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JPH0234019B2 - DENSHISHASHIN KANKOTAI - Google Patents
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JPH0234019B2 - DENSHISHASHIN KANKOTAI - Google Patents

DENSHISHASHIN KANKOTAI

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JPH0234019B2
JPH0234019B2 JP8689383A JP8689383A JPH0234019B2 JP H0234019 B2 JPH0234019 B2 JP H0234019B2 JP 8689383 A JP8689383 A JP 8689383A JP 8689383 A JP8689383 A JP 8689383A JP H0234019 B2 JPH0234019 B2 JP H0234019B2
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Toshiki Yamazaki
Tatsuo Nakanishi
Hiroyuki Nomori
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic

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Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

1 産業上の利用分野 本発明は、特に正帯電で使用するのに好適な電
子写真感光体に関するものである。 2 従来技術 従来、電子写真感光体として、Se、又はSeに
As,Te,Sb等をドープした感光体、ZnOやCdS
を樹脂バインダーに分散させた感光体等が知られ
ている。しかしながらこれらの感光体は、環境汚
染性、熱的安定性、機械的強度の点で問題があ
る。 一方、アモルフアスシリコン(a―si)を母体
として用いた電子写真感光体が近年になつて提案
されている。a―Siは、Si―Siの結合手が切れた
いわゆるダングリングボンドを有しており、この
欠陥に起因してエネルギーギヤツプ内に多くの局
在準位が存在する。このために、熱励起担体のホ
ツピング伝導が生じて暗抵抗が小さく、また光励
起担体が局在準位にトラツプされて光導電性が悪
くなつている。そこで、上記欠陥を水素原子
(H)で補償してSiにHを結合させることによつ
て、ダングリングボンドを埋めることが行われ
る。 このようなアモルフアス水素化シリコン(以
下、a―Si:Hと称する。)の暗所での抵抗率は
108〜109Ω−cmであつて、アモルフアスSeと比較
すれば約1万分の1も低い。従つて、a―Si:H
の単層からなる感光体は表面電位の暗減衰速度が
大きく、初期帯電電位が低いという問題点を有し
ている。しかし他方では、可視及び赤外領域の光
を照射すると抵抗率が大きく減少するため、感光
体の感光層として極めて優れた特性を有してい
る。 そこで、このようなa―Si:Hに電位保持能を
付与するため、ホウ素等をドープすることにより
抵抗率を1012Ω−cmにまで高めることができる
が、ホウ素量等をそのように正確に制御すること
は容易ではない。また、ホウ素等と共に微量の酸
素を導入することにより1013Ω−cm程度の高抵抗
化が可能であるが、これを感光体に用いた場合に
は光感度が低下し、裾切れの悪化や残留電位の発
生という問題が生じる。 また、a―Si:Hを表面とする感光体は、長期
に亘つて大気や湿気に曝されることによる影響、
コロナ放電で生成される化学種の影響等の如き表
面の化学的安定性に関して、これ迄十分な検討が
なされていない。例えば1カ月以上放置したもの
は湿気の影響を受け、受容電位が著しく低下する
ことが分つている。一方、アモルフアス水素化炭
化シリコン(以下、a―SiC:Hと称する。)に
ついて、その製法や存在が“Phil.Mag.Vol.35”
(1978)等に記載されており、その特性として、
耐熱性や表面硬度が高いこと、a―Si:Hと比較
して高い暗所抵抗率(1012〜1013Ω−cm)を有す
ること、炭素量により光学的エネルギーギヤツプ
が1.6〜2.8eVの範囲に亘つて変化すること等が知
られている。但、炭素の含有によりバンドギヤツ
プが拡がるために長波長感度が不良となるという
欠点がある。 こうしたa―SiC:Hとa―Si:Hとを組合せ
た電子写真感光体は例えば特開昭55−127083号公
報において提案されている。これによれば、a―
Si:H層を感光(光導電)層とし、この光導電層
下にa―SiC:H層を電荷輸送層として設けた機
能分離型の2層構造を作成し、上層のa―Si:H
により広い波長域での光感度を得、かつa―Si:
H層とヘテロ接合を形成する下層のa―SiC:H
により帯電電位の向上を図つている。しかしなが
ら、a―Si:H層の暗減衰を充分に防止できず、
帯電電位はなお不充分であつて実用性のあるもの
とはならない上に、表面にa―Si:H層が存在し
ていることにより化学的安定性や機械的強度、耐
熱性等が不良となる。しかも、電荷輸送層につい
てはその炭素原子含有量の検討がなされておら
ず、また各層の厚み等も考慮されていないため
に、電子写真感光体として要求される諸特性を満
足したものとはなつていない。 一方、特開昭57−17952号公報には、a―Si:
Hからなる光導電層上に第1のa―SiC:H層を
表面改質層として形成し、裏面上(支持体電極
側)に第2のa―SiC:H層を電荷輸送層として
形成して、機能分離型の3層構造の感光体として
いる。この公知の感光体に関しては、a―Si:H
層の暗減衰の防止等の効果はあるが、a―SiC:
H層、特に電荷輸送層の炭素原子含有量について
検討がなされていないので、a―Si:H層との接
合状態によつては感度低下を生じ、かつ残留電位
も上昇し、多数枚複写に耐える耐久性を有しては
いない。 3 発明の目的 本発明者は、上記した如き従来技術の問題点に
鋭意検討を加え、上記の3層構造の如き機能分離
型感光体の特長を有する新規な構成の感光体を案
出し、特にその電荷輸送層の炭素原子含有量と電
荷輸送層及び電荷ブロツキング層の各不純物濃度
が感光体の特性を大きく左右することをつき止
め、適切な範囲に炭素原子及び不純物含有量を設
定することによつて特に正帯電時での光感度、残
留電位、電位保持能、耐久性等にすべて優れた感
光体を得ることに成功したものである。 4 発明の構成 即ち、本発明は、基体上に、ジボランとモノシ
ランとの流量比を〔B2H6〕/〔SiH4〕=200〜
2000ppmとする条件下でのグロー放電分解によつ
てP型に形成され、炭素原子含有量が10〜
30atomic%であり、水素原子含有量が10〜
30atomic%であり、厚みが400Å〜1μmのアモル
フアス水素化及び/又はフツ素化炭化シリコンか
らなる電荷ブロツキング層と、 ジボランとモノシランとの流量比を
〔B2H6〕/〔SiH4〕=5〜100ppmとする条件下
でのグロー放電分解によつて形成され、炭素原子
含有量が10〜30atomic%であり、水素原子含有
量が10〜30atomic%であり、厚みが10〜30μmの
アモルフアス水素化及び/又はフツ素化炭化シリ
コンからなる電荷輸送層と、 水素原子含有量が10〜30atomic%であり、厚
みが2500Å〜5μmのアモルフアス水素化及び/
又はフツ素化シリコンからなる電荷発生層と、 炭素原子含有量が10〜70atomic%であり、水
素原子含有量が10〜30atomic%であり、厚みが
400〜5000Åのアモルフアス水素化及び/又はフ
ツ素化炭化シリコンからなる表面改質層と を順次積層したことを特徴とする電子写真感光体
に係るものである。 5 実施例 以下、本発明による感光体を詳細に例示する
が、まず、本発明に到達するに至つた経過を説明
する。 第1図に示す感光体は、導電性支持基板1上に
a―SiC:H層(電荷輸送層)2、a―Si:H層
(光導電層)3、a―SiC:H層(表面改質層)
4が順次積層せしめられたものからなつている。
a―SiC:H層2は主として電位保持、電荷輸送
及び基板1に対する接着性向上の各機能を有し、
その炭素原子含有量は10〜30atomic%(SiとC
の合計総原子数に対する割合)に設定されること
が重要であり、また10μm〜30μmの厚みに形成
されるのがよい。光導電層3は光照射に応じて電
荷担体(キヤリア)を発生させるものであつて、
その厚みは2500Å〜5μmであるのが望ましい。
更に、a―SiC:H層4はこの感光体の表面電位
特性の改善、長期に亘る電位特性の保持、耐環境
性の維持(湿度や雰囲気、コロナ放電で生成され
る化学種の影響防止)、表面硬度が高いことによ
る耐刷性の向上、感光体使用時の耐熱性の向上、
熱転写性(特に粘着転写性)の向上等の機能を有
し、いわば表面改質層として働くものである。そ
して、このa―SiC:H層4の厚みtは400Å〜
5000Å、特に400Å≦t<2000Åと従来のものよ
りずつと薄くすることが重要である。 このように感光体を構成することによつて、従
来のSe感光体と比較して薄い膜厚で高い電位を
保持し、可視領域及び赤外領域の光に対して優れ
た感度を示し、耐熱性、耐刷性が良く、かつ安定
した対環境性を有するa―Si系感光体(例えば電
子写真用)を提供することができるのである。 しかも注目すべきことは、電荷輸送層の炭素原
子含有量を10〜30atomic%と特定範囲に設定す
ることによつて、感光体に要求される諸特性を充
二分に具備したものとなつていることである。こ
れを以下に詳細に説明する。 まず、a―SiC:Hは一般に、第2図に示す如
く、炭素原子含有量が増加するに伴なつてその光
学的エネルギーギヤツプ(Eg,opt)が増大する
ことが確認されている。このEgはバンドギヤツ
プに相当するものであつて、炭素原子含有量を増
加させればそれだけ、a―Si:HのEg(約
1.71eV)との差が大きくなることが分る。 一方、炭素原子含有量は、第3図に示す如くa
―SiC:Hの比抵抗(ρD:暗所抵抗率、ρG:緑色
光照射時の抵抗率)を左右し、炭素含有量(即ち
Eg)を増やせばある範囲以上では光感度(ρD
ρG)が低下し、第4図の如くになる。照射する光
の波長を変化させた場合、第5図の如くに、炭素
含有量に応じてa―SiC:Hの光感度が変化す
る。 第6図には、第1図で述べた層構成の感光体の
エネルギーバンドが示されている。このエネルギ
ーバンド図において、上述した如く電荷輸送層2
の炭素原子含有量を10〜30atomic%(図示の例
では15atomic%:Eg=2.1eV)に設定している
ので、電荷輸送層2自体のEgは適切な大きさに
なつていると共に、a―Si:H層3のEg(約
1.71eV)との界面は特に電子に対し実質的に障
壁を形成しないバンドキヤツプを形成することに
なる。即ち、この感光体の表面を負帯電させて動
作させる場合、基体1側から〇印で示すホールが
一点鎖線で示す如くに注入されようとするが、こ
のホールはa―SiC:H層2のもつバレンスバン
ドEVのエネルギー障壁を乗り越えることができ
ず、これによつて感光体表面の負電荷が充分に保
持され、暗減衰が減少し、電位保持能が向上す
る。しかも、光照射時に光導電層3中で発生した
キヤリア(〇印で示すホール、●印で示す電子)
のうち、電子の方はコンダクシヨンバンドEcが
層2と3の間で殆んど障壁がない(即ち、エネル
ギーレベルのマツチングが良好である)ためにa
―SiC:H層2を介して一点鎖線で示すように基
体1側へ容易に移動でき、またホールは薄い表面
層4を介して容易に表面側へ移動して表面負電荷
を選択的に中和せしめて静電潜像を効率良く形成
する。従つて、この感光体は、上記の電位保持能
を加えて光感度も良好である。 こうした顕著な作用効果を得るには、特に電荷
輸送層2の炭素原子含有量を10〜30atomic%に
特定しなければならないことが明らかにされた。
即ち、炭素原子含有量が10atomic%未満では、
a―SiC:H層2の比抵抗が電位保持能に必要な
1012Ω−cmを下廻る(第3図参照)ために特に帯
電電位が不充分となり、不適当である。また、炭
素原子含有量が30atomic%を越えると、比抵抗
がやはり低下すると同時に、炭素原子が多すぎて
a―SiC:H層中での欠陥が増えてキヤリア輸送
能自体が不良となつてしまう。 また、第1図の感光体は、光導電層3中には周
期表第A族等の不純物を何らドーピングしてい
ないことも重要である。つまり、従来技術の如く
にa―Si:H層に不純物をドーピングしてその高
抵抗化(ρD=1011〜1012Ω−cm)を図つた場合、
不純物ドーピングによつて電子のキヤリアレンジ
(μτ)e、即ち(モビリテイ×ライフタイム)が
低下し、これによつて光減衰曲線が裾を引き、感
度低下や画質低下を生じてしまう。第7図は、光
導電層3に不純物をドーピングしない上記感光体
の光減衰特性を示すが、光照射時の電位低下が急
激であつて感度良好であるのに対し、光導電層3
に不純物をドーピングした場合(後記のグロー放
電法において例えば〔B2H6〕/〔SiH4〕=
20ppmとしたとき)、光照射時に減衰曲線が裾を
引いてしまうことが分つた。 本発明者は、第1図に示した如き3層構造の機
能分離型の感光体は上記した如き顕著な利点を有
しているものの、次に述べるような問題点を有し
ていることをつき止めた。 即ち、第1図の感光体は、第6図のエネルギー
バンド図及び上記の説明から理解されるように負
帯電用の感光体であつて、正帯電用としては帯電
能が低く、暗減衰が大きくなつてしまう。つま
り、第6図から明らかなように、例えば電荷輸送
層2の炭素原子含有量が15atomic%、Eg,optが
2.06eVである感光体の表面を正帯電させて使用
する場合、基板1側から電子が電荷輸送層2の
Ecを容易に乗り越えて注入されてしまい、表面
の正電荷を中和して表面電位を減衰させ易い。し
かも、光照射時に光導電層3中で発生したキヤリ
アのうち、ホールは両層3―2間のEVのエネル
ギーギヤツプ又はエネルギー障壁(△E)によつ
て光導電層3から電荷輸送層2へ移動するのが困
難となる(a―SiのEg,optは1.71eV、a―SiC
のEg,optは2.06eV)。こうしたことから、上記
感光体は正帯電時の帯電能が悪くて暗減衰が多
く、かつ光感度も乏しいために、第9図の如き減
衰曲線しか得られず、正帯電用としては使用不適
である。 そこで、第10図に示す如く、第1図の感光体
において、基板1からの電子の注入を阻止すべ
く、電荷輸送層2と基板1との間にボロンドープ
ドP型a―SiC:H層5を電荷ブロツキング層と
して設けることが考えられた。これによつて、第
11図に示す如く、基板1からの電子の注入を阻
止して感光体表面の正電荷を保持すること(即ち
暗減衰を少なくすること)は可能となるが、上記
したと同様のエネルギー障壁(△E)によつて光
感度が悪く、第12図に示す如く光照射時に表面
電位の裾引きが生じてしまう。 本発明者は、正帯電時に生じる上記問題点を鋭
意検討した結果、電荷ブロツキング層5を設けて
キヤリアの注入を阻止するだけでは不適当であ
り、これに加えて、光導電層3中に光照射時に生
じるホールを効率良く電荷輸送層2側へ移動させ
る効果的な手段を講じることが必要であるとの認
識に到達した。 こうした手段としては、第2図に示したデータ
に基き電荷輸送層2を構成するa―SiC:Hの炭
素含有量を減らして両層3―2間の△Eを減少さ
せることも一案であるが、このためには炭素原子
含有量が10atomic%未満と著しく少なくするこ
とが必要であるから、a―SiC:H層2が低抵抗
化して感光体の帯電電位を大幅に低下させてしま
う。 本発明者は、両層3―2間のEVのレベルマツ
チングをとるために、a―SiC:H層2の炭素原
子含有量は10〜30atomic%に保持して帯電特性
及び輸送能を良好に保持しながら、a―SiC:H
層2中に周期表第A族元素を比較的少量ドーピ
ングすることによつて、上記した問題点を充分に
解消できることを見出し、本発明に到達したので
ある。 即ち、本発明に基く感光体は、基本的には第1
0図に示した層構成からなつてはいるが、a―
SiC:H層2に周期表第A族元素(例えばボロ
ン)を比較的少量ドープする一方、電荷ブロツキ
ング用のa―SiC:H層5には周期表第A族元
素(例えばボロン)を比較的多量にドープし、か
つa―SiC:H層2の炭素原子含有量は10〜
30atomic%に保持することを特徴とするもので
ある。 この結果、第13図に示す如く、a―SiC:H
層2はボロンドーピングによつて光導電層3との
EVに関するエネルギーギヤツプが狭まり、両層
間のエネルギーレベルのマツチングを充分にとる
ことができるのである。これによつて、光照射時
に光導電層3中に発生したホールを電荷輸送層2
中へスムーズに注入することが可能となる。加え
て、電荷ブロツキング層5の存在によつて基板1
からの電子の注入も効果的に阻止することができ
る。 こうして、第14図に示す如く、正帯電使用に
とつて充分な減衰特性を示す感光体をはじめて得
ることが可能となつたのである。即ち、この感光
体では、光感度が上昇し、残留電位が減少すると
共に、光減衰曲線の裾引きがなくなり、かつ帯電
電位を高く保持できる。 なお、上記のa―SiC:H層2の炭素原子含有
量は10〜30atomic%(例えば15atomic%)に設
定すべきであるが、これは上述した理由(即ち帯
電電位の保持、輸送能の向上)に加え、正帯電時
に特有な理由に基くものである。つまり、仮に炭
素含有量を30atomic%を越えて多量にすると、
それによつてエネルギーギヤツプが拡大され、
EVに関するエネルギーレベルのマツチングをと
るためにボロンドーピング量を多くする必要があ
る。しかしこのようにボロンドーピング量を多く
すると逆に必要以上に低抵抗化されて帯電特性が
不良となり、かつドーピング量のコントロールが
困難なために光導電層とのエネルギーレベルのマ
ツチングが却つてとり難くなる。 第13図に例示した本発明に基く感光体を得る
には、上記したようにa―SiC:H層2及び5の
各ボロンドーピング量が重要である。特に、電荷
輸送層が、ジボランとモノシランとの流量比を
〔B2H6〕/〔SiH4〕=5〜100ppm(例えば
10ppm)とする条件下でのグロー放電分解(後
記)によつて形成されたものであり、かつ電荷ブ
ロツキング層が、ジボランとモノシランとの流量
比を〔B2H6〕/〔SiH4〕=200〜2000ppm(例え
ば1000ppm)とする条件下でのグロー放電分解に
よつてP型に形成されたものであるのが望まし
い。 次に、本発明による感光体の各層を更に詳しく
説明する。 第1のa―SiC:H層(表面改質層) このa―SiC:H層4は感光体の表面を改質し
てa―Si系感光体を実用的に優れたものとするた
めに必須不可欠なものである。即ち、表面での電
荷保持と、光照射による表面電位の減衰という電
子写真感光体としての基本的な動作を可能とする
ものである。従つて、帯電、光減衰の繰返し特性
が非常に安定となり、長期間(例えば1カ月以
上)放置しておいても良好な電位特性を再現でき
る。これに反し、a―Si:Hを表面とした感光体
の場合には、湿気、大気、オゾン雰囲気等の影響
を受け易く、電位特性の経時変化が著しくなる。
また、a―SiC:Hは表面硬度が高いために、現
像、転写、クリーニング等の工程における耐摩耗
性があり、更に耐熱性も良いことから粘着転写等
の如く熱を付与するプロセスを適用することがで
きる。 このような優れた効果を総合的に奏するために
は、a―SiC:H層4の膜厚を上記した400Å≦
t≦5000Åの範囲内(特に400Å≦t<2000Å)
に選択することが極めて重要である。即ち、その
膜厚を5000Å以上とした場合には、第15図に示
す如く、残留電位VRが高くなりすぎかつ感度E
1/2(後記)の低下も生じ、a―Si系感光体とし
ての良好な特性を失なつてしまう。また、膜厚を
400Å未満とした場合には、トンネル効果によつ
て電荷が表面上に帯電されなくなるため、暗減衰
の増大や光感度の著しい低下が生じてしまう。従
つて、a―SiC:H層4の膜厚は5000Å以下(特
に2000Å未満)、400Å以上とすることが望ましい
が、このような厚み範囲は従来公知の技術からは
全く想定できないものである。 また、このa―SiC:H層4については、上記
した効果を発揮する上でその炭素組成を選択する
ことも重要であることが分つた。組成比をa―
Si1―xCx:Hと表わせば、xを0.1〜0.7とするこ
と(炭素原子含有量が10atomic%〜70atomic%
であること)が望ましい。即ち、0.1≦xとすれ
ば、光学的エネルギーギヤツプがほぼ2.0eV以上
となり、可視及び赤外光に対しいわゆる光学的に
透明な窓効果により照射光はa―Si:H層(電荷
発生層)3に到達することになる(第4図、第5
図参照)。逆にx<0.1であると、一部分の光は表
面層4に吸収され、感光体の光感度が低下し易く
なる。また、xが0.7を越えると層の殆んどが炭
素となり、半導体特性が失なわれる外、a―
SiC:H膜をグロー放電法で形成するときの堆積
速度が低下するから、x≦0.7とするのがよい。 第2のa―SiC:H層(電荷輸送層) このa―SiC:H層2は電位保持及び電荷輸送
の両機能を担い、暗所抵抗率が1012Ω−cm以上あ
つて、耐高電界性を有し、単位膜厚当りに保持さ
れる電位が高く、しかも上述した不純物ドーピン
グ(ライトドーピング)によつて感光層3から注
入されるホールに対する障壁を小さくし、ホール
が大きな移動度と寿命を以つて効率よく支持体1
側へ輸送する。また、炭素の組成(10〜
30atomic%)によつてエネルギーギヤツプの大
きさを調節できるため、感光層3において光照射
に応じて発生したホールに対し障壁を作ることな
く、効率よく注入させることができる。従つてこ
のa―SiC:H層2は実用レベルの高い表面電位
を保持し、a―Si:H層3で発生した電荷担体を
効率良く速やかに輸送し、高感度で残留電位のな
い感光体とする働きがある。 こうした機能を果たすために、a―SiC:H層
2の膜厚は、例えばカールソン方式による乾式現
像法を適用するためには10μm〜30μmであるこ
とが望ましい。この膜厚が10μm未満であると薄
すぎるために現像に必要な表面電位が得られず、
また30μmを越えるとキヤリアの支持体1への到
達率が低下してしまう。但、このa―SiC:H層
の膜厚は、Se感光体と比較して薄くしても(例
えば十数μm)実用レベルの表面電位が得られ
る。 a―Si:H層(光導電層又は感光層) このa―Si:H層3は、可視光及び赤外光に対
して高い光導電性を有するものであつて、第5図
に示す如く、波長650nm付近での赤色光に対し
ρD/ρLが最高〜104となる。このa―Si:Hを感
光層として用いれば、可視領域全域及び赤外領域
の光に対して高感度な感光体を作成できる。 このように可視光及び赤外光を無駄なく吸収し
て電荷担体を発生させるためには、a―Si:H層
3の膜厚は2500Å〜5μmとするのが望ましい。 膜厚が2500Å未満であると照射された光は全て
吸収されず、一部分は下地のa―SiC:H層2に
到達するために光感度が大幅に低下する。また、
a―Si:H層3は大きな電荷輸送能を有するが、
抵抗率が〜109Ω−cmであつてそれ自体としては
電位保持性を有していないから、感光層として光
吸収に必要な厚さ以上に厚くする必要はなく、そ
の膜厚は最大5μmとすれば充分である。しかも
5μmを越えると、層中においてキヤリアが横方
向へ拡散し易く、却つて感度低下となる。 第3のa―SiC:H層(電荷ブロツキング層) このブロツキング層5は、基板1からの電子の
注入を阻止するものであつて、それに必要なエネ
ルギーギヤツプ差を基板1との間に形成すべく、
周期表第A族元素が多めにドーピング(ヘビー
ドーピング)されている。このブロツキング層は
また、a―SiC:H層からなつているので、基板
1との接着性や膜付きが良いという特性を有して
いる。 このブロツキング層5は、その機能を充分に発
揮させるには400Å〜1μmの厚みに設けるのがよ
い。400Å未満では薄すぎてブロツキング機能が
低下し、1μmを越えると厚くて層自体が低抵抗
のためにキヤリアが横方向へ拡散し易くなる。ま
た、ブロツキング層5中の炭素原子含有量は10〜
30atomic%とするのが望ましい。 次に、本発明による感光体を製造するのに使用
可能な装置(グロー放電装置)を第16図につい
て説明する。 この装置11の真空槽12内では、上記した基
板1が基板保持部14上に固定され、ヒーター1
5で基板1を所定温度に加熱し得るようになつて
いる。基板1に対向して高周波電極17が配され
基板1との間にグロー放電が生ぜしめられる。な
お、図中の20,21,22,23,24,2
5,27,28,29,30,35,36,3
8,39は各バルブ、31はSiH4又はガス状シ
リコン化合物の供給源、32はCH4又はガス状炭
素化合物の供給源、33はAr又はH2等のキヤリ
アガス供給源、34はB2H6供給源、37はSiF4
ガス供給源(フツ素供給源)である。このグロー
放電装置において、まず支持体である例えばAl
基板1の表面を清浄化した後に真空槽12内に配
置し、真空槽12内のガス圧が10-6Torrとなる
ようにバルブ36を調節して排気し、かつ基板1
を所定温度、例えば200℃に加熱保持する。次い
で、高純度の不活性ガスをキヤリアガスとして、
SiH4又はガス状シリコン化合物、及びCH4又は
ガス状炭素化合物を適当量希釈した混合ガスを必
要あればB2H6と共に真空槽12内に導入し、
0.01〜10Torrの反応圧下で高周波電源16によ
り高周波電力を印加する。これによつて、上記各
反応ガスをグロー放電分解し、水素を含むボロン
ドープドa―SiC:Hを上記の層5,2として更
に水素を含むa―SiC:Hを上記の層4として基
板1上に堆積させる。この際、シリコン化合物と
炭素化合物の流量比及び基板温度を適宜調整する
ことによつて、所望の組成比及び光学的エネルギ
ーギヤツプを有するa―Si1―xCx:H(例えばx
が0.3程度又は0.7程度のものまで)を析出させる
ことができ、また析出するa―SiC:Hの電気的
特性にさほどの影響を与えることなく、1000Å/
min以上の速度でa―SiC:Hを堆積させること
が可能である。更に、a―Si:H(上記の感光層
3)を堆積させるには、炭素化合物を供給しない
でシリコン化合物をグロー放電分解すればよい。 上記のa―SiC:H層5,2,4ともに、水素
を含有することが必要であるが、水素を含有しな
い場合には感光体の電荷保持特性が実用的なもの
とはならないからである。このため、水素含有量
は10〜30atomic%とするのが望ましい。
10atomic%未満ではダングリングボンドの補償
が不充分であり、30atomic%を越えると却つて
欠陥が生じ易い。 光導電層3中の水素含有量は、ダングリングボ
ンドを補償して光導電性及び電荷保持性を向上さ
せるために必須下可欠であつて、通常は10〜
30atomic%であるのが上記と同様の理由から望
ましい。 なお、ダングリングボンドを補償するために
は、a―Siに対しては上記したHの代りに、或い
はHと併用してフツ素を導入し、(供給源は
SiF4)、a―Si:F,a―Si:H:F,a―SiC:
F,a―SiC:H:Fとすることもできる。この
場合のフツ素量は0.5〜10atomic%が望ましい。 なお、上記の製造方法はグロー放電分解法によ
るものであるが、これ以外にも、スパツタリング
法、イオンプレーテイング法や、水素放電管で活
性化又はイオン化された水素導入下でa―Siを蒸
着させる方法(特に、本出願人による特開昭56−
78413号(特願昭54−152455号)の方法)等によ
つても上記感光体の製造が可能である。 使用する反応ガスはSiH4,SiF4以外にも
Si2H6,SiHF3又はその誘導体ガス、CH4以外の
C2H6,C3H3等の低級炭化水素ガスやCF4が使用
可能である。 次に、本発明を電子写真感光体に適用した実施
例を具体的に説明する。 グロー放電分解法によりAl支持体上に第10
図の構造の電子写真感光体を作製した。先ず平滑
な表面を持つ清浄なAl支持体をグロー放電装置
の反応(真空)槽内に設置した。反応槽内を
10-6Torr台の高真空度に排気し、支持体温度を
200℃に加熱した後高純度Arガスを導入し、
0.5Torrの背圧のもとで周波数13.56MHz、電力密
度0.04W/cm2の高周波電力を印加し、15分間の予
備放電を行つた。次いで、SiH4とCH4及びB2H6
からなる反応ガスを導入し、流量比を調節した
(Ar+SiH4+CH4+B2H6)混合ガスをグロー放
電分解することにより、電荷ブロツキング機能を
担うa―SiC:H層、電位保持及び電荷輸送機能
を担うa―SiC:H層を350Å/minの堆積速度で
所定厚さに製膜した。a―Si:H感光層を形成す
るには、反応層を一旦排気した後、CH4は供給せ
ず、ArをキヤリアガスとしてSiH4を放電分解し、
所定厚さのa―Si:H感光層を形成した。しかる
後、再びCH4を供給し、流量比を調節した(Ar
+SiH4+CH4)混合ガスをグロー放電分解し、
所定厚さのa―SiC:H表面改質層を更に設け、
電子写真感光体を完成させた。 このようにして作製した感光体に、正極性で
6KVのコロナ放電を行ない、各電子写真特性を
測定した。この場合、感光体の各層の組成、膜厚
を種々に変えた各サンプル(試料No.1〜No.15)を
作成したところ、下記表に示す如き結果が得られ
た。
1. Industrial Application Field The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor particularly suitable for use with positive charging. 2. Prior Art Conventionally, electrophotographic photoreceptors have been made of Se or Se.
Photoreceptor doped with As, Te, Sb, etc., ZnO and CdS
Photoreceptors, etc., in which the compound is dispersed in a resin binder are known. However, these photoreceptors have problems in terms of environmental pollution, thermal stability, and mechanical strength. On the other hand, electrophotographic photoreceptors using amorphous silicon (a-si) as a matrix have been proposed in recent years. a-Si has so-called dangling bonds in which Si--Si bonds are broken, and many localized levels exist within the energy gap due to these defects. For this reason, hopping conduction of thermally excited carriers occurs, resulting in a small dark resistance, and photoexcited carriers are trapped in localized levels, resulting in poor photoconductivity. Therefore, the dangling bonds are filled by compensating for the defects with hydrogen atoms (H) and bonding H to Si. The resistivity of such amorphous hydrogenated silicon (hereinafter referred to as a-Si:H) in the dark is
It is 10 8 to 10 9 Ω-cm, which is about 1/10,000 times lower than that of amorphous Se. Therefore, a-Si:H
A photoreceptor consisting of a single layer has problems in that the dark decay rate of the surface potential is high and the initial charging potential is low. However, on the other hand, when irradiated with light in the visible and infrared regions, the resistivity is greatly reduced, so it has extremely excellent properties as a photosensitive layer of a photoreceptor. Therefore, in order to impart potential holding ability to such a-Si:H, it is possible to increase the resistivity to 10 12 Ω-cm by doping it with boron, etc., but the amount of boron etc. cannot be determined accurately. It is not easy to control. In addition, by introducing a small amount of oxygen together with boron, etc., it is possible to increase the resistance to about 10 13 Ω-cm, but when this is used in the photoreceptor, the photosensitivity decreases, and the edge breakage becomes worse. The problem arises of the generation of residual potential. In addition, photoreceptors with a-Si:H surfaces are susceptible to the effects of long-term exposure to the atmosphere and moisture.
Up to now, sufficient studies have not been made regarding the chemical stability of the surface, such as the influence of chemical species generated by corona discharge. For example, it has been found that when left for more than one month, the acceptance potential decreases significantly due to the influence of moisture. On the other hand, regarding amorphous hydrogenated silicon carbide (hereinafter referred to as a-SiC:H), its manufacturing method and existence are disclosed in “Phil.Mag.Vol.35”.
(1978), etc., and its characteristics include:
It has high heat resistance and surface hardness, has a high dark resistivity (10 12 to 10 13 Ω-cm) compared to a-Si:H, and has an optical energy gap of 1.6 to 2.8 depending on the carbon content. It is known that it varies over a range of eV. However, the band gap widens due to the carbon content, resulting in poor long wavelength sensitivity. An electrophotographic photoreceptor combining such a-SiC:H and a-Si:H has been proposed, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 127083/1983. According to this, a-
A functionally separated two-layer structure was created in which the Si:H layer was used as a photosensitive (photoconductive) layer, and the a-SiC:H layer was provided as a charge transport layer under this photoconductive layer, and the upper layer a-Si:H
Obtains photosensitivity in a wider wavelength range, and a-Si:
The lower a-SiC:H layer forms a heterojunction with the H layer.
This aims to improve the charging potential. However, the dark decay of the a-Si:H layer cannot be sufficiently prevented;
The charging potential is still insufficient to be practical, and the presence of the a-Si:H layer on the surface results in poor chemical stability, mechanical strength, heat resistance, etc. Become. Moreover, the carbon atom content of the charge transport layer has not been studied, nor has the thickness of each layer been taken into account, so it does not satisfy the various characteristics required for an electrophotographic photoreceptor. Not yet. On the other hand, JP-A-57-17952 discloses a-Si:
A first a-SiC:H layer is formed as a surface modification layer on the photoconductive layer consisting of H, and a second a-SiC:H layer is formed on the back surface (support electrode side) as a charge transport layer. As a result, the photoreceptor has a functionally separated three-layer structure. Regarding this known photoreceptor, a-Si:H
Although it has the effect of preventing dark decay of the layer, a-SiC:
Since the carbon atom content of the H layer, especially the charge transport layer, has not been studied, sensitivity may decrease depending on the bonding state with the a-Si:H layer, and the residual potential may also increase, making it difficult to copy a large number of sheets. It does not have the durability to withstand it. 3. Purpose of the Invention The present inventor has diligently investigated the problems of the prior art as described above, and has devised a photoreceptor with a novel structure that has the features of a functionally separated photoreceptor such as the three-layer structure described above, and particularly We discovered that the carbon atom content of the charge transport layer and the impurity concentrations of the charge transport layer and charge blocking layer greatly affect the characteristics of the photoreceptor, and decided to set the carbon atom and impurity contents within an appropriate range. As a result, we have succeeded in obtaining a photoreceptor that is excellent in photosensitivity, residual potential, potential holding ability, durability, etc. especially when positively charged. 4. Structure of the Invention That is, the present invention provides a flow rate ratio of diborane and monosilane on a substrate of [B 2 H 6 ]/[SiH 4 ]=200 to
Formed into P-type by glow discharge decomposition under conditions of 2000ppm, with a carbon atom content of 10~
30 atomic%, and the hydrogen atom content is 10~
30 atomic% and a charge blocking layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide with a thickness of 400 Å to 1 μm, and the flow ratio of diborane and monosilane to [B 2 H 6 ]/[SiH 4 ]=5. Amorphous hydrogenated amorphous atom formed by glow discharge decomposition under conditions of ~100 ppm, with a carbon atom content of 10-30 atomic%, a hydrogen atom content of 10-30 atomic%, and a thickness of 10-30 μm. and/or a charge transport layer made of fluorinated silicon carbide;
Or a charge generation layer made of fluorinated silicon, with a carbon atom content of 10 to 70 atomic%, a hydrogen atom content of 10 to 30 atomic%, and a thickness of
The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor characterized in that surface-modified layers made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide having a thickness of 400 to 5000 Å are sequentially laminated. 5 Examples Hereinafter, the photoreceptor according to the present invention will be illustrated in detail, but first, the progress that led to the present invention will be explained. The photoreceptor shown in FIG. modified layer)
4 are sequentially laminated.
The a-SiC:H layer 2 mainly has the functions of holding potential, transporting charges, and improving adhesion to the substrate 1,
Its carbon atom content is 10-30 atomic% (Si and C
It is important that the thickness be set at a ratio of (to the total number of atoms), and it is preferably formed to have a thickness of 10 μm to 30 μm. The photoconductive layer 3 generates charge carriers in response to light irradiation, and
The thickness is preferably 2500 Å to 5 μm.
Furthermore, the a-SiC:H layer 4 improves the surface potential characteristics of this photoreceptor, maintains the potential characteristics over a long period of time, and maintains environmental resistance (prevents the effects of humidity, atmosphere, and chemical species generated by corona discharge). , improved printing durability due to high surface hardness, improved heat resistance when using photoreceptors,
It has functions such as improving thermal transferability (particularly adhesive transferability), and functions as a so-called surface modification layer. The thickness t of this a-SiC:H layer 4 is 400 Å~
It is important to make it thinner than the conventional one, to 5000 Å, especially 400 Å≦t<2000 Å. By configuring the photoreceptor in this way, it maintains a high potential with a thinner film than conventional Se photoreceptors, exhibits excellent sensitivity to light in the visible and infrared regions, and is heat resistant. This makes it possible to provide an a-Si photoreceptor (for example, for electrophotography) that has good durability, printing durability, and stable environmental resistance. Moreover, what is noteworthy is that by setting the carbon atom content of the charge transport layer within a specific range of 10 to 30 atomic percent, the photoreceptor has more than enough of the various properties required. That's true. This will be explained in detail below. First, it has been confirmed that the optical energy gap (Eg, opt) of a-SiC:H generally increases as the carbon atom content increases, as shown in FIG. This Eg corresponds to a band gap, and as the carbon atom content increases, the Eg of a-Si:H (approximately
1.71eV). On the other hand, the carbon atom content is a as shown in Figure 3.
- The specific resistance of SiC:H (ρ D : dark resistivity, ρ G : resistivity when irradiated with green light) is influenced by the carbon content (i.e.
If Eg) is increased, the photosensitivity (ρ D /
ρ G ) decreases, as shown in FIG. When the wavelength of the irradiated light is changed, the photosensitivity of a-SiC:H changes depending on the carbon content, as shown in FIG. FIG. 6 shows the energy band of the photoreceptor having the layer structure described in FIG. In this energy band diagram, as described above, the charge transport layer 2
Since the carbon atom content of the charge transport layer 2 is set to 10 to 30 atomic% (15 atomic% in the illustrated example: Eg = 2.1 eV), the Eg of the charge transport layer 2 itself has an appropriate size, and the a- Eg of Si:H layer 3 (approx.
1.71eV) forms a bandcap that does not substantially form a barrier to electrons. That is, when the surface of this photoreceptor is operated with a negative charge, holes indicated by a circle are injected from the substrate 1 side as shown by the dashed line, but these holes are injected into the a-SiC:H layer 2. As a result, the negative charge on the surface of the photoreceptor is sufficiently retained, dark decay is reduced, and the potential retention ability is improved. Furthermore, carriers (holes indicated by ○, electrons indicated by ●) generated in the photoconductive layer 3 during light irradiation
Of these, for electrons, the conduction band Ec has almost no barrier between layers 2 and 3 (that is, the matching of energy levels is good), so a
-SiC: Can easily move to the substrate 1 side through the H layer 2 as shown by the dashed line, and holes can easily move to the surface side through the thin surface layer 4 to selectively neutralize surface negative charges. and efficiently form an electrostatic latent image. Therefore, this photoreceptor has good photosensitivity in addition to the above-mentioned potential holding ability. In order to obtain such remarkable effects, it has been revealed that the carbon atom content of the charge transport layer 2 must be specifically set to 10 to 30 atomic %.
That is, when the carbon atom content is less than 10 atomic%,
a-SiC: The specific resistance of H layer 2 is necessary for potential holding ability.
Since it is less than 10 12 Ω-cm (see Fig. 3), the charging potential is particularly insufficient, which is inappropriate. Furthermore, when the carbon atom content exceeds 30 atomic%, the resistivity decreases as well, and at the same time, the presence of too many carbon atoms increases defects in the a-SiC:H layer, resulting in poor carrier transport performance itself. . It is also important that in the photoreceptor shown in FIG. 1, the photoconductive layer 3 is not doped with any impurities such as those belonging to Group A of the periodic table. In other words, when the a-Si:H layer is doped with impurities to increase its resistance (ρ D =10 11 to 10 12 Ω-cm) as in the conventional technology,
Impurity doping lowers the carrier range (μτ)e of electrons, that is, (mobility×lifetime), which causes the optical attenuation curve to tail, resulting in lower sensitivity and lower image quality. FIG. 7 shows the light attenuation characteristics of the above-mentioned photoreceptor in which the photoconductive layer 3 is not doped with impurities.
When impurities are doped (in the glow discharge method described later, for example, [B 2 H 6 ]/[SiH 4 ]=
20 ppm), it was found that the attenuation curve tailed during light irradiation. The present inventor has discovered that although the functionally separated photoreceptor with the three-layer structure shown in FIG. 1 has the remarkable advantages described above, it also has the following problems. I stopped. That is, as understood from the energy band diagram of FIG. 6 and the above explanation, the photoreceptor shown in FIG. 1 is a photoreceptor for negative charging, and has low charging ability and dark decay for positive charging. It gets bigger. In other words, as is clear from FIG. 6, for example, if the carbon atom content of the charge transport layer 2 is 15 atomic%, Eg, opt is
When using the surface of the photoreceptor with a positive charge of 2.06eV, electrons are transferred from the substrate 1 side to the charge transport layer 2.
It easily overcomes Ec and is injected, neutralizing the positive charge on the surface and attenuating the surface potential. Moreover, among the carriers generated in the photoconductive layer 3 during light irradiation, holes are charge-transported from the photoconductive layer 3 due to the energy gap or energy barrier (△E) of EV between both layers 3-2. It becomes difficult to move to layer 2 (Eg, opt of a-Si is 1.71eV, a-SiC
Eg, opt is 2.06eV). For these reasons, the above-mentioned photoreceptor has poor charging ability during positive charging, has a large amount of dark decay, and has poor photosensitivity, so only the attenuation curve shown in Figure 9 can be obtained, making it unsuitable for use in positive charging. be. Therefore, as shown in FIG. 10, in the photoreceptor shown in FIG. It was considered to provide a charge blocking layer. As a result, as shown in FIG. 11, it is possible to prevent the injection of electrons from the substrate 1 and maintain the positive charge on the surface of the photoreceptor (that is, to reduce dark decay). Due to the energy barrier (ΔE) similar to that shown in FIG. As a result of intensive study of the above-mentioned problems that occur during positive charging, the present inventor found that it is inappropriate to simply provide the charge blocking layer 5 to prevent the injection of carriers. It has been recognized that it is necessary to take effective means to efficiently move holes generated during irradiation to the charge transport layer 2 side. As such a means, one idea is to reduce the carbon content of a-SiC:H constituting the charge transport layer 2 based on the data shown in FIG. 2 to reduce the ΔE between both layers 3-2. However, in order to achieve this, it is necessary to significantly reduce the carbon atom content to less than 10 atomic%, which lowers the resistance of the a-SiC:H layer 2 and significantly lowers the charging potential of the photoreceptor. . The present inventor maintained the carbon atom content of the a-SiC:H layer 2 at 10 to 30 atomic% in order to achieve level matching of EV between both layers 3-2 to improve charging characteristics and transport ability. While holding well, a-SiC:H
The present invention was achieved by discovering that the above-mentioned problems can be sufficiently overcome by doping layer 2 with a relatively small amount of Group A elements of the periodic table. That is, the photoreceptor according to the present invention basically has a first
Although it has the layer structure shown in Figure 0, a-
While the SiC:H layer 2 is doped with a relatively small amount of a periodic table group A element (e.g. boron), the a-SiC:H layer 5 for charge blocking is doped with a periodic table group A element (e.g. boron). It is heavily doped and the carbon atom content of the a-SiC:H layer 2 is 10~
It is characterized by being maintained at 30 atomic%. As a result, as shown in Fig. 13, a-SiC:H
Layer 2 is bonded to photoconductive layer 3 by boron doping.
This narrows the energy gap regarding EV and allows for sufficient matching of energy levels between the two layers. As a result, holes generated in the photoconductive layer 3 during light irradiation are transferred to the charge transport layer 3.
This allows for smooth injection into the interior. In addition, due to the presence of the charge blocking layer 5, the substrate 1
It is also possible to effectively prevent injection of electrons from In this way, as shown in FIG. 14, it became possible for the first time to obtain a photoreceptor exhibiting sufficient attenuation characteristics for positive charging use. That is, in this photoreceptor, the photosensitivity increases, the residual potential decreases, the tailing of the optical attenuation curve disappears, and the charging potential can be maintained at a high level. The carbon atom content of the above a-SiC:H layer 2 should be set to 10 to 30 atomic% (for example, 15 atomic%) for the reasons mentioned above (i.e., retention of charged potential, improvement of transport ability). ), this is based on reasons specific to positive charging. In other words, if we increase the carbon content to more than 30 atomic%,
This widens the energy gap,
In order to match the energy level regarding EV , it is necessary to increase the amount of boron doping. However, increasing the amount of boron doping in this way conversely lowers the resistance more than necessary, resulting in poor charging characteristics, and because it is difficult to control the amount of doping, it becomes difficult to match the energy level with the photoconductive layer. Become. In order to obtain the photoreceptor according to the present invention illustrated in FIG. 13, the amount of boron doped in each of the a-SiC:H layers 2 and 5 is important as described above. In particular, the charge transport layer controls the flow rate ratio of diborane and monosilane to [B 2 H 6 ]/[SiH 4 ]=5 to 100 ppm (e.g.
The charge blocking layer is formed by glow discharge decomposition (described below) under conditions of 10 ppm), and the charge blocking layer has a flow rate ratio of diborane and monosilane of [B 2 H 6 ]/[SiH 4 ]= It is preferable that the material be formed into a P type by glow discharge decomposition under conditions of 200 to 2000 ppm (for example, 1000 ppm). Next, each layer of the photoreceptor according to the present invention will be explained in more detail. First a-SiC:H layer (surface modified layer) This a-SiC:H layer 4 is used to modify the surface of the photoconductor to make the a-Si photoconductor practically superior. It is essential. That is, it enables the basic operations of an electrophotographic photoreceptor, such as charge retention on the surface and attenuation of the surface potential due to light irradiation. Therefore, the repetitive characteristics of charging and optical attenuation are very stable, and good potential characteristics can be reproduced even if left for a long period of time (for example, one month or more). On the other hand, in the case of a photoreceptor having an a-Si:H surface, it is easily affected by humidity, air, ozone atmosphere, etc., and the potential characteristics change significantly over time.
In addition, a-SiC:H has a high surface hardness, so it is resistant to abrasion during processes such as development, transfer, and cleaning, and it also has good heat resistance, so it can be used in processes that apply heat such as adhesive transfer. be able to. In order to achieve such excellent effects comprehensively, the film thickness of the a-SiC:H layer 4 must be 400 Å≦ as described above.
Within the range of t≦5000Å (especially 400Å≦t<2000Å)
It is extremely important to choose That is, when the film thickness is 5000 Å or more, the residual potential V R becomes too high and the sensitivity E
A reduction of 1/2 (described later) also occurs, and good characteristics as an a-Si photoreceptor are lost. In addition, the film thickness
When the thickness is less than 400 Å, charges are no longer charged on the surface due to the tunneling effect, resulting in an increase in dark decay and a significant decrease in photosensitivity. Therefore, it is desirable that the thickness of the a-SiC:H layer 4 be 5000 Å or less (particularly less than 2000 Å) and 400 Å or more, but such a thickness range cannot be expected from conventionally known techniques. Furthermore, it has been found that it is also important to select the carbon composition of this a-SiC:H layer 4 in order to exhibit the above-mentioned effects. The composition ratio is a-
If expressed as Si 1 -xCx:H, x should be 0.1 to 0.7 (carbon atom content is 10 atomic% to 70 atomic%).
) is desirable. In other words, if 0.1≦x, the optical energy gap will be approximately 2.0 eV or more, and the irradiated light will be absorbed by the a-Si:H layer (charge generating layer) due to the so-called optically transparent window effect for visible and infrared light. layer) 3 (Figures 4 and 5).
(see figure). Conversely, when x<0.1, a portion of the light is absorbed by the surface layer 4, and the photosensitivity of the photoreceptor tends to decrease. Furthermore, when x exceeds 0.7, most of the layer becomes carbon, and the semiconductor properties are lost, as well as a-
Since the deposition rate when forming the SiC:H film by the glow discharge method decreases, it is preferable that x≦0.7. Second a-SiC:H layer (charge transport layer) This a-SiC:H layer 2 has both the functions of potential retention and charge transport, has a dark resistivity of 10 12 Ω-cm or more, and has high durability. It has electric field properties and has a high potential maintained per unit film thickness, and the impurity doping (light doping) described above reduces the barrier to holes injected from the photosensitive layer 3, allowing the holes to have high mobility. Support 1 efficiently throughout its lifespan
Transport to the side. Also, the composition of carbon (10~
Since the size of the energy gap can be adjusted by 30 atomic %), holes generated in the photosensitive layer 3 in response to light irradiation can be efficiently injected without creating a barrier. Therefore, this a-SiC:H layer 2 maintains a high surface potential at a practical level and efficiently and quickly transports the charge carriers generated in the a-SiC:H layer 3, resulting in a photoreceptor with high sensitivity and no residual potential. It has the function of In order to fulfill these functions, the thickness of the a-SiC:H layer 2 is preferably 10 μm to 30 μm in order to apply a dry development method using the Carlson method, for example. If this film thickness is less than 10 μm, it is too thin and the surface potential necessary for development cannot be obtained.
Moreover, if the thickness exceeds 30 μm, the rate at which the carrier reaches the support 1 will decrease. However, even if the film thickness of this a-SiC:H layer is made thinner (for example, 10-odd μm) than that of the Se photoreceptor, a surface potential at a practical level can be obtained. a-Si:H layer (photoconductive layer or photosensitive layer) This a-Si:H layer 3 has high photoconductivity to visible light and infrared light, as shown in FIG. , the maximum value of ρ DL is ~10 4 for red light at a wavelength of around 650 nm. By using this a-Si:H as a photosensitive layer, it is possible to create a photoreceptor that is highly sensitive to light in the entire visible region and in the infrared region. In order to absorb visible light and infrared light without waste and generate charge carriers in this manner, the thickness of the a-Si:H layer 3 is preferably 2500 Å to 5 μm. If the film thickness is less than 2500 Å, all of the irradiated light will not be absorbed and a portion of it will reach the underlying a-SiC:H layer 2, resulting in a significant decrease in photosensitivity. Also,
Although the a-Si:H layer 3 has a large charge transport ability,
Since the resistivity is ~10 9 Ω-cm and it does not have potential retention properties by itself, there is no need to make it thicker than necessary for light absorption as a photosensitive layer, and the maximum thickness is 5 μm. It is sufficient. Moreover,
When the thickness exceeds 5 μm, carriers tend to diffuse laterally in the layer, and the sensitivity decreases on the contrary. Third a-SiC:H layer (charge blocking layer) This blocking layer 5 prevents injection of electrons from the substrate 1, and creates the necessary energy gap difference between the substrate 1 and the substrate 1. In order to form
A large amount of Group A elements of the periodic table is doped (heavy doping). Since this blocking layer is made of an a-SiC:H layer, it has the characteristics of good adhesion to the substrate 1 and good film adhesion. This blocking layer 5 is preferably provided with a thickness of 400 Å to 1 μm in order to fully exhibit its function. If it is less than 400 Å, it is too thin and the blocking function deteriorates, and if it exceeds 1 μm, it is thick and the layer itself has a low resistance, making it easy for carriers to diffuse laterally. Further, the carbon atom content in the blocking layer 5 is 10 to
It is desirable to set it to 30 atomic%. Next, an apparatus (glow discharge apparatus) that can be used to manufacture a photoreceptor according to the present invention will be described with reference to FIG. In the vacuum chamber 12 of this device 11, the above-described substrate 1 is fixed on the substrate holder 14, and the heater 1
5, the substrate 1 can be heated to a predetermined temperature. A high frequency electrode 17 is arranged opposite to the substrate 1, and a glow discharge is generated between the high frequency electrode 17 and the substrate 1. In addition, 20, 21, 22, 23, 24, 2 in the figure
5, 27, 28, 29, 30, 35, 36, 3
8 and 39 are respective valves; 31 is a supply source of SiH 4 or a gaseous silicon compound; 32 is a supply source of CH 4 or a gaseous carbon compound; 33 is a carrier gas supply source such as Ar or H 2 ; and 34 is a B 2 H 6 sources, 37 are SiF 4
It is a gas supply source (fluorine supply source). In this glow discharge device, first, a support such as Al
After cleaning the surface of the substrate 1, place it in a vacuum chamber 12, adjust the valve 36 so that the gas pressure in the vacuum chamber 12 becomes 10 -6 Torr, and evacuate the substrate 1.
is heated and maintained at a predetermined temperature, for example, 200°C. Next, a high purity inert gas is used as a carrier gas,
A mixed gas prepared by diluting an appropriate amount of SiH 4 or a gaseous silicon compound and CH 4 or a gaseous carbon compound is introduced into the vacuum chamber 12 together with B 2 H 6 if necessary,
High frequency power is applied by a high frequency power source 16 under a reaction pressure of 0.01 to 10 Torr. As a result, each of the above reaction gases is decomposed by glow discharge, and the boron-doped a-SiC:H containing hydrogen is formed on the substrate 1 as the above layers 5 and 2, and the a-SiC:H containing hydrogen is formed as the above layer 4. to be deposited. At this time, a-Si 1 -xCx:H (for example x
(up to about 0.3 or 0.7) can be deposited at 1000 Å/
It is possible to deposit a-SiC:H at a rate of min or more. Furthermore, in order to deposit a-Si:H (photosensitive layer 3 above), the silicon compound may be decomposed by glow discharge without supplying the carbon compound. It is necessary that the above a-SiC:H layers 5, 2, and 4 contain hydrogen, but if they do not contain hydrogen, the charge retention characteristics of the photoreceptor will not be practical. . For this reason, it is desirable that the hydrogen content be 10 to 30 atomic%.
If it is less than 10 atomic %, compensation for dangling bonds is insufficient, and if it exceeds 30 atomic %, defects are more likely to occur. The hydrogen content in the photoconductive layer 3 is essential in order to compensate for dangling bonds and improve photoconductivity and charge retention, and is usually 10 to 10%.
30 atomic% is desirable for the same reason as above. In addition, in order to compensate for dangling bonds, fluorine is introduced into a-Si instead of the above-mentioned H or in combination with H (the source is
SiF 4 ), a-Si:F, a-Si:H:F, a-SiC:
F, a-SiC:H:F can also be used. In this case, the amount of fluorine is preferably 0.5 to 10 atomic%. The above manufacturing method is based on the glow discharge decomposition method, but other methods include sputtering method, ion plating method, and vapor deposition of a-Si under the introduction of activated or ionized hydrogen in a hydrogen discharge tube. (In particular, the method of
The above-mentioned photoreceptor can also be produced by the method disclosed in Japanese Patent Application No. 78413 (Japanese Patent Application No. 152455/1982). Reactive gases used include SiH 4 and SiF 4 .
Other than Si 2 H 6 , SiHF 3 or its derivative gas, CH 4
Lower hydrocarbon gases such as C 2 H 6 and C 3 H 3 and CF 4 can be used. Next, an example in which the present invention is applied to an electrophotographic photoreceptor will be specifically described. No. 10 was deposited on the Al support by glow discharge decomposition method.
An electrophotographic photoreceptor having the structure shown in the figure was manufactured. First, a clean Al support with a smooth surface was placed in a reaction (vacuum) chamber of a glow discharge device. Inside the reaction tank
Evacuate to a high vacuum level of 10 -6 Torr and lower the support temperature.
After heating to 200℃, high purity Ar gas was introduced.
A high-frequency power with a frequency of 13.56 MHz and a power density of 0.04 W/cm 2 was applied under a back pressure of 0.5 Torr, and a preliminary discharge was performed for 15 minutes. Then SiH4 and CH4 and B2H6
By introducing a reactive gas consisting of (Ar + SiH 4 + CH 4 + B 2 H 6 ) and decomposing the mixed gas by glow discharge, the a-SiC:H layer, which plays a charge blocking function, potential retention and charge transport. The functional a-SiC:H layer was formed to a predetermined thickness at a deposition rate of 350 Å/min. To form the a-Si:H photosensitive layer, once the reaction layer is evacuated, CH 4 is not supplied and SiH 4 is discharge decomposed using Ar as a carrier gas.
An a-Si:H photosensitive layer of a predetermined thickness was formed. After that, CH 4 was supplied again and the flow rate ratio was adjusted (Ar
+SiH 4 +CH 4 ) The mixed gas is decomposed by glow discharge,
A-SiC:H surface modification layer of a predetermined thickness is further provided,
Completed an electrophotographic photoreceptor. The photoconductor produced in this way is coated with positive polarity.
A 6KV corona discharge was performed and various electrophotographic characteristics were measured. In this case, when samples (Samples No. 1 to No. 15) were prepared with various compositions and film thicknesses of each layer of the photoreceptor, the results shown in the table below were obtained.

【表】【table】

【表】【table】

【表】 この試験に際しては、上記のようにして作成し
た電子写真感光体をエレクトロメーターSP―428
型(川口電機(株)製)に装着し、帯電器の放電電極
に対する印加電圧を+6KVとし、10秒間帯電操
作を行ない、この帯電操作直後における感光体表
面の帯電電位をVo(V)とし、2秒間の暗減衰
後、帯電電位を1/2に減衰せしめるために必要な
照射光量を半減露光量E1/2(1ux・sec)とし
た。表面電位の光減衰曲線はある有限の電位でフ
ラツトとなり、完全にゼロとならない場合がある
が、この電位を残留電位VR(V)と称する。ま
た、画質については、感光体をドラム状に作成
し、20℃、60%RHで電子写真複写機U―BixV
(小西六写真工業(株)製)に装着し、絵出しを行な
い、初期画質(1000コピー時の画質)及び多数回
使用時の画質(20万コピー時の画質)を次の如く
に評価した。 画像濃度 1.0以上 ◎ (画質が非常に良好) 〃 0.6〜1.0 〇 (画質が良好) 〃 0.6未満 △ (画像にボケが発生) 〃 ×
(濃度が著しく低く判別不能) この表に示すデータから明らかなように、電荷
輸送層に不純物ドープしない試料No.1に比べて、
不純物ドープした構造の本発明の試料No.2は優れ
た特性を示すことが分る。また、試料No.3〜No.6
及びNo.12〜15から明らかなように、ブロツキング
層のドープ量を〔B2H6〕/〔SiH4〕=200〜
2000ppmに設定し、電荷輸送層の同ドープ量を5
〜100ppmに設定すれば、光感度や残留電位を良
好な値に保持しながら多数枚複写時での耐久性を
著しく向上させることができる。更に、各層の組
成、厚み等を上述した望ましい範囲に設定するの
が重要であることも分る。 6 発明の効果 本発明は、上述した如く、a―SiC系表面改質
層とa―Si系光導電層とa―SiC系電荷輸送層と
a―SiC系電荷ブロツキング層との積層体で感光
体を構成しているので、薄い膜厚で高い電位を保
持し、可視領域及び赤外領域の光に対して優れた
感度を示し、耐熱性、耐刷性が良く、かつ安定し
た対環境性を有するa―Si系感光体(例えば電子
写真用)を提供することができるのである。 また、電荷輸送層の不純物ドーピングによつて
光導電層とのレベルマツチングをとることができ
るので、光キヤリアの移動をスムーズにして光感
度を高めることができる一方、電荷ブロツキング
層の不純物ドーピング量を多くして不所望な注入
キヤリアに対するエネルギー障壁を大きくしてい
るので、帯電電位の保持能及び暗減衰の防止効果
を高めることができる。 しかも注目すべきことは、電荷輸送層の炭素原
子含有量を10〜30atomic%と特定範囲に設定す
ることによつて、感光体に要求される諸特性(特
に高感度、低残留電位、高電位保持能、繰返し耐
久性)を充二分に具備したものとなる。
[Table] For this test, the electrophotographic photoreceptor prepared as described above was tested using an electrometer SP-428.
The photoconductor was mounted on a mold (manufactured by Kawaguchi Electric Co., Ltd.), the voltage applied to the discharge electrode of the charger was set to +6 KV, the charging operation was performed for 10 seconds, and the charged potential on the surface of the photoreceptor immediately after this charging operation was set to Vo (V), After dark decay for 2 seconds, the amount of irradiation light required to attenuate the charged potential to 1/2 was defined as the halving exposure amount E1/2 (1ux·sec). The light attenuation curve of the surface potential becomes flat at a certain finite potential, and may not become completely zero; this potential is called the residual potential V R (V). Regarding image quality, the photoreceptor was made into a drum shape, and the electrophotographic copying machine U-BixV was used at 20℃ and 60%RH.
(manufactured by Konishiroku Photo Industry Co., Ltd.), an image was printed, and the initial image quality (image quality after 1000 copies) and image quality after multiple uses (image quality after 200,000 copies) were evaluated as follows. . Image density 1.0 or more ◎ (Very good image quality) 〃 0.6 to 1.0 〇 (Good image quality) 〃 Less than 0.6 △ (Blurred image occurs) 〃 ×
(The concentration is extremely low and cannot be determined.) As is clear from the data shown in this table, compared to sample No. 1 in which the charge transport layer is not doped with impurities,
It can be seen that Sample No. 2 of the present invention, which has an impurity-doped structure, exhibits excellent characteristics. In addition, samples No. 3 to No. 6
As is clear from Nos. 12 to 15, the doping amount of the blocking layer is set to [B 2 H 6 ]/[SiH 4 ]=200 to
The doping amount of the charge transport layer was set to 2000 ppm, and the doping amount of the charge transport layer was set to 5.
If it is set to ~100 ppm, it is possible to significantly improve the durability when copying a large number of sheets while maintaining the photosensitivity and residual potential at good values. Furthermore, it can be seen that it is important to set the composition, thickness, etc. of each layer within the above-mentioned desirable ranges. 6 Effects of the Invention As described above, the present invention provides a photosensitive material using a laminate of an a-SiC surface-modified layer, an a-Si photoconductive layer, an a-SiC charge transport layer, and an a-SiC charge blocking layer. Because it consists of a thin film, it retains a high potential, exhibits excellent sensitivity to light in the visible and infrared regions, has good heat resistance and printing durability, and has stable environmental resistance. Therefore, it is possible to provide an a-Si photoreceptor (for example, for electrophotography) having the following properties. In addition, level matching with the photoconductive layer can be achieved by doping the charge transport layer with impurities, making it possible to smooth the movement of optical carriers and increasing photosensitivity. Since the energy barrier against undesired injection carriers is increased by increasing the number of injected carriers, the ability to hold the charged potential and the effect of preventing dark decay can be enhanced. Moreover, what is noteworthy is that by setting the carbon atom content of the charge transport layer within a specific range of 10 to 30 atomic%, various properties required for photoreceptors (especially high sensitivity, low residual potential, and high potential) can be achieved. It has more than enough properties (retention ability, repeated durability).

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図〜第12図は本発明を説明するものであ
つて、第1図は電子写真感光体の一部分の断面
図、第2図は炭素原子含有量によるa―SiC:H
の光学的エネルギーギヤツプの変化を示すグラ
フ、第3図は光学的エネルギーギヤツプによるa
―SiC:Hの比抵抗の変化を示すグラフ、第4図
は光学的エネルギーギヤツプによるa―SiC:H
の光感度特性を示すグラフ、第5図は照射光の波
長による光感度特性を比較して示すグラフ、第6
図は感光体の各層のエネルギーバンド図、第7図
は感光体の電位減衰特性図、第8図は他の感光体
の電位減衰特性図、第9図は正帯電時の第1図の
感光体の電位減衰曲線図、第10図は更に他の感
光体の一部分の断面図、第11図は第10図の感
光体の各層のエネルギーバンド図、第12図は正
帯電時の第10図の感光体の電位減衰曲線図、第
13図〜第16図は本発明を例示するものであつ
て、第13図は感光体の各層のエネルギーバンド
図、第14図は正帯電時の感光体の電位減衰曲線
図、第15図は表面改質層の厚みによる特性変化
を示すグラフ、第16図は感光体の製造装置の概
略断面図、である。 なお、図面に示されている符号において、1…
…支持体(基板)、2……a―SiC:H層(電荷
輸送層)、3……a―Si:H感光層(光導電層)、
4……a―SiC:H層(表面改質層)、5……電
荷ブロツキング層、11……グロー放電装置、1
7……高周波電極、31……ガス状シリコン化合
物供給源、32……ガス状炭素化合物供給源、3
3……キヤリアガス供給源、34……B2H6供給
源、37……SiF4供給源、Eg,opt……光学的エ
ネルギーギヤツプ、ρD/ρG……暗所抵抗率/光照
射時の抵抗率、E1/2……半減露光量、VR……残
留電位、である。
1 to 12 are for explaining the present invention, in which FIG. 1 is a cross-sectional view of a part of an electrophotographic photoreceptor, and FIG. 2 is a-SiC:H according to the carbon atom content.
Figure 3 is a graph showing changes in the optical energy gap of a.
- A graph showing the change in resistivity of SiC:H, Figure 4 shows the change in resistivity of a-SiC:H due to the optical energy gap.
Figure 5 is a graph showing the photosensitivity characteristics of irradiated light by comparison, and Figure 6 is a graph showing the photosensitivity characteristics depending on the wavelength of the irradiated light.
The figure shows the energy band diagram of each layer of the photoreceptor, Figure 7 shows the potential attenuation characteristic diagram of the photoreceptor, Figure 8 shows the potential attenuation characteristic diagram of other photoreceptors, and Figure 9 shows the exposure of Figure 1 when positively charged. Figure 10 is a cross-sectional view of a part of another photoreceptor, Figure 11 is an energy band diagram of each layer of the photoreceptor in Figure 10, and Figure 12 is Figure 10 when positively charged. 13 to 16 illustrate the present invention. FIG. 13 is an energy band diagram of each layer of the photoreceptor, and FIG. 14 shows the photoreceptor when positively charged. FIG. 15 is a graph showing changes in characteristics depending on the thickness of the surface-modified layer, and FIG. 16 is a schematic cross-sectional view of a photoreceptor manufacturing apparatus. In addition, in the symbols shown in the drawings, 1...
...Support (substrate), 2...a-SiC:H layer (charge transport layer), 3...a-Si:H photosensitive layer (photoconductive layer),
4... a-SiC:H layer (surface modified layer), 5... Charge blocking layer, 11... Glow discharge device, 1
7... High frequency electrode, 31... Gaseous silicon compound supply source, 32... Gaseous carbon compound supply source, 3
3...Carrier gas supply source, 34... B2H6 supply source, 37... SiF4 supply source, Eg, opt...Optical energy gap, ρD / ρG ...Dark resistivity/ light Resistivity at the time of irradiation, E1/2...half-reduced exposure amount, V R ...residual potential.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 基体上に、ジボランとモノシランとの流量比
を〔B2H6〕/〔SiH4〕=200〜2000ppmとする条
件下でのグロー放電分解によつてP型に形成さ
れ、炭素原子含有量が10〜30atomic%であり、
水素原子含有量が10〜30atomic%であり、厚み
が400Å〜1μmのアモルフアス水素化及び/又は
フツ素化炭化シリコンからなる電荷ブロツキング
層と、 ジボランとモノシランとの流量比を
〔B2H6〕/〔SiH4〕=5〜100ppmとする条件下
でのグロー放電分解によつて形成され、炭素原子
含有量が10〜30atomic%であり、水素原子含有
量が10〜30atomic%であり、厚みが10〜30μmの
アモルフアス水素化及び/又はフツ素化炭化シリ
コンからなる電荷輸送層と、 水素原子含有量が10〜30atomic%であり、厚
みが2500Å〜5μmのアモルフアス水素化及び/
又はフツ素化シリコンからなる電荷発生層と、 炭素原子含有量が10〜70atomic%であり、水
素原子含有量が10〜30atomic%であり、厚みが
400〜5000Åのアモルフアス水素化及び/又はフ
ツ素化炭化シリコンからなる表面改質層と を順次積層したことを特徴とする電子写真感光
体。
[Claims] 1. Formed into a P-type on a substrate by glow discharge decomposition under conditions where the flow rate ratio of diborane and monosilane is [B 2 H 6 ]/[SiH 4 ]=200 to 2000 ppm. and the carbon atom content is 10-30 atomic%,
A charge blocking layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide having a hydrogen atom content of 10 to 30 atomic% and a thickness of 400 Å to 1 μm, and the flow rate ratio of diborane and monosilane [B 2 H 6 ] / [SiH 4 ] = 5 to 100 ppm, the carbon atom content is 10 to 30 atomic%, the hydrogen atom content is 10 to 30 atomic%, and the thickness is A charge transport layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide with a thickness of 10 to 30 μm, and a charge transport layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide with a hydrogen atom content of 10 to 30 atomic% and a thickness of 2500 Å to 5 μm.
Or a charge generation layer made of fluorinated silicon, with a carbon atom content of 10 to 70 atomic%, a hydrogen atom content of 10 to 30 atomic%, and a thickness of
An electrophotographic photoreceptor characterized in that a surface-modified layer made of amorphous hydrogenated and/or fluorinated silicon carbide having a thickness of 400 to 5000 Å is laminated in sequence.
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