JPS6366394B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6366394B2 JPS6366394B2 JP58166562A JP16656283A JPS6366394B2 JP S6366394 B2 JPS6366394 B2 JP S6366394B2 JP 58166562 A JP58166562 A JP 58166562A JP 16656283 A JP16656283 A JP 16656283A JP S6366394 B2 JPS6366394 B2 JP S6366394B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- etching
- electrode
- upper electrode
- etching gas
- wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、平行平板電極型のドライエツチング
装置に関する。
装置に関する。
半導体デバイスの製造工程におけるエツチング
処理には、いわゆる湿式のエツチング装置に代え
て、排液処理の問題が無く、かつ微細なパターン
のエツチングも可能な各種のドライエツチング装
置が提供されている。その一つのタイプとして、
平板状の上部電極と下部電極とが互いに平行に配
設される、いわゆる平行平板電極型と呼ばれるド
ライエツチング装置が用いられている。しかしな
がら、このタイプの装置には、エツチングガスの
注入方法あるいは排気方法によつてウエハ内での
エツチング速度のばらつきが大きくなるという欠
点がある。すなわち、エツチングガスを上部対向
電極から注入し、チヤンバ内の下部から排気する
方法であつても、ウエハ内でのガスの供給が不均
一であるため、エツチヤントの偏りが生じ、エツ
チング速度のばらつきが大きかつたり、反応生成
物等のデポジシヨンが起つたりして、良好なエツ
チングを行うことが難しい。
処理には、いわゆる湿式のエツチング装置に代え
て、排液処理の問題が無く、かつ微細なパターン
のエツチングも可能な各種のドライエツチング装
置が提供されている。その一つのタイプとして、
平板状の上部電極と下部電極とが互いに平行に配
設される、いわゆる平行平板電極型と呼ばれるド
ライエツチング装置が用いられている。しかしな
がら、このタイプの装置には、エツチングガスの
注入方法あるいは排気方法によつてウエハ内での
エツチング速度のばらつきが大きくなるという欠
点がある。すなわち、エツチングガスを上部対向
電極から注入し、チヤンバ内の下部から排気する
方法であつても、ウエハ内でのガスの供給が不均
一であるため、エツチヤントの偏りが生じ、エツ
チング速度のばらつきが大きかつたり、反応生成
物等のデポジシヨンが起つたりして、良好なエツ
チングを行うことが難しい。
本発明は、このような欠点に鑑み、ウエハ内で
のエツチング速度のばらつきが小さく、かつ高速
でエツチングできるドライエツチング装置を提供
することを目的とする。
のエツチング速度のばらつきが小さく、かつ高速
でエツチングできるドライエツチング装置を提供
することを目的とする。
本発明は、上部電極にエツチングガス注入口と
排気口とを複数個設けて、上部電極を通してエツ
チングガス注入と排気とを同時にしかもウエハに
対して均一に行うことができるようにしたもので
ある。
排気口とを複数個設けて、上部電極を通してエツ
チングガス注入と排気とを同時にしかもウエハに
対して均一に行うことができるようにしたもので
ある。
以下に、本発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
第1図は、本発明による平行平板電極型ドライ
エツチング装置の一実施例を縦断面図で示す。
エツチング装置の一実施例を縦断面図で示す。
真空チヤンバ1内の下部側にウエハ4を載置す
る平板状の下部電極3が設けられている。下部電
極3に対向させてその上方には上部電極2が設け
られている。7は下部電極3に接続した高周波電
源である。
る平板状の下部電極3が設けられている。下部電
極3に対向させてその上方には上部電極2が設け
られている。7は下部電極3に接続した高周波電
源である。
上部電極2は、ダクト状にして内部を仕切板2
1により2分し、一方をエツチングガス注入系8
に、他方を排気系9にそれぞれ連通させている。
また、下部電極3と対向している上部電極2の下
面全面に、細長いエツチングガス注入口5と排気
口6とを交互に設けている。そして、排気口6は
すべて排気系9に連通させており、注入口5は上
部電極2の内壁に設けたダクト22により排気系
9の空間から仕切り、しかもすべて注入系8に連
通するよう構成している。
1により2分し、一方をエツチングガス注入系8
に、他方を排気系9にそれぞれ連通させている。
また、下部電極3と対向している上部電極2の下
面全面に、細長いエツチングガス注入口5と排気
口6とを交互に設けている。そして、排気口6は
すべて排気系9に連通させており、注入口5は上
部電極2の内壁に設けたダクト22により排気系
9の空間から仕切り、しかもすべて注入系8に連
通するよう構成している。
以上のような構成により、エツチングガス注入
と排気とを同時かつ均一に行い、ウエハ4上での
ガスの流れを最小限におさえることができるの
で、ウエハ4には常に新しいエツチヤントが供給
され、きわめて均一性の良い速度のエツチングを
行うことができる。本実施例では、ウエハ4のエ
ツチング速度は15%以下となり、エツチング速度
も大きくなる。
と排気とを同時かつ均一に行い、ウエハ4上での
ガスの流れを最小限におさえることができるの
で、ウエハ4には常に新しいエツチヤントが供給
され、きわめて均一性の良い速度のエツチングを
行うことができる。本実施例では、ウエハ4のエ
ツチング速度は15%以下となり、エツチング速度
も大きくなる。
なお、実施例では、カソードカツプリング方式
のリアクテイブイオンエツチング装置について説
明したが、アノードカツプリング方式のプラズマ
エツチング装置にも適用できることは言うまでも
ない。また、電極間隔を5〜20mm程度に小さくす
ることで、1mm/min(例えば、Al、Poly−Si)
以上のエツチング速度を得ることも可能である。
更に、上部電極2の形状についても実施例の形状
に限定されるものではない。
のリアクテイブイオンエツチング装置について説
明したが、アノードカツプリング方式のプラズマ
エツチング装置にも適用できることは言うまでも
ない。また、電極間隔を5〜20mm程度に小さくす
ることで、1mm/min(例えば、Al、Poly−Si)
以上のエツチング速度を得ることも可能である。
更に、上部電極2の形状についても実施例の形状
に限定されるものではない。
第1図は本発明による平行平板電極型ドライエ
ツチング装置の縦断面図。 図中、1は真空チヤンバ、2は上部電極、3は
下部電極、4はウエハ、5はエツチングガス注入
口、6は排気口、7は高周波電源、8はエツチン
グガス注入系、9は排気系。
ツチング装置の縦断面図。 図中、1は真空チヤンバ、2は上部電極、3は
下部電極、4はウエハ、5はエツチングガス注入
口、6は排気口、7は高周波電源、8はエツチン
グガス注入系、9は排気系。
Claims (1)
- 1 被エツチング基板を載置する平板状の下部電
極と、該下部電極に平行に対向する平板状の上部
電極とを内蔵する平行平板電極型のドライエツチ
ング装置において、前記上部電極にエツチングガ
ス注入口と、排気口とを複数個設け、各注入口は
エツチングガス注入系路へ、各排気口は排気系路
へそれぞれ連通するよう構成したことを特徴とす
るドライエツチング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16656283A JPS6059078A (ja) | 1983-09-12 | 1983-09-12 | ドライエツチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16656283A JPS6059078A (ja) | 1983-09-12 | 1983-09-12 | ドライエツチング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6059078A JPS6059078A (ja) | 1985-04-05 |
| JPS6366394B2 true JPS6366394B2 (ja) | 1988-12-20 |
Family
ID=15833560
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16656283A Granted JPS6059078A (ja) | 1983-09-12 | 1983-09-12 | ドライエツチング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6059078A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0810689B2 (ja) * | 1986-12-22 | 1996-01-31 | 東京エレクトロン株式会社 | アッシング処理装置 |
| JPH01108930U (ja) * | 1988-01-14 | 1989-07-24 | ||
| JPH02184022A (ja) * | 1989-01-11 | 1990-07-18 | Koujiyundo Kagaku Kenkyusho:Kk | Cvd電極 |
| JP2832724B2 (ja) * | 1989-06-16 | 1998-12-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 被処理体処理装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57131372A (en) * | 1981-02-05 | 1982-08-14 | Seiko Epson Corp | Plasma etching device |
-
1983
- 1983-09-12 JP JP16656283A patent/JPS6059078A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6059078A (ja) | 1985-04-05 |
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