JPH0134746B2 - - Google Patents
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- JPH0134746B2 JPH0134746B2 JP113383A JP113383A JPH0134746B2 JP H0134746 B2 JPH0134746 B2 JP H0134746B2 JP 113383 A JP113383 A JP 113383A JP 113383 A JP113383 A JP 113383A JP H0134746 B2 JPH0134746 B2 JP H0134746B2
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- Japan
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- stage
- feeding
- wafer
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q3/00—Devices holding, supporting, or positioning work or tools, of a kind normally removable from the machine
- B23Q3/18—Devices holding, supporting, or positioning work or tools, of a kind normally removable from the machine for positioning only
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q1/00—Members which are comprised in the general build-up of a form of machine, particularly relatively large fixed members
- B23Q1/25—Movable or adjustable work or tool supports
- B23Q1/44—Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms
- B23Q1/50—Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with rotating pairs only, the rotating pairs being the first two elements of the mechanism
- B23Q1/54—Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with rotating pairs only, the rotating pairs being the first two elements of the mechanism two rotating pairs only
- B23Q1/545—Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with rotating pairs only, the rotating pairs being the first two elements of the mechanism two rotating pairs only comprising spherical surfaces
- B23Q1/5462—Movable or adjustable work or tool supports using particular mechanisms with rotating pairs only, the rotating pairs being the first two elements of the mechanism two rotating pairs only comprising spherical surfaces with one supplementary sliding pair
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Jigs For Machine Tools (AREA)
- Machine Tool Units (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、精密な位置制御および姿勢制御を行
なうステージの制御装置に関するもので、立体的
に設定した3軸方向の平行移動と、該3軸回りの
回動と6自由度を有する制御装置に関するもので
ある。この発明は、特に投光式ウエハ露光装置の
ウエハ塔載位置ぎめ機構として好適であるが、そ
の他に広く精密加工、精密測定等に適用し得る。
なうステージの制御装置に関するもので、立体的
に設定した3軸方向の平行移動と、該3軸回りの
回動と6自由度を有する制御装置に関するもので
ある。この発明は、特に投光式ウエハ露光装置の
ウエハ塔載位置ぎめ機構として好適であるが、そ
の他に広く精密加工、精密測定等に適用し得る。
上に述べた6自由度を有する制御装置は、ウエ
ハ表面にマスクパターンを焼付ける投影式露光装
置にも用いられる。同装置の操作手順において
は、まず、マスクパターンを投影光学系によつて
被加工物たるウエハ表面に投影結像させる必要が
ある。投影光学系に要求される高解像度のマスク
パターンを結像する範囲は投影光学系が焦点面近
傍の範囲で、焦点面から離れるに従い急速に結像
状態は劣化する。実用上、ウエハ表面の投影光学
系の焦点面からのずれ量の許容値は±6μmであ
り、安定した解像度を得るには、ウエハ表面を投
影光学系の焦点面に高精度に位置決めすることが
要求される。上記の位置ぎめ(焦点合わせ)の
後、マスクパータンとウエハ表面に形成されてい
るパターンとを、ウエハを移動して高精度(±
0.25μm)に重ね合せることが要求される。した
がつて、ウエハ塔載装置には総計して6自由度と
なる位置制御機能が必要である。
ハ表面にマスクパターンを焼付ける投影式露光装
置にも用いられる。同装置の操作手順において
は、まず、マスクパターンを投影光学系によつて
被加工物たるウエハ表面に投影結像させる必要が
ある。投影光学系に要求される高解像度のマスク
パターンを結像する範囲は投影光学系が焦点面近
傍の範囲で、焦点面から離れるに従い急速に結像
状態は劣化する。実用上、ウエハ表面の投影光学
系の焦点面からのずれ量の許容値は±6μmであ
り、安定した解像度を得るには、ウエハ表面を投
影光学系の焦点面に高精度に位置決めすることが
要求される。上記の位置ぎめ(焦点合わせ)の
後、マスクパータンとウエハ表面に形成されてい
るパターンとを、ウエハを移動して高精度(±
0.25μm)に重ね合せることが要求される。した
がつて、ウエハ塔載装置には総計して6自由度と
なる位置制御機能が必要である。
上記の6自由度の制御は、通常の場合、水平な
直交2軸X、Yと、垂直軸Zとを設定し、これら
3軸方向の平行動と3軸回りの回動とについて行
なわれ、これによつて3次元空間内における剛体
の位置と姿勢とが確定される。しかし、上記の3
軸は水平、垂直な直交3軸に限定されるものでは
なく、斜交する3軸を設定して6自由度制御を行
なうことも可能である。
直交2軸X、Yと、垂直軸Zとを設定し、これら
3軸方向の平行動と3軸回りの回動とについて行
なわれ、これによつて3次元空間内における剛体
の位置と姿勢とが確定される。しかし、上記の3
軸は水平、垂直な直交3軸に限定されるものでは
なく、斜交する3軸を設定して6自由度制御を行
なうことも可能である。
第1図に、従来の1:1反射投影式露光装置の
概要的な正面図を示す。
概要的な正面図を示す。
石定盤1は高精度に仕上げられていて、スレツ
ド2は石定盤1上を左右に高精度(±0.08μm)
の直線運動を行う。スレツド2上にはウエハ塔載
装置3およびマスク塔載装置5が設けられ、それ
ぞれウエハ4およびマスク6を塔載できるように
なつている。石定盤1上には、さらに、反射投影
光学系7およびアライメントスコープ8が固定さ
れ、反射投影光学系7下部には高さ基準板9が固
定されている。石定盤1下方に位置している照明
光学系(図省略)により円弧スリツト状に照明さ
れるマスク6のマスクパターンは、反射投影光学
系7によつてウエハ4表面に投影結像され、スレ
ツド2を左右に走行させることで、ウエハ4表面
全面にマスクパターンを走査露光できるようにな
つている。アライメントスコープ8はウエハ4上
の合せマークとマスクパターン内の合せマークの
重ね合せ状態を検出できる機能がある。
ド2は石定盤1上を左右に高精度(±0.08μm)
の直線運動を行う。スレツド2上にはウエハ塔載
装置3およびマスク塔載装置5が設けられ、それ
ぞれウエハ4およびマスク6を塔載できるように
なつている。石定盤1上には、さらに、反射投影
光学系7およびアライメントスコープ8が固定さ
れ、反射投影光学系7下部には高さ基準板9が固
定されている。石定盤1下方に位置している照明
光学系(図省略)により円弧スリツト状に照明さ
れるマスク6のマスクパターンは、反射投影光学
系7によつてウエハ4表面に投影結像され、スレ
ツド2を左右に走行させることで、ウエハ4表面
全面にマスクパターンを走査露光できるようにな
つている。アライメントスコープ8はウエハ4上
の合せマークとマスクパターン内の合せマークの
重ね合せ状態を検出できる機能がある。
上に述べたウエハ塔載装置3の拡大断面図を第
2図に示す。ウエハ塔載装置のベース11は前述
のスレツド2に固定されていて、このウエハ塔載
装置ベース11の上に鋼球16を介してXYステ
ージ12が置かれている。上記のXYステージ1
2はベース11の上面に沿つた水平面内で自由に
動くことができ、2自由度を有している。そして
このXYステージ12は送り機構(図示省略)に
より±3mmの範囲でその位置をスレツド走行方向
(Y方向)と、水平面内でこれと直交する方向
(X方向)に制御されるようになつている。この
XYステージ12には玉軸受17を介してθステ
ージ13が回転可能に設けられ、さらにこのθス
テージBに上下軸14が設けられている。この上
下軸14は、ナツト19、送りネジ18、及びパ
ルスモータ20により上下に駆動される構造で、
Zステージとして作用する部材である。このZス
テージである上下軸14はθステージ13に対し
て回動しないように係止され、上下摺動自在に支
承されている。
2図に示す。ウエハ塔載装置のベース11は前述
のスレツド2に固定されていて、このウエハ塔載
装置ベース11の上に鋼球16を介してXYステ
ージ12が置かれている。上記のXYステージ1
2はベース11の上面に沿つた水平面内で自由に
動くことができ、2自由度を有している。そして
このXYステージ12は送り機構(図示省略)に
より±3mmの範囲でその位置をスレツド走行方向
(Y方向)と、水平面内でこれと直交する方向
(X方向)に制御されるようになつている。この
XYステージ12には玉軸受17を介してθステ
ージ13が回転可能に設けられ、さらにこのθス
テージBに上下軸14が設けられている。この上
下軸14は、ナツト19、送りネジ18、及びパ
ルスモータ20により上下に駆動される構造で、
Zステージとして作用する部材である。このZス
テージである上下軸14はθステージ13に対し
て回動しないように係止され、上下摺動自在に支
承されている。
この上下軸14の上部には、ウエハ塔載台15
が置かれ、上下軸14上端の円錐状のくぼみと、
ウエハ塔載台15の下部球面座とをかん号させ、
ウエハ塔載台15の傾斜が自由に行なえるように
なつている。
が置かれ、上下軸14上端の円錐状のくぼみと、
ウエハ塔載台15の下部球面座とをかん号させ、
ウエハ塔載台15の傾斜が自由に行なえるように
なつている。
このように従来のウエハ塔載装置は、スレツド
上に固定されたウエハ塔載装置ベース11上に、
XYステージ12を設け、このXYステージ12
によつてθステージ13が支持され、θステージ
13によつて上下軸14およびウエハ塔載台15
ならびにウエハ4が支持された三重構造となつて
いた。
上に固定されたウエハ塔載装置ベース11上に、
XYステージ12を設け、このXYステージ12
によつてθステージ13が支持され、θステージ
13によつて上下軸14およびウエハ塔載台15
ならびにウエハ4が支持された三重構造となつて
いた。
つづいて、この従来のウエハ塔載装置の動作に
ついて説明する。まず、第2図の状態において、
ウエハ4をウエハ塔載台15に吸着孔22を用い
て真空吸着する。つづいて上下軸14を上昇さ
せ、高さ基準板9のパツド10にウエハ4表面を
押し当てる。すると、ウエハ塔載台15はパツド
10からの反力で傾斜を修正されて水平姿勢にな
る。上記のパツド10はウエハ4の中心を重心と
する正三角形の頂点に配置され、反射投影式光学
系7の焦点面に対して規定高さ(0.5mm)だけ正
確に高い位置に設けられているので、ウエハ4表
面は反射投影光学系7の焦点面よりも上記の規定
高さだけ高い位置に高さと傾きが位置決めされ
る。この状態で真空室21を真空としてウエハ塔
載台15を上下軸14に吸着固定し、さらに上下
軸14をウエハ4およびウエハ塔載台15ととも
に上記の規定高さだけ下降させ、ウエハ表面を反
射投影光学系7の焦点深度内に平行移動させてい
た。
ついて説明する。まず、第2図の状態において、
ウエハ4をウエハ塔載台15に吸着孔22を用い
て真空吸着する。つづいて上下軸14を上昇さ
せ、高さ基準板9のパツド10にウエハ4表面を
押し当てる。すると、ウエハ塔載台15はパツド
10からの反力で傾斜を修正されて水平姿勢にな
る。上記のパツド10はウエハ4の中心を重心と
する正三角形の頂点に配置され、反射投影式光学
系7の焦点面に対して規定高さ(0.5mm)だけ正
確に高い位置に設けられているので、ウエハ4表
面は反射投影光学系7の焦点面よりも上記の規定
高さだけ高い位置に高さと傾きが位置決めされ
る。この状態で真空室21を真空としてウエハ塔
載台15を上下軸14に吸着固定し、さらに上下
軸14をウエハ4およびウエハ塔載台15ととも
に上記の規定高さだけ下降させ、ウエハ表面を反
射投影光学系7の焦点深度内に平行移動させてい
た。
上述の操作の後、XYステージ12を移動させ
たりθステージ13を回動させたりして、ウエハ
4上に設けた合わせマークとマスクパターンの合
わせマークとを一致させる。この状態で、スレツ
ド2を一旦往き側に移動させ、その後復路を一定
速度で戻る間にウエハ4の表面全体にマスクパタ
ーンを露光させ、マスクパターンをウエハ4表面
上に焼付けていた。このため以下に示す欠点が有
つた。
たりθステージ13を回動させたりして、ウエハ
4上に設けた合わせマークとマスクパターンの合
わせマークとを一致させる。この状態で、スレツ
ド2を一旦往き側に移動させ、その後復路を一定
速度で戻る間にウエハ4の表面全体にマスクパタ
ーンを露光させ、マスクパターンをウエハ4表面
上に焼付けていた。このため以下に示す欠点が有
つた。
1 ウエハ4の表面をパツド10に押し当てて反
射投影光学系7の焦点面に対して平行度を出し
た後、上下軸14(Zステージ)、θステージ
13およびXYステージ12の3ケ所において
移動もしくは回転が行なわれるため、この3ケ
所のステージの機械的な狂いによる上下動なら
びに傾きが重畳してウエハ4表面の、反射投影
光学系7の焦点面に対する平行度および高さの
位置決め精度を損ねやすい。
射投影光学系7の焦点面に対して平行度を出し
た後、上下軸14(Zステージ)、θステージ
13およびXYステージ12の3ケ所において
移動もしくは回転が行なわれるため、この3ケ
所のステージの機械的な狂いによる上下動なら
びに傾きが重畳してウエハ4表面の、反射投影
光学系7の焦点面に対する平行度および高さの
位置決め精度を損ねやすい。
2 ウエハ塔載装置ベース11上に、XYステー
ジ12、θステージ13およびZステージ14
を設け、その上にウエハ塔載台15を置いてい
るため、ウエハ塔載装置ベース11からウエハ
塔載台15に対する総合的な位置決め剛性が低
く、ウエハ塔載台15の位置安定性が悪い。
ジ12、θステージ13およびZステージ14
を設け、その上にウエハ塔載台15を置いてい
るため、ウエハ塔載装置ベース11からウエハ
塔載台15に対する総合的な位置決め剛性が低
く、ウエハ塔載台15の位置安定性が悪い。
3 XYステージ12はθステージ13、上下軸
14、及びこれらの駆動手段を塔載しているの
で、このXYステージ12の全体重量が大き
い。従つてXYステージの送り機構はこれらの
全体重量を担持したXYステージ12を駆動制
御しなければならず、微動送りの制御性を低下
させている。
14、及びこれらの駆動手段を塔載しているの
で、このXYステージ12の全体重量が大き
い。従つてXYステージの送り機構はこれらの
全体重量を担持したXYステージ12を駆動制
御しなければならず、微動送りの制御性を低下
させている。
また、ウエハの位置決め用ステージに関しては
特開昭57−144636に記載の技術が公知である。こ
の公知技術は、可動部分の重量削減を狙つて、1
平面内の3自由度(x、y、θ)を1個のテーブ
ルに集約して設ける機構である。
特開昭57−144636に記載の技術が公知である。こ
の公知技術は、可動部分の重量削減を狙つて、1
平面内の3自由度(x、y、θ)を1個のテーブ
ルに集約して設ける機構である。
このような構成では、前述のウエハの焦点合わ
せを行おうとすると、明らかに、z方向平行移動
およびx軸、y軸回りの回転の計3個の自由度を
追加する必要がある。このため、該機構の上もし
くは下にz方向平行移動およびx軸、y軸回りの
回転の自由度を有する送り機構を設けたのでは、
ウエハの焦点合わせは行えるものの、依然として
異なる自由度を備えるテーブルを積み重ねること
になり、目的とする可動部重量の低減は達成され
得ない。また、該機構のテーブルを直接、z方向
平行移動およびx軸、y軸回りの回転の3方向に
可動しようとすると、該機構のテーブルの簡略な
送り機構には、これら追加しようとする3方向の
自由度が備えられていないことから、これら3自
由度の送り機構を追加することは困難であり、ウ
エハの焦点合せを行い得ない。
せを行おうとすると、明らかに、z方向平行移動
およびx軸、y軸回りの回転の計3個の自由度を
追加する必要がある。このため、該機構の上もし
くは下にz方向平行移動およびx軸、y軸回りの
回転の自由度を有する送り機構を設けたのでは、
ウエハの焦点合わせは行えるものの、依然として
異なる自由度を備えるテーブルを積み重ねること
になり、目的とする可動部重量の低減は達成され
得ない。また、該機構のテーブルを直接、z方向
平行移動およびx軸、y軸回りの回転の3方向に
可動しようとすると、該機構のテーブルの簡略な
送り機構には、これら追加しようとする3方向の
自由度が備えられていないことから、これら3自
由度の送り機構を追加することは困難であり、ウ
エハの焦点合せを行い得ない。
本発明の目的は、ステージの6自由度をそれぞ
れ高精度で制御することができ、位置ぎめ剛性が
高く、しかも制御性のよいステージ制御装置を提
供するにある。
れ高精度で制御することができ、位置ぎめ剛性が
高く、しかも制御性のよいステージ制御装置を提
供するにある。
本発明においては、前述した従来装置の不具合
及びその原因解析に基づき、ステージを駆動制御
する6組の送り装置を設け、これら6組の送り装
置がそれぞれ互いに干渉することなく、直接的に
ステージを制御し得る構成を創作したものであ
る。
及びその原因解析に基づき、ステージを駆動制御
する6組の送り装置を設け、これら6組の送り装
置がそれぞれ互いに干渉することなく、直接的に
ステージを制御し得る構成を創作したものであ
る。
本発明は上記の原理に基づいて前記の目的を達
成するため、X方向に設けた1組の送り機構と、
Y方向に設けた2組の送り機構と、Z方向に設け
た3組の送り機構とを有し、かつ、上記6組の送
り機構のそれぞれとステージとの間に、当該送り
機構の変位を伝達しステージに当接する箇所で該
送り方向と直交する2方向の変位と該送り方向を
軸とする回転と該送り方向と直交する2方向を軸
とする回転とを許容する伝達機構を介装し、前記
6組の送り機構がそれぞれ独立してステージを直
接的に駆動し得るように構成したことを特徴とす
る。
成するため、X方向に設けた1組の送り機構と、
Y方向に設けた2組の送り機構と、Z方向に設け
た3組の送り機構とを有し、かつ、上記6組の送
り機構のそれぞれとステージとの間に、当該送り
機構の変位を伝達しステージに当接する箇所で該
送り方向と直交する2方向の変位と該送り方向を
軸とする回転と該送り方向と直交する2方向を軸
とする回転とを許容する伝達機構を介装し、前記
6組の送り機構がそれぞれ独立してステージを直
接的に駆動し得るように構成したことを特徴とす
る。
次に、本発明の一実施例の概要を第3図及び第
4図について説明する。
4図について説明する。
第3図は本発明のステージ制御装置の垂直断面
図、第4図は同平面図である。
図、第4図は同平面図である。
本実施例では、ウエハ4を吸着保持したステー
ジ42について水平な直交2軸X、Yおよび垂直
軸Z方向の位置制御、並びに上記3軸回りの回動
姿勢制御を行なうように構成したものであるが、
本発明を実施する場合、直交3軸に限らず任意方
向の3軸に関する制御を行なうように構成するこ
ともできる。
ジ42について水平な直交2軸X、Yおよび垂直
軸Z方向の位置制御、並びに上記3軸回りの回動
姿勢制御を行なうように構成したものであるが、
本発明を実施する場合、直交3軸に限らず任意方
向の3軸に関する制御を行なうように構成するこ
ともできる。
41はウエハ塔載装置のベースである。このベ
ース41に1組のX方向送り機構を構成するため
の1個のパルスモータ46、2組のY方向送り機
構を構成するための2個のパルスモータ60(第
4図)、及び3組のZ方向送り機構を構成するた
めの3個のパルスモータ52(第3図)を固定す
る。これらのパルスモータ46,60,52の軸
に、それぞれ送りネジ45,59,51を固着す
る。上記の送りネジ45,59,51にそれぞれ
螺合するナツト部材44,58,50を、ウエハ
塔載装置ベース41に対する回動を係止して軸方
向摺動自在に嵌合する。
ース41に1組のX方向送り機構を構成するため
の1個のパルスモータ46、2組のY方向送り機
構を構成するための2個のパルスモータ60(第
4図)、及び3組のZ方向送り機構を構成するた
めの3個のパルスモータ52(第3図)を固定す
る。これらのパルスモータ46,60,52の軸
に、それぞれ送りネジ45,59,51を固着す
る。上記の送りネジ45,59,51にそれぞれ
螺合するナツト部材44,58,50を、ウエハ
塔載装置ベース41に対する回動を係止して軸方
向摺動自在に嵌合する。
本実施例は以上のようにしてX方向に設けた1
組の送り機構と、Y方向に設けた2組の送り機構
と、Z方向に設けた3組の送り機構とを構成して
ある。
組の送り機構と、Y方向に設けた2組の送り機構
と、Z方向に設けた3組の送り機構とを構成して
ある。
ステージ42の上面に真空吸着用の空洞部55
を設けてウエハ塔載機能を持たせる。このステー
ジ42の自重は、第5図について後述する浮遊パ
ツド49及び鋼球48を介して3個のナツト部材
50で支承する。53は上記の自重を付勢してい
るバネである。
を設けてウエハ塔載機能を持たせる。このステー
ジ42の自重は、第5図について後述する浮遊パ
ツド49及び鋼球48を介して3個のナツト部材
50で支承する。53は上記の自重を付勢してい
るバネである。
上記のステージ42を、X方向に設けたバネ4
7により、第5図について後に詳述する浮遊パツ
ド43を介してナツト部材44に押しつけて、X
方向の位置ぎめがなされる。同様に、Y方向に設
けたバネ61により後述の浮遊パツド57を介し
てナツト部材58に押しつけてY方向の位置ぎめ
がなされる。
7により、第5図について後に詳述する浮遊パツ
ド43を介してナツト部材44に押しつけて、X
方向の位置ぎめがなされる。同様に、Y方向に設
けたバネ61により後述の浮遊パツド57を介し
てナツト部材58に押しつけてY方向の位置ぎめ
がなされる。
反射投影式光学系7の底面に9個の静電容量型
近接センサ54を固定してウエハ4の表面位置を
検出し、該ウエハ4の上面と上記光学系7の焦点
面との偏差を高精度(±0.2μm)で非接触的に検
出できるように構成する。第4図においてウエハ
4の面上に示した9個のX印56は上記センサ5
4の検出点を表わしている。
近接センサ54を固定してウエハ4の表面位置を
検出し、該ウエハ4の上面と上記光学系7の焦点
面との偏差を高精度(±0.2μm)で非接触的に検
出できるように構成する。第4図においてウエハ
4の面上に示した9個のX印56は上記センサ5
4の検出点を表わしている。
前述の浮遊パツド49,43の詳細を第5図に
ついて説明する。この断面にはY方向の送り装置
に設けた浮遊パツド57が現われていないが、本
図に示したX方向の送り装置の浮遊パツド43と
同様の構成部材である。この浮遊パツド43は、
その左端の球面をナツト44の球面座に保持さ
れ、右端の平面をスラージ42の側面に当接せし
めて送り機構の送り量をステージ42に伝達して
いる。さらに、浮動パツド43の両端の球面と平
面は空気軸受となつているので、ステージ42の
上下動、前後進、X、Y、Z軸回りの傾きの抵抗
とならない。したがつて、浮動パツド43は、他
の送り機構によるステージの移動の抵抗とはなら
ない自由度を有すると同時に、対応するx軸方向
の送り量を伝達することができる。
ついて説明する。この断面にはY方向の送り装置
に設けた浮遊パツド57が現われていないが、本
図に示したX方向の送り装置の浮遊パツド43と
同様の構成部材である。この浮遊パツド43は、
その左端の球面をナツト44の球面座に保持さ
れ、右端の平面をスラージ42の側面に当接せし
めて送り機構の送り量をステージ42に伝達して
いる。さらに、浮動パツド43の両端の球面と平
面は空気軸受となつているので、ステージ42の
上下動、前後進、X、Y、Z軸回りの傾きの抵抗
とならない。したがつて、浮動パツド43は、他
の送り機構によるステージの移動の抵抗とはなら
ない自由度を有すると同時に、対応するx軸方向
の送り量を伝達することができる。
Z方向送り機構のナツト部材50の上面は反射
投影光学系7の焦点面に対し精密に平行となるよ
うに作られている。このナツト部材50の上面に
当接する浮遊パツド49の下面は空気軸受となつ
ていて、該浮遊パツド49はナツト50上面上を
ほとんど抵抗なく水平運動できる上に、鋼球48
の径は十分に小さく、鋼球48とステージ42あ
るいは浮遊パツド49の円すい面との摩擦力はほ
とんど無視できる。したがつて、鋼球48と浮遊
パツド49は、Z方向の送り量をステージ42に
伝達すると同時に、他の送り機構によるステージ
42の水平面内の動きおよび傾斜の抵抗とならな
い。62は浮遊パツド43,49に空気を供給す
るチユーブである。
投影光学系7の焦点面に対し精密に平行となるよ
うに作られている。このナツト部材50の上面に
当接する浮遊パツド49の下面は空気軸受となつ
ていて、該浮遊パツド49はナツト50上面上を
ほとんど抵抗なく水平運動できる上に、鋼球48
の径は十分に小さく、鋼球48とステージ42あ
るいは浮遊パツド49の円すい面との摩擦力はほ
とんど無視できる。したがつて、鋼球48と浮遊
パツド49は、Z方向の送り量をステージ42に
伝達すると同時に、他の送り機構によるステージ
42の水平面内の動きおよび傾斜の抵抗とならな
い。62は浮遊パツド43,49に空気を供給す
るチユーブである。
本実施例は以上のようにして、6組の送り機構
のナツト部材のそれぞれと、ステージ42との間
に、各送り機構の送り方向の力のみを伝達し、送
り方向以外の動きを許容する伝達機構を介装し
て、前記6組の送り機構がそれぞれ独立してステ
ージ42を駆動し得るように構成してある。
のナツト部材のそれぞれと、ステージ42との間
に、各送り機構の送り方向の力のみを伝達し、送
り方向以外の動きを許容する伝達機構を介装し
て、前記6組の送り機構がそれぞれ独立してステ
ージ42を駆動し得るように構成してある。
次に、上述のように構成したステージ制御装置
の使用方法について説明する。本実施例は自動制
御装置(図示せず)を設けてセンサや作動機器を
電気的に自動操作して次のように作動せしめる。
の使用方法について説明する。本実施例は自動制
御装置(図示せず)を設けてセンサや作動機器を
電気的に自動操作して次のように作動せしめる。
まず、ウエハ4はステージ42上面に真空吸着
される。つづいて、静電容量型近接センサー54
によりウエハ4表面に非接触で該表面の、反射投
影光学系7の焦点面からのずれ量が、格子状に配
された9点の検出点56について検出される。そ
の後、この9点のずれ量から、ウエハ4の表面の
近似平面と、反射投影光学系7の焦点面との間の
ずれと傾きを求める。つづいて、3個のパルスモ
ータ52を回転させてナツト部材50を適宜上下
させ、ステージ42を上下動および傾斜させて前
記のずれと傾きを補正する。このとき、浮動パツ
ド43,57は前述のように、その両端の球面お
よび平面を空気軸受面としているので、ステージ
42の上下動および傾きの抵抗とならず、また、
鋼球48も径が十分小さいため、ステージ42の
傾きの抵抗とはならない。その後、再度センサー
54によりウエハ4表面の、焦点面からのずれ量
が検出され、ウエハ4表面の近似平面が十分高精
度に該焦点面に一致していることを確認する動作
が行なわれる。ここで、もしウエハ4表面の近似
平面が該焦点面に一致していない場合、再度ステ
ージ42の高さおよび傾きの補正ならびにずれ量
検出が繰返される。以上のように、ウエハ4は、
その近似平面が反射投影式光学系7の焦点面に一
致するように、高さ及び傾きを位置ぎめされる。
即ち、Z軸方向の平行移動の位置と、X、Y軸回
りの回動姿勢との3自由度が位置ぎめされる。こ
のとき、3個の鋼球48の中心点によつて決めら
れる平面はウエハ4表面の傾きを補正する補正平
面となる。
される。つづいて、静電容量型近接センサー54
によりウエハ4表面に非接触で該表面の、反射投
影光学系7の焦点面からのずれ量が、格子状に配
された9点の検出点56について検出される。そ
の後、この9点のずれ量から、ウエハ4の表面の
近似平面と、反射投影光学系7の焦点面との間の
ずれと傾きを求める。つづいて、3個のパルスモ
ータ52を回転させてナツト部材50を適宜上下
させ、ステージ42を上下動および傾斜させて前
記のずれと傾きを補正する。このとき、浮動パツ
ド43,57は前述のように、その両端の球面お
よび平面を空気軸受面としているので、ステージ
42の上下動および傾きの抵抗とならず、また、
鋼球48も径が十分小さいため、ステージ42の
傾きの抵抗とはならない。その後、再度センサー
54によりウエハ4表面の、焦点面からのずれ量
が検出され、ウエハ4表面の近似平面が十分高精
度に該焦点面に一致していることを確認する動作
が行なわれる。ここで、もしウエハ4表面の近似
平面が該焦点面に一致していない場合、再度ステ
ージ42の高さおよび傾きの補正ならびにずれ量
検出が繰返される。以上のように、ウエハ4は、
その近似平面が反射投影式光学系7の焦点面に一
致するように、高さ及び傾きを位置ぎめされる。
即ち、Z軸方向の平行移動の位置と、X、Y軸回
りの回動姿勢との3自由度が位置ぎめされる。こ
のとき、3個の鋼球48の中心点によつて決めら
れる平面はウエハ4表面の傾きを補正する補正平
面となる。
つづいて、ウエハ4上に設けた合せマークとマ
スクパターン内の合せマークを、パルスモータ4
6,60によりナツト部材44,58を適宜送つ
て一致させる動作が行なわれる。このとき、浮動
パツド49はその下面を空気軸受面としているの
でステージ42移動の抵抗とはならず、浮遊パツ
ド43,57も両端の球面および平面を空気軸受
面としているためステージ42の移動、回転の抵
抗とはならない。また、ステージ42を支えてい
る鋼球48は、浮遊パツド49あるいはステージ
42の円錐面と揺動、或いは回転することなく、
固定の状態でステージ42と共に浮遊パツド49
に支持されて、反射投影光学系7の焦点面と精密
に平行なナツト部材50上面を移動する。この場
合、厳密に言えばナツト部材50の上面と焦点面
との平行度の狂いによつて上下方向の狂いを生じ
るが、本実施例のようにナツト部材50の上面を
高精度で焦点面と平行に仕上げておくと、サブミ
クロンオーダーの位置ぎめについても上記の上下
方向の狂いは無視することができる程度に微小で
ある。
スクパターン内の合せマークを、パルスモータ4
6,60によりナツト部材44,58を適宜送つ
て一致させる動作が行なわれる。このとき、浮動
パツド49はその下面を空気軸受面としているの
でステージ42移動の抵抗とはならず、浮遊パツ
ド43,57も両端の球面および平面を空気軸受
面としているためステージ42の移動、回転の抵
抗とはならない。また、ステージ42を支えてい
る鋼球48は、浮遊パツド49あるいはステージ
42の円錐面と揺動、或いは回転することなく、
固定の状態でステージ42と共に浮遊パツド49
に支持されて、反射投影光学系7の焦点面と精密
に平行なナツト部材50上面を移動する。この場
合、厳密に言えばナツト部材50の上面と焦点面
との平行度の狂いによつて上下方向の狂いを生じ
るが、本実施例のようにナツト部材50の上面を
高精度で焦点面と平行に仕上げておくと、サブミ
クロンオーダーの位置ぎめについても上記の上下
方向の狂いは無視することができる程度に微小で
ある。
このようにして、1組の送り機構を構成してい
るパルスモータ46によるステージ42のX方向
の位置ぎめと、2組の送り機構を構成している2
個のパルスモータ60の同期回転によるステージ
42のY方向位置ぎめとが行なわれる。そして、
この操作と併行して上記2個のパルスモータ60
の差動によりステージ42のZ軸回りの回動が行
なわれる。
るパルスモータ46によるステージ42のX方向
の位置ぎめと、2組の送り機構を構成している2
個のパルスモータ60の同期回転によるステージ
42のY方向位置ぎめとが行なわれる。そして、
この操作と併行して上記2個のパルスモータ60
の差動によりステージ42のZ軸回りの回動が行
なわれる。
以上説明したように、6組の送り機構がそれぞ
れ独立に、かつ直接的にステージ42を押動して
6自由度の制御を行なうので位置ぎめ剛性が高
い。また、ステージ42は送り機構を担持してい
ないので軽量であり、従つて制御性を妨げない。
れ独立に、かつ直接的にステージ42を押動して
6自由度の制御を行なうので位置ぎめ剛性が高
い。また、ステージ42は送り機構を担持してい
ないので軽量であり、従つて制御性を妨げない。
その上、本実施例はウエハ表面に対して非接触
的に位置検出を行なうので、ウエハ表面を傷つけ
たり汚損したりする虞れが無い。
的に位置検出を行なうので、ウエハ表面を傷つけ
たり汚損したりする虞れが無い。
第5図の実施例において、水平方向の位置決め
に鋼球48と浮遊パツド49から成る伝達機構を
用い、垂直方向に浮遊パツド43から成る伝達機
構を用いても前述の効果と全く同じ効果が得られ
る。
に鋼球48と浮遊パツド49から成る伝達機構を
用い、垂直方向に浮遊パツド43から成る伝達機
構を用いても前述の効果と全く同じ効果が得られ
る。
第6図は上記と異なる実施例を示す垂直断面図
で、ステージ42に固定された軸63をガイドと
して、ボールブツシユ64は該軸方向に転動可能
となつている。さらに、ボールブツシユ64には
外周を球面としたフオロアー65が組合され、ナ
ツト部材66からの送り量を伝達すると共に、上
下動、前後進、回動、傾斜(2方向)の5つのス
テージ42の動きの抵抗とならない自由度を有す
る伝達機構を構成している。
で、ステージ42に固定された軸63をガイドと
して、ボールブツシユ64は該軸方向に転動可能
となつている。さらに、ボールブツシユ64には
外周を球面としたフオロアー65が組合され、ナ
ツト部材66からの送り量を伝達すると共に、上
下動、前後進、回動、傾斜(2方向)の5つのス
テージ42の動きの抵抗とならない自由度を有す
る伝達機構を構成している。
また、ボールブツシユ64とフオロアー65の
組合せを用いる代りに、軸方向の直接運動と軸の
回りの回転運動が可能な軸受構成のフオロアーを
用いても同一の効果が得られる。
組合せを用いる代りに、軸方向の直接運動と軸の
回りの回転運動が可能な軸受構成のフオロアーを
用いても同一の効果が得られる。
またパツド67および環状のボール列68なら
びに傾斜パツド69は、前記実施例における空気
軸受付きの浮遊パツド49を環状のボール列手段
68で置き換えたもので、上記の空気軸受付浮遊
パツドと同様の自由度を有する伝達機構を構成す
るのは明白であり、前列と同様の作用、効果があ
る。
びに傾斜パツド69は、前記実施例における空気
軸受付きの浮遊パツド49を環状のボール列手段
68で置き換えたもので、上記の空気軸受付浮遊
パツドと同様の自由度を有する伝達機構を構成す
るのは明白であり、前列と同様の作用、効果があ
る。
以上詳述した如く、本発明のステージ制御装置
は、X方向に設けた1組の送り機構と、Y方向に
設けた2組の送り機構と、Z方向に設けた3組の
送り機構とを有し、かつ、上記6組の送り機構の
それぞれとステージとの間に、当該送り機構の変
位を伝達しステージに当接する箇所で該送り方向
と直交する2方向の変位と該送り方向を軸とする
回転と該送り方向と直交する2方向を軸とする回
転とを許容する伝達機構を介装し、前記6組の送
り機構がそれぞれ独立してステージを直接的に駆
動し得るように構成することにより、ステージの
6自由度をそれぞれ高精度で制御することがで
き、位置ぎめの剛性が高く、しかも制御性が良い
という優れた実用的効果を奏する。
は、X方向に設けた1組の送り機構と、Y方向に
設けた2組の送り機構と、Z方向に設けた3組の
送り機構とを有し、かつ、上記6組の送り機構の
それぞれとステージとの間に、当該送り機構の変
位を伝達しステージに当接する箇所で該送り方向
と直交する2方向の変位と該送り方向を軸とする
回転と該送り方向と直交する2方向を軸とする回
転とを許容する伝達機構を介装し、前記6組の送
り機構がそれぞれ独立してステージを直接的に駆
動し得るように構成することにより、ステージの
6自由度をそれぞれ高精度で制御することがで
き、位置ぎめの剛性が高く、しかも制御性が良い
という優れた実用的効果を奏する。
第1図は反射投影式ウエハ露光装置の概要的な
正面図、第2図は従来のウエハ塔載装置の垂直断
面図、第3図乃至第5図は本発明のステージ制御
装置の一実施例を示し、第3図は垂直断面図、第
4図は平面図、第5図は部分拡大断面図である。
第6図は上記と異なる実施例の部分拡大断面図で
ある。 4……ウエハ、7……反射投影式光学系、41
……ウエハ塔載装置ベース、42……ステージ、
43……浮遊パツド、44……ナツト部材、45
……送りネジ、46……パルスモータ、47……
バネ、48……鋼球、49……浮遊パツド、50
……ナツト部材、51……送りネジ、52……パ
ルスモータ、53……バネ、54……静電容量型
近接センサー、55……空洞部、56……検出
点、57……浮遊パツド、58……ナツト部材、
59……送りネジ、60パルスモータ、61……
バネ、62……チユーブ、63……軸、64……
ボールブツシユ、65……フオロアー、66……
ナツト、67……パツド、68……ボール列手
段、69……傾斜パツド、70……鋼球、71…
…ナツト。
正面図、第2図は従来のウエハ塔載装置の垂直断
面図、第3図乃至第5図は本発明のステージ制御
装置の一実施例を示し、第3図は垂直断面図、第
4図は平面図、第5図は部分拡大断面図である。
第6図は上記と異なる実施例の部分拡大断面図で
ある。 4……ウエハ、7……反射投影式光学系、41
……ウエハ塔載装置ベース、42……ステージ、
43……浮遊パツド、44……ナツト部材、45
……送りネジ、46……パルスモータ、47……
バネ、48……鋼球、49……浮遊パツド、50
……ナツト部材、51……送りネジ、52……パ
ルスモータ、53……バネ、54……静電容量型
近接センサー、55……空洞部、56……検出
点、57……浮遊パツド、58……ナツト部材、
59……送りネジ、60パルスモータ、61……
バネ、62……チユーブ、63……軸、64……
ボールブツシユ、65……フオロアー、66……
ナツト、67……パツド、68……ボール列手
段、69……傾斜パツド、70……鋼球、71…
…ナツト。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 回路基板等の被加工物を積載する1個の可動
要素たるステージと、1個の固定要素と、上記固
定要素側に配置した被加工物の面に沿うある方向
に送る1組の送り機構と、被加工物の面に沿い前
記送り機構とほぼ直交する方向に送る2組の送り
機構と、被加工物の厚み方向に送る3組の送り機
構とを有し、かつ、個々の送り機構と上記ステー
ジとの間に、該送り機構の変位を伝達しステージ
に当接する箇所で該送り方向と直交する2方向の
変位と該送り方向を軸とする回転と該送り方向と
直交する2方向を軸とする回転とを許容する伝達
機構を介装し、前記6組の送り機構がステージを
独立して位置制御し得る様に構成したことを特徴
とする6自由度を有するステージの制御装置。 2 第1項記載の6自由度を有するステージの制
御装置において、少なくとも1個の伝達機構を球
対偶機構と平面摺動機構より構成したことを特徴
とする6自由度を有するステージの制御装置。 3 第1項記載の6自由度を有するステージの制
御装置において、少なくとも1個の伝達機構を球
対偶機構を複数の球状の転動体を平面で挿む構造
の平面転動機構より構成したことを特徴とする6
自由度を有するステージの制御装置。 4 第1項記載の6自由度を有するステージの制
御装置において、少なくとも1個の伝達機構を外
周を球面状とした回転機構65と該回転機構の回
転軸の方向に可動な機構64より構成したことを
特徴とする6自由度を有するステージの制御装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP113383A JPS59129636A (ja) | 1983-01-10 | 1983-01-10 | 6自由度を有するステ−ジの制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP113383A JPS59129636A (ja) | 1983-01-10 | 1983-01-10 | 6自由度を有するステ−ジの制御装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63320646A Division JPH029550A (ja) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | 6自由度微動ステージの駆動装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59129636A JPS59129636A (ja) | 1984-07-26 |
| JPH0134746B2 true JPH0134746B2 (ja) | 1989-07-20 |
Family
ID=11492940
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP113383A Granted JPS59129636A (ja) | 1983-01-10 | 1983-01-10 | 6自由度を有するステ−ジの制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59129636A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0466895A (ja) * | 1990-07-06 | 1992-03-03 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 6自由度微動ステージ |
| JP2005028202A (ja) * | 2003-07-07 | 2005-02-03 | Hitachi Industries Co Ltd | テーブル平行度調整装置とそれを用いたディスペンサ |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6299038A (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-08 | Hitachi Ltd | 位置決めステ−ジ |
| JPS62288311A (ja) * | 1986-06-05 | 1987-12-15 | Isuzu Motors Ltd | ペントル−フ形直噴式内燃機関 |
| JPH0616364Y2 (ja) * | 1986-08-25 | 1994-04-27 | 東芝機械株式会社 | 高精度移動ステ−ジ装置 |
| JPH0769443B2 (ja) * | 1987-02-06 | 1995-07-31 | 株式会社日立製作所 | 6自由度微動装置 |
| JPH0754140Y2 (ja) * | 1987-04-18 | 1995-12-13 | 光正 古矢 | 保温容器 |
| FR2614225B1 (fr) * | 1987-04-27 | 1989-07-28 | Framatome Sa | Dispositif de reglage de la position de travail d'une machine d'usinage d'un chanfrein et utilisation de ce dispositif. |
| JPS6471640A (en) * | 1987-09-14 | 1989-03-16 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | One-stage six-degree of freedom accurate positioning table |
| JP3003863B2 (ja) * | 1988-03-31 | 2000-01-31 | 株式会社東芝 | 平面位置決め装置および方法 |
| JPH02139146A (ja) * | 1988-11-15 | 1990-05-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 一段6自由度位置決めテーブル |
| GB8923947D0 (en) * | 1989-10-24 | 1989-12-13 | Lk Ltd | Determination of spacial relationships |
| JPH03224006A (ja) * | 1990-01-30 | 1991-10-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 数値制御装置 |
| JP2557316Y2 (ja) * | 1990-02-28 | 1997-12-10 | エヌティエヌ 株式会社 | 移動テーブル |
| JPH05506959A (ja) * | 1990-10-22 | 1993-10-07 | インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン | デユアル・モードzステージ |
| JPH09317767A (ja) * | 1996-05-28 | 1997-12-09 | Nippon Seiko Kk | 位置決め装置 |
| JP3409298B2 (ja) * | 1997-10-07 | 2003-05-26 | 日立建機株式会社 | 移動ステージ装置とこの移動ステージ装置を備えた走査型プローブ顕微鏡 |
| JP4298046B2 (ja) * | 1999-03-25 | 2009-07-15 | 平田機工株式会社 | 物品搬送組立装置及び物品搬送組立方法 |
| JP2003062733A (ja) * | 2001-08-27 | 2003-03-05 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | ステージ装置 |
| JP4740605B2 (ja) * | 2005-01-28 | 2011-08-03 | ピー・エス・シー株式会社 | 気体制御回転移動装置及び気体制御アクチュエータ |
| JP4794900B2 (ja) * | 2005-05-02 | 2011-10-19 | ピー・エス・シー株式会社 | 気体制御回転移動装置及び気体制御アクチュエータ |
| JP4574453B2 (ja) * | 2005-06-02 | 2010-11-04 | 株式会社安川電機 | 基板吸着装置と基板支持体および基板搬送装置 |
| JP2007054953A (ja) * | 2006-11-21 | 2007-03-08 | Nsk Ltd | 位置決め装置 |
| JP6842161B2 (ja) * | 2017-01-17 | 2021-03-17 | 株式会社エヌエステイー | レゾルバの特性測定方法及び測定装置 |
| WO2019049233A1 (ja) * | 2017-09-06 | 2019-03-14 | ホリゾン・インターナショナル株式会社 | 断裁機 |
| CN108127452B (zh) * | 2017-12-04 | 2023-12-12 | 广东开放大学(广东理工职业学院) | 一种用于斜面零件加工的夹具 |
| JP7214489B2 (ja) * | 2019-02-04 | 2023-01-30 | キヤノン株式会社 | ステージ装置及び微小操作機器 |
| CN120734819B (zh) * | 2025-09-03 | 2025-10-31 | 南京航空航天大学 | 一种加工过程中多方向变形力的监测装置及监测方法 |
-
1983
- 1983-01-10 JP JP113383A patent/JPS59129636A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2005028202A (ja) * | 2003-07-07 | 2005-02-03 | Hitachi Industries Co Ltd | テーブル平行度調整装置とそれを用いたディスペンサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59129636A (ja) | 1984-07-26 |
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