JPS644122B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS644122B2 JPS644122B2 JP16791279A JP16791279A JPS644122B2 JP S644122 B2 JPS644122 B2 JP S644122B2 JP 16791279 A JP16791279 A JP 16791279A JP 16791279 A JP16791279 A JP 16791279A JP S644122 B2 JPS644122 B2 JP S644122B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mask
- video signal
- mask line
- vertical
- horizontal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、物品の自動外観検査装置、仕分け装
置その他の画像処理装置に好適に使用できるマス
ク線切断情報発生回路に関するものである。
置その他の画像処理装置に好適に使用できるマス
ク線切断情報発生回路に関するものである。
従来、２次元的配列から構成される光学的、電
気的、磁気的その他の２次元画像情報を処理する
画像処理装置が物品の自動外観検査などに使用さ
れている。この種処理装置は一般に、適宜回数の
水平走査を垂直方向に繰返して２次元パターンを
取込む画像入力手段、この画像入力手段からのビ
デオ信号を量子化して量子化ビデオ信号を発生す
る手段及びこの量子化ビデオ信号を処理するため
の処理手段を備えている。さらにこれらの画像処
理装置の多くは、処理精度を高めるためのマスク
領域発生手段を備えている。すなわち、このマス
ク領域発生手段は設定したマスク領域の外側の位
置に対応するビデオ信号又は量子化ビデオ信号を
遮断して、非検査対象による雑音を除去し、処理
精度の向上を図るものである。従来装置はマスク
の適否を検知する回路を有しておらず、物品の位
置がばらついてマスク領域内に非検査対象が入込
んだり、あるいは検査対象がマスク領域からはみ
出したりすると、実際には良品であるにもかゝわ
らず不良品と判断される虞れがあり、検査精度の
低下をきたすという欠点があつた。
気的、磁気的その他の２次元画像情報を処理する
画像処理装置が物品の自動外観検査などに使用さ
れている。この種処理装置は一般に、適宜回数の
水平走査を垂直方向に繰返して２次元パターンを
取込む画像入力手段、この画像入力手段からのビ
デオ信号を量子化して量子化ビデオ信号を発生す
る手段及びこの量子化ビデオ信号を処理するため
の処理手段を備えている。さらにこれらの画像処
理装置の多くは、処理精度を高めるためのマスク
領域発生手段を備えている。すなわち、このマス
ク領域発生手段は設定したマスク領域の外側の位
置に対応するビデオ信号又は量子化ビデオ信号を
遮断して、非検査対象による雑音を除去し、処理
精度の向上を図るものである。従来装置はマスク
の適否を検知する回路を有しておらず、物品の位
置がばらついてマスク領域内に非検査対象が入込
んだり、あるいは検査対象がマスク領域からはみ
出したりすると、実際には良品であるにもかゝわ
らず不良品と判断される虞れがあり、検査精度の
低下をきたすという欠点があつた。
この発明は上述した従来欠点に鑑みてなされた
ものであり、その目的とするところは、設定され
ているマスクの適否を検知し、さらに必要に応じ
て行うマスクの自動再設定のための判断資料とな
るマスクの不適切さの度合を定量的に表示するこ
とができるマスク線切断情報発生回路を提供する
ことにある。以下本発明の詳細を図面によつて説
明する。
ものであり、その目的とするところは、設定され
ているマスクの適否を検知し、さらに必要に応じ
て行うマスクの自動再設定のための判断資料とな
るマスクの不適切さの度合を定量的に表示するこ
とができるマスク線切断情報発生回路を提供する
ことにある。以下本発明の詳細を図面によつて説
明する。
第１図は、本発明の原理を説明するための概念
図である。最も外側の矩形で囲んだ部分は有効画
面であり、その内部には検査対象１のほかに非検
査対象２及び３が含まれている。従つてこれらの
非検査対象を遮蔽するための適切なマスク領域を
設定する必要がある。しかし図示のように、実際
に設定されているマスク領域ABCDは大きすぎ
て非検査対象２及び３の一部を含んでいる。これ
とは逆にマスク領域ABCDが小さすぎると、検
査対象１がマスク領域からはみ出してしまつて不
適切である。
図である。最も外側の矩形で囲んだ部分は有効画
面であり、その内部には検査対象１のほかに非検
査対象２及び３が含まれている。従つてこれらの
非検査対象を遮蔽するための適切なマスク領域を
設定する必要がある。しかし図示のように、実際
に設定されているマスク領域ABCDは大きすぎ
て非検査対象２及び３の一部を含んでいる。これ
とは逆にマスク領域ABCDが小さすぎると、検
査対象１がマスク領域からはみ出してしまつて不
適切である。
本発明は、マスク領域の設定が不適切でありし
かも極端に不適切でなければ、検査対象もしくは
非検査対象によるマスク線の切断又はマスク線へ
の接触が必ず生ずる点に着目したものである。マ
スク領域の設定が大幅にずれてしまつて非検査対
象のすべてを含むときには、このようなマスク線
の切断が生じない。しかし、対象の位置又は寸法
のばらつきは通常比較的小幅であるから、マスク
線の切断情報はマスクの適否を判定するうえで有
効な情報となる。
かも極端に不適切でなければ、検査対象もしくは
非検査対象によるマスク線の切断又はマスク線へ
の接触が必ず生ずる点に着目したものである。マ
スク領域の設定が大幅にずれてしまつて非検査対
象のすべてを含むときには、このようなマスク線
の切断が生じない。しかし、対象の位置又は寸法
のばらつきは通常比較的小幅であるから、マスク
線の切断情報はマスクの適否を判定するうえで有
効な情報となる。
第２図及び第３図は、本発明の一実施例のブロ
ツク図及びこの回路の動作を説明するための波形
図である。マスク線座標ラツチ回路１０，１１，
１２及び１３はそれぞれCPU１９よりバス２０
を介して予じめ与えられるマスク線座標X1、X2、
Y1及びY2（第１図参照）をラツチしており、ラツ
チした各マスク線座標をマスク線信号発生回路１
４に供給する。マスク線信号発生回路１４は、供
給された各マスク線座標及び基本クロツク回路１
５から供給される基本クロツク信号をカウントす
る水平座標カウンタ４０と、この水平座標カウン
タ４０から１水平走査分のカウントの終了毎に出
力される信号をカウントする垂直座標カウンタ４
１と、水平座標カウンタ４０のカウント値とラツ
チ回路１０，１１にラツチされているマスク線座
標X1、X2とを比較するコンパレータ４２，４３
と、垂直座標カウンタ４１のカウント値とラツチ
回路１２，１３にラツチされているマスク線座標
Y1、Y2とを比較するコンパレータ４４，４５と
から構成されている。各コンパレータ４２〜４５
はカウンタ４０あるいは４１のカウント値がラツ
チ回路に入力されている座標値に一致すると第３
図に示すようなマスク線信号AB，BC，CD及び
DAを発生する。マスク線信号BC及びDAは通常
用いられているマスク信号そのものであり、これ
に対してマスク線信号AB及びCDは、それぞれ
通常のマスク信号立上り及び立下り点を表示する
クロツク幅程度の幅を有するパルスである。これ
らの各マスク線信号は、アンドゲート２０，２
１，２２及び２３のそれぞれの第１の入力端子に
供給される。
ツク図及びこの回路の動作を説明するための波形
図である。マスク線座標ラツチ回路１０，１１，
１２及び１３はそれぞれCPU１９よりバス２０
を介して予じめ与えられるマスク線座標X1、X2、
Y1及びY2（第１図参照）をラツチしており、ラツ
チした各マスク線座標をマスク線信号発生回路１
４に供給する。マスク線信号発生回路１４は、供
給された各マスク線座標及び基本クロツク回路１
５から供給される基本クロツク信号をカウントす
る水平座標カウンタ４０と、この水平座標カウン
タ４０から１水平走査分のカウントの終了毎に出
力される信号をカウントする垂直座標カウンタ４
１と、水平座標カウンタ４０のカウント値とラツ
チ回路１０，１１にラツチされているマスク線座
標X1、X2とを比較するコンパレータ４２，４３
と、垂直座標カウンタ４１のカウント値とラツチ
回路１２，１３にラツチされているマスク線座標
Y1、Y2とを比較するコンパレータ４４，４５と
から構成されている。各コンパレータ４２〜４５
はカウンタ４０あるいは４１のカウント値がラツ
チ回路に入力されている座標値に一致すると第３
図に示すようなマスク線信号AB，BC，CD及び
DAを発生する。マスク線信号BC及びDAは通常
用いられているマスク信号そのものであり、これ
に対してマスク線信号AB及びCDは、それぞれ
通常のマスク信号立上り及び立下り点を表示する
クロツク幅程度の幅を有するパルスである。これ
らの各マスク線信号は、アンドゲート２０，２
１，２２及び２３のそれぞれの第１の入力端子に
供給される。
また、水平座標カウンタ４０から１水平走査分
のカウントの終了毎に出力される信号と、垂直座
標カウンタ４１から１画面分のカウントの終了毎
に出力される信号とがカメラ外部同期信号発生回
路１８に入力され、これらの信号に基づいてカメ
ラ外部同期信号発生回路１８は画像入力手段１６
に対して水平及び垂直走査の同期信号を出力す
る。
のカウントの終了毎に出力される信号と、垂直座
標カウンタ４１から１画面分のカウントの終了毎
に出力される信号とがカメラ外部同期信号発生回
路１８に入力され、これらの信号に基づいてカメ
ラ外部同期信号発生回路１８は画像入力手段１６
に対して水平及び垂直走査の同期信号を出力す
る。
一方画像入力装置１６に取込まれたビデオ信号
は、量子化回路１７によつて量子化されたのち、
アンドゲート２０，２１，２２及び２３のそれぞ
れの第２の入力端子に入力する。アンドゲート２
０，２１，２２及び２３の出力は、それぞれカウ
ンタ回路３０，３１，３２及び３３に供給され
る。これらのカウンタ回路はいずれも基本クロツ
ク回路１５から供給される基本クロツク信号を受
け、対応のアンドゲートの出力が論理の“１”と
なつている期間内に受けたクロツクの個数をカウ
ントする。各カウンタ回路３０乃至３３は１垂直
走査期間にわたつてカウントしたカウント総数
NX1、NX2、NY1及びNY2を当該マスク線切断
情報発生回路の外部に出力する。上記のカウント
値NX1乃至NY2は対象によるマスク線の切断長
情報となつている。
は、量子化回路１７によつて量子化されたのち、
アンドゲート２０，２１，２２及び２３のそれぞ
れの第２の入力端子に入力する。アンドゲート２
０，２１，２２及び２３の出力は、それぞれカウ
ンタ回路３０，３１，３２及び３３に供給され
る。これらのカウンタ回路はいずれも基本クロツ
ク回路１５から供給される基本クロツク信号を受
け、対応のアンドゲートの出力が論理の“１”と
なつている期間内に受けたクロツクの個数をカウ
ントする。各カウンタ回路３０乃至３３は１垂直
走査期間にわたつてカウントしたカウント総数
NX1、NX2、NY1及びNY2を当該マスク線切断
情報発生回路の外部に出力する。上記のカウント
値NX1乃至NY2は対象によるマスク線の切断長
情報となつている。
これらマスク線切断長情報NX1乃至NY2は、
画像処理装置内の他の部分に供給され、設定中の
マスクの適否、マスク再設定の際の判断基準等と
して利用される。例えば、これらマスク線切断長
情報NX1等は画像処理装置内の比較回路に供給
されて予め設定されている許容値との比較が行わ
れる。切断長情報NX1等が許容値を越えたとき、
画像処理装置は処理を中断し、マスク設定不良を
適宜な方法により外部に報知することもできる。
あるいは、画像処理装置は、切断長信号が許容値
を越えると、該切断長の変化を監視しながら試行
錯誤的にマスク線座標を変えることにより、適切
なマスクを再設定することもできる。また、マス
ク切断の有無だけを知りたい場合には、第２図の
カウンタ回路３０乃至３３のかわりに１ビツトの
ラツチ回路を設け、回路の簡略化を図ることもで
きる。
画像処理装置内の他の部分に供給され、設定中の
マスクの適否、マスク再設定の際の判断基準等と
して利用される。例えば、これらマスク線切断長
情報NX1等は画像処理装置内の比較回路に供給
されて予め設定されている許容値との比較が行わ
れる。切断長情報NX1等が許容値を越えたとき、
画像処理装置は処理を中断し、マスク設定不良を
適宜な方法により外部に報知することもできる。
あるいは、画像処理装置は、切断長信号が許容値
を越えると、該切断長の変化を監視しながら試行
錯誤的にマスク線座標を変えることにより、適切
なマスクを再設定することもできる。また、マス
ク切断の有無だけを知りたい場合には、第２図の
カウンタ回路３０乃至３３のかわりに１ビツトの
ラツチ回路を設け、回路の簡略化を図ることもで
きる。
以上詳細に説明したように本発明は、マスク線
信号と量子化ビデオ信号とのアンド操作を行うと
いう簡易な構成によつてマスク切断情報を発生す
ることができるので、本発明の装置を画像処理装
置に使用し画像の処理精度の向上に寄与すること
ができる。
信号と量子化ビデオ信号とのアンド操作を行うと
いう簡易な構成によつてマスク切断情報を発生す
ることができるので、本発明の装置を画像処理装
置に使用し画像の処理精度の向上に寄与すること
ができる。
第１図は本発明の原理を説明するための概念
図、第２図は本発明の一実施例のブロツク図、第
３図は第２図の動作を説明するための波形図であ
る。 １０乃至１３……マスク線座標ラツチ回路、１
４……マスク線信号発生回路、１５……基本クロ
ツク信号発生回路、１６……画像入力手段、１７
……量子化回路、２０乃至２３……アンドゲー
ト、３０乃至３３……カウンタ回路。
図、第２図は本発明の一実施例のブロツク図、第
３図は第２図の動作を説明するための波形図であ
る。 １０乃至１３……マスク線座標ラツチ回路、１
４……マスク線信号発生回路、１５……基本クロ
ツク信号発生回路、１６……画像入力手段、１７
……量子化回路、２０乃至２３……アンドゲー
ト、３０乃至３３……カウンタ回路。
Claims (1)
- １ 適宜回数の水平走査を垂直方向に繰返して２
次元パターンを取込む画像入力手段、該画像入力
手段からのビデオ信号を量子化して量子化ビデオ
信号を発生する手段、前記ビデオ信号又は最子化
ビデオ信号をマスクするためのマスク信号の水平
方向及び垂直方向の端部を表示する水平方向及び
垂直方向のマスク線パルスを発生する手段、垂直
走査期間にわたつて前記量子化ビデオ信号及び前
記水平方向のマスク線パルスの論理積をとる論理
手段、並びに、前記量子化ビデオ信号及び前記垂
直方向のマスク線パルスの論理積をとる論理手段
を具備したことを特徴とするマスク線切断情報発
生回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16791279A JPS5690202A (en) | 1979-12-24 | 1979-12-24 | Mask cut information generating circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16791279A JPS5690202A (en) | 1979-12-24 | 1979-12-24 | Mask cut information generating circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5690202A JPS5690202A (en) | 1981-07-22 |
| JPS644122B2 true JPS644122B2 (ja) | 1989-01-24 |
Family
ID=15858348
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16791279A Granted JPS5690202A (en) | 1979-12-24 | 1979-12-24 | Mask cut information generating circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5690202A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4468695A (en) * | 1980-11-20 | 1984-08-28 | Tokico Ltd. | Robot |
-
1979
- 1979-12-24 JP JP16791279A patent/JPS5690202A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5690202A (en) | 1981-07-22 |
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