JPS639610B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS639610B2 JPS639610B2 JP56064807A JP6480781A JPS639610B2 JP S639610 B2 JPS639610 B2 JP S639610B2 JP 56064807 A JP56064807 A JP 56064807A JP 6480781 A JP6480781 A JP 6480781A JP S639610 B2 JPS639610 B2 JP S639610B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- receiving surface
- cylinder
- present
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/20—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle
- G01J1/34—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using separate light paths used alternately or sequentially, e.g. flicker
- G01J1/36—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void intensity of the measured or reference value being varied to equalise their effects at the detectors, e.g. by varying incidence angle using separate light paths used alternately or sequentially, e.g. flicker using electric radiation detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は２本の光束を１つの光電変換素子の受
光面に入射させるための複光束混合装置に関す
る。
光面に入射させるための複光束混合装置に関す
る。
本発明装置は試料からの透過光或は反射光等と
モニタ用その他の参照光とを同一の光電変換素子
で受光するような場合に用いられるのである。従
つて複光束分光光度計等にも利用できるが例えば
次のような場合にも便利な装置である。第１図に
おいて、Ａは検査しようとするシート状試料で、
これをモノクロメータＭからの出射光束で照射
し、反射光を測光する。反射率を求めるためモノ
クロメータからの出射光束をビームスプリツタで
分割して測光する場合、反射光，参照光を別々の
測光素子で測光していると、測光素子のドリフト
により正しい反射率が求まらない。そこで測光素
子を共通にするため反射光と参照光とを鏡を用い
て再び同一光路上に重なるようにすると、装置全
体として大型化し複雑化する。このような場合本
発明装置BMを用いると２光束を同一光路に重ね
るための光学装置なしで２光束を同一測光素子で
測光することができ、装置が全体として簡単化さ
れ小型化される。以下実施例によつて本発明を説
明する。
モニタ用その他の参照光とを同一の光電変換素子
で受光するような場合に用いられるのである。従
つて複光束分光光度計等にも利用できるが例えば
次のような場合にも便利な装置である。第１図に
おいて、Ａは検査しようとするシート状試料で、
これをモノクロメータＭからの出射光束で照射
し、反射光を測光する。反射率を求めるためモノ
クロメータからの出射光束をビームスプリツタで
分割して測光する場合、反射光，参照光を別々の
測光素子で測光していると、測光素子のドリフト
により正しい反射率が求まらない。そこで測光素
子を共通にするため反射光と参照光とを鏡を用い
て再び同一光路上に重なるようにすると、装置全
体として大型化し複雑化する。このような場合本
発明装置BMを用いると２光束を同一光路に重ね
るための光学装置なしで２光束を同一測光素子で
測光することができ、装置が全体として簡単化さ
れ小型化される。以下実施例によつて本発明を説
明する。
第２図に本発明の一実施例を示す。１は円筒で
あつてエンドオン型フオトマルチプライヤＰの受
光面が適合する内径を有し、内面は鏡面になつて
いる。円筒１の図で上端は頂角が90゜で交わる平
面で切断して尖つた形にし透光性光拡散板２，
２′を接着し、左右対称の屋根形にする。円筒１
の長さは、光拡散板２，２′の中心（これらの板
は橢円を短径に沿つて半分に切つた形であるか
ら、中心は長半径上の中点である）に立てた垂線
に沿う光線ｌ，l′が円筒１の内面で１回反射した
後交叉する点Ｃが丁度フオトマルチプライヤＰの
受光面の中心になるような値にしてある。
あつてエンドオン型フオトマルチプライヤＰの受
光面が適合する内径を有し、内面は鏡面になつて
いる。円筒１の図で上端は頂角が90゜で交わる平
面で切断して尖つた形にし透光性光拡散板２，
２′を接着し、左右対称の屋根形にする。円筒１
の長さは、光拡散板２，２′の中心（これらの板
は橢円を短径に沿つて半分に切つた形であるか
ら、中心は長半径上の中点である）に立てた垂線
に沿う光線ｌ，l′が円筒１の内面で１回反射した
後交叉する点Ｃが丁度フオトマルチプライヤＰの
受光面の中心になるような値にしてある。
上述実施例では２枚の光拡散板２，２′のなす
角θは90゜であるが、角θは90゜±10゜位の範囲内に
あればよい。光拡散板２，２′としては乳白ガラ
ス，石英の摺り板，トレーシングペーパー等が用
いられる。遠紫外域から近赤外域までの広い波長
範囲をカバーしたいときは石英摺り板がよい。円
筒１は角筒にしてもよい。この場合、角筒の対角
線長がフオトマルチプライヤＰの受光面の直径と
略等しいかそれより稍短い位に設定するのがよ
い。
角θは90゜であるが、角θは90゜±10゜位の範囲内に
あればよい。光拡散板２，２′としては乳白ガラ
ス，石英の摺り板，トレーシングペーパー等が用
いられる。遠紫外域から近赤外域までの広い波長
範囲をカバーしたいときは石英摺り板がよい。円
筒１は角筒にしてもよい。この場合、角筒の対角
線長がフオトマルチプライヤＰの受光面の直径と
略等しいかそれより稍短い位に設定するのがよ
い。
第２図は本発明装置を光散乱性の試料の透過測
定に用いている所を示しており、Ｓは試料セル、
Ｒは対照セルである。ｌ，l′は試料セル及び対照
セルを照射する光束の中心光線を示し、これらの
光束はモノクロメータからの出射光を分割したも
のである。試料は光散乱性であるから、試料透過
光を有効に受光素子に入射させようとすると受光
素子を試料セルの直後に持つて来なければならな
い。しかしそのようにすると一つの受光素子で試
料透過光と対照光とを測光することができない。
受光素子を共通にするには広い受光面を持つ受光
素子を試料セル及び対照セルから少し離して置
き、両セルの透過光が受光素子の受光面に入射し
得るようにする必要があるが、このようにすると
試料透過光と対照光とは受光面上の照射領域が異
り、受光面の場所的感度むらにより、両光の測定
感度が不同となつて測定誤差を生じる。例えば試
料セル，対照セルに同じ試料を入れたとき、試
料，対照両光の測光出力の比は１になるべきであ
るものが１にならない。所が本発明装置を用いた
場合を考えると、試料光も対照光も光拡散板２，
２′で拡散された上、筒１の内面で対称的に反射
されて、フオトマルチプライヤＰの受光面には充
分散乱された状態で入射するので、試料光の受光
面上の分布も対照光の受光面上の分布も全く同じ
になり、受光面上の感度むらの影響は完全に抹消
され、しかも筒１の内面が鏡面であるから光拡散
板２，２′に入射した光は殆んど損失なくフオト
マルチプライヤに入射することができ光の利用率
が高い。
定に用いている所を示しており、Ｓは試料セル、
Ｒは対照セルである。ｌ，l′は試料セル及び対照
セルを照射する光束の中心光線を示し、これらの
光束はモノクロメータからの出射光を分割したも
のである。試料は光散乱性であるから、試料透過
光を有効に受光素子に入射させようとすると受光
素子を試料セルの直後に持つて来なければならな
い。しかしそのようにすると一つの受光素子で試
料透過光と対照光とを測光することができない。
受光素子を共通にするには広い受光面を持つ受光
素子を試料セル及び対照セルから少し離して置
き、両セルの透過光が受光素子の受光面に入射し
得るようにする必要があるが、このようにすると
試料透過光と対照光とは受光面上の照射領域が異
り、受光面の場所的感度むらにより、両光の測定
感度が不同となつて測定誤差を生じる。例えば試
料セル，対照セルに同じ試料を入れたとき、試
料，対照両光の測光出力の比は１になるべきであ
るものが１にならない。所が本発明装置を用いた
場合を考えると、試料光も対照光も光拡散板２，
２′で拡散された上、筒１の内面で対称的に反射
されて、フオトマルチプライヤＰの受光面には充
分散乱された状態で入射するので、試料光の受光
面上の分布も対照光の受光面上の分布も全く同じ
になり、受光面上の感度むらの影響は完全に抹消
され、しかも筒１の内面が鏡面であるから光拡散
板２，２′に入射した光は殆んど損失なくフオト
マルチプライヤに入射することができ光の利用率
が高い。
即ち本発明装置を用いるときは２つの光束に対
して共通測光素子の受光面の場所的な感度むらの
影響が全く除去され、光拡散板２，２′に入射し
た光は略全部受光面に入射するから光の利用効率
が高く、高感度の測定が可能となる。
して共通測光素子の受光面の場所的な感度むらの
影響が全く除去され、光拡散板２，２′に入射し
た光は略全部受光面に入射するから光の利用効率
が高く、高感度の測定が可能となる。
第１図は本発明装置の一応用例を示す平面図、
第２図は本発明の一実施例装置の平面図である。 Ｍ……モノクロメータ、Ａ……試料シート、
BM……本発明装置、１……円筒、２，２′……
透光性光拡散板、Ｐ……フオトマルチプライヤ、
Ｓ……試料セル、Ｒ……対照セル。
第２図は本発明の一実施例装置の平面図である。 Ｍ……モノクロメータ、Ａ……試料シート、
BM……本発明装置、１……円筒、２，２′……
透光性光拡散板、Ｐ……フオトマルチプライヤ、
Ｓ……試料セル、Ｒ……対照セル。
Claims (1)
- １ ２光束を測定する装置において、筒部の先端
に略対称的屋根状に試料光用と参照光用の一対の
透光性光拡散板を取付け、上記筒の内面を光反射
面とし、この筒の後端部に光電変換器の受光面を
配置したことを特徴とする複光束混合装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56064807A JPS57179646A (en) | 1981-04-28 | 1981-04-28 | Multiple light fluxes mixer |
| GB8208116A GB2099991B (en) | 1981-04-28 | 1982-03-19 | Photoelectric detector |
| US06/361,144 US4444499A (en) | 1981-04-28 | 1982-03-24 | Detector for use in optical measuring instruments |
| DE19823211725 DE3211725A1 (de) | 1981-04-28 | 1982-03-30 | Detektor zur verwendung in optischen messgeraeten |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56064807A JPS57179646A (en) | 1981-04-28 | 1981-04-28 | Multiple light fluxes mixer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57179646A JPS57179646A (en) | 1982-11-05 |
| JPS639610B2 true JPS639610B2 (ja) | 1988-03-01 |
Family
ID=13268877
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56064807A Granted JPS57179646A (en) | 1981-04-28 | 1981-04-28 | Multiple light fluxes mixer |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4444499A (ja) |
| JP (1) | JPS57179646A (ja) |
| DE (1) | DE3211725A1 (ja) |
| GB (1) | GB2099991B (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4552459A (en) * | 1982-09-27 | 1985-11-12 | North American Philips Consumer Electronics Corp. | Surface reflectivity device and method |
| JPS6413438A (en) * | 1987-07-08 | 1989-01-18 | Hitachi Ltd | Measuring instrument for absolute reflection factor in ultraviolet range |
| US5007741A (en) * | 1989-09-25 | 1991-04-16 | At&T Bell Laboratories | Methods and apparatus for detecting impurities in semiconductors |
| DE4009334C2 (de) * | 1990-03-23 | 2000-11-23 | Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei | Beleuchtungsanordnung zur Beaufschlagung eines Photomultipliers bei einem Zweistrahlphotometer |
| US6597457B1 (en) * | 1991-12-09 | 2003-07-22 | Goodrich Corporation | Calibration of solar reflectance panel |
| JPH05258664A (ja) * | 1992-03-12 | 1993-10-08 | Mitsubishi Electric Corp | 電子銃の電極組立治具 |
| JP2564806Y2 (ja) * | 1992-07-29 | 1998-03-11 | 株式会社ニレコ | 可視光赤外光特性測定器 |
| JP2002139380A (ja) * | 2000-11-02 | 2002-05-17 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
| GB2403288A (en) * | 2003-04-11 | 2004-12-29 | Crown Vision Systems Ltd | Light emission assay apparatus |
| FR2940447B1 (fr) * | 2008-12-23 | 2011-10-21 | Continental Automotive France | Spectrometre miniature embarque dans un vehicule automobile a detecteur de mesure et detecteur de reference unique |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2930281A (en) * | 1955-02-25 | 1960-03-29 | Daystrom Inc | Photometers, more particularly photographic exposure meters |
| GB1032565A (en) * | 1963-11-20 | 1966-06-08 | Gen Instr Company Ltd | Improvements in and relating to attenuated total reflection spectrometers |
| US3516746A (en) * | 1965-01-28 | 1970-06-23 | Shimadzu Corp | Cross slide spectrophotometer with a diffusing element between sample cell and photoelectric tube |
| US3504978A (en) * | 1965-02-04 | 1970-04-07 | Shimadzu Corp | Plural beam spectrophotometer with a diffusion plate between each cell and detector |
| DE1522892A1 (de) * | 1966-03-29 | 1969-10-16 | Salvatore Lombardo | System und Vorrichtung zur automatischen Ermittlung der richtigen Belichtung eines lichtempfindlichen Materials |
| SE392347B (sv) * | 1975-04-09 | 1977-03-21 | Aga Ab | Anordning for metning av stralning fran ett objekt medelst avsokning |
| JPS5466190A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-28 | Hitachi Ltd | Two luminous flux spectrophotometer |
| DE2758141C2 (de) * | 1977-12-27 | 1982-11-18 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Spektrophotometer |
| JPS5618731A (en) * | 1979-07-23 | 1981-02-21 | Eikou Seiki Sangyo Kk | Pyrheliometer employing solar battery |
-
1981
- 1981-04-28 JP JP56064807A patent/JPS57179646A/ja active Granted
-
1982
- 1982-03-19 GB GB8208116A patent/GB2099991B/en not_active Expired
- 1982-03-24 US US06/361,144 patent/US4444499A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-03-30 DE DE19823211725 patent/DE3211725A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57179646A (en) | 1982-11-05 |
| US4444499A (en) | 1984-04-24 |
| GB2099991B (en) | 1985-09-11 |
| DE3211725A1 (de) | 1982-11-11 |
| GB2099991A (en) | 1982-12-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS628729B2 (ja) | ||
| JPS639610B2 (ja) | ||
| JPS6355020B2 (ja) | ||
| JPS61292043A (ja) | 分光測色計の光検出プロ−ブ | |
| US4484815A (en) | Spectrophotometer | |
| JP3871415B2 (ja) | 分光透過率測定装置 | |
| JPS6212994Y2 (ja) | ||
| JPH0585020B2 (ja) | ||
| TWI452268B (zh) | 用於收光之光學頭及使用其之光學系統 | |
| JPS6241224Y2 (ja) | ||
| JPS6388411A (ja) | 積分球装置 | |
| JPS6010132A (ja) | 光学測定器 | |
| JPS594258Y2 (ja) | ダブルビ−ム分光光度計 | |
| CN219417203U (zh) | 一种多通道测光装置 | |
| JPH0518686Y2 (ja) | ||
| KR890001688B1 (ko) | 시료의 색측정용 분광광도계 시스템 | |
| KR890004719B1 (ko) | 더블빔 형식의 색측정용 광학필터 분광 광도계 | |
| JPH04138326A (ja) | 測光装置 | |
| JPS6052744A (ja) | 分光透過率測定装置 | |
| JPS6335385Y2 (ja) | ||
| JPS6388430A (ja) | 絶対反射率測定装置 | |
| JPH0776710B2 (ja) | 球形光束計分光応答度測定法 | |
| JPS6219945Y2 (ja) | ||
| JPS6166147A (ja) | 向上された効率の積分空所を備える反射計 | |
| KR100303823B1 (ko) | 광검출광학시스템 |