JPH0233095B2 - - Google Patents
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- JPH0233095B2 JPH0233095B2 JP56043159A JP4315981A JPH0233095B2 JP H0233095 B2 JPH0233095 B2 JP H0233095B2 JP 56043159 A JP56043159 A JP 56043159A JP 4315981 A JP4315981 A JP 4315981A JP H0233095 B2 JPH0233095 B2 JP H0233095B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grain
- transmittance
- grains
- wavelength
- defective
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
- G01N33/10—Starch-containing substances, e.g. dough
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Description
本発明は精米の粒質を判別する方法に関し、特
に精米の粒質を光学的に測定し判別する方法に関
する。 精米は農産物検査法により、品位基準が設けら
れており、これに従い等級づけが行なわれてい
る。等級づけを行う為の品位項目のうち、粉状質
粒、着色粒の２項目の混入割合（混入率）の上限
が定められている。 精米中の整粒、粉状質粒、着色粒の判別にあた
つて、光線を照射し、透過率を測定して、その透
過率から判別することが提案されている。例え
ば、特開昭54−78191号公報、特開昭54−78190号
公報などに記載の方法などである。しかしながら
照射する光線の波長特性にまで言及してこれらの
判別を具体的に正確に行う方法はいまだ提案され
ていない。 本発明は光線透過率の測定にもとづき、精米中
の整粒、粉状質粒、着色粒の判別を正確に具体的
に行う方法を提案するものである。 本発明によれば、所定量の精米を、一粒づつ、
400nmから850nmの波長領域の第１波長λ1と第２
波長λ2（λ1≠λ2）の光線を照射し、精米の一粒の
透過率、第１波長λ1に対して第１透過率T1、第
２波長λ2に対し透過率T2を測定し、第１と第２
の透過率T1，T2と、これら２つの透過率の相関
関係から該精米の一粒の粒質判別し、精米の粒質
判別を行う方法を提案するものである。 物質に光を照射した場合、入射光量I0、その物
質を透過する透過光量Itとすると透過率ＴはＴ＝
It／I0でもとめられる。 本願発明者は、精米中の整粒、粉状質粒、着色
粒が、照射光線の波長λとともに、それぞれの透
過率Ｔを固有に特性変化させることに着目し、こ
の特性変化により整粒、粉状質粒、着色粒を判別
することを案出した。 特にこの特性変化は光の波長λが λ＞400nm の領域で、整粒、粉状質粒、着色粒についてそれ
ぞれ著しく異なることに着目し、この光波長領域
の光線を精米の一粒づつに照射して光透過率の特
性変化より、精米の粒質判別することを提案する
ものである。 第１図は、ほぼ400nmから850nmの光波長λに
対して、整粒、粉状質粒、着色粒の光透過率Ｔの
特性を示すものである。第１図より明なごとく整
粒、着色粒、粉状質粒などを含む不良粒とでは明
確に透過率が波長領域400nmから850nmの間でそ
の透過率が著しく異なることが理解される。しか
しながら不良粒である粉状質粒と着色粒の透過率
の値は上記波長領域400nmから850nmの間では著
るしい差がない。しかしながらこの波長領域で特
性曲線の勾配が異なることは明白である。以上に
鑑み、整粒と不良粒の区別は、透過率の値から判
別し、不良粒中の粉状質粒と着色粒とは透過率の
勾配の相違により判別しうることが判る。 例えば第１波長が、λ1＝800nm、第２波長が、
λ2＝600nmである各特性曲線上の値、すなわち透
過率T1，T2を求め、かつその透過率差ΔT ΔT＝T1−T2 を求め、波長λ1＝800nmの特性曲線から透過率
T1に対して、透過率差ΔTがどのように分布して
いるかを第２図に図示する。第２図より粉状質粒
と着色粒とは透過率差ΔTが ΔT＝ΔT′t （ΔT′tは、閾値透過率差であり、第１表参照） で上下に分かれて分布していることが理解でき
る。（具体的にはΔT′t＝0.005）。又、粉状質粒や
着色粒からなる不良粒と整粒は透過率Ｔが Ｔ＝Tt （Ttは、閾値透過率であり、第１表参照） で左右に分かれて分布していることも具体的には
判る。ただし、着色粒は透過率Ｔが整粒のそれと
ほぼ等しく、透過率差ΔTのみ異なるものが、第
２図の点線で表示しているごとくすることが実験
から発見されている。しかしながらこのような透
過率と透過率差を示すものは非常にわずかであ
る。 第２図から整粒、粉状質粒、着色粒を区別する
条件を検討すると、 (イ) 整粒は区域Ａにあり Ｔ＞Tt ΔT＞ΔTt (ロ) 着色粒は区域Ａ，Ｂ以外の区域にあり、すな
わち Ｔ＜TtでΔT＞ΔT′t Ｔ＞TtでΔTt＞ΔT＞ΔT′t (ハ) 粉状質粒は区域Ｂにあり Ｔ＜Tt ΔT＜ΔT′ となる。 以上を区域Ａ，Ｂの論理式で表示すれば 整粒：Ａ、 着色粒：・＝＋ 粉状質：Ｂ、 である。 以上の条件から論理判断で精米の一粒の質粒判
別が可能なことが理解される。しかしながら、前
述したように着色粒が第２図の点線で示すように
分布することは非常に少なく無視できると考えら
れるから、実際には着色粒は Ｔ＜Tt ΔT＞ΔT′t の条件で判断してもさしつかえない。そこで精米
の一粒に対し、その透過率Ｔが Ｔ＞Tt であれば、整粒と判断し、 Ｔ＜Tt であれば不良粒と判断し、引き続いて透過率差
ΔTを吟味し ΔT＞ΔT′ であれば着色粒と判断し ΔT＜ΔT′ であれば粉状質粒と判断して、判別することが可
能である。 以下第３図に示す実施例を参照して本発明を具
体的に詳述する。 第３図は、本発明の概略ダイアグラム図を示す
ものであり、精米一粒１は遮光性の移送板（以下
「遮光板」と称す）２の開口３に保持され矢印方
向に移動し、発光素子４，６より波長λ2，λ1の光
線を照射される。受光素子５，７は精米一粒１を
通過した光を受光する。透過率は発光素子４，６
の光線の量と受光素子５，７の受光量の比として
計算されるが、発光素子４，６の光線の量を所定
の一定値としておけば、受光素子５，７だ受光す
る量はそのまま透過率に比例する値となる。受光
量は受光素子５，７で光電変換されて、増幅器
８，１２で増幅され、有効信号判別器９，１３で
有効信号であるか判別される。有効信号であれば
Ａ−Ｄ変換器１０，１４でアナログ量からデジタ
ル量に変換され、バツフアレジスタ１１，１５に
保持される。 計算機１６はバツフアレジスタ１１，１５の内
容を入力して精米の一粒の質粒判別ならびに所定
量の精米中の整粒、不良粒、不良粒中の粉状質粒
と着色粒の混入率を計算し、出力装置１７でその
値を出力する。 以上の計算機１６の動作を第４図のフローチヤ
ートで示す。第４図において変数は下記表の通
りである。測定開始にあり、ステツプS1で、精米
の粒数Ｎ、整流数No、不良粒数Na、粉状質粒数
Np、着色粒数Nc、をゼロにしておく、ステツプ
S2でバツフアレジスタ１１にある透過率T1（λ1＝
800nmの光線における透過率）を読んで、ステツ
プS3でT1がしきい値透過率Ttより大きいか小さ
いか比較する。 T1＞Tt であれば、整粒と判断してステツプS20にとんで、
整粒数Noに数「１」を加える。そしてステツプ
S9にとんで精米の粒数Ｎにも「１」を加える。ス
テツプS10で精米の粒数Ｎが所定数定粒数Nnax以
下であるか否か判断し、所
に精米の粒質を光学的に測定し判別する方法に関
する。 精米は農産物検査法により、品位基準が設けら
れており、これに従い等級づけが行なわれてい
る。等級づけを行う為の品位項目のうち、粉状質
粒、着色粒の２項目の混入割合（混入率）の上限
が定められている。 精米中の整粒、粉状質粒、着色粒の判別にあた
つて、光線を照射し、透過率を測定して、その透
過率から判別することが提案されている。例え
ば、特開昭54−78191号公報、特開昭54−78190号
公報などに記載の方法などである。しかしながら
照射する光線の波長特性にまで言及してこれらの
判別を具体的に正確に行う方法はいまだ提案され
ていない。 本発明は光線透過率の測定にもとづき、精米中
の整粒、粉状質粒、着色粒の判別を正確に具体的
に行う方法を提案するものである。 本発明によれば、所定量の精米を、一粒づつ、
400nmから850nmの波長領域の第１波長λ1と第２
波長λ2（λ1≠λ2）の光線を照射し、精米の一粒の
透過率、第１波長λ1に対して第１透過率T1、第
２波長λ2に対し透過率T2を測定し、第１と第２
の透過率T1，T2と、これら２つの透過率の相関
関係から該精米の一粒の粒質判別し、精米の粒質
判別を行う方法を提案するものである。 物質に光を照射した場合、入射光量I0、その物
質を透過する透過光量Itとすると透過率ＴはＴ＝
It／I0でもとめられる。 本願発明者は、精米中の整粒、粉状質粒、着色
粒が、照射光線の波長λとともに、それぞれの透
過率Ｔを固有に特性変化させることに着目し、こ
の特性変化により整粒、粉状質粒、着色粒を判別
することを案出した。 特にこの特性変化は光の波長λが λ＞400nm の領域で、整粒、粉状質粒、着色粒についてそれ
ぞれ著しく異なることに着目し、この光波長領域
の光線を精米の一粒づつに照射して光透過率の特
性変化より、精米の粒質判別することを提案する
ものである。 第１図は、ほぼ400nmから850nmの光波長λに
対して、整粒、粉状質粒、着色粒の光透過率Ｔの
特性を示すものである。第１図より明なごとく整
粒、着色粒、粉状質粒などを含む不良粒とでは明
確に透過率が波長領域400nmから850nmの間でそ
の透過率が著しく異なることが理解される。しか
しながら不良粒である粉状質粒と着色粒の透過率
の値は上記波長領域400nmから850nmの間では著
るしい差がない。しかしながらこの波長領域で特
性曲線の勾配が異なることは明白である。以上に
鑑み、整粒と不良粒の区別は、透過率の値から判
別し、不良粒中の粉状質粒と着色粒とは透過率の
勾配の相違により判別しうることが判る。 例えば第１波長が、λ1＝800nm、第２波長が、
λ2＝600nmである各特性曲線上の値、すなわち透
過率T1，T2を求め、かつその透過率差ΔT ΔT＝T1−T2 を求め、波長λ1＝800nmの特性曲線から透過率
T1に対して、透過率差ΔTがどのように分布して
いるかを第２図に図示する。第２図より粉状質粒
と着色粒とは透過率差ΔTが ΔT＝ΔT′t （ΔT′tは、閾値透過率差であり、第１表参照） で上下に分かれて分布していることが理解でき
る。（具体的にはΔT′t＝0.005）。又、粉状質粒や
着色粒からなる不良粒と整粒は透過率Ｔが Ｔ＝Tt （Ttは、閾値透過率であり、第１表参照） で左右に分かれて分布していることも具体的には
判る。ただし、着色粒は透過率Ｔが整粒のそれと
ほぼ等しく、透過率差ΔTのみ異なるものが、第
２図の点線で表示しているごとくすることが実験
から発見されている。しかしながらこのような透
過率と透過率差を示すものは非常にわずかであ
る。 第２図から整粒、粉状質粒、着色粒を区別する
条件を検討すると、 (イ) 整粒は区域Ａにあり Ｔ＞Tt ΔT＞ΔTt (ロ) 着色粒は区域Ａ，Ｂ以外の区域にあり、すな
わち Ｔ＜TtでΔT＞ΔT′t Ｔ＞TtでΔTt＞ΔT＞ΔT′t (ハ) 粉状質粒は区域Ｂにあり Ｔ＜Tt ΔT＜ΔT′ となる。 以上を区域Ａ，Ｂの論理式で表示すれば 整粒：Ａ、 着色粒：・＝＋ 粉状質：Ｂ、 である。 以上の条件から論理判断で精米の一粒の質粒判
別が可能なことが理解される。しかしながら、前
述したように着色粒が第２図の点線で示すように
分布することは非常に少なく無視できると考えら
れるから、実際には着色粒は Ｔ＜Tt ΔT＞ΔT′t の条件で判断してもさしつかえない。そこで精米
の一粒に対し、その透過率Ｔが Ｔ＞Tt であれば、整粒と判断し、 Ｔ＜Tt であれば不良粒と判断し、引き続いて透過率差
ΔTを吟味し ΔT＞ΔT′ であれば着色粒と判断し ΔT＜ΔT′ であれば粉状質粒と判断して、判別することが可
能である。 以下第３図に示す実施例を参照して本発明を具
体的に詳述する。 第３図は、本発明の概略ダイアグラム図を示す
ものであり、精米一粒１は遮光性の移送板（以下
「遮光板」と称す）２の開口３に保持され矢印方
向に移動し、発光素子４，６より波長λ2，λ1の光
線を照射される。受光素子５，７は精米一粒１を
通過した光を受光する。透過率は発光素子４，６
の光線の量と受光素子５，７の受光量の比として
計算されるが、発光素子４，６の光線の量を所定
の一定値としておけば、受光素子５，７だ受光す
る量はそのまま透過率に比例する値となる。受光
量は受光素子５，７で光電変換されて、増幅器
８，１２で増幅され、有効信号判別器９，１３で
有効信号であるか判別される。有効信号であれば
Ａ−Ｄ変換器１０，１４でアナログ量からデジタ
ル量に変換され、バツフアレジスタ１１，１５に
保持される。 計算機１６はバツフアレジスタ１１，１５の内
容を入力して精米の一粒の質粒判別ならびに所定
量の精米中の整粒、不良粒、不良粒中の粉状質粒
と着色粒の混入率を計算し、出力装置１７でその
値を出力する。 以上の計算機１６の動作を第４図のフローチヤ
ートで示す。第４図において変数は下記表の通
りである。測定開始にあり、ステツプS1で、精米
の粒数Ｎ、整流数No、不良粒数Na、粉状質粒数
Np、着色粒数Nc、をゼロにしておく、ステツプ
S2でバツフアレジスタ１１にある透過率T1（λ1＝
800nmの光線における透過率）を読んで、ステツ
プS3でT1がしきい値透過率Ttより大きいか小さ
いか比較する。 T1＞Tt であれば、整粒と判断してステツプS20にとんで、
整粒数Noに数「１」を加える。そしてステツプ
S9にとんで精米の粒数Ｎにも「１」を加える。ス
テツプS10で精米の粒数Ｎが所定数定粒数Nnax以
下であるか否か判断し、所
【表】
定測定粒数Nnax以下であれば、ステツプS2にも
どつて次の精米の一粒について操作が繰返えされ
る。ステツプS3で T1≦Tt であればステツプS4で不良粒数Naに数「１」を
加える。さらにステツプS5に進んで、バツフアレ
ジスタ１５の透過率T2（λ2＝600nmの光線におけ
る透過率）を読み込んで、ステツプS6で透過率差
ΔTを計算する。さらにステツプS7に進んで透過
率差ΔTがしきい値透過率差ΔT′tと比較する。透
過率差ΔTが ΔT＞ΔT′t であれば、不良粒のうちの着色粒であると判断
し、ステツプS30にとんで着色粒数Ncに数「１」
を加える。また透過率差ΔTが ΔT≦ΔT′t であれば粉状質粒と判断してステツプS8に進ん
で、粉状質粒数Npに数「１」を加える。ステツ
プS30又はステツプS8の処理後、ステツプS9にす
すんで、精米の粒数Ｎに数「１」を加えて、ステ
ツプS10にすすんで、精米の粒数Ｎが所定測定粒
数Nnax以下であるか判断し、所定数Nnax以下で
あればステツプS2にもどる。精米の粒数Ｎが所定
測定粒数Nnaxであれば、ステツプS11に進んで、
精米中の整粒混入率ｎ、不良粒混入率ａ、粉状質
粒混入率ｐ、着色粒混入率ｃを計算し、ステツプ
S12で結果をラインプリンタ等の出力装置１７で
出力する。 以上の計算機１６の操作は、精米の一粒づつの
測定透過率T1，T2が、一計算サイクルであるス
テツプS20，S30を含めたステツプS2〜S10の処理
ごとに順次バツフアレジスタ１１，１５にたくわ
えられていることが前提となつている。計算機１
６の透過率T1，T2の読込みはこの外にも種々考
えられ、いずれも公知の手段にて行えるものであ
る。精米一粒づつの透過率測定計算機１６の透過
率T1，T2の読み込みが同期している必要がある
ことである。 本発明を実施例の形で説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものでなく特許請求の範囲
に記載される範囲で様々に変更可能である。 例えば上記実施例では２つの光波長λ1，λ2にお
ける透過率差ΔTで判断しているが、光透過率の
比 α＝T2／T1 の関係で判断を行うことも本発明の範囲である。
どつて次の精米の一粒について操作が繰返えされ
る。ステツプS3で T1≦Tt であればステツプS4で不良粒数Naに数「１」を
加える。さらにステツプS5に進んで、バツフアレ
ジスタ１５の透過率T2（λ2＝600nmの光線におけ
る透過率）を読み込んで、ステツプS6で透過率差
ΔTを計算する。さらにステツプS7に進んで透過
率差ΔTがしきい値透過率差ΔT′tと比較する。透
過率差ΔTが ΔT＞ΔT′t であれば、不良粒のうちの着色粒であると判断
し、ステツプS30にとんで着色粒数Ncに数「１」
を加える。また透過率差ΔTが ΔT≦ΔT′t であれば粉状質粒と判断してステツプS8に進ん
で、粉状質粒数Npに数「１」を加える。ステツ
プS30又はステツプS8の処理後、ステツプS9にす
すんで、精米の粒数Ｎに数「１」を加えて、ステ
ツプS10にすすんで、精米の粒数Ｎが所定測定粒
数Nnax以下であるか判断し、所定数Nnax以下で
あればステツプS2にもどる。精米の粒数Ｎが所定
測定粒数Nnaxであれば、ステツプS11に進んで、
精米中の整粒混入率ｎ、不良粒混入率ａ、粉状質
粒混入率ｐ、着色粒混入率ｃを計算し、ステツプ
S12で結果をラインプリンタ等の出力装置１７で
出力する。 以上の計算機１６の操作は、精米の一粒づつの
測定透過率T1，T2が、一計算サイクルであるス
テツプS20，S30を含めたステツプS2〜S10の処理
ごとに順次バツフアレジスタ１１，１５にたくわ
えられていることが前提となつている。計算機１
６の透過率T1，T2の読込みはこの外にも種々考
えられ、いずれも公知の手段にて行えるものであ
る。精米一粒づつの透過率測定計算機１６の透過
率T1，T2の読み込みが同期している必要がある
ことである。 本発明を実施例の形で説明したが、本発明は上
記実施例に限定されるものでなく特許請求の範囲
に記載される範囲で様々に変更可能である。 例えば上記実施例では２つの光波長λ1，λ2にお
ける透過率差ΔTで判断しているが、光透過率の
比 α＝T2／T1 の関係で判断を行うことも本発明の範囲である。
第１図は光波長に対する精米の光透過率の変化
特性を示す図。第２図は光波長800nmの透過率
と、同透過率と、光波長600nmの透過率との透過
率差の関係での分布を示す図。第３図は本発明の
方法を実施する装置の一実施例の概略ダイヤグラ
ム図を示す図。第４図は第３図に示す装置のフロ
ーチヤートを示す図。 １……精米一粒、２……遮光板、３……開口、
４，６……発光素子、５，７……受光素子。
特性を示す図。第２図は光波長800nmの透過率
と、同透過率と、光波長600nmの透過率との透過
率差の関係での分布を示す図。第３図は本発明の
方法を実施する装置の一実施例の概略ダイヤグラ
ム図を示す図。第４図は第３図に示す装置のフロ
ーチヤートを示す図。 １……精米一粒、２……遮光板、３……開口、
４，６……発光素子、５，７……受光素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 精米の一粒づつに光を照射して、整粒と粉状
質粒や着色粒を含む不良粒を粒質判別する方法に
おいて、 (イ) 前記精米一粒づつに400nmから850nmの波長
領域内の第１波長λ1を照射し、該精米粒の第１
透過率T1をそれぞれ測定する段階と、 (ロ) 前記第１透過率T1と所定閾値透過率Ttとを
比較して、該精米一粒が整粒であるか不良粒で
あるか判別する段階と、 (ハ) 前記精米の一粒が不良粒と判別された場合
に、さらに400nmから850nmの波長領域の内の
第２波長λ2（λ1≠λ2）を照射し、第２透過率T2
を測定する段階と、 (ニ) 第１透過率T1と第２透過率T2との透過率差
△Ｔを計算する段階と、 (ホ) 前記透過率差△Ｔを所定閾値透過率差△
Tt′を比較して、該精米の一粒が不良粒の内の
着色粒であるか粉状質粒であるか判定する段階
と、 を有する精米の粒質判別方法。 ２ 特許請求の範囲の第１項に記載の方法におい
て、前記第１波長λ1は、800nmとし、前記第２波
長λ2は、600nmとする方法。 ３ 精米の一粒づつに光を照射して、整粒と粉状
質粒や着色粒を含む不良粒を粒質判別する方法に
おいて、 (イ) 前記精米一粒づつに400nmから850nmの波長
領域内の第１波長λ1を照射し、該精米粒の第１
透過率T1をそれぞれ測定する段階と、 (ロ) 前記透過率T1と所定閾値透過率Ttとを比較
して、該精米の一粒が整粒であるか不良粒であ
るか判別する段階と、 (ハ) 前記精米の一粒が不良粒と判別された場合
に、さらに400nmから850nmの波長領域の内の
第２波長λ2（λ1≠λ2）を照射し、第２透過率T2
を測定する段階と、 (ニ) 第１透過率T1と第２透過率T2との透過率の
比αを計算する段階と、 (ホ) 前記第１透過率T1と前記第２透過率T2との
前記透過率比αを所定閾値透過率比αtと比較し
て、前記種別された精米の不良粒の内の着色粒
であるか粉状質粒であるかを判別する段階と、 を有する精米の粒質判別方法。 ４ 特許請求の範囲第３項に記載の方法におい
て、前記第１波長λ1は、800nmとし、前記第２波
長λ2は、600nmとする方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4315981A JPS57158557A (en) | 1981-03-26 | 1981-03-26 | Discrimination method for grain quality of polished rice |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4315981A JPS57158557A (en) | 1981-03-26 | 1981-03-26 | Discrimination method for grain quality of polished rice |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57158557A JPS57158557A (en) | 1982-09-30 |
| JPH0233095B2 true JPH0233095B2 (ja) | 1990-07-25 |
Family
ID=12656079
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4315981A Granted JPS57158557A (en) | 1981-03-26 | 1981-03-26 | Discrimination method for grain quality of polished rice |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57158557A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4987488B2 (ja) * | 2005-01-24 | 2012-07-25 | 株式会社コスメテクノ | 多光源下の環境を考慮した顔料及び酸化チタンの選択方法並びにその配合物 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6012943U (ja) * | 1983-07-05 | 1985-01-29 | ヤンマー農機株式会社 | 脱穀装置 |
| JPS6128462A (ja) * | 1984-07-18 | 1986-02-08 | ヤンマー農機株式会社 | 脱ふ率制御装置 |
| JPS63191043A (ja) * | 1987-02-03 | 1988-08-08 | Omron Tateisi Electronics Co | 細胞分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6058813B2 (ja) * | 1977-12-02 | 1985-12-21 | オムロン株式会社 | 米粒の不良検出方法 |
| JPS5478191A (en) * | 1977-12-02 | 1979-06-22 | Omron Tateisi Electronics Co | Detecting method of defect of rice grains |
-
1981
- 1981-03-26 JP JP4315981A patent/JPS57158557A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4987488B2 (ja) * | 2005-01-24 | 2012-07-25 | 株式会社コスメテクノ | 多光源下の環境を考慮した顔料及び酸化チタンの選択方法並びにその配合物 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57158557A (en) | 1982-09-30 |
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