JPS6364045B2 - - Google Patents
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- JPS6364045B2 JPS6364045B2 JP56213214A JP21321481A JPS6364045B2 JP S6364045 B2 JPS6364045 B2 JP S6364045B2 JP 56213214 A JP56213214 A JP 56213214A JP 21321481 A JP21321481 A JP 21321481A JP S6364045 B2 JPS6364045 B2 JP S6364045B2
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、固体積層電子回路部品に関し、特に
回路部品に搭載する電子部品と、外部の回路との
接続用電極及び接続端子の改良に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to solid-state laminated electronic circuit components, and particularly to improvements in electrodes and connection terminals for connecting electronic components mounted on circuit components and external circuits.
従来例を第7図,に図示する。これは、抵
抗やトランジスタ等を搭載する為の基材となつて
おり、一例としては第3図に示される如き増幅回
路を、第4図に示されるように搭載して構成され
る1つの電子回路部品となる。ここで電極1,2
は誘電体3を間に介した積層コンデンサC2を構
成しており、端子T2,T3により外部に接続され
る。また端子T1,T8はコンデンサC1を形成し、
端子T4,T5,T6,T7は積層コンデンサ上に搭載
される電子回路の接続端子である。通常、誘電体
3は酸化チタン(TiO2)やチタン酸バリウム等
で形成されており、その誘電率はTiO2の場合20
〜200程度、BaTiO3の場合1000〜10000程度であ
る。また、端子と電極は通常パラジウム(Pd)
銀(Ag)を単独或いは合金として用いている。 A conventional example is illustrated in FIG. This serves as a base material for mounting resistors, transistors, etc., and for example, an amplifier circuit as shown in Figure 3 is mounted as shown in Figure 4 to form an electronic circuit. Becomes a circuit component. Here electrodes 1 and 2
constitutes a multilayer capacitor C 2 with a dielectric 3 interposed therebetween, and is connected to the outside through terminals T 2 and T 3 . In addition, terminals T 1 and T 8 form a capacitor C 1 ,
Terminals T 4 , T 5 , T 6 , and T 7 are connection terminals for electronic circuits mounted on the multilayer capacitor. The dielectric 3 is usually made of titanium oxide (TiO 2 ), barium titanate, etc., and its dielectric constant is 20 in the case of TiO 2
~200, and in the case of BaTiO3 it is around 1000-10000. Also, terminals and electrodes are usually made of palladium (Pd)
Silver (Ag) is used alone or as an alloy.
第3図は高周波増幅回路を示し、トランジスタ
Q1,Q2は2段直結増幅器により、信号源抵抗R0
を持つた高周波信号Aを増幅し、コンデンサC3、
高周波トランスT1によつて信号Aの周波数に同
調された負荷を通じて出力を取り出している。す
なわち、信号Aの周波数をfAとすれば、コンデン
サC3、高周波トランスT1のインダクタンスL1は、
に設定されている。また+Bは電源であり、端子
T1〜T8は電子部品を搭載する積層コンデンサ
(以下ベースMLCと云う。)の端子である。抵抗
R1,R2はトランジスタQ1,Q2のエミツタ抵抗、
抵抗R3はトランジスタQ1のベースバイアス抵抗、
抵抗R4はトランジスタQ1のコレクタ抵抗である。 Figure 3 shows a high frequency amplification circuit, with transistors
Q 1 and Q 2 are two-stage directly connected amplifiers, and the signal source resistance R 0
Amplify the high frequency signal A with a capacitor C 3 ,
The output is taken out through a load tuned to the frequency of signal A by a high frequency transformer T1 . That is, if the frequency of signal A is f A , the inductance L 1 of capacitor C 3 and high frequency transformer T 1 is is set to . +B is the power supply, and the terminal
T 1 to T 8 are terminals of a multilayer capacitor (hereinafter referred to as base MLC) on which electronic components are mounted. resistance
R 1 and R 2 are emitter resistances of transistors Q 1 and Q 2 ,
Resistor R 3 is the base bias resistance of transistor Q 1 ,
Resistor R 4 is the collector resistance of transistor Q 1 .
ここで、コンデンサC1,C2は信号Aに対して
は、十分小さいインピーダンスを持つものとし、
抵抗R1,R2に比べて高周波的なインピーダンス
は無視できる値とする。第7図において、端子
T6とコンデンサC1の電極の間に生ずる浮遊容量
をCo1、端子T5とコンデンサC2の電極の間に生ず
る浮遊容量をCo2とする。実験の一例としては、
Co1,Co2とも20pF〜200pF程度の値が得られて
いる。コンデンサC3が強誘電体(BaTiO3でε=
4000程度)である。通常、トランジスタQ1の入
力インピーダンスRin1は、1KΩ程度であるか
ら、Co1のインピーダンスがRin1、Roに比べて
無視できない値となる程、信号Aの周波数が高く
なれば、第3図の回路は高周波増幅器としての性
能を発揮できなくなる。同様に、Co2の値が同調
容量C3の値に比べて無視できなくなれば、コン
デンサC3、端子T1による同調回路の同調周波数
がずれてしまう。さらに、ベースMLCがBaTiO3
で構成される場合には、通常容量値は温度による
容量変化、印加電圧による容量変化が非常に大き
い為、Co1による信号損失、Co2による同調周波
数の変化が大きくなるという大きな欠点を持つて
いる。 Here, it is assumed that capacitors C 1 and C 2 have sufficiently small impedance for signal A,
The high frequency impedance is assumed to be negligible compared to the resistors R 1 and R 2 . In Figure 7, the terminal
Let Co 1 be the stray capacitance generated between T 6 and the electrode of capacitor C 1 , and Co 2 be the stray capacitance generated between terminal T 5 and the electrode of capacitor C 2 . An example of an experiment is
Values of about 20 pF to 200 pF have been obtained for both Co 1 and Co 2 . Capacitor C 3 is ferroelectric (BaTiO 3 with ε=
4000). Normally, the input impedance Rin1 of the transistor Q1 is about 1KΩ, so if the frequency of the signal A becomes so high that the impedance of Co1 becomes a value that cannot be ignored compared to Rin1 and Ro, the circuit in Figure 3 It becomes impossible to demonstrate its performance as a high frequency amplifier. Similarly, if the value of Co 2 is no longer negligible compared to the value of the tuning capacitor C 3 , the tuning frequency of the tuning circuit formed by the capacitor C 3 and the terminal T 1 will shift. Additionally, the base MLC is BaTiO3
When configured with There is.
Co1が無視できる周波数としては、
1/2πfA.Co1≒10KΩ≫1KΩ ……
と仮定し、Co1=100pFとすると、
fA≒160KHz
となる。160KHzでは、高周波増幅回路としての
能力は無いとみなせる。 The frequency at which Co 1 can be ignored is 1/2πf A . Assuming that Co 1 ≒10KΩ≫1KΩ... and assuming Co 1 = 100pF, fA≒160KHz. At 160KHz, it can be considered that it has no ability as a high frequency amplification circuit.
また、コンデンサC3の値は、一般的なIFT(中
間周波トランス)においては、周波数10.7MHzで
100pF、周波数455KHzで200pFから1500pF程度
である。したがつて、周波数10.7MHzでは、Co2
の値をC3の1/100として、1pF、また455KHzでも
2〜15pF程度であり、Co2の実験値とは大きくか
けはなれている。 In addition, the value of capacitor C3 is
100pF, about 200pF to 1500pF at a frequency of 455KHz. Therefore, at frequency 10.7MHz, Co 2
If the value is 1/100 of C 3 , it is 1 pF, and even at 455 KHz, it is about 2 to 15 pF, which is far different from the experimental value for Co 2 .
本発明は、従来の欠点である大きな浮遊容量に
よる電子回路への悪影響をさける為に、電子回路
中の限定された端子及び表面電極の浮遊容量を減
少させることを目的とするものである。 The present invention aims to reduce the stray capacitance of limited terminals and surface electrodes in an electronic circuit in order to avoid the negative influence on the electronic circuit due to the large stray capacitance, which is a drawback of the conventional method.
以下、図示の実施例について本発明を詳述する
と、本発明は例えばベースコンデンサに搭載され
る電子回路中の比較的大きい浮遊容量が生じた場
合問題となる部分の表面電極及び端子と、誘電体
の間にその誘電体の誘電率より小さい誘電率を持
つ絶縁体の層を設け、これによつて浮遊容量を低
減するようにしたものである。この絶縁体として
は、ガラス、アルミナ、低誘電率の酸化チタン等
がある。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the illustrated embodiments. An insulating layer having a dielectric constant lower than that of the dielectric is provided between the two, thereby reducing stray capacitance. Examples of this insulator include glass, alumina, and titanium oxide with a low dielectric constant.
第1図及び第2図に本発明の一実施例を示す。
これは低誘電率の絶縁体層4を除いては、第7図
の構成と同じである。すなわち、縁縁体層4を設
けることにより、端子T5,T6とコンデンサC2,
C1の電極間の浮遊容量を大幅に減少させている。
例として誘電体3の誘電電率εを4000、コンデン
サC2の電極と端子T5の平均距離t(μm)を500μ
m、コンデンサC2の電極と端子T5の対向面積を
0.5mm2とすると、浮遊容量Co2は絶縁体層4が無い
場合に
Co2≒8.855×ε×S/t≒35.42(pF)
また、絶縁体層4(ε=10、厚さ50μm)があ
る場合には、絶縁体層4と誘電体3との境界に電
極が存在すると考えた時と等価となる為、減少し
た浮遊容量Co2′は、Co2と絶縁体層4の容量C′の
直列接続された値となり、
C′=8.855×10×0.5/50=0.8855(pF)
Co2′=1/1/CO2+1/C′=Co2×C′/Co2+C′
=35.42×0.8855/35.42+0.8855
=0.8639(pF)
Co2′は約0.9pFと大幅に減少する。Co1′の値も
同様の値となる。 An embodiment of the present invention is shown in FIGS. 1 and 2. FIG.
This structure is the same as the structure shown in FIG. 7 except for the insulator layer 4 having a low dielectric constant. That is, by providing the edge layer 4, the terminals T 5 , T 6 and the capacitor C 2 ,
The stray capacitance between C1 electrodes is significantly reduced.
For example, the dielectric constant ε of dielectric 3 is 4000, and the average distance t (μm) between the electrode of capacitor C 2 and terminal T 5 is 500μ.
m, the opposing area between the electrode of capacitor C 2 and terminal T 5 is
Assuming 0.5 mm 2 , the stray capacitance Co 2 is Co 2 ≒8.855×ε×S/t≒35.42 (pF) when the insulating layer 4 is not present. In some cases, it is equivalent to assuming that an electrode exists at the boundary between the insulator layer 4 and the dielectric layer 3, so the reduced stray capacitance Co 2 ' is equal to the capacitance C' of Co 2 and the insulator layer 4. are connected in series, and C′=8.855×10×0.5/50=0.8855(pF) Co 2 ′=1/1/CO 2 +1/C′=Co 2 ×C′/Co 2 +C′ = 35.42 ×0.8855/35.42+0.8855 = 0.8639 (pF) Co 2 ' significantly decreases to approximately 0.9 pF. The value of Co 1 ′ is also similar.
本発明によれば、式によつて求められるfA
の値は、fA=16MHzとなり、高周波をも十分増幅
でき、コンデンサC3との比較からの要求値であ
るところのCo2′=1pF以下という値をも十分満足
している。 According to the present invention, fA determined by Eq.
The value of f A is 16 MHz, which can sufficiently amplify high frequencies, and satisfies the required value of Co 2 ′ = 1 pF or less when compared with capacitor C 3 .
第4図は第3図の回路を第1図及び第2図のベ
ースコンデンサの上に構成した上面配置図であ
る。第5図は第4図の構成を側面から見た構造図
である。R2は印刷焼成された抵抗、5はトラン
ジスタQ2のエミツタとR2を接続する電極、Rは
端子T5の上面までのびた部分で、トランジスタ
Q2のコレクタに接続されている。7は部分6と
誘電体3の間の浮遊容量を低減する為の絶縁体、
9は固体積層電子部品を搭載する基板、8は基板
9の上に印刷された銅等の配線材である。 FIG. 4 is a top layout diagram in which the circuit of FIG. 3 is constructed on the base capacitor of FIGS. 1 and 2. FIG. 5 is a structural diagram of the configuration shown in FIG. 4 viewed from the side. R 2 is a printed and fired resistor, 5 is an electrode that connects the emitter of transistor Q 2 and R 2 , R is a part that extends to the top surface of terminal T 5 , and
Connected to Q2 collector. 7 is an insulator for reducing stray capacitance between the portion 6 and the dielectric 3;
Reference numeral 9 represents a board on which solid laminated electronic components are mounted, and reference numeral 8 represents a wiring material such as copper printed on the board 9.
第6図は電子回路を誘電体3のベースMLCと
別のベースMLCの上に構成した場合であり、誘
電体3をチタン酸バリウムとすれば、酸化チタ
ン、アルミナ等で構成されることが多い。 Figure 6 shows the case where an electronic circuit is constructed on the base MLC of the dielectric 3 and another base MLC.If the dielectric 3 is barium titanate, it is often composed of titanium oxide, alumina, etc. .
もちろん、絶縁体7は、抵抗R4の下にも設け
てよいし、第4図の例で云えば、トランジスタ
Q1,Q2抵抗R3,R4及びその接続電極の下にすべ
て設けることが望ましい。ベースMLCの表面だ
けでなく、裏面にも電子回路を構成するならば、
下面にも絶縁体を設けることが望ましい。 Of course, the insulator 7 may also be provided under the resistor R4 , and in the example of FIG.
It is desirable to provide all of Q 1 and Q 2 under resistors R 3 and R 4 and their connecting electrodes. If you configure electronic circuits not only on the front side of the base MLC but also on the back side,
It is desirable to provide an insulator on the lower surface as well.
本発明では、内部電極と接続されていないとこ
ろの少くともひとつ以上のリードレス端子と、該
端子が設けられている積層誘電体の側面部との間
に、該積層誘電体より低誘電率の絶縁体の層を設
けているので、誘電率の高い基板の上でも、十分
な特性を持つ固体積層電子回路を構成できる。 In the present invention, between at least one leadless terminal that is not connected to an internal electrode and the side surface of the laminated dielectric where the terminal is provided, a dielectric having a dielectric constant lower than that of the laminated dielectric is provided. Since the insulator layer is provided, a solid-state multilayer electronic circuit with sufficient characteristics can be constructed even on a substrate with a high dielectric constant.
第1図は本発明の積層体の一実施例を示す横断
面図、第2図は同上面図、第3図は高周波増幅回
路の一例を示す回路図、第4図は第3図の回路の
積層体上への構成例を示す図、第5図はその側面
図、第6図は本発明の別の実施例を示す側面図、
第7図は従来例を示す横断面図、同はその上
面図である。
1,2は電極、3は誘電体、4は絶縁体層、5
は電極、6は部分、7は絶縁体、8は配線材、9
は基板、T1〜T8は端子である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing one embodiment of the laminate of the present invention, FIG. 2 is a top view of the same, FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a high frequency amplification circuit, and FIG. 4 is the circuit of FIG. 3. FIG. 5 is a side view thereof, and FIG. 6 is a side view showing another embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a conventional example, and the same is a top view thereof. 1 and 2 are electrodes, 3 is a dielectric, 4 is an insulator layer, 5
is an electrode, 6 is a part, 7 is an insulator, 8 is a wiring material, 9
is the board, and T 1 to T 8 are terminals.
Claims (1)
た少くともひとつのコンデンサ機能を有する積層
体において、内部電極と接続されていないところ
の少くともひとつ以上のリードレス端子と、該端
子が設けられている積層誘電体の側面部との間
に、該積層誘電体より低誘電率の絶縁体の層を設
けたことを特徴とする固体積層電子回路部品。 2 前記端子の積層誘電体の上面及び下面に廻り
込んだ部分と該積層誘電体の間と、端子と該積層
誘電体側面部の間に、低誘電率の絶縁体の層を形
成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載の固体積層電子回路部品。[Scope of Claims] 1. In a laminate having at least one capacitor function and configured by laminating internal electrode layers and dielectric layers, at least one leadless portion not connected to the internal electrodes A solid-state laminated electronic circuit component, characterized in that a layer of an insulator having a dielectric constant lower than that of the laminated dielectric is provided between a terminal and a side surface of the laminated dielectric on which the terminal is provided. 2. A layer of an insulator with a low dielectric constant is formed between the portion of the terminal that wraps around the upper and lower surfaces of the laminated dielectric and the laminated dielectric, and between the terminal and the side surface of the laminated dielectric. A solid-state laminated electronic circuit component according to claim 1.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56213214A JPS58118130A (en) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | Solid laminated electronic circuit part |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56213214A JPS58118130A (en) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | Solid laminated electronic circuit part |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58118130A JPS58118130A (en) | 1983-07-14 |
| JPS6364045B2 true JPS6364045B2 (en) | 1988-12-09 |
Family
ID=16635420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56213214A Granted JPS58118130A (en) | 1981-12-30 | 1981-12-30 | Solid laminated electronic circuit part |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58118130A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03167866A (en) * | 1989-11-28 | 1991-07-19 | Fujitsu Ltd | Mounting structure of ic chip |
| JP3921177B2 (en) * | 2003-01-31 | 2007-05-30 | Tdk株式会社 | Composite electronic components |
-
1981
- 1981-12-30 JP JP56213214A patent/JPS58118130A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58118130A (en) | 1983-07-14 |
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