JPS641899B2 - - Google Patents
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- JPS641899B2 JPS641899B2 JP52148321A JP14832177A JPS641899B2 JP S641899 B2 JPS641899 B2 JP S641899B2 JP 52148321 A JP52148321 A JP 52148321A JP 14832177 A JP14832177 A JP 14832177A JP S641899 B2 JPS641899 B2 JP S641899B2
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- JP
- Japan
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- grid
- lens
- electron
- accelerating
- bipotential
- Prior art date
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/46—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
- H01J29/58—Arrangements for focusing or reflecting ray or beam
- H01J29/62—Electrostatic lenses
- H01J29/622—Electrostatic lenses producing fields exhibiting symmetry of revolution
- H01J29/624—Electrostatic lenses producing fields exhibiting symmetry of revolution co-operating with or closely associated to an electron gun
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は受像管に使用する電子銃の電子ビー
ムを集束する電子レンズの改良に関するものであ
る。
ムを集束する電子レンズの改良に関するものであ
る。
〔従来技術とその問題点〕
従来、一般に広く使用されている受像管用電子
銃の電子レンズには、加速形バイポテンシヤル形
とユニポテンシヤル形の2種類がある。加速形バ
イポテンシヤル形電子銃は、現在特にカラー陰極
線管に広く採用されているものであり、第1図に
示すように、左側から中心軸S上に陰極K、第1
グリツド1、第2グリツド2、第3グリツド3、
第4グリツド4が順次配列されることによつて構
成されている。電子銃の中心軸S上に配列された
電子レンズを構成する第4グリツド4には高電圧
が、第3グリツド3には高電圧の約20%程度の中
高圧が印加される。つまり、後段側の第4グリツ
ド4を第3グリツド3よりも高電圧にして、電子
ビームを加速しながら集束させる。
銃の電子レンズには、加速形バイポテンシヤル形
とユニポテンシヤル形の2種類がある。加速形バ
イポテンシヤル形電子銃は、現在特にカラー陰極
線管に広く採用されているものであり、第1図に
示すように、左側から中心軸S上に陰極K、第1
グリツド1、第2グリツド2、第3グリツド3、
第4グリツド4が順次配列されることによつて構
成されている。電子銃の中心軸S上に配列された
電子レンズを構成する第4グリツド4には高電圧
が、第3グリツド3には高電圧の約20%程度の中
高圧が印加される。つまり、後段側の第4グリツ
ド4を第3グリツド3よりも高電圧にして、電子
ビームを加速しながら集束させる。
この従来の加速形バイポテンシヤルレンズで
は、高電流領域において集束ビームスポツト径が
大きい。カラー受像管のデルタまたはインライン
形の3本の電子銃に加速形バイポテンシヤル形電
子銃を採用した場合、電子銃を収容するカラー受
像管のネツク部の内径によつて電子レンズの口径
が制限されるため、球面収差が増大し、高電流領
域における集束ビームスポツト径を充分小さくで
きず、受像画面の白文字がぼけたり、太くなる等
の解像度の顕著な損失をまねく欠点を有してい
た。
は、高電流領域において集束ビームスポツト径が
大きい。カラー受像管のデルタまたはインライン
形の3本の電子銃に加速形バイポテンシヤル形電
子銃を採用した場合、電子銃を収容するカラー受
像管のネツク部の内径によつて電子レンズの口径
が制限されるため、球面収差が増大し、高電流領
域における集束ビームスポツト径を充分小さくで
きず、受像画面の白文字がぼけたり、太くなる等
の解像度の顕著な損失をまねく欠点を有してい
た。
これに対してユニポテンシヤル形電子銃は、一
部のカラー受像管に使用されているが、この電子
銃の電子レンズは、第2図に示すように3個の電
極より構成されるもので、電子銃の中心軸S上の
電位分布がほぼ鞍状をなし、主電子レンズの始端
の第3グリツド5と終端の第5グリツド7の電位
が等しく、共に高電圧が印加され、第4グリツド
6にはほぼ接地電位の低電圧が印加される方式で
ある。
部のカラー受像管に使用されているが、この電子
銃の電子レンズは、第2図に示すように3個の電
極より構成されるもので、電子銃の中心軸S上の
電位分布がほぼ鞍状をなし、主電子レンズの始端
の第3グリツド5と終端の第5グリツド7の電位
が等しく、共に高電圧が印加され、第4グリツド
6にはほぼ接地電位の低電圧が印加される方式で
ある。
この従来のユニポテンシヤル形電子銃の電子レ
ンズは、それ自体の球面収差が大きく、高電流領
域での集束スポツトは、中心部に明かるい小さな
芯と周辺部に暗い大きなハローが生じ、解像度は
良いが鮮鋭度が悪くなるとともに、低電流領域で
の集束ビームスポツトが大きく、この領域での解
像度を劣化させる欠点を有していた。さらに、低
電位の第4グリツド6の両側に高電位の第3及び
第5グリツド5,7が配列される方式であるた
め、受像管内の耐電圧特性を基本的に悪くさせる
欠点を有していた。
ンズは、それ自体の球面収差が大きく、高電流領
域での集束スポツトは、中心部に明かるい小さな
芯と周辺部に暗い大きなハローが生じ、解像度は
良いが鮮鋭度が悪くなるとともに、低電流領域で
の集束ビームスポツトが大きく、この領域での解
像度を劣化させる欠点を有していた。さらに、低
電位の第4グリツド6の両側に高電位の第3及び
第5グリツド5,7が配列される方式であるた
め、受像管内の耐電圧特性を基本的に悪くさせる
欠点を有していた。
このようにバイポテンシヤル形電子銃にしろ、
ユニポテンシヤル形電子銃にしろ、一長一短の特
徴をもつており、低電流領域から高電流領域の全
領域にわたつて解像度を上げることは、これら従
来の方式の電子銃では不可能であり、特に最近、
カラー受像管においては受像画面の輝度を上げる
ために主電子レンズ用のグリツドに印加する高電
圧を30KV近くまで上げ、しかも陰極に高電流を
流して使用することが行われてくると、従来の電
子銃の方式では、とても全電流領域にわたる解像
度の向上に対処することが不可能である。
ユニポテンシヤル形電子銃にしろ、一長一短の特
徴をもつており、低電流領域から高電流領域の全
領域にわたつて解像度を上げることは、これら従
来の方式の電子銃では不可能であり、特に最近、
カラー受像管においては受像画面の輝度を上げる
ために主電子レンズ用のグリツドに印加する高電
圧を30KV近くまで上げ、しかも陰極に高電流を
流して使用することが行われてくると、従来の電
子銃の方式では、とても全電流領域にわたる解像
度の向上に対処することが不可能である。
この発明は上記した点に鑑みてなされたもので
あり、低電流領域から高電流領域の全電流領域に
おいて、電子ビームの集束特性の改善を図つた電
子銃を得ることを目的としている。
あり、低電流領域から高電流領域の全電流領域に
おいて、電子ビームの集束特性の改善を図つた電
子銃を得ることを目的としている。
上記目的を達成するために、この発明は、電子
銃を構成する主電子レンズの前段に加速形バイポ
テンシヤルレンズを配設し、この加速形バイポテ
ンシヤルレンズの物体側の主面を、加速形バイポ
テンシヤルレンズに入射する電子ビームの最外電
子線による虚物体位置に設定している。
銃を構成する主電子レンズの前段に加速形バイポ
テンシヤルレンズを配設し、この加速形バイポテ
ンシヤルレンズの物体側の主面を、加速形バイポ
テンシヤルレンズに入射する電子ビームの最外電
子線による虚物体位置に設定している。
発明者らは、主電子レンズと加速形バイポテン
シヤルレンズとの位置関係について研究、開発を
重ね、その過程で特に電子ビーム軌道に注目し、
上記加速形バイポテンシヤルレンズの最適な位置
を見い出すに至つた。
シヤルレンズとの位置関係について研究、開発を
重ね、その過程で特に電子ビーム軌道に注目し、
上記加速形バイポテンシヤルレンズの最適な位置
を見い出すに至つた。
この発明によれば、電子ビームは、加速形のバ
イポテンシヤルレンズ通過後、その虚物体の位置
をほとんど変えずに、発散角だけが小さくなり、
主電子レンズの球面収差の影響を非常に受けにく
くなり、電子ビームを理想的な状態で絞ることが
できる。
イポテンシヤルレンズ通過後、その虚物体の位置
をほとんど変えずに、発散角だけが小さくなり、
主電子レンズの球面収差の影響を非常に受けにく
くなり、電子ビームを理想的な状態で絞ることが
できる。
以下、この発明の実施例を図面にしたがつて説
明する。
明する。
第3図はこの発明の一実施例による電子銃の集
束レンズ系の概略図を示すもので、第3図におい
て、電子銃の中心軸S上に左側からKは陰極、1
は第1グリツド、2は第2グリツド、8は第3グ
リツド、9は第4グリツド、10は最終段に電子
ビームを集束する主電子レンズであり、受像管画
面上(図示せず)に電子ビームを集束するもので
ある。
束レンズ系の概略図を示すもので、第3図におい
て、電子銃の中心軸S上に左側からKは陰極、1
は第1グリツド、2は第2グリツド、8は第3グ
リツド、9は第4グリツド、10は最終段に電子
ビームを集束する主電子レンズであり、受像管画
面上(図示せず)に電子ビームを集束するもので
ある。
そして、この実施例の特徴は、主電子レンズ1
0の前段に加速形バイポテンシヤルレンズ、すな
わち第3グリツド8と第4グリツド9で形成され
るレンズを配設し、このレンズの物体側の主面
を、陰極K、第1グリツド1、第2グリツド2、
第3グリツド8で構成される四極部から放射され
る電子ビームの最外電子線による虚物体位置に設
定したことである。
0の前段に加速形バイポテンシヤルレンズ、すな
わち第3グリツド8と第4グリツド9で形成され
るレンズを配設し、このレンズの物体側の主面
を、陰極K、第1グリツド1、第2グリツド2、
第3グリツド8で構成される四極部から放射され
る電子ビームの最外電子線による虚物体位置に設
定したことである。
ここで、加速形バイポテンシヤルレンズの「物
体側の主面」は、「理論応用・電子工学」(昭和15
年7月18日、共立社発行)第126頁〜第130頁に記
載の「第一主面」に相当し、この出願では、加速
形バイポテンシヤルに陰極Kとは逆側、つまり主
電子レンズ10側からの中心軸Sと平行な入射電
子線に沿つた直線と、この入射電子線による加速
形バイポテンシヤルレンズ通過後の中心軸Sに交
わる電子線に沿つた直線との交点を含む中心軸S
に垂直な平面を、加速形バイポテンシヤルレンズ
の「物体側の主面」として定義する。
体側の主面」は、「理論応用・電子工学」(昭和15
年7月18日、共立社発行)第126頁〜第130頁に記
載の「第一主面」に相当し、この出願では、加速
形バイポテンシヤルに陰極Kとは逆側、つまり主
電子レンズ10側からの中心軸Sと平行な入射電
子線に沿つた直線と、この入射電子線による加速
形バイポテンシヤルレンズ通過後の中心軸Sに交
わる電子線に沿つた直線との交点を含む中心軸S
に垂直な平面を、加速形バイポテンシヤルレンズ
の「物体側の主面」として定義する。
「虚物体位置」は、この出願では、加速形バイ
ポテンシヤルレンズのレンズ作用領域に入射する
直前の陰極Kからの電子ビームの最外電子線の入
射してきた方向に沿つた直線と中心軸との交わる
点として定義する。
ポテンシヤルレンズのレンズ作用領域に入射する
直前の陰極Kからの電子ビームの最外電子線の入
射してきた方向に沿つた直線と中心軸との交わる
点として定義する。
なお、電子ビームの最外電子線は、加速形バイ
ポテンシヤルレンズのレンズ作用領域に入射する
直前の電子ビームのうち最も外側を通る電子ビー
ムである。
ポテンシヤルレンズのレンズ作用領域に入射する
直前の電子ビームのうち最も外側を通る電子ビー
ムである。
次に、上記加速形バイポテンシヤルレンズの設
定位置について、第4図を用いてさらに詳細に説
明すると、第4図において、H1は上記で述べた
加速形バイポテンシヤルレンズの物体側の主面、
H2は加速形バイポテンシヤルレンズの像側の主
面で、上記文献「理論応用・電子工学」に記載の
「第二主面」に相当し、この出願では、加速形バ
イポテンシヤルレンズに陰極K側からの中心軸と
平行な入射電子線に沿つた直線とこの入射電子線
による加速形バイポテンシヤルレンズ通加後の中
心軸Sに交わる電子線に沿つた直線との交点を含
む中心軸Sに垂直な平面として定義する。これら
物体側及び像側の主面H1及びH2は、物体側及び
像側の焦点距離とともに、レンズの主要定数であ
り、レンズが特定されればレンズの基準面から物
体側及び像側の主面H1及びH2までの距離が一義
的に決まつてしまうものである。つまり、第4図
に示す第3グリツド8と第4グリツド9とで形成
される加速形バイポテンシヤルレンズにおいて、
レンズ基準面となるレンズのギヤツプ中心から物
体側の主面H1までの距離P1及びギヤツプ中心か
ら像側の主面H2までの距離P2は、レンズの半径、
第3グリツド8の印加電圧V1と第4グリツド1
0の印加電圧V2との電圧比V2/V1、及び第3グ
リツド8と第4グリツド9とのギヤツプG1のみ
の関数になることは知られており、これらレンズ
の半径、電圧比V2/V1及びギヤツプG1を決めれ
ば上記距離P1及びP2も求められるものである。
なお、これら距離P1及びP2は「ELECTRON
BEAMS、LENSES、AND OPTICS」(1970年、
ACADEMIC PRESS INC.発行)あるいは
「ELECTROSTATIC LENSES」(1976年、
ELSEVER社発行)により測定でき、特にこの文
献「ELECTRON BEAMS、LENSES、AND
OPTICS」のp.p.96−97にはレンズ半径Rで正規
化した寸法が電圧比V2/V1の関数として掲載さ
れている。
定位置について、第4図を用いてさらに詳細に説
明すると、第4図において、H1は上記で述べた
加速形バイポテンシヤルレンズの物体側の主面、
H2は加速形バイポテンシヤルレンズの像側の主
面で、上記文献「理論応用・電子工学」に記載の
「第二主面」に相当し、この出願では、加速形バ
イポテンシヤルレンズに陰極K側からの中心軸と
平行な入射電子線に沿つた直線とこの入射電子線
による加速形バイポテンシヤルレンズ通加後の中
心軸Sに交わる電子線に沿つた直線との交点を含
む中心軸Sに垂直な平面として定義する。これら
物体側及び像側の主面H1及びH2は、物体側及び
像側の焦点距離とともに、レンズの主要定数であ
り、レンズが特定されればレンズの基準面から物
体側及び像側の主面H1及びH2までの距離が一義
的に決まつてしまうものである。つまり、第4図
に示す第3グリツド8と第4グリツド9とで形成
される加速形バイポテンシヤルレンズにおいて、
レンズ基準面となるレンズのギヤツプ中心から物
体側の主面H1までの距離P1及びギヤツプ中心か
ら像側の主面H2までの距離P2は、レンズの半径、
第3グリツド8の印加電圧V1と第4グリツド1
0の印加電圧V2との電圧比V2/V1、及び第3グ
リツド8と第4グリツド9とのギヤツプG1のみ
の関数になることは知られており、これらレンズ
の半径、電圧比V2/V1及びギヤツプG1を決めれ
ば上記距離P1及びP2も求められるものである。
なお、これら距離P1及びP2は「ELECTRON
BEAMS、LENSES、AND OPTICS」(1970年、
ACADEMIC PRESS INC.発行)あるいは
「ELECTROSTATIC LENSES」(1976年、
ELSEVER社発行)により測定でき、特にこの文
献「ELECTRON BEAMS、LENSES、AND
OPTICS」のp.p.96−97にはレンズ半径Rで正規
化した寸法が電圧比V2/V1の関数として掲載さ
れている。
また、第4図において、Aは上記で述べた虚物
体位置であり、陰極K、第1グリツド1、第2グ
リツド2及び第3グリツド8の電位、第1グリツ
ド1、第2グリツド2及び第3グリツド8の穴の
口径、並びに陰極Kの電子放射面の位置と第1グ
リツド1、第2グリツド2及び第3グリツド8の
穴を含む平面の位置との位置関係の関数となつて
おり、これら電位の関係、穴の口径及び位置関係
を特定すれば、虚物体位置Aの位置は決まつてし
まう。なお、第3グリツド8の電極長Lは虚物体
位置Aの位置には影響を及ぼさない。ここで、陰
極K、第1グリツド1及び第2グリツド2までが
いわゆる三極部であり、電子ビーム発生部として
機能し、受像管に使用する場合、陰極K、第1グ
リツド1及び第2グリツド2に決められた電圧が
印加された状態で、所定の電流を引き出さなけれ
ばならず、陰極K、第1グリツド1及び第2グリ
ツド2の電位は事実上決まつてしまい、受像管の
ネツク部によつて電子銃自体の大きさが規制され
るため、陰極K、第1グリツド1、第2グリツド
2及び第3グリツド8相互の間隔と各電極の穴の
口径も事実上決まつてしまう。従つて、虚物体位
置Aの位置は、実際上自由度の大きい第3グリツ
ド8の印加電圧V1によつて選定でき、この第3
グリツド8の印加電圧V1を決めれば、陰極Kか
ら虚物体位置Aまでの距離P0も求められる。な
お、この距離P0は、「電子・イオンビームハンド
ブツク」(昭和48年12月20日、日刊工業新聞社発
行)第206頁から第209頁により測定できる。
体位置であり、陰極K、第1グリツド1、第2グ
リツド2及び第3グリツド8の電位、第1グリツ
ド1、第2グリツド2及び第3グリツド8の穴の
口径、並びに陰極Kの電子放射面の位置と第1グ
リツド1、第2グリツド2及び第3グリツド8の
穴を含む平面の位置との位置関係の関数となつて
おり、これら電位の関係、穴の口径及び位置関係
を特定すれば、虚物体位置Aの位置は決まつてし
まう。なお、第3グリツド8の電極長Lは虚物体
位置Aの位置には影響を及ぼさない。ここで、陰
極K、第1グリツド1及び第2グリツド2までが
いわゆる三極部であり、電子ビーム発生部として
機能し、受像管に使用する場合、陰極K、第1グ
リツド1及び第2グリツド2に決められた電圧が
印加された状態で、所定の電流を引き出さなけれ
ばならず、陰極K、第1グリツド1及び第2グリ
ツド2の電位は事実上決まつてしまい、受像管の
ネツク部によつて電子銃自体の大きさが規制され
るため、陰極K、第1グリツド1、第2グリツド
2及び第3グリツド8相互の間隔と各電極の穴の
口径も事実上決まつてしまう。従つて、虚物体位
置Aの位置は、実際上自由度の大きい第3グリツ
ド8の印加電圧V1によつて選定でき、この第3
グリツド8の印加電圧V1を決めれば、陰極Kか
ら虚物体位置Aまでの距離P0も求められる。な
お、この距離P0は、「電子・イオンビームハンド
ブツク」(昭和48年12月20日、日刊工業新聞社発
行)第206頁から第209頁により測定できる。
この様にして、加速形バイポテンシヤルレンズ
の物体側の主面H1及び虚物体位置Aを設定でき
るものであるが、この発明においては、加速形バ
イポテンシヤルレンズの物体側の主面H1を虚物
体位置Aに設定したことを特徴としているもので
あり、この点につき以下に説明を加える。
の物体側の主面H1及び虚物体位置Aを設定でき
るものであるが、この発明においては、加速形バ
イポテンシヤルレンズの物体側の主面H1を虚物
体位置Aに設定したことを特徴としているもので
あり、この点につき以下に説明を加える。
まず、最初に虚物体位置Aを決める。この虚物
体位置Aは、上記で述べたように、受像管の電子
銃として使用する場合に、自由度の大きい第3グ
リツド8の印加電圧V1によつて選定できるから、
この第3グリツド8の印加電圧V1を決めて、虚
物体位置Aを特定させ、陰極Kから虚物体位置A
までの距離P0を求める。
体位置Aは、上記で述べたように、受像管の電子
銃として使用する場合に、自由度の大きい第3グ
リツド8の印加電圧V1によつて選定できるから、
この第3グリツド8の印加電圧V1を決めて、虚
物体位置Aを特定させ、陰極Kから虚物体位置A
までの距離P0を求める。
次に、第3グリツド8及び第4グリツド9で形
成される加速形バイポテンシヤルレンズの物体側
の主面H1と加速形バイポテンシヤルレンズのギ
ヤツプ中心面との距離P1を求める。この距離P1
は上記で述べたように、受像管の電子銃として使
用する場合に、第3グリツド8の印加電圧V1と
第4グリツド9の印加電圧V2との電圧比V1/V2
によつて選定でき、かつ第3グリツド8の印加電
圧V1は虚物体位置Aを決めたときに決定してい
るため、結局のところ第4グリツド9の印加電圧
V2によつて選定できるものであり、この第4グ
リツド9の印加電圧V2を決めて、上記距離P1を
求める。
成される加速形バイポテンシヤルレンズの物体側
の主面H1と加速形バイポテンシヤルレンズのギ
ヤツプ中心面との距離P1を求める。この距離P1
は上記で述べたように、受像管の電子銃として使
用する場合に、第3グリツド8の印加電圧V1と
第4グリツド9の印加電圧V2との電圧比V1/V2
によつて選定でき、かつ第3グリツド8の印加電
圧V1は虚物体位置Aを決めたときに決定してい
るため、結局のところ第4グリツド9の印加電圧
V2によつて選定できるものであり、この第4グ
リツド9の印加電圧V2を決めて、上記距離P1を
求める。
この様にして、陰極Kから虚物体位置Aまでの
距離P0と加速形バイポテンシヤルレンズのレン
ズギヤツプ中心面から加速形バイポテンシヤルレ
ンズの物体側の主面H1までの距離P1とが求まる
と、この距離P1が、上記距離P0と、陰極Kの電
子放射面と第3グリツド8の穴を含む平面との間
隔と、第3グリツド8の電極長Lと第3グリツド
8の終端面と加速形バイポテンシヤルレンズのレ
ンズギヤツプ中心面との間隔との和と等しくすれ
ば、加速形バイポテンシヤルレンズの物体側の主
面H1が虚物体位置Aと同じ位置になる。なお、
距離P0は陰極Kより後方の場合は正の値とし、
前方の場合は負の値とする。ここで、陰極Kから
の電子放射面と第3グリツド8の穴を含む平面と
の間隔は、陰極K、第1グリツド1及び第2グリ
ツド2による電子ビーム発生部としての機能上、
規制される。従つて、虚物体位置Aの位置に影響
を及ぼさず、かつ加速形バイポテンシヤルレンズ
のレンズ中心面から加速形バイポテンシヤルレン
ズの物体側の主面H1までの距離P1に影響を及ぼ
さない第3グリツド8の電極長Lを変えることに
より、加速形バイポテンシヤルレンズのレンズ中
心面から虚物体位置Aまでの距離を、加速形バイ
ポテンシヤルレンズの中心面から加速形バイポテ
ンシヤルレンズの物体側の主面H1までの距離と
等しくでき、その結果、加速形バイポテンシヤル
レンズの物体側の主面H1が陰極線位置Aと同じ
位置になる。
距離P0と加速形バイポテンシヤルレンズのレン
ズギヤツプ中心面から加速形バイポテンシヤルレ
ンズの物体側の主面H1までの距離P1とが求まる
と、この距離P1が、上記距離P0と、陰極Kの電
子放射面と第3グリツド8の穴を含む平面との間
隔と、第3グリツド8の電極長Lと第3グリツド
8の終端面と加速形バイポテンシヤルレンズのレ
ンズギヤツプ中心面との間隔との和と等しくすれ
ば、加速形バイポテンシヤルレンズの物体側の主
面H1が虚物体位置Aと同じ位置になる。なお、
距離P0は陰極Kより後方の場合は正の値とし、
前方の場合は負の値とする。ここで、陰極Kから
の電子放射面と第3グリツド8の穴を含む平面と
の間隔は、陰極K、第1グリツド1及び第2グリ
ツド2による電子ビーム発生部としての機能上、
規制される。従つて、虚物体位置Aの位置に影響
を及ぼさず、かつ加速形バイポテンシヤルレンズ
のレンズ中心面から加速形バイポテンシヤルレン
ズの物体側の主面H1までの距離P1に影響を及ぼ
さない第3グリツド8の電極長Lを変えることに
より、加速形バイポテンシヤルレンズのレンズ中
心面から虚物体位置Aまでの距離を、加速形バイ
ポテンシヤルレンズの中心面から加速形バイポテ
ンシヤルレンズの物体側の主面H1までの距離と
等しくでき、その結果、加速形バイポテンシヤル
レンズの物体側の主面H1が陰極線位置Aと同じ
位置になる。
この様にして加速形バイポテンシヤルレンズの
物体側の主面H1を虚物体位置Aと同じ位置とな
した電子銃においては、上記物体側の主面H1に
おける虚物体の径が最小となり、電子ビームが加
速形バイポテンシヤルレンズの球面収差を受けな
くなる。
物体側の主面H1を虚物体位置Aと同じ位置とな
した電子銃においては、上記物体側の主面H1に
おける虚物体の径が最小となり、電子ビームが加
速形バイポテンシヤルレンズの球面収差を受けな
くなる。
つまり、陰極Kからの電子ビームは、屈折前と
屈折後の空間を分ける境界面の前後では、その空
間における第3グリツド8の電位V1及び第4グ
リツド9の電位V2により加速され、かつ上記境
界面では屈折するだけとなるから、それと等価で
ある加速形バイポテンシヤルレンズの球面収差の
影響を受けないことになり、そして、上述の加速
効果により、加速形バイポテンシヤルレンズ通過
後の電子ビームの発散角θ2は、もとの電子ビーム
の発散角θ1に比べてスネルの法則により、θ2=θ1
√1 2に減少させることができ、加速形バイ
ポテンシヤルレンズのレンズ作用領域を通過した
最外電子線Xはあたかも加速形バイポテンシヤル
レンズの像側の主面H2と中心軸Sとの交点Bか
ら出射されてきた如くの電子軌道をとることにな
る。
屈折後の空間を分ける境界面の前後では、その空
間における第3グリツド8の電位V1及び第4グ
リツド9の電位V2により加速され、かつ上記境
界面では屈折するだけとなるから、それと等価で
ある加速形バイポテンシヤルレンズの球面収差の
影響を受けないことになり、そして、上述の加速
効果により、加速形バイポテンシヤルレンズ通過
後の電子ビームの発散角θ2は、もとの電子ビーム
の発散角θ1に比べてスネルの法則により、θ2=θ1
√1 2に減少させることができ、加速形バイ
ポテンシヤルレンズのレンズ作用領域を通過した
最外電子線Xはあたかも加速形バイポテンシヤル
レンズの像側の主面H2と中心軸Sとの交点Bか
ら出射されてきた如くの電子軌道をとることにな
る。
次に、加速形バイポテンシヤルレンズの物体側
の主面H1を虚物体位置Aと同じ位置にした1つ
の実例を第4図を用いて説明する。
の主面H1を虚物体位置Aと同じ位置にした1つ
の実例を第4図を用いて説明する。
第1グリツド1は板厚0.1mm、穴の口径0.64mm
のものを用い、陰極Kの放射面との間隔0.07mmに
して配置し、接地電位とした。第2グリツド2は
板厚0.17mm、穴の口径0.64mmのものを用い、第1
グリツド1との間隔0.3mmとして配置し、700Vの
電圧を印加した。第3グリツド8は第2グリツド
2側の穴の口径1.67mm、第4グリツド9側の穴の
口径5.5mm、電極長Lを4.4mmのものを用い、第2
グリツド2側の穴を含む平面と第2グリツド2と
の間隔1.05mmにして配置し、7KVの電圧を印加し
た。第4グリツド9は穴の口径5.5mmのものを用
い、この穴を含む平面と第3グリツド8における
第2グリツド2側の穴を含む平面との間隔(ギヤ
ツプG1)1.0mmとして配置し、30KVの電圧を印
加した。
のものを用い、陰極Kの放射面との間隔0.07mmに
して配置し、接地電位とした。第2グリツド2は
板厚0.17mm、穴の口径0.64mmのものを用い、第1
グリツド1との間隔0.3mmとして配置し、700Vの
電圧を印加した。第3グリツド8は第2グリツド
2側の穴の口径1.67mm、第4グリツド9側の穴の
口径5.5mm、電極長Lを4.4mmのものを用い、第2
グリツド2側の穴を含む平面と第2グリツド2と
の間隔1.05mmにして配置し、7KVの電圧を印加し
た。第4グリツド9は穴の口径5.5mmのものを用
い、この穴を含む平面と第3グリツド8における
第2グリツド2側の穴を含む平面との間隔(ギヤ
ツプG1)1.0mmとして配置し、30KVの電圧を印
加した。
この実例において、加速形バイポテンシヤルレ
ンズの物体側の主面H1が虚物体位置Aと一致し
ている点について説明する。まず始めに、虚物体
位置Aを求める。虚物体位置Aは、陰極K、第1
グリツド1、第2グリツド2、第3グリツド8で
構成される四極部から放射される電子ビームの最
外電子線によるので、上記構成のものにおいて、
第4グリツド9の印加電圧を7KVとし、陰極電
流を3000μAにして、上記「電子・イオンビーム
ハンドブツク」に示された方法によつて求めた。
その結果、虚物体位置Aは第1グリツド1と第2
グリツド2との間に存在し、陰極Kから虚物体位
置Aまでの距離P0は0.32mmであつた。従つて、ギ
ヤツプ中心面から虚物体位置Aまでの距離P1は
6.27mm(=0.5+4.4+1.05+0.17+0.3+0.1+0.07
−0.32)であつた。一方、物体側の主面H1は、
第3グリツド8の印加電圧V1と第4グリツド1
0の印加電圧V2との電圧比V2/V1の関数になる
ので、上記「ELECTROSTATIC LENSES」に
示された“レンズ直径Rで正規化した寸法と電圧
比V2/V1との関係”から電圧比V2/V1が4.29
(≒30/7)の時、レンズ直径Rで正規化した寸
法として2.28が求められる。従つて、ギヤツプ中
心面から物体側の主面H1までの距離P1は6.27mm
(=2.75×2.28)となる。この実例においては、
物体側の主面H1が虚物体位置Aと一致したもの
となつており、この時の第3グリツド8の電極長
Lは4.4mmである。
ンズの物体側の主面H1が虚物体位置Aと一致し
ている点について説明する。まず始めに、虚物体
位置Aを求める。虚物体位置Aは、陰極K、第1
グリツド1、第2グリツド2、第3グリツド8で
構成される四極部から放射される電子ビームの最
外電子線によるので、上記構成のものにおいて、
第4グリツド9の印加電圧を7KVとし、陰極電
流を3000μAにして、上記「電子・イオンビーム
ハンドブツク」に示された方法によつて求めた。
その結果、虚物体位置Aは第1グリツド1と第2
グリツド2との間に存在し、陰極Kから虚物体位
置Aまでの距離P0は0.32mmであつた。従つて、ギ
ヤツプ中心面から虚物体位置Aまでの距離P1は
6.27mm(=0.5+4.4+1.05+0.17+0.3+0.1+0.07
−0.32)であつた。一方、物体側の主面H1は、
第3グリツド8の印加電圧V1と第4グリツド1
0の印加電圧V2との電圧比V2/V1の関数になる
ので、上記「ELECTROSTATIC LENSES」に
示された“レンズ直径Rで正規化した寸法と電圧
比V2/V1との関係”から電圧比V2/V1が4.29
(≒30/7)の時、レンズ直径Rで正規化した寸
法として2.28が求められる。従つて、ギヤツプ中
心面から物体側の主面H1までの距離P1は6.27mm
(=2.75×2.28)となる。この実例においては、
物体側の主面H1が虚物体位置Aと一致したもの
となつており、この時の第3グリツド8の電極長
Lは4.4mmである。
この実例を、実験にて確認したところ、陰極
K、第1グリツド1、第2グリツド2、第3グリ
ツド8で構成される四極部から放射される電子ビ
ームは、加速形のバイポテンシヤルレンズで、そ
の球面収差の影響を受けることなく、このレンズ
通過後の発散角だけが小さくなるので、主電子レ
ンズ10での電子ビーム径が小さくなり、主電子
レンズ10の球面収差の影響を非常に受けにくく
なり、電子ビームを理想的な状態で絞ることがで
きた。例えば第1図に示したような従来の主電子
レンズが単独に存在する電子銃を受像管に使用し
た場合における受像画面での集束電子ビームスポ
ツト径に比べて、中および高電流領域において、
主電子レンズ10の前段に加速形バイポテンシヤ
ルレンズを配設し、加速形バイポテンシヤルレン
ズの物体側の主面H1を虚物体位置Aと同じ位置
とした電子銃を受像管に使用した場合における受
像画面での集束電子ビームスポツト径が、第6図
にその実験データを示すように、20%以上改善、
つまり20%以上小さい径となつた。
K、第1グリツド1、第2グリツド2、第3グリ
ツド8で構成される四極部から放射される電子ビ
ームは、加速形のバイポテンシヤルレンズで、そ
の球面収差の影響を受けることなく、このレンズ
通過後の発散角だけが小さくなるので、主電子レ
ンズ10での電子ビーム径が小さくなり、主電子
レンズ10の球面収差の影響を非常に受けにくく
なり、電子ビームを理想的な状態で絞ることがで
きた。例えば第1図に示したような従来の主電子
レンズが単独に存在する電子銃を受像管に使用し
た場合における受像画面での集束電子ビームスポ
ツト径に比べて、中および高電流領域において、
主電子レンズ10の前段に加速形バイポテンシヤ
ルレンズを配設し、加速形バイポテンシヤルレン
ズの物体側の主面H1を虚物体位置Aと同じ位置
とした電子銃を受像管に使用した場合における受
像画面での集束電子ビームスポツト径が、第6図
にその実験データを示すように、20%以上改善、
つまり20%以上小さい径となつた。
また、第4図に示した構成のものにおいて、上
記に示した実例(第3グリツド8の電極長4.4mm、
L/R=1.6)に対して、第3グリツド8の電極
長を変えたものを製作し、コア径とハロー径を測
定したところ第7図の結果を得た。この第7図か
ら明らかな様に、第3グリツド8の電極長を短か
くすれば、コア径は小さくなり、ハロー径は大き
くなることが判る。コア径及びハロー径両者を考
慮すれば、第3グリツド8の電極長を4.4mmにし
たもの、つまり、物体側の主面H1を虚物体位置
Aと一致させた実例が最適であることが判る。
記に示した実例(第3グリツド8の電極長4.4mm、
L/R=1.6)に対して、第3グリツド8の電極
長を変えたものを製作し、コア径とハロー径を測
定したところ第7図の結果を得た。この第7図か
ら明らかな様に、第3グリツド8の電極長を短か
くすれば、コア径は小さくなり、ハロー径は大き
くなることが判る。コア径及びハロー径両者を考
慮すれば、第3グリツド8の電極長を4.4mmにし
たもの、つまり、物体側の主面H1を虚物体位置
Aと一致させた実例が最適であることが判る。
今までの説明では、主電子レンズ10の方式は
特に指定していないが、主電子レンズ10として
バイポテンシヤル形またはユニポテンシヤル形の
電子レンズを採用することができた。
特に指定していないが、主電子レンズ10として
バイポテンシヤル形またはユニポテンシヤル形の
電子レンズを採用することができた。
次に、主電子レンズ10にユニポテンシヤル形
電子レンズを採用した電子銃の実施例を第5図に
示す。
電子レンズを採用した電子銃の実施例を第5図に
示す。
第3図と同一のものは同一符号を付しており、
11は第5グリツド、12は第6グリツドであ
り、第3グリツド8には中高圧の7KVを印加し、
第4グリツド19には高圧30KVが印加され、第
3グリツド8と第4グリツド9で加速形バイポテ
ンシヤルレンズを構成する。そして、第3グリツ
ド8の電極の長さLを、上記で述べた如く、陰極
Kから虚物体位置Aまでの距離P0と、加速形バ
イポテンシヤルレンズのギヤツプ中心面から加速
形バイポテンシヤルの物体側の主面H1までの距
離P1を求め、この距離P1が加速形バイポテンシ
ヤルレンズのギヤツプ中心面から虚物体位置Aま
での距離と等しくなるように設定した。
11は第5グリツド、12は第6グリツドであ
り、第3グリツド8には中高圧の7KVを印加し、
第4グリツド19には高圧30KVが印加され、第
3グリツド8と第4グリツド9で加速形バイポテ
ンシヤルレンズを構成する。そして、第3グリツ
ド8の電極の長さLを、上記で述べた如く、陰極
Kから虚物体位置Aまでの距離P0と、加速形バ
イポテンシヤルレンズのギヤツプ中心面から加速
形バイポテンシヤルの物体側の主面H1までの距
離P1を求め、この距離P1が加速形バイポテンシ
ヤルレンズのギヤツプ中心面から虚物体位置Aま
での距離と等しくなるように設定した。
なお、この実施例においては、第3グリツド8
の印加電圧V1と第4グリツド9の印加電圧V2を
固定して、第3グリツド8の電極長Lを調整する
ものとしたが、第3グリツド8の印加電圧V1及
び電極長Lを固定し、第4グリツド9の印加電圧
V2を調整して、加速形バイポテンシヤルレンズ
のギヤツプ中心面から加速形バイポテンシヤルレ
ンズの物体側の主面H1までの距離P1を変えるよ
うにし、この距離P1を加速形バイポテンシヤル
レンズのギヤツプ中心から虚物体位置Aまでの距
離に等しくなるように、第4グリツド9の印加電
圧V2を設定しても良いものである。
の印加電圧V1と第4グリツド9の印加電圧V2を
固定して、第3グリツド8の電極長Lを調整する
ものとしたが、第3グリツド8の印加電圧V1及
び電極長Lを固定し、第4グリツド9の印加電圧
V2を調整して、加速形バイポテンシヤルレンズ
のギヤツプ中心面から加速形バイポテンシヤルレ
ンズの物体側の主面H1までの距離P1を変えるよ
うにし、この距離P1を加速形バイポテンシヤル
レンズのギヤツプ中心から虚物体位置Aまでの距
離に等しくなるように、第4グリツド9の印加電
圧V2を設定しても良いものである。
また、第5図に示した実施例において、第4グ
リツド9は加速形バイポテンシヤルレンズと主電
子レンズ10とを接続する電極である。また、第
4グリツド9、第5グリツド11、第6グリツド
12より構成される主電子レンズ10では、第5
グリツド11の長さは、その球面収差を小さくす
るために、少なくとも各グリツドの口径R2の2
倍以上の長さにした方が良い。同様に主電子レン
ズ10の球面収差を小さくするために、口径R2
も許される限り大きくした方が良い。普通第4グ
リツド9と第6グリツド12は、内部リードによ
り接続されており、両者に高圧30KVが印加さ
れ、第5グリツド11には10KV程度の可変でき
る中高圧が印加される。従つて、第5グリツド1
2の両側に30KVの高電圧が印加されても、電極
間耐電圧特性の劣化をまねくことはない。
リツド9は加速形バイポテンシヤルレンズと主電
子レンズ10とを接続する電極である。また、第
4グリツド9、第5グリツド11、第6グリツド
12より構成される主電子レンズ10では、第5
グリツド11の長さは、その球面収差を小さくす
るために、少なくとも各グリツドの口径R2の2
倍以上の長さにした方が良い。同様に主電子レン
ズ10の球面収差を小さくするために、口径R2
も許される限り大きくした方が良い。普通第4グ
リツド9と第6グリツド12は、内部リードによ
り接続されており、両者に高圧30KVが印加さ
れ、第5グリツド11には10KV程度の可変でき
る中高圧が印加される。従つて、第5グリツド1
2の両側に30KVの高電圧が印加されても、電極
間耐電圧特性の劣化をまねくことはない。
また、この実施例においては、加速形バイポテ
ンシヤルレンズを構成する第3グリツド8及び第
4グリツド9の穴の口径R1と主電子レンズ10
を構成する第4グリツド9、第5グリツド11及
び第6グリツド12の穴の口径R2とを異なつた
ものとして示しているが、これら両口径R1及び
R2は同径であつても良く、同径とした場合には、
マンドレルの位置合せなどの点で各電極の製造・
組立が容易になる。
ンシヤルレンズを構成する第3グリツド8及び第
4グリツド9の穴の口径R1と主電子レンズ10
を構成する第4グリツド9、第5グリツド11及
び第6グリツド12の穴の口径R2とを異なつた
ものとして示しているが、これら両口径R1及び
R2は同径であつても良く、同径とした場合には、
マンドレルの位置合せなどの点で各電極の製造・
組立が容易になる。
この発明は以上に述べたように、主電子レンズ
の前段に加速形バイポテンシヤルレンズを設け、
かつ、この加速形バイポテンシヤルレンズの物体
側の主面を、虚物体位置と同じ位置にしたので、
低電流領域から高電流領域での電子ビームの集束
特性を改良することができ、明かるい画面でシヤ
ープな画質を見ることができ、その効果は大き
い。
の前段に加速形バイポテンシヤルレンズを設け、
かつ、この加速形バイポテンシヤルレンズの物体
側の主面を、虚物体位置と同じ位置にしたので、
低電流領域から高電流領域での電子ビームの集束
特性を改良することができ、明かるい画面でシヤ
ープな画質を見ることができ、その効果は大き
い。
第1図は従来のバイポテンシヤル形の電子銃の
概略断面図、第2図は従来のユニポテンシヤル形
の電子銃の概略断面図、第3図はこの発明の電子
銃の一実施例を示す概略断面図、第4図はこの発
明の加速形バイポテンシヤルレンズの位置関係を
示す電子等価図、第5図はこの発明の電子銃の他
の実施例を示す概略断面図、第6図はカソード電
流とスポツト径との関係を示す図、第7図は第3
グリツドの電極長を変化したときのハロー径及び
コア径を示す図である。 図において、Kは陰極、1は第1グリツド、2
は第2グリツド、8は第3グリツド、9は第4グ
リツド、10は主電子レンズ、Aは虚物体位置、
H1は物体側の主面、H2は像側の主面、Xは最外
電子線である。なお、図中、同一符号は同一、ま
たは相当部分を示す。
概略断面図、第2図は従来のユニポテンシヤル形
の電子銃の概略断面図、第3図はこの発明の電子
銃の一実施例を示す概略断面図、第4図はこの発
明の加速形バイポテンシヤルレンズの位置関係を
示す電子等価図、第5図はこの発明の電子銃の他
の実施例を示す概略断面図、第6図はカソード電
流とスポツト径との関係を示す図、第7図は第3
グリツドの電極長を変化したときのハロー径及び
コア径を示す図である。 図において、Kは陰極、1は第1グリツド、2
は第2グリツド、8は第3グリツド、9は第4グ
リツド、10は主電子レンズ、Aは虚物体位置、
H1は物体側の主面、H2は像側の主面、Xは最外
電子線である。なお、図中、同一符号は同一、ま
たは相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 中心軸上に陰極側から第3グリツドと第4グ
リツドを配設して加速形バイポテンシヤルレンズ
を形成し、このレンズの後段に主電子レンズを形
成する電子銃において、上記加速形バイポテンシ
ヤルレンズの物体側の主面が、上記加速形バイポ
テンシヤルレンズのレンズ作用領域に入射する直
前の上記陰極からの電子ビームの最外電子線の虚
物体位置に位置したことを特徴とする電子銃。 2 第3グリツド及び第4グリツドの印加電圧を
それぞれ一定とし、第3グリツドの電極長を、物
体側の主面が虚物体位置を含む位置になる長さと
したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の電子銃。 3 第3グリツドの印加電圧及び電極長をそれぞ
れ一定とし、第4グリツドの印加電圧を、物体側
の主面が虚物体位置を含む位置になる大きさとし
たことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
電子銃。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14832177A JPS5480666A (en) | 1977-12-09 | 1977-12-09 | Electron gun |
| US05/966,046 US4246511A (en) | 1977-12-09 | 1978-12-04 | Electron gun |
| DE2853132A DE2853132C2 (de) | 1977-12-09 | 1978-12-08 | Elektronenstrahlerzeuger |
| GB7847893A GB2011162B (en) | 1977-12-09 | 1978-12-11 | Electron gun |
| US06/144,935 US4383199A (en) | 1977-12-09 | 1980-04-29 | Electron gun |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14832177A JPS5480666A (en) | 1977-12-09 | 1977-12-09 | Electron gun |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5480666A JPS5480666A (en) | 1979-06-27 |
| JPS641899B2 true JPS641899B2 (ja) | 1989-01-13 |
Family
ID=15450161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14832177A Granted JPS5480666A (en) | 1977-12-09 | 1977-12-09 | Electron gun |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4246511A (ja) |
| JP (1) | JPS5480666A (ja) |
| DE (1) | DE2853132C2 (ja) |
| GB (1) | GB2011162B (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS563948A (en) * | 1979-06-22 | 1981-01-16 | Hitachi Ltd | Electrostatic focusing type pickup tube |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US25127A (en) * | 1859-08-16 | Improvement in mole-plows | ||
| BE428489A (ja) * | 1937-06-08 | |||
| JPS5743972B1 (ja) * | 1971-02-05 | 1982-09-18 | ||
| FR2166165B1 (ja) * | 1971-12-30 | 1976-10-29 | Hitachi Ltd | |
| US3995194A (en) * | 1974-08-02 | 1976-11-30 | Zenith Radio Corporation | Electron gun having an extended field electrostatic focus lens |
-
1977
- 1977-12-09 JP JP14832177A patent/JPS5480666A/ja active Granted
-
1978
- 1978-12-04 US US05/966,046 patent/US4246511A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-12-08 DE DE2853132A patent/DE2853132C2/de not_active Expired
- 1978-12-11 GB GB7847893A patent/GB2011162B/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2011162B (en) | 1982-06-30 |
| DE2853132A1 (de) | 1979-06-13 |
| GB2011162A (en) | 1979-07-04 |
| DE2853132C2 (de) | 1986-11-27 |
| JPS5480666A (en) | 1979-06-27 |
| US4246511A (en) | 1981-01-20 |
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