Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH0129403B2 - - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH0129403B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0129403B2
JPH0129403B2 JP18875182A JP18875182A JPH0129403B2 JP H0129403 B2 JPH0129403 B2 JP H0129403B2 JP 18875182 A JP18875182 A JP 18875182A JP 18875182 A JP18875182 A JP 18875182A JP H0129403 B2 JPH0129403 B2 JP H0129403B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scale
constant pressure
pressure spring
attached
protection device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP18875182A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5979108A (ja
Inventor
Hideo Sakata
Koji Yoda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP18875182A priority Critical patent/JPS5979108A/ja
Priority to US06/539,361 priority patent/US4551919A/en
Priority to DE3338752A priority patent/DE3338752C2/de
Publication of JPS5979108A publication Critical patent/JPS5979108A/ja
Publication of JPH0129403B2 publication Critical patent/JPH0129403B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/002Details

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、二次元測定機、三次元測定機、形状
測定機等のような測定機あるいは工作機械等のよ
うに、スケールを有する第1部材と、変位検出ユ
ニツトを有する第2の部材とが相対変位可能とさ
れた機器に用いられるスケールの保護装置に関す
る。
一般に、この種機器においては、第1、第2部
材の相対変位量を高精度に測定するため、ガラス
スケール、磁気スケール、金属板反射型スケール
等の高精度加工されたスケールが用いられ、この
高精度を維持するためにはスケールの表面を保護
する必要がある。すなわち、操作員の接触による
油の付着、鉄屑、塵芥等の推積、工具等の当接に
よる損傷が生じると所望の測定精度を得られな
い。
このため、従来の機器にあつてはスケール表面
の保護装置が設けられている。しかし、従来の装
置によると摺動抵抗の増大に伴なう測定精度の低
下、組立、分解の困難さ等が生じるという問題が
あつた。例えば、実公昭39−32506号公報及び実
公昭56−35765号公報によれば、一枚の帯状部材
を用い、この帯状部材をラツクあるいはスケール
の長手方向に沿つて渡設し、この帯状部材はスケ
ール等に相対移動可能に設けられた摺動台あるい
はスライダ内を貫通して配置され、かつ、この帯
状部材を渡設時の張力によりスケール収納ケース
面あるいはスケール面に密着させる構造が示され
ている。しかし、これらの公知の構造では、ケー
スあるいはスケールと一体の帯状部材を用いてい
るため、密着力を強めるためには張力を大きくす
る必要があり、これはスライダの摺動抵抗を過大
にするとともに、移動方向反転時の戻り誤差の発
生原因となつていた。また、帯状部材の板厚に直
交する方向のスライダ等の厚さを増大させて装置
を大型化させ、かつ、その構造も複雑となつて組
立、分解に不便なばかりでなく、スケールの点検
も不便となつていた。さらに、帯状部材の温度変
化による伸縮、振動による離反等によつてケース
との間に隙間が生じたり、帯状部材のたるみでス
ライダの移動を阻害する可能性があるという問題
点もあつた。
本発明の目的は、スケールの保護を有効に行な
えるとともに、スケールを有する第1部材と変位
検出ユニツトを有する第2部材との相対移動時の
摺動抵抗が少なく、かつ、その組立、分解も容易
なスケールの保護装置を提供するにある。
本発明は、スケールを有する第1部材に一端が
取付けられるとともに、他端が第2部材に設けら
れた巻取装置に巻取可能にされた帯状の定圧ばね
によりスケールの保護装置を構成し、これにより
第1、第2部材の相対移動時に定圧ばねをスケー
ルに沿つて伸延もしくは巻取装置に巻取るように
して摺動抵抗を少なくし、かつ、この巻取り構造
によつて定圧ばねを第2部材内に貫通させないよ
うにして全体構造を簡単にし、組立、分解を容易
にして前記目的を達成しようとするものである。
以下、本発明を三次元測定機に適用した一実施
例を図面に基づいて説明する。
第1図及び第2図の全体構成図において、石定
盤からなる基台1の上面には複数の被測定物取付
用ねじ穴2が設けられるとともに、その長手方向
に直交する前後の端面に断面L字形の把手3がそ
れぞれ設けられている。この基台1の左右の両側
面には第1部材としての2本の案内レール4,5
が複数の植込軸6を介して取付けられ、これらの
案内レール4,5は、基台1の長手方向(Y軸線
方向)長さより長く形成されるとともに、基台1
の上面より下方であつてこの上面に平行かつ基台
1の側面から突出して設けられている。また、両
案内レール4,5は、円柱の両側を平行に削り落
して長手方向に直交する断面形状が円弧部分及び
直線部分からなる略小判形となるようにされ(第
3図参照)、さらに、一方すなわち第1図中手前
の案内レール4の外側面には、該案内レール4の
長手方向に沿つて形成された溝4A内に、μmオ
ーダの縦縞状目盛を形成された長尺のスケール7
がスケール面を垂直にして貼付され(第3,4図
参照)、このスケール7の表面は後述するスケー
ル保護装置8により保護されている。
前記両側の案内レール4,5には、第2部材と
しての測定子支持部材9が両案内レール4,5の
長手方向に沿つてY軸線方向往復動自在に支持さ
れている。この測定子支持部材9は、一対の支柱
10と、これらの支柱10間に固定的に取付けら
れた寸法規制軸11と、前記支柱10の上部間に
おいて位置調整ブロツク12を介して取付けられ
た一対のX軸13と、この一対のX軸13に沿つ
て摺動自在に支持されたXスライダ14と、この
Xスライダ14に傾斜可能に取付けられたスピン
ドル支持体15と、このスピンドル支持体15に
Z軸線方向摺動自在に支持されたスピンドル(Z
スライダ)16とから構成され、この測定子支持
部材9のスピンドル16の下端に測定子17が着
脱可能に支持され、この測定子17の被測定物1
8に対する三次元的変位量が、前記スケール7と
支柱下部に組込まれた後述する変位検出器33
(第4図参照)とのY方向変位量、前記X軸13
に設けられた図示しないスケールとXスライダ1
4内に設けられ図示しない変位検出器とのX方向
変位量及び前記スピンドル16に設けられたスケ
ール19とスピンドル支持体15内に設けられた
図示しない変位検出器とのZ方向変位量として検
出されるようになつている。
前記一方の案内レール4の両端にはシヨツクア
ブゾーバ20がそれぞれ取付けられるとともに、
他方の案内レール5の両端には案内レール5より
大径のストツパ21が取付けられ、これらのシヨ
ツクアブゾーバ20及びストツパ21により測定
子支持部材9の案内レール4,5からの脱落が防
止されている。
第3図及び第4図には、測定子支持部材9の支
柱10の下部における支柱10と案内レール4と
の係合部の詳細構造が示されている。これらの図
において、支柱10の下部には支持ブロツク22
が設けられ、この支持ブロツク22には、前記案
内レール4の外側面すなわちスケール7が貼付さ
れた側の平面部に当接転動される上下一対のロー
ラ23が支持軸24を介して回転自在に支持され
ている。この支持軸24の外周において、前記一
対のローラ23間には第1の円筒部材としてのス
ペーサ25が介装されるとともに、このスペーサ
25の外周には第2の円筒部材としての糸巻状カ
ラー26が被嵌され、このスペーサ25により両
ローラ23間の寸法が保持されるとともに、弗素
樹脂等の低摩擦材からなる前記糸巻状カラー26
によりローラ23の回転の円滑さが保持されてい
る。この際、支持軸24、スペーサ25及びカラ
ー26により巻取装置27が構成されている。こ
の巻取装置27のカラー26の外周には、一端を
前記シヨツクアブゾーバ20に取付けられたスケ
ール保護装置8の他端が巻取り可能に取付けられ
ている。この保護装置8は、ぜんまい状に巻回さ
れた定圧ばねからなる帯状部材で構成されてい
る。ここにおいて、保護装置8を構成する定圧ば
ねの自由状態の縮径内径は、前記カラー26の定
圧ばね巻取り部外径より小さくなるように設計さ
れ、定圧ばねの特性を利用して自動巻き取けがで
きるようになつている。
また、支持ブロツク22には、前記案内レール
4の上下の円筒面に当接転動される上下のローラ
29,30が支持軸31,32を介して回転自在
に支持されている。これらのローラ29,30及
び前記一対のローラ23により案内レール4を
120度方向から挾持して支持ブロツク22すなわ
ち測定子支持部材9を案内レール4に沿つて円滑
に摺動させうるようになつている。また、これら
のローラ29,30、及び23からなるローラ群
は、支持ブロツク22すなわち測定子支持部材9
の案内レール4の長手方向に沿つた両側に各1組
設けられている。この際、両側とは必ずしも両端
でなくともよく、第4図図示のものは、右側の一
組は支柱10の比較的中央に寄つた位置に描かれ
ているが、図示しない右端近傍に設けてもよく、
要するに支持ブロツク22に少なくとも2組設け
られていればよい。また、第4図中右側のローラ
群中、上下一対のローラ23の支持軸24にも前
述と同様に第1の円筒部材としてのスペーサ25
及び第2の円筒部材としての糸巻状カラー26が
嵌着されており、これらの支持軸24、スペーサ
25及びカラー26により同じく巻取装置27が
構成され、結局、巻取装置27は支持ブロツク2
2の案内レール長手方向に2個設けられ、右側の
巻取装置27にも、一端を第2図中右側のシヨツ
クアブゾーバ20に固定された帯状定圧ばねから
なるスケール保護装置8の他端が巻取られてい
る。従つて、両巻取装置27に他端を巻取られた
スケール保護装置8の一端側はそれぞれ案内レー
ル4に貼付されたスケール7の表面に沿つて左右
に伸延され、スケール7を保護するようにされ、
測定子支持部材9の案内レール4に沿つた動きに
伴ない一方の定圧ばねは伸延され、他方の定圧ば
ねは巻取装置27に巻取られるようになつてい
る。さらに、両スケール保護装置8を構成する定
圧ばねは、ほぼ均等のばね特性とされ、測定子支
持部材9の左右いずれへの移動もほぼ等しい力で
行なえるようになつている。
前記支持ブロツク22には、第4図の概略構成
図に示されるように、測定子支持部材9のY軸線
方向の移動量を計測するY方向変位量検出装置を
前記スケール7と共に構成する変位検出ユニツト
33が設けられている。このユニツト33は、ガ
ラスなどの透明板に前記スケール7と同様な目盛
を形成されたインデツクススケール34と、この
インデツクススケール34を介してスケール7の
表面に光を当てる発光素子35と、この発光素子
35から発射されスケール7で反射された光を受
光する受光素子36とから構成され、両スケール
7,34の相対移動に基づく両目盛の明暗による
受光量の変化によつて受光素子36に発生するサ
イン波状の電流で、支持部材9のY方向移動変位
量が計測できるようになつている。この際、発光
素子35と受光素子36との光軸はV字状になる
よう配置され、発光素子35の光がスケール7で
反射して確実に受光素子36に到達するようにさ
れている。
第5図及び第6図には前記シヨツクアブゾーバ
20の詳細構造が示され、これらの図において、
アブゾーバ20は次のように構成されている。す
なわち、案内レール4の端部に摺動自在に係合さ
れるとともに案内レール4の端部に形成された段
部端面4Bに当接可能な内周突部37Aを有する
略筒状の移動子37と、案内レール4の端部にね
じ込まれるとともに外周が移動子37の内周にほ
ぼ摺接するようにされたばね受け38と、このば
ね受け38と移動子37の内周突部37Aとの間
に介装され移動子37を常時段部端面4Bに当接
するよう付勢する圧縮ばね39とから構成され、
移動子37に測定子支持部材9が当接された際、
ばね39が撓むことにより支持部材9の受ける衝
撃が少なくなるようにされている。
また、定圧ばねからなるスケール保護装置8の
一端部は、ブツシユ40とナツト41との間に挾
持され、ボルト42によりシヨツクアブゾーバ2
0の移動子37に固定されている。
なお、第1図中左後方の案内レール5と測定子
支持ブロツク9との係合は、案内レール5の上下
の円筒面に180度方向から当接される一対のロー
ラからなる複数対のローラ(図示せず)によりな
され、支持部材9は全体として円滑にY軸線方向
に移動できるようにされている。
このように構成された本実施例を用いて被測定
物18の形状等を測定する場合は、従来一般の三
次元測定機と全く同様に、スピンドル16の下端
を把持し、測定子17を被測定物18の所定箇所
に順次当接させ、この時の測定子17のX,Y,
Z軸線方向の変位量を変位量検出ユニツト33等
で検出して行なう。この際、スケール7は常に保
護装置8で覆われ、油等による汚損あるいは工具
等の当接による破損等は有効に防止される。
上述のような本実施例によれば、次のような効
果がある。すなわち、スケール保護装置8として
一端をぜんまい状に巻かれた帯状の定圧ばねを用
い、この保護装置8を、スケール7を有する案内
レール4の両端部と測定子支持部材9の両側との
間に各1個、計2個用いたから、測定子支持部材
9の摺動の円滑さを保ちつつ十分なスケール保護
を行なうことができる。また、両保護装置8はほ
ぼ均等の特性を有するように構成されているか
ら、支持部材9のいずれの方向への移動もほぼ均
等に行なえ、かつ、自動化の際支持部材駆動装置
の負荷を一定にできて自動化上有利にできる。さ
らに、保護装置8は左右別々に設けたから、従来
のように変位量検出器33を迂回させる必要がな
く、内部構造を簡単にでき、組立、分解が容易と
なる。また、巻取装置27は案内レール4に支持
部材9を係合させるローラ23の支持軸24を利
用して構成したから、この点からも構造を簡単に
でき、かつ、小型化でき、さらに、スケール面と
の間隙を保障できる。
また、巻取装置27には、第2の円筒部材とし
ての糸巻状カラー26が設けられているから、こ
のカラー26の巻付部外径を適宜に設定すること
により、定圧ばねからなる保護装置8とスケール
面とを適宜な間隔に設定できる。さらに、このカ
ラー26の糸巻のフランジ部により定圧ばねが上
下のローラ23に当接することを防止でき、騒音
の発生、回転の不調を有効に防止できる。また、
カラー26は低摩擦材から形成されているから、
カラー26とスペーサ25とは常に円滑に回転で
き、従つて定圧ばねの巻付き力を大きくしてもば
ね巻付きによる支持部材9の移動の阻害を生ずる
ことがない。
さらに、定圧ばねの一端、自由端側をシヨツク
アブゾーバ20の移動子37に取付けたから、ア
ブゾーバとしての機能を損うことなく移動子37
の回転止めをできる。また、支持部材9の組立、
分解の際、高精度に設定されたスケール7の取外
し等を必要とすることがなく、便利であり、か
つ、移動子37が一端に固定されたことにより分
解時に定圧ばねの開放端が巻取装置27内に完全
に巻込まれることがなく、この点からも分解時の
作業を円滑に行なえる。
また、スケール保護部材8を構成する定圧ばね
の自由端をスケール7側に、巻取端を検出ユニツ
ト33側に取付けたから、前述のようにローラ2
3の支持軸24の利用が可能になつて巻取装置2
7用の特別な軸を設ける必要がないばかりでな
く、自由端固定部に発生する定圧ばねの折れ曲が
りでスケール面を傷つけることがない。すなわ
ち、実施例とは逆に、検出ユニツト33側に自由
端を固定すると、この固定部に生じる曲がり部が
スケール7に対し常に相対移動することとなつて
スケール面を損傷する可能性があるからである。
さらに、定圧ばねの巻取側自然巻込径(初期巻
込径)を糸巻状カラー26の巻込部外径より小さ
くすることにより、巻きゆるみによる定圧ばねの
たるみを防止して直線性を維持でき、スケール7
等を傷つけることを有効に防止でき、かつ、円滑
な引出しを保障できる。
また、スケール7はスケール面を垂直にして案
内レール4に取付けられ、定圧ばねもこれに平行
に設けられているから、スケール面を水平上向き
に設ける場合と異なり、定圧ばねのたるみによる
スケール面への接触さらにはこの接触による損傷
を有効に防止できる。
なお、実施にあたり、巻取装置27は必ずしも
ローラ23の支持軸24を利用しなくともよい
が、利用すれば前述の利点がある。さらに、巻取
装置27のスペーサ25及びカラー26は、多少
の騒音及び移動の不調を問題としなければ、いず
れか一方あるいは両者共省略してもよい。また、
定圧ばねは左右均等に設けず、両ばねの間に強弱
をもたせ、自由状態において測定子支持部材9を
案内レール4のいずれかの一端側に常に戻すよう
にしてもよい。さらに、スケール7は光学的反射
型スケールに限らず、光透過型スケール、電磁気
的スケール、磁気的スケール、静電容量型スケー
ル、さらには接点スケールなどでもよく、これに
伴ない検出器ユニツト33も当該形式のユニツト
とされるのは勿論である。また、前記実施例では
本発明を三次元測定機に適用した例につき説明し
たが、本発明はこれに限定されるものではなく、
二次元測定機、形状測定機等の大型の測定機のみ
ならず、ノギス、ハイトゲージ、ダイヤルゲージ
等の小型の計測器、あるいは、直線方向の移動を
測定する独立の測長器、例えばリニアスケール
(商標)、さらには工作機械等の摺動部等にも適用
でき、要するに直線方向に相互に移動可能な2物
体の変位量を測定しようとする場合に適用できる
ものである。また、その適用形態は第1部材であ
る案内レール4側が固定されてもあるいは移動さ
れてもよく、要するに第2部材である測定子支持
部材9と相対移動できるものであればよい。
上述のように本発明によれば、スケールの保護
を有効に行なえるとともに、第1、第2部材の摺
動も円滑で、かつ、組立、分解も容易なスケール
の保護装置を提供できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を三次元測定機に適用した一実
施例を示す一部切欠き斜視図、第2図はその平面
図、第3図は本実施例の支持ブロツク内の概略構
成を示す第4図−線に沿う拡大断面図、第4
図は同じく支持ブロツク内の概略構成を示す横断
面図、第5図は本実施例のシヨツクアブゾーバ内
を示す拡大断面図、第6図は第5図の−線に
沿う断面図である。 1……基台、4……第1部材としての案内レー
ル、7……スケール、8……スケール保護装置、
9……第2部材としての測定子支持部材、20…
…シヨツクアブゾーバ、22……支持ブロツク、
23……ローラ、24……支持軸、25……第1
の円筒部材としてのスペーサ、26……第2の円
筒部材としての糸巻状カラー、27……巻取装
置、33……変位検出ユニツト、37……移動
子。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 第1部材に固定されたスケールと、第1部材
    に相対変位可能にされた第2部材に取付けられ第
    1、第2部材の相対変位量をスケールと協働して
    検出する変位検出ユニツトとを備えた機器に設け
    られるスケールの保護装置であつて、一端が第1
    部材側に取付けられるとともに、他端が第2部材
    側に設けられた巻取装置に巻取り可能にされ、第
    1部材と第2部材との相対変位に伴ない前記スケ
    ールの表面に沿つて伸縮する帯状定圧ばねにより
    構成されたことを特徴とするスケールの保護装
    置。 2 特許請求の範囲第1項において、前記巻取装
    置は、第2部材に回転可能に取付けられた円筒部
    材に帯状定圧ばねの他端を巻付け、この帯状定圧
    ばねの巻込み特性により自動巻取可能に構成され
    たことを特徴とするスケールの保護装置。 3 特許請求の範囲第2項において、前記円筒部
    材は、第2部材に取付けられ第1部材に沿つて転
    動するローラの支持軸に回転自在に装着されたこ
    とを特徴とするスケールの保護装置。 4 特許請求の範囲第2項または第3項におい
    て、前記帯状定圧ばねは自由状態における縮巻内
    径が円筒部材の外径よりも小とされたことを特徴
    とするスケールの保護装置。
JP18875182A 1982-10-27 1982-10-27 スケ−ルの保護装置 Granted JPS5979108A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18875182A JPS5979108A (ja) 1982-10-27 1982-10-27 スケ−ルの保護装置
US06/539,361 US4551919A (en) 1982-10-27 1983-10-06 Measuring instrument
DE3338752A DE3338752C2 (de) 1982-10-27 1983-10-25 Meßgerät

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18875182A JPS5979108A (ja) 1982-10-27 1982-10-27 スケ−ルの保護装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5979108A JPS5979108A (ja) 1984-05-08
JPH0129403B2 true JPH0129403B2 (ja) 1989-06-09

Family

ID=16229129

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18875182A Granted JPS5979108A (ja) 1982-10-27 1982-10-27 スケ−ルの保護装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5979108A (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03115807U (ja) * 1990-03-12 1991-12-02
JP5247934B2 (ja) * 2010-11-15 2013-07-24 株式会社アルバック 触針式測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5979108A (ja) 1984-05-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4551919A (en) Measuring instrument
US4170826A (en) Longitudinal measuring device with longitudinally displaceable scale
US6401352B1 (en) Linear measuring machine
US4187614A (en) Tracer head
US20050217130A1 (en) Apparatus for checking the dimensional and geometric features of pins
JP2009540317A (ja) 位置測定装置用の伸長可能な脚部アセンブリ
JP7165417B2 (ja) ポータブル機械の健康診断システム
JPH06123602A (ja) 直線距離測定装置
JPH0129403B2 (ja)
JPS5979102A (ja) 測定機
US3926062A (en) Linear measuring apparatus
WO1993014367A3 (en) Metrological apparatus
JP4803794B2 (ja) リニアエンコーダ
CN214162332U (zh) 一种用于数控轧辊磨床在线c型测量装置
JP3787721B2 (ja) 測定ヘッドにおける接触子の基準点検出方法
CN210718983U (zh) 一种活塞销孔垂直度检具
JP4445644B2 (ja) リニアエンコーダ
FR2627582A1 (fr) Machine a mesurer par coordonnees
JP5237178B2 (ja) 移動機構の防塵装置および測定機
JPH0151922B2 (ja)
CN219776681U (zh) 在线齿轮间隙检测装置
CN220751131U (zh) 一种楼板厚度检测仪
CN218455424U (zh) 一种防止刻度线磨损的木制量尺
CN218822115U (zh) 一种垂直度检测工装
CN113340188A (zh) 一种高精度磁致伸缩传感器