JPH0215025B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0215025B2 JPH0215025B2 JP57039408A JP3940882A JPH0215025B2 JP H0215025 B2 JPH0215025 B2 JP H0215025B2 JP 57039408 A JP57039408 A JP 57039408A JP 3940882 A JP3940882 A JP 3940882A JP H0215025 B2 JPH0215025 B2 JP H0215025B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ultrasonic
- defect
- data
- propagation
- propagation distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 41
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 20
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 13
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0645—Display representation or displayed parameters, e.g. A-, B- or C-Scan
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/24—Probes
- G01N29/2487—Directing probes, e.g. angle probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/056—Angular incidence, angular propagation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、超音波探傷における底面欠陥形状の
Ｂスコープ表示作成法に関するものである。
Ｂスコープ表示作成法に関するものである。
従来の超音波探傷Ｂスコープ表示法は、可変角
探触子を用いて、構造材における超音波の入射角
と音速および伝播時間をもとに演算を行い、その
結果をCRT上に表示するものである。従つて、
構造材中を伝播する超音波が底面スキツプを受け
ない場合には欠陥の正しい画像表示が行われる
が、底面スキツプを受けた場合には欠陥像が構造
材を示す像の外に表示され、欠陥像の底面に対す
る角度および寸法が実際の欠陥と大きく異なり、
欠陥形状の把握が困難であるという問題点があ
る。ここで底面スキツプとは以下のことを云う。
超音波探傷では、被検体である構造材の底面付近
に発生する割れ等の欠陥を検出するのに斜角探傷
法を利用する。これは、垂直探傷法に比べて検出
性能が高いからである。しかし、斜角探傷法で
は、超音波を送受信する探触子から出た超音波が
底面近傍の欠陥→底面と反射（または、底面→近
傍の欠陥と反射）して探触子に戻つて来る。送信
超音波がこの底面反射を経由する事を本特許で
は、底面スキツプと呼ぶ。
探触子を用いて、構造材における超音波の入射角
と音速および伝播時間をもとに演算を行い、その
結果をCRT上に表示するものである。従つて、
構造材中を伝播する超音波が底面スキツプを受け
ない場合には欠陥の正しい画像表示が行われる
が、底面スキツプを受けた場合には欠陥像が構造
材を示す像の外に表示され、欠陥像の底面に対す
る角度および寸法が実際の欠陥と大きく異なり、
欠陥形状の把握が困難であるという問題点があ
る。ここで底面スキツプとは以下のことを云う。
超音波探傷では、被検体である構造材の底面付近
に発生する割れ等の欠陥を検出するのに斜角探傷
法を利用する。これは、垂直探傷法に比べて検出
性能が高いからである。しかし、斜角探傷法で
は、超音波を送受信する探触子から出た超音波が
底面近傍の欠陥→底面と反射（または、底面→近
傍の欠陥と反射）して探触子に戻つて来る。送信
超音波がこの底面反射を経由する事を本特許で
は、底面スキツプと呼ぶ。
従つて、超音波の伝播時間からその欠陥の位置
を求めるには、底面スキツプを経由した分だけ超
音波の伝播距離（伝播時間）が長くなり、そのま
までは欠陥の正確な位置を算出できなくなる問題
が発生する。
を求めるには、底面スキツプを経由した分だけ超
音波の伝播距離（伝播時間）が長くなり、そのま
までは欠陥の正確な位置を算出できなくなる問題
が発生する。
本発明の目的は、従来の超音波探傷におけるＢ
スコープ表示法の問題点を解消し、実際の底面欠
陥形状に近い底面欠陥像のＢスコープ表示を行う
ことができる方法を提供することにある。
スコープ表示法の問題点を解消し、実際の底面欠
陥形状に近い底面欠陥像のＢスコープ表示を行う
ことができる方法を提供することにある。
本発明の原理について、従来の超音波探傷Ｂス
コープ表示法の原理と比較しながら、図を用いて
説明する。
コープ表示法の原理と比較しながら、図を用いて
説明する。
例えば、超音波の送受信を一個の可変角探触子
で行うパルスエコー方式における従来の底面欠陥
のＢスコープ表示では、構造材における超音波の
伝播速度ｖと伝播時間ｔから、超音波入射点から
欠陥までの距離ｌ＝vt／２を求め、更に超音波の
入射角情報を加えて画像表示を行つている。従つ
て第１図Ａで示される様に、構造材５を伝播する
超音波が底面スキツプを受けた場合には、超音波
の伝播経路６が超音波入射点７から欠陥４までの
実際の距離に比べて長くなるため、Ｂスコープ表
示では第１図Ｂに示すごとく構造材底面像９の外
に底面欠陥像１０がはみ出し、底面欠陥像１０の
構造材底面像９に対する傾きも実際の欠陥４の傾
きとは異なつてしまう欠点がある。
で行うパルスエコー方式における従来の底面欠陥
のＢスコープ表示では、構造材における超音波の
伝播速度ｖと伝播時間ｔから、超音波入射点から
欠陥までの距離ｌ＝vt／２を求め、更に超音波の
入射角情報を加えて画像表示を行つている。従つ
て第１図Ａで示される様に、構造材５を伝播する
超音波が底面スキツプを受けた場合には、超音波
の伝播経路６が超音波入射点７から欠陥４までの
実際の距離に比べて長くなるため、Ｂスコープ表
示では第１図Ｂに示すごとく構造材底面像９の外
に底面欠陥像１０がはみ出し、底面欠陥像１０の
構造材底面像９に対する傾きも実際の欠陥４の傾
きとは異なつてしまう欠点がある。
次に、従来法におけるこれらの欠点を補う新し
いＢスコープ表示作成法について説明する。
いＢスコープ表示作成法について説明する。
本方法は、従来法での構造材における超音波の
入射角と音速および伝播時間の情報に構造材の厚
さ情報を加えることにより、構造材中を伝播する
超音波が底面スキツプを受けたか否かを判定して
底面欠陥像の補正を行うことを特徴とするもので
ある。底面スキツプの有無の判定には、底面スキ
ツプの存在により超音波の伝播距離が長くなり、
構造材の厚さ方向の伝播距離成分が構造材の厚さ
を超えることを利用する。すなわち、第２図の様
に構造材５における超音波入射角１１をθioとし、
音速ｖおよび伝播時間ｔと構造材５の厚さをｄと
すると、可変角探触子１→構造材底面３→底面欠
陥４→可変角探触子１の超音波伝播経路６の場合 vt／２cosθio＞ｄ ……(1) 式(1)が成立し、底面スキツプ有りを判定する。
逆の伝播経路の場合には必ずしも式(1)が成立する
とは限らないが、可変角探触子１の１スキヤンの
中に逆経路のデータが一対となつて現われるの
で、１スキヤンデータをメモリに取込んで置くこ
とにより、底面スキツプの判定は間違いなく行わ
れる。
入射角と音速および伝播時間の情報に構造材の厚
さ情報を加えることにより、構造材中を伝播する
超音波が底面スキツプを受けたか否かを判定して
底面欠陥像の補正を行うことを特徴とするもので
ある。底面スキツプの有無の判定には、底面スキ
ツプの存在により超音波の伝播距離が長くなり、
構造材の厚さ方向の伝播距離成分が構造材の厚さ
を超えることを利用する。すなわち、第２図の様
に構造材５における超音波入射角１１をθioとし、
音速ｖおよび伝播時間ｔと構造材５の厚さをｄと
すると、可変角探触子１→構造材底面３→底面欠
陥４→可変角探触子１の超音波伝播経路６の場合 vt／２cosθio＞ｄ ……(1) 式(1)が成立し、底面スキツプ有りを判定する。
逆の伝播経路の場合には必ずしも式(1)が成立する
とは限らないが、可変角探触子１の１スキヤンの
中に逆経路のデータが一対となつて現われるの
で、１スキヤンデータをメモリに取込んで置くこ
とにより、底面スキツプの判定は間違いなく行わ
れる。
底面スキツプが存在すると判定した場合には、
次の演算を行う。
次の演算を行う。
第３図において示される底面欠陥開口部１４を
vt／２cosθio＝ｄ ……(2)
から求め、この底面欠陥開口部１４を原点とした
座標系ｘ−ｚを定め、この原点と超音波入射点７
を結ぶ基準線１３を求める。そして、この基準線
１３からの振れ角１５が基準線１３に対して対称
である超音波入射角の伝播距離データを比較し、
この伝播距離データが基準線１３について対称性
が成立する時のデータのみを選び出し、次の演算
を示うことによりCRT表示する。
座標系ｘ−ｚを定め、この原点と超音波入射点７
を結ぶ基準線１３を求める。そして、この基準線
１３からの振れ角１５が基準線１３に対して対称
である超音波入射角の伝播距離データを比較し、
この伝播距離データが基準線１３について対称性
が成立する時のデータのみを選び出し、次の演算
を示うことによりCRT表示する。
式(1)の成立する伝播距離データと超音波入射角
のデータから、反射点の位置を先に求めたｘ−ｚ
座標系にて表わす。例えば、第４図の様にＰ（x1、
z1）で表わし、更にｘ軸に関して座標変換を行
い、第４図Ｂに示す様にP′（x1、−z1）とする。そ
して、基準線についてペアとなつた他方のデータ
からもう一方の反射点Ｑ（x2、z2）を求める。こ
れらP′、Ｑの座標データの和を取る事により（x2
＋x1、z2−z1）の座標が得られる。以上の手順を
一連のデータについて行い、Ｂスコープ表示すれ
ば、第４図で示される如く実際の底面欠陥形状に
近い合成底面欠陥像１６が得られ、欠陥形状識別
が簡単となる。
のデータから、反射点の位置を先に求めたｘ−ｚ
座標系にて表わす。例えば、第４図の様にＰ（x1、
z1）で表わし、更にｘ軸に関して座標変換を行
い、第４図Ｂに示す様にP′（x1、−z1）とする。そ
して、基準線についてペアとなつた他方のデータ
からもう一方の反射点Ｑ（x2、z2）を求める。こ
れらP′、Ｑの座標データの和を取る事により（x2
＋x1、z2−z1）の座標が得られる。以上の手順を
一連のデータについて行い、Ｂスコープ表示すれ
ば、第４図で示される如く実際の底面欠陥形状に
近い合成底面欠陥像１６が得られ、欠陥形状識別
が簡単となる。
また、底面スキツプ無しの場合には従来通りの
Ｂスコープ表示を行うものとする。
Ｂスコープ表示を行うものとする。
以上の説明に用いた図は、理解しやすいように
垂直状欠陥を用いたが、本発明は垂直状欠陥の場
合に限定されるものではなく、構造材底面に対し
て垂直でない欠陥形状にも応用できるものであ
る。
垂直状欠陥を用いたが、本発明は垂直状欠陥の場
合に限定されるものではなく、構造材底面に対し
て垂直でない欠陥形状にも応用できるものであ
る。
以下、本発明の一実施例を図を用いて説明す
る。
る。
第５図は、請求範囲記載の方法を採用した装置
の実施例の構成を示すものである。
の実施例の構成を示すものである。
本実施例はＸ−Ｙ平面走査形走査装置を用い、
超音波の送受信を一個の可変角探触子１で行うパ
ルスエコー方式に適用した例である。
超音波の送受信を一個の可変角探触子１で行うパ
ルスエコー方式に適用した例である。
第５図中で、二重枠で示した機器が本発明によ
る機器であり、他は従来の超音波探傷Ｂスコープ
表示装置と同様の機器である。
る機器であり、他は従来の超音波探傷Ｂスコープ
表示装置と同様の機器である。
走査制御装置２２から走査装置２１にＸ、Ｙ、
θ制御信号が行き、可変角探触子１を走査経路２
９に沿つて制御する。可変角探触子１は、走査制
御装置２２からθ制御信号を受けた超音波探傷器
２３に接続され、θ制御信号と同期して超音波パ
ルスの送信を行い、底面欠陥４による反射波を受
信し、超音波探傷器２３を通して伝播距離演算器
２４に伝播時間信号を伝える。演算により得られ
た伝播距離データは、θ制御信号とともに入射角
および伝播距離用メモリ２５と底面スキツプ判定
器２６に入る。底面スキツプ判定器２６の底面ス
キツプ判定信号は、入射角および伝播距離用メモ
リ２５と座標演算比較変換器２７に入る。底面ス
キツプ有りの場合には、座標演算比較変換器２７
により画像位置の修正を行いＢスコープ表示装置
２８にて画像表示を行う。また底面スキツプ無し
の場合には入射角および伝播距離用メモリ２５か
ら直接に画像表示を行う。なお、この入射角およ
び伝播距離用メモリ２５は、可変角探触子１の１
スキヤン毎にリセツトされる。
θ制御信号が行き、可変角探触子１を走査経路２
９に沿つて制御する。可変角探触子１は、走査制
御装置２２からθ制御信号を受けた超音波探傷器
２３に接続され、θ制御信号と同期して超音波パ
ルスの送信を行い、底面欠陥４による反射波を受
信し、超音波探傷器２３を通して伝播距離演算器
２４に伝播時間信号を伝える。演算により得られ
た伝播距離データは、θ制御信号とともに入射角
および伝播距離用メモリ２５と底面スキツプ判定
器２６に入る。底面スキツプ判定器２６の底面ス
キツプ判定信号は、入射角および伝播距離用メモ
リ２５と座標演算比較変換器２７に入る。底面ス
キツプ有りの場合には、座標演算比較変換器２７
により画像位置の修正を行いＢスコープ表示装置
２８にて画像表示を行う。また底面スキツプ無し
の場合には入射角および伝播距離用メモリ２５か
ら直接に画像表示を行う。なお、この入射角およ
び伝播距離用メモリ２５は、可変角探触子１の１
スキヤン毎にリセツトされる。
以上が実施例１の概略説明であるが、以下に本
発明の必須要素である入射角および伝播距離用メ
モリ２５と底面スキツプ判定器２６および座標演
算比較変換器２７の働きについて詳しく述べる。
発明の必須要素である入射角および伝播距離用メ
モリ２５と底面スキツプ判定器２６および座標演
算比較変換器２７の働きについて詳しく述べる。
第６図で示される様に、入射角および伝播距離
用メモリは、走査制御装置２２の入射角制御信号
Ａをもとにして、走査制御装置２２から出力され
る入射角信号Ｂおよびリセツト信号Ｃにて駆動さ
れ、伝播距離演算器２４からの伝播距離データと
入射角信号をペアにして記憶し、底面スキツプ判
定器２６からのスキツプ判定信号Ｄのレベルによ
り、入射角および伝播距離データを座標演算比較
変換器２７、またはＢスコープ表示装置２８に出
力するかを決定する。
用メモリは、走査制御装置２２の入射角制御信号
Ａをもとにして、走査制御装置２２から出力され
る入射角信号Ｂおよびリセツト信号Ｃにて駆動さ
れ、伝播距離演算器２４からの伝播距離データと
入射角信号をペアにして記憶し、底面スキツプ判
定器２６からのスキツプ判定信号Ｄのレベルによ
り、入射角および伝播距離データを座標演算比較
変換器２７、またはＢスコープ表示装置２８に出
力するかを決定する。
底面スキツプ判定器２６は、第６図で示される
様に、伝播距離演算器２４から伝播距離信号Ｅを
受けとり、前もつて与えられた構造材の厚さｄに
相当するレベルｕを越えた時に、例えば“１”レ
ベルのスキツプ判定信号Ｄを出力する。
様に、伝播距離演算器２４から伝播距離信号Ｅを
受けとり、前もつて与えられた構造材の厚さｄに
相当するレベルｕを越えた時に、例えば“１”レ
ベルのスキツプ判定信号Ｄを出力する。
座標演算比較変換回路２７は、スキツプ判定信
号Ｄが“１”レベルの時のみ、入射角および伝播
距離用メモリ２５を通して動作する。演算内容
は、第３図で示される様に、超音波入射点７と底
面欠陥開口部１４を結ぶ基準線１３を求め、この
基準線について等しい振れ角１５の伝播距離デー
タを比較し、同じ値のデータのみを選び出す。次
に選んだデータのうち、第４図で示される様に構
造材底面３を越えたデータの位置を求め、構造材
底面３を基準として位置の反転を行い、ペアとな
つたもう一方のデータとの合成を行い、順次Ｂス
コープ表示装置に結果を送り出す。
号Ｄが“１”レベルの時のみ、入射角および伝播
距離用メモリ２５を通して動作する。演算内容
は、第３図で示される様に、超音波入射点７と底
面欠陥開口部１４を結ぶ基準線１３を求め、この
基準線について等しい振れ角１５の伝播距離デー
タを比較し、同じ値のデータのみを選び出す。次
に選んだデータのうち、第４図で示される様に構
造材底面３を越えたデータの位置を求め、構造材
底面３を基準として位置の反転を行い、ペアとな
つたもう一方のデータとの合成を行い、順次Ｂス
コープ表示装置に結果を送り出す。
以上の手順を経ることにより、従来のＢスコー
プ表示では、第１図で示される様な底面欠陥像１
０が第４図で示される様な底面欠陥像１６に修正
され欠陥形状の識別が容易になる。
プ表示では、第１図で示される様な底面欠陥像１
０が第４図で示される様な底面欠陥像１６に修正
され欠陥形状の識別が容易になる。
従来の超音波探傷Ｂスコープ表示法では、底面
欠陥像が、実際の欠陥形状と大きく異なる。本発
明により、従来法の問題を解決でき、実際の欠陥
形状に近い欠陥像が得られ、欠陥形状の把握が容
易になる。
欠陥像が、実際の欠陥形状と大きく異なる。本発
明により、従来法の問題を解決でき、実際の欠陥
形状に近い欠陥像が得られ、欠陥形状の把握が容
易になる。
第１図は、可変角探触子を用いた従来のＢスコ
ープ表示法を示す図、第２図乃至第４図は、本発
明の原理説明図、第５図は、本発明の一実施例を
示す図、第６図は、本発明の必須要素である機器
を駆動させる信号のタイムチヤート図である。 １……可変角探触子、４……底面欠陥、５……
構造材、１１……超音波入射角、２１……走査装
置、２２……走査制御装置、２３……超音波探傷
器、２４……伝播距離演算器、２５……入射角お
よび伝播距離用メモリ、２６……底面スキツプ判
定器、２７……座標演算比較変換器、２８……Ｂ
スコープ表示装置、２９……走査経路。
ープ表示法を示す図、第２図乃至第４図は、本発
明の原理説明図、第５図は、本発明の一実施例を
示す図、第６図は、本発明の必須要素である機器
を駆動させる信号のタイムチヤート図である。 １……可変角探触子、４……底面欠陥、５……
構造材、１１……超音波入射角、２１……走査装
置、２２……走査制御装置、２３……超音波探傷
器、２４……伝播距離演算器、２５……入射角お
よび伝播距離用メモリ、２６……底面スキツプ判
定器、２７……座標演算比較変換器、２８……Ｂ
スコープ表示装置、２９……走査経路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 受信した底面欠陥からの反射波が底面スキツ
プを受けたか否かを、（Vt／２）cos θinとｄと
の大小比較により行い（但し、ｄは被検体の厚
さ、θinは構造体たる被検体に入射する超音波の
入射角、Ｖ被検体の超音波伝播速度、ｔは伝播時
間）、（Vt／２）cos θin＞ｄの成立時に底面スキ
ツプを受けたと判定し、 底面スキツプ成立時には、超音波入射点と底面
欠陥開口部を結ぶ基準線を与え、この基準線につ
いて等しい振れ角の伝播距離データを比較して同
じ値のデータのみを選び出し、次にこの選んだデ
ータのうち被検体底面を越えたデータの位置を求
め、被検体底面を基準として位置の反転を行い、
ペアとなつたもう一方のデータとの合成を行い、
順次表示装置に表示させ、 てなる超音波探傷表示法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57039408A JPS58156852A (ja) | 1982-03-15 | 1982-03-15 | 超音波探傷表示法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57039408A JPS58156852A (ja) | 1982-03-15 | 1982-03-15 | 超音波探傷表示法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58156852A JPS58156852A (ja) | 1983-09-17 |
| JPH0215025B2 true JPH0215025B2 (ja) | 1990-04-10 |
Family
ID=12552160
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57039408A Granted JPS58156852A (ja) | 1982-03-15 | 1982-03-15 | 超音波探傷表示法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58156852A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH051428U (ja) * | 1991-06-27 | 1993-01-14 | 株式会社錢屋アルミニウム製作所 | 炊飯器鍋用水量計 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2507417B2 (ja) * | 1987-04-24 | 1996-06-12 | 株式会社日立製作所 | 超音波探傷方法 |
-
1982
- 1982-03-15 JP JP57039408A patent/JPS58156852A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH051428U (ja) * | 1991-06-27 | 1993-01-14 | 株式会社錢屋アルミニウム製作所 | 炊飯器鍋用水量計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58156852A (ja) | 1983-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR0171606B1 (ko) | 초음파 영상검사장치 | |
| JPS62174653A (ja) | 超音波検査方法および装置 | |
| JPS6317184B2 (ja) | ||
| JPH0215025B2 (ja) | ||
| JP2002243703A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPH03122563A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPH0419558A (ja) | 超音波探傷試験における画像処理方法 | |
| JPS5912351A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JP4672441B2 (ja) | 超音波探傷方法及び探傷装置 | |
| JPS6411143B2 (ja) | ||
| JPH05172789A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPH11211706A (ja) | 扇形走査式超音波検査装置 | |
| JPH0423214B2 (ja) | ||
| JPS61286747A (ja) | ３次元探触子及び３次元映像装置 | |
| JPS59197854A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPS6044618B2 (ja) | 異種金属溶接部の超音波探傷方法およびその装置 | |
| JPH0532724Y2 (ja) | ||
| JPS6010166A (ja) | 超音波映像方法ならびにその装置 | |
| JPS626164A (ja) | 凹形角部の超音波検査方法および装置 | |
| JP2507417B2 (ja) | 超音波探傷方法 | |
| JPS61266907A (ja) | 表面状態検出装置 | |
| JPH02130464A (ja) | 超音波探傷における欠陥判別法 | |
| JPH04366761A (ja) | 超音波検査方法 | |
| JPH0373846A (ja) | 超音波測定装置 | |
| JPS61215960A (ja) | 圧力容器及び管類の探傷方法 |