JPS6355653B2 - - Google Patents
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- JPS6355653B2 JPS6355653B2 JP9832781A JP9832781A JPS6355653B2 JP S6355653 B2 JPS6355653 B2 JP S6355653B2 JP 9832781 A JP9832781 A JP 9832781A JP 9832781 A JP9832781 A JP 9832781A JP S6355653 B2 JPS6355653 B2 JP S6355653B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- cylindrical object
- detection circuit
- flaw
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、例えば薬剤カプセルの如き円筒物
体を光学的にヘリカルスキヤンして傷の有無を検
出する傷検査装置に関するものである。
体を光学的にヘリカルスキヤンして傷の有無を検
出する傷検査装置に関するものである。
第１図ａは正常に動作している従来の傷検査装
置を示す斜視図である。同図において、被検査物
体である円筒物体４は、矢印Ｂ方向に回転する回
転ローラ５により回転駆動されながら矢印Ａ方向
に送られているものとする。一方、円筒物体４に
対して照明装置２，３より光が照射されており、
円筒物体４上の或る一点からの反射波が光電セン
サ１に入力し、そこで電気信号に変換される。す
なわち光電センサ１から得られる出力信号は、円
筒物体４の周辺をヘリカルスキヤンした結果得ら
れた信号であると云える。
置を示す斜視図である。同図において、被検査物
体である円筒物体４は、矢印Ｂ方向に回転する回
転ローラ５により回転駆動されながら矢印Ａ方向
に送られているものとする。一方、円筒物体４に
対して照明装置２，３より光が照射されており、
円筒物体４上の或る一点からの反射波が光電セン
サ１に入力し、そこで電気信号に変換される。す
なわち光電センサ１から得られる出力信号は、円
筒物体４の周辺をヘリカルスキヤンした結果得ら
れた信号であると云える。
このようにして光電センサ１から得られる出力
信号の波形は、円筒物体４の周辺に例えばピンホ
ールのような傷Ｐがあつたとすると、その部分か
らの反射光量は他の正常部分からの反射光量に比
して非常に少なくなるので、第１図ｂに示す如く
なる。すなわち第１図ｂにおける変化点P′が円筒
物体４の傷Ｐに起因する出力変化を示している。
そこで光電センサ１からの出力信号を微分する
と、第１図ｃに示す出力波形が得られ、傷Ｐに対
応する信号変化P″の検出が容易となる。円筒物
体４の周辺に傷がなければ、このような信号変化
P″は検出されないから、当該円筒物体は傷のな
い良品と判定される。
信号の波形は、円筒物体４の周辺に例えばピンホ
ールのような傷Ｐがあつたとすると、その部分か
らの反射光量は他の正常部分からの反射光量に比
して非常に少なくなるので、第１図ｂに示す如く
なる。すなわち第１図ｂにおける変化点P′が円筒
物体４の傷Ｐに起因する出力変化を示している。
そこで光電センサ１からの出力信号を微分する
と、第１図ｃに示す出力波形が得られ、傷Ｐに対
応する信号変化P″の検出が容易となる。円筒物
体４の周辺に傷がなければ、このような信号変化
P″は検出されないから、当該円筒物体は傷のな
い良品と判定される。
所が従来の傷検査装置において、円筒物体を駆
動するはずの回転ローラ５が、第２図ａにおいて
示すように、故障のため回転しないか、或いは円
筒物体４が異形状のため回転しない場合には、円
筒物体４が矢印Ａ方向に通過しても、円筒物体の
周辺をヘリカルスキヤンして全面検査したことに
はならない。
動するはずの回転ローラ５が、第２図ａにおいて
示すように、故障のため回転しないか、或いは円
筒物体４が異形状のため回転しない場合には、円
筒物体４が矢印Ａ方向に通過しても、円筒物体の
周辺をヘリカルスキヤンして全面検査したことに
はならない。
しかし光電センサ１の出力信号は第２図ｂに示
す如く異常の見られない平坦な波形となり、従つ
てその微分出力も第２図ｃに示す如く信号変化を
含まないから、当該円筒物体の周辺を全面検査し
たわけでもないのに、当該円筒物体を良品と判定
してしまう恐れが従来の傷検査装置にはあつた。
す如く異常の見られない平坦な波形となり、従つ
てその微分出力も第２図ｃに示す如く信号変化を
含まないから、当該円筒物体の周辺を全面検査し
たわけでもないのに、当該円筒物体を良品と判定
してしまう恐れが従来の傷検査装置にはあつた。
この発明は、上述の如き従来の傷検査装置の欠
点を除去するためになされたものであり、従つて
この発明の目的は、回転ローラが回転していない
にもかかわらず、被検査物体である円筒物体を良
品と速断することのないようにした傷検査装置を
提供することにある。
点を除去するためになされたものであり、従つて
この発明の目的は、回転ローラが回転していない
にもかかわらず、被検査物体である円筒物体を良
品と速断することのないようにした傷検査装置を
提供することにある。
この発明の構成の要点は、被検査物体の傷の有
無を検出する回路のほか、被検査物体の回転の有
無を検出する回路と、両回路の検出結果により被
検査物体の良否の判定を行なう回路と、を備えた
点にある。
無を検出する回路のほか、被検査物体の回転の有
無を検出する回路と、両回路の検出結果により被
検査物体の良否の判定を行なう回路と、を備えた
点にある。
次に図を参照してこの発明の一実施例を説明す
る。
る。
第３図はこの発明の一実施例を示すブロツク図
である。同図において、６は信号増幅用アンプ、
７は傷検知回路、８は回転検知回路、９は総合判
定回路、１０は不良品排出部、であり、その他、
第１図、第２図におけるのと同じ符号は同一物を
指す。
である。同図において、６は信号増幅用アンプ、
７は傷検知回路、８は回転検知回路、９は総合判
定回路、１０は不良品排出部、であり、その他、
第１図、第２図におけるのと同じ符号は同一物を
指す。
第３図において、被検査物体である円筒物体４
は回転ローラ５によつて回転させられながら進
む。円筒物体４は照明装置２，３により照明さ
れ、その照明された個所の明るさの変化を光電セ
ンサ１によつて電気信号に変換する。この光電セ
ンサ１の出力を信号増幅用アンプ６において増幅
し、傷検知回路７と回転検知回路８に入力する。
傷検知回路７は傷の有無を検知してその結果を総
判定回路９に出力し、回転検知回路８は円筒物体
４の回転の有無を検知してその結果を総合判定回
路９に出力する。総合判定回路９では、回転検知
回路８からの出力が「回転有」の場合のみ、傷検
知回路７の出力を有効と判断し、「回転有」で
「傷有」の場合には不良品排出部１０へ指令を発
して当該円筒物体を不良品として排出させる。
は回転ローラ５によつて回転させられながら進
む。円筒物体４は照明装置２，３により照明さ
れ、その照明された個所の明るさの変化を光電セ
ンサ１によつて電気信号に変換する。この光電セ
ンサ１の出力を信号増幅用アンプ６において増幅
し、傷検知回路７と回転検知回路８に入力する。
傷検知回路７は傷の有無を検知してその結果を総
判定回路９に出力し、回転検知回路８は円筒物体
４の回転の有無を検知してその結果を総合判定回
路９に出力する。総合判定回路９では、回転検知
回路８からの出力が「回転有」の場合のみ、傷検
知回路７の出力を有効と判断し、「回転有」で
「傷有」の場合には不良品排出部１０へ指令を発
して当該円筒物体を不良品として排出させる。
第４図は傷検知回路７の構成例を示す回路図、
第５図は第４図における各部信号のタイミングチ
ヤート、である。
第５図は第４図における各部信号のタイミングチ
ヤート、である。
第４図において、１１は微分器、１２，１３は
それぞれ比較器、１４は例えば単安定マルチバイ
ブレータの如きタイマー、１５はカウンタ、１６
はデイジタル比較器、である。
それぞれ比較器、１４は例えば単安定マルチバイ
ブレータの如きタイマー、１５はカウンタ、１６
はデイジタル比較器、である。
第４図、第５図を参照して動作を説明する。光
電センサから増幅用アンプを介して送られてくる
出力信号イは微分器１１に入力されて微分され
る。出力信号イに、第５図において見られるよう
に、傷信号が含まれていると、その微分出力ロ
は、同じく第５図に示される如き波形となる。こ
の微分出力ロを比較器１３において或る基準電圧
TH1と比較して２値化すると、インバータＩを
介して、第５図に示す如き立上り信号ハが得られ
る。他方、微分出力ロを比較器１２において他の
基準電圧TH2と比較して２値化すると、第５図
に示す如き立下り信号ニが得られる。更にこの立
下り信号ニの立下りエツジで、例えば単安定マル
チバイブレータから成るタイマー１４を動作させ
ると、第５図に示す如きタイマー出力ホが得られ
る。このタイマー出力ホと立上り信号ハの論理積
をアンドゲートＡから出力すると、これが第５図
に見られる如き傷検知信号ヘであり、カウンタ１
５に入力される。つまり円筒物体に、ピンホール
のような傷があると、その個所からは光の反射量
が少なくなるので光電センサの出力が変化するか
ら、この変化を傷検知回路で検出しているわけで
ある。
電センサから増幅用アンプを介して送られてくる
出力信号イは微分器１１に入力されて微分され
る。出力信号イに、第５図において見られるよう
に、傷信号が含まれていると、その微分出力ロ
は、同じく第５図に示される如き波形となる。こ
の微分出力ロを比較器１３において或る基準電圧
TH1と比較して２値化すると、インバータＩを
介して、第５図に示す如き立上り信号ハが得られ
る。他方、微分出力ロを比較器１２において他の
基準電圧TH2と比較して２値化すると、第５図
に示す如き立下り信号ニが得られる。更にこの立
下り信号ニの立下りエツジで、例えば単安定マル
チバイブレータから成るタイマー１４を動作させ
ると、第５図に示す如きタイマー出力ホが得られ
る。このタイマー出力ホと立上り信号ハの論理積
をアンドゲートＡから出力すると、これが第５図
に見られる如き傷検知信号ヘであり、カウンタ１
５に入力される。つまり円筒物体に、ピンホール
のような傷があると、その個所からは光の反射量
が少なくなるので光電センサの出力が変化するか
ら、この変化を傷検知回路で検出しているわけで
ある。
この傷検知信号ヘをカウンタ１５でカウント
し、そのカウント結果をデイジタル比較器１６に
おいて或る基準値と比較し、基準値を越えていれ
ば傷有と判定し、越えていなければ傷無と判定
し、その結果を出力する。
し、そのカウント結果をデイジタル比較器１６に
おいて或る基準値と比較し、基準値を越えていれ
ば傷有と判定し、越えていなければ傷無と判定
し、その結果を出力する。
第６図は回転検知回路８の構成例を示す回路
図、第７図は第６図における各部信号のタイミン
グチヤート、である。
図、第７図は第６図における各部信号のタイミン
グチヤート、である。
第６図において、１７は微分器、１８は比較
器、１９は単安定マルチバイブレータの如きタイ
マー、２０はカウンタ、２１はデイジタル比較
器、である。
器、１９は単安定マルチバイブレータの如きタイ
マー、２０はカウンタ、２１はデイジタル比較
器、である。
第６図、第７図を参照して動作を説明する。光
電センサから増幅用アンプを介して送られてくる
出力信号イは微分器１７に入力されて微分され
る。この微分出力ロは、第７図に見られるよう
に、円筒物体の回転によるゆらぎに起因して、円
筒物体の回転周波数に応じたレベル変動を含んで
いる。この微分出力ロを比較器１８において或る
基準値VTHと比較して２値化すると、インバータ
Ｉを介して第７図に示す如き比較器出力ハが得ら
れる。この比較器出力ハは、円筒体の回転周波数
に応じた繰り返し周波数をもつパルス列信号とな
る。比較器出力ハの各パルスの立下りエツジで、
例えばモノマルチバイブレータからなるタイマー
１９を動作させると、第７図に示す如きタイマー
出力ニが得られる。タイマー出力ニと比較器出力
ハの論理積出力をアンドゲートＡから出力し、カ
ウンタ２０への入力ホを第７図に示す如く得る。
カウンタ２０ではこの入力信号をカウントし、カ
ウント結果はデイジタル比較器２１において或る
基準値と比較され、基準値を越えていれば円筒物
体の回転有、越えていなければ回転無と判定し、
判定結果が出力される。
電センサから増幅用アンプを介して送られてくる
出力信号イは微分器１７に入力されて微分され
る。この微分出力ロは、第７図に見られるよう
に、円筒物体の回転によるゆらぎに起因して、円
筒物体の回転周波数に応じたレベル変動を含んで
いる。この微分出力ロを比較器１８において或る
基準値VTHと比較して２値化すると、インバータ
Ｉを介して第７図に示す如き比較器出力ハが得ら
れる。この比較器出力ハは、円筒体の回転周波数
に応じた繰り返し周波数をもつパルス列信号とな
る。比較器出力ハの各パルスの立下りエツジで、
例えばモノマルチバイブレータからなるタイマー
１９を動作させると、第７図に示す如きタイマー
出力ニが得られる。タイマー出力ニと比較器出力
ハの論理積出力をアンドゲートＡから出力し、カ
ウンタ２０への入力ホを第７図に示す如く得る。
カウンタ２０ではこの入力信号をカウントし、カ
ウント結果はデイジタル比較器２１において或る
基準値と比較され、基準値を越えていれば円筒物
体の回転有、越えていなければ回転無と判定し、
判定結果が出力される。
以上説明したように、本発明による傷検査装置
においては、円筒体の傷検知と回転検知を行な
い、傷を検知せず回転検知した場合のみ被検査物
体を良品と判定する。それ以外は不良であると判
定し、不良品排出部１０で不良側へ排出する。
においては、円筒体の傷検知と回転検知を行な
い、傷を検知せず回転検知した場合のみ被検査物
体を良品と判定する。それ以外は不良であると判
定し、不良品排出部１０で不良側へ排出する。
この発明によれば、傷検知回路に回転検知回路
を組み合わせた構成としたために、正常に回転し
ない円筒物体は、不良であると判定できるように
なつた。つまり、円筒物体がつぶれてうまく回転
しない時でも回転検知回路で回転を検知できない
ので不良と判定できる。
を組み合わせた構成としたために、正常に回転し
ない円筒物体は、不良であると判定できるように
なつた。つまり、円筒物体がつぶれてうまく回転
しない時でも回転検知回路で回転を検知できない
ので不良と判定できる。
今までの説明は、反射光センサを用いて不透明
な物質から成る円筒物体を検査する場合について
述べたが、透明な物質から成る円筒物体でも同じ
ように検査できる。透明な円筒物体の場合は、傷
検知回路の構成が若干異なり、立上り信号でタイ
マーを作動してゲート信号円作り、立下り信号と
の論理積で傷検知信号をつくる。つまり透明な円
筒物体に穴があいていると穴のふちでのみ光が反
射してきてこの信号をつかまえることになる。ま
た、透過光センサでも同じような考え方で検査性
能を上げることができる。
な物質から成る円筒物体を検査する場合について
述べたが、透明な物質から成る円筒物体でも同じ
ように検査できる。透明な円筒物体の場合は、傷
検知回路の構成が若干異なり、立上り信号でタイ
マーを作動してゲート信号円作り、立下り信号と
の論理積で傷検知信号をつくる。つまり透明な円
筒物体に穴があいていると穴のふちでのみ光が反
射してきてこの信号をつかまえることになる。ま
た、透過光センサでも同じような考え方で検査性
能を上げることができる。
第１図ａは正常に動作している従来の傷検査装
置を示す斜視図、同図ｂは同図ａにおける光電セ
ンサの出力波形図、同図ｃは同出力波形の微分波
形図、第２図ａは回転ローラが停止した場合の従
来の傷検査装置を示す斜視図、第２図ｂは第２図
ａにおける光電センサの出力波形図、第２図ｃは
同出力波形の微分波形図、第３図はこの発明の一
実施例を示すブロツク図、第４図は第３図におけ
る傷検知回路７の構成例を示す回路図、第５図は
第４図における各部信号のタイミングチヤート、
第６図は第３図における回転検知回路８の構成例
を示す回路図、第７図は第６図における各部信号
のタイミングチヤート、である。 符号説明 １……光電センサ、２，３……照明
装置、４……円筒物体、５……回転ローラ、６…
…信号増幅用アンプ、７……傷検知回路、８……
回転検知回路、９……総合判定回路、１０……不
良品排出部、１１，１７……微分器、１２，１
３，１８……比較器、１４，１９……タイマー、
１５，２０……カウンタ、１６，２１……デイジ
タル比較器。
置を示す斜視図、同図ｂは同図ａにおける光電セ
ンサの出力波形図、同図ｃは同出力波形の微分波
形図、第２図ａは回転ローラが停止した場合の従
来の傷検査装置を示す斜視図、第２図ｂは第２図
ａにおける光電センサの出力波形図、第２図ｃは
同出力波形の微分波形図、第３図はこの発明の一
実施例を示すブロツク図、第４図は第３図におけ
る傷検知回路７の構成例を示す回路図、第５図は
第４図における各部信号のタイミングチヤート、
第６図は第３図における回転検知回路８の構成例
を示す回路図、第７図は第６図における各部信号
のタイミングチヤート、である。 符号説明 １……光電センサ、２，３……照明
装置、４……円筒物体、５……回転ローラ、６…
…信号増幅用アンプ、７……傷検知回路、８……
回転検知回路、９……総合判定回路、１０……不
良品排出部、１１，１７……微分器、１２，１
３，１８……比較器、１４，１９……タイマー、
１５，２０……カウンタ、１６，２１……デイジ
タル比較器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 回転しながら送られる円筒物体に光を照射す
ることにより該物体表面をヘリカルスキヤンし、
その反射光を光電センサにより電気信号に変換し
て出力し、該出力波形を処理することによつて前
記円筒物体表面の傷の有無を判定する傷検査装置
であつて、 センサ出力を微分する微分回路と、微分出力を
第１および第２の各しきい値によりスライスして
得られる第１および第２の出力の連続発生タイミ
ングから傷の有無を検出する第１の検出回路と、
前記微分出力を第３のしきい値によりスライスし
て得られる第３の出力におけるパルス列の周期性
から円筒物体の回転の有無を検出する第２の検出
回路と、前記第１の検出回路により傷を検出せ
ず、第２の検出回路により回転有を検出したとき
のみ円筒物体を良品と判定する判定回路と、から
成ることを特徴とする傷検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9832781A JPS58743A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 傷検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9832781A JPS58743A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 傷検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58743A JPS58743A (ja) | 1983-01-05 |
| JPS6355653B2 true JPS6355653B2 (ja) | 1988-11-04 |
Family
ID=14216803
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9832781A Granted JPS58743A (ja) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | 傷検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58743A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59226974A (ja) * | 1983-06-09 | 1984-12-20 | Fuji Electric Co Ltd | 外観検査装置 |
-
1981
- 1981-06-26 JP JP9832781A patent/JPS58743A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58743A (ja) | 1983-01-05 |
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