JPH0225567B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0225567B2 JPH0225567B2 JP58112489A JP11248983A JPH0225567B2 JP H0225567 B2 JPH0225567 B2 JP H0225567B2 JP 58112489 A JP58112489 A JP 58112489A JP 11248983 A JP11248983 A JP 11248983A JP H0225567 B2 JPH0225567 B2 JP H0225567B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memories
- shift register
- bits
- output
- shift
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/02—Digital function generators
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Memory System (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はビツト数(ビツト幅)が可変な高速デ
ジタル・パターンを発生するパターン発生器に関
する。
ジタル・パターンを発生するパターン発生器に関
する。
ランダム・ロジツク集積回路(IC)、ロジツ
ク・メモリIC等のロジツク回路を試験するのに
デジタル(ロジツク)・パターン発生器を用いて
いる。
ク・メモリIC等のロジツク回路を試験するのに
デジタル(ロジツク)・パターン発生器を用いて
いる。
従来のパターン発生器の1つは、試験に必要な
所定のデジタル・パターンをメモリに記憶し、こ
の記憶したデジタル・パターンを順次読出した。
よつてパターンの周波数はメモリICの読出し速
度に制限された。ところがロジツク回路が複雑に
なるにしたがつて、非常に多くのパターンを必要
とし、またロジツク回路の動作速度が速くなるに
したがつて、高速のパターンが必要となつた。し
かし、大容量で高速動作のメモリが存在しないた
め、この従来のパターン発生器により高速パター
ンを発生する場合に、小容量かつ高価な高速メモ
リを数多く用いる必要があり、パターン発生器全
体が高価かつ大型となつた。
所定のデジタル・パターンをメモリに記憶し、こ
の記憶したデジタル・パターンを順次読出した。
よつてパターンの周波数はメモリICの読出し速
度に制限された。ところがロジツク回路が複雑に
なるにしたがつて、非常に多くのパターンを必要
とし、またロジツク回路の動作速度が速くなるに
したがつて、高速のパターンが必要となつた。し
かし、大容量で高速動作のメモリが存在しないた
め、この従来のパターン発生器により高速パター
ンを発生する場合に、小容量かつ高価な高速メモ
リを数多く用いる必要があり、パターン発生器全
体が高価かつ大型となつた。
これらの欠点を解決した従来のパターン発生器
にインタリーブ方式を採用したものがある。これ
は所定のデジタル・パターンを記憶した複数のメ
モリを、異なる位相で順次読出し、位相に応じて
複数のメモリからの出力信号を選択している。よ
つて、最終的なデジタル・パターンの周波数は各
メモリの読出し周波数よりも高くなり、低速メモ
リを用いて高速パターンを発生できる。しかし、
このインタリーブ方式では、低速メモリを用いて
更に高速のデジタル・パターンを発生するには、
メモリの数を増さなければならずパターン発生器
が大型かつ高価となつてしまう。また用途に応じ
て、デジタル・パターンのビツト幅、即ちビツト
数を変更できなかつた。
にインタリーブ方式を採用したものがある。これ
は所定のデジタル・パターンを記憶した複数のメ
モリを、異なる位相で順次読出し、位相に応じて
複数のメモリからの出力信号を選択している。よ
つて、最終的なデジタル・パターンの周波数は各
メモリの読出し周波数よりも高くなり、低速メモ
リを用いて高速パターンを発生できる。しかし、
このインタリーブ方式では、低速メモリを用いて
更に高速のデジタル・パターンを発生するには、
メモリの数を増さなければならずパターン発生器
が大型かつ高価となつてしまう。また用途に応じ
て、デジタル・パターンのビツト幅、即ちビツト
数を変更できなかつた。
したがつて、本発明の目的は、インタリーブ方
式の欠点を改善し、更に高速でビツト数が可変の
デジタル・パターンを発生するデジタル・パター
ン発生器の提供にある。
式の欠点を改善し、更に高速でビツト数が可変の
デジタル・パターンを発生するデジタル・パター
ン発生器の提供にある。
本発明のデジタル・パターン発生器は、インタ
リーブ方式を採用して、所定のデジタル・パター
ンを記憶した第1及び第2メモリの選択した一方
から複数ビツト数の並列デジタル・パターンを得
ている。また、この並列デジタル・パターンをシ
フト・レジスタにロードし、このシフト・レジス
タを並列入力/直列出力型として動作させること
により、デジタル・パターンを一層高速にしてい
る。更にメモリからの並列デジタル・パターンを
シフト・レジスタにより並列/直列変換する際
に、1回のロード動作当り、何回シフト動作をす
るかによつてデジタル・パターンのビツト数を制
御している。よつて、低速メモリを用いて、イン
タリーブ方式よりも高速で、かつビツト数が可変
のデジタル・パターンが得られる。
リーブ方式を採用して、所定のデジタル・パター
ンを記憶した第1及び第2メモリの選択した一方
から複数ビツト数の並列デジタル・パターンを得
ている。また、この並列デジタル・パターンをシ
フト・レジスタにロードし、このシフト・レジス
タを並列入力/直列出力型として動作させること
により、デジタル・パターンを一層高速にしてい
る。更にメモリからの並列デジタル・パターンを
シフト・レジスタにより並列/直列変換する際
に、1回のロード動作当り、何回シフト動作をす
るかによつてデジタル・パターンのビツト数を制
御している。よつて、低速メモリを用いて、イン
タリーブ方式よりも高速で、かつビツト数が可変
のデジタル・パターンが得られる。
以下、添付図を参照して本発明の好適な実施例
を説明する。第1図は本発明の第1実施例のブロ
ツク図であり、第2図は第1図のブロツク図の動
作を説明するためのタイミング図である。第1ア
ドレス・カウンタ10及び第2アドレス・カウン
タ12は制御手段であるタイミング及び制御回路
(以下単に制御回路という)14からのクロツク
信号0/1及び0/2を夫々計数する。これらクロツ
ク信号0/1及び0/2の位相は180度異なつている
ため、アドレス・カウンタ10及び12からの第
1及び第2アドレス信号AD1及びAD2(4ビ
ツト)の位相も180度異なつている。第1メモリ
16及び第2メモリ18は夫々所定の4ビツト並
列デジタル・パターンを記憶しており、アドレス
信号AD1及びAD2に応じて、180度位相の異な
つた4ビツトのデジタル・パターンDT1及び
DT2をマルチプレクサ20に供給する。このマ
ルチプレクサ20は制御回路14からの制御信号
に応じて、デジタル・パターンDT1及びDT2
の各々の後半部分を選択し、出力信号MUXを発
生する。よつてマルチプレクサ20がデジタル・
パターンDT1及びDT2の各々の後半部分を選
択するまでの前半部分を、メモリ16及び18の
応答時間(アドレス信号を受けてからデジタル・
パターンを発生するまでの時間)に利用できるた
め、低速メモリを利用できる。この実施例ではメ
モリが2個のため、マルチプレクサ20の切換周
波数はクロツク信号0/1及び0/2の周波数の2倍
である。ここまでの構成及び動作は従来のインタ
リーブ方式と同様である。なお、第1図におい
て、数字を付した接続線は複数の接続線から成
り、数字が構成する接続線の数を示す。また第2
図において、D1〜D12の各々はデジタル・パ
ターンの各ビツトを示し、各ブロツクの応答時間
も考慮している。
を説明する。第1図は本発明の第1実施例のブロ
ツク図であり、第2図は第1図のブロツク図の動
作を説明するためのタイミング図である。第1ア
ドレス・カウンタ10及び第2アドレス・カウン
タ12は制御手段であるタイミング及び制御回路
(以下単に制御回路という)14からのクロツク
信号0/1及び0/2を夫々計数する。これらクロツ
ク信号0/1及び0/2の位相は180度異なつている
ため、アドレス・カウンタ10及び12からの第
1及び第2アドレス信号AD1及びAD2(4ビ
ツト)の位相も180度異なつている。第1メモリ
16及び第2メモリ18は夫々所定の4ビツト並
列デジタル・パターンを記憶しており、アドレス
信号AD1及びAD2に応じて、180度位相の異な
つた4ビツトのデジタル・パターンDT1及び
DT2をマルチプレクサ20に供給する。このマ
ルチプレクサ20は制御回路14からの制御信号
に応じて、デジタル・パターンDT1及びDT2
の各々の後半部分を選択し、出力信号MUXを発
生する。よつてマルチプレクサ20がデジタル・
パターンDT1及びDT2の各々の後半部分を選
択するまでの前半部分を、メモリ16及び18の
応答時間(アドレス信号を受けてからデジタル・
パターンを発生するまでの時間)に利用できるた
め、低速メモリを利用できる。この実施例ではメ
モリが2個のため、マルチプレクサ20の切換周
波数はクロツク信号0/1及び0/2の周波数の2倍
である。ここまでの構成及び動作は従来のインタ
リーブ方式と同様である。なお、第1図におい
て、数字を付した接続線は複数の接続線から成
り、数字が構成する接続線の数を示す。また第2
図において、D1〜D12の各々はデジタル・パ
ターンの各ビツトを示し、各ブロツクの応答時間
も考慮している。
本発明では、マルチプレクサ20により選択さ
れたメモリ16又は18からの並列デジタル・パ
ターンMUXをシフト・レジスタ22に供給して
いる。この実施例ではデジタル・パターンMUX
が4ビツトなので、シフト・レジスタ22を4個
のフリツプ・フロツプF1〜F4等から構成し、
その並列出力を出力端子24〜30に接続する。
れたメモリ16又は18からの並列デジタル・パ
ターンMUXをシフト・レジスタ22に供給して
いる。この実施例ではデジタル・パターンMUX
が4ビツトなので、シフト・レジスタ22を4個
のフリツプ・フロツプF1〜F4等から構成し、
その並列出力を出力端子24〜30に接続する。
出力デジタル・パターンが1ビツトの場合は、
出力端子24を用い、マルチプレクサ20がメモ
リ16及び18を切換える間にシフト・レジスタ
22は3回のシフトを行なつてデジタル・パター
ンS/R1を発生する。即ち、制御回路14の制
御により、マルチプレクサ20がメモリ16を選
択すると、シフト・レジスタ22は4ビツト・パ
ターンMUX(D1〜D4)をロードする(F1
〜F4にD1〜D4を夫々ロードする)。シフ
ト・レジスタ22の応答時間経過後、出力端子2
4にD1が発生する。次にシフト・レジスタ22
が順次シフト動作をすることにより出力端子24
にD2,D3及びD4が順次発生する。よつて、
シフト・レジスタ22の動作周波数はマルチプレ
クサ20の切換周波数の4倍(MUXが4ビツト
だから)、即ちクロツク周波数0/1及び0/2の8
倍であり、4クロツクで1動作サイクル(第1ク
ロツク時にロード動作、第2〜第4クロツク時に
シフト動作)となる。マルチプレクサ20がメモ
リ18を選択すると、MUXはD5〜D8とな
り、シフト・レジスタ22はMUXをロード後、
シフト動作を行ない、出力端子24にD5〜D8
を順次出力する。以後、上述の動作を繰返す。よ
つて端子24のデジタル・パターンのビツト数は
MUXの4分の1となるが、その周波数はMUX
の4倍となる。また、このデジタル・パターンの
ビツト長はメモリ16及び18の全記憶容量まで
拡張できる。
出力端子24を用い、マルチプレクサ20がメモ
リ16及び18を切換える間にシフト・レジスタ
22は3回のシフトを行なつてデジタル・パター
ンS/R1を発生する。即ち、制御回路14の制
御により、マルチプレクサ20がメモリ16を選
択すると、シフト・レジスタ22は4ビツト・パ
ターンMUX(D1〜D4)をロードする(F1
〜F4にD1〜D4を夫々ロードする)。シフ
ト・レジスタ22の応答時間経過後、出力端子2
4にD1が発生する。次にシフト・レジスタ22
が順次シフト動作をすることにより出力端子24
にD2,D3及びD4が順次発生する。よつて、
シフト・レジスタ22の動作周波数はマルチプレ
クサ20の切換周波数の4倍(MUXが4ビツト
だから)、即ちクロツク周波数0/1及び0/2の8
倍であり、4クロツクで1動作サイクル(第1ク
ロツク時にロード動作、第2〜第4クロツク時に
シフト動作)となる。マルチプレクサ20がメモ
リ18を選択すると、MUXはD5〜D8とな
り、シフト・レジスタ22はMUXをロード後、
シフト動作を行ない、出力端子24にD5〜D8
を順次出力する。以後、上述の動作を繰返す。よ
つて端子24のデジタル・パターンのビツト数は
MUXの4分の1となるが、その周波数はMUX
の4倍となる。また、このデジタル・パターンの
ビツト長はメモリ16及び18の全記憶容量まで
拡張できる。
出力デジタル・パターンが2ビツトの場合は、
出力端子24及び28を用い、マルチプレクサ2
0がメモリ16及び18を切換える間にシフト・
レジスタは1回のシフトを行なつて、端子24及
び28にデジタル・パターンS/R2及びS/R3
を夫々発生する。即ち、シフト・レジスタ22の
動作周波数はクロツク周波数0/1及び0/2の4倍
であり、第1クロツク時にロード動作を行ない第
2クロツク時にシフト動作を行なう2クロツク1
動作サイクルとなる。よつて出力デジタル・パタ
ーンの周波数はMUXの2倍になる。
出力端子24及び28を用い、マルチプレクサ2
0がメモリ16及び18を切換える間にシフト・
レジスタは1回のシフトを行なつて、端子24及
び28にデジタル・パターンS/R2及びS/R3
を夫々発生する。即ち、シフト・レジスタ22の
動作周波数はクロツク周波数0/1及び0/2の4倍
であり、第1クロツク時にロード動作を行ない第
2クロツク時にシフト動作を行なう2クロツク1
動作サイクルとなる。よつて出力デジタル・パタ
ーンの周波数はMUXの2倍になる。
出力デジタル・ビツトが4ビツトの場合、シフ
ト・レジスタ22は、マルチプレクサ20の切換
に同期したロード動作のみを行ない、単なるバツ
フアとして作用する。よつて、出力端子24〜3
0に発生するデジタル・パターンはMUXと同じ
である。なお、マルチプレクサ20及びシフト・
レジスタ22の制御信号は各前段における応答時
間を考慮してある点に留意されたい。したがつ
て、本発明によればインタリーブ方式よりもデジ
タル・パターンは高速となり、かつビツト数
(幅)を容易に制御できる。
ト・レジスタ22は、マルチプレクサ20の切換
に同期したロード動作のみを行ない、単なるバツ
フアとして作用する。よつて、出力端子24〜3
0に発生するデジタル・パターンはMUXと同じ
である。なお、マルチプレクサ20及びシフト・
レジスタ22の制御信号は各前段における応答時
間を考慮してある点に留意されたい。したがつ
て、本発明によればインタリーブ方式よりもデジ
タル・パターンは高速となり、かつビツト数
(幅)を容易に制御できる。
第3図は本発明の第2実施例のブロツク図であ
る。タイミング及び制御回路(制御手段)14
は、バス(データ線、アドレス線、制御線を含
む)32により発振周波数の制御されるクロツク
発生器34、このクロツク発生器34からのクロ
ツク信号を分周する2分の1分周器36,38及
び40、シフト・レジスタ22のロード動作及び
シフト動作を制御するカウンタ42、バス32の
制御信号をラツチしてカウンタ42のプリセツト
端子Pに供給するラツチ回路44を含んでいる。
なお、バス32にはマイクロプロセツサの如き中
央処理装置(CPU)52、制御プログラム等を
記憶したリード・オンリ・メモリ(ROM)5
4、一時記憶回路として働くランダム・アクセ
ス・メモリ(RAM)56、種々の制御入力する
キーボード58を接続しており、上述のクロツク
周波数もキーボード58により制御される。また
カウンタ42のキヤリ・アウトCがそのロード端
子Lに接続しているので、キヤリ・アウトの発生
周期もキーボード58により制御できる。
る。タイミング及び制御回路(制御手段)14
は、バス(データ線、アドレス線、制御線を含
む)32により発振周波数の制御されるクロツク
発生器34、このクロツク発生器34からのクロ
ツク信号を分周する2分の1分周器36,38及
び40、シフト・レジスタ22のロード動作及び
シフト動作を制御するカウンタ42、バス32の
制御信号をラツチしてカウンタ42のプリセツト
端子Pに供給するラツチ回路44を含んでいる。
なお、バス32にはマイクロプロセツサの如き中
央処理装置(CPU)52、制御プログラム等を
記憶したリード・オンリ・メモリ(ROM)5
4、一時記憶回路として働くランダム・アクセ
ス・メモリ(RAM)56、種々の制御入力する
キーボード58を接続しており、上述のクロツク
周波数もキーボード58により制御される。また
カウンタ42のキヤリ・アウトCがそのロード端
子Lに接続しているので、キヤリ・アウトの発生
周期もキーボード58により制御できる。
アドレス・カウンタ10は分周器40の出力信
号を計数して、計数出力をアドレス信号(4ビツ
ト)としてラツチ回路46及び48に供給する。
一方、カウンタ10のキヤリ・アウトCをそのロ
ード端子Lに供給しているので、キヤリ・アウト
が発生する毎にラツチ回路50の出力信号(4ビ
ツト)をラツチする。よつて、カウンタ10の発
生するアドレス信号の範囲をキーボード58によ
り制御できる。分周器38の出力信号は遅延回路
60を介して差動出力バツフア62に供給し、そ
の非反転出力信号をノア・ゲート64及び66
に、また反転出力信号をノア・ゲート68に供給
する。ノア・ゲート64はノア・ゲート66及び
68の遅延時間を補償する単なるインバータとし
て作用し、ラツチ回路46のラツチ動作を制御す
る。ノア・ゲート66及び68はバス32からの
制御信号C1及びC2を夫々受け、それらの出力
信号はワイヤード・オアされ、ラツチ回路48の
ラツチ動作を制御する。増幅器62の出力クロツ
ク周波数はカウンタ10の入力クロツク周波数の
2倍なので、制御信号C1及びC2が夫々「高」
及び「低」とすると、ラツチ回路46及び48は
カウンタ10の出力信号を180度の位相差でラツ
チする。よつて、180度の位相差を有するアドレ
ス信号を発生できる。また制御信号C1及びC2
が夫々「低」及び「高」の場合、ラツチ回路46
及び48はカウンタ10からのアドレス信号を同
時にラツチする。なお、遅延装置60はラツチ回
路46及び48におけるカウンタ10の出力信号
及びラツチ信号のタイミングを調整する。
号を計数して、計数出力をアドレス信号(4ビツ
ト)としてラツチ回路46及び48に供給する。
一方、カウンタ10のキヤリ・アウトCをそのロ
ード端子Lに供給しているので、キヤリ・アウト
が発生する毎にラツチ回路50の出力信号(4ビ
ツト)をラツチする。よつて、カウンタ10の発
生するアドレス信号の範囲をキーボード58によ
り制御できる。分周器38の出力信号は遅延回路
60を介して差動出力バツフア62に供給し、そ
の非反転出力信号をノア・ゲート64及び66
に、また反転出力信号をノア・ゲート68に供給
する。ノア・ゲート64はノア・ゲート66及び
68の遅延時間を補償する単なるインバータとし
て作用し、ラツチ回路46のラツチ動作を制御す
る。ノア・ゲート66及び68はバス32からの
制御信号C1及びC2を夫々受け、それらの出力
信号はワイヤード・オアされ、ラツチ回路48の
ラツチ動作を制御する。増幅器62の出力クロツ
ク周波数はカウンタ10の入力クロツク周波数の
2倍なので、制御信号C1及びC2が夫々「高」
及び「低」とすると、ラツチ回路46及び48は
カウンタ10の出力信号を180度の位相差でラツ
チする。よつて、180度の位相差を有するアドレ
ス信号を発生できる。また制御信号C1及びC2
が夫々「低」及び「高」の場合、ラツチ回路46
及び48はカウンタ10からのアドレス信号を同
時にラツチする。なお、遅延装置60はラツチ回
路46及び48におけるカウンタ10の出力信号
及びラツチ信号のタイミングを調整する。
メモリ16及び18はアドレス端子Aにラツチ
回路46及び48からの4ビツト・アドレス信号
を夫々受け、入力データ端子Iにバス32からの
4ビツト・データを受け、書込み/読出し制御端
子W/Rにバス32からの書込み/読出し制御信
号を受け、イネーブル端子Eに分周器38の出力
信号をイネーブル信号として受ける。遅延装置7
0はメモリ16及び18に供給されるアドレス信
号とイネーブル信号とのタイミングを調整し、イ
ンバータ72はメモリ16及び18がアドレス信
号に同期して交互にイネーブルされるようにす
る。メモリ16及び18の4ビツト・デジタル・
パターンはワイヤード・オアされて、シフト・レ
ジスタ22に供給される。このシフト・レジスタ
22はロード・シフト制御端子L/Sにタイミン
グ調整用遅延装置74を介してカウンタ42のキ
ヤリ・アウトCを受け、クロツク端子にタイミン
グ調整用遅延装置76を介してクロツク発生器3
4の出力クロツクを受ける。第3図の実施例では
第1図の実施例と異なり、アドレス・カウンタが
1個であり、またメモリ16及び18の出力側に
マルチプレクサが配置されていない点(マルチプ
レクサを用いる代りにメモリ16及び18を交互
にイネーブルしている。)に留意されたい。
回路46及び48からの4ビツト・アドレス信号
を夫々受け、入力データ端子Iにバス32からの
4ビツト・データを受け、書込み/読出し制御端
子W/Rにバス32からの書込み/読出し制御信
号を受け、イネーブル端子Eに分周器38の出力
信号をイネーブル信号として受ける。遅延装置7
0はメモリ16及び18に供給されるアドレス信
号とイネーブル信号とのタイミングを調整し、イ
ンバータ72はメモリ16及び18がアドレス信
号に同期して交互にイネーブルされるようにす
る。メモリ16及び18の4ビツト・デジタル・
パターンはワイヤード・オアされて、シフト・レ
ジスタ22に供給される。このシフト・レジスタ
22はロード・シフト制御端子L/Sにタイミン
グ調整用遅延装置74を介してカウンタ42のキ
ヤリ・アウトCを受け、クロツク端子にタイミン
グ調整用遅延装置76を介してクロツク発生器3
4の出力クロツクを受ける。第3図の実施例では
第1図の実施例と異なり、アドレス・カウンタが
1個であり、またメモリ16及び18の出力側に
マルチプレクサが配置されていない点(マルチプ
レクサを用いる代りにメモリ16及び18を交互
にイネーブルしている。)に留意されたい。
メモリ16及び18にキーボード58の制御に
応じた所定パターンを記憶させるには、これらメ
モリを書込みモードとし、バス32からのクロツ
ク信号を分周器38の出力側にワイヤード・オア
結合を介して供給する。バス32からの2クロツ
ク毎にカウンタ10がアドレス信号を変化し、メ
モリ16及び18は1クロツク毎にイネーブルさ
れる。よつて、1クロツク毎にバス32からデジ
タル・データをメモリ16及び18に供給すれば
よい。
応じた所定パターンを記憶させるには、これらメ
モリを書込みモードとし、バス32からのクロツ
ク信号を分周器38の出力側にワイヤード・オア
結合を介して供給する。バス32からの2クロツ
ク毎にカウンタ10がアドレス信号を変化し、メ
モリ16及び18は1クロツク毎にイネーブルさ
れる。よつて、1クロツク毎にバス32からデジ
タル・データをメモリ16及び18に供給すれば
よい。
メモリ16及び18に記憶したデジタル・パタ
ーンを出力するには、これらメモリを読出しモー
ドとし、制御信号C1及びC2を「高」及び
「低」とする。またキーボード58により1ビツ
ト出力か、2ビツト出力か又は4ビツト出力かを
選択する。1ビツト出力の場合、CPU52はラ
ツチ44に1をロードするので、カウンタ42は
クロツク発生器34からのクロツク信号が4サイ
クル毎にパルスを発生し、ロード信号としてシフ
ト・レジスタ22に供給する。2ビツト出力及び
4ビツト出力の場合は、夫々2及び4をラツチ4
4にロードし、クロツク信号の2サイクル及び1
サイクル毎にロード信号をシフト・レジスタ22
に供給する。その他の動作は第1図の実施例と同
様である。なお、ラツチ回路46及び48に供給
するラツチ信号及びメモリ16及び18へのイネ
ーブル信号は、クロツク発生器34のクロツク信
号を分周したものなので、仮えクロツク周波数を
変化させてクロツク信号の衝撃係数(デユテイ・
フアクタ)が50%以外に変化しても、制御信号C
1及びC2が「高」及び「低」の場合、ラツチ回
路及びメモリの動作は常に180度の位相差となる。
ーンを出力するには、これらメモリを読出しモー
ドとし、制御信号C1及びC2を「高」及び
「低」とする。またキーボード58により1ビツ
ト出力か、2ビツト出力か又は4ビツト出力かを
選択する。1ビツト出力の場合、CPU52はラ
ツチ44に1をロードするので、カウンタ42は
クロツク発生器34からのクロツク信号が4サイ
クル毎にパルスを発生し、ロード信号としてシフ
ト・レジスタ22に供給する。2ビツト出力及び
4ビツト出力の場合は、夫々2及び4をラツチ4
4にロードし、クロツク信号の2サイクル及び1
サイクル毎にロード信号をシフト・レジスタ22
に供給する。その他の動作は第1図の実施例と同
様である。なお、ラツチ回路46及び48に供給
するラツチ信号及びメモリ16及び18へのイネ
ーブル信号は、クロツク発生器34のクロツク信
号を分周したものなので、仮えクロツク周波数を
変化させてクロツク信号の衝撃係数(デユテイ・
フアクタ)が50%以外に変化しても、制御信号C
1及びC2が「高」及び「低」の場合、ラツチ回
路及びメモリの動作は常に180度の位相差となる。
この実施例では、自己診断を行なうために、オ
ープン・コレクタ型式の比較器78及び80、バ
ス32からの制御信号に応じて比較器78及び8
0の反転入力端にしきい値レベルを供給する回路
82を含んでいる。比較器78の非反転入力端を
出力端子24に接続し、比較器78及び80の出
力端を抵抗器及びバス32に共通接続する。メモ
リ16及び18の内容を検査するには、パターン
発生器を1ビツト出力モードにし、比較器78に
最適なしきい値を加える。また比較器80のしき
い値は比較器80の出力段トランジスタが常にオ
フ状態になるようにする。よつて出力端子24の
ロジツク状態のみがバス32を介してCPU52
により診断される。メモリ16及び18の出力信
号の合計は8ビツトにもかかわらず、1ケ所のみ
から検査信号を取出すのみで、これらメモリの全
内容を診断できる点に留意されたい。この診断の
際には、所定規則の繰返しパターン、例えば
「1」、「0」の繰返しパターンをメモリに記憶さ
せ、それらの出力が所定規則に従つているか否か
により診断を行なう。また所定パターンをメモリ
16及び18、並びにRAM56に記憶させ、そ
れらの記憶内容を比較してもよい。比較器80の
非反転入力端はカウンタ10等、他の適当な回路
に接続し、その部分の診断を行なうのに利用す
る。
ープン・コレクタ型式の比較器78及び80、バ
ス32からの制御信号に応じて比較器78及び8
0の反転入力端にしきい値レベルを供給する回路
82を含んでいる。比較器78の非反転入力端を
出力端子24に接続し、比較器78及び80の出
力端を抵抗器及びバス32に共通接続する。メモ
リ16及び18の内容を検査するには、パターン
発生器を1ビツト出力モードにし、比較器78に
最適なしきい値を加える。また比較器80のしき
い値は比較器80の出力段トランジスタが常にオ
フ状態になるようにする。よつて出力端子24の
ロジツク状態のみがバス32を介してCPU52
により診断される。メモリ16及び18の出力信
号の合計は8ビツトにもかかわらず、1ケ所のみ
から検査信号を取出すのみで、これらメモリの全
内容を診断できる点に留意されたい。この診断の
際には、所定規則の繰返しパターン、例えば
「1」、「0」の繰返しパターンをメモリに記憶さ
せ、それらの出力が所定規則に従つているか否か
により診断を行なう。また所定パターンをメモリ
16及び18、並びにRAM56に記憶させ、そ
れらの記憶内容を比較してもよい。比較器80の
非反転入力端はカウンタ10等、他の適当な回路
に接続し、その部分の診断を行なうのに利用す
る。
上述の如く本発明によれば、インタリーブ方式
よりも、出力デジタル・パターンを高速にできる
と共に、出力デジタル・パターンのビツト数
(幅)を容易に可変できる。
よりも、出力デジタル・パターンを高速にできる
と共に、出力デジタル・パターンのビツト数
(幅)を容易に可変できる。
本発明の好適な実施例について上述したが、当
業者には本発明の要旨を逸脱することなく種々の
変更が可能なことが理解できよう。例えば、第3
図において、メモリ16,18及びシフト・レジ
スタ22を含むパターン発生部84を複数個設
け、これらを単一のタイミング及び制御回路14
により制御してデジタル・パターンのビツト数を
増やしてもよい。またこの際、各パターン発生部
84のシフト・レジスタ22の上位出力ビツト
(MSB)を次のパターン発生部のシフト・レジス
タの下位入力ビツト(LSB)に接続してもよい。
更に、メモリやシフト・レジスタのビツト数は任
意でよいし、メモリにはRAM等が利用できる。
業者には本発明の要旨を逸脱することなく種々の
変更が可能なことが理解できよう。例えば、第3
図において、メモリ16,18及びシフト・レジ
スタ22を含むパターン発生部84を複数個設
け、これらを単一のタイミング及び制御回路14
により制御してデジタル・パターンのビツト数を
増やしてもよい。またこの際、各パターン発生部
84のシフト・レジスタ22の上位出力ビツト
(MSB)を次のパターン発生部のシフト・レジス
タの下位入力ビツト(LSB)に接続してもよい。
更に、メモリやシフト・レジスタのビツト数は任
意でよいし、メモリにはRAM等が利用できる。
第1図は本発明の第1実施例のブロツク図、第
2図は第1図のブロツク図の動作を説明するため
のタイミング図、第3図は本発明の第2実施例の
ブロツク図である。 14:制御手段、16,18:メモリ、22:
シフト・レジスタ。
2図は第1図のブロツク図の動作を説明するため
のタイミング図、第3図は本発明の第2実施例の
ブロツク図である。 14:制御手段、16,18:メモリ、22:
シフト・レジスタ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 所定のデジタル・パターンを記憶した第1及
び第2メモリと、 該第1及び第2メモリの順次選択した1つから
の複数ビツトの並列デジタル・パターンが供給さ
れるシフト・レジスタと、 該シフト・レジスタのロード動作及びシフト動
作並びに上記第1及び第2メモリの選択動作を制
御する制御手段と を具え、該制御手段は、 上記第1及び第2メモリの1つを順次選択し、
上記シフト・レジスタが上記選択されたメモリか
らの並列デジタル・パターンをロードする動作を
繰返し制御するか、 または、上記第1及び第2メモリの1つを順次
選択し、上記シフト・レジスタが上記選択された
メモリからの並列デジタル・パターンをロード
し、上記シフト・レジスタが該シフト・レジスタ
のビツト数未満の所定ビツト数だけシフトを行な
う動作を繰返し制御し、 上記シフト・レジスタがシフト動作を行わない
か、上記シフト・レジスタがシフト動作を行う際
のシフト動作のビツト数に応じて、上記シフト・
レジスタからのデジタル・パターンの幅のビツト
数を制御することを特徴とするデジタル・パター
ン発生器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58112489A JPS604327A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | デジタル・パタ−ン発生器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58112489A JPS604327A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | デジタル・パタ−ン発生器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS604327A JPS604327A (ja) | 1985-01-10 |
| JPH0225567B2 true JPH0225567B2 (ja) | 1990-06-04 |
Family
ID=14587920
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58112489A Granted JPS604327A (ja) | 1983-06-22 | 1983-06-22 | デジタル・パタ−ン発生器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS604327A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0287070U (ja) * | 1988-12-19 | 1990-07-10 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0238885A (ja) * | 1988-07-28 | 1990-02-08 | Furuno Electric Co Ltd | 振動子アレイの駆動回路 |
| JPH05183400A (ja) * | 1992-01-06 | 1993-07-23 | Oki Electric Ind Co Ltd | 識別回路 |
-
1983
- 1983-06-22 JP JP58112489A patent/JPS604327A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0287070U (ja) * | 1988-12-19 | 1990-07-10 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS604327A (ja) | 1985-01-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5847590A (en) | Delay device and delay time measurement device using a ring oscillator | |
| JP2001184899A (ja) | テストインターフェイス回路およびこれを用いた半導体集積回路装置 | |
| JPS61223675A (ja) | デジタル集積回路 | |
| JP2005004954A (ja) | レイテンシ回路を備える半導体メモリ装置及びそのデータ出力制御方法 | |
| US7013404B2 (en) | Semiconductor integrated circuit characterized by timing adjustment of clock switching control | |
| US5809039A (en) | Semiconductor integrated circuit device with diagnosis function | |
| US6456560B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device with test interface circuit for performing test on embedded memory from outside | |
| JP2004185691A (ja) | 半導体記憶装置のテスト方法、半導体記憶装置のテスト回路、半導体記憶装置及び半導体装置 | |
| JPH0225567B2 (ja) | ||
| KR20010088277A (ko) | 파형발생장치 | |
| JP4136451B2 (ja) | Bist回路 | |
| US6223318B1 (en) | IC tester having region in which various test conditions are stored | |
| JPWO2004055532A1 (ja) | タイミング発生回路とこのタイミング発生回路を備えた半導体試験装置 | |
| JPS59191657A (ja) | デジタル・パタ−ン発生器 | |
| JPH1027497A (ja) | メモリ試験装置 | |
| JPH1019996A (ja) | レート発生回路 | |
| JP2002108642A (ja) | 半導体集積回路およびそのテスト方法 | |
| JPH09198193A (ja) | ディジタル/アナログ変換器のインタフェース装置 | |
| JP2568268B2 (ja) | データ列発生回路及びその回路を用いたメモリテスト装置 | |
| JP2532718B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JPH05210485A (ja) | 疑似乱数パタン発生回路 | |
| JP3003328B2 (ja) | クロック信号回路 | |
| JPS63136814A (ja) | デイジタル遅延回路 | |
| US5223832A (en) | Serial data transmission circuit | |
| JP3713052B2 (ja) | テスト・パターン発生装置 |