JPS6366424B2 - - Google Patents
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- JPS6366424B2 JPS6366424B2 JP56098363A JP9836381A JPS6366424B2 JP S6366424 B2 JPS6366424 B2 JP S6366424B2 JP 56098363 A JP56098363 A JP 56098363A JP 9836381 A JP9836381 A JP 9836381A JP S6366424 B2 JPS6366424 B2 JP S6366424B2
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- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/39—Circuit design at the physical level
- G06F30/394—Routing
- G06F30/3953—Routing detailed
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、セグメント固定型LSIすなわち特定
層にセグメントを固定的に設けた形式の多層LSI
の配線パターン作成処理方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to fixed segment LSIs, that is, multilayer LSIs in which segments are fixedly provided in specific layers.
The present invention relates to a wiring pattern creation processing method.
近年、LSI(大規模集積回路)の製造コストの
消減および製造期間の短縮を図るために、多層
LSIの特定層に基本ゲート回路、端子、独立セグ
メント(端子から遊離しているセグメント)を固
定させておき、他の配線層において特定層の端子
またはセグメント上のスルーホールの間の配線を
行うことにより所望の論理回路を実現するマスタ
ースライス方式のLSIが一般に使用されている。 In recent years, multilayer
Fixing basic gate circuits, terminals, and independent segments (segments that are free from the terminals) on a specific layer of an LSI, and then wiring between the through holes on the terminals or segments of the specific layer on other wiring layers. A master slice type LSI is generally used to realize a desired logic circuit.
この方式のLSIの配線処理を行う場合に、まず
第1に、固定層のセグメントをいかにして無駄な
く有効に使用するかということが考慮される。す
なわち、固定層のセグメントを有効に利用するこ
とにより、自由配線層の自由度が増し、それだけ
未接続の区間が発生する危険性が減少することに
なる。従つて、従来の自由配線パターン作成処理
は、前記の固定セグメントの有効な利用という観
点から行われていた。ところで、固定セグメント
は、通常、配線の都合上両端点のみならずセグメ
ントの途中にもスルーホールが設けられている。
そのため、すべての固定セグメントが両端点を介
してパターンを形成しているわけではなく、セグ
メントの途中のスルーホールを介して接続してい
るセグメントも存在する。 When wiring an LSI using this method, the first thing to consider is how to use the fixed layer segments effectively without waste. That is, by effectively utilizing the segments of the fixed layer, the degree of freedom of the free wiring layer increases, and the risk of generating unconnected sections decreases accordingly. Therefore, conventional free wiring pattern creation processing has been performed from the viewpoint of effective use of the fixed segments. By the way, fixed segments are usually provided with through holes not only at both end points but also in the middle of the segment for convenience of wiring.
Therefore, not all fixed segments form a pattern through both end points, and some segments are connected through through holes in the middle of the segments.
このように、セグメントの途中のスルーホール
を介してパターンを形成しているセグメントは、
その一部または全部がパターン形成上冗長であ
り、それだけ、回路の電気特性を劣化させること
になる。このように、従来の配線パターン作成処
理においては、電気的に好ましくないパターンが
生じるという問題がある。 In this way, the segments forming a pattern through the through holes in the middle of the segments are
Some or all of them are redundant in terms of pattern formation, and the electrical characteristics of the circuit deteriorate accordingly. As described above, in the conventional wiring pattern creation process, there is a problem in that an electrically undesirable pattern is generated.
本発明の主な目的は、前記の従来形の問題点に
かんがみ、セグメント固定型LSIの配線パターン
の作成において、電気的特性の劣るパターンをよ
り良好なパターンに変更することにより、LSIの
配線パターンの電気的特性を向上させる方法を提
供することにある。 The main purpose of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the conventional type, and to improve the LSI wiring pattern by changing a pattern with poor electrical characteristics to a pattern with better electrical characteristics in the creation of a wiring pattern of a fixed segment type LSI. An object of the present invention is to provide a method for improving the electrical characteristics of a semiconductor device.
本発明によれば、セグメント固定型LSIの配線
パターン作成処理方法であつて、配線パターンに
おいて冗長部を有する固定セグメントを検出する
工程と、該検出された固定セグメントを介するル
ートと異なるルートを、自由配線層において発見
する工程と、該検出された固定セグメントを介す
るルートと該発見されたルートとの電気的特性を
比較する工程と、該比較する工程において比較し
た結果に基いて、前記検出された固定セグメント
を介するルートを前記配線パターンから除去し、
該発見されたルートを前記自由配線層の配線パタ
ーンに埋め込む工程、とを有することを特徴とす
る、セグメント固定型LSIの配線パターン作成処
理方法、
が提供される。 According to the present invention, there is provided a wiring pattern creation processing method for a fixed segment LSI, including the step of detecting a fixed segment having a redundant portion in the wiring pattern, and the step of freely creating a route different from a route via the detected fixed segment. a step of discovering in the wiring layer; a step of comparing the electrical characteristics of the route via the detected fixed segment with the discovered route; removing a route via the fixed segment from the wiring pattern;
There is provided a wiring pattern creation processing method for a fixed segment LSI, comprising the step of embedding the discovered route into the wiring pattern of the free wiring layer.
本発明の一実施例としてのセグメント固定型
LSIの配線パターン作成処理方法が、第1図、第
2図、第3図を用いて以下に説明される。第1図
は、従来の方式により作成された配線パターンを
示し、第2図は本発明の配線パターン作成処理方
法を用いて改良された配線パターンを示す。ま
た、第3図は、本発明による配線パターン作成処
理方法における動作手順を示す。 Segment fixed type as an embodiment of the present invention
The LSI wiring pattern creation processing method will be explained below using FIGS. 1, 2, and 3. FIG. 1 shows a wiring pattern created by a conventional method, and FIG. 2 shows a wiring pattern improved using the wiring pattern creation processing method of the present invention. Further, FIG. 3 shows the operating procedure in the wiring pattern creation processing method according to the present invention.
第1図における配線パターンは、端子Aと端子
Bを接続するルート、および、端子Cと端子Dを
接続するルートから成つている。第1図におい
て、11,12,13,14は固定層に設けられ
た固定セグメントであり、21,22,23,2
4,25,26は自由配線層におけるパターンで
あり、31,32,33は、未使用端子等の配線
障害物である。固定セグメント11には、スルー
ホール111,112,113,114が設けら
れ、固定セグメント12にはスルーホール12
1,122,123,124が設けられ、固定セ
グメント13にはスルーホール131,132,
133,134が、固定セグメント14にはスル
ーホール141,142,143,144がそれ
ぞれ設けられている。 The wiring pattern in FIG. 1 consists of a route connecting terminals A and B, and a route connecting terminals C and D. In FIG. 1, 11, 12, 13, 14 are fixed segments provided in the fixed layer, and 21, 22, 23, 2
4, 25, and 26 are patterns in the free wiring layer, and 31, 32, and 33 are wiring obstacles such as unused terminals. The fixed segment 11 is provided with through holes 111, 112, 113, 114, and the fixed segment 12 is provided with through holes 12.
1, 122, 123, 124 are provided, and the fixed segment 13 has through holes 131, 132,
Through holes 141, 142, 143, and 144 are provided in the fixed segment 14, respectively.
第1図の配線パターンにおいて、端子Aと端子
Bは、自由配線層において障害物31,32等に
より直接接続することができないために、端子A
から自由配線層のパターン21を介してスルーホ
ール112に接続され、固定セグメント11を通
してスルーホール114から再び自由配線層のパ
ターン22を介してスルーホール121に接続さ
れ、さらにセグメント12を通してスルーホール
124から自由配線層のパターン23を介して端
子Bに接続される。前記の端子Aから端子Bに到
るルートにおいて、固定セグメント11のスルー
ホール111と112の間の部分は、接続経路に
含まれない冗長部となつている。また、端子Cと
端子Dを接続するルートにおいては、固定セグメ
ント13の全部が接続経路における冗長部となつ
ている。 In the wiring pattern shown in FIG. 1, terminal A and terminal B cannot be directly connected due to obstacles 31, 32, etc. in the free wiring layer.
from the through hole 112 through the pattern 21 of the free wiring layer, from the through hole 114 through the fixed segment 11 to the through hole 121 again through the pattern 22 of the free wiring layer, and further from the through hole 124 through the segment 12. It is connected to terminal B via the pattern 23 of the free wiring layer. In the route from terminal A to terminal B, the portion of fixed segment 11 between through holes 111 and 112 is a redundant portion that is not included in the connection path. Furthermore, in the route connecting the terminals C and D, all of the fixed segments 13 serve as a redundant part in the connection path.
本発明による配線パターン作成処理方法におい
ては、前述したような固定セグメントの冗長部を
除去するために、すべての配線処理の終了後には
もはや自由配線層の自由度を考慮することなく自
由配線層のあらゆる空きトレースを利用すること
ができる。 In the wiring pattern creation processing method according to the present invention, in order to remove the redundant portions of the fixed segments as described above, after all wiring processing is completed, the free wiring layer is created without considering the degree of freedom of the free wiring layer. Any free trace can be used.
第1図の配線パターンは、前記の本発明の原理
に基づいて、第2図の配線パターンに変更され得
る。第2図の配線パターンにおいては、第1図の
端子Aから端子Bに到るルートにおける冗長部を
有する固定セグメント11に接続される自由配線
上のパターン21および22が取除かれ、代わり
に端子Aを固定セグメント12の端部のスルーホ
ール121に接続するパターン41が自由配線層
上に設けられている。また端子Cと端子Dを接続
するルートにおいても、冗長部を有する固定セグ
メント13に接続されるパターン24,25が取
除かれ、新しいパターン42が設けられている。
第2図の配線パターンは、第1図の配線パターン
に比べて、総メタル容量および介在するスルーホ
ールの数が減少しており、明らかに電気的特性が
改良されている。 The wiring pattern shown in FIG. 1 can be changed to the wiring pattern shown in FIG. 2 based on the principle of the present invention described above. In the wiring pattern of FIG. 2, the patterns 21 and 22 on the free wiring connected to the fixed segment 11 having a redundant part in the route from terminal A to terminal B of FIG. A pattern 41 connecting A to the through hole 121 at the end of the fixed segment 12 is provided on the free wiring layer. Furthermore, in the route connecting terminals C and D, patterns 24 and 25 connected to fixed segment 13 having a redundant portion are removed, and a new pattern 42 is provided.
The wiring pattern shown in FIG. 2 has a reduced total metal capacitance and a reduced number of intervening through holes compared to the wiring pattern shown in FIG. 1, and has clearly improved electrical characteristics.
本発明による配線パターン作成処理方法を実行
する手段が第3図を用いて以下に説明される。第
3図の処理手順の開始時においては、従来形のセ
グメント固定型LSIの配線パターンがデータとし
て入力されているものとする。 Means for carrying out the wiring pattern creation processing method according to the present invention will be explained below with reference to FIG. At the start of the processing procedure shown in FIG. 3, it is assumed that the wiring pattern of a conventional fixed segment LSI has been input as data.
本発明による配線パターン作成処理において
は、第1に、従来形の配線パターン中から、冗長
部を有する固定セグメントを検出する工程1によ
りそのような固定セグメントが存在するか否かが
調べられる。もし、そのような固定セグメントが
存在しない場合は、配線処理は終了する。検出さ
れた固定セグメントが検出された場合は、その固
定セグメントを介するルートに代わる異なるルー
トを自由配線層において実現できるか否かが工程
2により探求される。別のルートが発見されない
場合は、第3図に示されるように、工程1に戻つ
て配線パターンの未処理の部分についての処理が
続行される。 In the wiring pattern creation process according to the present invention, first, it is checked whether such a fixed segment exists in step 1 of detecting a fixed segment having a redundant part from a conventional wiring pattern. If no such fixed segment exists, the wiring process ends. If a detected fixed segment is detected, step 2 explores whether a different route can be realized in the free wiring layer in place of the route through the fixed segment. If another route is not found, as shown in FIG. 3, the process returns to step 1 to continue processing the unprocessed portion of the wiring pattern.
工程2により、検出された固定セグメントを介
するルートと異なる新しいルートが発見された場
合には、新しいルートと元のルートとの電気特性
の比較が工程3により実行される。 If a new route different from the route via the detected fixed segment is found in step 2, a comparison of the electrical characteristics of the new route and the original route is performed in step 3.
新ルートの電気特性が旧ルートと同程度かそれ
以下である場合には再び工程1に戻つて未処理の
部分についての配線処理が行われる。新ルートに
より電気特性が改善される場合は、工程4によ
り、電気特性を比較する工程において比較した結
果に基いて、前記検出された固定セグメントを介
するルートを前記配線パターンから除去し、発見
されたルートを前記自由配線層の配線パターンに
埋め込まれる。 If the electrical characteristics of the new route are comparable to or lower than those of the old route, the process returns to step 1 and wiring processing is performed on the unprocessed portions. If the electrical characteristics are improved by the new route, in step 4, the route via the detected fixed segment is removed from the wiring pattern based on the results of the comparison in the step of comparing electrical characteristics. The route is embedded in the wiring pattern of the free wiring layer.
以後、再び工程1に戻つて、未処理の部分につ
いて同様の処理が繰返される。冗長部を有する固
定セグメントが新たに検出されることがなくなつ
たときに、処理が終了する。このようにして、
LSIの配線パターンにおける電気的に好ましくな
い部分が消滅していく。 Thereafter, the process returns to step 1 and the same process is repeated for the unprocessed portion. The process ends when no new fixed segments with redundant parts are detected. In this way,
Electrically undesirable parts of LSI wiring patterns will disappear.
本発明によれば、セグメント固定型LSIの配線
パターン作成処理において、電気的特性の劣るパ
ターンを良好なパターンに変更することができ、
それによりLSIの配線パターンの電気的特性を向
上させることができる。 According to the present invention, a pattern with poor electrical characteristics can be changed to a pattern with good electrical characteristics in the wiring pattern creation process of a fixed segment LSI.
Thereby, the electrical characteristics of the LSI wiring pattern can be improved.
第1図は、従来形の配線パターン作成処理方法
によるセグメント固定型LSIの配線パターンを示
す図、第2図は、本発明による配線パターン作成
処理方法を用いた場合のセグメント固定型LSIの
配線パターンを示す図、第3図は、本発明による
セグメント固定形LSIの配線パターン作成処理方
法における処理手順を示す図である。
(符号の説明) A,B,C,D…端子、1
1,12,13,14…固定セグメント、11
1,112,113,114,121,122,
123,124,131,132,133,13
4,141,142,143,144…スルーホ
ール、21,22,23,24,25,26,4
1,42…自由配線層のパターン、31,32,
33…配線障害物。
FIG. 1 is a diagram showing a wiring pattern of a segment fixed type LSI obtained by a conventional wiring pattern creation processing method, and FIG. 2 is a diagram showing a wiring pattern of a segment fixed type LSI obtained by using a wiring pattern creation processing method according to the present invention. FIG. 3 is a diagram showing a processing procedure in a wiring pattern creation processing method for a fixed segment LSI according to the present invention. (Explanation of symbols) A, B, C, D...terminals, 1
1, 12, 13, 14...Fixed segment, 11
1,112,113,114,121,122,
123, 124, 131, 132, 133, 13
4, 141, 142, 143, 144...Through hole, 21, 22, 23, 24, 25, 26, 4
1, 42...Free wiring layer pattern, 31, 32,
33...Wiring obstruction.
Claims (1)
理方法であつて、 配線パターンにおいて冗長部を有する固定セグ
メントを検出する工程と、 該検出された固定セグメントを介するルートと
異なるルートを、自由配線層において発見する工
程と、 該検出された固定セグメントを介するルートと
該発見されたルートとの電気的特性を比較する工
程と、 該比較する工程において比較した結果に基い
て、前記検出された固定セグメントを介するルー
トを前記配線パターンから除去し、該発見された
ルートを前記自由配線層の配線パターンに埋め込
む工程、 とを有することを特徴とする、セグメント固定型
LSIの配線パターン作成処理方法。[Claims] 1. A wiring pattern creation processing method for a fixed segment LSI, which comprises: detecting a fixed segment having a redundant portion in the wiring pattern; and creating a route different from a route passing through the detected fixed segment; a step of discovering in the free wiring layer; a step of comparing the electrical characteristics of the route via the detected fixed segment with the discovered route; and based on the comparison result in the comparing step, a fixed segment type characterized by comprising the steps of: removing a route via the fixed segment from the wiring pattern; and embedding the discovered route in the wiring pattern of the free wiring layer.
LSI wiring pattern creation processing method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56098363A JPS582042A (en) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | Preparation processing system for wiring pattern of segment fixed lsi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56098363A JPS582042A (en) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | Preparation processing system for wiring pattern of segment fixed lsi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS582042A JPS582042A (en) | 1983-01-07 |
| JPS6366424B2 true JPS6366424B2 (en) | 1988-12-20 |
Family
ID=14217791
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56098363A Granted JPS582042A (en) | 1981-06-26 | 1981-06-26 | Preparation processing system for wiring pattern of segment fixed lsi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS582042A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6057992A (en) * | 1983-09-09 | 1985-04-03 | 株式会社日立製作所 | Method of deciding disposition and connection of circuit element |
-
1981
- 1981-06-26 JP JP56098363A patent/JPS582042A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS582042A (en) | 1983-01-07 |
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