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JPS6367251B2 - - Google Patents
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JPS6367251B2 - - Google Patents

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JPS6367251B2
JPS6367251B2 JP10894780A JP10894780A JPS6367251B2 JP S6367251 B2 JPS6367251 B2 JP S6367251B2 JP 10894780 A JP10894780 A JP 10894780A JP 10894780 A JP10894780 A JP 10894780A JP S6367251 B2 JPS6367251 B2 JP S6367251B2
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signal
frequency
reference signal
magnetic
head
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Application number
JP10894780A
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Japanese (ja)
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JPS5733424A (en
Inventor
Kazumasa Doi
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5733424A publication Critical patent/JPS5733424A/en
Publication of JPS6367251B2 publication Critical patent/JPS6367251B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/455Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads

Landscapes

  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明の磁気ヘツドの電磁変換特性の測定方法
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method for measuring electromagnetic conversion characteristics of a magnetic head.

近年、家庭用VTRの記録密度は急激に増加し
て小型化の傾向にある。VHS型VTRにおいて
は、テープ速度3.33〔cm/S〕、ヘツド−テープ相
対速度5.5〔m/S〕になし、しかも磁気テープ上
でのビデオトラツク間のガードバンドをアジマス
記録によつて省いて記録密度を向上している。こ
のアジマス記録を行なうにはビデオ磁気ヘツド
(以後磁気ヘツドと略す)のギヤツプの傾きが異
なつた2個のヘツドを1対として使用している。
この場合最良のVTR再生画像を得ようとすると、
この2個の磁気ヘツドの電磁変換特性がそろつて
いる必要があり、最適な磁気ヘツド対を選び出す
作業が必要となつてくる。この電磁変換特性とし
ては最適記録電流特性、及び周波数特性などがあ
り、数MHz帯域の電磁変換特性をオシロスコープ
などを用いた目視測定を行なつていたが、目視誤
差が大きく、又測定個数を上げることができなか
つた。このことから効率良く磁気ヘツドの電磁変
換特性を測定することが必要になつて来た。磁気
ヘツドの電磁変換特性測定は、従来、オシロスコ
ープを用いて磁気ヘツド再生信号のピーク・ピー
ク値(P−P値)を測定する方法がとられてい
る。そこで、従来の測定方式との互換性をとると
いう意味から、本発明の磁気ヘツド電磁変換特性
検査装置においても、再生信号のピーク・ピーク
値を測定する方法を採用する。このP−P値測定
を行なうには、この信号の平均値又は実効値から
演算を行なつて表示する方法と、直接信号のエン
ベロープ検波を行なつて表示する方法がある。こ
の演算を行なつてP−P値を表示する前者の方法
は入力波形が第1図ロに示す様な単一周波数の信
号に対しては有効であるが、第1図イに示す様に
入力信号が高調波成分を含み、この高調波レベル
が入力信号によつて異なる場合、磁気ヘツドの電
磁変換特性の良好度によつて信号に含まれる高調
波成分が異なり、演算定数が定まらないので有効
でない。このため磁気ヘツドの電磁変換特性の測
定は後者の磁気ヘツド再生信号をエンベロープ検
波してP−P値を表示する方法が有効である。し
かしながら、ここで問題となるのはエンベロープ
検波回路の特性である。試験用磁気ヘツドは数百
KHzまでの広帯域信号を記録再生して検査を行な
うのでエンベロープ検波は数百KHz〜数MHzの範
囲で特性が一定である必要がある。検波の方法と
してオペレーシヨンアンプとダイオードを組み合
せた方式が考えられるが、数MHzにわたつて高利
得を得るオペレーシヨンアンプがなく、この様な
オペレーシヨンアンプでエンベロープ検波回路を
構成すると検波特性が入力信号周波数によつて異
なるので有効でない。
In recent years, the recording density of home VTRs has increased rapidly and there is a trend toward smaller size. In the VHS type VTR, the tape speed is 3.33 [cm/S], the head-tape relative speed is 5.5 [m/S], and the guard band between video tracks on the magnetic tape is omitted by azimuth recording. Improved density. To perform this azimuth recording, a pair of video magnetic heads (hereinafter abbreviated as magnetic heads) with different gap inclinations are used.
In this case, when trying to obtain the best VTR playback image,
It is necessary that the electromagnetic conversion characteristics of these two magnetic heads be the same, and it becomes necessary to select the optimum pair of magnetic heads. These electromagnetic conversion characteristics include optimal recording current characteristics and frequency characteristics, and the electromagnetic conversion characteristics in the several MHz band have been visually measured using an oscilloscope, but the visual error is large and the number of measurements increases. I couldn't do it. For this reason, it has become necessary to efficiently measure the electromagnetic conversion characteristics of magnetic heads. Conventionally, the electromagnetic conversion characteristics of a magnetic head have been measured by using an oscilloscope to measure the peak-to-peak value (PP value) of a magnetic head reproduction signal. Therefore, in order to maintain compatibility with conventional measurement methods, the magnetic head electromagnetic conversion characteristic testing apparatus of the present invention also employs a method of measuring peak-to-peak values of reproduced signals. There are two ways to measure the P-P value: one is to calculate and display the average value or effective value of this signal, and the other is to directly perform envelope detection of the signal and display it. The former method of performing this calculation and displaying the P-P value is effective for signals with a single frequency input waveform as shown in Figure 1B, but as shown in Figure 1A, If the input signal contains harmonic components and the harmonic level differs depending on the input signal, the harmonic components contained in the signal will vary depending on the quality of the electromagnetic conversion characteristics of the magnetic head, and the calculation constant will not be determined. Not valid. For this reason, it is effective to measure the electromagnetic conversion characteristics of a magnetic head by using the latter method of detecting the envelope of the magnetic head reproduction signal and displaying the P-P value. However, the problem here is the characteristics of the envelope detection circuit. Since test magnetic heads are tested by recording and reproducing broadband signals up to several hundred KHz, the characteristics of envelope detection must be constant in the range of several hundred KHz to several MHz. A method of detection that combines an operation amplifier and a diode is considered, but there is no operation amplifier that can obtain high gain over several MHz, and if an envelope detection circuit is configured with such an operation amplifier, the detection characteristics will be input. It is not valid because it depends on the signal frequency.

そこで第2図に示す様なダイオード式エンベロ
ープ検波回路によつてDC電圧に変換する。ここ
でD1,D2はシヨツトキーバリヤダイオードであ
る。このダイオード式エンベロープ検波による
AC−DC変換特性は第3図に示す様に低レベル信
号においては順方向の非直線期間Vfで検波され
るので真値が指示されない。入力レベルを少なく
ともVfより大きくなる様に増幅する必要がある。
又、Vfの小さなシヨツトキーバリアダイオード
を用いても百数+〔mv)以下にならない。通常
VHS−VTR用磁気ヘツド出力は100〔μVp-p〕程
度であるため再生増幅器の利得は70〔dB〕以上必
要となる。この様な広帯域高利得の増幅器を作る
には発振などの問題があり、測定器が不安定とな
る。又温度などの環境変化も一定に保つ必要があ
る。
Therefore, it is converted into a DC voltage using a diode envelope detection circuit as shown in Figure 2. Here, D 1 and D 2 are shot key barrier diodes. This diode-type envelope detection
As shown in FIG. 3, in the AC-DC conversion characteristic, a low level signal is detected in a forward non-linear period V f , so the true value is not indicated. It is necessary to amplify the input level so that it is at least higher than V f .
Furthermore, even if a shot key barrier diode with a small V f is used, the voltage will not be less than 100 + [mv]. usually
Since the VHS-VTR magnetic head output is about 100 [μV pp ], the gain of the regenerative amplifier needs to be 70 [dB] or more. Creating such a wide-band, high-gain amplifier involves problems such as oscillation, which makes the measuring instrument unstable. It is also necessary to keep environmental changes such as temperature constant.

本発明はこの不安定要素を取り除き、低レベル
でのAC−DC変換をリニヤに行なえる方法を提供
するものである。
The present invention eliminates this unstable element and provides a method that can linearly perform AC-DC conversion at a low level.

本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第4図において、試験ヘツド1をVHS型VTRの
様に回転シリンダに取り付けて高速回転させる
か、もしくは、試験ヘツド1を固定して磁気テー
プ2を高速走行させるかして、この試験ヘツド1
を使用するVTRの相対速度になる様に設定する。
記録状態では、基準発振器3の発振周波数がfS1
に設定され、該出力はアツテネータ4に入力さ
れ、発振器出力は調整されてスイツチング回路5
に入力される。該出力は記録増幅器6で電力増幅
され、スイツチSW−1を通して試験ヘツド1に
記録電流I1〔mAp-p〕を供給し、磁気テープ2に
記録される。ここでアツテネータ4は試験ヘツド
1に供給する記録電流が設定値になる様に、基準
発振器3出力のレベルを自動的に調整する。
An embodiment of the present invention will be described based on the drawings.
In FIG. 4, the test head 1 is attached to a rotating cylinder like a VHS type VTR and rotated at high speed, or the test head 1 is fixed and the magnetic tape 2 is run at high speed.
Set it so that it matches the relative speed of the VTR you are using.
In the recording state, the oscillation frequency of the reference oscillator 3 is f S1
The output is input to the attenuator 4, and the oscillator output is adjusted and sent to the switching circuit 5.
is input. The output is power amplified by a recording amplifier 6, and a recording current I 1 [mA pp ] is supplied to the test head 1 through a switch SW-1 to be recorded on the magnetic tape 2. Here, the attenuator 4 automatically adjusts the level of the output of the reference oscillator 3 so that the recording current supplied to the test head 1 reaches the set value.

スイツチング回路5はアツテネータ4を通つて
レベル調整された信号fS1をサンプリング発振器
7の発振周波数fQ1の信号によつてスイツチング
し、試験ヘツド1に与える記録電流を第5図イに
示す様なものにしている。ここでこのサンプリン
グ発振器7の発振周波数fQ1は基準発振器3の発
振周波数fS1と次式に示す様な関係を保つて発振
せしめられる。
The switching circuit 5 switches the level-adjusted signal f S1 through the attenuator 4 according to the signal of the oscillation frequency f Q1 of the sampling oscillator 7, and generates a recording current given to the test head 1 as shown in FIG. 5A. I have to. Here, the oscillation frequency f Q1 of the sampling oscillator 7 is oscillated while maintaining the relationship shown in the following equation with the oscillation frequency f S1 of the reference oscillator 3.

fS1−nfQ1=fC(一定) nはfS1をfQ1で除算した結果の整数値である。
fS1>fQ1の関係にあるとき、fS1をfQ1で分割してい
き余つた周波数信号が、fS1をfQ1でサンプリング
した出力の周波数fCとなつてあらわれる。この様
な条件で発振させたサンプリング発振器7の出力
fQ1は基準発振器3出力fS1に対して一定速度で位
相がずれていき、周期性を持つその位相ずれの周
波数がfCとなるので、第5図イの電流波形の時間
軸を拡大してみると、第5図ロに示す様に信号
fS1のスイツチングタイミングが1/fCの周期で順
次変化する様になる。この様な信号を試験ヘツド
1に供給し記録する。なおサンプリング発振器7
の発振周波数fQ1は前述したfS1との関係式を満足
する周波数であればどの値でも良いが、後の処理
が簡単にでき、又オペレーシヨンアンプなどの使
用ができる様に考えると、100KHz以下のオーデ
イオ帯域信号にすることが、より良い結果を得る
ことになる。この様に周波数fS1、記録電流I1なる
信号の記録を完了すると、次にアツテネータ4の
電流設定値をI2に変化させ、スイツチング回路
4、記録増幅器6、スイツチSW−1を介して第
5図イに示す様なfS1,I2なる信号を試験ヘツド1
に供給し磁気テープ2に記録する。以後電流設定
値をI3,I3……Ioと順次変化させて試験ヘツド1
に供給していく。次に基準発振器3の発振周波数
をfS2に変化させ、アツテネータ4の電流設定をI1
にもどして試験ヘツド1に供給して磁気テープ2
に記録し、次に電流設定値をI2,I3……Ioと順次
変化させて記録していく。この時サンプリング発
振器7の発振周波数もfQ2に変化させる。この様
に次々に記録して発振周波数fSo、記録電流Ioまで
記録していく。
f S1 −nf Q1 = f C (constant) n is an integer value of the result of dividing f S1 by f Q1 .
When f S1 > f Q1 , the remaining frequency signal after dividing f S1 by f Q1 appears as the output frequency f C obtained by sampling f S1 with f Q1 . Output of sampling oscillator 7 oscillated under these conditions
The phase of f Q1 shifts at a constant speed with respect to the reference oscillator 3 output f S1 , and the frequency of this periodic phase shift is f C. Therefore, we can expand the time axis of the current waveform in Figure 5 A. When I looked at the signal, the signal appeared as shown in Figure 5 (b).
The switching timing of f S1 changes sequentially at a cycle of 1/f C. Such a signal is supplied to the test head 1 and recorded. Note that the sampling oscillator 7
The oscillation frequency f Q1 may be any value as long as it satisfies the relational expression with f S1 described above, but considering that it can be easily processed later and can be used with an operation amplifier, it is set to 100 KHz. You will get better results if you make the audio band signal below. When the recording of the signal with the frequency f S1 and the recording current I 1 is completed in this way, the current setting value of the attenuator 4 is changed to I 2 and the current setting value of the attenuator 4 is changed to I 2 and the The signals f S1 and I2 as shown in Figure 5 A are sent to the test head 1.
is supplied to the magnetic tape 2 and recorded on the magnetic tape 2. Thereafter, the current setting value was changed sequentially to I 3 , I 3 ...I o , and test head 1 was tested.
We will supply it to Next, change the oscillation frequency of the reference oscillator 3 to f S2 and change the current setting of the attenuator 4 to I 1
The magnetic tape 2 is returned and supplied to the test head 1.
The current setting value is then changed sequentially to I 2 , I 3 , . . . I o and recorded. At this time, the oscillation frequency of the sampling oscillator 7 is also changed to f Q2 . In this way, recording is performed one after another until the oscillation frequency f So and the recording current I o are recorded.

全て記録できると、自動的に再生状態になり、
スイツチSW−1はP・B側に切換わり、磁気テ
ープ2は高速巻戻しをされ、最初に記録した周波
数fS1、記録電流I1の記録開始位置で停止し、通常
走行で再生動作に入り、磁気テープ2に周波数
fS1、記録電流I1で記録された信号から周波数fSo
記録電流Ioで記録された信号まで順次再生してい
く。ここで試験ヘツド1で再生される信号はスイ
ツチSW−1を介して再生増幅器8に入力され
る。ここでは試験ヘツド1の再生出力は数+
〔μVp-p)から数百〔μVp-p〕と微少信号であるの
で、後段の処理が可能であるレベルの数
〔mVp-p〕以上になる様に増幅を行なう。ここで
再生増幅器8出力を観測すると、第6図イに示す
様な間欠したバースト状信号となつている。この
バースト状再生信号の時間軸を拡大したものを第
6図ロに示す。この再生信号fS1は試験ヘツド1
と磁気テープ2の相対速度の変化によつて△fS1
〔Hz〕の時間軸変動成分(ジツター)を含むので
再生信号全体が時間方向に振動するが、第6図ロ
に示す様に再生基準信号は記録時と同様に波形の
スイツチング位置が順次移動した波形となる。こ
の信号をサンプルホールド回路12に入力すると
ともに、エンベロープ検波回路9に入力する。こ
のエンベロープ検波回路9は第6図ロの信号レベ
ルのエンベロープを検出し、波形整形し、第6図
ハに示す様な矩形波信号を作るためのもので、再
生信号のレベルを直接読取ることをしないので、
このエンベロープ検波回路9の検波特性の直線
性、温度湿度特性などを管理する必要はなく、簡
単な回路で十分である。
Once everything has been recorded, it will automatically go into playback mode.
The switch SW-1 is switched to the P/B side, the magnetic tape 2 is rewound at high speed, and stops at the recording start position of the first recorded frequency f S1 and recording current I 1 , and then starts playback operation with normal running. , frequency on magnetic tape 2
f S1 , the frequency f So from the signal recorded at the recording current I 1 ,
The recorded signal is sequentially reproduced using the recording current Io . Here, the signal regenerated by the test head 1 is input to the regenerative amplifier 8 via the switch SW-1. Here, the playback output of test head 1 is several +
Since it is a very small signal ranging from [μV pp ) to several hundred [μV pp ], it is amplified to a level greater than the number [mV pp ] that can be processed in subsequent stages. When the output of the regenerative amplifier 8 is observed here, it becomes an intermittent burst-like signal as shown in FIG. 6A. An enlarged view of the time axis of this burst-like reproduction signal is shown in FIG. 6B. This reproduced signal f S1 is transmitted to the test head 1.
By changing the relative speed of magnetic tape 2 and magnetic tape 2, △f S1
The entire playback signal oscillates in the time direction because it includes a time axis fluctuation component (jitter) of [Hz], but as shown in Figure 6 (b), the waveform switching position of the playback reference signal sequentially moved as in the case of recording. It becomes a waveform. This signal is input to the sample hold circuit 12 and also to the envelope detection circuit 9. This envelope detection circuit 9 is for detecting the envelope of the signal level shown in Figure 6B, shaping the waveform, and creating a rectangular wave signal as shown in Figure 6C. Because I don't
There is no need to manage the linearity of the detection characteristics, temperature and humidity characteristics, etc. of this envelope detection circuit 9, and a simple circuit is sufficient.

このエンベロープ検波回路9で得られた信号
は、サンプリング発振器7の出力信号fQ1〔Hz〕に
時間軸変動分△fQ1を含んだ(fQ1±fQ1)〔Hz〕なる
周波数信号となる。この矩形波信号は第6図ロか
ら取り出したものであるので、時間軸変動の比率
△fQ1/fQ1は再生基準信号の時間軸変動の比率△
fS1/fS1と同様の値となる。
The signal obtained by the envelope detection circuit 9 becomes a frequency signal (f Q1 ±f Q1 ) [Hz] which includes the time axis variation Δf Q1 in the output signal f Q1 [Hz] of the sampling oscillator 7 . Since this rectangular wave signal is extracted from Figure 6B, the ratio of time axis fluctuation △f Q1 /f Q1 is the ratio of time axis fluctuation of the reproduction reference signal △
The value is similar to f S1 /f S1 .

次に検波回路9の矩形波出力(第6図ハ)は遅
延回路10に入力される。この遅延回路10は第
6図ニに示す様に検波回路9出力の立ち上がりよ
り若干遅延させたパルスを作り、第6図ロの再生
信号のサンプリング位置を決定する。さらに遅延
回路10出力はパルス発生回路11に入力され
る。このパルス発生回路11は第6図ホに示す様
に、遅延回路10出力の立ち下がり部分よりパル
スを作り、サンプリングパルスとする。この第6
図ホのサンプリングパルスのサンプリングパルス
周波数は(fQ1+ΔfQ1)であり、このサンプリン
グパルスにより、第6図ハに示す周波数(fS1
ΔfS1)の再生信号をサンプルホールド回路12で
サンプリングする。このサンプリングでは、サン
プリングパルスに対して再生基準信号の位相が一
定速度でずれていることからサンプリングパルス
で再生信号を周波数変換することになり、この周
波数変換された信号周波数は次で示される。
Next, the rectangular wave output of the detection circuit 9 (FIG. 6C) is input to the delay circuit 10. The delay circuit 10 generates a pulse slightly delayed from the rising edge of the output of the detection circuit 9 as shown in FIG. 6D, and determines the sampling position of the reproduced signal shown in FIG. 6B. Further, the output of the delay circuit 10 is input to a pulse generation circuit 11. As shown in FIG. 6E, this pulse generating circuit 11 generates a pulse from the falling portion of the output of the delay circuit 10 and uses it as a sampling pulse. This sixth
The sampling pulse frequency of the sampling pulse in Figure E is (f Q1 + Δf Q1 ), and this sampling pulse causes the frequency (f S1 + Δf Q1) shown in Figure 6 C.
The sample and hold circuit 12 samples the reproduced signal Δf S1 ). In this sampling, since the phase of the reproduction reference signal deviates from the sampling pulse at a constant speed, the reproduction signal is frequency-converted by the sampling pulse, and the frequency-converted signal frequency is shown below.

(fS1+△fS1)−n(fQ1±fQ1)=(fS1−nfQ1
±(△fS1−n△fQ1)=fC±△fC この結果サンプルホールド回路12出力は第6
図ヘに示す様なオーデイオ帯域のfC±△fCなる信
号に変換されることになる。この周波数変換され
た信号の時間軸変動は±(△fS1−n△fQ1)/(fS1
−nfQ1)=±△fC/fCとなり±△fS1/fS1=±△
fQ1/fQ1であるので、±△fS1/fS1=±△fC/fCとな
り、周波数変換以前の時間軸変動比率とほぼ同じ
値になる。通常VTRのジツター量は数〔%p-p
以下であるので、周波数変換されたfCに対して△
fCは数〔%p-p〕の値となるが、この程度ならば
後の処理は安定に動作する。この様に周波数変換
された信号は絶対値回路13に入力され、P−P
値の信号を第6図トに示す様な0−P値(ゼロ−
ピーク値)の信号に変換し、ピークホールド回路
14に入力されて第6図チに示す様にDC電圧に
変換される。このピークホールド回路14は変換
信号がオーデイオ帯域の低周波信号であるため、
特別な回路は必要なく、オペアンプとダイオード
を組み合せた一般的な回路で十分に応答する。こ
のピークホールド回路出力はA/Dコンバータ1
5に入力され、デイジタル量に変換され演算され
て表示回路16においてヘツド出力がデイジタル
表示される。この様にして、基準信号周波数fS1
記録電流値I1からfS1,I2;……fS1,Io;fS2,I1
……fSo,Ioまでヘツド出力を表示し、試験ヘツド
1の検査を行なう。
(f S1 +△f S1 )−n(f Q1 ±f Q1 )=(f S1 −nf Q1 )
±(△f S1 −n△f Q1 )=f C ±△f C As a result, the sample and hold circuit 12 output is the 6th
It is converted into a signal f C ±△f C in the audio band as shown in the figure. The time axis fluctuation of this frequency-converted signal is ±(△f S1 −n△f Q1 )/(f S1
−nf Q1 ) = ±△f C /f C becomes ±△f S1 /f S1 = ±△
Since f Q1 /f Q1 , ±△f S1 /f S1 = ±△f C /f C , which is almost the same value as the time axis fluctuation ratio before frequency conversion. Normally, the amount of jitter in a VTR is several [% pp ]
Since the following, △ for the frequency-converted f C
f C has a value of several [% pp ], but if this is the value, the subsequent processing will operate stably. The signal frequency-converted in this way is input to the absolute value circuit 13, and P-P
The value signal is expressed as 0-P value (zero-P value) as shown in Figure 6.
The peak value) is input to the peak hold circuit 14, where it is converted to a DC voltage as shown in FIG. Since the converted signal is a low frequency signal in the audio band, this peak hold circuit 14
No special circuit is required, and a common circuit consisting of an operational amplifier and a diode will provide sufficient response. This peak hold circuit output is A/D converter 1
5, which is converted into a digital quantity and calculated, and the head output is digitally displayed in the display circuit 16. In this way, the reference signal frequency f S1 ,
From the recorded current value I 1 f S1 , I 2 ; ...f S1 , I o ; f S2 , I 1 ;
...The head output is displayed up to f So and I o , and test head 1 is inspected.

ここで9〜14の回路系は従来例のエンベロー
プ検波回路系にあたり、これら回路系のAD−
DC変換特性を第7図に示すが、100〔mVp-p〕以
下の微少信号でもリニヤに変換することができ
る。しかも500KHz〜5MHzと云う広帯域にわたつ
て変換特性は変化しない。このため再生増幅器5
の利得も上げる必要がなく、30〜40〔dB〕程度も
あれば十分である。このため発振などの不安定要
素に対して強くなり、温度湿度などの環境の変化
に強い安定な磁気ヘツド電磁変換特性測定回路を
実現することができる。
Here, the circuit systems 9 to 14 correspond to the envelope detection circuit system of the conventional example, and the AD-
The DC conversion characteristics are shown in Figure 7, and even minute signals of 100 [mV pp ] or less can be linearly converted. Moreover, the conversion characteristics do not change over a wide band of 500KHz to 5MHz. Therefore, the regenerative amplifier 5
There is no need to increase the gain either; about 30 to 40 [dB] is sufficient. Therefore, it is possible to realize a stable magnetic head electromagnetic conversion characteristic measuring circuit that is resistant to unstable factors such as oscillation and resistant to environmental changes such as temperature and humidity.

以上本発明によれば、次のような利点を得るこ
とができる。
According to the present invention, the following advantages can be obtained.

(1) AC−DC変換において数MHzの広帯域にわた
つて一定の変換利得を得ることができ、しかも
o〔mVp-p〕からリニヤに行なうことができる。
(1) In AC-DC conversion, a constant conversion gain can be obtained over a wide band of several MHz, and moreover, it can be performed linearly from o [mV pp ].

(2) AC−DC変換がo〔mVp-p〕からリニヤに行
なうことができるので、再生増幅器の利得を従
来の様に上げる必要がなく、発振などの測定回
路系の安定性を増すことができる。
(2) Since AC-DC conversion can be performed linearly from o [mV pp ], there is no need to increase the gain of the regenerative amplifier as in the conventional case, and the stability of the measurement circuit system such as oscillation can be increased. .

(3) 温度などの環境変化に対して安定な測定回路
系を実現できる。
(3) It is possible to realize a measurement circuit system that is stable against environmental changes such as temperature.

(4) 簡単な回路で高周波微少信号をAC−DC変換
できるので、測定器の製造を容易にすることが
できる。
(4) Since high-frequency minute signals can be converted from AC to DC with a simple circuit, manufacturing of measuring instruments can be facilitated.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は磁気ヘツドによる記録再生信号波形
図、第2図はAC−DC変換器の従来例の回路図、
第3図は従来例のAC−DC変換特性図、第4図は
本発明の一実施例を示すブロツク図、第5図は本
発明の記録信号波形図、第6図は本発明の各ブロ
ツクのタイムチヤート、第7図は本発明のAC−
DC変換特性図である。 1……試験ヘツド、2……磁気テープ、3……
基準発振器、4……アツテネータ、5……スイツ
チング回路、7……サンプリング発振器、8……
再生信号、9……エンベロープ検波回路、11…
…パルス発生回路、12……サンプルホールド回
路、14……ピークホールド回路、15……A/
Dコンバータ。
Figure 1 is a waveform diagram of recording/reproduction signals by a magnetic head, Figure 2 is a circuit diagram of a conventional AC-DC converter,
FIG. 3 is an AC-DC conversion characteristic diagram of a conventional example, FIG. 4 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 5 is a recording signal waveform diagram of the present invention, and FIG. 6 is a diagram of each block of the present invention. Figure 7 is a time chart of the AC of the present invention.
It is a DC conversion characteristic diagram. 1...Test head, 2...Magnetic tape, 3...
Reference oscillator, 4... Attenuator, 5... Switching circuit, 7... Sampling oscillator, 8...
Reproduction signal, 9...Envelope detection circuit, 11...
...Pulse generation circuit, 12...Sample hold circuit, 14...Peak hold circuit, 15...A/
D converter.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 検査用磁気ヘツド又は磁気記録媒体のいずれ
か一方をある一定の速度で摺動させ、記録時にお
いて検査ヘツドに加える基準信号の周波数及びレ
ベルを順次段階的に変化させて磁気記録媒体に記
録し、再生時において再生信号のレベルによつて
検査ヘツドの電磁変換特性を測定する方法であつ
て、基準信号(発振周波数fS)に対してサンプリ
ング信号(発振周波数fQ)をそれらの周波数がfS
−nfQ=fC(fC:一定周波数)となる条件に設定し、
前記サンプリング信号により基準信号のスイツチ
ングを行ない検査用磁気ヘツドを介して磁気記録
媒体に記録し、再生時において、検査用ヘツドよ
り得られるスイツチング状再生基準信号をエンベ
ロープ検波し、該検波信号より作成したサンプリ
ングパルスにより、前記スイツチング状再生基準
信号の基準信号部をサンプルホールドし、該サン
プルホールド信号のピークをホールドして該信号
レベルをデイジタル量に変換することを特徴とす
る磁気ヘツド電磁変換特性測定方法。
1. Either the magnetic head for inspection or the magnetic recording medium is slid at a certain speed, and the frequency and level of the reference signal applied to the inspection head are sequentially changed stepwise during recording to record on the magnetic recording medium. , a method of measuring the electromagnetic conversion characteristics of the inspection head by the level of the reproduced signal during reproduction, in which the sampling signal (oscillation frequency f Q ) is converted to a reference signal (oscillation frequency f S ) so that their frequencies are f S
-nf Q = f C (f C : constant frequency),
A reference signal is switched using the sampling signal and recorded on a magnetic recording medium via a magnetic inspection head, and upon reproduction, a switching-like reproduction reference signal obtained from the inspection head is envelope-detected and created from the detected signal. A method for measuring electromagnetic conversion characteristics of a magnetic head, characterized in that the reference signal portion of the switching-like reproduction reference signal is sampled and held using a sampling pulse, the peak of the sample-and-hold signal is held, and the signal level is converted into a digital quantity. .
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