JPH0140293B2 - - Google Patents
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- JPH0140293B2 JPH0140293B2 JP58145065A JP14506583A JPH0140293B2 JP H0140293 B2 JPH0140293 B2 JP H0140293B2 JP 58145065 A JP58145065 A JP 58145065A JP 14506583 A JP14506583 A JP 14506583A JP H0140293 B2 JPH0140293 B2 JP H0140293B2
- Authority
- JP
- Japan
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- correlation
- circuit
- photoelectric conversion
- pixels
- distance
- Prior art date
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- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
- G01C3/08—Use of electric radiation detectors
- G01C3/085—Use of electric radiation detectors with electronic parallax measurement
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の属する技術分野]
本発明は、距離検出装置、特に写真カメラ、テ
レビカメラ、ロボツト等の各種用途に好適な焦点
測定装置に関するものである。
レビカメラ、ロボツト等の各種用途に好適な焦点
測定装置に関するものである。
[従来の技術]
物体までの距離を検出する装置としては、従来
から各種用途に、例えば被写体までの距離を検出
して撮影レンズの合焦調節を行う写真カメラや
TVカメラに用いられ、各種の方式が提案されて
いる。しかしながら、距離検出装置側から検出す
べき物体、例えば写真カメラ用の距離検出装置に
おいては、被写体に検出装置から見て種々の距離
の異なる物体が混在している。例えば、第1図に
示すように広視野内に遠景として山があり、その
前方に家が点在し、更にその前方の人物を被写体
としてその距離を検出する場合に、通常の距離検
出装置では各種物体距離の平均値を検出すること
が多い。上述の例では、点在する家がその平均距
離範囲内に存在すると仮定すると、被写体として
は点在する家にピントが合つた写真、即ち本来鮮
明に撮影したい人物が鮮明に得られない写真しか
撮影することができない。このようなことは、単
に写真カメラ用距離検出装置にだけに生ずる問題
ではない。
から各種用途に、例えば被写体までの距離を検出
して撮影レンズの合焦調節を行う写真カメラや
TVカメラに用いられ、各種の方式が提案されて
いる。しかしながら、距離検出装置側から検出す
べき物体、例えば写真カメラ用の距離検出装置に
おいては、被写体に検出装置から見て種々の距離
の異なる物体が混在している。例えば、第1図に
示すように広視野内に遠景として山があり、その
前方に家が点在し、更にその前方の人物を被写体
としてその距離を検出する場合に、通常の距離検
出装置では各種物体距離の平均値を検出すること
が多い。上述の例では、点在する家がその平均距
離範囲内に存在すると仮定すると、被写体として
は点在する家にピントが合つた写真、即ち本来鮮
明に撮影したい人物が鮮明に得られない写真しか
撮影することができない。このようなことは、単
に写真カメラ用距離検出装置にだけに生ずる問題
ではない。
例えば、近接して来る物体距離を検出して警告
を発する装置が自動車、飛行機等に取り付けら
れ、衝突を回避する各種装置が提案されている
が、検出物体として比較的広視野範囲で監視する
必要があるため同様の問題が生ずる。即ち、上述
のように視野範囲内の各種物体までの距離の平均
値を得たのでは、満足な結果が得られないことは
明らかである。
を発する装置が自動車、飛行機等に取り付けら
れ、衝突を回避する各種装置が提案されている
が、検出物体として比較的広視野範囲で監視する
必要があるため同様の問題が生ずる。即ち、上述
のように視野範囲内の各種物体までの距離の平均
値を得たのでは、満足な結果が得られないことは
明らかである。
このような問題を解決するために提案されてい
る方法は、例えば距離を検出すべき物体が存在す
る視野の一部視野を選択、つまり狭視野にして、
この物体のみがこの狭視野内に入るように選択
し、不要な物体の距離を検出しないようにしたも
のがある。しかしこの方法によると、最も検出し
たい物体の視野内位置に応じた狭視野の選択を行
う必要があり、その選択操作が煩雑な上に、選択
するための回路構成も複雑となる欠点がある。ま
た物体によつては、各種距離の物体が混合してい
て明確に選択できない場合もあり、上述の方法で
は問題点を完全に解決することができない。
る方法は、例えば距離を検出すべき物体が存在す
る視野の一部視野を選択、つまり狭視野にして、
この物体のみがこの狭視野内に入るように選択
し、不要な物体の距離を検出しないようにしたも
のがある。しかしこの方法によると、最も検出し
たい物体の視野内位置に応じた狭視野の選択を行
う必要があり、その選択操作が煩雑な上に、選択
するための回路構成も複雑となる欠点がある。ま
た物体によつては、各種距離の物体が混合してい
て明確に選択できない場合もあり、上述の方法で
は問題点を完全に解決することができない。
[発明の目的]
本発明の目的は、上述の欠点を解決し、測距す
べき物体中の特に所望の物体距離を自動的に得る
ことである。また、本発明の他の目的は、高速か
つ高精度に所望する物体のみの距離情報を得る焦
点測定装置を提供することである。
べき物体中の特に所望の物体距離を自動的に得る
ことである。また、本発明の他の目的は、高速か
つ高精度に所望する物体のみの距離情報を得る焦
点測定装置を提供することである。
ここで、距離情報とは絶対的な距離を示す絶対
距離情報以外に相対的距離情報を含み、相対的な
距離情報とは、例えば撮影レンズを予定焦点面に
合焦状態に調整するように、非合焦状態にある撮
影レンズの現在位置から可動して、合焦状態に移
行させる移動量に相当する量である。また、本明
細書においては、絶対的距離情報及び相対的距離
情報の両者を、距離に関連する情報又は信号と総
称して説明することにする。
距離情報以外に相対的距離情報を含み、相対的な
距離情報とは、例えば撮影レンズを予定焦点面に
合焦状態に調整するように、非合焦状態にある撮
影レンズの現在位置から可動して、合焦状態に移
行させる移動量に相当する量である。また、本明
細書においては、絶対的距離情報及び相対的距離
情報の両者を、距離に関連する情報又は信号と総
称して説明することにする。
[発明の構成]
本発明は距離検出すべき視野内に、遠い物体・
近い物体等が混在する際に、各物体までの距離を
検出し、検出された複数の距離情報に重み付けを
し、好ましくは近い物体の距離情報を選択して、
最終的な距離検出を行うように構成した焦点測定
装置である。
近い物体等が混在する際に、各物体までの距離を
検出し、検出された複数の距離情報に重み付けを
し、好ましくは近い物体の距離情報を選択して、
最終的な距離検出を行うように構成した焦点測定
装置である。
[発明の実施例]
以下に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
第1図に示す視野Sにおいて、S0は距離検出
すべき被写体中の特に主被写体を概念的に示した
ものである。実際には、主被写体S0の背景には
他の被写体、例えば自然の中に人物が立つている
被写体を想定した場合に、主被写体S0の背後に
家S1、木S2、山S3等の被写体となる物体が
含まれている。そして、各物体S0〜S3はそれ
ぞれ異なる位置に配置されている。また、1a,
1bは所定の基線長距離だけ離れて配置された2
つの結像レンズ、2a,2bは結像レンズ1a,
1bの背後に設けられたCCD等のラインセンサ
から成る光電変換素子であり、この光電変換素子
2a,2bの受光面から見た場合に、視野Sの点
線で囲むD部分が監視されるように配置されてい
る。更に、3は被写体距離検出用処理回路、4は
距離情報処理回路を示している。
すべき被写体中の特に主被写体を概念的に示した
ものである。実際には、主被写体S0の背景には
他の被写体、例えば自然の中に人物が立つている
被写体を想定した場合に、主被写体S0の背後に
家S1、木S2、山S3等の被写体となる物体が
含まれている。そして、各物体S0〜S3はそれ
ぞれ異なる位置に配置されている。また、1a,
1bは所定の基線長距離だけ離れて配置された2
つの結像レンズ、2a,2bは結像レンズ1a,
1bの背後に設けられたCCD等のラインセンサ
から成る光電変換素子であり、この光電変換素子
2a,2bの受光面から見た場合に、視野Sの点
線で囲むD部分が監視されるように配置されてい
る。更に、3は被写体距離検出用処理回路、4は
距離情報処理回路を示している。
光電変換素子2a,2b上には、被写体S0〜
S3の像がレンズ1a,1bにより投影され、物
体S0〜S3の各距離に応じて光電変換素子2
a,2b上で相対的にずれて像が形成されるが、
この原理は三角測量式距離検出装置として良く知
られているので説明を省略する。
S3の像がレンズ1a,1bにより投影され、物
体S0〜S3の各距離に応じて光電変換素子2
a,2b上で相対的にずれて像が形成されるが、
この原理は三角測量式距離検出装置として良く知
られているので説明を省略する。
第2図はTTL測距方式と呼ばれる他の実施例
に適用した際の構成を示し、2a,2bは第1図
の場合と同様の光電変換素子、5は撮影レンズ、
6は撮影レンズの後部に配置された反射分離板、
Fは感光フイルム面である。また、7はづれ量検
出、つまり相対的距離情報検出用処理回路、8は
レンズ駆動手段をそれぞれ示している。
に適用した際の構成を示し、2a,2bは第1図
の場合と同様の光電変換素子、5は撮影レンズ、
6は撮影レンズの後部に配置された反射分離板、
Fは感光フイルム面である。また、7はづれ量検
出、つまり相対的距離情報検出用処理回路、8は
レンズ駆動手段をそれぞれ示している。
反射分割板6は撮影レンズ5の光束を側方へ反
射し、フイルム面Fと共役な位置に配置されてい
る光電変換素子2a,2b面上に、フイルム面F
と光学的に等価な被写体像を形成する。また、光
電変換素子2a,2b上の被写体像は、分割板6
によりそれぞれ異なる光路を介して、同一被写体
像が撮影レンズ5によりそれぞれ光電変換素子2
a,2b上に形成される。従つて、被写体像は撮
影レンズ5の現在位置により予定焦点面にあるフ
イルム面Fからのデフオーカス量に応じて、光電
変換素子2a,2b上で相対的にずれ、厳密には
ぼけた被写体像が形成され、撮影レンズ5が光軸
方向に移動し、撮影レンズ5の焦点を予定焦点面
であるフイルム面Fに合致させると、光電変換素
子2a,2b上での相対的ずれは無くなる。
射し、フイルム面Fと共役な位置に配置されてい
る光電変換素子2a,2b面上に、フイルム面F
と光学的に等価な被写体像を形成する。また、光
電変換素子2a,2b上の被写体像は、分割板6
によりそれぞれ異なる光路を介して、同一被写体
像が撮影レンズ5によりそれぞれ光電変換素子2
a,2b上に形成される。従つて、被写体像は撮
影レンズ5の現在位置により予定焦点面にあるフ
イルム面Fからのデフオーカス量に応じて、光電
変換素子2a,2b上で相対的にずれ、厳密には
ぼけた被写体像が形成され、撮影レンズ5が光軸
方向に移動し、撮影レンズ5の焦点を予定焦点面
であるフイルム面Fに合致させると、光電変換素
子2a,2b上での相対的ずれは無くなる。
なお、反射分割板6は測距動作後に撮影光路外
位置に移動し、フイルム面Fへの被写体露光が行
われるが、本発明の主旨とは直接関係がないの
で、その詳細の説明は省略する。
位置に移動し、フイルム面Fへの被写体露光が行
われるが、本発明の主旨とは直接関係がないの
で、その詳細の説明は省略する。
第3図は前述の処理回路4,7の実施例を示す
ブロツク回路構成図である。2個の光電変換素子
2a,2bからの出力は、4個の選択ゲート回路
10a,10b,11a,11bに送出されてい
る。即ち、光電変換素子2aの出力は選択ゲート
回路10a,10bにそれぞれ送られ、光電変換
素子2bの出力は選択ゲート回路11a,11b
にそれぞれ送信される。そして、選択ゲート回路
10a,11aの出力は第1の相関検知器12に
送られ、この相関検知器12の出力はサンプル値
ホールド回路13、減衰器14、加算器15、最
大値選択回路16、プライオリテイエンコーダ1
7(例えばTexas Instrument社製SN74147)を
介して、デジタルサーボ回路から成る駆動回路1
8及びD/A変換増幅器19に送られるようにな
つている。一方、選択ゲート回路10b,11b
の出力は第2の相関検知器20に送られ、この相
関検知器20の出力はサンプル値ホールド回路2
1、減衰器22を経て先の加算器15に送られ
る。また、発振器23から出力されるパルスを計
数する計数回路24の出力は、アドレス値として
後述する例えばアドレス〜信号のように各回
路に送出されている。
ブロツク回路構成図である。2個の光電変換素子
2a,2bからの出力は、4個の選択ゲート回路
10a,10b,11a,11bに送出されてい
る。即ち、光電変換素子2aの出力は選択ゲート
回路10a,10bにそれぞれ送られ、光電変換
素子2bの出力は選択ゲート回路11a,11b
にそれぞれ送信される。そして、選択ゲート回路
10a,11aの出力は第1の相関検知器12に
送られ、この相関検知器12の出力はサンプル値
ホールド回路13、減衰器14、加算器15、最
大値選択回路16、プライオリテイエンコーダ1
7(例えばTexas Instrument社製SN74147)を
介して、デジタルサーボ回路から成る駆動回路1
8及びD/A変換増幅器19に送られるようにな
つている。一方、選択ゲート回路10b,11b
の出力は第2の相関検知器20に送られ、この相
関検知器20の出力はサンプル値ホールド回路2
1、減衰器22を経て先の加算器15に送られ
る。また、発振器23から出力されるパルスを計
数する計数回路24の出力は、アドレス値として
後述する例えばアドレス〜信号のように各回
路に送出されている。
光電変換素子2a及び2bからはその各画素に
対応する輝度情報の光電出力が、選択ゲート回路
10a,10b及び11a,11bに出力され
る。ずれ量を求めるために、発振器23のパルス
を計数する計数回路24の出力が、アドレス信号
として各選択ゲート回路10a,10b,11
a,11bに供給されている。例えば、各7個の
画素から成る光電変換素子2a,2bの出力を、
選択ゲート回路10a,11aによつて順次ずら
しながら3画素分ずつ選択することにより、つま
り或るアドレスでは光電変換素子2aの第1〜第
3番目の画素と、光電変換素子2bの第5〜第7
番目の画素を選択し、次のアドレスでは光電変換
素子2aの第2〜第4番目の画素を、光電変換素
子2bの第4〜第6番目の画素をというように抽
出する。
対応する輝度情報の光電出力が、選択ゲート回路
10a,10b及び11a,11bに出力され
る。ずれ量を求めるために、発振器23のパルス
を計数する計数回路24の出力が、アドレス信号
として各選択ゲート回路10a,10b,11
a,11bに供給されている。例えば、各7個の
画素から成る光電変換素子2a,2bの出力を、
選択ゲート回路10a,11aによつて順次ずら
しながら3画素分ずつ選択することにより、つま
り或るアドレスでは光電変換素子2aの第1〜第
3番目の画素と、光電変換素子2bの第5〜第7
番目の画素を選択し、次のアドレスでは光電変換
素子2aの第2〜第4番目の画素を、光電変換素
子2bの第4〜第6番目の画素をというように抽
出する。
以下に第3図に示す各回路ブロツクの詳細を第
4図〜第9図を参照して説明するが、これらの回
路は理解が容易なように図面を平易にしている。
4図〜第9図を参照して説明するが、これらの回
路は理解が容易なように図面を平易にしている。
先ず、選択ゲート回路10a,11aに使用さ
れる選択ゲート回路を第4図に例示するが、選択
ゲート回路10b,11bもその構成は同等であ
る。この回路例では画素を4個ずつ抽出するもの
であり、端子40からの光電変換素子2の画素の
出力を、端子41から入力する計数回路24のア
ドレス信号によつて順次ずらしながら、端子42
に選択出力するようになつている。つまり、端子
40からの各入力は同一のアドレス信号により選
択されるアナログスイツチ43a〜43dに、例
えば端子40の或る位置は各アナログスイツチ4
3a〜43dの3、2、1、0番目の入力端子に
というようにずらしながら接続されている。端子
42からの出力はアドレス信号により、例えば入
力信号の第1〜第4番目、次のアドレスでは第2
〜第5番目と接続され、順次にずれながら接続さ
れる。
れる選択ゲート回路を第4図に例示するが、選択
ゲート回路10b,11bもその構成は同等であ
る。この回路例では画素を4個ずつ抽出するもの
であり、端子40からの光電変換素子2の画素の
出力を、端子41から入力する計数回路24のア
ドレス信号によつて順次ずらしながら、端子42
に選択出力するようになつている。つまり、端子
40からの各入力は同一のアドレス信号により選
択されるアナログスイツチ43a〜43dに、例
えば端子40の或る位置は各アナログスイツチ4
3a〜43dの3、2、1、0番目の入力端子に
というようにずらしながら接続されている。端子
42からの出力はアドレス信号により、例えば入
力信号の第1〜第4番目、次のアドレスでは第2
〜第5番目と接続され、順次にずれながら接続さ
れる。
このようにして、選択ゲート回路10a,11
aで選択された各像信号は、第3図に示す第1の
相関検知器12に入力され、ずらされた信号同志
の例えば3対の信号の一致度即ち相関値を出力す
ることになる。従つて、3対の信号の相関度を求
めるには、選択ゲート回路10a,11aは上述
のように光電変換素子2a,2bの出力を、順次
に3画素ずつ読み出すように構成すればよく、第
4図における各アナログスイツチ43a〜43d
の入力端子3は入力線に接続することは不要とな
り、アナログスイツチ43は3入力端子のものを
用いればよい。
aで選択された各像信号は、第3図に示す第1の
相関検知器12に入力され、ずらされた信号同志
の例えば3対の信号の一致度即ち相関値を出力す
ることになる。従つて、3対の信号の相関度を求
めるには、選択ゲート回路10a,11aは上述
のように光電変換素子2a,2bの出力を、順次
に3画素ずつ読み出すように構成すればよく、第
4図における各アナログスイツチ43a〜43d
の入力端子3は入力線に接続することは不要とな
り、アナログスイツチ43は3入力端子のものを
用いればよい。
更に、図示しないアナログスイツチ43eを追
加し、その入力端を入力信号に接続すと、この場
合はアナログスイツチ43が増加したため、アナ
ログスイツチ43eを含めて5個のアナログスイ
ツチ43a〜43eを順次選択してゆくので、ア
ドレス信号を3ビツト信号で、順次にアナログス
イツチ43を選択することが必要となるが、その
詳細は省略する。
加し、その入力端を入力信号に接続すと、この場
合はアナログスイツチ43が増加したため、アナ
ログスイツチ43eを含めて5個のアナログスイ
ツチ43a〜43eを順次選択してゆくので、ア
ドレス信号を3ビツト信号で、順次にアナログス
イツチ43を選択することが必要となるが、その
詳細は省略する。
第5図は第3図に図示の第1の相関検知器12
に使用される相関検知器の回路例を例示するもの
であるが第2の相関検知器20も同様である。こ
の回路例では、4対の信号同志の一致度を出力す
るようになつているおり、端子50に入力する2
つの選択ゲート回路10,11からの(A1,B
1)、………(A4,B4)の対入力の差を差動
増幅器51a〜52dで求め、これらの各信号を
絶対値回路52a〜52dで各相関信号に変換す
る。そして、これらの相関信号を加算器53で加
算して、各対の入力信号が一致したときに最小値
を示す信号を求め、この信号を反転増幅器54を
通して出力することにより、端子55から一致程
度信号、つまり各アドレスに対応した相関信号を
時系列信号として得ることになる。
に使用される相関検知器の回路例を例示するもの
であるが第2の相関検知器20も同様である。こ
の回路例では、4対の信号同志の一致度を出力す
るようになつているおり、端子50に入力する2
つの選択ゲート回路10,11からの(A1,B
1)、………(A4,B4)の対入力の差を差動
増幅器51a〜52dで求め、これらの各信号を
絶対値回路52a〜52dで各相関信号に変換す
る。そして、これらの相関信号を加算器53で加
算して、各対の入力信号が一致したときに最小値
を示す信号を求め、この信号を反転増幅器54を
通して出力することにより、端子55から一致程
度信号、つまり各アドレスに対応した相関信号を
時系列信号として得ることになる。
この相関信号を比較するために、第3図のサン
プル値ホールド回路13では、各アドレスに対応
して第1の相関検知器12からの相関信号をサン
プルホールドして、それぞれの量に対応した信号
を並列的に出力する。なお、第3図に示す相関検
知器12は3画素ずつの相関をとればよいので、
第5図に示す回路中の差動増幅器51d、絶対値
回路52dは不要である。
プル値ホールド回路13では、各アドレスに対応
して第1の相関検知器12からの相関信号をサン
プルホールドして、それぞれの量に対応した信号
を並列的に出力する。なお、第3図に示す相関検
知器12は3画素ずつの相関をとればよいので、
第5図に示す回路中の差動増幅器51d、絶対値
回路52dは不要である。
第6図は第3図に示すサンプル値ホールド回路
13,21に用いられるホールド回路を示すもの
であり、端子60から入力する相関検知器12,
20からの相関値である時系列信号を、端子61
からの計数回路24のアドレス信号に応じて出力
端子62に並列的に出力するようになつている。
つまり、デコーダ63によりアドレス信号に応じ
てその出力をハイレベルにして、サンプル値ホー
ルド回路64a〜64dをオンにし、そのアドレ
ス信号に対応した時刻の入力値を対応するサンプ
ル値ホールド回路64a〜64dにホールドする
ものである。なお、第3図に示すサンプル値ホー
ルド回路13,21では相関検知器12,20で
それぞれ得られる3画素ずつの相関信号をアドレ
ス信号に基づいて、時系列的に5信号をホールド
する必要があるため、図示しないホールド回路6
4eを増設しなければならない。それに伴いアド
レス信号は3ビツトとなり、その信号によりデコ
ーダ63も少なくとも5出力のものが用いられる
ことになる。
13,21に用いられるホールド回路を示すもの
であり、端子60から入力する相関検知器12,
20からの相関値である時系列信号を、端子61
からの計数回路24のアドレス信号に応じて出力
端子62に並列的に出力するようになつている。
つまり、デコーダ63によりアドレス信号に応じ
てその出力をハイレベルにして、サンプル値ホー
ルド回路64a〜64dをオンにし、そのアドレ
ス信号に対応した時刻の入力値を対応するサンプ
ル値ホールド回路64a〜64dにホールドする
ものである。なお、第3図に示すサンプル値ホー
ルド回路13,21では相関検知器12,20で
それぞれ得られる3画素ずつの相関信号をアドレ
ス信号に基づいて、時系列的に5信号をホールド
する必要があるため、図示しないホールド回路6
4eを増設しなければならない。それに伴いアド
レス信号は3ビツトとなり、その信号によりデコ
ーダ63も少なくとも5出力のものが用いられる
ことになる。
第7図は第3図に示す減衰器14のブロツク回
路図である。実際には、更にアツテネータ71は
図示しないアツテネータ71eを設け合計5個必
要となる。アツテネータ71a〜71eは端子7
0から入力するサンプルホールド値を、それぞれ
順次に一定量ずつ減衰させ、関数的に異なる重み
付けをして端子72に出力するようになつてお
り、至近距離に最も近い相関の強い物体があると
き、その相関情報が出力される端子70aの減衰
量を最小に、71b〜71eについては順次に減
衰量を増大させた各アツテネータが用いられてい
る。第1図に示す外部測距方式の場合には、多く
の撮影される3〜5mの距離範囲の至近距離物体
に相当する相関信号に対し、また第2図に示す
TTL方式の場合は予定焦点面であるフイルム面
Fに対応するアドレス信号に対して、より遠い被
写体を軽視するように、つまり遠い被写体に相当
するアドレス信号に相当する信号は大きく減衰す
るように構成され、より近い被写体を優先するよ
うに、つまりより近い被写体に対応するアドレス
信号ほど減衰率を低くしている。
路図である。実際には、更にアツテネータ71は
図示しないアツテネータ71eを設け合計5個必
要となる。アツテネータ71a〜71eは端子7
0から入力するサンプルホールド値を、それぞれ
順次に一定量ずつ減衰させ、関数的に異なる重み
付けをして端子72に出力するようになつてお
り、至近距離に最も近い相関の強い物体があると
き、その相関情報が出力される端子70aの減衰
量を最小に、71b〜71eについては順次に減
衰量を増大させた各アツテネータが用いられてい
る。第1図に示す外部測距方式の場合には、多く
の撮影される3〜5mの距離範囲の至近距離物体
に相当する相関信号に対し、また第2図に示す
TTL方式の場合は予定焦点面であるフイルム面
Fに対応するアドレス信号に対して、より遠い被
写体を軽視するように、つまり遠い被写体に相当
するアドレス信号に相当する信号は大きく減衰す
るように構成され、より近い被写体を優先するよ
うに、つまりより近い被写体に対応するアドレス
信号ほど減衰率を低くしている。
さて、選択ゲート回路10b,11bは前述の
選択ゲート回路10a,11aで選択した3個よ
りも多い画素、例えば4画素を選択するようにさ
れている。即ち、光電変換素子2a,2bからよ
り広視野内に存在する物体を抽出し、4対の一致
度を第2の相関検知器20により求め、その時系
列信号をサンプル値ホールド回路21で並列信号
に変換し、その信号を減衰器22で一率に減衰し
て加算器15に送出し、この送出される信号は対
応するアドレス信号ごとに加算される。この加算
は第8図に示すように、減衰器14,22から出
力され端子80から入力した信号が、各加算器8
1a〜81dにより対応するアドレス信号ごとに
加算されるようになつている。
選択ゲート回路10a,11aで選択した3個よ
りも多い画素、例えば4画素を選択するようにさ
れている。即ち、光電変換素子2a,2bからよ
り広視野内に存在する物体を抽出し、4対の一致
度を第2の相関検知器20により求め、その時系
列信号をサンプル値ホールド回路21で並列信号
に変換し、その信号を減衰器22で一率に減衰し
て加算器15に送出し、この送出される信号は対
応するアドレス信号ごとに加算される。この加算
は第8図に示すように、減衰器14,22から出
力され端子80から入力した信号が、各加算器8
1a〜81dにより対応するアドレス信号ごとに
加算されるようになつている。
従つて、前述のように7画素、即ち7エレメン
トの受光部を有するCCD等の光電変換素子を用
いているので、4画素を順次に、即ち第1〜第4
画素、第2〜第5画素、第3〜第6画素、第4〜
第7画素を選択ゲート回路10bで抽出する間、
選択ゲート回路11bでは第4〜第7画素、第3
〜第6画素、第2〜第5画素及び第1〜第4画素
をそれぞれ抽出するために、アドレス信号が選択
ゲート回路10b,11bに印加される。各選択
ゲート回路10b,11bはそれぞれ第4図に例
示する回路において、各アナログスイツチは4入
力端子0〜3を有する形式のものが4個使用さ
れ、端子41からのアドレス信号により順次に各
アナログスイツチ43a〜43dが選択される。
また、第2の相関検知器20としては第5図に示
すのものが適用され、第5図に更に光電素子出力
として選択される4画素の対応画素とそれぞれ比
較するために、更に図示しない差動増幅器51
e、絶対値回路52eが設けられ、絶対値回路5
2eの出力は加算器53の印加する加算入力に接
続されるように、4つの加算入力を有する加算器
が用いられることになる。
トの受光部を有するCCD等の光電変換素子を用
いているので、4画素を順次に、即ち第1〜第4
画素、第2〜第5画素、第3〜第6画素、第4〜
第7画素を選択ゲート回路10bで抽出する間、
選択ゲート回路11bでは第4〜第7画素、第3
〜第6画素、第2〜第5画素及び第1〜第4画素
をそれぞれ抽出するために、アドレス信号が選択
ゲート回路10b,11bに印加される。各選択
ゲート回路10b,11bはそれぞれ第4図に例
示する回路において、各アナログスイツチは4入
力端子0〜3を有する形式のものが4個使用さ
れ、端子41からのアドレス信号により順次に各
アナログスイツチ43a〜43dが選択される。
また、第2の相関検知器20としては第5図に示
すのものが適用され、第5図に更に光電素子出力
として選択される4画素の対応画素とそれぞれ比
較するために、更に図示しない差動増幅器51
e、絶対値回路52eが設けられ、絶対値回路5
2eの出力は加算器53の印加する加算入力に接
続されるように、4つの加算入力を有する加算器
が用いられることになる。
一方、サンプル値ホールド回路21は、第6図
に例示したホールド回路64a,64b,64
c,64dの4個が必要となるが、減衰器22は
第7図の回路において4個の減衰器71a〜71
dが用いられる。しかしながら、減衰器22は減
衰器14と異なり、各減衰器の入力となる前段の
サンプル値ホールド回路21の出力にそれぞれ減
衰量に差を付けることは不要であり、減衰器71
a〜71dとしては一定の減衰量のものが用いら
れる。
に例示したホールド回路64a,64b,64
c,64dの4個が必要となるが、減衰器22は
第7図の回路において4個の減衰器71a〜71
dが用いられる。しかしながら、減衰器22は減
衰器14と異なり、各減衰器の入力となる前段の
サンプル値ホールド回路21の出力にそれぞれ減
衰量に差を付けることは不要であり、減衰器71
a〜71dとしては一定の減衰量のものが用いら
れる。
第10図を用いて、加算器81a〜81eから
得られる信号について詳細に説明すると次のよう
になる。第10図aにおいて光電変換素子2a、
2bの出力が3画素ずつ相関信号を形成するため
には、上述のように第1のアドレスにおいて素
子2aの第1〜第3画素、素子2bの第5〜第7
画素の出力を、それぞれについて第1の相関検知
器12により相関をとり、次いで第2のアドレス
で素子2aの第2〜第5画素と素子2bの第4
〜第6画素とについて相関をとり、順次に〜
のアドレスで5個の相関信号を得て、これをサン
プル値ホールド回路64a〜64eに記憶保存す
る。
得られる信号について詳細に説明すると次のよう
になる。第10図aにおいて光電変換素子2a、
2bの出力が3画素ずつ相関信号を形成するため
には、上述のように第1のアドレスにおいて素
子2aの第1〜第3画素、素子2bの第5〜第7
画素の出力を、それぞれについて第1の相関検知
器12により相関をとり、次いで第2のアドレス
で素子2aの第2〜第5画素と素子2bの第4
〜第6画素とについて相関をとり、順次に〜
のアドレスで5個の相関信号を得て、これをサン
プル値ホールド回路64a〜64eに記憶保存す
る。
一方、選択ゲート回路10b,11bは選択ゲ
ート回路10a,11aにより広い視野の4画素
間の相関をとる。第10図bにおいて相関をとる
べき各画素の状態が示すと、第1のアドレスで
は光電変換素子2aの第1〜第4画素と素子2b
の第4〜第7画素の信号間の相関を第2の相関検
知器20によつてとり、次いで第2のアドレス
で素子2aの第2〜第5画素と素子2bの第3〜
第6画素の信号間との相関を、次いで第3のアド
レスで素子2aの第3〜第6画素と素子2bの
第2〜第5画素の信号間との相関を順次にとつ
て、アドレスで素子2aの第4〜第7画素と素
子2bの第1〜第4画素の信号間の相関をとる。
ート回路10a,11aにより広い視野の4画素
間の相関をとる。第10図bにおいて相関をとる
べき各画素の状態が示すと、第1のアドレスで
は光電変換素子2aの第1〜第4画素と素子2b
の第4〜第7画素の信号間の相関を第2の相関検
知器20によつてとり、次いで第2のアドレス
で素子2aの第2〜第5画素と素子2bの第3〜
第6画素の信号間との相関を、次いで第3のアド
レスで素子2aの第3〜第6画素と素子2bの
第2〜第5画素の信号間との相関を順次にとつ
て、アドレスで素子2aの第4〜第7画素と素
子2bの第1〜第4画素の信号間の相関をとる。
上述のように各アドレス〜の信号は、計数
回路24により時系列的に形成されるため、順次
に上述の複数個の画素信号の相関信号がサンプル
値ホールド回路21に保持されていくことにな
る。
回路24により時系列的に形成されるため、順次
に上述の複数個の画素信号の相関信号がサンプル
値ホールド回路21に保持されていくことにな
る。
加算器81a〜81dは上述のアドレス〜
で得られた相関信号を加算するものであり、81
aはアドレスの時点で、81bはアドレスの
時点、81cはアドレスの時点、81dはアド
レスの時点で、各サンプル値ホールド回路2
1,13に保持された相関信号を加算する。ただ
し、アドレスの時点では狭視野の選択ゲート回
路10a,11aの出力のみが得られ、光電変換
素子2a,2bについてその相関信号が得られる
が、広視野の選択ゲート回路10b,11bの出
力は得られないので、アドレスで得られた相関
信号をそのまま代用し、詳細な説明は省略するが
後述する加算器81eにより狭視野相関信号と代
用信号の両者の加算を行う。
で得られた相関信号を加算するものであり、81
aはアドレスの時点で、81bはアドレスの
時点、81cはアドレスの時点、81dはアド
レスの時点で、各サンプル値ホールド回路2
1,13に保持された相関信号を加算する。ただ
し、アドレスの時点では狭視野の選択ゲート回
路10a,11aの出力のみが得られ、光電変換
素子2a,2bについてその相関信号が得られる
が、広視野の選択ゲート回路10b,11bの出
力は得られないので、アドレスで得られた相関
信号をそのまま代用し、詳細な説明は省略するが
後述する加算器81eにより狭視野相関信号と代
用信号の両者の加算を行う。
このようにして加算器15から出力される並列
アナログ信号に対し、最大値選択回路16により
大なる信号のみが選択される。第9図はこの選択
回路を示し、端子90からの入力信号に対しダイ
オード91a〜91d及び抵抗92a,92bに
より最大値をダイオード91の出力端に出力し、
抵抗92a,92bで分割された例えば最大値×
0.9の電位をバツフア93により発生させ、その
電位と端子90からの各入力電位を比較器94a
〜94dにおいて比較する。例えば、最大値×
0.9を上廻る入力に対して比較器94a〜94d
の出力をハイレベルにしてデジタル出力端子95
に出力すると共に、そのハイレベル出力によりア
ナログスイツチ96a〜96dをオンにして、ア
ナログ出力端子97に端子90の入力信号を直接
に伝達するようにしている。
アナログ信号に対し、最大値選択回路16により
大なる信号のみが選択される。第9図はこの選択
回路を示し、端子90からの入力信号に対しダイ
オード91a〜91d及び抵抗92a,92bに
より最大値をダイオード91の出力端に出力し、
抵抗92a,92bで分割された例えば最大値×
0.9の電位をバツフア93により発生させ、その
電位と端子90からの各入力電位を比較器94a
〜94dにおいて比較する。例えば、最大値×
0.9を上廻る入力に対して比較器94a〜94d
の出力をハイレベルにしてデジタル出力端子95
に出力すると共に、そのハイレベル出力によりア
ナログスイツチ96a〜96dをオンにして、ア
ナログ出力端子97に端子90の入力信号を直接
に伝達するようにしている。
第3図においては、この最大値を最大値選択回
路16の出力として、第9図におけるデジタル出
力端子97からのデジタル信号を得て、プライオ
リテイエンコーダ17を介して近い被写体を優先
して大きく一致した信号に対応するアドレス信号
を出力する。
路16の出力として、第9図におけるデジタル出
力端子97からのデジタル信号を得て、プライオ
リテイエンコーダ17を介して近い被写体を優先
して大きく一致した信号に対応するアドレス信号
を出力する。
なお、第8図に示す加算器では4対の加算器8
1a〜81dが設けられているが、実際には狭視
野内の物体の相関を3画素ずつ見た結果得られる
サンプル値ホールド回路21の出力は5個である
から、減衰器22から5出力が得られ、第8図で
は更に1個の図示しない加算器81eを設ける必
要がある。また、第9図に示す最大値14選択回
路16も、それに応じて更に1個の入力が増加す
るが、実際の回路は第9図に例示の回路から自明
であるので、その詳細な説明は省略する。
1a〜81dが設けられているが、実際には狭視
野内の物体の相関を3画素ずつ見た結果得られる
サンプル値ホールド回路21の出力は5個である
から、減衰器22から5出力が得られ、第8図で
は更に1個の図示しない加算器81eを設ける必
要がある。また、第9図に示す最大値14選択回
路16も、それに応じて更に1個の入力が増加す
るが、実際の回路は第9図に例示の回路から自明
であるので、その詳細な説明は省略する。
また、計数回路24の出力は各回路に加えら
れ、光電変換素子2a,2bの読み出し1周期し
て対応する画素同志の相関を第1の相関検知器1
2では3画素ずつ、第2の相関検知器20では4
画素ずつとつてゆくように、選択回路10a,1
1a,10b,11b、サンプル値ホールド回路
21,13に前述のアドレス信号〜を印加す
る。
れ、光電変換素子2a,2bの読み出し1周期し
て対応する画素同志の相関を第1の相関検知器1
2では3画素ずつ、第2の相関検知器20では4
画素ずつとつてゆくように、選択回路10a,1
1a,10b,11b、サンプル値ホールド回路
21,13に前述のアドレス信号〜を印加す
る。
その後に、図示しないクリア回路が計数回路2
4、光電変換素子2a,2b、サンプル値ホール
ド回路13,21にリセツト信号を印加し、各回
路を初期状態とした後に再び計数回路24がアド
レス信号を形成するが、この所定時間に後述の駆
動回路18により、又はD/A変換増幅器19の
アナログ出力により、第1図に示す距離情報処理
回路4に距離情報を表示し、又は第2図に示す撮
影レンズ5が駆動される。
4、光電変換素子2a,2b、サンプル値ホール
ド回路13,21にリセツト信号を印加し、各回
路を初期状態とした後に再び計数回路24がアド
レス信号を形成するが、この所定時間に後述の駆
動回路18により、又はD/A変換増幅器19の
アナログ出力により、第1図に示す距離情報処理
回路4に距離情報を表示し、又は第2図に示す撮
影レンズ5が駆動される。
以上の構成において、サンプル値ホールド回路
13で得られる5個の相関量は、上述のように光
電変換素子2a,2b上の第1〜第3画素2a、
第5〜第7画素2bを3画素の狭視野での相関を
見ており、換言すればこの相関量が結果的に最大
であれば、極めて遠方の無限大位置に物体が存在
していることを意味している。次いで、第2〜第
4画素2a、第4〜第6画素2bの相関をとる
が、ここに最大の相関像が得られれば、これは遠
距離位置に物体が存在していることを意味してい
る。同様に第3〜第5画素2a、第3〜第5画素
2b、次いで第4〜第6画素2a、第2〜第4画
素2b、更に第5〜第7画素2a、第1〜第3画
素2bとそれぞれの相関値を求めてゆく。
13で得られる5個の相関量は、上述のように光
電変換素子2a,2b上の第1〜第3画素2a、
第5〜第7画素2bを3画素の狭視野での相関を
見ており、換言すればこの相関量が結果的に最大
であれば、極めて遠方の無限大位置に物体が存在
していることを意味している。次いで、第2〜第
4画素2a、第4〜第6画素2bの相関をとる
が、ここに最大の相関像が得られれば、これは遠
距離位置に物体が存在していることを意味してい
る。同様に第3〜第5画素2a、第3〜第5画素
2b、次いで第4〜第6画素2a、第2〜第4画
素2b、更に第5〜第7画素2a、第1〜第3画
素2bとそれぞれの相関値を求めてゆく。
従つて、相関を求めることにより無限大から至
近に至る範囲について狭い視野で5つのゾーンに
分け、このゾーン内でそれぞれ物体の存在を求め
ることができ、各ゾーン内での相関値がサンプル
値ホールド回路13に保持されることになる。減
衰器14により、この5つのゾーンのうち、至近
ゾーンから順次に各ゾーンの減衰量は大きく設定
されているため、近くに存在する物体の相関値ほ
ど大きくなる。サンプル値ホールド回路21も同
様に、4つの距離ゾーン、即ち無限大から遠い距
離にある第1のゾーン、比較的遠い距離から中間
距離にある第2のゾーン、中間距離から近い距離
にある第3のゾーン、近い距離から至近距離にあ
る第4のゾーン内にある物体の相関量をそれぞれ
保持する。
近に至る範囲について狭い視野で5つのゾーンに
分け、このゾーン内でそれぞれ物体の存在を求め
ることができ、各ゾーン内での相関値がサンプル
値ホールド回路13に保持されることになる。減
衰器14により、この5つのゾーンのうち、至近
ゾーンから順次に各ゾーンの減衰量は大きく設定
されているため、近くに存在する物体の相関値ほ
ど大きくなる。サンプル値ホールド回路21も同
様に、4つの距離ゾーン、即ち無限大から遠い距
離にある第1のゾーン、比較的遠い距離から中間
距離にある第2のゾーン、中間距離から近い距離
にある第3のゾーン、近い距離から至近距離にあ
る第4のゾーン内にある物体の相関量をそれぞれ
保持する。
上述したように2つの相関検知器12,20を
用いて、一方の相関検知器12は3画素ずつの狭
視野内物体の相関を順次に検知し、広視野内物体
の相関を検知した信号を加算して、相関比較を行
つている点についての意味を次に説明する。
用いて、一方の相関検知器12は3画素ずつの狭
視野内物体の相関を順次に検知し、広視野内物体
の相関を検知した信号を加算して、相関比較を行
つている点についての意味を次に説明する。
いま第1図の視標Sにおいて、至近距離に位置
する人物S0のコントラストよりも遠方に位置す
る樹木S2のコントラストが高いとし、順次に家
S1、山S3の順と仮定する。選択ゲート10
a,11aにより3画素ずつ光電変換素子2a,
2bの出力の順次の相関をとつてゆくと、サンプ
ル値ホールド回路21には相関値情報として家S
1(中間距離)、人物S0(至近距離)、樹木S2
(遠距離)、山S3(無限大)の情報が、それぞれ
サンプル値ホールドされた後に減衰器22により
減衰される。この時、減衰器22は遠い物体にな
るに従い減衰量が大きいため、減衰後の家S1の
相関量と人物S0の相関量は、相関量の差の程度
及び減衰量の測定によつては僅かしか人物S0の
相関量の方が上廻らないことが生ずる。
する人物S0のコントラストよりも遠方に位置す
る樹木S2のコントラストが高いとし、順次に家
S1、山S3の順と仮定する。選択ゲート10
a,11aにより3画素ずつ光電変換素子2a,
2bの出力の順次の相関をとつてゆくと、サンプ
ル値ホールド回路21には相関値情報として家S
1(中間距離)、人物S0(至近距離)、樹木S2
(遠距離)、山S3(無限大)の情報が、それぞれ
サンプル値ホールドされた後に減衰器22により
減衰される。この時、減衰器22は遠い物体にな
るに従い減衰量が大きいため、減衰後の家S1の
相関量と人物S0の相関量は、相関量の差の程度
及び減衰量の測定によつては僅かしか人物S0の
相関量の方が上廻らないことが生ずる。
加算器15は広視野で求めた相関量を上述の各
狭視野の相関量に加算すると、加算された値は近
距離にある人物S0についての相関量が強調され
ることになる。それは、例えば第1図の被写体に
ついて云えば、近い方(至近距離及び近距離)の
ゾーンの相関量が中間ゾーン(中間距離及びやや
遠距離)及び遠いゾーン(遠距離、無限大)の相
関量に比べ大きくなるため、この大きな相関量が
狭視野の相関量に加算されるからである。
狭視野の相関量に加算すると、加算された値は近
距離にある人物S0についての相関量が強調され
ることになる。それは、例えば第1図の被写体に
ついて云えば、近い方(至近距離及び近距離)の
ゾーンの相関量が中間ゾーン(中間距離及びやや
遠距離)及び遠いゾーン(遠距離、無限大)の相
関量に比べ大きくなるため、この大きな相関量が
狭視野の相関量に加算されるからである。
なお、上述の実施例では光学素子として7画素
のものを用いたが、更に細分化されたもの例えば
300〜500画素又は1000画素以上のものを用いれ
ば、更に高精度に画素が細分化され、得られる距
離関連情報も高精度となることは勿論である。ま
た、相関を求めるフイード範囲については3画素
及び4画素としたが、必要に応じた任意の数とす
ることができることは云うまでもない。
のものを用いたが、更に細分化されたもの例えば
300〜500画素又は1000画素以上のものを用いれ
ば、更に高精度に画素が細分化され、得られる距
離関連情報も高精度となることは勿論である。ま
た、相関を求めるフイード範囲については3画素
及び4画素としたが、必要に応じた任意の数とす
ることができることは云うまでもない。
このように比較的小部分の相関に広い部分の相
関を加味することにより、より正確な測距が行わ
れることになり、最大値選択回路16のアナログ
信号を用いれば、小部分の大きな相関についての
み広い部分の加算を行つたり、広い部分の相関検
出を選択ゲート回路10a,11a、第1の相関
検知器12の回路によつて別時刻に分割して行う
こともできる。
関を加味することにより、より正確な測距が行わ
れることになり、最大値選択回路16のアナログ
信号を用いれば、小部分の大きな相関についての
み広い部分の加算を行つたり、広い部分の相関検
出を選択ゲート回路10a,11a、第1の相関
検知器12の回路によつて別時刻に分割して行う
こともできる。
このようにして得られた測距値により表示駆動
回路18を介して、第1図に示す距離情報処理回
路4にデフオーカス量或いは被写体距離を表示し
たり、D/A変換増幅器19により第2表に示す
フイルム面Fに対応するアドレス信号の出力時に
零を出力をして、レンズ駆動手段8を用いて自動
合焦を行うことが可能となる。
回路18を介して、第1図に示す距離情報処理回
路4にデフオーカス量或いは被写体距離を表示し
たり、D/A変換増幅器19により第2表に示す
フイルム面Fに対応するアドレス信号の出力時に
零を出力をして、レンズ駆動手段8を用いて自動
合焦を行うことが可能となる。
上述の実施例は主にアナログ回路を中心に説明
したが、像の光電出力をA/D変換し、その相関
をマイクロプロセツサにおいて求める場合にも、
小部分の相関を最初に計算し、その重み付けした
相関値の大きなものについて広い部分の相関を求
め、その情報を加味しながら距離を求めることも
できる。かくすることにより、時間の掛かる広い
部分の相関演算を省略した迅速な処理と、前述の
遠近競合時にも安定した使い易い測距や自動合焦
が実現できる。勿論、アナログ回路においても前
述したように小部分と広い部分の演算を回路を兼
用して時分割で行えば回路規模を小さくすること
ができる。
したが、像の光電出力をA/D変換し、その相関
をマイクロプロセツサにおいて求める場合にも、
小部分の相関を最初に計算し、その重み付けした
相関値の大きなものについて広い部分の相関を求
め、その情報を加味しながら距離を求めることも
できる。かくすることにより、時間の掛かる広い
部分の相関演算を省略した迅速な処理と、前述の
遠近競合時にも安定した使い易い測距や自動合焦
が実現できる。勿論、アナログ回路においても前
述したように小部分と広い部分の演算を回路を兼
用して時分割で行えば回路規模を小さくすること
ができる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係る焦点測定装置
は、単純な小部分の相関を求めることにより、迅
速かつ簡単に遠近競合による誤作動を防止した演
算と、この演算に広い部分の相関情報を加味して
類似小部分パターンによる誤作動を防止し、全体
で高速で正確な測距が可能となる効果を有する。
は、単純な小部分の相関を求めることにより、迅
速かつ簡単に遠近競合による誤作動を防止した演
算と、この演算に広い部分の相関情報を加味して
類似小部分パターンによる誤作動を防止し、全体
で高速で正確な測距が可能となる効果を有する。
図面は本発明に係る焦点測定装置を実現するた
めの装置の実施例を示し、第1図、第2図は測距
方式の概略説明図、第3図、第4図、第5図、第
6図、第7図、第8図、第9図はそれぞれ処理回
路、選択ゲート回路、相関検知器、サンプル値ホ
ールド回路、減衰器、加算器、最大値選択回路の
ブロツク回路構成図、第10図は相関処理の説明
図である。 符号1a,1bは結像レンズ、2a,2bは光
電変換素子、3,7は処理回路、4は表示器、5
は撮影レンズ、8はレンズ駆動手段、10,11
は選択ゲート回路、12,20は相関検知器、1
3,21はサンプル値ホールド回路、14,22
は減衰器、15は加算器、16は最大値選択回
路、17はプライオリテイエンコーダ、18は表
示駆動回路、19はD/A変換増幅器、23は発
振器、24は計数回路である。
めの装置の実施例を示し、第1図、第2図は測距
方式の概略説明図、第3図、第4図、第5図、第
6図、第7図、第8図、第9図はそれぞれ処理回
路、選択ゲート回路、相関検知器、サンプル値ホ
ールド回路、減衰器、加算器、最大値選択回路の
ブロツク回路構成図、第10図は相関処理の説明
図である。 符号1a,1bは結像レンズ、2a,2bは光
電変換素子、3,7は処理回路、4は表示器、5
は撮影レンズ、8はレンズ駆動手段、10,11
は選択ゲート回路、12,20は相関検知器、1
3,21はサンプル値ホールド回路、14,22
は減衰器、15は加算器、16は最大値選択回
路、17はプライオリテイエンコーダ、18は表
示駆動回路、19はD/A変換増幅器、23は発
振器、24は計数回路である。
Claims (1)
- 1 対象物体からの像光をそれぞれ異なる経路を
介して、それぞれ複数の受光部を有する一対の光
電変換素子によりそれぞれ受光し、該一対の光電
変換素子のそれぞれの前記受光部の範囲を順次に
変更しながら指定し、該指定された一対の光電変
換素子の受光部範囲からの一対の出力間の相関量
を前記受光部の範囲の変更ごとに相関検知器によ
り求め、該相関検知器で得られた相関量が大とな
る前記光電変換素子上の像光位置から距離情報を
測定する焦点測定装置において、前記相関検知器
で得られた受光部範囲の変更ごとの相関量に対し
て、指定された受光部の範囲を関数として各指定
受光部範囲ごとにそれぞれ独立して重み付けを行
う重み付け回路と、該重み付け回路で重み付けさ
れ各指定された受光部の範囲ごとの各相関量間の
大なる相関量を検知する判定回路とを設け、該判
定回路により検知された重み付けされた各相関量
のうちの相関量が大となる前記光電変換素子上の
像光位置から距離情報を測定することを特徴とす
る焦点測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58145065A JPS6036905A (ja) | 1983-08-10 | 1983-08-10 | 焦点測定装置 |
| US06/635,743 US4614418A (en) | 1983-08-10 | 1984-07-30 | Distance detection apparatus |
| DE19843429586 DE3429586A1 (de) | 1983-08-10 | 1984-08-10 | Abstandsbestimmungsgeraet |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58145065A JPS6036905A (ja) | 1983-08-10 | 1983-08-10 | 焦点測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6036905A JPS6036905A (ja) | 1985-02-26 |
| JPH0140293B2 true JPH0140293B2 (ja) | 1989-08-28 |
Family
ID=15376563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58145065A Granted JPS6036905A (ja) | 1983-08-10 | 1983-08-10 | 焦点測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4614418A (ja) |
| JP (1) | JPS6036905A (ja) |
| DE (1) | DE3429586A1 (ja) |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4800409A (en) * | 1986-04-28 | 1989-01-24 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Control device for use in a camera having an objective lens |
| US5168299A (en) * | 1986-05-16 | 1992-12-01 | Minolta Camera Co., Ltd. | Camera with a multi-zone focus detecting device |
| US5218395A (en) * | 1986-05-16 | 1993-06-08 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Camera with a multi-zone focus detecting device |
| JPS63246711A (ja) * | 1986-05-16 | 1988-10-13 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
| US4910548A (en) * | 1986-05-16 | 1990-03-20 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Camera with a multi-zone focus detecting device |
| JPS6347711A (ja) * | 1986-08-18 | 1988-02-29 | Minolta Camera Co Ltd | 焦点検出装置 |
| US4792819A (en) * | 1987-01-12 | 1988-12-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Camera having automatic focusing device |
| US4982217A (en) * | 1987-01-12 | 1991-01-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Camera with automatic focusing apparatus |
| US4904854A (en) * | 1987-01-12 | 1990-02-27 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Automatic focus detecting device having deviation compensation |
| US5097282A (en) * | 1987-02-06 | 1992-03-17 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Automatic focusing apparatus |
| US5313245A (en) * | 1987-04-24 | 1994-05-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Automatic focusing device |
| US5243375A (en) * | 1987-05-21 | 1993-09-07 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Automatic focus adjusting device for adjusting the focus of the main object to be photographed |
| JP2605282B2 (ja) * | 1987-05-21 | 1997-04-30 | ミノルタ株式会社 | 自動焦点調節装置 |
| US5144357A (en) * | 1987-11-06 | 1992-09-01 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Automatic focus detecting means |
| JP2662650B2 (ja) * | 1987-11-06 | 1997-10-15 | ミノルタ株式会社 | 自動焦点調節装置 |
| US4943824A (en) * | 1987-11-12 | 1990-07-24 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Device for measuring object distance used for camera |
| JPH02254432A (ja) * | 1989-03-29 | 1990-10-15 | Canon Inc | オートフオーカスカメラ |
| JP2772028B2 (ja) * | 1989-04-14 | 1998-07-02 | オリンパス光学工業株式会社 | 多点測距自動焦点カメラ |
| JP2676985B2 (ja) * | 1990-06-26 | 1997-11-17 | 富士電機株式会社 | 光学器械の対象検出方式 |
| JP2881995B2 (ja) * | 1990-08-01 | 1999-04-12 | 富士電機株式会社 | 光学器械の対象検出装置 |
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| JPH05316302A (ja) * | 1992-05-13 | 1993-11-26 | Minolta Camera Co Ltd | 画像入力装置 |
| US5326243A (en) * | 1992-06-25 | 1994-07-05 | Fierkens Richard H J | Compression-cavity mold for plastic encapsulation of thin-package integrated circuit device |
| US5900927A (en) * | 1993-10-13 | 1999-05-04 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Variable target autofocusing and range finder for measuring distance to a subject |
| JPH0862486A (ja) * | 1994-08-26 | 1996-03-08 | Nikon Corp | 自動焦点調節装置および自動焦点調節方法 |
| FI97085C (fi) * | 1995-03-29 | 1996-10-10 | Valtion Teknillinen | Menetelmä ja kuvauslaitteisto etäisyyden määrittämiseen ja sen käyttö |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3274914A (en) * | 1963-06-21 | 1966-09-27 | Agfa Ag | Camera focusing devices |
| JPS5949525B2 (ja) * | 1974-10-17 | 1984-12-03 | 株式会社リコー | 距離検出方法および装置 |
| US4184968A (en) * | 1978-02-13 | 1980-01-22 | Honeywell Inc. | Auto focus system |
| US4289397A (en) * | 1979-07-20 | 1981-09-15 | Avco Everett Research Laboratory, Inc. | Laser ceilometer signal processing means |
| DE2936520A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-03-26 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
| JPS5732409A (en) * | 1980-08-06 | 1982-02-22 | Chinon Kk | Focusing controller |
| JPS5740212A (en) * | 1980-08-22 | 1982-03-05 | Canon Inc | Automatic focusing apparatus |
| DE3141959A1 (de) * | 1980-10-23 | 1982-06-16 | Canon K.K., Tokyo | "scharfeinstellungs-ermittlungssystem" |
| US4470681A (en) * | 1982-09-07 | 1984-09-11 | Polaroid Corporation | Method of and apparatus for detecting range using multiple range readings |
| JPS6036907A (ja) * | 1983-08-09 | 1985-02-26 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 距離測定装置 |
-
1983
- 1983-08-10 JP JP58145065A patent/JPS6036905A/ja active Granted
-
1984
- 1984-07-30 US US06/635,743 patent/US4614418A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-08-10 DE DE19843429586 patent/DE3429586A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4614418A (en) | 1986-09-30 |
| DE3429586C2 (ja) | 1991-12-05 |
| JPS6036905A (ja) | 1985-02-26 |
| DE3429586A1 (de) | 1985-02-28 |
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