Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH02152B2 - - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH02152B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH02152B2
JPH02152B2 JP10383984A JP10383984A JPH02152B2 JP H02152 B2 JPH02152 B2 JP H02152B2 JP 10383984 A JP10383984 A JP 10383984A JP 10383984 A JP10383984 A JP 10383984A JP H02152 B2 JPH02152 B2 JP H02152B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flux
temperature
soldered
soldering
foamed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP10383984A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60247470A (ja
Inventor
Yoshihiro Myano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tamura Kaken Corp
Original Assignee
Tamura Kaken Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tamura Kaken Corp filed Critical Tamura Kaken Corp
Priority to JP10383984A priority Critical patent/JPS60247470A/ja
Publication of JPS60247470A publication Critical patent/JPS60247470A/ja
Publication of JPH02152B2 publication Critical patent/JPH02152B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3489Composition of fluxes; Application thereof; Other processes of activating the contact surfaces

Landscapes

  • Coating Apparatus (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、電子機器の自動はんだ付け工程等に
おいて用いられるフラツクス塗布方法及びその装
置にかかりりフラツクスとプリント基板等の被は
んだ付け体との温度差を調整する構成に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来の自動はんだ付け装置に使用されるフラツ
クス塗布方法を第2図、第3図について説明す
る。第2図に示すようにフラツクスを収容したフ
ラツクス槽1には上下を開口したフラツクス案内
筒2が突設され、このフラツクス案内筒2に多孔
質の磁器等で作られた発泡筒3が設けられ、この
発泡筒3内に空気を吹込んでフラツクス案内筒2
内でフラツクスを発泡させる。そして発泡筒3よ
り生まれた小さな気泡は、下から上昇する過程で
大きくなりながら上昇し、案内筒2の上端開口部
より盛上つた状態となり、最上端で気泡が割れる
ようになつている。そしてンベア等で搬送される
プリント基板等の被はんだ付け体4が案内筒2の
上方を通過する際、被はんだ付け体4がフラツク
スの泡に接し、泡が割れて被はんだ付け体4にフ
ラツクスが塗布されるようになつている。そして
この場合一般にフラツクスは比重により濃度管理
が行われている。また時には、フラツクスの温度
を一定に保つことも一部で行われている。何故な
らばフラツクスの比重や温度の変化は、はんだ付
け不良の発生に大きな影響を与えるからである。
例えばプリント基板を自動はんだ付け装置により
はんだ付けする場合、フラツクスの比重やフラツ
クスの温度が大きく変化するとはんだブリツジや
ツララ、過剰はんだ等のはんだ付け不良の発生率
が大きく変化することはよく知られている。
ところが上述のようにフラツクスの比重や温度
を一定に管理しても最近のようにプリント基板の
パターン密度や電子部品の実装密度が高くなつて
いるプリント基板では、いぜんとしてこれらの不
良が発生しその修正に多くの時間を要し、コスト
を引上げる要因となつている。そしてその原因
は、はんだ付けと密接な開係にあるフラツクスの
塗布にあり、フラツクスの塗布状態が不完全であ
るとはんだ付け不良が発生することが明らかとな
り、さらにフラツクスの塗布不完全は、フラツク
スの温度とプリント基板の温度との温度差が大き
な影響を及ぼしていることが判つた。例えばフラ
ツクスの温度が低く、被はんだ付け体4の温度が
高い場合、発泡したフラツクスが被はんだ付け体
4に達しないうちに被はんだ付け体4の熱で破泡
してしまい、第3図に示すように泡が被はんだ付
け体4に達しないうちに破泡してフラツクスが被
はんだ付け体4に均一に塗布されないことにな
る。この現象は、特にフラツクスの液温に対し被
はんだ付け体4の温度が+5℃〜−10℃の範囲を
こえた時に発生することが多い。また、フラツク
スの温度が−10℃〜25℃の範囲外にあり、温度が
低すぎたり高すぎたりした場合には、フラツクス
の発泡体が大きく変化し、これに伴ないフラツク
スの塗布状態が変化し、フラツクスの塗布状態が
不完全になることも明らかになつた。
〔発明の目的〕
本発明は上述の如きフラツクス塗布不完全の原
因の解明に基き、フラツクス温度を一定範囲に保
つて発泡性を良くするとともに、フラツクスの温
度と被はんだ付け体の温度差を一定範囲内に保つ
ことにより生成した泡の温度差による破泡を防止
ししようとするものである。
〔発明の概要〕
上述の目的のためになされた本発明は、フラツ
クス槽に収容したフラツクスの温度を一定温度に
保ち、このフラツクスの温度と、このフラツクス
が塗布される被はんだ付け体の温度を夫々検出
し、前記フラツクスと被はんだ付け体の少くとも
何れか一方の温度を調節してフラツクスと被はん
だ付け体の温度差が一定範囲内になるように制御
しフラツクスを確実に発泡させるとともに発泡し
たフラツクスが被はんだ付け体に到達前に破泡し
ないようにしたものである。
さらに上述の方法を行うための装置としては、
フラツクスを収容しこのフラツクスの温度検出器
を備えたフラツクス槽と、温度測定装置を備え前
記フラツクス槽で発泡した発泡フラツクスが塗布
される被はんだ付け体と、前記温度検出器と温度
測定装置に接続され、前記フラツクスと被はんだ
付け体との温度差が設定値を越えたとき前記フラ
ツクスまたは被はんだ付け体の温度調節装置に信
号を送る温度制御装置とよりなるものである。
〔発明の実施例〕
本発明の一実施例を第1図について説明する。
1はステンレス製フラツクス槽で上面が開口さ
れ、内部にフラツクスが収容されている。このフ
ラツクス槽1内のほぼ中央には、上下を開口した
発泡案内筒2が設けられ、この発泡案内筒2の上
端はフラツクス1よりも上方に突出し下端はフラ
ツクスが流入できるように開口され、内部には磁
器製多孔質の発泡筒3が挿入されこの発泡筒3内
には、コンプレツサ(図示せず)から圧縮空気が
送られ発泡筒3の磁器の微細孔からの空気がフラ
ツクスを泡状にし周囲に設けた発泡案内筒2から
泡状のフラツクスを上方に盛り上げる。さらにフ
ラツクス槽1内には温度調整装置5が挿入されて
いる。温度調整装置5は一連のパイプ状に形成さ
れ内部に冷水や温水等の熱媒体が流通されフラツ
クスの温度を10℃〜25℃の範囲に保持している。
フラツクスは有機溶剤が使用されているため温度
調節装置5としては火災の危険性のある電熱ヒー
タは用いない。またフラツクス中には熱電対を用
いた温度検出器6が挿入されている。
4は被はんだ付け体であり、例えば電子部品等
が搭載されたプリント基板であり、コンベア等で
フラツクス槽1の上方を通過するように構成され
ている。この被はんだ付け体4には、熱電対を用
いた温度測定装置7が設けられている。そして前
記フラツクスの温度検出器6と被はんだ付け体4
の温度測定装置7は温度制御装置8に接続され、
この温度制御装置8は温度検出器6と温度測定装
置7で検知された温度を比較して信号を出し、フ
ラツクス温度と被はんだ付け体4の温度差が少く
ともフラツクスの温度に対し被はんだ付け体4の
温度が+5℃〜−10℃の範囲になるように、フラ
ツクスの温度調節装置5内を流れる熱媒体の温度
または流量或は、被はんだ付け体4を収容した温
度調整室9の雰囲気温度を自動的にコントロール
する。例えば、フラツクスの塗布作業中に外気温
度の変化により被はんだ付け体4の温度が変化し
た場合は、これが直ちに温度測定装置7で検出さ
れ、温度測定装置8が作動してフラツクスの温度
を適正に変化させる。
以上のようにして温度が10℃〜25℃の範囲に適
正に保たれたかつ被はんだ付け体4の温度に対し
−5℃〜+10℃の範囲に制御されたフラツクス
は、フラツクス槽1上を通過する被はんだ付け体
4のはんだ付け面に発泡案内筒2より発泡したフ
ラツクスを軽く接触させてフラツクスが塗布され
る。
フラツクスの温度が10℃以下になるとフラツク
スの粘度が高くなつて発泡し難くなり、また、25
℃以上になると発泡しても破泡し易くなり発泡状
態を保つことが困難になる。
フラツクスの温度が被はんだ付け体4の温度よ
りも+10℃以上になると発泡したフラツクスが被
はんだ付け体4に塗布にされる以前に破泡してし
まいフラツクスが被はんだ付け体4に均一に塗布
されなくなる。フラツクスの温度が被はんだ付け
体4の温度よりも−5℃以下になると、発泡した
フラツクスが被はんだ付け体4に塗布される以前
に破泡してしまいフラツクスが被はんだ付け体4
に均一に塗布されなくなる。
尚一例として被はんだ付け体4の温度に対して
フラツクスの温度を変化させるようにしたが、フ
ラツクスの温度を一定にして被はんだ付け体4の
温度を調節することもできる。例えば被はんだ付
け体4を温風または冷風によつて温度が調整され
た所定温度雰囲気中を通過させる等の手段を用い
ることができる。さらに被はんだ付け体4の温度
測定に代えて外気温度の測定により制御すること
もできる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、フラツクス槽に収容したフラ
ツクスの温度を一定温度範囲に保ち、このフラツ
クス温度と、このフラツクスが塗布される被はん
だ付け体の温度を検出し、前記フラツクスと被は
んだ付け体の少くとも何れか一方の温度を調節し
てフラツクスと被はんだ付け体の温度差が一定範
囲内になるように制御するため、フラツクスの温
度を一定温度範囲にすることによりフラツクスの
温度を適正にし発泡し易い状態に保つとともにフ
ラツクスと被はんだ付け体の温度差を一定範囲に
してフラツクスの泡がはんだ付け体に接近したと
きに破泡しないようにし、フラツクスを確実にむ
らなく被はんだ付け体に塗布し、フラツクス塗布
の不完全によるはんだ付け不良を少くすることが
できる。
また装置としては、フラツクスを収容しこのフ
ラツクスの温度検出器を備えたフラツクス槽と、
温度測定装置を備え前記フラツクス槽で発泡した
発泡フラツクスが塗布される被はんだ付け体と、
前記温度検出器と温度測定装置に接続され前記フ
ラツクスと被はんだ付け体との温度差が設定値を
越えたとき前記フラツクスまたは被はんだ付け体
の温度調節装置に自動温度調節信号を送る温度制
御装置よりなり、従来のフラツクス槽やフラツク
ス温度調節装置及びフラツクス比重調節装置の他
に、フラツクス及びはんだ付け体の温度を検出す
る装置と温度制御装置を追加するだけの簡単な装
置で確実に自動制御させることができる。
〔発明の実験例〕
実験例 1 上述の実施例の装置を用い、フラツクス温度を
20℃、被はんだ付け体としてのテレビ基板の温度
を20℃とし、実施例の方法によりフラツクスを塗
布した。
比較例 フラツクス温度20℃、テレビ基板温度30℃とし
温度制御を行わずにフラツクスを塗布した。
結 果 実験例1によるものはフラツクスが均一に塗布
され、比較例はフラツクスが均一に塗布されず8
時間作業の結果、はんだ付け体不良数は実験例1
が比較例の1/10であつた。
実験例 2 被はんだ付け体としてのチツプ部品搭載基板を
用い実験例1と同様の実験を行つた結果プリント
基板及び搭載チツプ部品に対しフラツクスが均一
に塗布されるため、はんだ不濡れ(はんだ不乗
り)というフラツクスの塗布状態の不均一に起因
する不良品の発生が大巾に減少した。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す装置の説明
図、第2図、第3図は従来例の説明である。 1……フラツクス槽、4……被はんだ付け体、
5……温度調節装置、6……温度検出器、7……
温度測定装置、8……温度制御装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 フラツクス槽に収容したフラツクスの温度を
    一定温度範囲に保ち、このフラツクスの温度と、
    このフラツクスが塗布される被はんだ付け体の温
    度を夫々検出し、前記フラツクスと被はんだ付け
    体の少くとも何れか一方の温度を調節してフラツ
    クスと被はんだ付け体の温度差が一定範囲内にな
    るように制御することを特徴とするフラツクス塗
    布方法。 2 フラツクスの温度範囲は10℃〜25℃であり、
    フラツクスの温度に対し被はんだ付け体の温度差
    が+5℃〜−10℃の範囲であることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項に記載のフラツクス塗布方
    法。 3 フラツクスを収容しこのフラツクスの温度検
    出器を備えたフラツクス槽と、温度測定装置を備
    え前記フラツクス槽で発泡した発泡フラツクスが
    塗布される被はんだ付け体と、前記温度検出器と
    温度測定装置に接続され前記フラツクスと被はん
    だ付け体との温度差が設定値を越えたとき前記フ
    ラツクスまたは被はんだ付け体の温度調節装置に
    信号を送る温度制御装置とを具備したことを特徴
    とするフラツクス塗布装置。
JP10383984A 1984-05-23 1984-05-23 フラツクス塗布方法及びその装置 Granted JPS60247470A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10383984A JPS60247470A (ja) 1984-05-23 1984-05-23 フラツクス塗布方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10383984A JPS60247470A (ja) 1984-05-23 1984-05-23 フラツクス塗布方法及びその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60247470A JPS60247470A (ja) 1985-12-07
JPH02152B2 true JPH02152B2 (ja) 1990-01-05

Family

ID=14364590

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10383984A Granted JPS60247470A (ja) 1984-05-23 1984-05-23 フラツクス塗布方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60247470A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS636164U (ja) * 1986-07-01 1988-01-16

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60247470A (ja) 1985-12-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7470100B2 (ja) リフローはんだ付け炉のガス制御システム及び方法
US4779790A (en) Job oriented method and apparatus utilizing molten solder for procedures such as soldering and desoldering
KR100625631B1 (ko) 반도체 웨이퍼 및/또는 하이브리드를 컨디셔닝하는 방법및 장치
US4251809A (en) Method and apparatus for detecting the presence of water in oil
US6168065B1 (en) Movable selective debridging apparatus for debridging soldered joints on printed circuit boards
US4404809A (en) Liquid nitrogen level controller
JP2005281130A (ja) 貴金属成分上への気泡生成防止方法
JP2001252762A (ja) ガス噴射式はんだ付け方法及び装置
WO2022251052A1 (en) Gas control system for reflow furnace and reflow furnace
JPH02152B2 (ja)
US20110139855A1 (en) Residual oxygen measurement and control in wave soldering process
EP0474482A1 (en) Process of wet etching of a silicon nitride layer
KR970001972B1 (ko) 기류(air flow)의 가시화장치(可視化裝置)
JPH0621643A (ja) リフロー炉
JPH10226816A (ja) 囲い中の雰囲気の組成を調節するための方法およびプラント
JPH03101296A (ja) プリント基板の半田付け用リフロー炉の構造
TWI915510B (zh) 氧含量檢測系統及其控制方法
KR920002277B1 (ko) 플럭스의 농도 및 온도제어장치
JPH077260A (ja) 自動半田付け装置
JPH03155465A (ja) 噴流式ハンダ付装置の噴流調整方法
JP2683713B2 (ja) 電子部品のはんだ付け方法及び装置
JPS6254582B2 (ja)
JPH02139990A (ja) はんだ付方法及びはんだ付装置
JPH08222849A (ja) はんだ付け装置
JPH11340618A (ja) 半田付け装置の酸素濃度制御装置