JPS6364734B2 - - Google Patents
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- JPS6364734B2 JPS6364734B2 JP13467081A JP13467081A JPS6364734B2 JP S6364734 B2 JPS6364734 B2 JP S6364734B2 JP 13467081 A JP13467081 A JP 13467081A JP 13467081 A JP13467081 A JP 13467081A JP S6364734 B2 JPS6364734 B2 JP S6364734B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- mass spectrometer
- pressure
- pump
- molecular pump
- Prior art date
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Links
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
- G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
- G01M3/202—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ターボ分子ポンプを用いて排気を行
なうようにしたリークデテクタに関するものであ
る。
なうようにしたリークデテクタに関するものであ
る。
従来のこの種リークデテクタは、第1図に示す
ような構成をなしている。すなわち、ターボ分子
ポンプ1と補助真空ポンプ2とを直列に介挿して
なる真空排気系路3の始端を被試験体4内に臨ま
せておき、前記両ポンプ1,2を運転することに
よつて該真空排気系路3内を2×10-4Torr〜
10-9Torrの高真空、または、超高真空状態にす
るようにしている。そして、この真空排気系路3
の前記ターボ分子ポンプ1よりも前段側に質量分
析計管5の被分析ガス取入口5aを開口させてい
る。なお、6はこの質量分析計管5の圧力を測定
する真空計である。この真空計6は2×
10-4Torr以上の圧力になつたときに質量分析計
管5のイオン源のフイラメントへの通電を遮断す
る保護機能をも有している。また、7は、前記真
空排気系路3の始端近傍部に介挿したスロツトル
バルブ、8は、バルブ9を介して前記真空排気系
路3のスロツトルバルブ7よりも前段部に接続さ
れた粗引ポンプである。
ような構成をなしている。すなわち、ターボ分子
ポンプ1と補助真空ポンプ2とを直列に介挿して
なる真空排気系路3の始端を被試験体4内に臨ま
せておき、前記両ポンプ1,2を運転することに
よつて該真空排気系路3内を2×10-4Torr〜
10-9Torrの高真空、または、超高真空状態にす
るようにしている。そして、この真空排気系路3
の前記ターボ分子ポンプ1よりも前段側に質量分
析計管5の被分析ガス取入口5aを開口させてい
る。なお、6はこの質量分析計管5の圧力を測定
する真空計である。この真空計6は2×
10-4Torr以上の圧力になつたときに質量分析計
管5のイオン源のフイラメントへの通電を遮断す
る保護機能をも有している。また、7は、前記真
空排気系路3の始端近傍部に介挿したスロツトル
バルブ、8は、バルブ9を介して前記真空排気系
路3のスロツトルバルブ7よりも前段部に接続さ
れた粗引ポンプである。
しかして、このような構成のものであれば、次
のようにしてリークテストを行なうことができ
る。すなわち、まず、粗引ポンプ8を用いて大気
圧から1〜10−2Torrの圧力領域まで予備排気を
行なつた後、バルブ9を閉じてスロツトルバルブ
7を開成させ、しかる後にプローブガスであるヘ
リウムガスを被試験体のクラツク状になつたリー
ク個所に吹付ける。そうすると、被試験体4の内
外の圧力差によつて前記ヘリウムガスがリーク個
所を通して被試験体4内に漏入する。そして、こ
のヘリウムガスは、スロツトルバルブ7を経由し
て質量分析計管5に流入すると同時にターボ分子
ポンプ1と補助真空ポンプ2とによつて大気中に
排出される。なお、前記質量分析計管5に流入し
たヘリウムガスは、他の気体分子とともにイオン
源内で熱電子衝撃によつて陽イオン化され、周知
の磁場偏向形質量分析の原理に従つて、イオンの
m/e(m=気体の原子質量数、e=イオンの荷
電量)ごとに分離される。すなわち、ヘリウムリ
−クデテクタの質量分析計管5は、m/e=4の
ヘリウムイオンのみがイオンコレクタに到達する
ように設計されているので、ヘリウムイオンはこ
こで自由電子を受け取り元の中性の分子にもど
る。したがつて、イオンコレクタではヘリウムイ
オン量に比例したいわゆるイオン電流が得られる
こととなり、このイオン電流を測定することによ
つてヘリウムガスのリーク量を察知することがで
きるわけである。
のようにしてリークテストを行なうことができ
る。すなわち、まず、粗引ポンプ8を用いて大気
圧から1〜10−2Torrの圧力領域まで予備排気を
行なつた後、バルブ9を閉じてスロツトルバルブ
7を開成させ、しかる後にプローブガスであるヘ
リウムガスを被試験体のクラツク状になつたリー
ク個所に吹付ける。そうすると、被試験体4の内
外の圧力差によつて前記ヘリウムガスがリーク個
所を通して被試験体4内に漏入する。そして、こ
のヘリウムガスは、スロツトルバルブ7を経由し
て質量分析計管5に流入すると同時にターボ分子
ポンプ1と補助真空ポンプ2とによつて大気中に
排出される。なお、前記質量分析計管5に流入し
たヘリウムガスは、他の気体分子とともにイオン
源内で熱電子衝撃によつて陽イオン化され、周知
の磁場偏向形質量分析の原理に従つて、イオンの
m/e(m=気体の原子質量数、e=イオンの荷
電量)ごとに分離される。すなわち、ヘリウムリ
−クデテクタの質量分析計管5は、m/e=4の
ヘリウムイオンのみがイオンコレクタに到達する
ように設計されているので、ヘリウムイオンはこ
こで自由電子を受け取り元の中性の分子にもど
る。したがつて、イオンコレクタではヘリウムイ
オン量に比例したいわゆるイオン電流が得られる
こととなり、このイオン電流を測定することによ
つてヘリウムガスのリーク量を察知することがで
きるわけである。
ところで、前記質量分析計管5におけるイオン
源での熱電子放射量、すなわち、電子電流を一定
とすると、生成ヘリウムイオンの量は、イオン源
に入射するヘリウムガス分子の量、つまり、ヘリ
ウムガスの圧力に比例する。したがつて、かかる
質量分析計管5の個有感度Rは、ヘリウムガスの
分圧をP(Torr)とし、イオン電流をI(A)とする
と、 R=I/P(A/Torr) ……(1) なる式で表わされる。また、前記質量分析計管5
は、本質的に2×10-4Torr以下の圧力、すなわ
ち高真空領域でなければ動作しないため、前記タ
ーボ分子ポンプ1等を用いて高真空に排気するわ
けであるが、ここで、ターボ分子ポンプ1の排気
速度をS(/sec)、ヘリウムガスのリーク量を
Q(Torr /sec)とすると、前述したヘリウ
ムガスの分圧Pは、 P=Q/S(Torr) ……(2) なる式で表わされる。したがつて、これらの式
(1),(2)から明らかなように、ヘリウムガスのリー
ク量Qを一定とすると、前記排気速度Sが小さく
なるほど質量分析計管5部でのヘリウムガスの分
圧Pが上昇し、リークデテクタとしての感度が向
上する。喚言すれば、かかるリークデテクタの感
度はターボ分子ポンプ1の排気速度Sに支配され
ることになる。しかしながら、前記排気速度Sを
小さくしすぎると、高真空空間を構成している壁
面からの放出ガスが排気し切れなくなり、質量分
析計管5部の全圧が上昇してしまうので、前記排
気速度Sを無制限に小さくして感度を向上させる
というわけにはいかない。質量分析計管5部の全
圧が高真空領域を保つ程度に排気速度を設定する
必要が有るわけである。したがつて、質量分析計
管5の被分析ガス取入口5aを真空排気系路3の
ターボ分子ポンプ1よりも前段側に開口させた従
来のリークデテクタの感度は、この点に限界があ
る。
源での熱電子放射量、すなわち、電子電流を一定
とすると、生成ヘリウムイオンの量は、イオン源
に入射するヘリウムガス分子の量、つまり、ヘリ
ウムガスの圧力に比例する。したがつて、かかる
質量分析計管5の個有感度Rは、ヘリウムガスの
分圧をP(Torr)とし、イオン電流をI(A)とする
と、 R=I/P(A/Torr) ……(1) なる式で表わされる。また、前記質量分析計管5
は、本質的に2×10-4Torr以下の圧力、すなわ
ち高真空領域でなければ動作しないため、前記タ
ーボ分子ポンプ1等を用いて高真空に排気するわ
けであるが、ここで、ターボ分子ポンプ1の排気
速度をS(/sec)、ヘリウムガスのリーク量を
Q(Torr /sec)とすると、前述したヘリウ
ムガスの分圧Pは、 P=Q/S(Torr) ……(2) なる式で表わされる。したがつて、これらの式
(1),(2)から明らかなように、ヘリウムガスのリー
ク量Qを一定とすると、前記排気速度Sが小さく
なるほど質量分析計管5部でのヘリウムガスの分
圧Pが上昇し、リークデテクタとしての感度が向
上する。喚言すれば、かかるリークデテクタの感
度はターボ分子ポンプ1の排気速度Sに支配され
ることになる。しかしながら、前記排気速度Sを
小さくしすぎると、高真空空間を構成している壁
面からの放出ガスが排気し切れなくなり、質量分
析計管5部の全圧が上昇してしまうので、前記排
気速度Sを無制限に小さくして感度を向上させる
というわけにはいかない。質量分析計管5部の全
圧が高真空領域を保つ程度に排気速度を設定する
必要が有るわけである。したがつて、質量分析計
管5の被分析ガス取入口5aを真空排気系路3の
ターボ分子ポンプ1よりも前段側に開口させた従
来のリークデテクタの感度は、この点に限界があ
る。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもの
で、ターボ分子ポンプによる気体分子圧縮系路の
途中に質量分析計の被分析ガス取入口を開口させ
るという独特な構成によつて飛躍的な感度の向上
を図ることができるようにしたリークデテクタを
提供するものである。
で、ターボ分子ポンプによる気体分子圧縮系路の
途中に質量分析計の被分析ガス取入口を開口させ
るという独特な構成によつて飛躍的な感度の向上
を図ることができるようにしたリークデテクタを
提供するものである。
以下、本発明の一実施例を第2図、第3図を参
照して説明する。なお、第1図に示す従来例と同
一の部分には同一の記号を付して説明を省略す
る。
照して説明する。なお、第1図に示す従来例と同
一の部分には同一の記号を付して説明を省略す
る。
ターボ分子ポンプ11と補助真空ポンプ2とを
直列に介挿した真空排気系路3を有してなるリー
クデテクタにおいて、前記ターボ分子ポンプ11
による気体分子圧縮系路の途中に質量分析計5の
被分析ガス取入口5aを開口させている。詳述す
れば、ターボ分子ポンプ11は、第2図に示すよ
うにベースフレーム21にモータ22を支持さ
せ、このモータ22の出力軸22aにロータ23
を固着している。ロータ23は前記モータ22の
上半部を囲繞する円筒状のもので、その外周に
は、多数枚のロータ翼24a…を円周方向に等角
間隔をあけて配列してなるロータ翼群24を多段
に設けている。また、下端部を前記ベースフレー
ム21に気密に連着させて前記ロータ23を囲繞
する円筒状のケーシング25を設けこのケーシン
グ25の内周に、多数枚のステータ翼26a…を
円周方向に等角間隔をあけて配列してなるステー
タ翼群26を、前記ロータ翼群24,24間にそ
れぞれ位置させて多段に設けている。そして、こ
のケーシング25の上端開口部を吸気口27とす
るとともに、前記ベースフレーム21に前記補助
真空ポンプ2に連通する排気口28を設けてい
る。しかして、このターボ分子ポンプ11のロー
タ23を高速で回転させると、自由運動によつて
吸気口27に入射した気体分子が初段のロータ翼
24aにたたかれて初段のステータ翼26aに送
られ、このステータ翼26aに当つて跳ね返つた
気体分子が次段のロータ翼24aにたたかれて更
に次段のステータ翼26aに当るという具合にし
て入射したガスが1段毎に圧縮されるようになつ
ている。そして、前記排気口27に達したときに
は、チツソガスで1×108、ヘリウムガス1×104
程度に圧縮されるようにしてある。このようにし
てなるターボ分子ポンプ11のケーシング25の
中間部分、つまり、ヘリウムガスの圧縮化が101
〜103程度になる部分に透孔25aを設けるとと
もに該透孔25aに対応する部位のステータ翼2
6aを取り除き、この透孔25aに前記質量分析
計5の被分析ガス取入口5aを連着している。
直列に介挿した真空排気系路3を有してなるリー
クデテクタにおいて、前記ターボ分子ポンプ11
による気体分子圧縮系路の途中に質量分析計5の
被分析ガス取入口5aを開口させている。詳述す
れば、ターボ分子ポンプ11は、第2図に示すよ
うにベースフレーム21にモータ22を支持さ
せ、このモータ22の出力軸22aにロータ23
を固着している。ロータ23は前記モータ22の
上半部を囲繞する円筒状のもので、その外周に
は、多数枚のロータ翼24a…を円周方向に等角
間隔をあけて配列してなるロータ翼群24を多段
に設けている。また、下端部を前記ベースフレー
ム21に気密に連着させて前記ロータ23を囲繞
する円筒状のケーシング25を設けこのケーシン
グ25の内周に、多数枚のステータ翼26a…を
円周方向に等角間隔をあけて配列してなるステー
タ翼群26を、前記ロータ翼群24,24間にそ
れぞれ位置させて多段に設けている。そして、こ
のケーシング25の上端開口部を吸気口27とす
るとともに、前記ベースフレーム21に前記補助
真空ポンプ2に連通する排気口28を設けてい
る。しかして、このターボ分子ポンプ11のロー
タ23を高速で回転させると、自由運動によつて
吸気口27に入射した気体分子が初段のロータ翼
24aにたたかれて初段のステータ翼26aに送
られ、このステータ翼26aに当つて跳ね返つた
気体分子が次段のロータ翼24aにたたかれて更
に次段のステータ翼26aに当るという具合にし
て入射したガスが1段毎に圧縮されるようになつ
ている。そして、前記排気口27に達したときに
は、チツソガスで1×108、ヘリウムガス1×104
程度に圧縮されるようにしてある。このようにし
てなるターボ分子ポンプ11のケーシング25の
中間部分、つまり、ヘリウムガスの圧縮化が101
〜103程度になる部分に透孔25aを設けるとと
もに該透孔25aに対応する部位のステータ翼2
6aを取り除き、この透孔25aに前記質量分析
計5の被分析ガス取入口5aを連着している。
このような構成のものであれば、従来のリーク
デテクタと同様な操作によつてリークテストを行
なうことができるわけであるが、本発明によれ
ば、質量分析計5の被分析ガス取入口5aをター
ボ分子ポンプ11による気体分子圧縮系路の途中
に開口させて、圧力の高くなつたヘリウムガスを
前記質量分析計5へ流入させるようにしているの
でリークデテクタとしての感度を飛跳的に向上さ
せることができるものである。
デテクタと同様な操作によつてリークテストを行
なうことができるわけであるが、本発明によれ
ば、質量分析計5の被分析ガス取入口5aをター
ボ分子ポンプ11による気体分子圧縮系路の途中
に開口させて、圧力の高くなつたヘリウムガスを
前記質量分析計5へ流入させるようにしているの
でリークデテクタとしての感度を飛跳的に向上さ
せることができるものである。
具体的に説明すれば、例えば、次のようにな
る。すなわち、ターボ分子ポンプ11は補助真空
ポンプ2の到達圧力に一定の支配を受け、仮に補
助真空ポンプ2の到達圧力を1×10-2Torrとす
ると、前記ターボ分子ポンプ11の吸気口27で
圧縮比だけ圧力が低下するので、およそ1×
10-10Torrが全圧での到達圧力となる。したがつ
て、全圧を構成するガスをN2と仮定すると、全
圧縮比が1/2になる点に質量分析計5の分析ガス
取入口5aを開口させた場合、ここでの全圧は1
×10-6Torrになり質量分析計5が動作するのに
十分な圧力となる。また、この点でのヘリウムガ
スの圧縮比も1/2となるので、吸気口27部より
もヘリウムガスの圧力が102上昇する。しかして、
この実施例を第1図に示す従来例と比較した場合
次のようになる。すなわち、ターボ分子ポンプ
1,11の排気速度Sを100(/sec)とし、被
試験体4のリーク量Qを1×10-9(Torr /
sec)とすると、従来例における質量分析計5部
で得られるヘリウム分圧Pは1×10-9(Torr
/sec)/100(/sec)=1×10-11(Torr)と
なる。これに対して、本発明に係る実施例では、
ターボ分子ポンプ11の圧縮作用によつて質量分
析計5に流入するヘリウムガスの圧力が102上昇
する。つまり、この実施例では、 (1×10-11)×(1×102)=1×10-9(Torr)と
100倍のヘリウム分圧Pが得られることになる。
したがつて、従来のものに比べて100倍以上の高
感度を得ることが可能になる。
る。すなわち、ターボ分子ポンプ11は補助真空
ポンプ2の到達圧力に一定の支配を受け、仮に補
助真空ポンプ2の到達圧力を1×10-2Torrとす
ると、前記ターボ分子ポンプ11の吸気口27で
圧縮比だけ圧力が低下するので、およそ1×
10-10Torrが全圧での到達圧力となる。したがつ
て、全圧を構成するガスをN2と仮定すると、全
圧縮比が1/2になる点に質量分析計5の分析ガス
取入口5aを開口させた場合、ここでの全圧は1
×10-6Torrになり質量分析計5が動作するのに
十分な圧力となる。また、この点でのヘリウムガ
スの圧縮比も1/2となるので、吸気口27部より
もヘリウムガスの圧力が102上昇する。しかして、
この実施例を第1図に示す従来例と比較した場合
次のようになる。すなわち、ターボ分子ポンプ
1,11の排気速度Sを100(/sec)とし、被
試験体4のリーク量Qを1×10-9(Torr /
sec)とすると、従来例における質量分析計5部
で得られるヘリウム分圧Pは1×10-9(Torr
/sec)/100(/sec)=1×10-11(Torr)と
なる。これに対して、本発明に係る実施例では、
ターボ分子ポンプ11の圧縮作用によつて質量分
析計5に流入するヘリウムガスの圧力が102上昇
する。つまり、この実施例では、 (1×10-11)×(1×102)=1×10-9(Torr)と
100倍のヘリウム分圧Pが得られることになる。
したがつて、従来のものに比べて100倍以上の高
感度を得ることが可能になる。
なお、前記実施例では、1台のターボ分子ポン
プを用いて排気を行なうようにした場合について
説明したが、本発明はかならずしもこのようなも
のに限られないのは勿論であり、例えば、第4図
に示すように、2台のターボ分子ポンプ11′,
11″を直列に接続して排気を行なうようにした
ものであつてもよい。しかして、この場合には、
前記両ターボ分子ポンプ11′,11″の排気速度
を適当に選定することによつて、前段のターボ分
子ポンプ11′の排気口と後段のターボ分子ポン
プ11″の吸気口とを接続する管路29の途中に
質量分析計5の被分析ガス取入口5aを開口させ
てもよい。なお上記説明で、質量分析計について
は、磁場偏向方式を実施態様として説明したが、
質量分析計にはカドラポール形質量分析計など
種々の形式のものがあり、本発明は、これら種々
の質量分析計が適用可能である。
プを用いて排気を行なうようにした場合について
説明したが、本発明はかならずしもこのようなも
のに限られないのは勿論であり、例えば、第4図
に示すように、2台のターボ分子ポンプ11′,
11″を直列に接続して排気を行なうようにした
ものであつてもよい。しかして、この場合には、
前記両ターボ分子ポンプ11′,11″の排気速度
を適当に選定することによつて、前段のターボ分
子ポンプ11′の排気口と後段のターボ分子ポン
プ11″の吸気口とを接続する管路29の途中に
質量分析計5の被分析ガス取入口5aを開口させ
てもよい。なお上記説明で、質量分析計について
は、磁場偏向方式を実施態様として説明したが、
質量分析計にはカドラポール形質量分析計など
種々の形式のものがあり、本発明は、これら種々
の質量分析計が適用可能である。
第1図は従来例を示す回路説明図である。第2
図は本発明の一実施例を示す回路説明図、第3図
は同実施例におけるターボ分子ポンプ部を示す正
断面図である。第4図は本発明の他の実施例を示
す正面図である。 5……質量分析計、5a……被分析ガス取入
口、11,11′,11″……ターボ分子ポンプ。
図は本発明の一実施例を示す回路説明図、第3図
は同実施例におけるターボ分子ポンプ部を示す正
断面図である。第4図は本発明の他の実施例を示
す正面図である。 5……質量分析計、5a……被分析ガス取入
口、11,11′,11″……ターボ分子ポンプ。
Claims (1)
- 1 ターボ分子ポンプを用いて排気を行なうリー
クデテクタにおいて、前記ターボ分子ポンプによ
る気体分子圧縮系路の途中に質量分析計の被分析
ガス取入口を開口させたことを特徴とするリーク
デテクタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13467081A JPS5835434A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | リ−クデテクタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13467081A JPS5835434A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | リ−クデテクタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5835434A JPS5835434A (ja) | 1983-03-02 |
| JPS6364734B2 true JPS6364734B2 (ja) | 1988-12-13 |
Family
ID=15133810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13467081A Granted JPS5835434A (ja) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | リ−クデテクタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5835434A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2190204B (en) * | 1986-05-09 | 1990-10-17 | Boc Group Plc | Improvement in leak detectors |
| DE3722069A1 (de) * | 1986-08-21 | 1988-02-25 | Toyoda Gosei Kk | Signalhornschaltvorrichtung fuer ein steuerrad |
| DE3775213D1 (de) * | 1987-03-27 | 1992-01-23 | Leybold Ag | Lecksuchgeraet und betriebsverfahren dazu. |
| US5317900A (en) * | 1992-10-02 | 1994-06-07 | The Lyle E. & Barbara L. Bergquist Trust | Ultrasensitive helium leak detector for large systems |
-
1981
- 1981-08-26 JP JP13467081A patent/JPS5835434A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5835434A (ja) | 1983-03-02 |
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