JPH0137789B2 - - Google Patents
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- JPH0137789B2 JPH0137789B2 JP57222063A JP22206382A JPH0137789B2 JP H0137789 B2 JPH0137789 B2 JP H0137789B2 JP 57222063 A JP57222063 A JP 57222063A JP 22206382 A JP22206382 A JP 22206382A JP H0137789 B2 JPH0137789 B2 JP H0137789B2
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- JP
- Japan
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- cylindrical surface
- pellet
- boundary
- signal
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はウランペレツト外観自動検査装置など
において、ウランペレツトなど対象物の円筒（円
柱）状物体を回転させて円筒面を撮像するさい、
その撮像画面の中から対象物の円筒面パターン部
分を切り出すため、対象物と背景との境界（パタ
ーン・エツジ）を検出する円筒面撮像パターン境
界検出方式に関するものである。
において、ウランペレツトなど対象物の円筒（円
柱）状物体を回転させて円筒面を撮像するさい、
その撮像画面の中から対象物の円筒面パターン部
分を切り出すため、対象物と背景との境界（パタ
ーン・エツジ）を検出する円筒面撮像パターン境
界検出方式に関するものである。
第１図はたとえばウランペレツト外観自動検査
装置などにおいて、ウランペレツトなど円筒状物
体の円筒面パターンを撮像する装置の構成例を示
す斜視図である。第１図において、円筒（円柱）
状物体の試料たとえばウランペレツト１を回転ロ
ーラ２の上に載せて円周方向に回転させ、結像レ
ンズ３を介し、リニアイメージセンサ４で撮像す
る。５は照明用光源である。ここでリニアイメー
ジセンサ４はペレツト１の回転軸方向に向けて設
置し、内部走査で回転軸方向（Ｘ方向）を走査す
るとともに、ペレツト１の回転により円周方向
（Ｙ方向）を走査させて２次元画像を得る。この
さいリニアイメージセンサ４の視野をペレツト長
より広くすることにより、ペレツト１が回転する
間にペレツト円筒面全体の画像を得ることができ
る。このようにして得られた２次元画像の中から
目的とするペレツト１の円筒面パターン部分を切
り出してペレツト像を得るためには、ペレツト１
と背景との境界（パターン・エツジ）を検出する
必要がある。
装置などにおいて、ウランペレツトなど円筒状物
体の円筒面パターンを撮像する装置の構成例を示
す斜視図である。第１図において、円筒（円柱）
状物体の試料たとえばウランペレツト１を回転ロ
ーラ２の上に載せて円周方向に回転させ、結像レ
ンズ３を介し、リニアイメージセンサ４で撮像す
る。５は照明用光源である。ここでリニアイメー
ジセンサ４はペレツト１の回転軸方向に向けて設
置し、内部走査で回転軸方向（Ｘ方向）を走査す
るとともに、ペレツト１の回転により円周方向
（Ｙ方向）を走査させて２次元画像を得る。この
さいリニアイメージセンサ４の視野をペレツト長
より広くすることにより、ペレツト１が回転する
間にペレツト円筒面全体の画像を得ることができ
る。このようにして得られた２次元画像の中から
目的とするペレツト１の円筒面パターン部分を切
り出してペレツト像を得るためには、ペレツト１
と背景との境界（パターン・エツジ）を検出する
必要がある。
なお、第２図は第１図の回転ローラ２上にペレ
ツト１が列状に載せられている場合を例示する上
面図で、第１図のリニアイメージセンサ４と結像
レンズ３とからなるカメラが第２図のペレツト列
上を回転軸方向に移動しながらペレツト１を順次
撮像して行く。この場合には、撮像対象ペレツト
と前後のペレツトとの境界を検出して目的の対象
ペレツト像のみを切り出す必要がある。
ツト１が列状に載せられている場合を例示する上
面図で、第１図のリニアイメージセンサ４と結像
レンズ３とからなるカメラが第２図のペレツト列
上を回転軸方向に移動しながらペレツト１を順次
撮像して行く。この場合には、撮像対象ペレツト
と前後のペレツトとの境界を検出して目的の対象
ペレツト像のみを切り出す必要がある。
こうした円筒面撮像パターンの境界（パター
ン・エツジ）検出方式としては、撮像画像の中で
対象ペレツトの円筒面パターン部分が明るくて背
景が暗い場合には、画像信号を適当なしきい値で
２値化する方式が最も一般的である。
ン・エツジ）検出方式としては、撮像画像の中で
対象ペレツトの円筒面パターン部分が明るくて背
景が暗い場合には、画像信号を適当なしきい値で
２値化する方式が最も一般的である。
しかしながら、このような従来方式では、対象
物たとえばウランペレツト１の円筒面に欠けや割
れなどの欠陥がある場合に、正しい境界（エツ
ジ）を検出できない場合が生じる。第３図はたと
えばペレツト１に欠け１１がある場合の外観を例
示する斜視図、第４図は同じく割れ１２がある場
合に斜視図である。第５図はたとえば第３図のペ
レツト１の正常面が明るく検出されて欠け１１の
部分と背景が暗く検出されるような照明用光源５
（第１図）による照明方法を用いた場合の、欠け
のあるペレツトの円筒面撮像パターンの２値画像
を例示する平面図で、図中の斜線部分はペレツト
正常面で明るく他の部分は暗いことを示してお
り、またEG1はペレツトの左エツジ位置（図にお
いて）でEG2は同じく右エツジ位置を示し、Ｗは
ペレツト長である。なおＸ方向は回転軸方向でＹ
方向は円周方向を示している（第１図）。第６図
と第７図は第５図中の各Ｘ方向走査線SAとSB上
での対応の画像信号を例示する波形図である。す
なわち、第５図のＸ方向走査線SA上でのリニア
イメージセンサ４（第１図）よりの画像信号は第
６図の画像信号６のような波形を示し、ペレツト
１の左、右エツジ位置EG1、EG2で明るさが大き
く変化していて、しきい値VThで２値化した２値
信号の“１”、“０”反転位置は正しい左、右エツ
ジ位置EG1、EG2を表わしており、正しい２値化
画像データ７が得られる。しかしながら第５図の
Ｘ方向走査線SB上での画像信号は第７図の画像信
号８のような波形を示し、欠け１１（第３図）の
部分で明るさが不規測に変化しているため、しき
い値VThで２値化した２値信号の“１”、“０”反
転位置は真の左エツジ位置EG1からずれる結果正
しい左エツジ位置EG1を表わさず、正しくない２
値画像データ９が得られる。
物たとえばウランペレツト１の円筒面に欠けや割
れなどの欠陥がある場合に、正しい境界（エツ
ジ）を検出できない場合が生じる。第３図はたと
えばペレツト１に欠け１１がある場合の外観を例
示する斜視図、第４図は同じく割れ１２がある場
合に斜視図である。第５図はたとえば第３図のペ
レツト１の正常面が明るく検出されて欠け１１の
部分と背景が暗く検出されるような照明用光源５
（第１図）による照明方法を用いた場合の、欠け
のあるペレツトの円筒面撮像パターンの２値画像
を例示する平面図で、図中の斜線部分はペレツト
正常面で明るく他の部分は暗いことを示してお
り、またEG1はペレツトの左エツジ位置（図にお
いて）でEG2は同じく右エツジ位置を示し、Ｗは
ペレツト長である。なおＸ方向は回転軸方向でＹ
方向は円周方向を示している（第１図）。第６図
と第７図は第５図中の各Ｘ方向走査線SAとSB上
での対応の画像信号を例示する波形図である。す
なわち、第５図のＸ方向走査線SA上でのリニア
イメージセンサ４（第１図）よりの画像信号は第
６図の画像信号６のような波形を示し、ペレツト
１の左、右エツジ位置EG1、EG2で明るさが大き
く変化していて、しきい値VThで２値化した２値
信号の“１”、“０”反転位置は正しい左、右エツ
ジ位置EG1、EG2を表わしており、正しい２値化
画像データ７が得られる。しかしながら第５図の
Ｘ方向走査線SB上での画像信号は第７図の画像信
号８のような波形を示し、欠け１１（第３図）の
部分で明るさが不規測に変化しているため、しき
い値VThで２値化した２値信号の“１”、“０”反
転位置は真の左エツジ位置EG1からずれる結果正
しい左エツジ位置EG1を表わさず、正しくない２
値画像データ９が得られる。
このように画像信号を２値化した２値信号から
単純に境界を判定する従来の円周面撮像パターン
境界検出方式では、対象とする円筒面パターンの
欠けや割れなどの欠陥部分を境界と誤判定し、正
しい境界検出ができない欠点があつた。
単純に境界を判定する従来の円周面撮像パターン
境界検出方式では、対象とする円筒面パターンの
欠けや割れなどの欠陥部分を境界と誤判定し、正
しい境界検出ができない欠点があつた。
本発明の目的は、上記した欠点を解決し、ウラ
ンペツトなどの円筒（円柱）状物体を回転させて
円筒面を撮像するさい、２次元撮像画面の中から
正しい円筒面パターンの境界（パターン・エツ
ジ）を検出できる円筒面撮像パターン境界検出方
式を提供するにある。
ンペツトなどの円筒（円柱）状物体を回転させて
円筒面を撮像するさい、２次元撮像画面の中から
正しい円筒面パターンの境界（パターン・エツ
ジ）を検出できる円筒面撮像パターン境界検出方
式を提供するにある。
本発明は、従来の円筒面撮像パターン境界検出
方式における誤検出の原因がウランペレツトなど
の対象円筒面に欠陥がある場合に真の境界（エツ
ジ）でない欠陥部分で画像の明暗領域や生じ、Ｘ
方向走査ごとあるいは狭い範囲の画像データから
は真の境界（エツジ）判別が困難になるためであ
ることに着目し、真の境界（エツジ）情報が必ら
ず含まれるように円周方向について少なくとも許
容欠陥サイズから最大１回転分の広さにわたる広
範囲の２値画像データを円周方向に積分し、この
積分して得た多値画像信号を再度２値化して、こ
の２値化信号の“１”、“０”反転位置を円筒面パ
ターンの境界（エツジ）と判定するようにした円
筒面撮像パターン境界検出方式である。
方式における誤検出の原因がウランペレツトなど
の対象円筒面に欠陥がある場合に真の境界（エツ
ジ）でない欠陥部分で画像の明暗領域や生じ、Ｘ
方向走査ごとあるいは狭い範囲の画像データから
は真の境界（エツジ）判別が困難になるためであ
ることに着目し、真の境界（エツジ）情報が必ら
ず含まれるように円周方向について少なくとも許
容欠陥サイズから最大１回転分の広さにわたる広
範囲の２値画像データを円周方向に積分し、この
積分して得た多値画像信号を再度２値化して、こ
の２値化信号の“１”、“０”反転位置を円筒面パ
ターンの境界（エツジ）と判定するようにした円
筒面撮像パターン境界検出方式である。
以下、本発明の一実施例を図面により説明す
る。第８図は本発明による円筒面撮像パターン検
出方式の一実施例を示す回路構成図である。第８
図の構成と動作を説明すると、第１図のリニアイ
メージセンサ４で撮像した円筒（円柱）状物体た
とえばウランペレツト１のアナログ画像信号を第
１のしきい値で２値化して得た２値画像データ２
１は、たとえば第６図と第７図に例示したように
ペレツト１の正常面が“１”で背景と欠陥部分が
“０”のVIDEO信号である。メモリ２３はリニア
イメージセンサ４の内部走査（Ｘ方向走査）に同
期したアドレス信号Ax２４によりアドレスが選
択される。なお２値画像信号２１の積分開始に先
だつてメモリ２３の内容はクリアしておくが、こ
の動作に関連する部分は第８図では省略してあ
る。２値画像信号２１の積分中の動作は、リニア
イメージセンサ４の内部走査（Ｘ方向走査）に従
つて、アドレス信号２４によりメモリ２３のアド
レスが順次選択され、各番地ごとにメモリ読出し
データをラツチ回路２７に一旦ラツチし、このメ
モリ読出しデータと２値画像データ２１とを加算
し、その加算結果をメモリ２３の同一番地に書込
む。これにより２値画像データ２１が“１”のア
ドレスでメモリ２３の内容が＋１され、円周方向
（Ｙ方向）の積分データが得られる。この円周方
向に積分して得られた多値画像データを再度２値
化するときはCPUからの第２のしきい値Th３２
をラツチ回路２８にラツチしておき、このしきい
値３２とメモリ２３のメモリ読出しデータとを比
較器３０で比較する。なお、このときマルチプレ
クサ２９はラツチ回路２８の力を比較器３０へ送
るように作動する。これにより得られる比較器３
０の２値信号出力を１”、“０”反転検出回路３１
に導き、この２値信号の反転位置を検出して、こ
の反転位置をペレツト１の境界（エツジ）と判定
する。この反転位置のＸ座標値はラツチ回路２５
にラツチし、CPUに読取る。なお積分データを
再度２値化するときの第２のしきい値３２は、２
値化動作に先立つて、積分データのピーク値を
CPUで読取つてこれを基にして算定するので、
このピーク値検出とピーク値読取りのためのラツ
チ回路２６を設けている。ピーク値を検出すると
きは、マルチプレクサ２９によりラツチ回路２６
の出力を比較器３０へ導くようにし、先ずラツチ
回路２６をクリアしておき、その後メモリ２３内
データを順次読出してラツチ回路２６の内容と比
較し、読出しデータが大きい場合には、ラツチ回
路２６の内容更新することにより、最終的に、ラ
ツチ回路２６にピーク値が残るようにする。
る。第８図は本発明による円筒面撮像パターン検
出方式の一実施例を示す回路構成図である。第８
図の構成と動作を説明すると、第１図のリニアイ
メージセンサ４で撮像した円筒（円柱）状物体た
とえばウランペレツト１のアナログ画像信号を第
１のしきい値で２値化して得た２値画像データ２
１は、たとえば第６図と第７図に例示したように
ペレツト１の正常面が“１”で背景と欠陥部分が
“０”のVIDEO信号である。メモリ２３はリニア
イメージセンサ４の内部走査（Ｘ方向走査）に同
期したアドレス信号Ax２４によりアドレスが選
択される。なお２値画像信号２１の積分開始に先
だつてメモリ２３の内容はクリアしておくが、こ
の動作に関連する部分は第８図では省略してあ
る。２値画像信号２１の積分中の動作は、リニア
イメージセンサ４の内部走査（Ｘ方向走査）に従
つて、アドレス信号２４によりメモリ２３のアド
レスが順次選択され、各番地ごとにメモリ読出し
データをラツチ回路２７に一旦ラツチし、このメ
モリ読出しデータと２値画像データ２１とを加算
し、その加算結果をメモリ２３の同一番地に書込
む。これにより２値画像データ２１が“１”のア
ドレスでメモリ２３の内容が＋１され、円周方向
（Ｙ方向）の積分データが得られる。この円周方
向に積分して得られた多値画像データを再度２値
化するときはCPUからの第２のしきい値Th３２
をラツチ回路２８にラツチしておき、このしきい
値３２とメモリ２３のメモリ読出しデータとを比
較器３０で比較する。なお、このときマルチプレ
クサ２９はラツチ回路２８の力を比較器３０へ送
るように作動する。これにより得られる比較器３
０の２値信号出力を１”、“０”反転検出回路３１
に導き、この２値信号の反転位置を検出して、こ
の反転位置をペレツト１の境界（エツジ）と判定
する。この反転位置のＸ座標値はラツチ回路２５
にラツチし、CPUに読取る。なお積分データを
再度２値化するときの第２のしきい値３２は、２
値化動作に先立つて、積分データのピーク値を
CPUで読取つてこれを基にして算定するので、
このピーク値検出とピーク値読取りのためのラツ
チ回路２６を設けている。ピーク値を検出すると
きは、マルチプレクサ２９によりラツチ回路２６
の出力を比較器３０へ導くようにし、先ずラツチ
回路２６をクリアしておき、その後メモリ２３内
データを順次読出してラツチ回路２６の内容と比
較し、読出しデータが大きい場合には、ラツチ回
路２６の内容更新することにより、最終的に、ラ
ツチ回路２６にピーク値が残るようにする。
第９図は第１図と第５図に示すようにリニアイ
メージセンサ４の視野内にペレツト１が１個のみ
の場合に、第８図で上記のように２値画像データ
２１を円周方向（Ｙ方向）に積分して得られる多
値画像データを例示する波形図で、第２のしきい
値３２で第３図に示すような欠け１１のあるペレ
ツト１の円筒面パターンの境界（エツジ）EG1、
EG2が正しく検出できることを示している。
メージセンサ４の視野内にペレツト１が１個のみ
の場合に、第８図で上記のように２値画像データ
２１を円周方向（Ｙ方向）に積分して得られる多
値画像データを例示する波形図で、第２のしきい
値３２で第３図に示すような欠け１１のあるペレ
ツト１の円筒面パターンの境界（エツジ）EG1、
EG2が正しく検出できることを示している。
また、第１０図は第２図に示すようにペレツト
１が列状の場合に、前後の隣接ペレツトがリニア
イメージセンサ４の視野内に入るため、第８図で
得られる積分した多値画像データを例示する波形
図である。この場合には、２値画像データ２１に
おいて対象ペレツトのエツジ部は隣接ペレツトか
らの反射光の影響により全周が暗レベルになると
は限らない。このため第１０図に示すように積分
した多値画像データの対象ペレツトのエツジ部の
レベルがVb1、Vb2のようなレベルを示す場合が
生じる。このためしきい値を固定しておくと、ペ
レツトのエツジ部で２値化できなくなつて境界検
出が不可能となる。このような不都合を防止する
ため、積分した多値画像データの正常面レベル
VSと左、右エツジ部最暗レベルVb1、Vb2を求め、
しきい値Th1、Th2をそれぞれ左、右のエツジ部
最暗レベルVb1、Vb2と正常面レベルVSとの中間
の適当なレベルとなるようにペレツトごとに
CPUで演算して設定する。このようにすれば第
１０図に示すように対象ペレツトの正しい左、右
のエツジ部EG1、EG2が検出できる。
１が列状の場合に、前後の隣接ペレツトがリニア
イメージセンサ４の視野内に入るため、第８図で
得られる積分した多値画像データを例示する波形
図である。この場合には、２値画像データ２１に
おいて対象ペレツトのエツジ部は隣接ペレツトか
らの反射光の影響により全周が暗レベルになると
は限らない。このため第１０図に示すように積分
した多値画像データの対象ペレツトのエツジ部の
レベルがVb1、Vb2のようなレベルを示す場合が
生じる。このためしきい値を固定しておくと、ペ
レツトのエツジ部で２値化できなくなつて境界検
出が不可能となる。このような不都合を防止する
ため、積分した多値画像データの正常面レベル
VSと左、右エツジ部最暗レベルVb1、Vb2を求め、
しきい値Th1、Th2をそれぞれ左、右のエツジ部
最暗レベルVb1、Vb2と正常面レベルVSとの中間
の適当なレベルとなるようにペレツトごとに
CPUで演算して設定する。このようにすれば第
１０図に示すように対象ペレツトの正しい左、右
のエツジ部EG1、EG2が検出できる。
なお、上記の積分すべき２値画像データ２１は
Ｘ方向走査線については適当に間引いて円周方向
（Ｙ方向）に積分してもよく、こうすればメモリ
２３の容量を少なくするのに有効である。
Ｘ方向走査線については適当に間引いて円周方向
（Ｙ方向）に積分してもよく、こうすればメモリ
２３の容量を少なくするのに有効である。
このように本実施例によれば、ウランペレツト
など円筒（円柱）状物体の２値画像データを円周
方向に積分し、この広い範囲の画像情報を用いて
適当な第２のしきい値により境界（エツジ）の判
定を行なうため、円筒面に局部的な欠けや割れな
どの欠陥がある場合やペレツトが列状にある場合
にも、対象の円筒面パターンの正しい境界検出が
可能である。
など円筒（円柱）状物体の２値画像データを円周
方向に積分し、この広い範囲の画像情報を用いて
適当な第２のしきい値により境界（エツジ）の判
定を行なうため、円筒面に局部的な欠けや割れな
どの欠陥がある場合やペレツトが列状にある場合
にも、対象の円筒面パターンの正しい境界検出が
可能である。
以上のように本発明によれば、円筒（円柱）状
物体を円周方向に回転させて円筒面を撮像するさ
い、局部的に存在する欠陥部分の影響による誤判
定を防止して、２次元撮像画面の中から正しい円
筒面パターンの境界を安定に検出することがで
き、たとえばウランペレツト外観自動検査装置に
おけるペレツトのパターン・エツジ検出などに広
く利用できる。
物体を円周方向に回転させて円筒面を撮像するさ
い、局部的に存在する欠陥部分の影響による誤判
定を防止して、２次元撮像画面の中から正しい円
筒面パターンの境界を安定に検出することがで
き、たとえばウランペレツト外観自動検査装置に
おけるペレツトのパターン・エツジ検出などに広
く利用できる。
第１図は円筒状物体・ペレツトの円筒面パター
ン撮像装置の構成例を示す斜視図、第２図は第１
図のローラ上の円筒状物体・ペレツト列を示す上
面図、第３図は欠けのあるペレツト斜視図、第４
図は割れのあるペレツト斜視図、第５図は第１
図、第３図による円筒面２値画像パターン図、第
６図は第５図の走査線SA上の画像信号波形図、
第７図は同じく走査線SB上の画像信号波形図、第
８図は本発明の一実施例を示す回路構成図、第９
図は第８図で第５図の２値画像信号を積分して得
た多値画像データの波形図、第１０図は同じく第
８図でペレツト列の２値画像信号を積分して得た
多値画像データの波形図である。 １……円筒状物体・ペレツト、２……ローラ、
４……リニアイメージセンサ、２１……２値画像
データ、２２……加算器、２３……メモリ、２
５，２６，２７，２８……ラツチ回路、３０……
比較器、３１……反転検出回路。
ン撮像装置の構成例を示す斜視図、第２図は第１
図のローラ上の円筒状物体・ペレツト列を示す上
面図、第３図は欠けのあるペレツト斜視図、第４
図は割れのあるペレツト斜視図、第５図は第１
図、第３図による円筒面２値画像パターン図、第
６図は第５図の走査線SA上の画像信号波形図、
第７図は同じく走査線SB上の画像信号波形図、第
８図は本発明の一実施例を示す回路構成図、第９
図は第８図で第５図の２値画像信号を積分して得
た多値画像データの波形図、第１０図は同じく第
８図でペレツト列の２値画像信号を積分して得た
多値画像データの波形図である。 １……円筒状物体・ペレツト、２……ローラ、
４……リニアイメージセンサ、２１……２値画像
データ、２２……加算器、２３……メモリ、２
５，２６，２７，２８……ラツチ回路、３０……
比較器、３１……反転検出回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 円筒状物体を円周方向に回転させてその外周
円筒面を撮像器で撮像し、その撮像器視野内の撮
像画面の中から上記円筒状物体の円筒面パターン
の境界を検出するさい、上記撮像器出力のアナロ
グ画像信号を第１のしきい値で２値化し、この２
値化信号を円周方向に積分し、この積分後の多値
画像信号を第２のしきい値で再度２値化し、この
２値化信号の“１”、“０”反転部を境界位置と判
定することを特徴とする円筒面撮像パターン境界
検出方式。 ２ 上記積分後の多値画像信号における円筒面信
号レベルと円筒面境界領域内の最暗レベルとを検
出し、これら両レベルにはさまれた範囲内に上記
第２のしきい値を設定することを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の円筒面撮像パターン境界
検出方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57222063A JPS59112366A (ja) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | 円筒面撮像パタ−ンの境界検出方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57222063A JPS59112366A (ja) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | 円筒面撮像パタ−ンの境界検出方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59112366A JPS59112366A (ja) | 1984-06-28 |
| JPH0137789B2 true JPH0137789B2 (ja) | 1989-08-09 |
Family
ID=16776523
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57222063A Granted JPS59112366A (ja) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | 円筒面撮像パタ−ンの境界検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59112366A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2675926B1 (fr) * | 1991-04-24 | 1995-04-28 | Leroux Ets Gilles | Dispositif de traitement d'informations d'images lineaires de generatrices d'une piece possedant un axe de revolution. |
-
1982
- 1982-12-20 JP JP57222063A patent/JPS59112366A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59112366A (ja) | 1984-06-28 |
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