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JPH0148352B2 - - Google Patents
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JPH0148352B2 - - Google Patents

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JPH0148352B2
JPH0148352B2 JP59237496A JP23749684A JPH0148352B2 JP H0148352 B2 JPH0148352 B2 JP H0148352B2 JP 59237496 A JP59237496 A JP 59237496A JP 23749684 A JP23749684 A JP 23749684A JP H0148352 B2 JPH0148352 B2 JP H0148352B2
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plating
acid
plating solution
concentration
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Kanji Oono
Sayuri Hotsuta
Terubumi Takeda
Hidenori Tsuji
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JCU Corp
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Ebara Udylite Co Ltd
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3465Application of solder
    • H05K3/3473Plating of solder

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  • Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、スズめつき、鉛めつき、スズ−鉛合
金めつきなどのスズ属金属めつきを行うためのめ
つき液に関するものである。 従来の技術 スズめつき、鉛めつき、スズ−鉛合金めつきな
どのスズ属金属めつきは、電気部品の端子やプリ
ント配線基板のハンダ付け性を向上させるのに有
効であるため、最近の電子機器工業の発展ととも
に需要が増大しつつあるが、それにともない、性
能の向上に対する要求も強くなつている。従来、
スズめつきには硫酸浴やアルカリ性スズ酸浴が、
またスズ−鉛合金めつきにはホウフツ化浴が、そ
れぞれ一般的に用いられていたが、近年はこれら
に加えて有機スルホン酸浴や有機カルボン酸浴の
使用も公害防止等の観点から検討され、一部実用
化されたものもある。 上記用途におけるスズ属金属めつきに対する一
般的な要求としては、光沢めつきおよび半光沢め
つきのいずれにおいても析出する結晶が微細で外
観が均一であること、部品の凹部にも確実にめつ
きがつきまわること、めつき皮膜のハンダ付け性
がすぐれていること、合金めつきにあつてはスズ
と鉛との析出比率が目標値どおりであり且つ均一
であること、などがある。これらの課題を解決す
るために従来提案または実施された手段は、光沢
剤、アルカンスルホン酸、アルカノールスルホン
酸、界面活性剤、グルコン酸、グルコノラクトン
等を助剤としてめつき液に添加する方法である
(特開昭57−203785、同59−67387、特公昭57−
27188、同59−10997等)。これらの助剤はずれも
それなりの添加効果を奏するものであるが、一長
一短あるものが多く、また界面活性剤の添加がめ
つき液の泡立ちを招いて操業性を悪くすることも
あり、すべての点で満足できるめつき液をこれら
の助剤の組合せによつて実現することは困難であ
つた。 発明が解決しうとする問題点 本発明の目的は、上述のような現状に艦み、総
合的にすぐれためつき品質を達成し得て操業も容
易なスズ属金属めつき液を堤供することにある。 問題点を解決するための手段 本発明が堤供するスズ属金属めつき液は、下記
の(イ)〜(ニ)を必須の成分として含有するものであ
る。 (イ) 2価の水溶性スズ塩および水溶性鉛塩からな
る群から選ばれた1種以上のスズ属金属塩。 好ましくはアルカンスルホン酸塩またはアル
カノールスルホン酸塩。濃度は金属オンとして
0.5〜40g/とすることが望ましい。スズ−
鉛合金めつき液の場合は、目標とする合金組成
に合わせて液中の両金属イオンの濃度比率を調
節する。 (ロ) アルカンスルホン酸またはアルカノールスル
ホン酸。 好ましい具体例としては、メタンスルホン
酸、エタンスルホン酸、ヒドロキシエタンスル
ホン酸、ヒドロキシプロパンスルホン酸などが
ある。これらはスズ属金属塩がアルカンスルホ
ン酸塩またはアルカノールスルホン酸塩である
場合における該塩の酸基と共通のものであつて
も異なるものであつてもよく、2種以上を併用
してもよい。濃度は約20〜180g/とし、且
つ、スズ、鉛等の金属に対して1.5倍モル以上
(金属塩を形成しているものを除く)を存在さ
せることが望ましい。 (ハ) 下記の一般式(a)〜(c)のいずれかを有する化合
物からなる界面活性剤。 (但しR1は−CH2CH2O−、R2は−CH2CH2
CH2O−を表わし、mおよびnは5〜40の整数
である) 上記一般式(a)を有するエチレンジアミンポリ
オキシアルキレン付加物からなる界面活性剤の
例としては、テトロニツク702、テトロニツク
704(旭電化工業社製品)などがある。 (但しR1は炭素原子数8〜18のアルキル基、
R2は−CH2CH2O−または−CH2CH2CH2−O
−を表わし、mおよびnは8〜30の整数であ
る) 上記一般式(b)を有するポリオキシアルキレン
アルキルアミンからなる界面活性剤の例として
は、ナイミーンS−210、ナイミーンS−220、
ナイミーンF−215、ナイミーンT2−230(日本
油脂社製品)などがある。 (但しR1は炭素原子数8〜18のアルキル基、
R2は−CH2CH2O−または−CH2CH2CH2−O
−を表わし、mおよびnは6〜24の整数であ
る) 上記一般式(c)を有する脂肪酸アミドエーテル
サルフエートからなる界面活性剤の例として
は、ニツサンサンアミドCF−3(日本油脂社製
品)などがある。 これらの界面活性剤は2種以上を併用しても
よく、特に一般式(a)のものを(b)または(c)のもの
と併用すると効果が顕著である。使用効果は濃
度0.5〜50g/程度で現われるが、実用上は
約2〜30g/が適当である。 (ニ) 有機光沢剤。 めつき液用の光沢剤は多数あるが、本発明の
めつき液に特に好適なものの例には次のような
ものがある:ベンズアルデビド、o−クロルベ
ンズアルデビド、シンナムアルデビドなどの芳
香族アルデビド類;ベンジリデンアセトンなど
の芳香族ケトン類;アントラニル酸、ケイ皮酸
などの芳香族カルボン酸類;アントラニル酸と
エピクロルヒドリンとの反応物;ベータナフト
ール、チオ尿素、ジエチルチオ尿素。 これらは通常0.01〜10g/の濃度で使用す
る。 発明の作用および効果 本発明のめつき液は、多数の界面活性剤の中か
ら選ばれた特定の界面活性剤をアルカンスルホン
酸またはアルカノールスルホン酸および有機光沢
剤と組合せて配合したことにより、外観、均一電
着性、合金めつきにおける合金組成の安定性、ハ
ンダ付け性のいずれにおいても満足できるめつき
を可能にし、使用中の泡立ちも少ないというすぐ
れたものである。 実施例 以下実施例および比較例を示して本発明を説明
する。 実施例 1 エタンスルホン酸スズ() 10g/ 遊離エタンスルホン酸 100〃 ニツサンナイミーンS−220 10〃 ベンジリデンアセトン 0.1〃 のめつき液を調製し、陽極にスズ板を用い、ゆる
やかに撹拌しながら20℃で5分間めつきを行なつ
たところ、陰極電流密度0.5〜10A/dm2の範囲
で、第1表に示すような結果が得られた。 実施例 2 ヒドロキシエタンスルホン酸スズ()30g/ 遊離ヒドロキシエタンスルホン酸 150〃 ニツサンナイミーンS−220 15〃 テトロツク704 10〃 o−クロロベンズアルデビド 0.2〃 温 度 25℃ 陰極電流密度 0.5〜10A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 実施例 3 エタンスルホン酸スズ() 20g/ 遊離ヒドロキシエタンスルホン酸 120〃 ニツサンサンアミドCF−3 10〃 テトロニツク702 5〃 アントラニル酸とエピクロルヒドリンとの反応生
成物 0.1〃 温 度 20℃ 陰極電流密度 1〜7A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 比較例 1 メタンスルホン酸スズ() 100g/ 遊離メタンスルホン酸 150〃 セチルジメチルベンジルアンモニウムヒドロキシ
ド 5〃 N−ブチリデンスルフアニル酸 2〃 温 度 35℃ 陰極電流密度 5〜40A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 実施例 4 メタンスルホン酸鉛 15g/ 遊離メタンスルホン酸 120〃 ニツサンサンアミドCF−3 12〃 o−クロロベンズアルデビド 0.2〃 温 度 20℃ 陰極電流密度 0.5〜10A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 比較例 2 2−ヒドロキシプロパンスルホン酸鉛 20g/ 遊離2−ヒドロキシプロパンスルホン酸 100〃 ドデシルピコリニウムメタンスルホネート 5〃 N−(3−ヒドロキシブチリデン)−p−スルフア
ニル酸 1〃 温 度 25℃ 陰極電流密度 1〜10A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 実施例 5 メタンスルホン酸スズ() 12g/ メタンスルホン酸鉛 8〃 遊離メタンスルホン酸 120〃 ニツサンナイミーンT2−230 10〃 テトロニツク702 5〃 アントラニル酸とエピクロルヒドリンと反応物
0.2〃 温 度 20℃ 陰極電流密度 0.5〜10A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 実施例 6 ヒドロキシエタンスルホン酸スズ()18g/ ヒドロキシエタンスルホン酸鉛 2〃 遊離ヒドロキシエタンスルホン酸 100〃 ニツサンナイミーンS−220 15〃 テトロニツク704 5〃 o−クロルベンズアルデヒド 0.2〃 温 度 25℃ 陰極電流密度 0.5〜10A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 実施例 7 メタンスルホン酸スズ() 24g/ メタンスルホン酸鉛 16〃 遊離メタンスルホン酸 100〃 ニツサンサンアミドCF−3 20〃 テトロニツク702 5〃 ジエチルチオ尿素 0.1〃 ケイ皮酸アルデヒド 0.1〃 温 度 30℃ 陰極電流密度 2〜10A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 実施例 8 メタンスルホン酸スズ() 9g/ メタンスルホン酸鉛 6〃 遊離メタンスルホン酸 100〃 ニツサンナイミーンS−210 10〃 テトロニツク704 3〃 o−クロルベンズアルデヒド 0.1〃 温 度 20℃ 平均陰極電流密度 0.5〜1.0A/dm2 の条件でバレルめつきを行い、第1表に示すよう
な結果が得られた。 比較例 3 2−ヒドロキシプロパンスルホン酸スズ()
20g/ 2−ヒドロキシプロパンスルホン酸鉛 1〃 遊離2−ヒドロキシプロパンスルホン酸 100〃 非イオン界面活性剤(スチレン化フエノールの酸
化プロピレン付加物) 5〃 N−(3−ヒドロキシブチリデン)−p−スルフア
ニル酸 0.3〃 温 度 25℃ 陰極電流密度 0.5〜5A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 比較例 4 メタンスルホン酸スズ() 18g/ メタンスルホン酸鉛 12〃 遊離メタンスルホン酸 150〃 非イオン界面活性剤(ポリオキシエチレンノニル
フエニルエーテル) 3〃 サリチル酸フエニル 0.5〃 温 度 25℃ 陰極電流密度 0.5〜10A/dm2 の条件で、実施例1と同様の操作でめつきを行
い、第1表に示すような結果が得られた。 なお第1表に示した評価項目の判定基準は次の
とおりであり、良好なものを○、普通のものを
△、不良のものを×で示した。 めつき外観:電流密度0.5〜7A/dm2におけるめ
つきの外観および緻密さ 均一電着性:ハルセルテストパネル上の1A/d
m2における膜厚と7A/dm2における膜厚の比
率が小さいものを良とする。 合金比率の安定性:ハルセルテストパネル上の
1A/dm2におけるめつき皮膜および7A/dm2
における皮膜についてSn/Pb比を求め、差の
少ないものを良とする。 ハンダ付け性:試料上にハンダの小片をのせて
270±5℃の熱板上に置き、ハンダ粒が溶け始
めてから5秒後までの拡がり面積が広く、しか
もハンダ粒の周辺部が平滑なものを良とする。 【表】
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a plating solution for plating tin metals such as tin plating, lead plating, and tin-lead alloy plating. Conventional technology Tin metal plating, such as tin plating, lead plating, and tin-lead alloy plating, is effective in improving the solderability of terminals of electrical components and printed wiring boards, so it has recently been Demand is increasing with the development of the electronic equipment industry, and along with this, demands for improved performance are also becoming stronger. Conventionally,
For tin plating, sulfuric acid bath or alkaline stannic acid bath is used.
In addition, hofuting baths were commonly used for tin-lead alloy plating, but in recent years, the use of organic sulfonic acid baths and organic carboxylic acid baths has been considered from the perspective of pollution prevention. , some of which have been put into practical use. The general requirements for tin metal plating in the above applications are that the precipitated crystals be fine and uniform in appearance for both bright plating and semi-bright plating, and that the recesses of the part be reliably plated. The solderability of the plating film is excellent, and in the case of alloy plating, the precipitation ratio of tin and lead is consistent with the target value and is uniform. The conventionally proposed or implemented means to solve these problems is to add brighteners, alkanesulfonic acids, alkanolsulfonic acids, surfactants, gluconic acid, gluconolactone, etc. as auxiliaries to the plating solution. (Japanese Patent Publications No. 57-203785, No. 59-67387, Japanese Patent Publications No. 57-2037-
27188, 59-10997, etc.). Although each of these auxiliary agents has its own effects, many of them have advantages and disadvantages, and the addition of surfactants can cause foaming of the plating solution, impairing operability. It has been difficult to achieve a satisfactory plating solution with a combination of these auxiliaries. Problems to be Solved by the Invention The purpose of the present invention is to address the above-mentioned current situation and to provide a tin metal plating solution that can achieve overall excellent matting quality and is easy to operate. be. Means for Solving the Problems The tin metal plating solution provided by the present invention contains the following (a) to (d) as essential components. (a) One or more tin metal salts selected from the group consisting of divalent water-soluble tin salts and water-soluble lead salts. Preferably alkanesulfonates or alkanolsulfonates. Concentration as metal on
It is desirable to set it as 0.5-40g/. tin
In the case of a lead alloy plating solution, the concentration ratio of both metal ions in the solution is adjusted according to the target alloy composition. (b) Alkanesulfonic acid or alkanolsulfonic acid. Preferred specific examples include methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, hydroxyethanesulfonic acid, and hydroxypropanesulfonic acid. These may be the same or different from the acid group of the tin metal salt when the salt is an alkanesulfonate or an alkanolsulfonate, and two or more types may be used in combination. . The concentration is approximately 20 to 180 g/molar, and it is desirable that the amount is 1.5 times or more molar relative to metals such as tin and lead (excluding those forming metal salts). (c) A surfactant comprising a compound having any of the following general formulas (a) to (c). (However, R 1 is −CH 2 CH 2 O−, R 2 is −CH 2 CH 2
(represents CH 2 O-, m and n are integers of 5 to 40) Examples of surfactants made of ethylenediamine polyoxyalkylene adducts having the above general formula (a) include Tetronic 702, Tetronic
704 (Asahi Denka Kogyo product), etc. (However, R 1 is an alkyl group having 8 to 18 carbon atoms,
R 2 is −CH 2 CH 2 O− or −CH 2 CH 2 CH 2 −O
-, and m and n are integers of 8 to 30) Examples of the surfactant made of polyoxyalkylene alkylamine having the above general formula (b) include Naimeen S-210, Naimeen S-220,
Examples include Naimeen F-215 and Naimeen T 2-230 (products of Nippon Oil & Fats Corporation). (However, R 1 is an alkyl group having 8 to 18 carbon atoms,
R 2 is −CH 2 CH 2 O− or −CH 2 CH 2 CH 2 −O
-, and m and n are integers of 6 to 24) Examples of surfactants made of fatty acid amide ether sulfate having the above general formula (c) include Nitsusan Sanamide CF-3 (product of NOF Corporation). )and so on. Two or more of these surfactants may be used in combination, and the effect is particularly significant when one of general formula (a) is used in combination with one of (b) or (c). The effect of use appears at a concentration of about 0.5 to 50 g/distance, but a concentration of about 2 to 30 g/mt is suitable for practical use. (d) Organic brighteners. Although there are many brighteners for plating solutions, examples of those that are particularly suitable for the plating solution of the present invention include: aromatics such as benzaldebide, o-chlorobenzaldebide, cinnamaldebide, etc. Aromatic ketones such as benzylidene acetone; Aromatic carboxylic acids such as anthranilic acid and cinnamic acid; Reactants of anthranilic acid and epichlorohydrin; beta-naphthol, thiourea, diethylthiourea. These are usually used at a concentration of 0.01 to 10 g/. Functions and Effects of the Invention The plating liquid of the present invention is formulated with a specific surfactant selected from a large number of surfactants in combination with alkanesulfonic acid or alkanolsulfonic acid and an organic brightener. It is excellent in that it enables satisfactory plating in terms of uniform electrodeposition, stability of alloy composition during alloy plating, and solderability, and produces little foaming during use. EXAMPLES The present invention will be described below with reference to Examples and Comparative Examples. Example 1 A plating solution of 10 g of tin ethanesulfonic acid (10 g of free ethanesulfonic acid), 10 of Nissannaimeen S-220, and 0.1 of benzylidene acetone was prepared, and a tin plate was used as an anode, while stirring gently. When plating was carried out at 20° C. for 5 minutes, the results shown in Table 1 were obtained in the cathode current density range of 0.5 to 10 A/dm 2 . Example 2 Tin hydroxyethanesulfonate () 30g/Free hydroxyethanesulfonic acid 150〃Nitsunanimeen S-220 15〃Tetrotsuk 704 10〃O-Chlorobenzaldebide 0.2〃Temperature 25℃ Cathode current density 0.5-10A Plating was carried out in the same manner as in Example 1 under the conditions of / dm2 , and the results shown in Table 1 were obtained. Example 3 Tin ethanesulfonate (20g) / Free hydroxyethanesulfonic acid 120〃 Nitsusansanamide CF-3 10〃 Tetronik 702 5〃 Reaction product of anthranilic acid and epichlorohydrin 0.1〃 Temperature 20℃ Cathode current density 1~ Plating was carried out in the same manner as in Example 1 under the conditions of 7 A/dm 2 and the results shown in Table 1 were obtained. Comparative example 1 Tin methanesulfonate () 100g/Free methanesulfonic acid 150〃 Cetyldimethylbenzylammonium hydroxide 5〃 N-butylidenesulfanilic acid 2〃 Temperature 35℃ Cathode current density 5 to 40A/dm 2 Conditions Plating was carried out in the same manner as in Example 1, and the results shown in Table 1 were obtained. Example 4 Lead methanesulfonate 15g/free methanesulfonic acid 120 Nitsusansanamide CF-3 12 o-chlorobenzaldebide 0.2 Temperature 20°C Cathode current density 0.5 to 10A/dm 2 Example Plating was performed in the same manner as in 1, and the results shown in Table 1 were obtained. Comparative Example 2 Lead 2-hydroxypropanesulfonate 20g/Free 2-hydroxypropanesulfonic acid 100 Dodecylpicolinium methanesulfonate 5 N-(3-hydroxybutylidene)-p-sulfanilic acid 1 Temperature 25°C Cathode current Plating was carried out in the same manner as in Example 1 under conditions of a density of 1 to 10 A/dm2, and the results shown in Table 1 were obtained. Example 5 Tin methanesulfonate () 12g/Lead methanesulfonate 8 Free methanesulfonic acid 120 Nissannaimeen T 2 -230 10 Tetronik 702 5 Anthranilic acid, epichlorohydrin, and reaction product
0.2〃 Plating was carried out in the same manner as in Example 1 under the conditions of temperature 20° C. and cathode current density 0.5 to 10 A/dm 2 , and the results shown in Table 1 were obtained. Example 6 Tin hydroxyethanesulfonate () 18g/ Lead hydroxyethanesulfonate 2 Free hydroxyethanesulfonic acid 100 Nissani Meen S-220 15 Tetronik 704 5 O-Chlorbenzaldehyde 0.2 Temperature 25℃ Cathode Plating was carried out in the same manner as in Example 1 at a current density of 0.5 to 10 A/ dm2 , and the results shown in Table 1 were obtained. Example 7 Tin methanesulfonate (24g) / Lead methanesulfonate 16〃 Free methanesulfonic acid 100〃 Nitsusansanamide CF-3 20〃 Tetronik 702 5〃 Diethylthiourea 0.1〃 Cinnamic aldehyde 0.1〃 Temperature 30℃ Cathode Plating was carried out in the same manner as in Example 1 at a current density of 2 to 10 A/ dm2 , and the results shown in Table 1 were obtained. Example 8 Tin methanesulfonate () 9g/Lead methanesulfonate 6 Free methanesulfonic acid 100 Nissani Meen S-210 10 Tetronik 704 3 O-chlorobenzaldehyde 0.1 Temperature 20°C Average cathode current density Barrel plating was carried out under the conditions of 0.5 to 1.0 A/dm 2 and the results shown in Table 1 were obtained. Comparative Example 3 Tin 2-hydroxypropanesulfonate ()
20g/ Lead 2-hydroxypropanesulfonate 1 Free 2-hydroxypropanesulfonic acid 100 Nonionic surfactant (propylene oxide adduct of styrenated phenol) 5 N-(3-hydroxybutylidene)-p-sulfanyl Plating was carried out in the same manner as in Example 1 under the conditions of acid: 0.3°C, temperature: 25°C, cathode current density: 0.5 to 5 A/dm 2 , and the results shown in Table 1 were obtained. Comparative example 4 Tin methanesulfonate () 18g / Lead methanesulfonate 12〃 Free methanesulfonic acid 150〃 Nonionic surfactant (polyoxyethylene nonyl phenyl ether) 3〃 Phenyl salicylate 0.5〃 Temperature 25℃ Cathode current density Plating was carried out in the same manner as in Example 1 under the conditions of 0.5 to 10 A/dm2, and the results shown in Table 1 were obtained. The evaluation criteria for the evaluation items shown in Table 1 are as follows, and good results are indicated by ◯, fair ones are indicated by △, and poor ones are indicated by ×. Appearance of plating: Appearance and density of plating at current density 0.5 to 7 A/ dm2 Uniform electrodeposition: 1 A/d on Hull cell test panel
A film having a small ratio of film thickness at m 2 to film thickness at 7 A/dm 2 is considered good. Alloy ratio stability: on Hull cell test panel
Plating film at 1A/dm 2 and 7A/dm 2
The Sn/Pb ratio is determined for the film in and the one with the smallest difference is considered good. Solderability: Place a small piece of solder on the sample.
Place it on a hot plate at 270±5°C, and the solder grains should have a wide spread area for 5 seconds after they start melting, and the surrounding area of the solder grains should be smooth. 【table】

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 下記(イ)〜(ニ)を必須の成分として含有すること
を特徴とするスズ属金属めつき液: (イ) 2価の水溶性スズ塩および水溶性鉛塩からな
る群から選ばれた1種以上のスズ属金属塩; (ロ) アルカンスルホン酸またはアルカノールスル
ホン酸; (ハ) 一般式 (但しR1は−CH2CH2O−、R2は−CH2CH2
CH2O−を表わし、mおよびnは5〜40の整数
である) (但しR1は炭素原子数8〜18のアルキル基、
R2は−CH2CH2O−または−CH2CH2CH2−O
−を表わし、mおよびnは8〜30の整数であ
る) または (但しR1は炭素原子数8〜18のアルキル基、
R2は−CH2CH2O−または−CH2CH2CH2−O
−を表わし、mおよびnは6〜24の整数であ
る) を有する化合物からなる界面活性剤; (ニ) 有機光沢剤。 2 スズ属金属塩の濃度が金属イオンとして0.5
〜40g/の範囲内にある特許請求の範囲第1項
記載のめつき液。 3 アルカンスルホン酸またはアルカノールスル
ホン酸の濃度が20〜180g/の範囲内にある特
許請求の範囲第1項記載のめつき液。 4 界面活性剤の濃度が0.5〜50g/の範囲内
にある特許請求の範囲第1項記載のめつき液。 5 有機光沢剤の濃度が0.01〜10g/の範囲内
にある特許請求の範囲第1項記載のめつき液。 6 スズ属金属塩がアルカンスルホン酸塩または
アルカノールスルホン酸塩である特許請求の範囲
第1項記載のめつき液。
[Scope of Claims] 1. A tin metal plating solution characterized by containing the following (a) to (d) as essential components: (a) from a divalent water-soluble tin salt and a water-soluble lead salt. One or more tin metal salts selected from the group consisting of; (b) alkanesulfonic acid or alkanolsulfonic acid; (c) general formula (However, R 1 is −CH 2 CH 2 O−, R 2 is −CH 2 CH 2
CH 2 O-, m and n are integers from 5 to 40) (However, R 1 is an alkyl group having 8 to 18 carbon atoms,
R 2 is −CH 2 CH 2 O− or −CH 2 CH 2 CH 2 −O
-, m and n are integers from 8 to 30) or (However, R 1 is an alkyl group having 8 to 18 carbon atoms,
R 2 is −CH 2 CH 2 O− or −CH 2 CH 2 CH 2 −O
-, m and n are integers of 6 to 24); (iv) an organic brightener; 2 The concentration of tin metal salt is 0.5 as metal ion.
The plating solution according to claim 1, which is within the range of ~40g/. 3. The plating solution according to claim 1, wherein the concentration of alkanesulfonic acid or alkanolsulfonic acid is within the range of 20 to 180 g/l. 4. The plating solution according to claim 1, wherein the concentration of the surfactant is within the range of 0.5 to 50 g/g/. 5. The plating solution according to claim 1, wherein the concentration of the organic brightener is within the range of 0.01 to 10 g/g/. 6. The plating solution according to claim 1, wherein the tin group metal salt is an alkanesulfonate or an alkanolsulfonate.
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