JPH0119111B2 - - Google Patents
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- JPH0119111B2 JPH0119111B2 JP55162534A JP16253480A JPH0119111B2 JP H0119111 B2 JPH0119111 B2 JP H0119111B2 JP 55162534 A JP55162534 A JP 55162534A JP 16253480 A JP16253480 A JP 16253480A JP H0119111 B2 JPH0119111 B2 JP H0119111B2
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- Japan
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- correction
- signal
- energy
- image phenomenon
- spatial distortion
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は空間ひずみ補正装置を備えるシンチ
レーシヨンカメラの空間ひずみ捕正能力を修正す
る方法とその装置に関する。
レーシヨンカメラの空間ひずみ捕正能力を修正す
る方法とその装置に関する。
シンチレーシヨンカメラおよびそれに類似の機
器に固有の空間的ひずみを補正することはイメー
ジ強度の誤つた変化として現われるイメージ・デ
ータによるイメージ現象の局部的の圧縮又は膨張
を避けるため重要である。イメージの空間的なひ
ずみは主としてイメージ現象位置座標に関してシ
ンチレーシヨンカメラ検出器の出力信号の不正確
さと非線型に起因する現象位置ぎめの系統的誤差
の結果である。空間ひずみ特性はカメラ面上のイ
メージ現象の発生位置の関数として変化し、その
結果イメージ現象はイメージ全面内の正しい場所
に記録されない。個々の現象の位置のずれが目に
見えるようには現われていなくても空間ひずみは
イメージ内の強度の変動として現われる顕著なイ
メージの不均一性を引き起こす。
器に固有の空間的ひずみを補正することはイメー
ジ強度の誤つた変化として現われるイメージ・デ
ータによるイメージ現象の局部的の圧縮又は膨張
を避けるため重要である。イメージの空間的なひ
ずみは主としてイメージ現象位置座標に関してシ
ンチレーシヨンカメラ検出器の出力信号の不正確
さと非線型に起因する現象位置ぎめの系統的誤差
の結果である。空間ひずみ特性はカメラ面上のイ
メージ現象の発生位置の関数として変化し、その
結果イメージ現象はイメージ全面内の正しい場所
に記録されない。個々の現象の位置のずれが目に
見えるようには現われていなくても空間ひずみは
イメージ内の強度の変動として現われる顕著なイ
メージの不均一性を引き起こす。
シンチレーシヨンカメラのイメージ現象位置座
標を修正して正しい位置座標とするための空間ひ
ずみ補正方法とその装置は種々のものが提案され
ている。これらの方法はアンガーカメラと呼ばれ
ているものを含む各種のシンチレーシヨンカメラ
に特有の空間ひずみ特性を補正して正しいイメー
ジ現象座標位置データを与える。空間ひずみ補正
方法とその装置は例えば米国特許第3745345号明
細書、1979年パリ国際原子核医学会議においての
G.F.Knollその他の報告、1977年開催の第５回国
際会議の報告（AReview of Information
Processing in Medical Imaging）中の
Shabasoneatl、およびSoussalineetalの論文に提
案され検討されている。
標を修正して正しい位置座標とするための空間ひ
ずみ補正方法とその装置は種々のものが提案され
ている。これらの方法はアンガーカメラと呼ばれ
ているものを含む各種のシンチレーシヨンカメラ
に特有の空間ひずみ特性を補正して正しいイメー
ジ現象座標位置データを与える。空間ひずみ補正
方法とその装置は例えば米国特許第3745345号明
細書、1979年パリ国際原子核医学会議においての
G.F.Knollその他の報告、1977年開催の第５回国
際会議の報告（AReview of Information
Processing in Medical Imaging）中の
Shabasoneatl、およびSoussalineetalの論文に提
案され検討されている。
これらの公知の方法と装置は一般にその初期の
用途に適し、空間ひずみを補正する方策を明らか
にしているが、これらの方策は空間ひずみ補正係
数を計算した際のエネルギー・レベルとは異つた
エネルギー・レベルのイメージ現象に際して生ず
るシンチレーシヨンカメラの空間ひずみ特性の変
化を補償又は修正することに対しては適していな
い。
用途に適し、空間ひずみを補正する方策を明らか
にしているが、これらの方策は空間ひずみ補正係
数を計算した際のエネルギー・レベルとは異つた
エネルギー・レベルのイメージ現象に際して生ず
るシンチレーシヨンカメラの空間ひずみ特性の変
化を補償又は修正することに対しては適していな
い。
これらの公知の方法はイメージ現象エネルギ
ー・レベルの関数として変化する空間ひずみ特性
の修正に対してはこのエネルギー・レベルの変化
が、線源のエネルギー・レベルが補正係数を求め
たときのエネルギー・レベルとは異つていること
による場合と線源が多重エネルギー・レベルを持
つことによる場合とのいずれにおいても不能であ
るか少くとも最適なものではない。従つてこれら
の公知方法で求められた補正係数はシンチレーシ
ヨンカメラが使用されるエネルギー・レベルのそ
れぞれに対して個別に再計算しメモリに蓄積する
ことが必要である。
ー・レベルの関数として変化する空間ひずみ特性
の修正に対してはこのエネルギー・レベルの変化
が、線源のエネルギー・レベルが補正係数を求め
たときのエネルギー・レベルとは異つていること
による場合と線源が多重エネルギー・レベルを持
つことによる場合とのいずれにおいても不能であ
るか少くとも最適なものではない。従つてこれら
の公知方法で求められた補正係数はシンチレーシ
ヨンカメラが使用されるエネルギー・レベルのそ
れぞれに対して個別に再計算しメモリに蓄積する
ことが必要である。
シンチレーシヨンカメラの応答の不均一性に関
して行われたその他の研究と提案された方法およ
び装置は移動エネルギー窓技術（Sliding energy
window technique）、空間的に変動する適応エ
ネルギーの判別およびイメージ現象エネルギー信
号の修正に関するものである。例えばイメージ現
象位置の関数としてのエネルギー応答の変動とし
て表わされるシンチレーシヨンカメラのエネルギ
ー応答の不均一性を補正する方法とその装置が提
案されているが、この方法ではエネルギー補正係
数がオフ・ライン・テスト、測定および分析過程
において求められオン・ラインエネルギー補正装
置のメモリに蓄積される。このエネルギー補正装
置は各イメージ現象のエネルギー信号をこの現象
の位置に応じて蓄積された補正係数によつて修正
し、補正されたエネルギー信号は固定幅のエネル
ギー窓を持つエネルギー窓アナライザによつて処
理されこの現象の受納又は拒否が決定される。不
均一性補正の別の方法はRaytheon Medical
Electronics，ST―3405，1977に発表されている
がこの方法ではイメージ現象の位置に応じて蓄積
されている補正係数を読み出してイメージ現象の
Ｚエネルギー信号が修正される。この補正係数は
パルス幅変調器を通してＺ信号のパルス幅を変え
る。表示装置はこの可変幅のＺ信号を使用してフ
イルムに表わされたイメージ点の強度を変化させ
る。
して行われたその他の研究と提案された方法およ
び装置は移動エネルギー窓技術（Sliding energy
window technique）、空間的に変動する適応エ
ネルギーの判別およびイメージ現象エネルギー信
号の修正に関するものである。例えばイメージ現
象位置の関数としてのエネルギー応答の変動とし
て表わされるシンチレーシヨンカメラのエネルギ
ー応答の不均一性を補正する方法とその装置が提
案されているが、この方法ではエネルギー補正係
数がオフ・ライン・テスト、測定および分析過程
において求められオン・ラインエネルギー補正装
置のメモリに蓄積される。このエネルギー補正装
置は各イメージ現象のエネルギー信号をこの現象
の位置に応じて蓄積された補正係数によつて修正
し、補正されたエネルギー信号は固定幅のエネル
ギー窓を持つエネルギー窓アナライザによつて処
理されこの現象の受納又は拒否が決定される。不
均一性補正の別の方法はRaytheon Medical
Electronics，ST―3405，1977に発表されている
がこの方法ではイメージ現象の位置に応じて蓄積
されている補正係数を読み出してイメージ現象の
Ｚエネルギー信号が修正される。この補正係数は
パルス幅変調器を通してＺ信号のパルス幅を変え
る。表示装置はこの可変幅のＺ信号を使用してフ
イルムに表わされたイメージ点の強度を変化させ
る。
しかしこれらの空間ひずみおよび不均一性補正
系ではイメージ現象のエネルギー・レベルに基く
空間ひずみ補正係数の修正は行われない。
系ではイメージ現象のエネルギー・レベルに基く
空間ひずみ補正係数の修正は行われない。
この発明の主要な目的はシンチレーシヨンカメ
ラの空間分布補正装置によつて得られた空間ひず
み補正係数を現象毎にイメージ現象信号のエネル
ギー・レベルに対応してダイナミツクにかつ自動
的に修正する方法とそれを実施する装置を提供す
ることである。
ラの空間分布補正装置によつて得られた空間ひず
み補正係数を現象毎にイメージ現象信号のエネル
ギー・レベルに対応してダイナミツクにかつ自動
的に修正する方法とそれを実施する装置を提供す
ることである。
多重エネルギー・レベル線源を使用する場合に
メモリに蓄積されている補正係数が計算される際
のエネルギー・レベルと異るエネルギー・レベル
の線源を使用してシンチレーシヨンカメラを動作
させるとき蓄積されている補正係数をこのエネル
ギー・レベルに対応して修正してシンチレーシヨ
ンカメラの空間ひずみ特性を補正する方法と装置
を提供することもこの発明の目的である。
メモリに蓄積されている補正係数が計算される際
のエネルギー・レベルと異るエネルギー・レベル
の線源を使用してシンチレーシヨンカメラを動作
させるとき蓄積されている補正係数をこのエネル
ギー・レベルに対応して修正してシンチレーシヨ
ンカメラの空間ひずみ特性を補正する方法と装置
を提供することもこの発明の目的である。
この発明により空間ひずみ補正装置を備えるシ
ンチレーシヨンカメラの空間ひずみ補正能力をダ
イナミツクに修正する方法と装置が提供される。
この空間ひずみ補正装置は空間ひずみ補正係数を
特定のアドレス可能の形式で記憶するメモリを含
む。シンチレーシヨンカメラのオン・ライン使用
時中空間ひずみ補正装置はシンチレーシヨンカメ
ラからのイメージ現象座標位置データを蓄積され
ているひずみ補正係数を使用して修正し正しいイ
メージ現象座標位置を与えるデータを作る。空間
ひずみ補正を修正する装置は補正されたイメージ
事象座標データをその時のイメージ現象のエネル
ギー・レベルに応じて修正しイメージ現象の実際
のエネルギー・レベルにおいての精確な空間ひず
み補正特性をカメラに与える。これによつてシン
チレーシヨンカメラは異つたエネルギー・レベル
のイメージ現象に対して空間ひずみ効果を自動的
にかつダイナミツクに補正することができる。イ
メージ現象の異つたエネルギー・レベルは多重エ
ネルギー・レベルの線源を使用するとき、又は空
間ひずみ補正係数を計算したときとは異なるエネ
ルギー・レベルでカメラを使用するときに起る。
ンチレーシヨンカメラの空間ひずみ補正能力をダ
イナミツクに修正する方法と装置が提供される。
この空間ひずみ補正装置は空間ひずみ補正係数を
特定のアドレス可能の形式で記憶するメモリを含
む。シンチレーシヨンカメラのオン・ライン使用
時中空間ひずみ補正装置はシンチレーシヨンカメ
ラからのイメージ現象座標位置データを蓄積され
ているひずみ補正係数を使用して修正し正しいイ
メージ現象座標位置を与えるデータを作る。空間
ひずみ補正を修正する装置は補正されたイメージ
事象座標データをその時のイメージ現象のエネル
ギー・レベルに応じて修正しイメージ現象の実際
のエネルギー・レベルにおいての精確な空間ひず
み補正特性をカメラに与える。これによつてシン
チレーシヨンカメラは異つたエネルギー・レベル
のイメージ現象に対して空間ひずみ効果を自動的
にかつダイナミツクに補正することができる。イ
メージ現象の異つたエネルギー・レベルは多重エ
ネルギー・レベルの線源を使用するとき、又は空
間ひずみ補正係数を計算したときとは異なるエネ
ルギー・レベルでカメラを使用するときに起る。
空間ひずみ補正の修正装置はシンチレーシヨン
カメラおよび蓄積されている補正係数に変更を加
えることなくカメラの正確な動作を可能にする。
一つの有利な実施例においては空間ひずみ補正装
置の座標補正係数が各イメージ現象のエネルギ
ー・レベルに応じて修正され、修正された補正係
数はイメージ現象座標位置データと組合わされて
正しいイメージ現象座標データを与える。
カメラおよび蓄積されている補正係数に変更を加
えることなくカメラの正確な動作を可能にする。
一つの有利な実施例においては空間ひずみ補正装
置の座標補正係数が各イメージ現象のエネルギ
ー・レベルに応じて修正され、修正された補正係
数はイメージ現象座標位置データと組合わされて
正しいイメージ現象座標データを与える。
図面に示した実施例についてこの発明を更に詳
細に説明する。
細に説明する。
第１図にこの発明によるひずみ補正修正装置を
備えたシンチレーシヨンカメラの構成をブロツク
図によつて示す。
備えたシンチレーシヨンカメラの構成をブロツク
図によつて示す。
第１図のシンチレーシヨンカメラはアンガー型
と呼ばれている一般的のもので、シンチレーシヨ
ン光からシンチレーシヨン現象の位置座標とエネ
ルギーを表わす電気信号を作り出す。アンガー・
カメラの詳細は米国特許3011057号、第3745345号
および第3984689号明細書に記載されている。
と呼ばれている一般的のもので、シンチレーシヨ
ン光からシンチレーシヨン現象の位置座標とエネ
ルギーを表わす電気信号を作り出す。アンガー・
カメラの詳細は米国特許3011057号、第3745345号
および第3984689号明細書に記載されている。
破線で囲んだ空間ひずみ補正係数１１はそのひ
ずみ補正特性をイメージ現象のエネルギー・レベ
ルに応じて修正するひずみ補正修正装置１３を含
む。補正装置１１の一部は米国特許出願06／
051176号明細書に記載されているイメージ位置決
め装置に類似している。シンチレーシヨンカメラ
には更にそのエネルギー応答の不均一性を補正す
るオン・ライン・エネルギー補正装置１０が含ま
れている。
ずみ補正特性をイメージ現象のエネルギー・レベ
ルに応じて修正するひずみ補正修正装置１３を含
む。補正装置１１の一部は米国特許出願06／
051176号明細書に記載されているイメージ位置決
め装置に類似している。シンチレーシヨンカメラ
には更にそのエネルギー応答の不均一性を補正す
るオン・ライン・エネルギー補正装置１０が含ま
れている。
第１図のシンチレーシヨンカメラの作用を簡単
に説明するためシンチレーシヨンカメラ現象がカ
メラのシンチレーシヨン結晶にγ線が当つたとき
起るものとする。第１図に１２として示した光電
増倍管はシンチレーシヨン結晶の背後に特定のア
レイの形で配置され各シンチレーシヨン現象の光
エネルギーを電気パルスに変える。シンチレーシ
ヨン結晶表面と光電増倍管の間には光伝送パイプ
が設けられることもある。又37本あるいは75本の
光電増倍管１２を特定のアレイに配置してシンチ
レーシヨン結晶の表面を通してシンチレーシヨン
現象を検出することも既に提案されている。
に説明するためシンチレーシヨンカメラ現象がカ
メラのシンチレーシヨン結晶にγ線が当つたとき
起るものとする。第１図に１２として示した光電
増倍管はシンチレーシヨン結晶の背後に特定のア
レイの形で配置され各シンチレーシヨン現象の光
エネルギーを電気パルスに変える。シンチレーシ
ヨン結晶表面と光電増倍管の間には光伝送パイプ
が設けられることもある。又37本あるいは75本の
光電増倍管１２を特定のアレイに配置してシンチ
レーシヨン結晶の表面を通してシンチレーシヨン
現象を検出することも既に提案されている。
アレイ配置の光電増倍管のパルス出力はシンチ
レーシヨンカメラの電子回路において前置増幅器
１４、加算減算増幅回路１６、積分回路１８、サ
ンプル・アンド・ホールド段２０、乗算回路２
２、サンプル・アンド・ホールド段２４を通して
送られ各シンチレーシヨン現象の位置のＸ，Ｙ座
標を与える。
レーシヨンカメラの電子回路において前置増幅器
１４、加算減算増幅回路１６、積分回路１８、サ
ンプル・アンド・ホールド段２０、乗算回路２
２、サンプル・アンド・ホールド段２４を通して
送られ各シンチレーシヨン現象の位置のＸ，Ｙ座
標を与える。
各光電増倍管の出力はシンチレーシヨン現象に
対するこの光電増倍管の近接度に関する。イメー
ジ現象のＸ座標信号は２６として示され、そのＹ
座標信号は２８として示される。光電増倍管１２
の出力は更に加算増幅器３２、積分回路３４、サ
ンプル・アンド・ホールド段３６および３８から
成るエネルギー分析回路３０に導かれＺ信号とな
る。サンプル・アンド・ホールド段３８の出力４
０は各イメージ現象の起つたままのエネルギーを
表わす未補正Ｚ信号である。分析回路３０は更に
加算増幅器３２の出力端と積分回路３４の出力端
に結ばれたプロセツシング回路４２を含み、その
出力４４はサンプル・アンド・ホールド段３６と
補正タイミング段４６に導かれる。プロセツシン
グ回路４２はその入力の粗分析と放棄・堆積の初
期判別を行なうものである。補正タイミング段４
６の出力はサンプル・アンド・ホールド段３８と
窓アナライザ４８に導かれる。ＸおよびＹ座標信
号２６および２８とＺエネルギー信号４０はエネ
ルギー補正装置１０に送られる。
対するこの光電増倍管の近接度に関する。イメー
ジ現象のＸ座標信号は２６として示され、そのＹ
座標信号は２８として示される。光電増倍管１２
の出力は更に加算増幅器３２、積分回路３４、サ
ンプル・アンド・ホールド段３６および３８から
成るエネルギー分析回路３０に導かれＺ信号とな
る。サンプル・アンド・ホールド段３８の出力４
０は各イメージ現象の起つたままのエネルギーを
表わす未補正Ｚ信号である。分析回路３０は更に
加算増幅器３２の出力端と積分回路３４の出力端
に結ばれたプロセツシング回路４２を含み、その
出力４４はサンプル・アンド・ホールド段３６と
補正タイミング段４６に導かれる。プロセツシン
グ回路４２はその入力の粗分析と放棄・堆積の初
期判別を行なうものである。補正タイミング段４
６の出力はサンプル・アンド・ホールド段３８と
窓アナライザ４８に導かれる。ＸおよびＹ座標信
号２６および２８とＺエネルギー信号４０はエネ
ルギー補正装置１０に送られる。
第１図の左側中央に破線で囲んで示したエネル
ギー補正装置１０はＸ，Ｙ座標信号２６，２８が
導かれるAD変換器５０を含む。このAD変換器
は各イメージ現象のＸ，Ｙ座標信号をデイジタル
信号に変換して出力５２とし、適当数のデイジタ
ル制御線に送り込む。デイジタル出力５２はエネ
ルギー補正係数メモリ５４のアドレス入力端に導
かれる。このメモリにはエネルギー補正係数がカ
メラ面のピクセルと呼ばれている小分割区域の位
置を表わす位置座標情報に応じてアドレスされる
特定のアレイ配置をもつて蓄積されている。この
補正係数はオフ・ライン・テスト、測定および分
析過程において決定され、メモリ５４内に蓄積さ
れ、シンチレーシヨンカメラのオン・ライン診断
過程において読み出され使用される。シンチレー
シヨンカメラを使用するオン・ライン診断過程中
各イメージ現象はＸおよびＹ座標デイジタル信号
によつて補正係数メモリ５４をアドレスする。メ
モリ５４からはエネルギーＺ信号としての出力４
０を補正するための補正係数が特定数のデイジタ
ル制御線に送り込まれる。メモリ４０の出力５４
で表わされる補正係数をｆ（Ｐ）と書く。この補
正係数は補正装置１０のエネルギー信号修正段５
８に送り込まれる。一方Ｚ信号４０も修正段５８
の入力となつているから修正段５８の出力６０は
アナログ形の補正されたZCエネルギー信号となり
エネルギー窓アナライザ４８に入る。
ギー補正装置１０はＸ，Ｙ座標信号２６，２８が
導かれるAD変換器５０を含む。このAD変換器
は各イメージ現象のＸ，Ｙ座標信号をデイジタル
信号に変換して出力５２とし、適当数のデイジタ
ル制御線に送り込む。デイジタル出力５２はエネ
ルギー補正係数メモリ５４のアドレス入力端に導
かれる。このメモリにはエネルギー補正係数がカ
メラ面のピクセルと呼ばれている小分割区域の位
置を表わす位置座標情報に応じてアドレスされる
特定のアレイ配置をもつて蓄積されている。この
補正係数はオフ・ライン・テスト、測定および分
析過程において決定され、メモリ５４内に蓄積さ
れ、シンチレーシヨンカメラのオン・ライン診断
過程において読み出され使用される。シンチレー
シヨンカメラを使用するオン・ライン診断過程中
各イメージ現象はＸおよびＹ座標デイジタル信号
によつて補正係数メモリ５４をアドレスする。メ
モリ５４からはエネルギーＺ信号としての出力４
０を補正するための補正係数が特定数のデイジタ
ル制御線に送り込まれる。メモリ４０の出力５４
で表わされる補正係数をｆ（Ｐ）と書く。この補
正係数は補正装置１０のエネルギー信号修正段５
８に送り込まれる。一方Ｚ信号４０も修正段５８
の入力となつているから修正段５８の出力６０は
アナログ形の補正されたZCエネルギー信号となり
エネルギー窓アナライザ４８に入る。
アナライザ４８は各イメージ現象に対する補正
されたエネルギー信号ZCのレベルを予め上下端が
定められたエネルギー窓と比較し、補正された信
号６０がこのエネルギー窓の範囲内にあれば、ア
ナライザ４８から受納信号出力６２が送り出さ
れ、信号６０がエネルギー窓の範囲外にあればア
ナライザから拒否信号出力が送り出される。
されたエネルギー信号ZCのレベルを予め上下端が
定められたエネルギー窓と比較し、補正された信
号６０がこのエネルギー窓の範囲内にあれば、ア
ナライザ４８から受納信号出力６２が送り出さ
れ、信号６０がエネルギー窓の範囲外にあればア
ナライザから拒否信号出力が送り出される。
アナライザ４８の出力６２は非ブランク・コン
トロール段６４に入り、このコントロール段は入
力６２に応じてイメージ現象の受納あるいは拒否
を決定する。
トロール段６４に入り、このコントロール段は入
力６２に応じてイメージ現象の受納あるいは拒否
を決定する。
表示される現象の位置座標はＸおよびＹ位置座
標信号２６および２８から求められ、表示又は分
析装置によつて作られるイメージアレイ中のイメ
ージ現象表示位置を制御する。Ｘ座標出力２６は
サンプル・アンド・ホールド段７０を通して座標
信号XAとしてミクサー・アンド・スペクトラ
ム・ゲート７の一つの入力端に導かれ、Ｙ座標出
力２８はサンプル・アンド・ホールド段７１を通
して座標信号YAとしてミクサー・アンド・スペ
クトラム・ゲート７４の一つの入力端に導かれ
る。
標信号２６および２８から求められ、表示又は分
析装置によつて作られるイメージアレイ中のイメ
ージ現象表示位置を制御する。Ｘ座標出力２６は
サンプル・アンド・ホールド段７０を通して座標
信号XAとしてミクサー・アンド・スペクトラ
ム・ゲート７の一つの入力端に導かれ、Ｙ座標出
力２８はサンプル・アンド・ホールド段７１を通
して座標信号YAとしてミクサー・アンド・スペ
クトラム・ゲート７４の一つの入力端に導かれ
る。
サンプル・アンド・ホールド段７０，７１から
の座標信号XA，YAは空間ひずみ補正装置１１の
データ入力となる。更に補正されたエネルギー信
号ZCは出力６０としてサンプル・アンド・ホール
ド段６１を通して出力６３となりひずみ補正修正
装置１３に送られる。
の座標信号XA，YAは空間ひずみ補正装置１１の
データ入力となる。更に補正されたエネルギー信
号ZCは出力６０としてサンプル・アンド・ホール
ド段６１を通して出力６３となりひずみ補正修正
装置１３に送られる。
空間ひずみ補正装置１１はイメージ現象の位置
座標信号XA，YAもZCエネルギー信号に応答して
空間ひずみ位置座標補正係数ΔXおよびΔYを作
る。これらの補正係数はミクサ・アンド・スペク
トラム・ゲート７２および７４の第二入力端に導
かれる。
座標信号XA，YAもZCエネルギー信号に応答して
空間ひずみ位置座標補正係数ΔXおよびΔYを作
る。これらの補正係数はミクサ・アンド・スペク
トラム・ゲート７２および７４の第二入力端に導
かれる。
補正された位置座標信号XCおよびYCを表わし
ているミクサ・アンド・スペクトラム・ゲート７
２および７４の出力はオリエンテーシヨン・ゲー
ト７６および７８の一つの入力端に導かれ、これ
らのゲートの出力は表示および分析装置において
イメージ現象の表示位置を制御する垂直および水
平制御線に送り込まれる。オリエンテーシヨン・
ゲート７６，７８は診断時にＸおよびＹの位置デ
ータを逆にしてイメージを180゜回転させるイメー
ジ・オリエンテーシヨン用のものである。
ているミクサ・アンド・スペクトラム・ゲート７
２および７４の出力はオリエンテーシヨン・ゲー
ト７６および７８の一つの入力端に導かれ、これ
らのゲートの出力は表示および分析装置において
イメージ現象の表示位置を制御する垂直および水
平制御線に送り込まれる。オリエンテーシヨン・
ゲート７６，７８は診断時にＸおよびＹの位置デ
ータを逆にしてイメージを180゜回転させるイメー
ジ・オリエンテーシヨン用のものである。
ゲート７２と７４の第三入力端はアナライザ４
８の出力６２と補正されたエネルギー信号ZCを表
わす出力６０によつて制御されるスペクトル表示
制御段８２の出力端に結ばれている。スペクトル
表示制御段８２は出力６３のエネルギー・レベル
ZCを表示する際にはゲート７２と７４の作用を停
止させる。
８の出力６２と補正されたエネルギー信号ZCを表
わす出力６０によつて制御されるスペクトル表示
制御段８２の出力端に結ばれている。スペクトル
表示制御段８２は出力６３のエネルギー・レベル
ZCを表示する際にはゲート７２と７４の作用を停
止させる。
空間ひずみ補正装置１１は予めそれに蓄積され
ている空間ひずみ補正係数に対応して各イメージ
現象の位置座標信号XA，YAを修正してイメージ
表示の空間ひずみを補正する。
ている空間ひずみ補正係数に対応して各イメージ
現象の位置座標信号XA，YAを修正してイメージ
表示の空間ひずみを補正する。
このようにしてオン・ライン診断過程中補正装
置１０はシンチレーシヨンカメラからの未補正Ｚ
エネルギー信号出力４０を補正係数ｆ（Ｐ）によ
つて修正しシンチレーシヨンカメラのエネルギー
応答の不均一性の効果を最小にする。カメラの不
均一応答を補正することにより補正装置１０は正
しいエネルギー信号ZCを出力６０としてエネルギ
ー窓アナライザ４８に送り、アナライザにおいて
補正信号ZCを予め定められているエネルギー窓と
比較することによりイメージ現象の受納か拒否か
を決定する。このようにして補正されたエネルギ
ー信号ZCはエネルギー窓アナライザにおいてカメ
ラ応答の不均一性の効果を打消してイメージ事象
が誤つた判定を受けないようにする。
置１０はシンチレーシヨンカメラからの未補正Ｚ
エネルギー信号出力４０を補正係数ｆ（Ｐ）によ
つて修正しシンチレーシヨンカメラのエネルギー
応答の不均一性の効果を最小にする。カメラの不
均一応答を補正することにより補正装置１０は正
しいエネルギー信号ZCを出力６０としてエネルギ
ー窓アナライザ４８に送り、アナライザにおいて
補正信号ZCを予め定められているエネルギー窓と
比較することによりイメージ現象の受納か拒否か
を決定する。このようにして補正されたエネルギ
ー信号ZCはエネルギー窓アナライザにおいてカメ
ラ応答の不均一性の効果を打消してイメージ事象
が誤つた判定を受けないようにする。
オン・ライン・エネルギー補正装置１０は更に
メモリ５４に蓄積されている補正係数が最初に決
定されたときのエネルギー・レベルとは異るエネ
ルギー・レベルの線源に対するカメラの応答の不
均一性を補正するためにも利用される。従つて補
正装置１０はオン・ライン診断時に異つたエネル
ギー・レベルの線源および多重エネルギー・レベ
ルの線源に対しても別々のエネルギー窓アナライ
ザ例えば９０および９２と共に利用することがで
きる。この場合アナライザのエネルギー窓は線源
のエネルギー・レベルに応じて互に異つたものを
選んでおく。
メモリ５４に蓄積されている補正係数が最初に決
定されたときのエネルギー・レベルとは異るエネ
ルギー・レベルの線源に対するカメラの応答の不
均一性を補正するためにも利用される。従つて補
正装置１０はオン・ライン診断時に異つたエネル
ギー・レベルの線源および多重エネルギー・レベ
ルの線源に対しても別々のエネルギー窓アナライ
ザ例えば９０および９２と共に利用することがで
きる。この場合アナライザのエネルギー窓は線源
のエネルギー・レベルに応じて互に異つたものを
選んでおく。
第２図を参照して空間ひずみ補正装置１１を更
に詳細に説明する。この装置は補正係数メモリ１
０８を含みそこに補正係数が特定のアドレス可能
のアレイとして蓄積されオン・ライン・ひずみ補
正に際して読み出される。
に詳細に説明する。この装置は補正係数メモリ１
０８を含みそこに補正係数が特定のアドレス可能
のアレイとして蓄積されオン・ライン・ひずみ補
正に際して読み出される。
メモリ１０８に蓄積される補正係数はオフ・ラ
イン・テスト、測定および分析過程において特定
の基準エネルギー・レベルに対して精確に決定さ
れる。オフ・ライン・テスト、測定および分析過
程はシンチレーシヨンカメラのオン・ライン・イ
メージ形成診断過程の前にそれに無関係に図面に
示されていない装置によつて実施される。この装
置については既に種々のものが堤案されている。
イン・テスト、測定および分析過程において特定
の基準エネルギー・レベルに対して精確に決定さ
れる。オフ・ライン・テスト、測定および分析過
程はシンチレーシヨンカメラのオン・ライン・イ
メージ形成診断過程の前にそれに無関係に図面に
示されていない装置によつて実施される。この装
置については既に種々のものが堤案されている。
補正係数はカメラ面上に等間隔で分布されたア
レイ点について求められ、例えば64×64正方形ア
レイの形で蓄積される。カメラ面のＸ，Ｙ座標点
においての補正係数は測定されたイメージ事象点
とカメラの応答の不均一を考慮して補正されたイ
メージ現象点との間の変位ベクトルを表わす。座
標XA，YAのイメージ現象の座標信号に加える補
正係数ベクトルの方向はテスト、測定および分析
過程において測定されたひずみの方向に対して逆
である。これは測定されたひずみベクトルが正し
いイメージ点に移すときの移動ベクトルに対して
180゜回転していることに基く。
レイ点について求められ、例えば64×64正方形ア
レイの形で蓄積される。カメラ面のＸ，Ｙ座標点
においての補正係数は測定されたイメージ事象点
とカメラの応答の不均一を考慮して補正されたイ
メージ現象点との間の変位ベクトルを表わす。座
標XA，YAのイメージ現象の座標信号に加える補
正係数ベクトルの方向はテスト、測定および分析
過程において測定されたひずみの方向に対して逆
である。これは測定されたひずみベクトルが正し
いイメージ点に移すときの移動ベクトルに対して
180゜回転していることに基く。
第３図に示すようにひずみ補正係数は64×64ア
レイの四つの隣接アレイ点を基点とするベクトル
で表わされ、各ベクトルはＸ方向およびＹ方向の
補正係数を含んでいる。64×64アレイの補正係数
の全体はＶ（Ｘ，Ｙ）として示す。補正係数
Ｖ（Ｘ，Ｙ）が最も便利に使用されるように構成
された実施例では補正係数（Ｘ，Ｙ）のアレイ
がひずみ補正装置１１のメモリ１０８内にアレイ
中の実際のＸ，Ｙ補正係数の和および差を含む係
数Ｃ１乃至Ｃ８として蓄積される。これらの係数
はそれぞれ例えば８ビツトの情報を含むものであ
る。Ｃ１乃至Ｃ８の計算方法とＶ（Ｘ，Ｙ）ア
レイ中の未補正の補正係数のＸおよびＹ成分
Vox，Vnyとの対応は次の通りである。
レイの四つの隣接アレイ点を基点とするベクトル
で表わされ、各ベクトルはＸ方向およびＹ方向の
補正係数を含んでいる。64×64アレイの補正係数
の全体はＶ（Ｘ，Ｙ）として示す。補正係数
Ｖ（Ｘ，Ｙ）が最も便利に使用されるように構成
された実施例では補正係数（Ｘ，Ｙ）のアレイ
がひずみ補正装置１１のメモリ１０８内にアレイ
中の実際のＸ，Ｙ補正係数の和および差を含む係
数Ｃ１乃至Ｃ８として蓄積される。これらの係数
はそれぞれ例えば８ビツトの情報を含むものであ
る。Ｃ１乃至Ｃ８の計算方法とＶ（Ｘ，Ｙ）ア
レイ中の未補正の補正係数のＸおよびＹ成分
Vox，Vnyとの対応は次の通りである。
C1＝V1x
C2＝V2x−V1x
C3＝V3x−V1x
C4＝V4x−V3x−V2x＋V1x
C5＝V1y
C6＝V2y−V1y
C7＝V3y−V1y
C8＝V4y−V3y−V2y＋V1y
空間ひずみ補正装置１１においてカメラによつ
て与えられた位置座標データを修正する方法を補
正装置１１の詳細な構造と共に説明する。
て与えられた位置座標データを修正する方法を補
正装置１１の詳細な構造と共に説明する。
第２図に示すようにオン・ライン空間ひずみ補
正装置１１はＸ座標に対するAD変換器（XAD）
１００とＹ座標に対するAD変換器（YAD）１０
２を含む。これらの変換器のアナログ入力端には
アナログ信号XA，YAが導かれる。イメージ現象
が発生するとアナログ信号出力２６，２８が変換
器１００および１０２に導かれるデイジタル信号
に変換されるAD変換器出力の中XUおよびYUと
して示した最も重要な６ビツト信号は補正係数メ
モリ１０８のＸ，Ｙアドレス入力端に導かれる。
正装置１１はＸ座標に対するAD変換器（XAD）
１００とＹ座標に対するAD変換器（YAD）１０
２を含む。これらの変換器のアナログ入力端には
アナログ信号XA，YAが導かれる。イメージ現象
が発生するとアナログ信号出力２６，２８が変換
器１００および１０２に導かれるデイジタル信号
に変換されるAD変換器出力の中XUおよびYUと
して示した最も重要な６ビツト信号は補正係数メ
モリ１０８のＸ，Ｙアドレス入力端に導かれる。
補正係数メモリ１０８からはこの最も重要な６
ビツトXUと６ビツトYUに対応して係数Ｃ１乃
至Ｃ８が出力として送り出される。この信号Ｃ１
乃至Ｃ８の出力ライン１１０は補正補間装置１１
２の一つのデイジタル入力端に結ばれる。補間装
置１１２はＸ，Ｙ座標データ中の重要度の低い６
ビツトXL，YLが出力データ線１１４，１１６を
通して導かれる二つのデイジタルデータ入力端を
持つ。この座標情報中の重要度の低い６ビツト
XL，YLは第４図に示した残留関数RxおよびRy
を決定する。
ビツトXUと６ビツトYUに対応して係数Ｃ１乃
至Ｃ８が出力として送り出される。この信号Ｃ１
乃至Ｃ８の出力ライン１１０は補正補間装置１１
２の一つのデイジタル入力端に結ばれる。補間装
置１１２はＸ，Ｙ座標データ中の重要度の低い６
ビツトXL，YLが出力データ線１１４，１１６を
通して導かれる二つのデイジタルデータ入力端を
持つ。この座標情報中の重要度の低い６ビツト
XL，YLは第４図に示した残留関数RxおよびRy
を決定する。
この発明の重要な要旨に従つてひずみ補正修正
装置１３は補正係数補間装置１１２に対してエネ
ルギー修正信号ZVRを与え蓄積されている係数
Ｃ１乃至Ｃ８を出力６３として表わされたエネル
ギー信号ZCのレベルに応じて修正する。このエネ
ルギー信号ZCは修正装置１３にその入力として導
かれるものである。
装置１３は補正係数補間装置１１２に対してエネ
ルギー修正信号ZVRを与え蓄積されている係数
Ｃ１乃至Ｃ８を出力６３として表わされたエネル
ギー信号ZCのレベルに応じて修正する。このエネ
ルギー信号ZCは修正装置１３にその入力として導
かれるものである。
ひずみ補正の修正装置１３の動作の詳細を第５
図について説明する。係数Ｃ１乃至Ｃ８および修
正信号ZVRによつて修正されたイメージ現象位
置座標情報XL，YLの低い重要度のデータ・ビツ
トに対応してイメージ現象位置補正データΔX，
ΔYをアナログ信号として送り出す補間装置１１
２の動作の詳細はこの後で第６図について説明す
る。RXおよびRYという値はＸおよびＹの情報XL
およびYLの低重要度６ビツトに対応している。
図について説明する。係数Ｃ１乃至Ｃ８および修
正信号ZVRによつて修正されたイメージ現象位
置座標情報XL，YLの低い重要度のデータ・ビツ
トに対応してイメージ現象位置補正データΔX，
ΔYをアナログ信号として送り出す補間装置１１
２の動作の詳細はこの後で第６図について説明す
る。RXおよびRYという値はＸおよびＹの情報XL
およびYLの低重要度６ビツトに対応している。
この発明により補正補間装置１１２は次の二変
数補間操作を行つてΔX，ΔYをアナログ型に変
えるように構成されている。
数補間操作を行つてΔX，ΔYをアナログ型に変
えるように構成されている。
ΔX＝〔C1＋C2RX＋C3RY＋C4RXRY〕（ZVR）
ΔY＝〔C5＋C6RX＋C7RY＋C8RXRY〕（ZVR）
ここでRXとRYはアレイ・ユニツト・セル内の
イメージ現象の座標を決定するものである。この
操作によつて得られた補正係数ΔX，ΔYは補間
装置１１２のアナログ出力としてゲート７２，７
４に与えられる。
イメージ現象の座標を決定するものである。この
操作によつて得られた補正係数ΔX，ΔYは補間
装置１１２のアナログ出力としてゲート７２，７
４に与えられる。
このようにしてシンチレーシヨンカメラに表示
された各イメージ現象の位置座標XA，YAはΔX，
ΔYを使用して補正された位置座標情報XC，YCと
なる。この補正はそれぞれのイメージ現象に対し
てメモリ１０８に蓄積されている補正係数から求
められる係数Ｃ１乃至Ｃ８に従つてカメラの空間
ひずみ特性に対して行われるものである。蓄積さ
れている補正係数の修正は信号ZVRに際しての
イメージ現象のエネルギー・レベルZCに応じてオ
フ・ライン・テスト、測定および分析過程におい
て補正係数が計算されたときのエネルギー・レベ
ルとの間の差の関数として遂行される。
された各イメージ現象の位置座標XA，YAはΔX，
ΔYを使用して補正された位置座標情報XC，YCと
なる。この補正はそれぞれのイメージ現象に対し
てメモリ１０８に蓄積されている補正係数から求
められる係数Ｃ１乃至Ｃ８に従つてカメラの空間
ひずみ特性に対して行われるものである。蓄積さ
れている補正係数の修正は信号ZVRに際しての
イメージ現象のエネルギー・レベルZCに応じてオ
フ・ライン・テスト、測定および分析過程におい
て補正係数が計算されたときのエネルギー・レベ
ルとの間の差の関数として遂行される。
第５図に示したひずみ補正修正装置１３はエネ
ルギー修正係数ZVRを出力１２０として送り出
し座標補正値ΔX，ΔYをイメージ現象エネルギ
ー信号ZCおよびメモリに蓄積されている補正係数
が計算されたときの基準エネルギー・レベルとは
異つたエネルギー・レベルにおいてのカメラの空
間ひずみ特性の変化の関係に対応して修正する。
ルギー修正係数ZVRを出力１２０として送り出
し座標補正値ΔX，ΔYをイメージ現象エネルギ
ー信号ZCおよびメモリに蓄積されている補正係数
が計算されたときの基準エネルギー・レベルとは
異つたエネルギー・レベルにおいてのカメラの空
間ひずみ特性の変化の関係に対応して修正する。
一般にシンチレーシヨンカメラのひずみはイメ
ージ現象のエネルギーが低い程大きい。このこと
はエネルギー・レベルが80keVのアメリシウム２
４１とエネルギー・レベルが360keVのバリウム
１３３を使用し一様なフラツド線源に対して得ら
れたデータによつて明らかとなる。このフラツド
線源データによればアメリシウム２４１による未
補正イメージが光電増倍管の中心に高強度部分即
ちホツト・スポツトを示すのに対してバリウム１
３３によるイメージは管の中心に低強度部分即ち
コールド・スポツトを示す。この効果は空間ひず
みが大きい程イメージ現象が光電増倍管の中心に
近づくことに基くものである。この一般的な効果
は少くとも部分的にγ量子のエネルギーが高い程
検出器への侵入深さが大きく光の分散が大きくな
ることによると信じられている。従つてシンチレ
ーシヨンカメラのひずみの大きさは一般にイメー
ジ現象のエネルギー・レベルに逆比例する。診断
テストの結果ではこのエネルギー・レベルと空間
ひずみとの逆比例関係は線源エネルギーの広い範
囲に亘つてほぼ満たされている。
ージ現象のエネルギーが低い程大きい。このこと
はエネルギー・レベルが80keVのアメリシウム２
４１とエネルギー・レベルが360keVのバリウム
１３３を使用し一様なフラツド線源に対して得ら
れたデータによつて明らかとなる。このフラツド
線源データによればアメリシウム２４１による未
補正イメージが光電増倍管の中心に高強度部分即
ちホツト・スポツトを示すのに対してバリウム１
３３によるイメージは管の中心に低強度部分即ち
コールド・スポツトを示す。この効果は空間ひず
みが大きい程イメージ現象が光電増倍管の中心に
近づくことに基くものである。この一般的な効果
は少くとも部分的にγ量子のエネルギーが高い程
検出器への侵入深さが大きく光の分散が大きくな
ることによると信じられている。従つてシンチレ
ーシヨンカメラのひずみの大きさは一般にイメー
ジ現象のエネルギー・レベルに逆比例する。診断
テストの結果ではこのエネルギー・レベルと空間
ひずみとの逆比例関係は線源エネルギーの広い範
囲に亘つてほぼ満たされている。
従つて補正係数が計算されたときの基準エネル
ギー・レベルZREFの上下に外れたエネルギー・レ
ベルを持つイメージ現象に対して空間ひずみ補正
係数に適切な修正を行なうためひずみ補正係数を
イメージ現象のエネルギー・レベルに対して逆比
例関係をもつて修正することはこの発明の重要な
要旨となる。
ギー・レベルZREFの上下に外れたエネルギー・レ
ベルを持つイメージ現象に対して空間ひずみ補正
係数に適切な修正を行なうためひずみ補正係数を
イメージ現象のエネルギー・レベルに対して逆比
例関係をもつて修正することはこの発明の重要な
要旨となる。
第５図に示した実施例ではエネルギー・スケー
リングのための修正係数が修正信号ZVRとイメ
ージ現象のエネルギーZCの間の直線的逆比例関係
を利用して求められる。しかし装置の特性に応じ
て空間ひずみの補正係数をこれ以外の関係を利用
して求めることも可能である。線源のエネルギ
ー・レベルによつて変化するカメラの空間ひずみ
特性に応じて非線型関数を含む種々の補正係数と
種々の形式の関数発生器が使用される。更にひず
み補正修正装置１３はイメージ現象毎に動作し、
各イメージ現象のエネルギー・レベルに応答して
適当な修正係数ZVRを決定することを注意する
必要がある。これによつて診断使用に際して適正
なひずみ補正の修正がエネルギー・レベルが異る
線源および多重エネルギー・レベルの線源に応じ
てカメラおよびその付属装置に変更を加えること
なく自動的かつダイナミツクに実施される。
リングのための修正係数が修正信号ZVRとイメ
ージ現象のエネルギーZCの間の直線的逆比例関係
を利用して求められる。しかし装置の特性に応じ
て空間ひずみの補正係数をこれ以外の関係を利用
して求めることも可能である。線源のエネルギ
ー・レベルによつて変化するカメラの空間ひずみ
特性に応じて非線型関数を含む種々の補正係数と
種々の形式の関数発生器が使用される。更にひず
み補正修正装置１３はイメージ現象毎に動作し、
各イメージ現象のエネルギー・レベルに応答して
適当な修正係数ZVRを決定することを注意する
必要がある。これによつて診断使用に際して適正
なひずみ補正の修正がエネルギー・レベルが異る
線源および多重エネルギー・レベルの線源に応じ
てカメラおよびその付属装置に変更を加えること
なく自動的かつダイナミツクに実施される。
出力６３として与えられるイメージ現象エネル
ギー信号ZCと修正装置１３の出力１２０としての
修正信号ZVRとの間の関係を第７図に示す。第
７図にはエネルギー・レベル１２２keVのイメー
ジ現象に対して規準エネルギー・レベルZREFとそ
れに対する関数ZVRの値kVRの対応が示されて
いる。このエネルギー・レベル122keVはメモリ
１０８に蓄積される補正係数が計算されるときの
エネルギー・レベルとして採用することができ
る。
ギー信号ZCと修正装置１３の出力１２０としての
修正信号ZVRとの間の関係を第７図に示す。第
７図にはエネルギー・レベル１２２keVのイメー
ジ現象に対して規準エネルギー・レベルZREFとそ
れに対する関数ZVRの値kVRの対応が示されて
いる。このエネルギー・レベル122keVはメモリ
１０８に蓄積される補正係数が計算されるときの
エネルギー・レベルとして採用することができ
る。
修正装置１３は基準電位に対して電圧VRを供
給する電源を含み、この電源はポテンシヨメータ
１２４の一端Ｒ２に接続される。ポテンシヨメー
タの他端はスイツチ１２６の共通接点Ｓ１に結ば
れる。スイツチ２１は接点ＡとＢを持つ単極双投
スイツチであり接点Ａは基準電位１２２（大地電
位）に接続される。
給する電源を含み、この電源はポテンシヨメータ
１２４の一端Ｒ２に接続される。ポテンシヨメー
タの他端はスイツチ１２６の共通接点Ｓ１に結ば
れる。スイツチ２１は接点ＡとＢを持つ単極双投
スイツチであり接点Ａは基準電位１２２（大地電
位）に接続される。
ポテンシヨメータ１２４の摺動接点からは電圧
VRの一部がスケール電圧kVRとして引き出され
る。この電圧kVRは増幅段１２８の非反転入力
端に導かれる。増幅器１２８の出力端からは修正
信号ZVRが送り出される。増幅器１２０の出力
端は増幅器１２８の反転入力端に結ばれる。スイ
ツチＳ１がＡ位置にあれば信号ZVRの値はポテ
ンシヨメータＲ２を第７図のエネルギー・レベル
kVRに調整することによつてセツトされる。こ
のエネルギー値kVRは補正係数を計算するとき
の基準エネルギー・レベルZREF例えば122keVに
対するエネルギー修正信号の所望の値である。
VRの一部がスケール電圧kVRとして引き出され
る。この電圧kVRは増幅段１２８の非反転入力
端に導かれる。増幅器１２８の出力端からは修正
信号ZVRが送り出される。増幅器１２０の出力
端は増幅器１２８の反転入力端に結ばれる。スイ
ツチＳ１がＡ位置にあれば信号ZVRの値はポテ
ンシヨメータＲ２を第７図のエネルギー・レベル
kVRに調整することによつてセツトされる。こ
のエネルギー値kVRは補正係数を計算するとき
の基準エネルギー・レベルZREF例えば122keVに
対するエネルギー修正信号の所望の値である。
基準電圧VRは又抵抗１３０を通して増幅器１
３２の反転入力端にも導かれ、その出力端には反
転電圧（−VR）が現われる。増幅器１３２の非
反転入力端は基底電位（大地電位）１２２に接続
されている。増幅器１３２の出力端はＲと記入さ
れているフイードバツク抵抗１３４を通して反転
入力端に結ばれると同時にR4と記入されている
可変抵抗１３６を通して増幅器１３８の反転入力
端に接続されている。
３２の反転入力端にも導かれ、その出力端には反
転電圧（−VR）が現われる。増幅器１３２の非
反転入力端は基底電位（大地電位）１２２に接続
されている。増幅器１３２の出力端はＲと記入さ
れているフイードバツク抵抗１３４を通して反転
入力端に結ばれると同時にR4と記入されている
可変抵抗１３６を通して増幅器１３８の反転入力
端に接続されている。
増幅器１３８の反転入力端にはRiと記入され
ている抵抗１４０を通してイメージ現象エネルギ
ー信号ZCが出力６３として導かれる。増幅器１３
８の非反転入力端は基底電位１２２に接続され、
その出力端はRfと記入されているフイードバツ
ク抵抗を通して反転入力端に接続されている。増
幅器１３８の出力は関数ZM＝k1＝（ZREF−ZC）を
表わし、可変抵抗１３６の抵抗値R4は規準電圧
VRとR4の比が規準エネルギー・レベルZREFと入
力抵抗値Riの比に等しくなるように調節される
（VR／R4＝ZREF／Ri）。k1は増幅器１３８のゲイ
ンでRf／Riに等しい。このように調節された抵
抗値により増幅器の出力信号ZMはエネルギー信
号ZCがZREFに等しく例えば122keVであるときZM
＝０となる。これらの抵抗値の調節はスイツチＳ
１のＡ位置において行われる。
ている抵抗１４０を通してイメージ現象エネルギ
ー信号ZCが出力６３として導かれる。増幅器１３
８の非反転入力端は基底電位１２２に接続され、
その出力端はRfと記入されているフイードバツ
ク抵抗を通して反転入力端に接続されている。増
幅器１３８の出力は関数ZM＝k1＝（ZREF−ZC）を
表わし、可変抵抗１３６の抵抗値R4は規準電圧
VRとR4の比が規準エネルギー・レベルZREFと入
力抵抗値Riの比に等しくなるように調節される
（VR／R4＝ZREF／Ri）。k1は増幅器１３８のゲイ
ンでRf／Riに等しい。このように調節された抵
抗値により増幅器の出力信号ZMはエネルギー信
号ZCがZREFに等しく例えば122keVであるときZM
＝０となる。これらの抵抗値の調節はスイツチＳ
１のＡ位置において行われる。
増幅器１３８の出力はスイツチＳ１のＢ接点に
導かれる。スイツチＳ１をＢ位置において抵抗１
３６の抵抗値Rfは測定と分析によつて決定され
たエネルギー信号ZCとエネルギー修正信号ZVR
の間の関係に従つて第７図に示した所望の傾斜
k1が得られるように調節される。これによつて
増幅器１２８の出力端に現われるエネルギー修正
信号ZVRは次の式で表わされる。
導かれる。スイツチＳ１をＢ位置において抵抗１
３６の抵抗値Rfは測定と分析によつて決定され
たエネルギー信号ZCとエネルギー修正信号ZVR
の間の関係に従つて第７図に示した所望の傾斜
k1が得られるように調節される。これによつて
増幅器１２８の出力端に現われるエネルギー修正
信号ZVRは次の式で表わされる。
ZVR＝kVR＋（１−ｋ）〔K1（ZREF−ZC）〕この
エネルギー修正信号ZVRにより空間ひずみ補正
係数と補正された出力ΔX，ΔYは補間装置１１
２において適正に修正される。これによつて空間
ひずみ補正装置１１の補正特性がイメージ現象エ
ネルギー信号のエネルギー・レベルZCに応じて修
正される。
エネルギー修正信号ZVRにより空間ひずみ補正
係数と補正された出力ΔX，ΔYは補間装置１１
２において適正に修正される。これによつて空間
ひずみ補正装置１１の補正特性がイメージ現象エ
ネルギー信号のエネルギー・レベルZCに応じて修
正される。
空間ひずみ補正装置１１の構成の詳細を第６図
に示す。係数メモリ１０８（破線で囲んで示す）
は電子的にプログラミング可能のROM（以後
PROMとする）を８個含み、各PROMは補正係
数Ｃ１乃至Ｃ８の一つに対応する。PROM段１
５０，１５２，１５４及び１５６はそれぞれＸ補
正係数Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３およびＣ４の一つを送り
出すもので制御線１０４および１０６上の情報
XUおよびYUの上位の４ビツトを表わすＸおよ
びＹ座標信号によつてアドレスされる。
に示す。係数メモリ１０８（破線で囲んで示す）
は電子的にプログラミング可能のROM（以後
PROMとする）を８個含み、各PROMは補正係
数Ｃ１乃至Ｃ８の一つに対応する。PROM段１
５０，１５２，１５４及び１５６はそれぞれＸ補
正係数Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３およびＣ４の一つを送り
出すもので制御線１０４および１０６上の情報
XUおよびYUの上位の４ビツトを表わすＸおよ
びＹ座標信号によつてアドレスされる。
PROM段１５０，１５２，１５４および１５
６はそれぞれ4K×８ビツトの電子プロミング可
能のROMであつてイメージ現象のＸ，Ｙ座標ア
ドレス信号に対応してアレイとして蓄積される補
正係数を与える。これらの補正係数はオフ・ライ
ン・テスト、測定および分析過程において計算さ
れ、カメラ面にあるピクセルと呼ばれている4096
個のユニツトセルのアレイに対応して4096個のア
レイ点を持つ64×64アレイに配置される。しかし
64×64アレイは正方形であるのに対してカメラ面
は円形であつて実際に求められる補正係数の数は
4096以下であるから一つの実施例としてPROM
１５０乃至１５４はそれぞれ８ビツトの情報を含
むデータ語の4k＝4000データワードメモリを備
えるものとする。
６はそれぞれ4K×８ビツトの電子プロミング可
能のROMであつてイメージ現象のＸ，Ｙ座標ア
ドレス信号に対応してアレイとして蓄積される補
正係数を与える。これらの補正係数はオフ・ライ
ン・テスト、測定および分析過程において計算さ
れ、カメラ面にあるピクセルと呼ばれている4096
個のユニツトセルのアレイに対応して4096個のア
レイ点を持つ64×64アレイに配置される。しかし
64×64アレイは正方形であるのに対してカメラ面
は円形であつて実際に求められる補正係数の数は
4096以下であるから一つの実施例としてPROM
１５０乃至１５４はそれぞれ８ビツトの情報を含
むデータ語の4k＝4000データワードメモリを備
えるものとする。
同様にＹ座標補正係数Ｃ５乃至Ｃ８はそれぞれ
４個のPROM１５８，１６０，１６２および１
６５の一つに蓄積される。これらのPROMには
データ・ライン１０４と１０６からのアドレス入
力を受けイメージ現象座標位置信号に応じて係数
Ｃ５乃至Ｃ８を出力信号として送り出す。
４個のPROM１５８，１６０，１６２および１
６５の一つに蓄積される。これらのPROMには
データ・ライン１０４と１０６からのアドレス入
力を受けイメージ現象座標位置信号に応じて係数
Ｃ５乃至Ｃ８を出力信号として送り出す。
補間装置１１２は補正係数メモリ１０８の
PROM１５０乃至１６４から送られた補正係数
信号のそれぞれに対して一つの８ビツト乗算DA
変換器（以後MDACとする）を含む。従つて
PROM１５０，１５２，１５４および１５６か
らの係数Ｃ１乃至Ｃ４はそれぞれMDAC１７０，
１７２，１７４および１７６の対応するものに送
られ、PROM１５８，１６０，１６２および１
６４からの係数Ｃ５乃至Ｃ８はそれぞれMDAC
１７８，１８０，１８２および１８４の対応する
ものに送られる。
PROM１５０乃至１６４から送られた補正係数
信号のそれぞれに対して一つの８ビツト乗算DA
変換器（以後MDACとする）を含む。従つて
PROM１５０，１５２，１５４および１５６か
らの係数Ｃ１乃至Ｃ４はそれぞれMDAC１７０，
１７２，１７４および１７６の対応するものに送
られ、PROM１５８，１６０，１６２および１
６４からの係数Ｃ５乃至Ｃ８はそれぞれMDAC
１７８，１８０，１８２および１８４の対応する
ものに送られる。
各MDACの入力となるスケーリング信号は補
間装置１１２において二変数補間操作によつて作
られる。この補間装置は８個の８ビツトMDAC
を含みそのデイジタル入力端には第６図に示すよ
うにＸ座標情報XLの低重要度の６ビツトRXが
AD変換器１００からデータ・ライン１１４を通
して送られる。MDAC１９０のスケーリング用
アナログ入力はエネルギー修正信号ZVRである。
従つてMDAC１９０の出力はアナログデータ関
数ZVRRXを表わす。同様に補間装置１１２は
MDAC１９２を含みそのデイジタル入力端はＹ
座標情報YLの低重要度６ビツトRYをデータライ
ン１１６を通して受取る。MDAC１９２のスケ
ーリング用アナログ入力はエネルギー修正信号
ZVRである。従つてMDAC１９２の出力はアナ
ログデータ関数ZVRRYとなる。MDAC１９０の
アナログ出力ZVRRXはMDAC１９４の乗算アナ
ログ入力端に導かれ、MDAC１９４のデイジタ
ル入力端にはデータ・ライン１１６のRY信号が
導かれるからMDAC１９４の出力はZVRRXRYと
なる。
間装置１１２において二変数補間操作によつて作
られる。この補間装置は８個の８ビツトMDAC
を含みそのデイジタル入力端には第６図に示すよ
うにＸ座標情報XLの低重要度の６ビツトRXが
AD変換器１００からデータ・ライン１１４を通
して送られる。MDAC１９０のスケーリング用
アナログ入力はエネルギー修正信号ZVRである。
従つてMDAC１９０の出力はアナログデータ関
数ZVRRXを表わす。同様に補間装置１１２は
MDAC１９２を含みそのデイジタル入力端はＹ
座標情報YLの低重要度６ビツトRYをデータライ
ン１１６を通して受取る。MDAC１９２のスケ
ーリング用アナログ入力はエネルギー修正信号
ZVRである。従つてMDAC１９２の出力はアナ
ログデータ関数ZVRRYとなる。MDAC１９０の
アナログ出力ZVRRXはMDAC１９４の乗算アナ
ログ入力端に導かれ、MDAC１９４のデイジタ
ル入力端にはデータ・ライン１１６のRY信号が
導かれるからMDAC１９４の出力はZVRRXRYと
なる。
ZVRRX，ZVRRYおよびZVRRXRYとして表わ
されたMDAC１９０，１９２および１９４から
の信号関数はそれぞれ次のように補間装置１１２
のMDACに導かれる。即ちZVR信号は補正係数
Ｃ１とＣ５に対応するスケーリング用として
MDAC１７０と１７８に導かれ、ZVRRY信号は
MDAC１７４および１８２の乗算入力端に導か
れ、ZVRRX信号はMDAC１７２および１８０の
乗算入力端に導かれ、ZVRRXRYはMDAC１７６
および１８４の乗算入力端に導かれる。
されたMDAC１９０，１９２および１９４から
の信号関数はそれぞれ次のように補間装置１１２
のMDACに導かれる。即ちZVR信号は補正係数
Ｃ１とＣ５に対応するスケーリング用として
MDAC１７０と１７８に導かれ、ZVRRY信号は
MDAC１７４および１８２の乗算入力端に導か
れ、ZVRRX信号はMDAC１７２および１８０の
乗算入力端に導かれ、ZVRRXRYはMDAC１７６
および１８４の乗算入力端に導かれる。
MDAC１７０，１７２，１７４および１７６
のアナログ出力は和算回路（アナログ組合せ器）
２００に導かれ、前述のΔXに対する関係式に従
つてエネルギー修正信号ZVRによつて修正され
たアナログ補正係数ΔXを作る。このΔX信号は
和算ゲート７２に加えられる。同様にMDAC１
７８，１８０，１８２および１８４のアナログ出
力は和算回路（組合せ器）２０２に導かれそこで
補正係数ΔYを作る。
のアナログ出力は和算回路（アナログ組合せ器）
２００に導かれ、前述のΔXに対する関係式に従
つてエネルギー修正信号ZVRによつて修正され
たアナログ補正係数ΔXを作る。このΔX信号は
和算ゲート７２に加えられる。同様にMDAC１
７８，１８０，１８２および１８４のアナログ出
力は和算回路（組合せ器）２０２に導かれそこで
補正係数ΔYを作る。
上記の実施例に対しては種々の変更を加えるこ
とができる。例えば空間ひずみ補正装置１１とそ
の修正装置１３の代りにZVR信号と係数Ｃ１乃
至Ｃ８の間の関係を求め補正係数ΔXおよびΔY
を作る各種のデイジタルおよびアナログ計算機、
関数発生器を使用することができる。更に第５図
に示したひずみ補正の修正装置１３は広い範囲の
動作条件の下に安定に動作し直線性と精確性を示
すように構成されているがZVRとZCの間に適正
な関係を作るためにはこの実施例以外の構成も可
能である。一つの実施例では空間ひずみ補正修正
装置１３が補正されたエネルギー信号ZCを利用
し、更に別の実施例では出力４０としてのエネル
ギー信号が利用される。
とができる。例えば空間ひずみ補正装置１１とそ
の修正装置１３の代りにZVR信号と係数Ｃ１乃
至Ｃ８の間の関係を求め補正係数ΔXおよびΔY
を作る各種のデイジタルおよびアナログ計算機、
関数発生器を使用することができる。更に第５図
に示したひずみ補正の修正装置１３は広い範囲の
動作条件の下に安定に動作し直線性と精確性を示
すように構成されているがZVRとZCの間に適正
な関係を作るためにはこの実施例以外の構成も可
能である。一つの実施例では空間ひずみ補正修正
装置１３が補正されたエネルギー信号ZCを利用
し、更に別の実施例では出力４０としてのエネル
ギー信号が利用される。
第１図はこの発明による空間ひずみ補正方法が
実施されるシンチレーシヨン・カメラ全体のブロ
ツク接続図、第２図は第１図の空間ひずみ補正装
置のブロツク接続図、第３図と第４図は隣接アレ
イ点においての補正係数ベクトルの配置図、第５
図と第６図は第１図、第２図のひずみ補正修正装
置の詳細を示すブロツク接続図、第７図はエネル
ギー値とエネルギー修正係数ZVの対応を示すグ
ラフである。 １０…オン・ライン・エネルギー補正装置、１
１…空間ひずみ補正装置、１２…光電増倍管、１
３…ひずみ補正修正装置、２０，２４，３６，３
８…サンプル・アンド・ホールド段、３０…エネ
ルギー分析回路、４８…窓アナライザ。
実施されるシンチレーシヨン・カメラ全体のブロ
ツク接続図、第２図は第１図の空間ひずみ補正装
置のブロツク接続図、第３図と第４図は隣接アレ
イ点においての補正係数ベクトルの配置図、第５
図と第６図は第１図、第２図のひずみ補正修正装
置の詳細を示すブロツク接続図、第７図はエネル
ギー値とエネルギー修正係数ZVの対応を示すグ
ラフである。 １０…オン・ライン・エネルギー補正装置、１
１…空間ひずみ補正装置、１２…光電増倍管、１
３…ひずみ補正修正装置、２０，２４，３６，３
８…サンプル・アンド・ホールド段、３０…エネ
ルギー分析回路、４８…窓アナライザ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ イメージ現象位置座標信号Ｘ，Ｙとイメージ
現象エネルギー信号ZCとを作るシンチレーシヨン
カメラに対し、オフ・ライン過程中は予め与えら
れた規準エネルギーレベルZREFを持つたイメージ
現象に応答して補正係数が求められ記憶され、オ
ン・ライン診断過程においては記憶された補正係
数に相応して補正されたイメージ現象位置座標信
号が作られるシンチレーシヨンカメラの空間ひず
み修正方法において、オン・ライン診断過程は、 ａ オフ・ライン過程の規準エネルギーレベル
ZREFとは異なる種々のイメージ現象エネルギー
レベルに対するシンチレーシヨンカメラの空間
ひずみの特性が測定される ｂ 空間ひずみの測定された特性から、エネルギ
ーレベルの減少とともに増加する空間ひずみ度
を考慮した空間ひずみパターンが形成される ｃ 所属のイメージ現象エネルギー信号ZCが規準
エネルギーレベルZREFに比較して異なるエネル
ギーレベルを持つ場合には、形成された空間ひ
ずみパターンに関係して、各イメージ現象にお
いてエネルギーレベル補正されたイメージ現象
位置座標信号XC，YCが生じるようにイメージ
現象位置座標信号の補正が変調される の各プロセスを含むことを特徴とするシンチレー
シヨンカメラの空間ひずみ修正方法。 ２ イメージ現象位置座標信号Ｘ，Ｙとイメージ
現象エネルギー信号ZCとを作り、空間ひずみのた
めの補正装置１１を含むシンチレーシヨンカメラ
を備え、補正装置１１は記憶された空間ひずみ補
正係数とともに補正されたイメージ現象位置座標
信号を作り、補正係数はオフ・ライン診断過程中
予め選ばれた規準エネルギーレベルZREFを持つイ
メージ現象に応答して求められ記憶されるシンチ
レーシヨンカメラの空間ひずみ修正装置におい
て、修正装置１１は、オフ・ライン過程の規準エ
ネルギーレベルZREFとは異なる種々のイメージ現
象エネルギーレベルのシンチレーシヨンカメラの
空間ひずみ特性測定および測定された空間ひずみ
特性からエネルギーレベル減少とともに増加する
空間ひずみを考慮した空間ひずみパターン形成の
ための信号変化ユニツト１３を含み、信号変化ユ
ニツト１３は形成された空間ひずみパターンと関
係して、所属のイメージ現象エネルギー信号ZCが
規準エネルギーレベルZREFに比較して異なるエネ
ルギーレベルを持つ限り、各イメージ現象におい
てエネルギーレベル補正されたイメージ現象位置
座標信号XC，YCが生じるようにイメージ現象位
置座標信号の補正を変調するようになつているこ
とを特徴とするシンチレーシヨンカメラの空間ひ
ずみ修正装置。 ３ 信号変更ユニツト１３は形成された空間ひず
みパターンに関係して次式 ZYR＝kVR＋（１−Ｋ）〔K1・（ZREF）−ZC）〕 によりエネルギーに関係する修正信号ZVRを形
成するようになつており、Ｋは分割係数、VRは
基準電圧、KVRはオフ・ライン過程におけるエ
ネルギーレベルが規準エネルギーレベルZREFを有
するときの信号変更ユニツト１３の所望の出力信
号、K1は増幅率であることを特徴とする特許請
求の範囲第２項記載の装置。 ４ 信号変更ユニツト１３はエネルギーに関係す
る修正信号ZVRを形成するため３つの増幅器１
２８，１３２，１３８を有し、その第１の増幅器
１２８は出力増幅器として入力側に規準電圧VR
の部分Ｋを供給され、この部分Ｋはポテンシヨメ
ータ１２４により設定され、規準エネルギーレベ
ルZREFの値を有するイメージ現象エネルギー信号
ZCに対し、第１の増幅器１２８に値ZVR＝KVR
を有する所望の出力信号が生じるようになつてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の
装置。 ５ 第２の増幅器１３２は基準電圧VRを供給さ
れ、第２の増幅器１３２は出力側で第３の増幅器
の入力端と接続され、第３の増幅器１３８の入力
端にはさらにイメージ現象エネルギー信号ZCが導
かれることを特徴とする特許請求の範囲第４項記
載の装置。 ６ 第２の増幅器１３２の出力端と第３の増幅器
１３８の入力端との間に可変抵抗１３６が挿入さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第５項
記載の装置。 ７ 第３の増幅器１３８はその出力端と入力端と
の間のフイードバツク回路中に可変抵抗１４２を
有し、その抵抗値Rfは増幅器入力抵抗１４０の
抵抗値Riとともに第３の増幅器１３８の増幅係数
を式｜K1｜＝Rf／Riに従い確定することを特徴
とする特許請求の範囲第６項記載の装置。 ８ 第３の増幅器１３８は式ZM＝K1（ZREF−ZC）
に従う出力信号を供給することを特徴とする特許
請求の範囲第７項記載の装置。 ９ オン・ライン診断過程において、第３の増幅
器１３８の出力信号ZMが第１の増幅器１２８の
入力信号KVRにポテンシヨメータ１２４によつ
て重量されることを特徴とする特許請求の範囲第
８項記載の装置。 １０ 信号変更ユニツト１３のエネルギーに関係
する修正信号ZVRが補正係数とともに補間装置
１１２に導かれ、この補間装置１１２は変更され
た補正係数ΔX，ΔYを供給することを特徴とす
る特許請求の範囲第３〜９項のいずれか１項記載
の装置。 １１ 補正係数補間装置１１２には補正係数を記
憶するための補正係数メモリ１０８のほかにAD
変換器回路１００，１０２が設けられ、このAD
変換器回路１００，１０２はＸ方向に対する補正
されないイメージ現象位置座標信号Xaのための
第１のアナログ入力端とＹ方向に対する修正され
ないイメージ現象位置座標信号Yaのための第２
のアナログ入力端とを含み、このAD変換器回路
１００，１０２は修正されない両イメージ現象位
置座標信号Xa，Yaからデイジタルデータより成
る合わせて４つの出力情報XL，YL，XU，YUを作
り、修正されないイメージ現象位置座標信号Xa，
YaのＸ方向成分の最高値データビツトを含む第
１の出力情報XUと、修正されないイメージ現象
位置座標信号Xa，YaのＹ方向成分の最高値デー
タビツトを含む第２の出力情報YUとは補正係数
メモリ１０８のアドレス入力端に直接導かれ、Ｘ
方向成分の最低値データビツトを含む第３の出力
情報XLとＹ方向成分の最低値データビツトを含
む第４の出力情報YLは補正成分Rx，Ryとして補
正係数補間装置１１２に直接導かれることを特徴
とする特許請求の範囲第１０項記載の装置。 １２ 補正係数補間装置１１２は次の補正操作を
行つてアナログ型の修正された補正係数ΔXと
ΔYとを出力し、 ΔX＝〔C1＋C2Rx＋C3Ry＋C4RXRY〕・ZVR ΔY＝〔C5＋C6Rx＋C7Ry＋C8RXRY〕・ZVR ここでC1〜C8はある数のユニツトセルから構
成されたマトリツクスの各ユニツトセルに属する
予め与えられた補正係数であり、ユニツトセルの
各接続点に対し、Ｘ成分V1X，V2X，V3X，V4Xお
よびＹ成分V1Y，V2Y，V3Y，V4Yを有する補正係
数ベクトルＶ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４が補正係数メ
モリ１０８に記憶され、ZVRはエネルギーに関
係する修正信号であり、RX，RYはユニツトセル
内の当該イメージ現象の座標を表すものであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１１項記載の装
置。 １３ 補正係数補間装置１１２内に乗算DA変換
器１７０〜１８４；１９０〜１９４および和算回
路２００，２０２が設けられ、この変換器および
和算回路は修正された補正係数ΔX，ΔYを補間
操作後補正係数C1〜C8および座標RX，RYの乗算
および和算によつて合成するものであることを特
徴とする特許請求の範囲第１２項記載の装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/096,182 US4316257A (en) | 1979-11-20 | 1979-11-20 | Dynamic modification of spatial distortion correction capabilities of scintillation camera |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5686378A JPS5686378A (en) | 1981-07-14 |
| JPH0119111B2 true JPH0119111B2 (ja) | 1989-04-10 |
Family
ID=22256131
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16253480A Granted JPS5686378A (en) | 1979-11-20 | 1980-11-18 | Method and device for correcting space strain for scintillation camera |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4316257A (ja) |
| EP (1) | EP0029569B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5686378A (ja) |
| DE (1) | DE3072077D1 (ja) |
| DK (1) | DK492580A (ja) |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2479990A1 (fr) | 1980-04-04 | 1981-10-09 | Labo Electronique Physique | Dispositif electronique de correction des defauts de linearite d'une camera de gammagraphie de type anger |
| JPS57570A (en) * | 1980-06-02 | 1982-01-05 | Toshiba Corp | Scintillation camera device |
| US4432059A (en) * | 1980-09-03 | 1984-02-14 | Elscint Ltd. | Scanning gamma camera |
| US4566074A (en) * | 1981-10-08 | 1986-01-21 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Scintillation camera |
| US4466075A (en) * | 1981-11-23 | 1984-08-14 | Siemens Gammasonics, Inc. | Motion correction circuitry and method for a radiation imaging device |
| US4611283A (en) * | 1981-12-30 | 1986-09-09 | Raytheon Company | Radiographic imaging apparatus and methods for operating such apparatus |
| US4528639A (en) * | 1982-10-29 | 1985-07-09 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method of and apparatus for generating an inerstitial point in a data stream having an even number of data points |
| US4583187A (en) * | 1983-02-02 | 1986-04-15 | Siemens Gammasonics, Inc. | Method and circuit for stabilizing conversion gain of radiation detectors of a radiation detection system |
| US4575810A (en) * | 1983-03-11 | 1986-03-11 | Siemens Gammasonics, Inc. | Method and circuit for processing pulses by applying the technique of weighted acquisition |
| JPS61110078A (ja) * | 1984-11-02 | 1986-05-28 | Toshiba Corp | 核医学デ−タ処理装置 |
| CA1280224C (en) * | 1987-08-27 | 1991-02-12 | Daniel Gagnon | Method and circuit for processing narrow band signals located in a wide band having disturbance |
| JP3165861B2 (ja) * | 1990-06-12 | 2001-05-14 | セイコープレシジョン株式会社 | カメラの特性誤差補正装置 |
| US5171998A (en) * | 1990-06-14 | 1992-12-15 | Engdahl John C | Gamma ray imaging detector |
| US5354991A (en) * | 1993-03-01 | 1994-10-11 | The United States Of America As Represented By The Unites States Department Of Energy | Apparatus and method for detecting full-capture radiation events |
| US5345082A (en) * | 1993-03-22 | 1994-09-06 | Sopha Medical Systems, Inc. | Scintillation camera utilizing energy dependent linearity correction |
| US5338937A (en) * | 1993-06-14 | 1994-08-16 | Sloan-Kettering Institute For Cancer Research | Radiation imaging device having an enlarged uniform field of view |
| US5576547A (en) * | 1993-07-27 | 1996-11-19 | Park Medical Systems Inc. | Position calculation and energy correction in the digital scintillation camera |
| US5504333A (en) * | 1994-07-29 | 1996-04-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Scintillation camera |
| US6002434A (en) * | 1997-01-14 | 1999-12-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Registration correction waveform determination method and system for a television camera |
| US7417232B2 (en) * | 2005-06-17 | 2008-08-26 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Systems and methods for camera calibration |
| US7208739B1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-04-24 | General Electric Company | Method and apparatus for correction of pileup and charge sharing in x-ray images with energy resolution |
| WO2012065130A2 (en) * | 2010-11-12 | 2012-05-18 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Radiation detection system and a method of using the same |
| CN112525107B (zh) * | 2020-11-24 | 2022-09-09 | 浙江知象光电科技有限公司 | 一种基于事件相机的结构光三维测量方法 |
| CN112882084B (zh) * | 2021-01-18 | 2022-05-24 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 非线性在线修正方法、系统及计算机可读存储介质 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3745345A (en) * | 1971-11-09 | 1973-07-10 | Nuclear Chicago Corp | Radiation imaging device |
| US3872434A (en) * | 1973-12-05 | 1975-03-18 | Recognition Equipment Inc | Dynamic sample-by-sample automatic gain control |
| US4157533A (en) * | 1977-11-25 | 1979-06-05 | Recognition Equipment Incorporated | Independent channel automatic gain control for self-scanning photocell array |
| US4212061A (en) * | 1977-12-21 | 1980-07-08 | Medtronic, Inc. | Radiation signal processing system |
| US4298944A (en) * | 1979-06-22 | 1981-11-03 | Siemens Gammasonics, Inc. | Distortion correction method and apparatus for scintillation cameras |
-
1979
- 1979-11-20 US US06/096,182 patent/US4316257A/en not_active Expired - Lifetime
-
1980
- 1980-11-17 EP EP80107129A patent/EP0029569B1/de not_active Expired
- 1980-11-17 DE DE8080107129T patent/DE3072077D1/de not_active Expired
- 1980-11-18 JP JP16253480A patent/JPS5686378A/ja active Granted
- 1980-11-19 DK DK492580A patent/DK492580A/da not_active Application Discontinuation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5686378A (en) | 1981-07-14 |
| DK492580A (da) | 1981-05-21 |
| EP0029569B1 (de) | 1988-02-10 |
| EP0029569A1 (de) | 1981-06-03 |
| US4316257A (en) | 1982-02-16 |
| DE3072077D1 (en) | 1988-03-17 |
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