JPS6342248B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、一つの原画の帯にまとめられた画像
鮮明度の異なる焼付け原画の焼付け適正を光電走
査を用いて予備検査するための方法および装置に
関する。

アマチユアのフイルムの焼付けを自動的に行う
装置は今日通常非常に複雑な自動露光制御装置を
有する。この装置を用いれば完全に露光オーバー
か露光不足であつてもはや補正のできないような
ネガの焼付けを取り除くことができる。このよう
な自動焼付け装置が開発されるにつれて、それが
ぶれた原画であれあるいはピント調節の誤つて撮
影された原画であれ不鮮明なネガを自動的に識別
しかつそれを焼付け工程から除外することが望ま
れるようになつた。この種のプリントはアマチユ
アにとつて通常何の価値も持たずそれに対してお
金を取ることは一般的に怒りをかうことになるか
らである。

従つて焼付け原画を撮影の細部にわたつて光電
的に測定し、互いに隣接する領域の値の差を限界
値と比較し、この限界値を越える差値の数ないし
大きさを合計しそれを画像の鮮明度に対する尺度
として設定値と比較する方法が既に提案されてい
る（ドイツ公開公報第2244340号）。この設定値が
得られない場合には焼付け工程は断念しなければ
ならない。しかしこの方法は、画像のコントラス
トが低い場合あるいは細部の構造が僅かである場
合には鮮明な像内容と不鮮明な像内容を完全に識
別することができない。

また、鮮明度の判定に重要な役割を果たす空間
周波数領域において領域における濃度コントラス
ト測定に基き鮮明度の測定を行う方法が知られて
いる。（像および音声（Bild und Ton）1970／
８巻，229〜236ページ）。しかしこの方法もまた
空間周波数ないし濃度勾配測定が被写体およびコ
ントラストにかなり影響するために大きな誤差を
伴う場合が多く自動的に像の鮮明度を識別するの
には使用することができない。

従つて本発明の課題は、像のコントラストおよ
び像の被写体に本質的に無関係に確実な鮮明度の
測定を実施でき、それによつて不鮮明ないし鮮明
な画像の原画を確実に分類することができる冒頭
に述べた種類の方法およびその装置を提供するこ
とである。

この課題は特許請求の範囲第１項に記載された
方法により解決される。

本発明は次の原理に基いている。すなわち被写
体撮影時に発生する撮影被写体の輪郭の鮮明さは
光電層のコントラスト伝達特性によつて定められ
る最大の輪郭鮮明さより常に小さいか等しい。技
術的あるいは科学的な目的でもつて行われない撮
影の場合には通常少くとも縁を有する被写体が存
在する。鮮明な画像に何ら急勾配の、従つて鮮明
な濃度変化が存在しない確率は極めて僅かであ
る。従つて像を調べる場合にどこにも急勾配の濃
度変化が発見できない場合には、この像は他の像
内容たとえば被写体像を考慮することなく不鮮明
であると判定することができる。さらに各画像は
少くとも１つの画像面素子において最大の濃度を
かつ少くとも他の１つの画像面素子において最小
の濃度を有する。この２つの濃度差は画像の濃度
範囲D_nax−D_nioに対応する。今像点面積を等しく
して測定すれば、直接隣接する２つの画像面素子
間の濃度差はこの画像濃度範囲よりは決して大き
くならない。すなわち少くとも任意の一の場所の
画像において求められる２つの隣接する像点の最
大濃度差と濃度範囲との商が１に等しい時には可
能な限り最大の鮮明度が存在する。このことは像
点の大きさが等しい時のみあてはまる。この場合
大切なことは、原画を走査する場合画像走査点の
大きさは小さく従つて空間周波数バンド巾は広く
選択されるので、視覚による鮮明度判定に対して
重要な空間周波数が得られるということである。
濃度差の代わりに濃度勾配を測定しても良い。

最大の濃度勾配dD／dxと最大の原画濃度差と
の商を鮮明度の商Q_Kで表わすと、次の式 Q_K＝M_ax（dD／dx） ／（M_axD_(x)−M_ioD_(x)） が得られる。

種々の異なる原画を多数測定した結果、鮮明度
の商は本質的に被写体に無関係であり、かつ写真
フイルムの濃度勾配曲線の直線部分ではまたコン
トラストにも無関係であることがわかつた。

本発明によれば、この鮮明度の商が所与のしき
い値と比較され鮮明／不鮮明の分類基準として利
用される。本発明の一実施例によれば適当な手段
により検査すべき原画のコントラスト範囲を表わ
す信号が一定の同じ値にされ、続いて測定された
最大の濃度勾配が直接比較用の鮮明度尺度として
利用される。すなわち 本発明によればたとえ原画のコントラストが低
くまた詳細葡分が僅かな場合でも、すなわちごく
僅かの被写体のみが撮影されている場合でも鮮明
な原画内容と不鮮明な原画内容とをほぼ大きな信
頼性を持つて識別することができる。

本発明の方法には２つの実施例が考えられる。
その１つの特徴は、鮮明度に対して重要な役割を
果たす空間周波数の高い領域を除外することによ
つて不鮮明にされた原画内容で同じ原画から得ら
れる最大の濃度勾配に対する原画の最大の濃度勾
配の比を識別に対する分類用の鮮明度の商Q_Vと
して利用することである。これは、画像が鮮明で
あれば、高周波数スペクトルを含み、この高周波
数成分を含む場合の濃度勾配と取り除いた場合の
濃度勾配の商を形成すれば鮮明な場合と不鮮明の
場合で差が生じ鮮明度の判定ができることを原理
としている。すなわち Q_V＝（Max（dD／dX）／MaxD_(x)−MinD_(x)）広帯域幅／
（Max（dD／dX）／MaxD_(x)−MinD_(x)）低帯域幅 ＝M_ax（dD／dx）広帯域幅／M_ax（dD／dx）低帯域
幅 の公式に基いて鮮明度の商が求められる。この場
合、原画内容の高周波部分すなわち微細なデイテ
ール部分および輪郭の鮮明度を除外してもコント
ラスト範囲は本質的に変わらないということが前
提になつている。

第２番目の実施例は次の原理に基く。一般的に
鮮明な画像は不鮮明な像よりもデイテール部分が
大きい。一つの画像内での濃度勾配のしきい値を
越える頻度は直接鮮明度の尺度として利用するこ
とはできない。しかし本発明により画像原画を高
周波数帯域幅のみならず低周波数帯域幅を用いて
走査し一定のしきい値Ｓを越える頻度Ｈを濃度勾
配によつて比較するならば、鮮明／不鮮明の識別
基準、鮮明不鮮明を識別するための追加的な基準
として利用できる。すなわち Q_H＝H_S（dD／dx）広帯域幅／H_S（dD／dx）低帯域幅 鮮明度の商Q_Hを得ることができる。すなわちQ_V
式によつて最大濃度勾配だけを比較する場合に
は、誤差がでる可能性があるので、高周波数成分
を含む場合と取り除いた場合のそれぞれの濃度勾
配がしきい値を越える頻度を比較したものであ
る。

本発明の実施例によればさらに原画に粉末粒子
あるいは傷があると粉末粒子や傷の下にある層に
鮮明な影が形成され、それにより原画の濃度勾配
が高くなり、本来不鮮明な原画を鮮明と判断する
というようなしばしば起こりがちな誤差を除外し
なければならない。

同様な効果は、例えば鏡面の表面（ガラス、金
属、ランプ）の場合あるいは逆光撮影（樹冠を通
した太陽光線等）の場合に発生するように部分的
に露光オーバーがあつた場合の不鮮明な原画の場
合にも発生する。この場合一般的にネガには縁取
りが鮮明でコントラストの高い極端な濃度のはん
点が得られるので、それにより最大の濃度勾配は
著しく大きくなり、原画は本来不鮮明であつても
鮮明度の商の大きなものであると判断されてしま
う。

この欠点を避けるために、それぞれ最大の濃度
勾配が何回も表われた時にのみそれを商の形成に
利用するような分離補正が用いられる。これは濃
度勾配の確定に対して頻度のしきい値を導入する
ことによつて行われる。

本発明の他の実施例では、鮮明度の商を形成す
るために画像細部の縁における広がりが最小であ
るような濃度勾配のみが認められる。部分的なオ
ーバー露光による誤差はまた、一定の最大濃度を
越えない画像細部の濃度勾配のみを認めることに
よつて除去することができる。このような分離補
正は上に述べた実施例と関連して非常に有効であ
ることが判明した。

要約すると本発明によつて得られる利点は、粉
末粒子や鏡面における反射によつて問題となるよ
うな像に無関係にコントラストが低い場合でも不
鮮明な像をほぼ一義的に識別できることである。
これらの鮮明度の商を組み合わせて掛け算Q_K・
Q_V・Q_Hを求めれば統計的な識別はさらに改良さ
れる。例えば多数のサンプル原画を測定した結果
鮮明で焼付けのできるネガとして判断すべき原画
は一つも「不鮮明」として識別されず、それに対
して多数の不鮮明な原画を識別することができ
た。

本発明の課題はまたこの方法を実施する装置を
提供することである。

次に本発明の装置の実施例を添付図面を参照し
て説明する。図面には本発明の測定装置のブロツ
ク図が図示されている。

図において１は画像走査装置、例えば検査位置
にある原画にある原画８０を走査するビデコンで
ある。本質的に光源、レンズ、アパーチヤーおよ
び原画の搬送装置から構成される測定装置９０が
概略的に図示されている。撮像管位置によりビデ
オ信号が対数増幅器２を介して並列の２つの周波
数フイルター３，４に供給される。周波数フイル
ター３は第１の微分回路５に接続され、高周波部
分を抑圧する周波数フイルター４は微分回路６に
接続される。微分回路５の出力は、本質的に比較
器７〜１１ないし１２〜１６から成る識別回路に
印加される。これらの比較器の二つの入力は分圧
器１７，１８に接続される。比較器７〜１１，１
２〜１６にはプリセツトカウンタ２１〜２５，２
６〜３０が接続され、これらのプリセツトカウン
タはさらに記憶素子３１〜３５，３６〜４０にそ
れぞれ接続される。これらの記憶素子の出力は抵
抗４１〜４５，４６〜５０を介して加算増幅器５
３，５４に印加される。加算増幅器５３の出力は
比較器５５の入力に印加され、一方加算増幅器５
４の出力は比較器５５の他の入力に印加される。

上述した比較器７〜１１及び１２〜１６は、微
分回路５，６からのアナログ信号をデジタル信号
に変換し、カウンタ２１〜２５及び２６〜３０並
びに記憶素子３１〜３５，３６〜４０は、所定回
数現われたデジタル信号の最大値（ピーク値）を
記憶させる機能を有し、抵抗４１〜４５，４６〜
５０及び加算増幅器５３，５４は記憶素子３１〜
３５，３６〜４０に記憶されたデジタル値をアナ
ログ信号に変換する機能を有する。開示した例で
は各素子は３組しか設けられていないが、これを
増加させることによりデジタル値に変換するとき
の分解能を高めることができる。

クロツク発生器５７は同期線６４を介してビデ
コン１に、また消去線５１，５２を介してプリセ
ツトカウンタ２１〜３０ないし記憶素子３１〜４
０の第２の入力にそれぞれ接続される。加算増幅
器５４と並列にポテンシヨメーター５６が接続さ
れ、このポテンシヨメーターは最大濃度勾配に対
応するアナログ電圧を比較器５５で比較する場合
しきい値を設定する働きをする。

次にこれまでに述べた装置の動作を説明する。

撮像管ないしビデコン１は識別すべき原画８０
ないしその一部をライン状に走査し、そのとき発
生するビデオ信号を対数増幅器２を介して周波数
フイルタ３，４に供給する。低域フイルター３は
全体の周波数スペクトルを通過させ、低域フイル
ター４は鮮明度判定に重要な高周波数部分を抑圧
する。このようにフイルタ作用を受けたビデオ信
号はそれぞれ微分回路５，６で微分され、画像部
の濃度勾配に対応して微分されたビデオ信号は、
それぞれ識別回路、すなわち比較器７〜１１，１
２〜１６に印加される。

調節可能な分圧器１７および１８に印加される
基準電圧１９，２０により微分されたビデオ信号
は比較器７〜１１，１２〜１６で次の様にしてデ
ジタル値に変換される。即ち分圧器１７，１８に
よつて設定された設定値をそれぞれこえるごとに
１つのパルスが対応するプリセツトカウンタ２１
〜２５，２６〜３０に計数される。プリセツトカ
ウンタのプリセツトは次の様に設定される。即ち
関連する記憶素子３１〜３５，３６〜４０がリセ
ツトされる前にビデコン１の各走査ラインごとに
所定のパルス数を計数するように設定される。ラ
インの終りにおいてライン消去線５１を介してプ
リセツトカウンタ２１〜２５，２６〜３０が再び
リセツトされる。プリセツトカウンタがオーバー
フローした場合には、対応する記憶素子３１〜３
５，３６〜４０が設定され、所定回数現われたパ
ルスの最大値が記憶される。この様にして素子７
〜４０はパルスの大きさ及びパルスの頻度を分析
する装置を表し、その記憶素子３１〜３５，３６
〜４０にはすべての画像ラインを走査した後２つ
の最大濃度勾配が二進値として記憶される。この
二進値は抵抗４１〜４５，４６〜５０を介してそ
れぞれ最大の濃度勾配に対応するアナログ信号に
変換され、比較のために比較器５５に印加され
る。この比較器の二進出力信号は全体の像を走査
したのち走査された画像情報が鮮明なのかあるい
は不鮮明なのか（１あるいは０）を示す。

比較器５５をよみ出した後は記憶素子３１〜３
５，３６〜４０は消去線５２を介して再び消去さ
れるので続いて新しい原画を測定することが出来
る。同期信号はクロツク発生器５７によつて作ら
れる。

原画を走査する間に比較器５５による検出及び
記憶素子３１〜３５，３６〜４０の消去がクロツ
ク発生器５７によつて制御されて消去線５２を介
し何回も行われる場合には、鮮明度の判定は原画
の部分領域に対しても行うことが出来る。極端な
場合にはそのような検出が各像ラインの後で行う
事が出来るので、比較器５５の出力信号を後で統
計的に分析する場合には「鮮明／不鮮明」の情報
に対する確実性は更に高める事が出来、特にコン
ピユーターを用いた場合にはそうである。

これまで説明した実施例の場合には鮮明度の商
Q_Vが画像鮮明度の基準として求められた。スイ
ツチ５８を切り変えれば充分な帯域幅を有するフ
イルター３からの微分されない映像信号が比較器
１２〜１６に印加させる事が出来るので、加算増
幅器５４には画像情報の最大濃度範囲に比例する
アナログ信号が発生する。それによつて比較器５
５において鮮明度の商Q_Kが画像鮮明度に対する
基準として求められる。

鮮明度の商Q_Hを鮮明度の判定に対する二次的
な尺度として利用するために、例えば比較器７の
出力と比較器１２の出力をそれぞれ大きなカウン
タ５９，５９′に接続し、その情報を変換器６０，
６１でＡ／Ｄ変換した後抵抗６２，６３及び加算
増幅器５３，５４を介して比較器５５に印加さ
せ、鮮明度の比較に用いるようにすることも出来
る。なお図示した例では、抵抗４１〜４５，４６
〜５０が加算増幅器５３，５４に入力されている
が、変換器６０，６１の出力が大きな値となるの
で、Q_Hの誤差は大きくはならない。またQ_V測定
時は、図示されていないがスイツチ等を介して比
較器７，１２とカウンタ５９，５９′の接続を遮
断しておく。

上に説明した装置の一つの変形例では、走査は
他の装置例えばデイジタル走査器、ニポー円板、
CCD−装置等を用いて行うことが出来る。この
場合デイジタル走査器は好ましくは0.07×0.07mm²
から0.1×0.1mm²の走査点を用いて好ましくは原画
を走査する。

具体的なQ_V，Q_Hの値は、主題や背景によつて
異なるが、鮮明な画像の場合は、約0.45〜0.75、
不鮮明な画像の場合は約0.15〜0.25の値になつ
た。

本発明の実施例は主にライン状の走査に基いて
説明されている。しかし他の線形上、それが直線
上であれ曲つた曲線であれ線上の走査を行うこと
が出来ることは自明である。例えば原画あるいは
その領域をらせん状、あるいは波形上、あるいは
リサージユ線上に走査する事も出来る。

更に他の実施例では対数増幅器は、分圧器１
７，１８を対応させて調節させる事により鮮明度
機能において鮮明度識別に最適な識別回路が形成
される時には省略する事が出来る。

以上、説明したように本発明では画像が鮮明で
あればある程、高周波成分が取り除かれ不鮮明に
された画像信号はほぼ全体の周波数成分を有する
元の画像信号とその濃度勾配が相違していること
をその原理としている。その場合、ほぼ全体の周
波数成分を有する画像信号は、上述したフイルタ
３により、また不鮮明にされる画像信号はフイル
タ４により求められるが、フイルタ３の遮断周波
数は、約1.2MHz以上では画像信号が含まれず、
ノイズ信号が多いことから、例えば約1.2MHzに
選ばれる。また鮮明度に重要な信号成分は約
120KHz以上であることからフイルタ４の遮断周
波数は例えば約120KHzに選ばれる。

また、微分回路５，６は上述した元の画像信号
と不鮮明にされた画像信号の濃度勾配を求めるた
めのもので、必ずしも時定数等は同一にする必要
がないが、それぞれフイルタ３，４を通過した周
波数成分を有する信号を微分できるように構成さ
れる。この場合、微分回路６の時定数は好ましく
はフイルタ６を通過した低い周波数成分が減衰し
ないような値に選ばれる。

このように本発明ではほぼ元の画像信号と不鮮
明にされた画像信号を求め各画像信号の最大濃度
勾配の商あるいは濃度勾配が所定しきい値を越え
る頻度の商を形成し鮮明度の尺度としており、所
定帯域幅の高周波成分のみ及び所定帯域幅の低周
波成分のみを抽出してその比を求めて鮮明度を求
める従来の方法と比較し、被写体のコントラスト
や被写体の大小あるいはその周期性に影響され
ず、正確に鮮明度を判定することができるという
効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明を実施する装置の実施例を示すブロ
ツク図である。 １…画像走査装置、３，４…周波数フイルタ
ー、５，６…微分回路、７〜１１，１２〜１６…
比較器、２１〜２５、２６〜３０…プリセツトカ
ウンタ、３１〜３５，３６〜４０…記憶素子、５
３，５４…加算増幅器、５５…比較器、５７…ク
ロツク発生器、５９，５９′…カウンタ、８０…
原画、９０…測定装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ １つの原画の帯にまとめられた画像鮮明度の
   異なる焼付け原画の焼付け適正を光電走査を用い
   て予備検査する方法において、 検査位置にある焼付け原画を線状に走査し、 原画を広帯域幅並びに高周波数成分を抑圧して
   それぞれ走査することにより、ほぼ全体の周波数
   成分を有する第１の画像信号と、高周波数成分が
   取り除かれ不鮮明にされた第２の画像信号とを
   得、 前記第１の画像信号に対する最大濃度勾配と第
   ２の画像信号に対する最大濃度勾配の商を形成
   し、 所定のしきい値を越える商が少なくとも存在す
   る場合に原画の画像が鮮明であると判断し焼付け
   工程を行うようにしたことを特徴とする焼付け原
   画を予備検査する方法。 ２ 所定の最大濃度値を越えない画像細部の濃度
   勾配のみを測定し誤差を除去するようにしたこと
   を特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の焼付
   け原画を予備検査する方法。 ３ １つの原画の帯にまとめられた画像鮮明度の
   異なる焼付け原画の焼付け適正を光電走査を用い
   て予備検査する方法において、 検査位置にある焼付け原画を線状に走査し、 原画を広帯域幅並びに高周波数成分を抑圧して
   それぞれ走査することにより、ほぼ全体の周波数
   成分を有する第１の画像信号と、高周波数成分が
   取り除かれ不鮮明にされた第２の画像信号とを
   得、 前記第１の画像信号に対する濃度勾配を所定の
   しきい値と比較してその所定のしきい値より大き
   くなる頻度を求め、 前記第２の画像信号に対する濃度勾配を前記所
   定のしいき値と比較してその所定のしきい値より
   大きくなる頻度を求め、 前記両頻度の商を形成し所定値を越える商が少
   なくとも存在する場合に原画の画像が鮮明である
   と判断し焼付け工程を行なうようにしたことを特
   徴とする焼付け原画を予備検査する方法。 ４ 所定の最大濃度値を越えない画像細部の濃度
   勾配のみを測定し誤差を除去するようにしたこと
   を特徴とする特許請求の範囲第３項に記載の焼付
   け原画を予備検査する方法。 ５ １つの原画の帯にまとめられた画像鮮明度の
   異なる焼付け原画の焼付け適正を光電走査を用い
   焼付け原画を予備検査する装置において、 原画８０を線状に走査する装置１と、 前記装置からの画像信号の全体の周波数成分を
   通過させる第１のフイルター３と、 前記装置からの画像信号のうち高周波数成分を
   抑圧する第２のフイルター４と、 前記第１のフイルター３に接続され広帯域で得
   られる原画の濃度勾配を示す信号を発生する第１
   の微分回路５と、 前記第２のフイルター４に接続され原画から高
   空間周波数成分を取り除くことによつて不鮮明に
   された原画の濃度勾配を示す信号を発生する第２
   の微分回路６と、 前記第１の微分回路５に接続され広帯域幅で得
   られる濃度勾配のうち最大濃度勾配を求める第１
   の分析装置７〜１１，２１〜２５，３１〜３５
   と、 前記第２の微分回路６に接続され高空間周波数
   成分を取り除くことによつて不鮮明にされた画像
   の濃度勾配のうち最大濃度勾配を求める第２の分
   析装置１２〜１６，２６〜３０，３６〜４０と、 前記第１と第２の分析装置から得られるそれぞ
   れの最大濃度勾配の商を求める比較器５５とを設
   け、 この商が所定のしき値を越えた場合に原画の画
   像が鮮明であると判断し焼付け工程を行なうよう
   にしたことを特徴とする焼付け原画を予備検査す
   る装置。 ６ １つの原画の帯にまとめられた画像鮮明度の
   異なる焼付け原画の焼付け適正を光電走査を用い
   焼付け原画を予備検査する装置において、 原画８０を線状に走査する装置１と、 前記装置からの画像信号の全体の周波数成分を
   通過させる第１のフイルター３と、 前記装置からの画像信号のうち高周波数成分を
   抑圧する第２のフイルター４と、 前記第１のフイルター３に接続され広帯域で得
   られる原画の濃度勾配を示す信号を発生する第１
   の微分回路５と、 前記第２のフイルター４に接続され原画から高
   空間周波数成分を取り除くことによつて不鮮明に
   された原画の濃度勾配を示す信号を発生する第２
   の微分回路６と、 前記第１の微分回路５に接続され原画の濃度勾
   配が所定のしきい値を越える頻度を求める第１の
   手段５９，６０，６２，５３と、 前記第２の微分回路６に接続され高空間周波数
   成分を取り除くことによつて不鮮明にされた画像
   の濃度勾配が所定のしきい値を越える頻度を求め
   る第２の手段５９′，６１，６３，５４と、 前記第１と第２の手段から得られるそれぞれの
   頻度の商を求める比較器５５とを設け、 この商が所定のしきい値を越えた場合に原画の
   画像が鮮明であると判断し焼付け工程を行なうよ
   うにしたことを特徴とする焼付け原画を予備検査
   する装置。