JPH0214828B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0214828B2 JPH0214828B2 JP56141178A JP14117881A JPH0214828B2 JP H0214828 B2 JPH0214828 B2 JP H0214828B2 JP 56141178 A JP56141178 A JP 56141178A JP 14117881 A JP14117881 A JP 14117881A JP H0214828 B2 JPH0214828 B2 JP H0214828B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- trunk
- time division
- division switch
- test
- tone
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/24—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation
- H04M3/244—Arrangements for supervision, monitoring or testing with provision for checking the normal operation for multiplex systems
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は時分割通話路を有する電子交換機にお
けるテストトランク機能の実現方法に関する。
けるテストトランク機能の実現方法に関する。
従来、テストトランクは交換局間の伝送損失や
雑音特性を自動的に測定する測定装置に伝送路を
介して接続し試験をするときに使用される。
雑音特性を自動的に測定する測定装置に伝送路を
介して接続し試験をするときに使用される。
従来のテストトランクは、そのテストトランク
機能に必要なビジートーン、テストトーン等を各
テストトランク毎に設け、リレー等の制御により
テストトランクとしての機能をはたしていた。そ
のため、トーンの分配回路が必要となり、また、
テストトランクのリード量が多いという欠点があ
つた。
機能に必要なビジートーン、テストトーン等を各
テストトランク毎に設け、リレー等の制御により
テストトランクとしての機能をはたしていた。そ
のため、トーンの分配回路が必要となり、また、
テストトランクのリード量が多いという欠点があ
つた。
本発明の目的は共通的な時分割通話路装置に各
種トーン発生器を１チヤネルずつ接続し、トラン
ク回線との接続を順次時分割通話路装置のパスを
高速で切替ることによりテストトランクの機能を
実現する方法である。
種トーン発生器を１チヤネルずつ接続し、トラン
ク回線との接続を順次時分割通話路装置のパスを
高速で切替ることによりテストトランクの機能を
実現する方法である。
本発明は、相手局と接続されるトランク回線の
上り線が時分割スイツチの入側に接続され、該ト
ランク回線の下り線が時分割スイツチの出側に接
続される時分割交換機におけるテストトランク機
能の実現方法において、テストトランク機能に必
要な各種トーン源を前記時分割スイツチの前記ト
ランク回線と別の入側端子に接続し、前記各種ト
ーン源の端子と前記トランク回線の下り線の端子
間のパスを前記時分割スイツチの制御により予め
定められた順序で順次切替えてテストトランク機
能を実現し、また該各種トーン源は該時分割スイ
ツチ内で複式接続されることにより、複数のテス
トトランクの機能を実現することを特徴とする。
上り線が時分割スイツチの入側に接続され、該ト
ランク回線の下り線が時分割スイツチの出側に接
続される時分割交換機におけるテストトランク機
能の実現方法において、テストトランク機能に必
要な各種トーン源を前記時分割スイツチの前記ト
ランク回線と別の入側端子に接続し、前記各種ト
ーン源の端子と前記トランク回線の下り線の端子
間のパスを前記時分割スイツチの制御により予め
定められた順序で順次切替えてテストトランク機
能を実現し、また該各種トーン源は該時分割スイ
ツチ内で複式接続されることにより、複数のテス
トトランクの機能を実現することを特徴とする。
以下、図面を参照して説明する。
第１図と第２図は従来の時分割形交換機のテス
トトランクの構成を示す。第１図において、相手
局と接続されるトランク回線は時分割スイツチ
TSWに上りがDE、下りがAB線として２相接続
される。時分割スイツチTSWのパス制御により、
１個のテストトランクTSTTRKにトランク回線
が接続され、且つテストトランクを制御するリレ
ー制御装置RCにより、テストトランク
TSTTRKに入力されているトーンが選択される
と、そのトーンがそのトランク回線のABリード
に送出される。テストトランクのシーケンスに従
い、一定時間後リレー制御装置RCの制御により
トーンの種類を切替える。各種トーン発生源TO
から分配回路DISを経由してトーンが複数のテス
トトランクに供給される。
トトランクの構成を示す。第１図において、相手
局と接続されるトランク回線は時分割スイツチ
TSWに上りがDE、下りがAB線として２相接続
される。時分割スイツチTSWのパス制御により、
１個のテストトランクTSTTRKにトランク回線
が接続され、且つテストトランクを制御するリレ
ー制御装置RCにより、テストトランク
TSTTRKに入力されているトーンが選択される
と、そのトーンがそのトランク回線のABリード
に送出される。テストトランクのシーケンスに従
い、一定時間後リレー制御装置RCの制御により
トーンの種類を切替える。各種トーン発生源TO
から分配回路DISを経由してトーンが複数のテス
トトランクに供給される。
第２図は第１図のテストトランクTSTTRKの
部分を詳細に示したものである。リレー制御装置
RCにより、Ｔ、Ｕリレーが駆動されていない場
合はABリードは600Ω終端されDEリードはリン
グバツクトーンRBTが送出されている。リレー
制御装置RCによりＴリレーが駆動されると、DE
リードは600Ω終端となる。さらに、Ｕリレーが
駆動されると、1kHzトーンTONEがDEリードに
送出される。リレー制御装置RCによつて、Ｔ、
Ｕリレーを制御することにより、テストトランク
TSTTRKのシーケンスが実現される。1kHzトー
ン発生器TONEはトーン分配回路DISTを経由し
てテストトランクTSTTRKにマルチ接続され
る。リングバツクトーン発生器RBTは分配回路
DISRを経由してテストトランクTSTTRKにマ
ルチ接続される。
部分を詳細に示したものである。リレー制御装置
RCにより、Ｔ、Ｕリレーが駆動されていない場
合はABリードは600Ω終端されDEリードはリン
グバツクトーンRBTが送出されている。リレー
制御装置RCによりＴリレーが駆動されると、DE
リードは600Ω終端となる。さらに、Ｕリレーが
駆動されると、1kHzトーンTONEがDEリードに
送出される。リレー制御装置RCによつて、Ｔ、
Ｕリレーを制御することにより、テストトランク
TSTTRKのシーケンスが実現される。1kHzトー
ン発生器TONEはトーン分配回路DISTを経由し
てテストトランクTSTTRKにマルチ接続され
る。リングバツクトーン発生器RBTは分配回路
DISRを経由してテストトランクTSTTRKにマ
ルチ接続される。
第３図は本発明の一実施例を示すものである。
時分割スイツチTDSWに相手局からのトランク
回線が接続され、DEリードがスイツチの入側に、
ABリードが出側にそれぞれ接続される。一方、
時分割スイツチTDSWの入側にデイジタルの1k
HzのトーンDTONEとデイジタルリングバツクト
ーンDRBTが１チヤネルづつ接続される。テス
トトランクの機能のシーケンスがリングバツク
トーン送出、600Ω終端、1kHzトーンTONE
送出であつた場合、まず時分割スイツチTDSW
のパス制御によりのパスを接続する。次に時分
割スイツチの出側で無通話パターン7Fを送出す
るのパスを接続する。さらに1kHzトーン
DTOWEを送出するためのパスを接続するこ
とにより、テストトランクの機能が実現される。
時分割スイツチTDSWは高速（１ｍｓ以下）で
パスの切替が可能であるから、リレーによるテス
トトランクよりも切替えが早く、またトーンのマ
ルチ接続が容易に可能であるから、テストトラン
クとして必要なトーンを１チヤネルだけ時分割ス
イツチTDSWに接続しておき、時分割スイツチ
のパスをトランク回線毎に制御すれば多数のテス
トトランクを設備するのと等価になる。
時分割スイツチTDSWに相手局からのトランク
回線が接続され、DEリードがスイツチの入側に、
ABリードが出側にそれぞれ接続される。一方、
時分割スイツチTDSWの入側にデイジタルの1k
HzのトーンDTONEとデイジタルリングバツクト
ーンDRBTが１チヤネルづつ接続される。テス
トトランクの機能のシーケンスがリングバツク
トーン送出、600Ω終端、1kHzトーンTONE
送出であつた場合、まず時分割スイツチTDSW
のパス制御によりのパスを接続する。次に時分
割スイツチの出側で無通話パターン7Fを送出す
るのパスを接続する。さらに1kHzトーン
DTOWEを送出するためのパスを接続するこ
とにより、テストトランクの機能が実現される。
時分割スイツチTDSWは高速（１ｍｓ以下）で
パスの切替が可能であるから、リレーによるテス
トトランクよりも切替えが早く、またトーンのマ
ルチ接続が容易に可能であるから、テストトラン
クとして必要なトーンを１チヤネルだけ時分割ス
イツチTDSWに接続しておき、時分割スイツチ
のパスをトランク回線毎に制御すれば多数のテス
トトランクを設備するのと等価になる。
本発明は以上説明したように、時分割スイツチ
の高速性とトーンのマルチ接続の容易性という特
微を利用してテストトランクに必要なトーン類を
各１チヤネルづつ時分割スイツチに接続し、テス
トトランクのシーケンスに従い順次そのトーンと
トランク回線を時分割スイツチのパス制御で接続
する。これにより、従来の時分割スイツチではト
ラフイツクに応じたテストトランクをもうけたり
またトーンの分配回路やテストトランク個々に切
替リレーとリレー制御装置を必要としていたもの
を不要にするという効果がある。
の高速性とトーンのマルチ接続の容易性という特
微を利用してテストトランクに必要なトーン類を
各１チヤネルづつ時分割スイツチに接続し、テス
トトランクのシーケンスに従い順次そのトーンと
トランク回線を時分割スイツチのパス制御で接続
する。これにより、従来の時分割スイツチではト
ラフイツクに応じたテストトランクをもうけたり
またトーンの分配回路やテストトランク個々に切
替リレーとリレー制御装置を必要としていたもの
を不要にするという効果がある。
第１図は従来の時分割スイツチにおけるテスト
トランクの接続図、第２図は従来のテストトラン
クの回路図、第３図は本発明の一実施例によるテ
ストトランクを示す接続図である。 TDSW……時分割スイツチ、TSTTRK……テ
ストトランク、RC……リレー制御装置、DIS，
DIST，DISR……トーン分配回路、Ｔ，Ｕ……
リレー、TONE……1kHzトーン源、RBT……リ
ングバツクトーン源、TDSW……時分割スイツ
チ、DRBT……デイジタルリングバツクトーン
発生器、DTONE……デイジタルトーン発生器、
７Ｆ……無通話パターン発生器。
トランクの接続図、第２図は従来のテストトラン
クの回路図、第３図は本発明の一実施例によるテ
ストトランクを示す接続図である。 TDSW……時分割スイツチ、TSTTRK……テ
ストトランク、RC……リレー制御装置、DIS，
DIST，DISR……トーン分配回路、Ｔ，Ｕ……
リレー、TONE……1kHzトーン源、RBT……リ
ングバツクトーン源、TDSW……時分割スイツ
チ、DRBT……デイジタルリングバツクトーン
発生器、DTONE……デイジタルトーン発生器、
７Ｆ……無通話パターン発生器。
Claims (1)
- １ 相手局と接続されるトランク回線の上り線が
時分割スイツチの入側に接続され、該トランク回
線の下り線が時分割スイツチの出側に接続される
時分割交換機におけるテストトランク機能の実現
方法において、テストトランク機能に必要な各種
トーン源を前記時分割スイツチの前記トランク回
線と別の入側端子に接続し、前記各種トーン源の
端子と前記トランク回線の下り線の端子間のパス
を前記時分割スイツチの制御により予め定められ
た順序で順次切替えてテストトランク機能を実現
し、また該各種トーン源は該時分割スイツチ内で
複式接続されることにより、複数のテストトラン
クの機能を実現することを特徴とするテストトラ
ンク機能の実現方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14117881A JPS5842395A (ja) | 1981-09-08 | 1981-09-08 | テストトランク機能の実現方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14117881A JPS5842395A (ja) | 1981-09-08 | 1981-09-08 | テストトランク機能の実現方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5842395A JPS5842395A (ja) | 1983-03-11 |
| JPH0214828B2 true JPH0214828B2 (ja) | 1990-04-10 |
Family
ID=15285954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14117881A Granted JPS5842395A (ja) | 1981-09-08 | 1981-09-08 | テストトランク機能の実現方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5842395A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59183571A (ja) * | 1983-04-01 | 1984-10-18 | Iwatsu Electric Co Ltd | ハイウェイを用いる交換機におけるトーン断続方式 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5577267A (en) * | 1978-12-07 | 1980-06-10 | Toshiba Corp | Channel test system |
| JPS5685965A (en) * | 1979-12-14 | 1981-07-13 | Fujitsu Ltd | Time sharing channel test method |
-
1981
- 1981-09-08 JP JP14117881A patent/JPS5842395A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5842395A (ja) | 1983-03-11 |
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