及びC
によつて同定される。コネクタ200はさらに第
3図に前に示された素子、即ちケーブル183の
シールド146を保持するスリーブ150、プロ
ーブ134Aを包囲する絶縁体の挿入体132並
びに挿入体132とケーブル183のシールド1
43との間のワツシヤ155を含んでいる。ケー
ブル183の導線142は206の個所ではんだ
によつてプローブ134Aと接続している。
コネクタ200はハウジング208から構成さ
れ、ハウジング208の一端には冠部210が存
在し、肩212を形成している。ハウジング20
8は第3図の本体管128に使用された導電性の
金属で形成される。ハウジング208内には3つ
の開孔214A,214B及び214Cが与えら
れ、冠部210からハウジング208の反対側に
延びている。さらに開孔216が開孔214Aと
連絡し、開孔214Aの軸に沿い、冠部210及
び冠部210の円筒拡張部218を通つて延びて
いる。プローブ134Aはその絶縁体の挿入体1
32及びワツシヤ155と共に開孔214A内に
セツトされ、プローブ134B及び134Cは
夫々開孔214B及び214C内にセツトされ
る。ゲーブル183のコア144は延長部218
内にセツトされ、ケーブル183のシールド14
6は延長部218内でコア144と分離し、延長
部218の外部表面及びスリーブ150の内部表
面間にクランプされている。
れ、ハウジング208の一端には冠部210が存
在し、肩212を形成している。ハウジング20
8は第3図の本体管128に使用された導電性の
金属で形成される。ハウジング208内には3つ
の開孔214A,214B及び214Cが与えら
れ、冠部210からハウジング208の反対側に
延びている。さらに開孔216が開孔214Aと
連絡し、開孔214Aの軸に沿い、冠部210及
び冠部210の円筒拡張部218を通つて延びて
いる。プローブ134Aはその絶縁体の挿入体1
32及びワツシヤ155と共に開孔214A内に
セツトされ、プローブ134B及び134Cは
夫々開孔214B及び214C内にセツトされ
る。ゲーブル183のコア144は延長部218
内にセツトされ、ケーブル183のシールド14
6は延長部218内でコア144と分離し、延長
部218の外部表面及びスリーブ150の内部表
面間にクランプされている。
第3図及び第4図の実施例を比較すると、第4
図のプローブ134B及び134Cは第3図の接
地コネクタ162と同じく接地復帰電流経路を与
えている。この様な接地復帰経路の2本だけが第
4図に示されているが、プローブ134B,Cが
存在する平面に垂直な平面に沿つて、ハウジング
208と電気的に接触する様に追加のプローブを
取付けて、中心のプローブ134Aに関して接地
復帰電流の軸対称に流れを与える事が出来る。こ
れによつて、コネクタ200は第3図の信号コネ
クタ120及び複数の接地コネクタ162の機能
をこれ等をすべて収納する単一のハウジング内で
与える。単一のハウジングは容易に且手で回路チ
ツプ支持台202上に位置付ける事が出来る。
図のプローブ134B及び134Cは第3図の接
地コネクタ162と同じく接地復帰電流経路を与
えている。この様な接地復帰経路の2本だけが第
4図に示されているが、プローブ134B,Cが
存在する平面に垂直な平面に沿つて、ハウジング
208と電気的に接触する様に追加のプローブを
取付けて、中心のプローブ134Aに関して接地
復帰電流の軸対称に流れを与える事が出来る。こ
れによつて、コネクタ200は第3図の信号コネ
クタ120及び複数の接地コネクタ162の機能
をこれ等をすべて収納する単一のハウジング内で
与える。単一のハウジングは容易に且手で回路チ
ツプ支持台202上に位置付ける事が出来る。
f5 同軸コネクタの一実施例(第5図)
第5図には、第4図のコネクタ200の修正型
であるコネクタ200Aが示されている。コネク
タ200Aの一側は該コネクタの手による把持を
容易にするためにハンドル220を形成する様に
延長されている。コネクタ200Aは導電性の金
属から形成され、ハウジング208A内に取付け
られ、挿入体132によつて絶縁され、ケーブル
183からの電気信号を流すためのプローブ13
4Aを含む。又コネクタ200Aにはハウジング
208Aと電気的に接触し、ケーブル183中に
流れる電流のための接地復帰経路を与えるプロー
ブ134Cを含んでいる。コネクタ200Aは接
地復帰経路の対称性を与えないが、コネクタ20
0の場合よりも構造が簡単で、コネクタ200と
同様に手で使用する事が出来る。
であるコネクタ200Aが示されている。コネク
タ200Aの一側は該コネクタの手による把持を
容易にするためにハンドル220を形成する様に
延長されている。コネクタ200Aは導電性の金
属から形成され、ハウジング208A内に取付け
られ、挿入体132によつて絶縁され、ケーブル
183からの電気信号を流すためのプローブ13
4Aを含む。又コネクタ200Aにはハウジング
208Aと電気的に接触し、ケーブル183中に
流れる電流のための接地復帰経路を与えるプロー
ブ134Cを含んでいる。コネクタ200Aは接
地復帰経路の対称性を与えないが、コネクタ20
0の場合よりも構造が簡単で、コネクタ200と
同様に手で使用する事が出来る。
f6 2つのコネクタを接続する実施例(第6
図) 第6図は第4図のコネクタ200の修正型であ
るコネクタ200Bを示している。第6図で、2
つのコネクタ200Bはスリーブ222によつて
互に接続され、2つのケーブル183を結合して
いる。コネクタ200Bの各々は一般に円筒形を
なし、第4図に示された開孔214A及び216
を含んでいる。開孔214Aは絶縁体の挿入体1
32、プローブ134A及びワツシヤ155を収
納し、他方開孔216は第4図に示された如くケ
ーブル183のコア144を含んでいる。各ハウ
ジング208Bの外側の表面には肩224が形成
され、肩224はコネクタ200Bをスリーブ2
22の対向する端に挿入する時にスリーブ222
の端と接する。コネクタ200Bはプローブ13
4Aの対向するピン136A対向するピン136
Aと接触するに十分な距離だけ挿入される。ハウ
ジング208B及びスリーブ222は金属で形成
され、夫々のケーブル183のシールド146間
に電気的接続を与えている。2つのピン136A
の接触は夫々のケーブル183の内部導線142
の電気的接続を与える。前の実施例の接地コネク
タ162は第6図の実施例では必要とされない。
それは適切で堅実な電気的接続がスリーブ222
及びコネクタ200Bの各々の間の接触によつて
与えるからである。第6図の実施例は2つの同軸
ケーブルを簡単に相互接続する場合に特に有用で
ある。
図) 第6図は第4図のコネクタ200の修正型であ
るコネクタ200Bを示している。第6図で、2
つのコネクタ200Bはスリーブ222によつて
互に接続され、2つのケーブル183を結合して
いる。コネクタ200Bの各々は一般に円筒形を
なし、第4図に示された開孔214A及び216
を含んでいる。開孔214Aは絶縁体の挿入体1
32、プローブ134A及びワツシヤ155を収
納し、他方開孔216は第4図に示された如くケ
ーブル183のコア144を含んでいる。各ハウ
ジング208Bの外側の表面には肩224が形成
され、肩224はコネクタ200Bをスリーブ2
22の対向する端に挿入する時にスリーブ222
の端と接する。コネクタ200Bはプローブ13
4Aの対向するピン136A対向するピン136
Aと接触するに十分な距離だけ挿入される。ハウ
ジング208B及びスリーブ222は金属で形成
され、夫々のケーブル183のシールド146間
に電気的接続を与えている。2つのピン136A
の接触は夫々のケーブル183の内部導線142
の電気的接続を与える。前の実施例の接地コネク
タ162は第6図の実施例では必要とされない。
それは適切で堅実な電気的接続がスリーブ222
及びコネクタ200Bの各々の間の接触によつて
与えるからである。第6図の実施例は2つの同軸
ケーブルを簡単に相互接続する場合に特に有用で
ある。
G 発明の効果
本発明に従い、半導体マイクロ回路等の装置を
テストするための、同軸ケーブルを一端で受け取
り、他端がわの平面に配された信号線用端子およ
び接地用端子に同軸ケーブルの信号線およびシー
ルド線をそれぞれ電気的に接続する同軸ケーブル
用インターフエース装置が与えられる。
テストするための、同軸ケーブルを一端で受け取
り、他端がわの平面に配された信号線用端子およ
び接地用端子に同軸ケーブルの信号線およびシー
ルド線をそれぞれ電気的に接続する同軸ケーブル
用インターフエース装置が与えられる。
第1図は集積マイクロ回路のテストするのに有
用な間隔変換器を含むインターフエイス装置の部
分的側断面図である。第2図は第1図のインター
フエイス装置の間隔変換器及び剛体のプローブの
一部の詳細な側断面図である。第3図は本発明に
従い同軸ケーブルをインターフエイス装置に接続
する同軸コネクタの詳細な側断面図である。第4
図は集積回路チツプ支持台のパツドと接続する本
発明の単一の同軸コネクタの側断面図である。第
5図はコネクタがプローブとして構成されている
本発明に従う同軸コネクタの実施例の側断面図で
ある。第6図は2つのコネクタがスリーブによつ
て互に結合された本発明の実施例の側断面図であ
る。 10……テスト取付け構造体、12……間隔変
換器、13……支持台、14……プローブ組立
体、15……集積回路、16……キヤツプ、17
……フランジ、18……位置付けネスト、20…
…側壁、21……フランジ、22……支持フラン
ジ、23……フランジ、24……挿入体、25…
…ねじ、28……ねじ、30……ブレース、32
……締付けナツト、34……ねじ、36……中ぐ
りねじ、38…中ぐりねじ、120……正方形コ
ネクタ板、122……信号コネクタ保持板、16
2……接地コネクタ、172……中央コネクタ、
172……中央コネクタ板、180……信号コネ
クタ、181……電力コネクタ、182……減結
合コネクタ。
用な間隔変換器を含むインターフエイス装置の部
分的側断面図である。第2図は第1図のインター
フエイス装置の間隔変換器及び剛体のプローブの
一部の詳細な側断面図である。第3図は本発明に
従い同軸ケーブルをインターフエイス装置に接続
する同軸コネクタの詳細な側断面図である。第4
図は集積回路チツプ支持台のパツドと接続する本
発明の単一の同軸コネクタの側断面図である。第
5図はコネクタがプローブとして構成されている
本発明に従う同軸コネクタの実施例の側断面図で
ある。第6図は2つのコネクタがスリーブによつ
て互に結合された本発明の実施例の側断面図であ
る。 10……テスト取付け構造体、12……間隔変
換器、13……支持台、14……プローブ組立
体、15……集積回路、16……キヤツプ、17
……フランジ、18……位置付けネスト、20…
…側壁、21……フランジ、22……支持フラン
ジ、23……フランジ、24……挿入体、25…
…ねじ、28……ねじ、30……ブレース、32
……締付けナツト、34……ねじ、36……中ぐ
りねじ、38…中ぐりねじ、120……正方形コ
ネクタ板、122……信号コネクタ保持板、16
2……接地コネクタ、172……中央コネクタ、
172……中央コネクタ板、180……信号コネ
クタ、181……電力コネクタ、182……減結
合コネクタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 導電性の板状保持部材120と、 この保持部材の貫通孔127に挿着される同軸
ケーブル用コネクタ180と、 上記保持部材の孔部164に挿着される接地用
コネクタ162とを有し、 同軸ケーブル183を一端で受け取り、他端が
わの平面に配された信号線用端子136および接
地用端子160に上記同軸ケーブルの信号線14
2およびシールド線146をそれぞれ電気的に結
合する同軸ケーブル用インターフエース装置にお
いて、 上記同軸ケーブル用コネクタは、 一端が上記保持部材の貫通孔に電気的かつ機械
的に結合された導電性の筒状の周囲部材128で
あつて、その他端が上記保持部材の一面がわに突
出し、その突端の開口から同軸ケーブルのコア部
144の受け入れ、その突端の外周部にその同軸
ケーブルのシールド線を延在させたものと、 上記シールド線を上記突端の外周部に圧接して
保持する取付部材150と、 上記突端がわで上記同軸ケーブルのコア部の信
号線142と一端を電気的に接続した導電性の筒
状の第1のプローブ本体135、およびこのプロ
ーブ本体内にその内周面に接しながらかつ上記保
持部材の他方の面に突出偏倚させられる第1の導
電性ピン部材136を具備するプローブ134
と、 上記プローブと上記周囲部材128との間に配
されて両者を機械的に一体に結合するとともに電
気的に絶縁する筒状の絶縁部材132とを有し、 さらに上記接地用コネクタは、 上記保持部材の孔部に電気的かつ機械的に結合
された導電性の筒状の第2のプローブ本体と、 上記プローブ本体内にその内周面に接しながら
かつ上記保持部材の他方の面に突出偏倚される第
2の導電性ピン部材とを有するようにしたことを
特徴とする同軸ケーブル用インタフエース装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US65298584A | 1984-09-21 | 1984-09-21 | |
| US652985 | 1984-09-21 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6177286A JPS6177286A (ja) | 1986-04-19 |
| JPS6337465B2 true JPS6337465B2 (ja) | 1988-07-26 |
Family
ID=24619029
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60155295A Granted JPS6177286A (ja) | 1984-09-21 | 1985-07-16 | 同軸ケーブル用インターフェース装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0177809B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6177286A (ja) |
| DE (1) | DE3585866D1 (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4708661A (en) * | 1986-07-28 | 1987-11-24 | Tektronix, Inc. | Modified BNC connector for active probe |
| US4739259A (en) * | 1986-08-01 | 1988-04-19 | Tektronix, Inc. | Telescoping pin probe |
| JPH0178029U (ja) * | 1987-11-13 | 1989-05-25 | ||
| US6201402B1 (en) | 1997-04-08 | 2001-03-13 | Celadon Systems, Inc. | Probe tile and platform for large area wafer probing |
| US6586954B2 (en) | 1998-02-10 | 2003-07-01 | Celadon Systems, Inc. | Probe tile for probing semiconductor wafer |
| EP1060398B1 (en) * | 1998-03-04 | 2002-06-26 | Teradyne, Inc. | Coaxial probe interface for automatic test equipment |
| US6037787A (en) * | 1998-03-24 | 2000-03-14 | Teradyne, Inc. | High performance probe interface for automatic test equipment |
| US6965244B2 (en) | 2002-05-08 | 2005-11-15 | Formfactor, Inc. | High performance probe system |
| US6911835B2 (en) * | 2002-05-08 | 2005-06-28 | Formfactor, Inc. | High performance probe system |
| TWI318300B (en) | 2002-06-28 | 2009-12-11 | Celadon Systems Inc | Shielded probe apparatus for probing semiconductor wafer |
| US6902416B2 (en) * | 2002-08-29 | 2005-06-07 | 3M Innovative Properties Company | High density probe device |
| US6963207B2 (en) | 2003-03-06 | 2005-11-08 | Celadon Systems, Inc. | Apparatus and method for terminating probe apparatus of semiconductor wafer |
| US7170305B2 (en) | 2005-02-24 | 2007-01-30 | Celadon Systems, Inc. | Apparatus and method for terminating probe apparatus of semiconductor wafer |
| US6975128B1 (en) | 2003-03-28 | 2005-12-13 | Celadon Systems, Inc. | Electrical, high temperature test probe with conductive driven guard |
| US6824427B1 (en) * | 2003-05-13 | 2004-11-30 | 3M Innovative Properties Company | Coaxial probe interconnection system |
| US7728609B2 (en) | 2007-05-25 | 2010-06-01 | Celadon Systems, Inc. | Replaceable probe apparatus for probing semiconductor wafer |
| EP2290753B1 (de) * | 2009-08-31 | 2012-12-05 | ERNI Electronics GmbH | Steckverbinder und Multilayerplatine |
| JP6179780B2 (ja) * | 2011-10-24 | 2017-08-16 | アーデント コンセプツ,インコーポレイテッド | 被制御インピーダンスケーブル終端部アセンブリ |
| CN113589004B (zh) * | 2021-08-05 | 2024-02-02 | 淄博信易杰电气有限公司 | 一种高压信号发生器 |
| CN115436676B (zh) * | 2022-08-09 | 2025-05-23 | 富通集团(天津)超导技术应用有限公司 | 一种超导电缆层流测试装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3350500A (en) * | 1964-12-29 | 1967-10-31 | Amp Inc | Connections for coaxial cable means |
| JPS5228236A (en) * | 1975-08-29 | 1977-03-03 | Hitachi Ltd | Variable periodic clock generating circuit |
| JPS5237834U (ja) * | 1975-09-10 | 1977-03-17 |
-
1985
- 1985-07-16 JP JP60155295A patent/JPS6177286A/ja active Granted
- 1985-09-17 DE DE8585111749T patent/DE3585866D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1985-09-17 EP EP19850111749 patent/EP0177809B1/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0177809B1 (en) | 1992-04-15 |
| DE3585866D1 (de) | 1992-05-21 |
| EP0177809A1 (en) | 1986-04-16 |
| JPS6177286A (ja) | 1986-04-19 |
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