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JPH0230655B2 - - Google Patents
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JPH0230655B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0230655B2
JPH0230655B2 JP58104941A JP10494183A JPH0230655B2 JP H0230655 B2 JPH0230655 B2 JP H0230655B2 JP 58104941 A JP58104941 A JP 58104941A JP 10494183 A JP10494183 A JP 10494183A JP H0230655 B2 JPH0230655 B2 JP H0230655B2
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JP
Japan
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sensor fiber
optical cable
light
measurement
fiber
Prior art date
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JP58104941A
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Japanese (ja)
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Toshimitsu Musha
Hajime Ito
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Hitachi Ltd
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Aloka Co Ltd
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    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01K11/00Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
    • G01K11/32Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
    • GPHYSICS
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光フアイバ温度測定装置、特に光フア
イバを使用して温度測定を行う装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to optical fiber temperature measuring devices, and more particularly to devices for measuring temperature using optical fibers.

従来技術 被測定個所に配置されたセンサフアイバにレー
ザ光を供給し、前記レーザ光とセンサフアイバか
らの反射光とを混合して干渉光を発生し、干渉光
の干渉縞移動量を検出することにより、被測定個
所の温度を測定する光フアイバ温度測定の原理は
周知である。
Prior Art A method of supplying a laser beam to a sensor fiber placed at a measurement target location, mixing the laser beam with reflected light from the sensor fiber to generate interference light, and detecting the amount of interference fringe movement of the interference light. The principle of optical fiber temperature measurement for measuring the temperature at a location to be measured is well known.

すなわち、光フアイバを通過する光の位相、速
度は、光フアイバの温度変化に従つて変化する。
これは主として光フアイバのコアの屈折率が温度
によつて変化するからである。従つて、所定長さ
の光フアイバを伝搬した光の位相は、温度によつ
て変化することとなる。この光フアイバを伝搬し
た光と伝搬していない参照光とを混合することに
よつて干渉縞が発生し、温度変化に伴つて干渉縞
が移動する。そして、干渉縞の移動量は2個の
光・電気変換検出器によつて検出することがで
き、その移動量から光フアイバが配置された被測
定個所の温度を測定することができる。
That is, the phase and speed of light passing through the optical fiber change as the temperature of the optical fiber changes.
This is primarily because the refractive index of the optical fiber core changes with temperature. Therefore, the phase of light propagated through an optical fiber of a predetermined length changes depending on the temperature. Interference fringes are generated by mixing the light that has propagated through the optical fiber and the reference light that has not propagated, and the interference fringes move as the temperature changes. The amount of movement of the interference fringes can be detected by two photoelectric conversion detectors, and the temperature of the location to be measured where the optical fiber is placed can be measured from the amount of movement.

発明の目的 本発明の目的は、小型で操作性に優れ測定精度
の高い光フアイバ温度測定装置を提供することに
ある。
OBJECTS OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an optical fiber temperature measuring device that is compact, has excellent operability, and has high measurement accuracy.

発明の構成 上記目的を達成するために本発明は、開放端に
反射膜が被覆され被測定部に配置される所定長の
センサフアイバと、レーザ光源から出力される測
定用レーザ光を前記センサフアイバに供給する供
給用光ケーブルと、前記センサフアイバの他端及
び前記供給用光ケーブルの一端が対向して固定さ
れ前記測定用レーザ光を内部に設けられた半透鏡
を通しセンサフアイバに供給すると共に前記測定
用レーザ光とセンサフアイバからの反射光とを前
記半透鏡で混合し干渉光を発生する干渉計部と、
前記干渉光を受光するためにそれぞれ一端が前記
干渉光の干渉縞位相角度にほぼ等しい間隔をもつ
て前記干渉計部に接続され前記干渉光を伝送する
2本の検出用光ケーブルと、前記レーザ光源を内
蔵し前記供給用光ケーブルの他端が接続されレー
ザ光源から出力されるレーザ光を前記供給用光ケ
ーブルに供給しかつ前記検出用光ケーブルの他端
が接続され該検出用ケーブルから伝送された干渉
光を電気変換する2個の検出器とを有する光源・
検出部と、を含み、センサフアイバ近傍で干渉光
を発生させることを特徴とする。
Structure of the Invention In order to achieve the above object, the present invention includes a sensor fiber of a predetermined length, the open end of which is coated with a reflective film and placed in a part to be measured; A supply optical cable, the other end of the sensor fiber, and one end of the supply optical cable are fixed to face each other, and the measurement laser beam is supplied to the sensor fiber through a semi-transparent mirror provided inside, and the measurement an interferometer unit that mixes the laser beam for use with the reflected light from the sensor fiber using the semi-transparent mirror to generate interference light;
two detection optical cables each having one end connected to the interferometer section with an interval approximately equal to an interference fringe phase angle of the interference light to receive the interference light and transmitting the interference light; and the laser light source. The other end of the supply optical cable is connected to supply the laser light output from the laser light source to the supply optical cable, and the other end of the detection optical cable is connected, and the interference light transmitted from the detection cable is connected. A light source with two detectors that electrically convert
A detection unit is characterized in that it generates interference light near the sensor fiber.

実施例 以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説
明する。
Embodiments Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described based on the drawings.

第1図には、本発明に係る光フアイバ温度測定
装置の概略構成が示され、第2図には、第1図で
示される装置のブロツク構成が示されている。
FIG. 1 shows a schematic configuration of an optical fiber temperature measuring device according to the present invention, and FIG. 2 shows a block configuration of the device shown in FIG.

第2図から明らかなように、本実施例装置は、
被測定個所に配置されるセンサ部10、測定用レ
ーザ光102をセンサ部10へ供給しかつ干渉光
106を発生する干渉計部12と、干渉計部12
へレーザ光100を供給しかつ干渉計部12から
の干渉光106を電気的に検出する光源・検出部
14と、干渉計部12と光源・検出部14との間
でレーザ光100及び干渉光106の伝送を行う
ケーブル部16と、光源・検出部14にて検出さ
れた干渉光106に基づいて被測定個所の温度を
演算表示する演算・表示部18と、から構成され
ている。
As is clear from FIG. 2, the device of this embodiment has the following features:
A sensor unit 10 disposed at a location to be measured, an interferometer unit 12 that supplies a measurement laser beam 102 to the sensor unit 10 and generates interference light 106, and an interferometer unit 12.
A light source/detection unit 14 supplies the laser light 100 to the interferometer unit 12 and electrically detects the interference light 106 from the interferometer unit 12; 106, and a calculation/display unit 18 that calculates and displays the temperature of the measured location based on the interference light 106 detected by the light source/detection unit 14.

上記センサ部10は単一モード光フアイバ、定
偏波光フアイバ等のセンサフアイバ20を有し、
該センサフアイバ20は被測定個所に配置されて
いる。センサフアイバ20は所定長から成り、そ
の開放端には反射膜22を被覆してあり、センサ
フアイバ20に供給された測定用レーザ光102
は被測定物の温度に応じた位相速度でセンサフア
イバ20を通過し、反射膜22にて反射し、反射
光104として再びセンサフアイバ20を逆方向
に同一位相速度で通過する。
The sensor section 10 has a sensor fiber 20 such as a single mode optical fiber or a constant polarization optical fiber,
The sensor fiber 20 is placed at the location to be measured. The sensor fiber 20 has a predetermined length, and its open end is coated with a reflective film 22, so that the measuring laser beam 102 supplied to the sensor fiber 20
passes through the sensor fiber 20 at a phase velocity corresponding to the temperature of the object to be measured, is reflected by the reflective film 22, and passes through the sensor fiber 20 again in the opposite direction at the same phase velocity as reflected light 104.

また、前記干渉計部12にはセンサフアイバ2
0の基部が固定され、該干渉計部12は所定の測
定用レーザ光102をセンサフアイバ20に供給
し、また測定用レーザ光102とセンサフアイバ
20からの反射光104とを混合して干渉光10
6を発生するように構成されている。すなわち、
干渉計部12はレーザ用集光レンズ、セルフオツ
クレンズ等のコリメート用レンズ24、集光コリ
メート用レンズ26、集光レンズ28、半透鏡3
0及び反射鏡32,34から構成されている。そ
して、コリメート用レンズ24に供給されたレー
ザ光100の一部は、測定用レーザ光102とし
て半透鏡30を透過して直進し、集光コリメート
用レンズ26を通過してセンサフアイバ20に供
給される。センサフアイバ20から反射光104
は、集光コリメート用レンズ26を通過し、その
一部は半透鏡30にて反射される。また、コリメ
ート用レンズ24に供給されたレーザ光100の
一部は、測定用レーザ光102として半透鏡3
0、反射鏡32にてそれぞれ反射され、その一部
は半透鏡30を透過する。従つて、測定用レーザ
光102とセンサフアイバ20からの反射光10
4とは、半透鏡30の位置で混合され、この結
果、干渉光106が発生する。干渉光106は第
3図で示されるように、その断面形状が明部10
6a及び暗部106b等の干渉縞から成り、この
干渉縞の移動量から基準温度に対する温度変化分
すなわち被測定個所の温度を測定することができ
る。このようにして、半透鏡30にて発生した干
渉光106は、反射鏡34にて反射され、集光レ
ンズ28を通つて、その一部は光ケーブル46,
48に入射する。
Further, the interferometer section 12 includes a sensor fiber 2.
0 is fixed, and the interferometer section 12 supplies a predetermined measurement laser beam 102 to the sensor fiber 20, and also mixes the measurement laser beam 102 and the reflected light 104 from the sensor fiber 20 to produce interference light. 10
6. That is,
The interferometer section 12 includes a collimating lens 24 such as a laser condensing lens or a self-occurring lens, a condensing collimating lens 26, a condensing lens 28, and a semi-transparent mirror 3.
0 and reflecting mirrors 32 and 34. A part of the laser beam 100 supplied to the collimating lens 24 passes through the semi-transparent mirror 30 as a measuring laser beam 102 and travels straight, passes through the condensing collimating lens 26 and is supplied to the sensor fiber 20. Ru. Reflected light 104 from sensor fiber 20
passes through the condensing and collimating lens 26, and a part of it is reflected by the semi-transparent mirror 30. Further, a part of the laser beam 100 supplied to the collimating lens 24 is transmitted to the semi-transparent mirror 3 as a measurement laser beam 102.
0 and are each reflected by the reflecting mirror 32, and a part of it is transmitted through the semi-transparent mirror 30. Therefore, the measurement laser beam 102 and the reflected light 10 from the sensor fiber 20
4 are mixed at the position of the semi-transparent mirror 30, and as a result, interference light 106 is generated. As shown in FIG. 3, the interference light 106 has a cross-sectional shape in the bright area 10.
It consists of interference fringes such as 6a and dark area 106b, and from the amount of movement of these interference fringes, it is possible to measure the temperature change with respect to the reference temperature, that is, the temperature of the measured location. In this way, the interference light 106 generated by the semi-transparent mirror 30 is reflected by the reflecting mirror 34, passes through the condensing lens 28, and part of it passes through the optical cable 46,
48.

更に前記光源・検出部14はHe−Ne等のガス
レーザ、半導体レーザ等のレーザ光源36を有
し、レーザ光源36からのレーザ光100はレー
ザ用集光レンズ、セルフオツクレンズ等の集光レ
ンズ38を通過し、前記干渉計部12へ供給され
る。また光源・検出部14は干渉計部12で発生
した干渉光106の干渉縞移動量を電気的に検出
する2個の検出器40,42を有し、これら検出
器40,42はフオトダイオード又はフオトトラ
ンジスタあるいは光電子増倍管等から構成されて
いる。
Furthermore, the light source/detection unit 14 has a laser light source 36 such as a gas laser such as He-Ne or a semiconductor laser, and the laser light 100 from the laser light source 36 is passed through a condensing lens 38 such as a laser condensing lens or a self-occurring lens. and is supplied to the interferometer section 12. Further, the light source/detection section 14 has two detectors 40 and 42 that electrically detect the amount of interference fringe movement of the interference light 106 generated in the interferometer section 12, and these detectors 40 and 42 are configured using photodiodes or It consists of phototransistors, photomultiplier tubes, etc.

更に前記ケーブル部16はレーザ光源36から
のレーザ光100を干渉計部12へ供給するため
の供給用光ケーブル44を有し、この供給用光ケ
ーブル44には単一モード光フアイバあるいは定
偏波光フアイバ等が使用されている。またケーブ
ル部16は干渉計部12からの干渉光106を検
出器40,42へ供給するための検出用光ケーブ
ル46,48を有し、これらの検出用光ケーブル
46,48には多モード光フアイバ、単一モード
光フアイバあるいは定偏波光フアイバ等が使用さ
れている。そして、これら検出用光ケーブル4
6,48の端面は、干渉光106が入射する。た
とえば、第3図で示されるように、検出用光ケー
ブル46,48の一端はそれぞれ明部106aの
中間位置、明部106aと暗部106bとの境界
位置に配置されている。従つて、干渉計部12に
て発生した干渉光106のうち所定位置にある干
渉光106のみがそれぞれ検出用光ケーブル4
6,48にて伝送され、検出器40,42に供給
される。
Further, the cable section 16 has a supply optical cable 44 for supplying the laser light 100 from the laser light source 36 to the interferometer section 12, and this supply optical cable 44 includes a single mode optical fiber, a polarization constant optical fiber, etc. is used. The cable section 16 also includes detection optical cables 46 and 48 for supplying the interference light 106 from the interferometer section 12 to the detectors 40 and 42, and these detection optical cables 46 and 48 include multimode optical fibers, A single mode optical fiber or a constant polarization optical fiber is used. And these detection optical cables 4
The interference light 106 is incident on the end faces 6 and 48. For example, as shown in FIG. 3, one ends of the detection optical cables 46 and 48 are respectively arranged at an intermediate position of the bright part 106a and at a boundary position between the bright part 106a and the dark part 106b. Therefore, out of the interference light 106 generated in the interferometer section 12, only the interference light 106 at a predetermined position is detected by the detection optical cable 4.
6, 48 and supplied to detectors 40, 42.

たとえば、各検出器40,42の電気的な出力
電圧x、yが、 x=cosθ ………(1) y=sinθ ………(2) となるように配置したものとする。θは干渉縞の
位相である。
For example, assume that the electrical output voltages x and y of the detectors 40 and 42 are arranged as follows: x=cosθ (1) y=sinθ (2). θ is the phase of the interference fringe.

上記(2)式を(1)式で割ると、 y/x=sinθ/cosθ=tanθで表わされ、 θ=tan-1y/xから干渉縞の位相角度θを求める ことができる。 When the above equation (2) is divided by the equation (1), it is expressed as y/x=sin θ/cos θ=tan θ, and θ=tan −1 The phase angle θ of the interference fringe can be determined from y/x.

更に前記演算・表示部18は上述した位相角度
θ及び該位相角度θに基づく被測定個所の温度を
演算し、これを表示するために、次のように構成
されている。すなわち、各検出器40,42にて
検出された干渉光106の明暗検出信号108,
110は、増幅器50を介してデータ処理装置5
2へ供給される。データ処理装置52はA/D変
換器、マイクロコンピユータ等から構成され、前
述した位相角度θの演算を行い、更に該演算結果
から被測定個所の温度の演算を行う。そして、演
算された被測定個所の温度は表示器54にデジタ
ル又はアナログ表示される。
Further, the calculation/display unit 18 is configured as follows in order to calculate the above-mentioned phase angle θ and the temperature of the measured location based on the phase angle θ, and to display this. That is, the brightness detection signal 108 of the interference light 106 detected by each detector 40, 42,
110 is the data processing device 5 via the amplifier 50.
2. The data processing device 52 is composed of an A/D converter, a microcomputer, etc., and calculates the phase angle θ described above, and further calculates the temperature of the measured point from the result of the calculation. Then, the calculated temperature of the measured location is displayed on the display 54 in digital or analog form.

なお前述したケーブル部16における各光ケー
ブル44〜48は、第1図で示されるように束ね
られており、装置の小型化が図られている。
The optical cables 44 to 48 in the cable section 16 described above are bundled as shown in FIG. 1 to reduce the size of the device.

本発明の実施例は以上の構成から成り、以下に
その作用を概略的に説明する。
The embodiment of the present invention has the above-mentioned configuration, and its operation will be schematically explained below.

レーザ光源36にて発生されたレーザ光100
は集光レンズ38を通過した後、供給用光ケーブ
ル44にて伝送され、干渉計部12へ供給され
る。干渉計部12へ供給されたレーザ光100は
コリメート用レンズ24を通過し、その一部は測
定用レーザ光102として半透鏡30を透過し、
集光コリメート用レンズ26を通過してセンサフ
アイバ20へ供給される。そして、測定用レーザ
光102はセンサフアイバ20の反射膜22にて
反射され、反射光104としてセンサフアイバ2
0を逆方向へ通過し、集光コリメート用レンズ2
6を通過してその一部が半透鏡30にて反射され
る。また干渉計部12へ供給されたレーザ光10
0はコリメートレンズ用24を通過し、その一部
は測定用レーザ光102として半透鏡30、反射
鏡32にてそれぞれ反射され、更にその一部は半
透鏡30を透過する。従つて、測定用レーザ光1
02とセンサフアイバ20からの反射光104と
は、半透鏡30の位置にて混合され、干渉光10
6が発生される。干渉光106は反射鏡34にて
反射され、集光レンズ28を通過する。この干渉
光106の一部は、第3図で示されるように、例
えば、互いに干渉縞の位相角度θ=π/2だけ離れ た位置に配置された検出用光ケーブル46,48
の各一端から入射され、これら各光ケーブル4
6,48により検出器40,42へ供給される。
Laser light 100 generated by the laser light source 36
After passing through the condensing lens 38 , the light is transmitted through the supply optical cable 44 and supplied to the interferometer section 12 . The laser beam 100 supplied to the interferometer section 12 passes through the collimating lens 24, and a part of it passes through the semi-transparent mirror 30 as the measurement laser beam 102.
The light passes through a condensing collimating lens 26 and is supplied to the sensor fiber 20. Then, the measurement laser beam 102 is reflected by the reflective film 22 of the sensor fiber 20, and the sensor fiber 2 is reflected as reflected light 104.
0 in the opposite direction, condensing and collimating lens 2
6 and a part of it is reflected by the semi-transparent mirror 30. Also, the laser beam 10 supplied to the interferometer section 12
0 passes through the collimating lens 24, a portion of which is reflected by the semi-transparent mirror 30 and the reflecting mirror 32 as the measurement laser beam 102, and further, a portion thereof passes through the semi-transparent mirror 30. Therefore, the measurement laser beam 1
02 and the reflected light 104 from the sensor fiber 20 are mixed at the position of the semi-transparent mirror 30, and the interference light 10
6 is generated. The interference light 106 is reflected by the reflecting mirror 34 and passes through the condenser lens 28. As shown in FIG. 3, a part of this interference light 106 is transmitted to, for example, detection optical cables 46 and 48 disposed at positions separated from each other by a phase angle θ=π/2 of interference fringes.
is input from each end of each of these optical cables 4.
6, 48 to the detectors 40, 42.

各検出器40,42へ供給された干渉光106
は、各光ケーブル44,46の配置位置における
干渉光106の明部106a、暗部106bに応
じた明暗検出信号108,110として出力さ
れ、増幅器50を介してデータ処理装置52へ供
給される。データ処理装置52では明暗検出信号
108,110に基づいて位相角度θの演算を行
い、更に該演算結果から被測定個所の温度の演算
を行う。そして、演算された被測定個所の温度は
表示器54にデジタル又はアナログ表示される。
Interference light 106 supplied to each detector 40, 42
are output as bright/dark detection signals 108, 110 corresponding to the bright portion 106a and dark portion 106b of the interference light 106 at the arrangement position of each optical cable 44, 46, and are supplied to the data processing device 52 via the amplifier 50. The data processing device 52 calculates the phase angle θ based on the light/dark detection signals 108 and 110, and further calculates the temperature of the measurement point based on the calculation result. Then, the calculated temperature of the measured location is displayed on the display 54 in digital or analog form.

このように本実施例においては、装置が各機能
ごとに5個のブロツクから構成されているので、
装置の小型化を図ることができる。
As described above, in this embodiment, since the device is composed of five blocks for each function,
The device can be made smaller.

また本実施例においては、更に干渉計部12に
電気部品が含まれていないので、装置が更に小型
化し、この結果、狭い被測定個所へも容易に配置
することができ、干渉計部12がセンサ部10に
隣接して配置されているために、センサ部以外の
温度変動の影響が極小化されている。またセンサ
部10の移動操作などを容易に行うことができ、
更に干渉計部12が電界、磁界の影響を受けるこ
とがなく、これらに基づく測定誤差が生じること
がない。
Furthermore, in this embodiment, since the interferometer section 12 does not include any electrical parts, the device is further miniaturized, and as a result, it can be easily placed even in a narrow measurement area, and the interferometer section 12 is Since it is disposed adjacent to the sensor section 10, the influence of temperature fluctuations on areas other than the sensor section is minimized. In addition, it is possible to easily perform operations such as moving the sensor unit 10.
Furthermore, the interferometer section 12 is not affected by electric fields or magnetic fields, and measurement errors based on these do not occur.

更に本実施例においては、ケーブル部16の各
光ケーブル44〜48がレーザ光100又は干渉
光106の伝送にのみ使用され、センサフアイバ
20と直接に接続されていないので、各光ケーブ
ル44〜48が温度、機械的ストレス等の影響を
受けた場合であつても、これらに基づく測定誤差
が生じることがない。
Furthermore, in this embodiment, each of the optical cables 44 to 48 of the cable section 16 is used only for transmitting the laser beam 100 or the interference light 106, and is not directly connected to the sensor fiber 20, so that each of the optical cables 44 to 48 has a high temperature. , even when influenced by mechanical stress, etc., measurement errors based on these do not occur.

発明の効果 以上説明したように、本発明によれば、装置が
各機能ごとにセンサフアイバ、干渉計部、測定用
光ケーブル、検出用光ケーブルを含む構成から成
るので、装置の小型化を図ることができる。小型
化は同時に機械的安定性を増加するので、本装置
のような高感度温度計測には特に不可欠な条件で
ある。
Effects of the Invention As explained above, according to the present invention, since the device is configured to include a sensor fiber, an interferometer section, a measurement optical cable, and a detection optical cable for each function, it is possible to downsize the device. can. Miniaturization also increases mechanical stability, which is especially essential for high-sensitivity temperature measurements such as the present device.

また本発明によれば、干渉計部は測定用レーザ
光の供給及び干渉光の発生を行う機能を有する構
成から成り、電気部品が含まれていないので、装
置が更に小型化され、この結果、狭い被測定個所
への配置が容易となり、またセンサフアイバの移
動操作等を容易に行うことができ、更に電界、磁
界の影響を受けることがないので、これらに基づ
く測定誤差が生じることがない。
Further, according to the present invention, the interferometer section has a structure that has the functions of supplying a laser beam for measurement and generating interference light, and does not include any electrical parts, so that the device can be further miniaturized, and as a result, The sensor fiber can be easily placed in a narrow measurement area, the sensor fiber can be easily moved, and it is not affected by electric or magnetic fields, so measurement errors due to these do not occur.

更に本発明によれば、供給用光ケーブル及び検
出用光ケーブルはそれぞれレーザ光、干渉光の伝
送にのみ使用され、センサフアイバからの反射光
に直接伝送するわけではないので、これら供給用
光ケーブル及び検出用光ケーブルが温度、機械的
ストレス等の外部の影響を受けた場合であつても
測定誤差が生じることがない。
Furthermore, according to the present invention, the supply optical cable and the detection optical cable are used only for transmitting laser light and interference light, respectively, and do not directly transmit reflected light from the sensor fiber. Even if the optical cable is affected by external factors such as temperature and mechanical stress, no measurement errors occur.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係る光フアイバ温度測定装置
の好適な実施例を示す構成図、第2図は第1図で
示される装置の詳細なブロツク構成図、第3図は
測定用光ケーブルの配置位置を示す説明図であ
る。 10……センサ部、12……干渉計部、14…
…光源・検出部、16……ケーブル部、18……
演算・表示部、20……センサフアイバ、36…
…レーザ光源、40,42……検出器、44……
測定用光ケーブル、46,48……検出用光ケー
ブル、100……レーザ光、102……測定用レ
ーザ光、104……反射光、106……干渉光。
Fig. 1 is a block diagram showing a preferred embodiment of the optical fiber temperature measuring device according to the present invention, Fig. 2 is a detailed block diagram of the device shown in Fig. 1, and Fig. 3 is the arrangement of the optical fiber cable for measurement. It is an explanatory view showing a position. 10...sensor section, 12...interferometer section, 14...
...Light source/detection section, 16...Cable section, 18...
Calculation/display unit, 20...Sensor fiber, 36...
...Laser light source, 40, 42...Detector, 44...
Measurement optical cable, 46, 48...Detection optical cable, 100...Laser light, 102...Measurement laser light, 104...Reflected light, 106...Interference light.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 開放端に反射膜が被覆され被測定部に配置さ
れる所定長のセンサフアイバと、 レーザ光源から出力される測定用レーザ光を前
記センサフアイバに供給する供給用光ケーブル
と、 前記センサフアイバの他端及び前記供給用光ケ
ーブルの一端が対向して固定され前記測定用レー
ザ光を内部に設けられた半透鏡を通しセンサフア
イバに供給すると共に前記測定用レーザ光とセン
サフアイバからの反射光とを前記半透鏡で混合し
干渉光を発生する干渉計部と、 前記干渉光を受光するためにそれぞれ一端が前
記干渉光の干渉縞位相角度にほぼ等しい間隔をも
つて前記干渉計部に接続され前記干渉光を伝送す
る2本の検出用光ケーブルと、 前記レーザ光源を内蔵し前記供給用光ケーブル
の他端が接続されレーザ光源から出力されるレー
ザ光を前記供給用光ケーブルに供給しかつ前記検
出用光ケーブルの他端が接続され該検出用ケーブ
ルから伝送された干渉光を電気変換する2個の検
出器とを有する光源・検出部と、 を含み、センサフアイバ近傍で干渉光を発生させ
ることを特徴とする光フアイバ温度測定装置。
[Scope of Claims] 1. A sensor fiber of a predetermined length, the open end of which is coated with a reflective film and placed in a measurement target part; and a supply optical cable that supplies measurement laser light output from a laser light source to the sensor fiber. , the other end of the sensor fiber and one end of the supply optical cable are fixed to face each other, and the measurement laser beam is supplied to the sensor fiber through a semi-transparent mirror provided inside, and the measurement laser beam and the sensor fiber are connected to each other. an interferometer unit that mixes reflected light from the semi-transparent mirror to generate interference light; two detection optical cables connected to the part and transmitting the interference light, and the other end of the supply optical cable having a built-in laser light source connected to the supply optical cable supplying the laser light output from the laser light source to the supply optical cable. and a light source/detection unit having two detectors to which the other end of the detection optical cable is connected and which electrically converts the interference light transmitted from the detection cable, and generates interference light near the sensor fiber. An optical fiber temperature measuring device characterized by:
JP58104941A 1983-06-14 1983-06-14 Optical fiber temperature measuring device Granted JPS59230130A (en)

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JPS59230130A JPS59230130A (en) 1984-12-24
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS56135135A (en) * 1980-03-26 1981-10-22 Toshimitsu Musha Temperature detection device
JPS586431A (en) * 1981-07-04 1983-01-14 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Temperature measuring method using optical fiber

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JPS59230130A (en) 1984-12-24

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