JPH0210863B2 - - Google Patents
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- JPH0210863B2 JPH0210863B2 JP60132278A JP13227885A JPH0210863B2 JP H0210863 B2 JPH0210863 B2 JP H0210863B2 JP 60132278 A JP60132278 A JP 60132278A JP 13227885 A JP13227885 A JP 13227885A JP H0210863 B2 JPH0210863 B2 JP H0210863B2
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
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- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は多元合金あるいは化合物の薄膜を形成
するためのスパツタリング用ターゲツトに関する
ものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to sputtering targets for forming thin films of multi-component alloys or compounds.
従来の技術
従来の合金薄膜を形成するターゲツトとして
は、例えば第4図のようなものがある。BACKGROUND ART Examples of conventional targets for forming alloy thin films include those shown in FIG.
すなわち、薄膜の主成分金属からなる円板上タ
ーゲツト10の上に他の構成成分の金属をリング
状の薄板14にして載置したものbや、金属リン
グ15をターゲツト表面に埋め込んだ複合ターゲ
ツトcがある。 In other words, there is a target b in which a ring-shaped thin plate 14 of other constituent metals is placed on a disc-shaped target 10 made of a metal as the main component of the thin film, and a composite target c in which a metal ring 15 is embedded in the target surface. There is.
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、このような構成からなる複合タ
ーゲツトは、いずれも長時間連続スパツタをする
と、リング状金属の内側において、円板状ターゲ
ツトの表面に主成分金属の十分スパツタしきれな
いものが堆積物16となつて蓄積される傾向にあ
る。この堆積物16の成分は、スパツタガスが
Ar、Ne等の不活性の場合にはターゲツトの主成
分金属であるが、O2、N2等の場合にはそれらの
化合物となる。したがつて、この堆積物が蓄積す
るとターゲツトの表面の組成が変化したり、堆積
物が絶縁性を有する場合には次第にリングの内側
のみがスパツタされにくくなる。Problems to be Solved by the Invention However, with any composite target having such a configuration, if continuous sputtering is performed for a long period of time, the main component metal may not be sufficiently sputtered on the surface of the disk-shaped target inside the ring-shaped metal. What cannot be removed tends to accumulate as deposits 16. The components of this deposit 16 are spatter gas.
In the case of inert substances such as Ar and Ne, it is the main component metal of the target, but in the case of O 2 and N 2 etc., it is a compound thereof. Therefore, when this deposit accumulates, the composition of the target surface changes, and if the deposit has insulating properties, it becomes increasingly difficult for only the inside of the ring to be sputtered.
このような現象はいずれも、所望の合金薄膜の
組成を変動させる要因となり、特に製造工程にお
いて長時間連続スパツタをする上で安定な組成を
得ようとする場合に大きな幣害となる。 All of these phenomena cause fluctuations in the composition of the desired alloy thin film, and are particularly detrimental when attempting to obtain a stable composition during continuous sputtering over a long period of time in the manufacturing process.
この堆積物が蓄積される原因としては、次のよ
うな場合が考えられる。第5図は高周波マグネト
ロンスパツタ装置のターゲツトを示したもので、
入射したスパツタガスイオン17は、円板状ター
ゲツトの表面粒子を一度スパツタするとエネルギ
ーを消失するが電界18によつて再びエネルギー
を得ることにより、何度もスパツタを繰り返すこ
とができる。スパツタガスイオン17の軌道は、
マグネトロンスパツタの場合、電界と磁界の向き
によつて決まるが、第5図では金属リングの外側
から内側に向かつた軌道をとろうとする。したが
つて、スパツタガスイオンが金属リングの外側か
ら内側に向かう途中、金属リングに入射した場合
は電流が金属リングに流れ、それより内側に入る
時には相対的に電位が下がつたのと同様の影響を
もたらす。そのため、金属リングの内側はスパツ
タされにくくなるとともに、一度スパツタされた
としても加速エネルギーが小さいため粒子が戻つ
てきて再付着すると考えられる。このとき反応性
スパツタリングの場合には、一度スパツタされた
粒子が化合物となつて付着するものもあるため、
その化合物が絶縁体の場合には、金属リングの内
側は一層スパツタされにくくなり、組成変動を大
きくすることになる。 Possible causes of this accumulation of deposits are as follows. Figure 5 shows the target of the high frequency magnetron sputtering device.
Once the incident sputtering gas ions 17 sputter the surface particles of the disc-shaped target, their energy is lost, but by gaining energy again by the electric field 18, the sputtering can be repeated many times. The orbit of sputtering gas ion 17 is
In the case of a magnetron sputter, it is determined by the direction of the electric and magnetic fields, but in FIG. 5, the trajectory is from the outside of the metal ring to the inside. Therefore, when sputtering gas ions enter the metal ring on the way from the outside to the inside, a current flows through the metal ring, and when the sputtering gas ions enter the metal ring, the potential decreases relatively. bring about an impact. Therefore, it is thought that the inside of the metal ring is less likely to be spattered, and even if it is spattered, the particles will come back and re-attach because the acceleration energy is small. At this time, in the case of reactive sputtering, some particles that have been sputtered may become attached as compounds, so
If the compound is an insulator, the inside of the metal ring will be more difficult to sputter, resulting in larger compositional fluctuations.
このような現象は、マグネツト19の磁極が逆
の場合でも同様であり、その極性に応じてスパツ
タガスイオンの軌道が逆になるため、再付着する
場所が金属リングの内側と外側が逆になるという
違いがあるのみである。 This phenomenon is the same even when the magnetic poles of the magnet 19 are reversed, and the trajectory of the sputtering gas ions is reversed depending on the polarity, so the re-deposition locations are reversed between the inside and outside of the metal ring. The only difference is that it becomes.
また、ターゲツトの使用効率を上げるため、第
5図のように、偏心したマグネツト19がターゲ
ツト中心に対して公転する場合でも上述と同様の
ことがいえる。 Furthermore, the same thing can be said when the eccentric magnet 19 revolves around the center of the target, as shown in FIG. 5, in order to increase the efficiency of use of the target.
本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、簡
易な構成で基板上の合金薄膜の膜組成を均一に形
成するとともに、連続スパツタに対しても安定し
た組成が得られるようにするものである。 The present invention has been made in view of these points, and it is an object of the present invention to form a uniform film composition of an alloy thin film on a substrate with a simple structure, and to obtain a stable composition even with continuous sputtering. .
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決する本発明の技術的な手段
は、薄膜の主たる構成成分からなるターゲツト表
面に載置もしくは埋め込む他の金属リングを多分
割にし、その中心線がターゲツトの中心に対して
同軸となる位置に配置するものである。Means for Solving the Problems The technical means of the present invention for solving the above-mentioned problems is to divide another metal ring to be placed or embedded on the target surface consisting of the main component of the thin film into multiple parts, so that the center line of the ring is It is placed at a position coaxial with the center of the target.
作 用 この技術的手段による作用は次のようになる。Effect The effect of this technical means is as follows.
すなわち、上記の構成においてターゲツト表面
にある金属リングは多分割されているため、スパ
ツタガスイオンが金属リングに入射した時に流れ
る電流は非常に少なくなる。したがつて、金属リ
ングの内側あるいは外側で一様に電位が降下する
こともなく、これによるスパツタ粒子の再付着も
非常に少なくなる。よつて、連続スパツタを行つ
ても組成の安定した合金薄膜を形成することが容
易にできる。 That is, in the above configuration, since the metal ring on the target surface is multi-divided, the current flowing when sputtering gas ions are incident on the metal ring becomes extremely small. Therefore, the potential does not drop uniformly on the inside or outside of the metal ring, and the redeposition of spatter particles due to this is extremely reduced. Therefore, even if continuous sputtering is performed, an alloy thin film with a stable composition can be easily formed.
実施例
以下、本発明の一実施例を添付図面にもとづい
て説明する。第1図において、銅またはステンレ
ス製のバツキングプレート1の上にTeの金属タ
ーゲツト本体2がInを主体とする合金材料からな
るボンデイング層3で接着されている。このよう
な金属ターゲツト4の上にはTeとは異なる金属、
例えばPd、In、Sn、Au、Ge等の単体金属がリン
グ状の薄板を16分割した分割片5として載置され
ている。これらの分割片5はすべてを並べ合わせ
るとほぼリング形状となり、ターゲツト中心に対
して同軸になるように配置されている。各分割片
間の間隙は互いに接触しないことが必要であり、
その値としては0.5mm以上であれば特に問題のな
いことが実験的に確かめられた。Embodiment Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described based on the accompanying drawings. In FIG. 1, a metal target body 2 of Te is bonded onto a backing plate 1 made of copper or stainless steel with a bonding layer 3 made of an alloy material mainly composed of In. On top of such a metal target 4, a metal different from Te,
For example, single metals such as Pd, In, Sn, Au, and Ge are placed as divided pieces 5 obtained by dividing a ring-shaped thin plate into 16 pieces. When all of these divided pieces 5 are lined up, they form a substantially ring shape and are arranged coaxially with respect to the center of the target. It is necessary that the gaps between each divided piece do not touch each other,
It was experimentally confirmed that there is no particular problem as long as the value is 0.5 mm or more.
上記のようなターゲツト構成であれば、スパツ
タガスイオンが金属の分割片に入射しても流れる
電流はその範囲内に限られ、隣りの分割片にまで
は及ばない。したがつて消失する電流も少なく、
リング形状の内側で電位が相対的に低下すること
もない。このようなターゲツトでは付着粒子もほ
とんどなく、薄膜の組成としても安定したものが
得られた。 With the target configuration as described above, even if sputtering gas ions are incident on a metal segment, the current that flows is limited to that range and does not reach the adjacent segment. Therefore, less current is lost,
There is also no relative potential drop inside the ring shape. With such a target, there were almost no attached particles, and a stable thin film composition was obtained.
なお、以上のような理由から分割片の個数とし
ては多い方がより効果は大きいが、8分割以上で
あれば電位の低下による影響はほとんどなくなる
ことが確かめられた。 For the reasons mentioned above, the larger the number of divided pieces, the greater the effect, but it was confirmed that if the number of divided pieces is 8 or more, the influence of the drop in potential is almost eliminated.
また分割片の配置としては、全てを合わせたリ
ング形状の中心線が円板ターゲツトの中心に対し
て同軸な位置になることが必要である。これは、
リング形状の最適径がターゲツトと薄膜を形成す
る基板との相対位置関係から、理論的に求められ
こうすることによつて基板上の半径方向の組成が
2〜3%以内のばらつき範囲内におさまるように
できるからである。 Furthermore, the arrangement of the divided pieces requires that the center line of the ring shape, which is the sum of all the divided pieces, is coaxial with the center of the disc target. this is,
The optimum diameter of the ring shape is determined theoretically from the relative positional relationship between the target and the substrate on which the thin film is formed, and by doing so, the composition in the radial direction on the substrate can be kept within a variation range of 2 to 3%. This is because it can be done as follows.
特に、製造工程において、円板ターゲツト上に
多数枚の基板を配置し、1回のスパツタで量産性
を向上するためには、上記の同軸状の配置が必要
不可欠となる。例えば、ターゲツト面から基板面
までの高さを90mmとし、ターゲツト中心から基板
中心までの偏心距離を90mmとした場合のリング形
状の最適半径は約40mmである。したがつて、この
径を中心としたリングの幅を変えることにより、
所望の薄膜の組成比を微妙に調整することができ
る。薄膜の均一性についても、プラズマの放電領
域を同軸上に位置固定する場合のみならず、ター
ゲツト中心に対して放電領域を回転させる場合に
も最適半径を中心とした一定幅のリング状である
ため、ターゲツト本体と分割片の組成比が安定し
ており特性上特に問題のないものが得られる。 In particular, in the manufacturing process, the above-mentioned coaxial arrangement is essential in order to arrange a large number of substrates on a disk target and improve mass productivity with one sputtering process. For example, if the height from the target surface to the substrate surface is 90 mm and the eccentric distance from the center of the target to the center of the substrate is 90 mm, the optimum radius of the ring shape is approximately 40 mm. Therefore, by changing the width of the ring around this diameter,
The composition ratio of a desired thin film can be finely adjusted. Regarding the uniformity of the thin film, it is not only possible when the plasma discharge area is fixed on the same axis, but also when the discharge area is rotated about the target center because it is a ring shape with a constant width centered on the optimal radius. , the composition ratio of the target body and the divided pieces is stable, and a product with no particular problems in terms of characteristics can be obtained.
以上のようなターゲツト本体の材質としては、
Teの他にAl、Ag、Au、Bi、Cu、Ge、In、Ni、
Si、Sn、Ti、Zn等の単体金属や、Al2O3、
Bi2O3、CdS、In2O3、ITO、PbO、SiC、Si3N4、
SiO2、SnO2、TiC、TiO2、ZnS、ZnSe等の合
金、化合物あるいは非金属の材料がある。 As for the material of the target body as mentioned above,
In addition to Te, Al, Ag, Au, Bi, Cu, Ge, In, Ni,
Single metals such as Si, Sn, Ti, Zn, Al 2 O 3 ,
Bi2O3 , CdS, In2O3 , ITO, PbO, SiC, Si3N4 ,
There are alloys, compounds, and nonmetallic materials such as SiO 2 , SnO 2 , TiC, TiO 2 , ZnS, and ZnSe.
同様に、ターゲツト表面に載置する金属分割片
の材料としても、Pd、In、Sn、Au、Ge等の他
に、上記のような単体金属、化合物等の材料を用
いてもよい。これらの材料の選択は合金あるいは
化合物薄膜の主成分を構成する材質をターゲツト
本体に選び、それ以外の少量の成分となる材質を
分割片の材料として選ぶようにする。 Similarly, as the material for the metal segment placed on the target surface, in addition to Pd, In, Sn, Au, Ge, etc., the above-mentioned single metals, compounds, and other materials may be used. These materials are selected so that the material that constitutes the main component of the alloy or compound thin film is selected for the target body, and the material that is a minor component of the other material is selected as the material for the divided pieces.
次に本発明の第2の実施例について図面ととも
に説明する。第2図は、第1の実施例と同様な
Teの金属ターゲツトがあり、その上にTeとは異
なる金属、例えば、Sn、Geの2種の単体金属か
らなる各分割片A、B、8,9が互いに接触する
ことなく、その中心が同軸上に配置されている。
これらの分割片の大きさは薄膜の組成比によつて
決まるものであり、大小様々のものであつてもよ
いが、薄膜の組成を均一にするためには各分割片
を金属の種類に合せて交互に順序よく配列する必
要がある。 Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 2 shows the same structure as in the first embodiment.
There is a metal target of Te, on which the divided pieces A, B, 8, and 9 made of two types of single metals different from Te, for example, Sn and Ge, do not touch each other and their centers are coaxial. placed above.
The size of these divided pieces is determined by the composition ratio of the thin film, and they can be of various sizes, but in order to make the composition of the thin film uniform, it is necessary to match each divided piece to the type of metal. They must be arranged alternately and in good order.
次に本発明の第3の実施例を図面とともに説明
する。第3図は、Teの金属ターゲツトの上に3
種の単体金属Au、Sn、Geの分割片a、b、c、
11,12,13をそれぞれ異なるリング状に載
置したもので、各分割片はいずれも円板状ターゲ
ツトの中心に対して同軸上に配置されている。 Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Figure 3 shows 3
Divided pieces a, b, c of seed elemental metals Au, Sn, Ge,
11, 12, and 13 are placed in different ring shapes, and each divided piece is arranged coaxially with respect to the center of a disc-shaped target.
これらのリング状の分割片は、基板の半径方向
の組成が均一となる径を中心に、組成比に応じた
幅が選択される。なお各リング状分割片の内側寄
りか外側寄りかの位置としては、単体金属のスパ
ツタ率を考慮して決めるのが好ましい。例えば、
Auのようなスパツタ率の大きいものは、薄膜を
形成する基板から離れた位置、すなわちターゲツ
ト上の内側寄りの位置に載置した方が組成分布は
均一にし易い。 The width of these ring-shaped divided pieces is selected in accordance with the composition ratio, with the diameter of the substrate being uniform in the radial direction. It is preferable that the position of each ring-shaped divided piece be determined on the inside or outside side, taking into consideration the spatter rate of the single metal. for example,
For materials with a high sputtering rate, such as Au, it is easier to make the composition distribution uniform if the material is placed at a position away from the substrate on which the thin film is formed, that is, at a position closer to the inside of the target.
この実施例においても、各リング状の分割片は
互いに接触することもなく、細分化されているた
め、電位の低下による組成の変動を発生すること
はない。 In this embodiment as well, the ring-shaped divided pieces do not come into contact with each other and are subdivided, so that compositional fluctuations do not occur due to a drop in potential.
以上の実施例においては、いずれも単体金属を
円板上ターゲツトの上に載置する場合について述
べたが、ターゲツト表面に単体金属を埋め込む場
合でも上述と同様の効果が得られることは言うま
でもない。 In each of the above embodiments, a case has been described in which a single metal is placed on a disk-shaped target, but it goes without saying that the same effect as described above can be obtained even when a single metal is embedded in the target surface.
発明の効果
本発明は、ターゲツト本体の上に合金あるいは
化合物薄膜の構成成分の1つであり、一定幅を有
したリング形状の一部を形成する金属の分割片を
ターゲツト中心に対して同軸に配置するもので、
均一な薄膜を形成することができるとともに、長
時間の連続的スパツタに対しても安定な組成を得
ることが可能である。Effects of the Invention The present invention provides a method for attaching a divided piece of metal, which is one of the constituent components of an alloy or compound thin film, on a target body and which forms part of a ring shape having a constant width, coaxially with respect to the center of the target. to be placed,
It is possible to form a uniform thin film and to obtain a stable composition even when subjected to continuous sputtering for a long time.
また、本発明によれば、製造工程における長時
間使用に対しても長寿命なスパツタリング用ター
ゲツトを提供し、これによる高品質な薄膜を安定
に作製するためにも大きな効果を有するものであ
る。 Furthermore, the present invention provides a sputtering target that has a long life even when used for long periods of time in the manufacturing process, and has great effects in stably producing high-quality thin films.
第1図は本発明の第1の実施例におけるターゲ
ツト平面図、第2図は本発明の第2の実施例にお
けるターゲツトの平面図、第3図は本発明の第3
の実施例におけるターゲツトの平面図、第4図
a,b,cは従来例におけるターゲツトの平面図
および断正面図、第5図は従来例において堆積物
が蓄積される原理を示す斜視図である。
1……バツキングプレート、2……ターゲツト
本体、3……ボンデイング層、5……リング状分
割片、8,9……リング状分割片A、B、11〜
13……リング状分割片a、b、c。
FIG. 1 is a plan view of a target in a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a target in a second embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a plan view of a target in a third embodiment of the present invention.
4a, b, and c are plan views and cross-sectional views of the target in the conventional example, and FIG. 5 is a perspective view showing the principle of accumulation of deposits in the conventional example. . DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Bucking plate, 2... Target body, 3... Bonding layer, 5... Ring-shaped divided piece, 8, 9... Ring-shaped divided piece A, B, 11~
13...Ring-shaped divided pieces a, b, c.
Claims (1)
ゲツト本体と、複数個の金属もしくは合金の分割
片を具備し、かつ複数個の分割片の各々が一定の
幅を有するリング形状の一部を形成するとともに
前記分割片を前記ターゲツト本体の中心に対して
同軸の位置になるよう載置もしくは埋め込んだス
パツタリング用ターゲツト。 2 2種以上の金属もしくは合金からなる複数個
の分割片の各々を金属の種類に合せて交互に順序
よく配列した特許請求の範囲第1項記載のスパツ
タリング用ターゲツト。 3 2種以上の金属もしくは合金からなる複数個
の分割片の各々が多重の異なるリング状に配置さ
れた特許請求の範囲第1項記載のスパツタリング
用ターゲツト。[Claims] 1. A ring-shaped target body comprising a target body made of metal, alloy, or compound, and a plurality of divided pieces of metal or alloy, each of the plurality of divided pieces having a constant width. A sputtering target, in which the divided piece is placed or embedded so as to form a part of the target body and to be coaxial with the center of the target body. 2. The sputtering target according to claim 1, wherein a plurality of divided pieces made of two or more types of metals or alloys are arranged alternately and in an order according to the type of metal. 3. The sputtering target according to claim 1, wherein each of the plurality of divided pieces made of two or more types of metals or alloys is arranged in multiple different ring shapes.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60132278A JPS61291968A (en) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | Target for sputtering |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60132278A JPS61291968A (en) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | Target for sputtering |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61291968A JPS61291968A (en) | 1986-12-22 |
| JPH0210863B2 true JPH0210863B2 (en) | 1990-03-09 |
Family
ID=15077541
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60132278A Granted JPS61291968A (en) | 1985-06-18 | 1985-06-18 | Target for sputtering |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61291968A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6464844B1 (en) * | 2000-09-21 | 2002-10-15 | Delphi Technologies, Inc. | Sputtering alloy films using a sintered metal composite target |
| US6402906B1 (en) | 2000-10-19 | 2002-06-11 | Delphi Technologies, Inc. | Sputtering alloy films using a crescent-shaped aperture |
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Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59193272A (en) * | 1983-04-15 | 1984-11-01 | Daido Steel Co Ltd | Target and sputtering method in sputtering |
-
1985
- 1985-06-18 JP JP60132278A patent/JPS61291968A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61291968A (en) | 1986-12-22 |
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