JPS64118B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS64118B2 JPS64118B2 JP58122232A JP12223283A JPS64118B2 JP S64118 B2 JPS64118 B2 JP S64118B2 JP 58122232 A JP58122232 A JP 58122232A JP 12223283 A JP12223283 A JP 12223283A JP S64118 B2 JPS64118 B2 JP S64118B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sludge
- concentration
- batch
- reaction tank
- activated sludge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02W—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO WASTEWATER TREATMENT OR WASTE MANAGEMENT
- Y02W10/00—Technologies for wastewater treatment
- Y02W10/10—Biological treatment of water, waste water, or sewage
Landscapes
- Activated Sludge Processes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、活性汚泥法にもとづき汚水浄化処理
施設の運転及び管理をする際に、重要な指標とさ
れる各工程毎の汚泥状態の各種計測データを演算
装置によつて自動演算し、汚水処理を合理的最適
条件下で実施するバツチ式活性汚泥処理装置に関
する。
施設の運転及び管理をする際に、重要な指標とさ
れる各工程毎の汚泥状態の各種計測データを演算
装置によつて自動演算し、汚水処理を合理的最適
条件下で実施するバツチ式活性汚泥処理装置に関
する。
上記の各指標とはJIS−KO102「工場排水試験
方法」、又は「下水試験方法」等により次式のよ
うに表記されている。
方法」、又は「下水試験方法」等により次式のよ
うに表記されている。
SVI＝SV×10000／MLSS …(1)
SDI＝MLSS／SV×100＝100／SVI …(2)
MLSS＝ａ×1000／検体量（ml） …(3)
SV＝ｂ／1000×100 …(4)
上式において、
SVI；汚泥容量指標
SDI；汚泥密度指標
MLSS；ばつ気槽内混合液の活性汚泥浮遊物濃
度〔mg／〕 SV；混合液の活性汚泥沈殿率（30分静置）
〔％〕 ａ；混合液検体中の活性汚泥浮遊物重量
〔mg〕 ｂ；混合液体100ml中の30分静置後の沈殿
汚泥容量〔ml〕 しかし、上記(1)ないし(4)式のなかで(1)式のSVI
及び(2)式のSDIは計算式で算出されるが、その式
中のSV及びMLSSはばつ気槽から採取した混合
液体を分析しなければ得られない。また反応槽で
のSVは SV＝H0／H1×100（％） …(5) 但し、 H0；反応槽の汚泥界面 H1；反応槽の最低水位 で表わされる。また汚泥引抜きの記録より活性汚
泥細胞平均滞留時間（SRT）を算出することが
できる。
度〔mg／〕 SV；混合液の活性汚泥沈殿率（30分静置）
〔％〕 ａ；混合液検体中の活性汚泥浮遊物重量
〔mg〕 ｂ；混合液体100ml中の30分静置後の沈殿
汚泥容量〔ml〕 しかし、上記(1)ないし(4)式のなかで(1)式のSVI
及び(2)式のSDIは計算式で算出されるが、その式
中のSV及びMLSSはばつ気槽から採取した混合
液体を分析しなければ得られない。また反応槽で
のSVは SV＝H0／H1×100（％） …(5) 但し、 H0；反応槽の汚泥界面 H1；反応槽の最低水位 で表わされる。また汚泥引抜きの記録より活性汚
泥細胞平均滞留時間（SRT）を算出することが
できる。
ここでSRTは
SRT＝反応槽内汚泥量（W1）／引抜き汚泥量
（W2）…(6) W1、W2は W1＝Ｓ×H1×Ａ …(7) W2＝ｑ×ｔ×Ｓ×H1／H0×ｎ …(8) ただし Ｓ；MLSS濃度（水位H1での）〔mg／〕 Ａ；反応槽表面積〔m2〕 ｑ；汚泥引抜ポンプ流量〔m3／min〕 ｔ；汚泥引抜ポンプ稼動時間〔min／回〕 ｎ；汚泥引抜ポンプ稼動回数〔回／日〕 上記、(6)、(7)、(8)式より SRT＝Ｓ×H1×Ａ／ｑ×ｔ×Ｓ×H1／H0×ｎ ＝H0×Ａ／ｑ×ｔ×ｎ …(9) で表わされる。そしてSVとは、例えば、検体
1000mlを内径6.5cm、容量１のメスシリンダに
入れ30分静止後の沈殿汚泥容量と検体容量（1000
ml）との比を百分率で表わしたものである。
（W2）…(6) W1、W2は W1＝Ｓ×H1×Ａ …(7) W2＝ｑ×ｔ×Ｓ×H1／H0×ｎ …(8) ただし Ｓ；MLSS濃度（水位H1での）〔mg／〕 Ａ；反応槽表面積〔m2〕 ｑ；汚泥引抜ポンプ流量〔m3／min〕 ｔ；汚泥引抜ポンプ稼動時間〔min／回〕 ｎ；汚泥引抜ポンプ稼動回数〔回／日〕 上記、(6)、(7)、(8)式より SRT＝Ｓ×H1×Ａ／ｑ×ｔ×Ｓ×H1／H0×ｎ ＝H0×Ａ／ｑ×ｔ×ｎ …(9) で表わされる。そしてSVとは、例えば、検体
1000mlを内径6.5cm、容量１のメスシリンダに
入れ30分静止後の沈殿汚泥容量と検体容量（1000
ml）との比を百分率で表わしたものである。
一方、MLSSは検体を重心分離法、あるいは濾
紙法などの定められた方法によつて浮遊固形物と
液体とに分離したあと、この固形物を蒸発乾固し
て得られた固形物重量と検体容量との比〔mg／
〕で表わされるものである。
紙法などの定められた方法によつて浮遊固形物と
液体とに分離したあと、この固形物を蒸発乾固し
て得られた固形物重量と検体容量との比〔mg／
〕で表わされるものである。
上記のMLSSは前記混合液に光線や超音波を透
過した時に生ずる減衰量と良好な相関を示すの
で、その方式をとり入れた濃度計を用いて装定装
置としている。
過した時に生ずる減衰量と良好な相関を示すの
で、その方式をとり入れた濃度計を用いて装定装
置としている。
すなわち、従来のバツチ式活性汚泥処理制御装
置は沈殿汚泥の界面高さを知る手段として汚泥界
面計を用い、更にMLSS濃度を知る手段としては
MLSS計を回分式反応槽の内部へ夫々別個に設置
していたため、装置構成が複雑になり、経済的に
不利なものになるという欠点があつた。また、汚
泥の引抜きも引抜きパイプなどの手動による汚泥
引抜き手段を用いることが多く上澄液のSS濃度、
SVI、SRTも充分測定されないままに処理がな
されるという欠点があつた。
置は沈殿汚泥の界面高さを知る手段として汚泥界
面計を用い、更にMLSS濃度を知る手段としては
MLSS計を回分式反応槽の内部へ夫々別個に設置
していたため、装置構成が複雑になり、経済的に
不利なものになるという欠点があつた。また、汚
泥の引抜きも引抜きパイプなどの手動による汚泥
引抜き手段を用いることが多く上澄液のSS濃度、
SVI、SRTも充分測定されないままに処理がな
されるという欠点があつた。
本発明は上記のような従来のものの欠点を除去
するためになされたもので、MLSS計のような１
台の濃度検出手段により、ばつ気工程時にMLSS
を測定するばかりか、沈殿工程時に設定汚泥界面
高さでの汚泥の有無の検出をも行なうようにし、
濃度検出手段からの出力信号により汚泥処理計測
データの演算を行なう演算手段と、この演算手段
からの出力信号を入力するコントローラとによ
り、ポンプ等の汚泥引抜き手段を自動的に駆動で
きるようにしたものである。
するためになされたもので、MLSS計のような１
台の濃度検出手段により、ばつ気工程時にMLSS
を測定するばかりか、沈殿工程時に設定汚泥界面
高さでの汚泥の有無の検出をも行なうようにし、
濃度検出手段からの出力信号により汚泥処理計測
データの演算を行なう演算手段と、この演算手段
からの出力信号を入力するコントローラとによ
り、ポンプ等の汚泥引抜き手段を自動的に駆動で
きるようにしたものである。
以下、本発明の一実施例を図について説明す
る。第１図において、１は回分式反応槽で、汚水
流水口２より汚水が取り込まれ、ばつ気工程、沈
殿工程後の排出工程で、上澄水は上澄水排出口３
より槽外に排水される。４は下端に濃度測定部５
を装備した濃度検出手段としての濃度計で、この
濃度計４によつて計測されたデータは信号線６を
介してマイクロコンピユーター等を内蔵した演算
手段としての演算装置７に伝送される。そして、
その演算結果は適宜、表示器８又はプリンタ９に
伝送されて然るべき出力表示を行う。また、１０
は警報装置、１１はコントローラでそのコントロ
ーラ１１の出力は汚泥引抜き手段としてのポンプ
１２を駆動し、沈殿汚泥１３を回分式反応槽１の
外部に排出する。また、上記回分式反応槽１内に
最高水位高さをH2、最低水位高さをH1、設定汚
泥界面高さをH0（汚泥が上澄液と共に排出しない
ように、最低水位高さより30センチから100セン
チ程度で設定することがある。）として夫々設定
されており、濃度測定部５はH0の高さに取付け
られている。また、第２図は第１図の回分式活性
汚泥制御装置の各工程別測定動作を示したもの
で、Ｓ１ないしＳ４は工程毎の順序動作を、また
Ｍ１ないしＭ３は各工程毎に前記濃度計４によつ
て計測される測定項目である。
る。第１図において、１は回分式反応槽で、汚水
流水口２より汚水が取り込まれ、ばつ気工程、沈
殿工程後の排出工程で、上澄水は上澄水排出口３
より槽外に排水される。４は下端に濃度測定部５
を装備した濃度検出手段としての濃度計で、この
濃度計４によつて計測されたデータは信号線６を
介してマイクロコンピユーター等を内蔵した演算
手段としての演算装置７に伝送される。そして、
その演算結果は適宜、表示器８又はプリンタ９に
伝送されて然るべき出力表示を行う。また、１０
は警報装置、１１はコントローラでそのコントロ
ーラ１１の出力は汚泥引抜き手段としてのポンプ
１２を駆動し、沈殿汚泥１３を回分式反応槽１の
外部に排出する。また、上記回分式反応槽１内に
最高水位高さをH2、最低水位高さをH1、設定汚
泥界面高さをH0（汚泥が上澄液と共に排出しない
ように、最低水位高さより30センチから100セン
チ程度で設定することがある。）として夫々設定
されており、濃度測定部５はH0の高さに取付け
られている。また、第２図は第１図の回分式活性
汚泥制御装置の各工程別測定動作を示したもの
で、Ｓ１ないしＳ４は工程毎の順序動作を、また
Ｍ１ないしＭ３は各工程毎に前記濃度計４によつ
て計測される測定項目である。
次に本発明の動作を第１図及び第２図を参照し
て以下に説明する。まず、回分式反応槽１内の汚
泥は所定位置の高さH0付近にあり、濃度計４の
濃度測定部５を浸漬することにより以下の動作を
行う。
て以下に説明する。まず、回分式反応槽１内の汚
泥は所定位置の高さH0付近にあり、濃度計４の
濃度測定部５を浸漬することにより以下の動作を
行う。
(1) 最低水位高さH1において、汚水を流水しな
がらばつ気工程Ｓ１が開始されるとそれから所
定の設定時間t1経過後に回分式反応槽１内の混
合液について活性汚泥浮遊物濃度MLSSの測定
Ｍ１が行われる。
がらばつ気工程Ｓ１が開始されるとそれから所
定の設定時間t1経過後に回分式反応槽１内の混
合液について活性汚泥浮遊物濃度MLSSの測定
Ｍ１が行われる。
(2) 回分式反応槽１内では時間の経過と共に水位
が上昇し、ばつ気工程Ｓ２に入るが、その水位
の変動に応じて前記MLSSの計測値も変動す
る。よつて、ばつ気開始後の設定時間t1を前記
MLSSの混合が充分に成される最小の時間に設
定することにより、MLSS測定時の水位を最定
水位高さH1に略等しく設定することができる
ので、測定時の水位を測定してMLSSを換算す
る必要がない。
が上昇し、ばつ気工程Ｓ２に入るが、その水位
の変動に応じて前記MLSSの計測値も変動す
る。よつて、ばつ気開始後の設定時間t1を前記
MLSSの混合が充分に成される最小の時間に設
定することにより、MLSS測定時の水位を最定
水位高さH1に略等しく設定することができる
ので、測定時の水位を測定してMLSSを換算す
る必要がない。
(3) 次に沈殿工程Ｓ３において汚泥の沈殿が充分
進行し、沈殿がほぼ終了した段階で設定汚泥界
面高さでの汚泥の有無と濃度検出Ｍ２のための
活性汚泥濃度測定を、濃度計４を用いて行う。
すなわち、設定汚泥界面高さでの活性汚泥濃度
検出Ｍ２の測定結果が所定設定値以上の濃度
（例えば、1000mg／以上）である場合は、汚
泥界面は濃度測定部５より上位にあることを意
味するので、濃度計４の出力信号は信号線６を
介して演算装置７に伝達される。即ち、この演
算装置７は、上記濃度計からの入力信号による
実際の汚泥濃度測定値と、予め設定された汚泥
濃度設定値とを比較演算し、該演算の結果、上
記汚泥濃度測定値が上記汚泥濃度設定値を越え
た時、コントローラ１１に汚泥引抜き指令信号
を出力する。これにより、上記コントローラ１
１はポンプ（汚泥引抜き手段）１２に駆動指令
信号を出力し、該信号で上記ポンプ１２が駆動
されることにより、回分式反応槽１内の沈殿汚
泥が引抜かれる。
進行し、沈殿がほぼ終了した段階で設定汚泥界
面高さでの汚泥の有無と濃度検出Ｍ２のための
活性汚泥濃度測定を、濃度計４を用いて行う。
すなわち、設定汚泥界面高さでの活性汚泥濃度
検出Ｍ２の測定結果が所定設定値以上の濃度
（例えば、1000mg／以上）である場合は、汚
泥界面は濃度測定部５より上位にあることを意
味するので、濃度計４の出力信号は信号線６を
介して演算装置７に伝達される。即ち、この演
算装置７は、上記濃度計からの入力信号による
実際の汚泥濃度測定値と、予め設定された汚泥
濃度設定値とを比較演算し、該演算の結果、上
記汚泥濃度測定値が上記汚泥濃度設定値を越え
た時、コントローラ１１に汚泥引抜き指令信号
を出力する。これにより、上記コントローラ１
１はポンプ（汚泥引抜き手段）１２に駆動指令
信号を出力し、該信号で上記ポンプ１２が駆動
されることにより、回分式反応槽１内の沈殿汚
泥が引抜かれる。
また、設定汚泥界面高さでの活性汚泥濃度検
出Ｍ２の計測値の濃度が所定設定値以下である
場合は、汚泥界面は濃度計測定部５より下にあ
ることを意味することになるので、汚泥の引抜
きは行われない。
出Ｍ２の計測値の濃度が所定設定値以下である
場合は、汚泥界面は濃度計測定部５より下にあ
ることを意味することになるので、汚泥の引抜
きは行われない。
そして、前記の汚泥引抜きにおいてはコント
ローラ１１からの出力信号が予め設定されたタ
イマによつて運転されるようになつているの
で、設定時間が経過するとポンプ１２は自動停
止し、沈殿汚泥１３の排出が停止される。
ローラ１１からの出力信号が予め設定されたタ
イマによつて運転されるようになつているの
で、設定時間が経過するとポンプ１２は自動停
止し、沈殿汚泥１３の排出が停止される。
(4) 次に、汚泥引抜きが終了し、排出工程Ｓ４に
入ると汚泥界面は濃度測定部５より下位になる
が、必要に応じ所定位置の高さH0における汚
泥の有無の確認を実施すると共に、上澄液の
SS濃度測定Ｍ３を実施、記録する。
入ると汚泥界面は濃度測定部５より下位になる
が、必要に応じ所定位置の高さH0における汚
泥の有無の確認を実施すると共に、上澄液の
SS濃度測定Ｍ３を実施、記録する。
以上のような一連の制御動作を行うことによつ
て汚泥界面は常に所定位置の高さH0付近に保た
れることになり、前記MLSSの測定結果より汚泥
容量指標SVIが演算装置７により直ちに演算され
る。演算式は(1)式に示した。また、汚泥引抜き用
のポンプ１２の稼動時間を加味して活性汚泥細胞
平均滞留時間SRTも(6)ないし(9)式の演算によつ
て求められ、その夫々の演算結果は表示器８又は
プリンタ９によつて出力表示される。
て汚泥界面は常に所定位置の高さH0付近に保た
れることになり、前記MLSSの測定結果より汚泥
容量指標SVIが演算装置７により直ちに演算され
る。演算式は(1)式に示した。また、汚泥引抜き用
のポンプ１２の稼動時間を加味して活性汚泥細胞
平均滞留時間SRTも(6)ないし(9)式の演算によつ
て求められ、その夫々の演算結果は表示器８又は
プリンタ９によつて出力表示される。
以上のように、この発明によれば、回分式反応
槽内の所定位置に濃度検出手段の濃度測定部を定
置的に配置するだけでよく、その一つの濃度検出
手段によつて、単一の回分式反応槽内におけるば
つ気工程時の活性汚泥濃度と、沈殿工程終了時に
おける設定汚泥界面高さでの沈殿汚泥の有無とを
検出することができる。
槽内の所定位置に濃度検出手段の濃度測定部を定
置的に配置するだけでよく、その一つの濃度検出
手段によつて、単一の回分式反応槽内におけるば
つ気工程時の活性汚泥濃度と、沈殿工程終了時に
おける設定汚泥界面高さでの沈殿汚泥の有無とを
検出することができる。
即ち、上記濃度検出手段は、それ本来の濃度検
出検出機能をばつ気工程時に発揮し、且つ沈殿工
程終了時に設定汚泥界面高さでの沈殿汚泥の有無
とを検出するが、この沈殿汚泥の有無検出機能
は、上記濃度検出手段の濃度測定部の配置レベル
と、この配置レベルで活性汚泥濃度を検出する上
記濃度検出手段と、この濃度検出手段から濃度検
出信号を入力して実際の汚泥濃度検出値を予め設
定された汚泥濃度設定値と比較演算する演算手段
との組み合わせによつて得られる。
出検出機能をばつ気工程時に発揮し、且つ沈殿工
程終了時に設定汚泥界面高さでの沈殿汚泥の有無
とを検出するが、この沈殿汚泥の有無検出機能
は、上記濃度検出手段の濃度測定部の配置レベル
と、この配置レベルで活性汚泥濃度を検出する上
記濃度検出手段と、この濃度検出手段から濃度検
出信号を入力して実際の汚泥濃度検出値を予め設
定された汚泥濃度設定値と比較演算する演算手段
との組み合わせによつて得られる。
さらに換言詳述すると、この発明では、上記濃
度測定部の配置レベルが設定汚泥界面高さとな
り、この設定汚泥界面高さにおける汚泥濃度を上
記濃度検出手段が検出し、且つ演算手段がその濃
度検出手段からの入力信号による汚泥濃度検出値
を汚泥濃度設定値と比較演算して、汚泥濃度検出
値が汚泥濃度設定値を越えると、回分式反応槽内
における実際の沈殿汚泥量が上記設定汚泥界面高
さを越えたことになり、従つて、汚泥濃度検出値
が汚泥濃度設定値を越えれば、上記設定汚泥界面
高さでの汚泥が“有”と判断され、汚泥濃度検出
値が汚泥濃度設定値に達しなければ、上記設定汚
泥界面高さでの汚泥が“無”と判断される。
度測定部の配置レベルが設定汚泥界面高さとな
り、この設定汚泥界面高さにおける汚泥濃度を上
記濃度検出手段が検出し、且つ演算手段がその濃
度検出手段からの入力信号による汚泥濃度検出値
を汚泥濃度設定値と比較演算して、汚泥濃度検出
値が汚泥濃度設定値を越えると、回分式反応槽内
における実際の沈殿汚泥量が上記設定汚泥界面高
さを越えたことになり、従つて、汚泥濃度検出値
が汚泥濃度設定値を越えれば、上記設定汚泥界面
高さでの汚泥が“有”と判断され、汚泥濃度検出
値が汚泥濃度設定値に達しなければ、上記設定汚
泥界面高さでの汚泥が“無”と判断される。
このようにして、上記濃度検出手段は、それ１
つでばつ気工程時における通常の活性汚泥濃度検
出機能と、沈殿工程終了時における設定汚泥界面
高さでの汚泥の有無検出機能とを発揮する。
つでばつ気工程時における通常の活性汚泥濃度検
出機能と、沈殿工程終了時における設定汚泥界面
高さでの汚泥の有無検出機能とを発揮する。
そして、上記演算手段は、上記“有”の時、汚
泥引抜き指令信号をコントローラに出力し、この
コントローラが汚泥引抜き手段を駆動することに
より、回分式反応槽内の余剰汚泥が自動的に引抜
かれ、これによつて、回分式反応槽内の沈殿汚泥
量を上記設定汚泥界面高さ付近に安定維持させる
ことができる。
泥引抜き指令信号をコントローラに出力し、この
コントローラが汚泥引抜き手段を駆動することに
より、回分式反応槽内の余剰汚泥が自動的に引抜
かれ、これによつて、回分式反応槽内の沈殿汚泥
量を上記設定汚泥界面高さ付近に安定維持させる
ことができる。
従つて、この発明によれば、頗る簡単で経済的
にも有利な装置構成により、回分式反応槽内の汚
泥管理、BOD−SS負荷等の管理を効率的に行う
ことができ、さらに、上澄液のSS濃度、SVI、
SRTなどについて充分正確な測定を行なつた状
態で汚泥処理を行なうことができるという効果が
ある。
にも有利な装置構成により、回分式反応槽内の汚
泥管理、BOD−SS負荷等の管理を効率的に行う
ことができ、さらに、上澄液のSS濃度、SVI、
SRTなどについて充分正確な測定を行なつた状
態で汚泥処理を行なうことができるという効果が
ある。
第１図は本発明の一実施例を示す回分式汚泥処
理制御装置の概略図、第２図は第１図の動作を示
す各工程別測定動作図である。 １……回分式反応槽、４……濃度検出手段（濃
度計）、５……濃度測定部、７……演算手段（演
算装置）、１１……コントローラ、１２……汚泥
引抜き手段（ポンプ）、H0……所定位置。
理制御装置の概略図、第２図は第１図の動作を示
す各工程別測定動作図である。 １……回分式反応槽、４……濃度検出手段（濃
度計）、５……濃度測定部、７……演算手段（演
算装置）、１１……コントローラ、１２……汚泥
引抜き手段（ポンプ）、H0……所定位置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 流入汚水を受け入れ、ばつ気工程、沈殿工
程、汚泥引抜き工程及び排出工程が行われる回分
式反応槽と、この回分式反応槽に取付けられ、前
記汚泥の引抜きを行う汚泥引抜き手段とを備えた
バツチ式活性汚泥処理装置において、前記回分式
反応槽内の所定位置を設定汚泥界面高さとしてそ
の高さ位置に配置された濃度測定部を有し、前記
ばつ気工程時には活性汚泥濃度を測定し、且つ前
記沈殿工程終了時には上記設定汚泥界面高さでの
汚泥の有無を検出する濃度検出手段と、この濃度
検出手段から濃度検出信号を入力し、該濃度検出
値を予め設定された汚泥濃度設定値と比較演算す
る演算手段と、その演算により実際の濃度検出値
が上記汚泥濃度設定値を越えた時、上記演算手段
からの入力信号に基づく汚泥引抜き指令信号を上
記汚泥引抜き手段に出力して該汚泥引抜き手段を
駆動するコントローラとを備えたバツチ式活性汚
泥処理装置。 ２ 前記濃度検出手段による活性汚泥濃度測定値
と汚泥引抜き結果による汚泥容量指標及び活性汚
泥細胞平均滞留時間を、演算手段により自動的に
算出、表示又は記録することを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載のバツチ式活性汚泥処理装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58122232A JPS6014993A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | バツチ式活性汚泥処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58122232A JPS6014993A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | バツチ式活性汚泥処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6014993A JPS6014993A (ja) | 1985-01-25 |
| JPS64118B2 true JPS64118B2 (ja) | 1989-01-05 |
Family
ID=14830837
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58122232A Granted JPS6014993A (ja) | 1983-07-04 | 1983-07-04 | バツチ式活性汚泥処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6014993A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0790231B2 (ja) * | 1987-03-18 | 1995-10-04 | 日立機電工業株式会社 | 回分式排水処理装置の制御方法 |
| KR20020083978A (ko) * | 2002-09-28 | 2002-11-04 | 주식회사 퍼텍코리아 | 연속 유입 주기식 활성 슬러지공법 |
| JP7601550B2 (ja) * | 2019-09-06 | 2024-12-17 | オルガノ株式会社 | 水処理方法及び水処理装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS587326B2 (ja) * | 1975-04-24 | 1983-02-09 | 株式会社安川電機 | 下水処理場の汚泥量管理方法 |
| JPS51145169A (en) * | 1975-06-09 | 1976-12-13 | Hitachi Ltd | Active mud boundary detector for settling pond |
| JPS5579091A (en) * | 1978-12-07 | 1980-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | Drawing controller for excessive sludge |
-
1983
- 1983-07-04 JP JP58122232A patent/JPS6014993A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6014993A (ja) | 1985-01-25 |
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