JPH0219883B2 - - Google Patents
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- JPH0219883B2 JPH0219883B2 JP56086786A JP8678681A JPH0219883B2 JP H0219883 B2 JPH0219883 B2 JP H0219883B2 JP 56086786 A JP56086786 A JP 56086786A JP 8678681 A JP8678681 A JP 8678681A JP H0219883 B2 JPH0219883 B2 JP H0219883B2
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 33
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 3
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、電子秤等に用いて最適なゲインドリ
フト補正回路に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a gain drift correction circuit suitable for use in electronic scales and the like.
一般に電子秤は、重量を電気信号に変換するロ
ードセル等の素子と、そのロードセル等により得
られた信号を増幅する増幅器等の電子回路が用い
られており、電子回路は温度条件によつてゲイン
が変動するため高精度が要求される電子秤にあつ
ては何らかの方法で補正する必要がある。この場
合、ドリフト特性が線形であると、サーミスタを
用いて容易に補正することもできるが、自動充填
ラインなどの途中に設置される電子秤などにあつ
てはフイルタ回路やアナログ―デジタル変換回路
等、多数の回路が用いられるため、各回路で生じ
たゲインドリフトは互いに影響し合つて2次曲線
的あるいは3次曲線的などからなり複雑な特性と
なる場合がある。こうしたゲインドリフトの補正
は、マイクロコンピユータを使用し、ソフト的に
処理することも考えられるが、この場合ある程度
の処理時間を必要とするものであり、自動充填ラ
インのように多数の秤を同時に高速で瞬時に計測
する必要がある場合の電子秤においては不適当で
あり、また、個々の電子秤専用のソフトが必要に
なるなどの問題点がある。 Generally, electronic scales use elements such as load cells that convert weight into electrical signals, and electronic circuits such as amplifiers that amplify the signals obtained by the load cells.The gain of electronic circuits varies depending on temperature conditions. Electronic scales that require high accuracy due to fluctuations must be corrected by some method. In this case, if the drift characteristic is linear, it can be easily corrected using a thermistor, but in the case of electronic scales installed in the middle of automatic filling lines, etc., filter circuits and analog-to-digital conversion circuits are required. Since a large number of circuits are used, the gain drifts generated in each circuit may influence each other, resulting in complex characteristics such as a quadratic curve or a cubic curve. Correction of such gain drift can be done using software using a microcomputer, but in this case, a certain amount of processing time is required. It is not suitable for electronic scales where instantaneous measurement is required, and there are other problems such as the need for specialized software for each electronic scale.
本発明は以上のような点に鑑みて成されたもの
であり、ゲインドリフトの原因となる回路の近傍
に温度検出素子を設け、この検出素子で得られた
検出信号とあらかじめ決定して定めた補正量プロ
グラム回路とにより選択されたアナログスイツチ
により、増幅器のゲインが調整される構成とし、
個々のアナログスイツチのON・OFF操作による
ゲイン変動率が公比を2とする等比級数で変化す
るように、アナログスイツチ回路の抵抗値を設定
した構成として、補正操作に伴う時間が極めて小
さく、然も複雑なドリフト特性を高精度に、且つ
高範囲で補正することができるゲインドリフト補
正回路を提供することを目的とするものである。 The present invention has been made in view of the above points, and includes a temperature detection element provided near the circuit that causes gain drift, and a detection signal obtained by this detection element determined in advance. The gain of the amplifier is adjusted by an analog switch selected by the correction amount program circuit,
The resistance value of the analog switch circuit is set so that the gain fluctuation rate due to ON/OFF operation of each analog switch changes in a geometric series with a common ratio of 2, and the time required for correction operation is extremely small. However, it is an object of the present invention to provide a gain drift correction circuit that can correct complicated drift characteristics with high precision and over a wide range.
次に、本発明を図示の実施例について説明す
る。 Next, the present invention will be described with reference to illustrated embodiments.
第1図は本発明に係る回路が用いられている電
子秤の側面図であり、第2図は同電気的構成を示
すブロツク図である。 FIG. 1 is a side view of an electronic balance using a circuit according to the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing the electrical configuration thereof.
図中1は自動充填ライン等の途中に設けられる
秤量コンベアであり、この秤量コンベア1は駆動
モータ2と共に、電子秤3上に載置されている。
この電子秤3は、上記秤量コンベア1の荷重を受
ける重量変化―電気信号変換素子としてロードセ
ル4が用いられており、このロードセル4の近傍
に電子回路基板5,6,7が互いに近接した状態
で取り付けられている。しかして上記電子回路基
板5,6,7とロードセル4は同一の外筐3a内
に収納され、これにより各電子回路基板5,6,
7とロードセル4は、ほぼ同等の温度条件下に置
かれている。 In the figure, 1 is a weighing conveyor provided in the middle of an automatic filling line, etc., and this weighing conveyor 1 is placed on an electronic scale 3 together with a drive motor 2.
This electronic scale 3 uses a load cell 4 as a weight change-electrical signal conversion element that receives the load of the weighing conveyor 1, and electronic circuit boards 5, 6, and 7 are placed close to each other near the load cell 4. attached. Therefore, the electronic circuit boards 5, 6, 7 and the load cell 4 are housed in the same outer casing 3a, so that each of the electronic circuit boards 5, 6, 7
7 and the load cell 4 are placed under substantially the same temperature conditions.
次に、上記電子秤3の電気的な構成の概略を第
2図により説明する。 Next, an outline of the electrical configuration of the electronic scale 3 will be explained with reference to FIG.
上記ロードセル4には直流電源8が接続され、
このロードセル4に加えられる荷重により変化す
る電流電圧変化が該ロードセル4の検出値として
出力される。このロードセル4の出力は増幅回路
9に加えられ、該増幅回路9で増幅された信号は
ローパスフイルタ10に加えられて、上記ロード
セル4が受ける有害な機械的振動や電気的な誘導
ノイズ等の影響が軽減される。このローパスフイ
ルタ10としては、演算増幅器によるアクテイブ
フイルタを複数段直列に接続したものが用いられ
ており、このローパスフイルタ10の出力は電圧
―周波数変換器11に加えられ、ここで周波数値
に変換された信号が電子秤3の出力として外部に
取り出される。こうして電子秤3より出力された
信号はカウンタ回路12に加えられ、単位時間あ
たりのパルスが計数されて、演算回路13に加え
られる。この演算回路13で得られた数値は制御
装置14に加えられて、例えば、自動充填ライン
のフイードバツク制御あるいはフイードフオーワ
ード制御等に用いられると共に、表示装置15に
加えられて表示される。 A DC power supply 8 is connected to the load cell 4,
A current/voltage change that changes depending on the load applied to the load cell 4 is output as a detected value of the load cell 4. The output of the load cell 4 is applied to an amplifier circuit 9, and the signal amplified by the amplifier circuit 9 is applied to a low-pass filter 10 to eliminate the effects of harmful mechanical vibrations, electrically induced noise, etc. on the load cell 4. is reduced. The low-pass filter 10 is composed of multiple stages of active filters connected in series using operational amplifiers, and the output of the low-pass filter 10 is applied to a voltage-frequency converter 11, where it is converted into a frequency value. The resulting signal is taken out as an output of the electronic balance 3. The signal outputted from the electronic balance 3 is applied to the counter circuit 12, the pulses per unit time are counted, and the pulses are applied to the arithmetic circuit 13. The numerical value obtained by the arithmetic circuit 13 is applied to a control device 14 and used for, for example, feedback control or feedforward control of an automatic filling line, and is also applied to a display device 15 for display.
上記増幅回路9とローパスフイルタ10と電圧
―周波数変換器11は、第1図に示す前記電子回
路基板5,7に取り付けられており、この基板
5,7間に位置されている基板6には温度検出素
子16と、補正量プログラム回路17と、アナロ
グスイツチ回路18が設けられている。この温度
検出素子16、補正量プログラム回路17及びア
ナログスイツチ回路18は、詳細には第3図に示
す回路構成とされており、温度検出素子16とし
てはサーミスタが用いられている。この温度検出
素子16の両端の電位は、比較回路19,20に
加えられている。該比較回路19,20は多数の
コンパレータCで構成され、各コンパレータの基
準入力側端子はおのおの抵抗RSを介して接続さ
れており、該抵抗RSの両端の電圧のそれぞれは
一定の値とされている。各コンパレータCの比較
入力端子は全て共通に接続され、温度検出素子1
6からの出力が接続されている。 The amplifier circuit 9, low-pass filter 10, and voltage-frequency converter 11 are attached to the electronic circuit boards 5 and 7 shown in FIG. A temperature detection element 16, a correction amount program circuit 17, and an analog switch circuit 18 are provided. The temperature detection element 16, the correction amount program circuit 17, and the analog switch circuit 18 have a detailed circuit configuration shown in FIG. 3, and a thermistor is used as the temperature detection element 16. The potential across both ends of this temperature detection element 16 is applied to comparison circuits 19 and 20. The comparison circuits 19 and 20 are composed of a large number of comparators C, and the reference input side terminals of each comparator are connected to each other via a resistor RS, and each of the voltages at both ends of the resistor RS is set to a constant value. There is. The comparison input terminals of each comparator C are all connected in common, and the temperature detection element 1
The output from 6 is connected.
そして、各コンパレータCの出力はおのおのの
基準電圧に対して比較電圧が上回るとON状態と
なるように設定されている。上記コンパレータC
は、この実施例では20個用いられているが、補正
する温度範囲とその温度範囲内において必要な分
解能により決定されるものであり、このコンパレ
ータCの各出力端子は排他的論理和回路によるゲ
ート回路22に接続されている。このゲート回路
22は、上記コンパレータCの隣り合う出力の排
他的論理和を取り、個々についてインバータ23
を介し出力端子O2〜O20を得ている。出力端子O1
は該コンパレータCのうちの出力I1を2段のイン
バータ23を介して得ている。出力端子O21は、
該コンパレータCのうちの出力I20とグランド電
位(ゼロボルト)との排他的論理和の出力をイン
バータ23を介して得たものである。 The output of each comparator C is set to be in an ON state when the comparison voltage exceeds the respective reference voltage. Comparator C above
are used in this embodiment, but they are determined by the temperature range to be corrected and the resolution required within that temperature range, and each output terminal of this comparator C is gated by an exclusive OR circuit. It is connected to circuit 22. This gate circuit 22 takes the exclusive OR of the adjacent outputs of the comparator C, and inverts the inverter 23 for each one.
We are getting output terminals O2 ~ O20 through. Output terminal O 1
obtains the output I1 of the comparator C via a two-stage inverter 23. Output terminal O 21 is
The output of the exclusive OR of the output I 20 of the comparator C and the ground potential (zero volts) is obtained via the inverter 23.
こうして、前述の出力端子O1,O21は周囲温度
が温度検出範囲を逸脱した場合でもいずれか一方
の出力がONしている構成とされている。すなわ
ち第3図に示すように相対的に高い温度の方へ逸
脱しても出力O21の出力信号は削滅せずに出力が
持続され、反対に低い温度の方へ逸脱した場合に
おいても出力O1の出力信号が消滅せずに出力が
続続されるものである。 In this way, the above-mentioned output terminals O 1 and O 21 are configured such that even if the ambient temperature deviates from the temperature detection range, one of the output terminals is turned ON. In other words, as shown in Figure 3, even if the temperature deviates toward a relatively high temperature, the output signal of the output O21 will not be eliminated and the output will continue; conversely, even if the temperature deviates toward a relatively low temperature, the output The output signal of O1 continues to be output without disappearing.
これらの出力端子O1〜O21は入力側に加えられ
るバーグラフ状の変化を線グラフ状の変化として
出力する構成とされている。すなわち、このゲー
ト回路22の入力端子I1〜I20には、例えば入力端
子I1,I2,I3がON状態とされ、他の入力端子I4〜
I20がOFF状態とされるなど、ON状態とOFF状
態の隣り合う箇所を境にして一方が全部ON状態
で他方が全部OFF状態となるように信号が加え
られ、出力端子O2〜O21は、その入力端子側の
ON状態とOFF状態の境目に対応する一端子のみ
をON状態とするものである。上記出力端子O1〜
O21のそれぞれは前記補正量プログラム回路17
に接続されており、この補正量プログラム回路1
7としてダイオードマトリクス回路が用いられて
いる。このダイオードマトリクス回路の横行方向
が上記ゲート回路22の出力端子行とされ、縦列
方向が前記アナログスイツチ回路18のドライブ
端子列とされており、このアナログスイツチ回路
18は第1乃至第6マルチプレクサ18a〜18
fによるアナログスイツチで構成され、それぞれ
のON・OFFの組合せにより前記増幅回路9のゲ
イトがコントロールされる構成とされている。す
なわち、増幅回路9は演算増幅器OPが用いられ、
この演算増幅器OPの入力側抵抗R1,R2,R3の抵
抗値を変化させてゲインを操作するものであり、
抵抗R1,R2,R3間の抵抗値が減少するとゲイン
は増加し、逆に抵抗値が増加するとゲインは減少
することになる。また、演算増幅器OPの帰還抵
抗R4の抵抗値を変化させてゲインを操作する構
成としても良く、この場合とは上記とは逆に抵抗
R4の抵抗値が減少するとゲインは減少し、抵抗
値が増加するとゲインが増加するので、前記アナ
ログスイツチ回路18の組合せによる抵抗値の増
減を逆に設定すればよい。 These output terminals O 1 to O 21 are configured to output bar graph changes applied to the input side as line graph changes. That is, the input terminals I 1 to I 20 of this gate circuit 22 have, for example, input terminals I 1 , I 2 , and I 3 in the ON state, and other input terminals I 4 to I 20 .
I 20 is set to OFF state, and a signal is applied so that adjacent points of ON state and OFF state are bordered so that one is all ON and the other is all OFF, and output terminals O 2 to O 21 is on the input terminal side.
Only one terminal corresponding to the boundary between the ON state and the OFF state is turned ON. Above output terminal O 1 ~
Each of O 21 is the correction amount program circuit 17
This correction amount program circuit 1
7, a diode matrix circuit is used. The horizontal direction of this diode matrix circuit is the output terminal row of the gate circuit 22, and the vertical direction is the drive terminal row of the analog switch circuit 18. 18
It is composed of analog switches based on f, and the gate of the amplifier circuit 9 is controlled by the combination of ON and OFF of each switch. That is, the amplifier circuit 9 uses an operational amplifier OP,
The gain is controlled by changing the resistance values of the input side resistors R 1 , R 2 , and R 3 of this operational amplifier OP.
When the resistance value between the resistors R 1 , R 2 , and R 3 decreases, the gain increases, and conversely, when the resistance value increases, the gain decreases. Alternatively, the gain may be controlled by changing the resistance value of the feedback resistor R4 of the operational amplifier OP.
As the resistance value of R4 decreases, the gain decreases, and as the resistance value increases, the gain increases. Therefore, the combination of the analog switch circuits 18 may be set to increase or decrease the resistance value in the opposite manner.
上記アナログスイツチ回路18を構成する各マ
ルチプレクサ18a〜18fは6個用いられてお
り、このなかの第1マルチプレクサ18aは補正
量のプラス方向とマイナス方向とを切り換えるも
ので、通常ではあらかじめ+4e分が加えられてい
る。他の5個の第2乃至第6マルチプレクサ18
b〜18fは、前記入力側抵抗R1,R2,R3の抵
抗値をそれぞれのON・OFF操作の組合せで減少
させ増幅器9のゲインを補正分だけ変動させるも
のである。この実施例では、電子秤3の精度を1/
2000以下とするために本発明にかかる回路を用い
ているので、ここでは1/2000=1eを基準として上
記第2乃至第マルチプレクサ18b〜18fの各
ON状態におけるゲイン変動率が設定されてお
り、第1のマルチプレクサ18aがOFFされる
とゲインは−4e変化し、第2マルチプレクサ18
bがONされるとゲインは+4e変化するように設
定され、同様に第3マルチプレクサ18cが+
2e,第4マルチプレクサ18dが+1e,第5マル
チプレクサ18eが+1/2e,第6マルチプレク
サ18fが+1/4eとされている。この各設定値
は各マルチプレクサ18a〜18fの内部抵抗と
それぞれの外部に接続される抵抗R5〜R10により
決定されており、このように各設定値が倍々の値
を取るように構成されているので、それぞれの組
合せで1/4eステツプで広範囲の補正を精密に行
うことができる。 Six multiplexers 18a to 18f are used in the analog switch circuit 18, and the first multiplexer 18a is used to switch the correction amount between the positive and negative directions, and normally +4e is added in advance. It is being Other five second to sixth multiplexers 18
b to 18f are for reducing the resistance values of the input side resistors R 1 , R 2 , R 3 by a combination of ON/OFF operations, and varying the gain of the amplifier 9 by the correction amount. In this embodiment, the accuracy of the electronic scale 3 is reduced to 1/
Since the circuit according to the present invention is used to make the number 2000 or less, each of the second to second multiplexers 18b to 18f is
The gain fluctuation rate in the ON state is set, and when the first multiplexer 18a is turned OFF, the gain changes by -4e, and the second multiplexer 18a changes by -4e.
When b is turned on, the gain is set to change by +4e, and similarly, the third multiplexer 18c changes to +4e.
2e, the fourth multiplexer 18d is +1e, the fifth multiplexer 18e is +1/2e, and the sixth multiplexer 18f is +1/4e. Each set value is determined by the internal resistance of each multiplexer 18a to 18f and each externally connected resistor R5 to R10 , and in this way, each set value is configured to take a double value. With each combination, a wide range of corrections can be made precisely in 1/4e steps.
しかして、第4図Aに示すドリフト特性を有す
る場合には、第3図に示すようにゲート回路22
の各出力端子と、アナログ・スイツチ回路18の
各ドライブ端子との間における所定箇所にダイオ
ードDを接続する。 In the case where the drift characteristic shown in FIG. 4A is obtained, the gate circuit 22 as shown in FIG.
A diode D is connected at a predetermined location between each output terminal of the analog switch circuit 18 and each drive terminal of the analog switch circuit 18.
上述した構成により、第4図Aに示す補正前特
性G1には第4図Bに示すステツプ状の補正量G2
が加えられ、第4図Cに示す補正後の特性G3が
得られる。これにより、例えば温度検出素子16
において31℃を検出したとすると、ゲート回路2
2は出力端子O15が出力する。この出力端子O15
はダイオードDにより第4,第5のマルチプレク
サ18d,18eと接続されており、この第3,
第4のマルチプレクサ18d,18eはそれぞれ
1/2eと1eのゲイン変動と対応しているので31℃
における補正前特性G1Xに対し、1+4/1eの補
正書G2Xが加えられ補正前が31℃で−1.25eであ
れば補正後は±0eと成る。 With the above-described configuration, the pre-correction characteristic G 1 shown in FIG. 4A has a step-shaped correction amount G 2 shown in FIG. 4B.
is added, and the corrected characteristic G3 shown in FIG. 4C is obtained. With this, for example, the temperature detection element 16
If 31°C is detected at , gate circuit 2
2 is output from output terminal O15 . This output terminal O 15
are connected to the fourth and fifth multiplexers 18d and 18e by a diode D, and the third and fifth multiplexers 18d and 18e are
The fourth multiplexers 18d and 18e correspond to gain fluctuations of 1/2e and 1e, respectively, so the temperature is 31°C.
A correction G 2 X of 1+4/1e is added to the pre-correction characteristic G 1
従つて、温度補正範囲を0℃〜40℃とし、その
間を20等分し補正前の曲線の傾きが2℃当たり、
1/4e以内であれば補正後の特性G3Xは±1/4eの
範囲に位置される。このように、補正後の特性
G3は±1/4eの範囲に位置されるという極めて高
い精度の補正を行うことができると共に、各マル
チプレクサ18b〜18gのON―OFFに対する
ゲイン変動率は公比を2とする等比級数で変化す
るように設定されているのでそれぞれの組合せに
より広範囲の補正が可能となつている。 Therefore, the temperature correction range is set as 0°C to 40°C, and the range is divided into 20 equal parts, and the slope of the curve before correction is 2°C per 2°C.
If it is within 1/4e, the corrected characteristic G 3 X is located within the range of ±1/4e. In this way, the characteristics after correction
G 3 is located within the range of ±1/4e, which allows for extremely high-precision correction, and the gain fluctuation rate for ON-OFF of each multiplexer 18b to 18g is expressed as a geometric series with a common ratio of 2. Since the values are set to change, a wide range of corrections can be made by combining each of them.
なお上述した実施例においてはアナログデジタ
ル変換器を電圧―周波数変換で行なつているが、
これは一般に云われるA/D変換器でも良く、ま
た補正量プログラム回路17としてダイオードマ
トリクス回路が用いられているが、このダイオー
ドマトリクス回路に換えてPROM等のメモリー
素子を用いた構成としても良い。 In the above-mentioned embodiment, the analog-to-digital converter is performed by voltage-frequency conversion.
This may be a commonly known A/D converter, and although a diode matrix circuit is used as the correction amount program circuit 17, a memory element such as a PROM may be used instead of the diode matrix circuit.
以上説明したように、本発明によれば、ゲイン
ドリフトの原因となる回路の近傍に温度検出素子
を設け、この検出素子で得られた検出信号と補正
量プログラム回路とにより選択されたアナログス
イツチにより、増幅器のゲインが調整される構成
とし、個々のアナログスイツチのON・OFF操作
によるゲイン変動率が公比を2とする等比級数で
変化するように、アナログスイツチ回路の抵抗値
を設定した構成としたので、2次曲線的あるいは
3次曲線的な複雑なドリフト特性を高精度に、且
つ高範囲で補正することができる効果がある。然
もその補正は電子的に行われるため瞬時に成され
る効果があり、自動充填ラインの電子秤に用いて
も何ら支障がないという効果がある。また、本発
明によれば、補正対象を変えても、補正量プログ
ラム回路を調整するだけで使用することができ、
他の部品の交換は必要なく、小量多品種の製品に
無理なく対応することができる効果があり、経年
変化によるドラフト特性の変動に対しても容易に
対応できる効果がある。 As explained above, according to the present invention, a temperature detection element is provided near a circuit that causes gain drift, and an analog switch selected based on a detection signal obtained from this detection element and a correction amount program circuit , a configuration in which the gain of the amplifier is adjusted, and the resistance value of the analog switch circuit is set so that the gain fluctuation rate due to ON/OFF operation of each analog switch changes in a geometric series with a common ratio of 2. Therefore, there is an effect that complex drift characteristics like a quadratic curve or a cubic curve can be corrected with high accuracy and over a wide range. However, since the correction is performed electronically, it has the effect of being instantaneously accomplished, and there is no problem in using it in an electronic scale of an automatic filling line. Furthermore, according to the present invention, even if the correction target is changed, it can be used simply by adjusting the correction amount program circuit.
There is no need to replace other parts, and it has the effect of being able to easily handle small-volume, high-mix products, and also being able to easily deal with changes in draft characteristics due to aging.
第1図は本発明に係る回路が用いられている電
子秤の側面図、第2図は同電気的構成を示すブロ
ツク図、第3図は本発明の要部を示す回路図、第
4図は同回路により補正されるドリフト特性と、
補正量及び補正後の特性を示すグラフ図である。
9…増幅回路、16…温度検出素子、17…補
正量プログラム回路、18…アナログスイツチ回
路、18a〜18f…アナログスイツチとしての
マルチプレクサ、19,20…比較回路、22…
ゲート回路、R1,R2,R3…入力側抵抗、R4…帰
還抵抗、OP…演算増幅器。
Fig. 1 is a side view of an electronic scale in which the circuit according to the present invention is used, Fig. 2 is a block diagram showing the electrical configuration of the same, Fig. 3 is a circuit diagram showing the main parts of the present invention, and Fig. 4 is the drift characteristic corrected by the same circuit,
FIG. 3 is a graph diagram showing a correction amount and characteristics after correction. 9... Amplifier circuit, 16... Temperature detection element, 17... Correction amount program circuit, 18... Analog switch circuit, 18a to 18f... Multiplexer as analog switch, 19, 20... Comparison circuit, 22...
Gate circuit, R 1 , R 2 , R 3 ... input side resistance, R 4 ... feedback resistance, OP ... operational amplifier.
Claims (1)
けられる温度検出素子と、この温度検出素子より
得られた検出信号が加えられ、所定の温度に達す
る毎に出力を発生する複数の比較回路と、この複
数の比較回路の出力のひとつを選択するゲート回
路と、該ゲート回路の出力によりあらかじめプロ
グラムされた信号を発生する補正量プログラム回
路と、この補正量プログラム回路の出力信号によ
りON・OFF操作されるアナログ・スイツチ回路
と、このアナログ・スイツチ回路により入力側抵
抗もしくは帰還抵抗の少なくともいずれか一方の
抵抗値が変化される演算増幅器より成る増幅回路
と、を具備しており、上記アナログスイツチ回路
は、複数のアナログスイツチとその各アナログス
イツチに直列に接続される抵抗とで構成され、各
アナログスイツチと抵抗とによるそれぞれの抵抗
値は、各アナログスイツチの個々のON状態にお
いて上記演算増幅器のゲイン変動率が公比を2と
する等比級数で変化するように設定されているこ
とを特徴とするゲインドリフト補正回路。1 A temperature detection element installed near the circuit that causes gain drift, a plurality of comparison circuits to which the detection signal obtained from this temperature detection element is added and generates an output each time a predetermined temperature is reached, and this A gate circuit that selects one of the outputs of a plurality of comparison circuits, a correction amount program circuit that generates a preprogrammed signal based on the output of the gate circuit, and an ON/OFF operation based on the output signal of this correction amount program circuit. The analog switch circuit comprises an analog switch circuit and an amplifier circuit comprising an operational amplifier whose resistance value of at least one of the input side resistance and the feedback resistance is changed by the analog switch circuit. It is composed of a plurality of analog switches and a resistor connected in series to each analog switch, and the resistance value of each analog switch and resistor is equal to the gain fluctuation rate of the operational amplifier in the ON state of each analog switch. A gain drift correction circuit characterized in that the gain drift correction circuit is set to vary in a geometric series with a common ratio of 2.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56086786A JPS57201996A (en) | 1981-06-08 | 1981-06-08 | Gain drift correction circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56086786A JPS57201996A (en) | 1981-06-08 | 1981-06-08 | Gain drift correction circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57201996A JPS57201996A (en) | 1982-12-10 |
| JPH0219883B2 true JPH0219883B2 (en) | 1990-05-07 |
Family
ID=13896432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56086786A Granted JPS57201996A (en) | 1981-06-08 | 1981-06-08 | Gain drift correction circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57201996A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6125015A (en) * | 1984-07-13 | 1986-02-03 | Hitachi Ltd | Sensor characteristic correction device |
| JPS6428516A (en) * | 1987-07-23 | 1989-01-31 | Toshiba Corp | Temperature compensating circuit |
-
1981
- 1981-06-08 JP JP56086786A patent/JPS57201996A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57201996A (en) | 1982-12-10 |
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