JPS648395B2 - - Google Patents
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- JPS648395B2 JPS648395B2 JP57056440A JP5644082A JPS648395B2 JP S648395 B2 JPS648395 B2 JP S648395B2 JP 57056440 A JP57056440 A JP 57056440A JP 5644082 A JP5644082 A JP 5644082A JP S648395 B2 JPS648395 B2 JP S648395B2
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はICカード用リーダ・ライタに関す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an IC card reader/writer.
近年、磁気カードの代りにIC（集積回路）チツ
プをカードに組込んだICカードが利用されるよ
うになつている。しかして、ICカードにデータ
を書込んだり、ICカードからデータを読込んだ
りするICカード用リーダ・ライタにおいては、
ICカードをリーダ・ライタの所定位置にセツト
した後、ICカードのセツト位置を光電スイツチ
等で検出し、セツト状態が正常か否かの確認を行
なつてからICカードとの間でデータ転送を開始
するようにしている。この場合、ICカードには
複数個の電極が設けられており、これら電極とリ
ーダ・ライタのコンタクト電極とを電気的に接触
させることにより、相互にデータの転送を行ない
得るようにしているが、ICカード上の電極の間
に導電性の物質が付着し、２つの電極間に短絡を
生じさせるような場合、ICカードとリーダ・ラ
イタとの間でデータ転送が正常に行なわれないと
いう欠点があつた。また、場合によつては、電源
電圧がICカードの正規の電極以外の電極に印加
されてしまい、ICカード内のICチツプの破壊に
つながるという恐れがあつた。 In recent years, IC cards in which an IC (integrated circuit) chip is built into the card have come to be used instead of magnetic cards. However, in IC card readers/writers that write data to and read data from IC cards,
After setting the IC card in the predetermined position of the reader/writer, the IC card's set position is detected by a photoelectric switch, etc., and data is transferred between the IC card and the IC card after confirming whether the set state is normal or not. I'm trying to get started. In this case, the IC card is provided with a plurality of electrodes, and by bringing these electrodes into electrical contact with the contact electrodes of the reader/writer, data can be transferred between them. If a conductive substance adheres between the electrodes on the IC card and causes a short circuit between the two electrodes, the data transfer between the IC card and the reader/writer will not occur properly. It was hot. Furthermore, in some cases, the power supply voltage may be applied to electrodes other than the regular electrodes of the IC card, which may lead to destruction of the IC chip within the IC card.
第１図はかかる従来のICカードとリーダ・ラ
イタとの電極接続の様子を示す図であり、ICカ
ードの平面状の電極１（Ｑ１〜Ｑ８）にリーダ・
ライタの棒状のコンタクト電極２（Ｐ１〜Ｐ８）
を相互に接触させるようにしている。したがつ
て、正常時においてはICカード側の電極Ｑ１〜
Ｑ８とリーダ・ライタ側の電極Ｐ１〜Ｐ８との間
で相互にデータの転送が行なわれる。しかしなが
ら、たとえば図に示す如くICカード側の電極Ｑ
１とＱ５との間に導電性の不純物３が付着した場
合には、電極Ｑ１とＱ５とが電気的に短絡してし
まうので、電極Ｐ１−Ｑ１，Ｐ５−Ｑ５の間にお
けるデータの転送が正常に行なわれないことにな
る。また、場合によつてはICカード上の正規の
電極以外の電極に電源電圧が印加されてしまい、
ICカード内のICチツプを破損してしまうといつ
た恐れもある。よつて、この発明の目的は、上述
の如き欠点のないICカード用のリーダ・ライタ
を提供することにある。 FIG. 1 is a diagram showing the electrode connection between such a conventional IC card and a reader/writer.
Writer rod-shaped contact electrode 2 (P1 to P8)
are in contact with each other. Therefore, under normal conditions, the electrodes Q1~ on the IC card side
Data is mutually transferred between Q8 and the electrodes P1 to P8 on the reader/writer side. However, for example, as shown in the figure, the electrode Q on the IC card side
If conductive impurity 3 adheres between electrodes 1 and Q5, electrodes Q1 and Q5 will be electrically shorted, so data transfer between electrodes P1-Q1 and P5-Q5 will not be normal. It will not be carried out. Also, in some cases, the power supply voltage may be applied to electrodes other than the regular electrodes on the IC card.
There is also a risk that the IC chip inside the IC card may be damaged. Therefore, an object of the present invention is to provide a reader/writer for IC cards that does not have the above-mentioned drawbacks.
以下にこの発明を説明する。 This invention will be explained below.
この発明は、挿入されたICカードの複数個の
電極と相互に接触するようにコンタクト電極を配
設されたICカード用リード・ライタに関し、第
２図に示すように、複数個の電極Ｑ１〜Ｑ８のう
ちの任意の２組の間における電気的短絡を、コン
タクト電極Ｐ１〜Ｐ８を介して検出するための短
絡検出回路１０を設けたものである。すなわち、
ICカードがICカード用リーダ・ライタの所定位
置にセツトされると、ICカードの電極１（Ｑ１
〜Ｑ８）はICカード用リーダ・ライタのコンタ
クト電極２（Ｐ１〜Ｐ８）に接触する。そして、
ICカードとICカード用リーダ・ライタとの間で
データの転送を行なう前に、制御回路２０からプ
ローブ信号PBを出力し、短絡検出回路１０によ
つてコンタクト電極Ｐ１〜Ｐ８の任意の２組の間
で電気的な短絡があるか否かを検査し、いずれの
コンタクト電極の間においても短絡がない場合に
は短絡信号NSを制御回路２０に出力せず、その
後に制御回路２０を介してデータ転送を行なうよ
うにする。しかして、挿入されたICカードの電
極Ｑ１〜Ｑ８の間で、たとえば第１図に示すよう
な導電性の不純物３が付着している場合には、コ
ンタクト電極Ｐ１とＰ５との間で電気的な短絡が
生じるので、短絡検出回路１０は短絡信号NSを
出力する。これにより、制御回路２０はコンタク
ト電極Ｐ１〜Ｐ８を介してICカードとの間でデ
ータの転送を行なうことができない。 The present invention relates to an IC card read/writer in which a contact electrode is arranged so as to be in mutual contact with a plurality of electrodes of an inserted IC card, and as shown in FIG. A short circuit detection circuit 10 is provided for detecting an electrical short circuit between any two sets of Q8 via contact electrodes P1 to P8. That is,
When the IC card is set in the predetermined position of the IC card reader/writer, electrode 1 (Q1
~Q8) contacts the contact electrodes 2 (P1 to P8) of the IC card reader/writer. and,
Before data is transferred between the IC card and the IC card reader/writer, the control circuit 20 outputs a probe signal PB, and the short circuit detection circuit 10 detects any two pairs of contact electrodes P1 to P8. If there is no short circuit between any of the contact electrodes, the short circuit signal NS is not output to the control circuit 20, and the data is then transmitted via the control circuit 20. Enable the transfer. Therefore, if conductive impurities 3 as shown in FIG. 1 are attached between the electrodes Q1 to Q8 of the inserted IC card, there will be no electrical contact between the contact electrodes P1 and P5. Since a short circuit occurs, the short circuit detection circuit 10 outputs a short circuit signal NS. As a result, the control circuit 20 cannot transfer data to or from the IC card via the contact electrodes P1 to P8.
次に、短絡検出回路１０の詳細を第３図に示
し、その動作を第４図Ａ〜Ｉのタイムチヤートを
参照して説明する。 Next, details of the short circuit detection circuit 10 are shown in FIG. 3, and its operation will be explained with reference to time charts shown in FIGS. 4A to 4I.
短絡検出回路１０は第３図に示すように、コン
タクト電極Ｐ１〜Ｐ８のうちの７つをそれぞれ入
力するオアゲートOR１〜OR８と、当該オアゲ
ートに入力されていない電極信号Ｎ１〜Ｎ８によ
つてオンオフされるトライ・ゲートＧ１〜Ｇ８
と、これらトライ・ゲートＧ１〜Ｇ８の論理和を
得るオアゲートOR９と、このオアゲートOR９
及びフローブ信号PBの論理積を得るアンドゲー
トANDとで構成されている。なお、トライ・ゲ
ートＧ１〜Ｇ８はそれぞれゲート信号Ｎ１〜Ｎ８
が「Ｈ」レベルの時にオンされるようになつてい
る。 As shown in FIG. 3, the short circuit detection circuit 10 is turned on and off by OR gates OR1 to OR8 which input seven of the contact electrodes P1 to P8, respectively, and electrode signals N1 to N8 which are not input to the OR gates. Try Gate G1~G8
, an OR gate OR9 that obtains the logical sum of these tri-gates G1 to G8, and this OR gate OR9.
and an AND gate AND which obtains the logical product of the flowbe signal PB. Note that tri-gates G1 to G8 are connected to gate signals N1 to N8, respectively.
It is turned on when the signal is at the "H" level.
しかして、第４図Ａに示す如きプローブ信号
PBが制御回路２０から出力されると共に、プロ
ーブ信号PBが「Ｈ」レベルとなつている間に同
図Ｂ〜Ｉに示す如き電極信号Ｎ１〜Ｎ８が順次出
力される。したがつて、たとえば電極信号Ｎ１が
出力されている場合を考えると、トライ・ゲート
Ｇ１がオンされるので、オアゲートOR１の出力
がオアゲートOR９を経てアンドゲートANDに入
力されることになる。ここに、電極信号Ｎ１が出
力されている時に、コンタクト電極Ｐ１と他の電
極Ｐ２〜Ｐ８とが短絡されていなければ、オアゲ
ートOR１の出力は「Ｌ」レベルであり、結局ア
ンドゲートANDの出力は「Ｌ」レベルであり短
絡信号NSは出力されない。これに対し、コンタ
クト電極Ｐ１と他の電極Ｐ２〜Ｐ８のいずれかと
が不純物等によつて短絡されていると、オアゲー
トOR１の出力が「Ｈ」レベルとなることにより
短絡信号NSが出力される。このような短絡検査
を順次電極Ｐ２，Ｐ３，…Ｐ８について検査する
ことにより、プローブ信号PBが出力されている
間の全ての電極Ｐ１〜Ｐ８についての検査を行な
うことができる。 Therefore, the probe signal as shown in FIG.
PB is output from the control circuit 20, and while the probe signal PB is at the "H" level, electrode signals N1 to N8 as shown in B to I of the figure are sequentially output. Therefore, for example, considering the case where the electrode signal N1 is being output, the tri-gate G1 is turned on, so the output of the OR gate OR1 is input to the AND gate AND via the OR gate OR9. Here, when the electrode signal N1 is output, if the contact electrode P1 and the other electrodes P2 to P8 are not short-circuited, the output of the OR gate OR1 is "L" level, and the output of the AND gate AND is It is at "L" level and the short circuit signal NS is not output. On the other hand, if the contact electrode P1 and any of the other electrodes P2 to P8 are short-circuited due to impurities or the like, the output of the OR gate OR1 becomes "H" level, and the short-circuit signal NS is output. By sequentially testing the electrodes P2, P3, .
以上のようにこの発明のICカード用リーダ・
ライタによれば、ICカード上の電極間に付着し
た導電性の物質の付着によつて生じる短絡動作を
そのデータ転送に先だつて検査し、いずれの電極
の間においても導通が生じていないことを確認し
てからデータの転送を開始するようにしているの
で、電極の短絡による誤動作や、ICカード内の
ICチツプの破損を生じるといつたこともない。 As described above, the IC card reader of this invention
According to the writer, short-circuiting caused by conductive material adhering between the electrodes on the IC card is inspected prior to data transfer to ensure that there is no continuity between any of the electrodes. Data transfer is started after confirmation, so there is no possibility of malfunction due to electrode short-circuit or damage to the IC card.
I have never experienced damage to the IC chip.
なお、上述の実施例においてはICカードの電
極及びICカード用リーダ・ライタのコンタクト
電極の数をそれぞれ８個としているが、これら電
極の数は任意であり、それら形状、配列も任意で
ある。また、上述の実施例では電極のうちの任意
の２つの組合せ全てについて短絡があるか否かを
検査するようにしているが、互いに隣接する２つ
の電極の組合せについてだけ検査するようにして
も同様の効果を得ることができる。 In the above embodiment, the number of electrodes of the IC card and the number of contact electrodes of the IC card reader/writer are eight, respectively, but the number of these electrodes is arbitrary, and their shape and arrangement are also arbitrary. Furthermore, in the above embodiment, all combinations of any two electrodes are tested for short circuits, but the same effect can be achieved by testing only combinations of two adjacent electrodes. effect can be obtained.
第１図はICカードの電極とICカード用リー
ダ・ライタのコンタクト電極との接触の様子を示
す図、第２図はこの発明の一実施例を示すブロツ
ク図、第３図はこの発明に用いる短絡検出回路の
一例を示す回路図、第４図Ａ〜Ｉはその動作例を
示すタイミングチヤートである。
１（Ｑ１〜Ｑ８）……電極、２（Ｐ１Ａ〜Ｐ６
Ａ，Ｐ１Ｂ，Ｐ６Ｂ）……コンタクト電極、３…
…不純物、１０……短絡検出回路、２０……制御
回路。
Fig. 1 is a diagram showing the state of contact between the electrodes of an IC card and the contact electrodes of an IC card reader/writer, Fig. 2 is a block diagram showing an embodiment of this invention, and Fig. 3 is a diagram used in this invention. A circuit diagram showing an example of a short circuit detection circuit, and FIGS. 4A to 4I are timing charts showing an example of its operation. 1 (Q1-Q8)... Electrode, 2 (P1A-P6
A, P1B, P6B)...Contact electrode, 3...
...Impurity, 10...Short circuit detection circuit, 20...Control circuit.
Claims (1)
互に接触するようにコンタクト電極が配設された
ICカード用リーダ・ライタにおいて、前記ICカ
ードの挿入時に制御回路より出力される所定時間
のプローブ信号と前記各コンタクト電極を介して
前記所定時間内に前記制御回路より出力される各
電極信号との論理積から所定信号レベル時に短絡
信号を出力するように構成された短絡検出回路を
備え、前記ICカードの挿入によるデータ転送前
に任意な電極間の短絡検出を行ない得るようにし
たことを特徴とするICカード用リーダ・ライタ。1 Contact electrodes are arranged so as to make mutual contact with multiple electrodes for inserted IC cards.
In an IC card reader/writer, a probe signal for a predetermined period of time is output from a control circuit when the IC card is inserted, and each electrode signal is output from the control circuit for a predetermined period of time via each of the contact electrodes. It is characterized by comprising a short-circuit detection circuit configured to output a short-circuit signal from a logical product at a predetermined signal level, so that a short-circuit between arbitrary electrodes can be detected before data is transferred by inserting the IC card. IC card reader/writer.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57056440A JPS58175058A (en) | 1982-04-05 | 1982-04-05 | Reader and writer for ic card |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57056440A JPS58175058A (en) | 1982-04-05 | 1982-04-05 | Reader and writer for ic card |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58175058A JPS58175058A (en) | 1983-10-14 |
| JPS648395B2 true JPS648395B2 (en) | 1989-02-14 |
Family
ID=13027138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57056440A Granted JPS58175058A (en) | 1982-04-05 | 1982-04-05 | Reader and writer for ic card |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58175058A (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62157984A (en) * | 1985-12-31 | 1987-07-13 | Diesel Kiki Co Ltd | Reading and writing device for ic card |
| JPS62165286A (en) * | 1986-01-17 | 1987-07-21 | Toshiba Corp | Reading/writing device for portable recording medium |
| JPS62224874A (en) * | 1986-03-26 | 1987-10-02 | Diesel Kiki Co Ltd | Ic card read/write device |
| JPS6318485A (en) * | 1986-07-10 | 1988-01-26 | Omron Tateisi Electronics Co | Ic card reader/writer |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52129250A (en) * | 1976-04-22 | 1977-10-29 | Fujitsu Ltd | Function test method for logical circuit |
| JPS5635233A (en) * | 1979-08-30 | 1981-04-07 | Toshiba Corp | Fault detecting system for bus line |
| DE3019206A1 (en) * | 1980-05-20 | 1981-11-26 | GAO Gesellschaft für Automation und Organisation mbH, 8000 München | METHOD FOR CONTACTING GALVANIC CONTACTS OF AN ID CARD WITH EMBEDDED IC COMPONENT |
-
1982
- 1982-04-05 JP JP57056440A patent/JPS58175058A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58175058A (en) | 1983-10-14 |
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