JPS6348016B2 - - Google Patents
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- JPS6348016B2 JPS6348016B2 JP13625182A JP13625182A JPS6348016B2 JP S6348016 B2 JPS6348016 B2 JP S6348016B2 JP 13625182 A JP13625182 A JP 13625182A JP 13625182 A JP13625182 A JP 13625182A JP S6348016 B2 JPS6348016 B2 JP S6348016B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、標準添加法を自動的に行ない得る分
析方法に関する。
析方法に関する。
原子吸光分析法は、プラズマ発光法や比色法に
比べ共存物による干渉が比較的少ないと言われて
いるが、試料の粘度や比重の差等に基づく物理干
渉、難分解化合物の生成に基づく化学干渉および
低イオン化電位の共存に基づくイオン干渉などが
生ずる。
比べ共存物による干渉が比較的少ないと言われて
いるが、試料の粘度や比重の差等に基づく物理干
渉、難分解化合物の生成に基づく化学干渉および
低イオン化電位の共存に基づくイオン干渉などが
生ずる。
このような干渉がある試料の場合、しばしば標
準添加法を適用することによつて測定誤差を低減
できる。従来の標準添加法は、試料毎に検量線を
作成するために、容器を複数個用意し、それらの
すべてに同量の特定未知試料を入れ、次に各容器
に既知濃度の標準試料液を所定濃度ずつ変わるよ
うに加える。これらの容器に水を加えて全量を一
定量にし、原子吸光測定を行ない、濃度と吸収値
の関係線を作り、外挿法により分析成分含有量を
求める。
準添加法を適用することによつて測定誤差を低減
できる。従来の標準添加法は、試料毎に検量線を
作成するために、容器を複数個用意し、それらの
すべてに同量の特定未知試料を入れ、次に各容器
に既知濃度の標準試料液を所定濃度ずつ変わるよ
うに加える。これらの容器に水を加えて全量を一
定量にし、原子吸光測定を行ない、濃度と吸収値
の関係線を作り、外挿法により分析成分含有量を
求める。
標準添加法は、複数の容器に一連の溶液を作製
しなければならないため、能率的な測定を行なう
ことができない。
しなければならないため、能率的な測定を行なう
ことができない。
本発明の目的は、一連の標準添加試料を複数の
容器を用いて作る必要がなく、分析作業を能率的
に行ない得る自動標準添加分析法を提供すること
にある。
容器を用いて作る必要がなく、分析作業を能率的
に行ない得る自動標準添加分析法を提供すること
にある。
本発明の自動標準添加分析法は、標準試料と希
釈液との第1混合液を流路内で得、かつこの第1
混合液に被検試料液を一定割合で混合して第2混
合液を得、第2混合液を分析部へ導くのである
が、標準試料と希釈液との混合割合は、同じ被検
試料液が供給されている間に自動的に複数段階に
変えるのである。
釈液との第1混合液を流路内で得、かつこの第1
混合液に被検試料液を一定割合で混合して第2混
合液を得、第2混合液を分析部へ導くのである
が、標準試料と希釈液との混合割合は、同じ被検
試料液が供給されている間に自動的に複数段階に
変えるのである。
第1図は本発明の一実施例の概略構成を示す図
で、フレーム原子吸光分析計に適用した例であ
る。
で、フレーム原子吸光分析計に適用した例であ
る。
ポンプ15によつて特定の被検液を供給してい
る間に、ポンプ12は複数段階に流量が変わり、
標準試料液の送液量が段階的に変化する。ポンプ
12がモータの回転によつて往復動されるポンプ
やしごきポンプであるなら、マイクロコンピユー
タを備えた制御部によつてモータの回転数を時間
に応じて変化して送液量を変える。ポンプ13,
14および15は使用時一定流量に保たれる。希
釈液10は、ポンプ13により送液され、ミキサ
ー19で標準試料と混合され、試料分取容器16
に送られる。試料分取容器16は、中央部より、
送液された試料が導入され、必要量だけ、ポンプ
14により送液され、余分量はオーバーフロー
し、ドレイン17に排出されるようになつてい
る。被検試料液又はキヤリア試薬11は、ポンプ
15により送液され、ポンプ14により送液され
た希釈標準試料とミキサー18で混合される。こ
の混合液は試料分取容器16と同じ構造を持つ試
料吸入容器8に導入され、その中央より、ネブラ
イザ4により、ネブライザチユーブ5より吸引さ
れ、バーナチヤンバ3およびバーナヘツド2を通
つて炎中に導入され、原子吸光光度計1により測
定される。そして、試料吸入容器8でオーバーフ
ローした余分液は、ドレイン17に排出される。
る間に、ポンプ12は複数段階に流量が変わり、
標準試料液の送液量が段階的に変化する。ポンプ
12がモータの回転によつて往復動されるポンプ
やしごきポンプであるなら、マイクロコンピユー
タを備えた制御部によつてモータの回転数を時間
に応じて変化して送液量を変える。ポンプ13,
14および15は使用時一定流量に保たれる。希
釈液10は、ポンプ13により送液され、ミキサ
ー19で標準試料と混合され、試料分取容器16
に送られる。試料分取容器16は、中央部より、
送液された試料が導入され、必要量だけ、ポンプ
14により送液され、余分量はオーバーフロー
し、ドレイン17に排出されるようになつてい
る。被検試料液又はキヤリア試薬11は、ポンプ
15により送液され、ポンプ14により送液され
た希釈標準試料とミキサー18で混合される。こ
の混合液は試料分取容器16と同じ構造を持つ試
料吸入容器8に導入され、その中央より、ネブラ
イザ4により、ネブライザチユーブ5より吸引さ
れ、バーナチヤンバ3およびバーナヘツド2を通
つて炎中に導入され、原子吸光光度計1により測
定される。そして、試料吸入容器8でオーバーフ
ローした余分液は、ドレイン17に排出される。
第1図の如き構成を利用した種々の干渉除去操
作を次に説明する。
作を次に説明する。
(a) 検量線作成と単なる希釈
被検試料11の代りにキヤリア液としての蒸
留水を用い、標準試料液9としては所定高濃度
のものを用いる。希釈液10は蒸留水である。
ポンプ12の流量を1倍、2倍…に変化させ
る。これにより検量線が作成される。次に、試
料をセツトし、測定する。この場合、流量を何
倍の位置で測定しかたを記憶しておくことによ
り、濃度を演算することができる。
留水を用い、標準試料液9としては所定高濃度
のものを用いる。希釈液10は蒸留水である。
ポンプ12の流量を1倍、2倍…に変化させ
る。これにより検量線が作成される。次に、試
料をセツトし、測定する。この場合、流量を何
倍の位置で測定しかたを記憶しておくことによ
り、濃度を演算することができる。
(b) 検量線作成と干渉抑制剤添加
キヤリア試薬11に干渉抑制剤(例えばリン
酸、ケイ酸又はアルミニウムを含む可能性のあ
る試料中のカルシウムなどのアルカリ土類元素
の測定の場合、ランタンを用いる。)を用いる。
検量線の作成方法(a)の場合と同じであるが、標
準液および試料の両方に干渉抑制剤が一定量混
合される。これにより、試料に干渉物質が含ま
れていても、標準液による検量線法を使用する
ことができる。
酸、ケイ酸又はアルミニウムを含む可能性のあ
る試料中のカルシウムなどのアルカリ土類元素
の測定の場合、ランタンを用いる。)を用いる。
検量線の作成方法(a)の場合と同じであるが、標
準液および試料の両方に干渉抑制剤が一定量混
合される。これにより、試料に干渉物質が含ま
れていても、標準液による検量線法を使用する
ことができる。
(c) 検量線作成と成分一致
キヤリア試薬11に試料に含まれる主成分溶
液を用いる。この時、主成分溶液の濃度は試料
中の成分より濃くしておく。検量線の作成方法
は(a)の場合と同じであるが、標準液および試料
の両方に試料の主成分が一定量混合される。標
準液と試料の違いによる主成分の差が小さくな
るように、キヤリア試薬として用いられる主成
分溶液の濃度を濃くしておく。もし必要なら
ば、希釈液10にもキヤリア試薬に用いた主成
分溶液を用いる。
液を用いる。この時、主成分溶液の濃度は試料
中の成分より濃くしておく。検量線の作成方法
は(a)の場合と同じであるが、標準液および試料
の両方に試料の主成分が一定量混合される。標
準液と試料の違いによる主成分の差が小さくな
るように、キヤリア試薬として用いられる主成
分溶液の濃度を濃くしておく。もし必要なら
ば、希釈液10にもキヤリア試薬に用いた主成
分溶液を用いる。
(d) 標準添加法
ポンプ12によつて所定高濃度の標準試料9
を送り、流路内で希釈液(蒸留水)10と流路
内で混合する。分取容器19内の混合液は被検
試料11と所定の割合で混合される。一連の第
2混合液を流路内で形成させるために、ポンプ
12を3段階に送液量変化させる。例えば、ポ
ンプの流量比を0、5、10の3段階とし、ポン
プ13の流量比を50、ポンプ14の流量比50そ
してポンプ15の流量比を50に設定する。標準
液9として100ppmの目的元素を含むものを用
いれば、標準試料液だけに基づく目的元素濃度
は、第1段階では0ppm、第2段階では5ppm、
第3段階では10ppmとなる。標準試料を段階的
に変化させている間、被検試料液11はポンプ
15によつて継続して送液されているので、ネ
ブライザ4に導かれる混合液中には、いずれの
段階においても2倍に希釈された被検試料が含
まれている。
を送り、流路内で希釈液(蒸留水)10と流路
内で混合する。分取容器19内の混合液は被検
試料11と所定の割合で混合される。一連の第
2混合液を流路内で形成させるために、ポンプ
12を3段階に送液量変化させる。例えば、ポ
ンプの流量比を0、5、10の3段階とし、ポン
プ13の流量比を50、ポンプ14の流量比50そ
してポンプ15の流量比を50に設定する。標準
液9として100ppmの目的元素を含むものを用
いれば、標準試料液だけに基づく目的元素濃度
は、第1段階では0ppm、第2段階では5ppm、
第3段階では10ppmとなる。標準試料を段階的
に変化させている間、被検試料液11はポンプ
15によつて継続して送液されているので、ネ
ブライザ4に導かれる混合液中には、いずれの
段階においても2倍に希釈された被検試料が含
まれている。
3段階の混合液に基づいて得た分析データと、
被検試料液11の代りに蒸留水をセツトとして得
たデータとによつて、検量線の外挿がなされた被
検試料中の目的元素濃度が演算処理部によつて演
算され、表示部に結果が表示される。
被検試料液11の代りに蒸留水をセツトとして得
たデータとによつて、検量線の外挿がなされた被
検試料中の目的元素濃度が演算処理部によつて演
算され、表示部に結果が表示される。
試料吸入容器8に供給される混合液の合計流量
は、ネブライザ4の吸込流量よりも多くなるよう
設定される。もし正確にこれらポンプの流量を設
定することが困難な場合、各ポンプ間の流量差を
予じめ求めておき、測定後補正すれば良い。
は、ネブライザ4の吸込流量よりも多くなるよう
設定される。もし正確にこれらポンプの流量を設
定することが困難な場合、各ポンプ間の流量差を
予じめ求めておき、測定後補正すれば良い。
以上、述べたようなシステムを構成することに
より、原子吸光分析装置における干渉に対し、対
処できるとともに、標準試料は、一種類だけで良
く、また、測定試料の準備、容器の準備もほとん
ど不要になると同時に試料の準備において生ずる
誤差要因(例えば、器具による汚染や秤量誤差)
を除去できる効果がある。
より、原子吸光分析装置における干渉に対し、対
処できるとともに、標準試料は、一種類だけで良
く、また、測定試料の準備、容器の準備もほとん
ど不要になると同時に試料の準備において生ずる
誤差要因(例えば、器具による汚染や秤量誤差)
を除去できる効果がある。
第2図は本発明の他の実施例を示すもので、第
1図と異なる点は、ミキサー19と試料分取容器
16の間およびミキサー18と試料吸入容器8の
間にミキシングコイル20,21を設置したこと
である。このミキシングコイルの内径と長さを本
システムに合致した値に設定することにより、各
溶液の混合を一層良好にし、かつポンプの脈流を
除去することができる。この実施例では、さらに
安定した溶液混合を行なう効果がある。
1図と異なる点は、ミキサー19と試料分取容器
16の間およびミキサー18と試料吸入容器8の
間にミキシングコイル20,21を設置したこと
である。このミキシングコイルの内径と長さを本
システムに合致した値に設定することにより、各
溶液の混合を一層良好にし、かつポンプの脈流を
除去することができる。この実施例では、さらに
安定した溶液混合を行なう効果がある。
第3図は本発明の他の実施例を示すもので、演
算機能部23およびポンプコントロール機能部2
4を有するコンピユータ22を配置している。検
量線法と標準添加法では演算方法が異なるため、
コンピユータ22を用いることは有効である。
又、ポンプ12の流量更による検量線作成等は、
ポンプコントロール機能部24により指令により
行ない、同時に演算機能部23にその指令が伝達
され、自動的に検量線を作成することができる。
又、標準添加法において各ポンプの流量をコンピ
ユータ22により正確に設定し、あるいはその流
量比をメモリーしておき、演算時に補正すること
ができる。この他、コンピユータを用いることに
より、ゼーマン原子吸光分析装置に見られるロー
ルオーバー現象(試料濃度が非常に高くなると信
号が、最大吸収より小さくなつてくる現象)をモ
ニターすることができる。それは、試料用ポンプ
12をコントロールすることにより、試料を異な
つた希釈倍率で測定することである。
算機能部23およびポンプコントロール機能部2
4を有するコンピユータ22を配置している。検
量線法と標準添加法では演算方法が異なるため、
コンピユータ22を用いることは有効である。
又、ポンプ12の流量更による検量線作成等は、
ポンプコントロール機能部24により指令により
行ない、同時に演算機能部23にその指令が伝達
され、自動的に検量線を作成することができる。
又、標準添加法において各ポンプの流量をコンピ
ユータ22により正確に設定し、あるいはその流
量比をメモリーしておき、演算時に補正すること
ができる。この他、コンピユータを用いることに
より、ゼーマン原子吸光分析装置に見られるロー
ルオーバー現象(試料濃度が非常に高くなると信
号が、最大吸収より小さくなつてくる現象)をモ
ニターすることができる。それは、試料用ポンプ
12をコントロールすることにより、試料を異な
つた希釈倍率で測定することである。
第4図にゼーマン原子吸光分析装置で測定した
亜鉛の検量線を示す。C点までは直線であり、D
点までが曲線を示し、それ以上の濃度では、吸収
値は小さくなる。それ故、試料の測定値が0.3付
近の場合、B点とF点が考えられる。もし、B付
近の場合、希釈倍率を増すことにより吸収値は小
さくなる。例えば2倍希釈の試料を測定すればA
点付近の値を示す。これは正常な検量範囲である
ことを示している。一方、F点での吸収であつた
ならば、2倍希釈の試料を測定すると、E点付近
の値となり、これは、異常範囲である。そして、
この時、異常を示すマークに付せば良い。この様
に、少なくとも、2点以上の異なつた濃度の希釈
倍率試料を測定することにより、ロールオーバー
現象のモニターが可能である。もちろん、この方
法はコンピユータ22がなくても可能であるが、
結果の判断は分析者が行なう。この実施例では、
さらに、精度の高い検量線作成や、標準添加法測
定や自動測定が可能であるばかりでなく、ゼーマ
ン原子吸光分析装置で生ずるロールオーバー現象
のモニターもできる効果がある。
亜鉛の検量線を示す。C点までは直線であり、D
点までが曲線を示し、それ以上の濃度では、吸収
値は小さくなる。それ故、試料の測定値が0.3付
近の場合、B点とF点が考えられる。もし、B付
近の場合、希釈倍率を増すことにより吸収値は小
さくなる。例えば2倍希釈の試料を測定すればA
点付近の値を示す。これは正常な検量範囲である
ことを示している。一方、F点での吸収であつた
ならば、2倍希釈の試料を測定すると、E点付近
の値となり、これは、異常範囲である。そして、
この時、異常を示すマークに付せば良い。この様
に、少なくとも、2点以上の異なつた濃度の希釈
倍率試料を測定することにより、ロールオーバー
現象のモニターが可能である。もちろん、この方
法はコンピユータ22がなくても可能であるが、
結果の判断は分析者が行なう。この実施例では、
さらに、精度の高い検量線作成や、標準添加法測
定や自動測定が可能であるばかりでなく、ゼーマ
ン原子吸光分析装置で生ずるロールオーバー現象
のモニターもできる効果がある。
第5図は本発明のもう1つの実施例の概略構成
図である。所定高濃度の標準試料液9は流量可変
のポンプ12により送液される。定流量ポンプ1
4は、標準試料液9と希釈液10の和が常に一定
量となるように送液する。それ故標準試料液9の
流量が増加すると希釈液10の流量が減少し、そ
の混合液が被検試料液11と所定割合で混合さ
れ、試料吸入容器8に送られる。この実施例では
前述の実施例に比し、ポンプの数および試料分取
容器を減ずることができる。
図である。所定高濃度の標準試料液9は流量可変
のポンプ12により送液される。定流量ポンプ1
4は、標準試料液9と希釈液10の和が常に一定
量となるように送液する。それ故標準試料液9の
流量が増加すると希釈液10の流量が減少し、そ
の混合液が被検試料液11と所定割合で混合さ
れ、試料吸入容器8に送られる。この実施例では
前述の実施例に比し、ポンプの数および試料分取
容器を減ずることができる。
第6図は試料吸入容器を省略した実施例であ
る。被検試料液11、希釈液10および標準試料
液9が混合された後の流路にポンプ14′を配置
し、その流路をネブライザノズル5に直結してい
る。この実施例では、ネブライザ4に送る混合液
の量がポンプ14′の送液量によつて決まり、か
つポンプ14′とネブライザ4とは短距離で直結
されているので、送液量はネブライザ4の吸込量
より少なくなるよう設定される。この例の場合、
被検試料11と標準試料液9の流量の和が、ポン
プ14′の送液量より同等以下に設定される。
る。被検試料液11、希釈液10および標準試料
液9が混合された後の流路にポンプ14′を配置
し、その流路をネブライザノズル5に直結してい
る。この実施例では、ネブライザ4に送る混合液
の量がポンプ14′の送液量によつて決まり、か
つポンプ14′とネブライザ4とは短距離で直結
されているので、送液量はネブライザ4の吸込量
より少なくなるよう設定される。この例の場合、
被検試料11と標準試料液9の流量の和が、ポン
プ14′の送液量より同等以下に設定される。
以上説明したように、本発明によれば、同じ被
検試料に関して段階的に目的成分の標準試料添加
量の違つた液が流路内で簡単に調製され、一連の
標準添加試料を複数の容器を用いて作る必要がな
くなる。
検試料に関して段階的に目的成分の標準試料添加
量の違つた液が流路内で簡単に調製され、一連の
標準添加試料を複数の容器を用いて作る必要がな
くなる。
第1図、第2図、第3図、第5図および第6図
は、それぞれ別の本発明に基づく実施例の概略構
成を示す図であり、第4図は成分濃度と吸収感度
の関係の一例を示す図である。 8…試料吸入容器、9…標準試料液、10…希
釈液、11…被検試料液、12,13,14,1
5…ポンプ、16…試料分取容器。
は、それぞれ別の本発明に基づく実施例の概略構
成を示す図であり、第4図は成分濃度と吸収感度
の関係の一例を示す図である。 8…試料吸入容器、9…標準試料液、10…希
釈液、11…被検試料液、12,13,14,1
5…ポンプ、16…試料分取容器。
Claims (1)
- 1 標準試料液および希釈液を流路内に吸入して
その流路内で標準試料を希釈液との第1の混合液
を得ること、被検試料液を導入して上記第1の混
合液と上記被検試料液とを流路内にて所定の割合
で混合し第2の混合液を得ること、上記第2の混
合液を分析部に導くこと、流路内に同じ被検試料
液が供給されている間に、上記標準試料と上記希
釈液との混合割合を複数段階に変えることを含む
自動標準添加分析法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13625182A JPS5927246A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | 自動標準添加分析法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13625182A JPS5927246A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | 自動標準添加分析法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5927246A JPS5927246A (ja) | 1984-02-13 |
| JPS6348016B2 true JPS6348016B2 (ja) | 1988-09-27 |
Family
ID=15170812
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13625182A Granted JPS5927246A (ja) | 1982-08-06 | 1982-08-06 | 自動標準添加分析法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5927246A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2172713B (en) * | 1985-03-22 | 1988-12-21 | Philips Nv | Spectrometer |
| JP4393886B2 (ja) * | 2004-02-17 | 2010-01-06 | 株式会社日立ハイテクマニファクチャ&サービス | 原子吸光光度計 |
| JP2007057420A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Ias Inc | 溶液供給装置 |
| WO2023123340A1 (en) * | 2021-12-31 | 2023-07-06 | PerkinElmer Instruments (Suzhou) Co., Ltd. | Automatic calibration for atomic absorption spectrometer and related methods |
-
1982
- 1982-08-06 JP JP13625182A patent/JPS5927246A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5927246A (ja) | 1984-02-13 |
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