JPS6353488B2 - - Google Patents
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- JPS6353488B2 JPS6353488B2 JP6706280A JP6706280A JPS6353488B2 JP S6353488 B2 JPS6353488 B2 JP S6353488B2 JP 6706280 A JP6706280 A JP 6706280A JP 6706280 A JP6706280 A JP 6706280A JP S6353488 B2 JPS6353488 B2 JP S6353488B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/26—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は例えば流量計等の気密流路を有する
被試験機器の漏洩試験を行なう漏洩試験装置に関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a leak test device for performing a leak test on a device under test having an airtight flow path, such as a flow meter.
流量計等の流体を扱う機器においてはその内部
流路の気密性が保たれていなければならない。な
ぜならば流体が漏洩する場合には計測上の誤差が
発生したり、流体が引火性の強いものであれば爆
発等の事故につながる恐れがあるためである。 In equipment that handles fluids, such as flowmeters, the airtightness of the internal channels must be maintained. This is because if the fluid leaks, measurement errors may occur, and if the fluid is highly flammable, it may lead to accidents such as explosions.
従つて流量計等の機器においては漏洩試験を欠
かすことはできない。従来、この漏洩試験を行な
う場合には被試験機器の内部に気体を封入して、
機器内部の圧力変化を測定して漏洩があるか否か
を判定試験していた。 Therefore, leakage tests are essential for devices such as flowmeters. Conventionally, when performing this leakage test, gas is sealed inside the device under test.
Tests were conducted to determine whether there was a leak by measuring pressure changes inside the equipment.
然しながら、このような機器内部の圧力変化を
測定する試験においては、周知のごとく一定の容
積をもつ容器内に気体が封入してあるとき、この
容積内の圧力は、温度によつても変化するもので
あるから漏洩試験のように高精度の計測を行なう
ものにおいては必ず温度補正を行なわなければな
らないという不都合も有している。さらに、圧力
変化による方法は試験に要する時間が長いため、
作業効率が悪いという欠点があつた。 However, in tests that measure pressure changes inside devices, it is well known that when gas is sealed in a container with a constant volume, the pressure within this volume also changes depending on the temperature. Therefore, it also has the inconvenience that temperature correction must be performed when performing high-precision measurements such as leakage tests. Furthermore, the method using pressure changes requires a long test time;
The drawback was poor work efficiency.
この発明は叙上の点に着目して成されたもの
で、確実に漏洩の有無を判定することのできる漏
洩試験装置を提供することを目的とする。 This invention has been made with attention to the above points, and an object of the present invention is to provide a leak test device that can reliably determine the presence or absence of leakage.
さらにまた、この発明の他の目的は被試験機器
の僅かな漏洩に対しても敏感に検知することので
きる漏洩試験装置を提供することにある。 Furthermore, another object of the present invention is to provide a leakage testing device that can sensitively detect even the slightest leakage from a device under test.
上記目的を達成するためにこの発明にかかる漏
洩試験装置には密度計を備えて密封された被試験
機器内部の気体密度変化を検知するように構成し
てある。 In order to achieve the above object, a leak test apparatus according to the present invention is equipped with a density meter and is configured to detect changes in gas density inside a sealed device under test.
以下にこの発明の一実施例を図面と共に説明す
る。 An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
1a,1b……1nはそれぞれ流量計等の複数
の被試験機器を示し、各被試験機器の一方の流路
は閉塞してあり、また他方の流路にはそれぞれ制
御弁2a,2b……2nを介して試験流路3を接
続してある。4は密度計であり試験流路3内の気
体密度を測定できるようになつている。 1a, 1b...1n each indicate a plurality of devices under test such as flowmeters, one flow path of each device under test is blocked, and the other flow path has control valves 2a, 2b... A test channel 3 is connected via 2n. Reference numeral 4 denotes a density meter, which is capable of measuring the gas density within the test channel 3.
而して、該密度計4は振動式密度計であつて第
3図に示す様にフランジ型本体19の内部に振動
管20を配し、外部に設けた駆動コイル21によ
り、前記振動管20を電磁的に振動せしめ、振動
管20の内外を通過する被測定流体の密度の変化
に反比例して変化する振動管20の振動を電磁的
に受信コイル22によつて検出し、之れを直接又
は演算部23を介して予め封入した気体の封入量
との差を計数表示し所謂気体漏洩量を表示できる
もので、5は真空タンク、6は真空ポンプ、7は
圧力センサ、8は調圧器を示し、該真空タンク5
内の気体は真空ポンプ6によつて吸引されると共
に、真空タンク5内の圧力は圧力センサ7により
常時検出され、調圧器8が真空ポンプ6を制御し
て前記真空タンク5内の圧力を常に一定値、例え
ば1500mmAgに保つことができるようになつてい
る。この真空タンク5は制御弁9を介して前記試
験流路3に接続してある。10は漏洩試験装置全
体の制御監視を行なう制御部でありその具体的な
構成例を第2図に示す。 The density meter 4 is a vibrating density meter, and as shown in FIG. The vibration of the vibrating tube 20, which changes in inverse proportion to the change in density of the fluid to be measured passing inside and outside the vibrating tube 20, is electromagnetically detected by the receiving coil 22, and the vibration can be detected directly. Or it can display the so-called gas leakage amount by counting and displaying the difference from the amount of gas sealed in advance through the calculation unit 23, 5 is a vacuum tank, 6 is a vacuum pump, 7 is a pressure sensor, and 8 is a pressure regulator. , and the vacuum tank 5
The gas inside is sucked by the vacuum pump 6, and the pressure inside the vacuum tank 5 is constantly detected by the pressure sensor 7, and the pressure regulator 8 controls the vacuum pump 6 to maintain the pressure inside the vacuum tank 5 at all times. It is now possible to maintain a constant value, for example 1500mmAg. This vacuum tank 5 is connected to the test channel 3 via a control valve 9. Reference numeral 10 denotes a control section that controls and monitors the entire leak test apparatus, and a specific example of its configuration is shown in FIG.
図中11は試験開始後予じめ設定した時間が経
過したときに信号を発生するタイマー、12は前
記タイマー11の信号を受けてから一定時間(例
えば1秒)毎にクロツクパルスを発生するクロツ
ク回路、13は前記密度計4から得られる信号の
周期を測定する周期測定回路、14a及び14b
は、それぞれ第1のデータホールド回路、第2の
データホールド回路を示し、第1のデータホール
ド回路14aは試験開始後最初の周期データを保
持するものであり、第2のデータホールド回路1
4bはクロツクパルスに同期して常に最新の周期
データを保持するようになつている。また15は
比較回路であり各データホールド回路14a,1
4bに保持されている周期データを比較するもの
である。16は判定回路を示し前記比較回路15
の比較結果をもとに被試験機器1a,1b……1
nの漏洩の有無を判定するようになつている。1
7は密度計よりの出力信号の入力端、たとえば密
度計4が、振動式密度計である場合は、振動周波
数などのパルス信号の入力端である。18はスタ
ート釦である。また、図示してないが制御部10
には各制御弁2a,2b……2n,9の制御回路
等も含まれている。 In the figure, 11 is a timer that generates a signal when a preset time has elapsed after the start of the test, and 12 is a clock circuit that generates a clock pulse at fixed intervals (for example, 1 second) after receiving the signal from the timer 11. , 13 is a period measuring circuit for measuring the period of the signal obtained from the density meter 4, 14a and 14b
represent a first data hold circuit and a second data hold circuit, respectively, where the first data hold circuit 14a holds the first cycle data after the start of the test, and the second data hold circuit 1
4b is designed to always hold the latest cycle data in synchronization with the clock pulse. Further, 15 is a comparison circuit, and each data hold circuit 14a, 1
This is to compare the periodic data held in 4b. Reference numeral 16 indicates a judgment circuit, and the comparison circuit 15
Based on the comparison results of the devices under test 1a, 1b...1
It is designed to determine whether there is any leakage of n. 1
Reference numeral 7 denotes an input terminal for an output signal from the density meter, for example, if the density meter 4 is a vibrating density meter, an input terminal for a pulse signal such as a vibration frequency. 18 is a start button. Also, although not shown, the control unit 10
Also includes control circuits for the control valves 2a, 2b, . . . 2n, 9, etc.
尚、上記実施例においては真空ポンプ6を用い
て流体を吸引する方式のものとしたが、逆に被試
験機器内へ圧力の高い流体を吐出すような構成の
ものとしてもよい。 In the above embodiment, the vacuum pump 6 is used to suck fluid, but it may instead be configured to discharge high-pressure fluid into the device under test.
上記構成による漏洩試験装置の作用を説明す
る。まず第1図に示すように被試験機器を所望数
並列に装着する。真空ポンプ6を作動させて真空
タンク5内の圧力が規定値になるようにする。こ
こで制御部10を作動させるとまず制御弁2a,
2b……2nは全て閉じたまま制御弁9を開弁す
る。すると密度計4を含む試験流路3内の圧力は
真空タンク5内の圧力と平衝する特定の値に設定
される。この状態で制御弁9が閉じて試験流路3
は密封されるので試験流路3に漏洩がなければ密
度計4から得られる信号は時間が経過しても変化
することはない。このようにまず試験流路3のみ
の漏洩試験を行なつて正常であれば各被試験機器
の試験に移る。例えばまず被試験機器1aの漏洩
の有無を試験する場合には制御弁2a,9を一定
時間開弁した後制御弁9を閉弁して試験流路3と
被試験機器1aが一つの密閉流路を形成すること
になる。この場合、まず被試験メータ全台数につ
いて検査が行われ、漏洩なしの場合は終了し漏洩
が認められる場合のみ上記のように一台づつ検査
をして漏洩メータを見い出す判定方式を採り判定
時間の短縮をはかる。尚試験開始後制御弁9が閉
弁するまでの間、制御部10の周期測定はタイマ
11によつて動作が規制されており、密閉流路が
形成された時まず振動式密度計4から得られる周
期データが第1のデータホールド回路14aに保
持される。つづいて周期データは所定の時間おき
に第2のデータホールド回路14bに入力され
て、ここに最新データが保持される。従つて第1
のデータホールド回路14aには密封流路形成時
すなわち前記試験開始直後の被試験機器1a内の
流体密度に相当するデータが常に保持され、第2
のデータホールド回路14bにはそのときの気体
密度に相当するデータが保持されていることにな
るから、被試験機器1aに漏洩がなければ両者の
データ内容は等しく、判定回路16によつて正常
と判定され、逆に変化があれば異常と判定され
る。このようにして一つの試験が終了すると同様
にたとえば制御弁2bが選択されて次の被試験機
器(例えば1bおよび制御弁2b)が選択されて
自動的に上記したと同様な試験が繰り返される。 The operation of the leak test device having the above configuration will be explained. First, as shown in FIG. 1, a desired number of devices under test are installed in parallel. The vacuum pump 6 is operated to bring the pressure inside the vacuum tank 5 to a specified value. When the control unit 10 is operated here, first the control valves 2a,
2b...2n open the control valves 9 while keeping them all closed. Then, the pressure in the test channel 3 containing the density meter 4 is set to a specific value that is balanced with the pressure in the vacuum tank 5. In this state, the control valve 9 closes and the test flow path 3
Since the test channel 3 is sealed, the signal obtained from the density meter 4 will not change over time unless there is any leakage in the test channel 3. In this way, first a leakage test is performed on only the test channel 3, and if it is normal, the test moves on to each device under test. For example, when first testing whether there is a leak in the device under test 1a, the control valves 2a and 9 are opened for a certain period of time, and then the control valve 9 is closed, so that the test channel 3 and the device under test 1a are connected to one closed flow. It will form a road. In this case, the test is first conducted on all meters under test, and if there is no leakage, the test is completed, and only when leakage is detected, the test is carried out one by one as described above to find the leakage meter. Try to shorten it. After the start of the test until the control valve 9 closes, the period measurement of the control unit 10 is regulated by the timer 11, and when a sealed flow path is formed, the period measurement is first performed by the vibrating density meter 4. The periodic data held in the first data hold circuit 14a is held in the first data hold circuit 14a. Subsequently, the periodic data is input to the second data hold circuit 14b at predetermined intervals, and the latest data is held there. Therefore, the first
The data hold circuit 14a always holds data corresponding to the fluid density inside the device under test 1a at the time of forming the sealed flow path, that is, immediately after the start of the test.
Since the data corresponding to the gas density at that time is held in the data hold circuit 14b, if there is no leakage in the device under test 1a, the data contents of both are the same, and the judgment circuit 16 determines that the data is normal. If there is a change, it is determined that there is an abnormality. When one test is completed in this manner, for example, control valve 2b is selected, the next device to be tested (for example, 1b and control valve 2b) is selected, and the same test as described above is automatically repeated.
叙上のごとく、この発明によれば流路中の漏洩
を密度の測定によつて検出しているため様々な利
点がある。即ち、従来の圧力変化の計測に比べ密
度の場合は高感度であるので試験時間は極めて短
く、自動化する場合のメリツトが大きくなる。ま
た、温度によつて測定値が変化しないため温度補
正の必要はなく極めて容易に漏洩試験を行なうこ
とができる。さらにまた、複数の被試験機器を装
着しておけば、制御弁を自動的に切換えるのみで
順次と各機器の漏洩の有無を試験できるので量産
品の場合、作業効率がよい。 As described above, the present invention has various advantages because leakage in the flow path is detected by measuring density. That is, compared to the conventional measurement of pressure changes, density measurement has a higher sensitivity, so the test time is extremely short, and there is a great advantage in automation. Furthermore, since the measured value does not change due to temperature, there is no need for temperature correction, making it possible to perform a leakage test extremely easily. Furthermore, if a plurality of devices under test are installed, each device can be tested for leakage in sequence simply by automatically switching the control valves, which improves work efficiency in the case of mass-produced products.
第1図はこの発明に係る漏洩試験装置の一実施
例を示す全体のブロツク図、第2図は制御部10
の具体的な構成の一例を示すブロツク図である。
第3図は振動式密度計の一例を示す説明図であ
る。
1a,1b…1n……被試験機器、2a,2b
…2n,9……制御弁、3……試験流路、4……
振動式密度計、5……真空タンク、10……制御
部、11……タイマー、12……クロツク回路、
13……周期測定回路、14a……第1のデータ
ホールド回路、14b……第1のデータホールド
回路、15……比較回路。
FIG. 1 is an overall block diagram showing an embodiment of the leak test device according to the present invention, and FIG. 2 is a control unit 10.
FIG. 2 is a block diagram showing an example of a specific configuration.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an example of a vibrating density meter. 1a, 1b...1n...Equipment under test, 2a, 2b
...2n, 9...control valve, 3...test flow path, 4...
Vibrating density meter, 5... Vacuum tank, 10... Control unit, 11... Timer, 12... Clock circuit,
13... Period measurement circuit, 14a... First data hold circuit, 14b... First data hold circuit, 15... Comparison circuit.
Claims (1)
と、該複数の制御弁に一端の接続口を接続すると
ともに他端の接続口を閉塞した被試験機器と、前
記制御弁を介して前記試験流路に接続した振動式
密度計と、該振動式密度計の他端に接続した1の
制御弁と、該1の制御弁に接続した定圧装置と、
記各制御弁の操作端に弁開閉信号を与えるととも
に前記振動式密度計からの信号を入力する制御部
とからなり、該制御部は、スタート信号により所
定時間が経過したときに信号を発生するタイマー
と、該タイマーの信号を受けてから一定時間毎に
クロツクパルスを発生するクロツク回路と、前記
振動式密度計からの信号の周期を測定する周期測
定回路と、該周期測定回路からの最初の周期デー
タを保持する第1のデータホールド回路と、前記
クロツク回路からクロツクパルスに同期して常に
最新の周期データを保持する第2のデータホール
ド回路と、該第1のデータホールド回路と前記第
2のデータホールド回路の信号を比較する比較回
路とからなり、前記複数の制御弁を切り替えるこ
とにより前記振動式密度計を含む試験流路と被試
験機器とで形成される密封流路の漏洩を各被試験
機器毎に検出するようにしたことを特徴とする漏
洩試験装置。1. A plurality of control valves branched and connected to a test flow path, a device under test having a connection port at one end connected to the plurality of control valves and a connection port at the other end being closed, and a vibrating density meter connected to the test flow path, one control valve connected to the other end of the vibrating density meter, and a constant pressure device connected to the one control valve;
a control section that applies a valve opening/closing signal to the operating end of each control valve and inputs a signal from the vibrating density meter, and the control section generates a signal when a predetermined time has elapsed in response to a start signal. a timer, a clock circuit that generates clock pulses at regular intervals after receiving a signal from the timer, a period measuring circuit that measures the period of the signal from the vibrating density meter, and an initial period from the period measuring circuit. a first data hold circuit that holds data; a second data hold circuit that always holds the latest periodic data in synchronization with clock pulses from the clock circuit; It consists of a comparison circuit that compares the signals of the hold circuit, and by switching the plurality of control valves, it detects leakage in the sealed flow path formed by the test flow path including the vibrating density meter and the device under test. A leak test device characterized by detecting each device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6706280A JPS56163432A (en) | 1980-05-22 | 1980-05-22 | Device for testing leakage |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6706280A JPS56163432A (en) | 1980-05-22 | 1980-05-22 | Device for testing leakage |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56163432A JPS56163432A (en) | 1981-12-16 |
| JPS6353488B2 true JPS6353488B2 (en) | 1988-10-24 |
Family
ID=13333975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6706280A Granted JPS56163432A (en) | 1980-05-22 | 1980-05-22 | Device for testing leakage |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56163432A (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
1980
- 1980-05-22 JP JP6706280A patent/JPS56163432A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56163432A (en) | 1981-12-16 |
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