JPH0234075B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0234075B2 JPH0234075B2 JP57227576A JP22757682A JPH0234075B2 JP H0234075 B2 JPH0234075 B2 JP H0234075B2 JP 57227576 A JP57227576 A JP 57227576A JP 22757682 A JP22757682 A JP 22757682A JP H0234075 B2 JPH0234075 B2 JP H0234075B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- card
- data
- inspection
- written
- read
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
- G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
- G06K19/067—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
- G06K19/07—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Credit Cards Or The Like (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、クレジツトカード、身分証明証など
にICモジユールを組込んだIDカードを製造した
際に行なうIDカードの検査方法に関するもので
ある。
にICモジユールを組込んだIDカードを製造した
際に行なうIDカードの検査方法に関するもので
ある。
近年、クレジツトカード、銀行カード、運転免
許証、身分証明証などの多くの分野にIDカード
が用いられているが、端末機による自動確認を行
なうために、従来は磁気によりデータを書き込ん
でいた。しかし磁気による書込みデータは付近の
磁石や交流磁界により消磁されたり変化したりす
る上、読取りが容易であるので、偽造されたり、
改ざんされ易く安全性及び信頼性に欠けるものが
あつた。そこで最近はIC回路を内蔵せしめ、安
全性と信頼性を増したIDカードの製造が試みら
れている。
許証、身分証明証などの多くの分野にIDカード
が用いられているが、端末機による自動確認を行
なうために、従来は磁気によりデータを書き込ん
でいた。しかし磁気による書込みデータは付近の
磁石や交流磁界により消磁されたり変化したりす
る上、読取りが容易であるので、偽造されたり、
改ざんされ易く安全性及び信頼性に欠けるものが
あつた。そこで最近はIC回路を内蔵せしめ、安
全性と信頼性を増したIDカードの製造が試みら
れている。
しかしIDカードはその中に書き込まれるデー
タは、当然個人ごとに全て異なるものであり、し
かもIDカードの発行者（例えば銀行カードなら
銀行）が書き込むものであるので、IDカードの
製造者が製造時に書き込むことはできない。製造
者は個人を識別するデータは何も書込んでいない
状態（この状態を「空白状態」と称する。例えば
或るIDカードのグループに共通なデータをROM
回路に書込んであるような状態をも含む）で販売
し、購入者（銀行など）がこれに識別を含む各種
の必要データを書込んでIDカードとなす。この
ように、後から逐次書込みができるように、ID
カード用のIC回路としては識別データ用として
はROMではなくPROM回路を用いねばならな
い。
タは、当然個人ごとに全て異なるものであり、し
かもIDカードの発行者（例えば銀行カードなら
銀行）が書き込むものであるので、IDカードの
製造者が製造時に書き込むことはできない。製造
者は個人を識別するデータは何も書込んでいない
状態（この状態を「空白状態」と称する。例えば
或るIDカードのグループに共通なデータをROM
回路に書込んであるような状態をも含む）で販売
し、購入者（銀行など）がこれに識別を含む各種
の必要データを書込んでIDカードとなす。この
ように、後から逐次書込みができるように、ID
カード用のIC回路としては識別データ用として
はROMではなくPROM回路を用いねばならな
い。
一方、通常、種々の分野で知いられている
PROM回路は紫外線による消去を行なうためパ
ツケージ上面には石英ガラスなどによる透明な消
去用の窓が設けられている。
PROM回路は紫外線による消去を行なうためパ
ツケージ上面には石英ガラスなどによる透明な消
去用の窓が設けられている。
これに反し、IDカードにおいては、いたずら
や偽造や改ざんを防ぐためIDカードの中のIC回
路の位置や外部端子の位置なども外見上わからな
いようにすることが望ましい。従つて、外見にて
IC回路の位置がわかつてしまう透明な消去用の
窓を設けることは好ましくなく、IC回路の表裏
は不透明な層にておおわれている。そのために書
込んだデータを紫外線消去することはできない。
や偽造や改ざんを防ぐためIDカードの中のIC回
路の位置や外部端子の位置なども外見上わからな
いようにすることが望ましい。従つて、外見にて
IC回路の位置がわかつてしまう透明な消去用の
窓を設けることは好ましくなく、IC回路の表裏
は不透明な層にておおわれている。そのために書
込んだデータを紫外線消去することはできない。
従つて、製造者における検査方法は以下に述べ
る如く抜取り検査を余儀なくされ、全数検査を行
なうことはできなかつた。即ち、IC回路の機能
の検査を行なうには、テスト用の特定のデータを
書込んだ後、これを読取つて特定データと比較
し、一致しているか否かにより書込み及び読取り
機能の良否を判定する。ところが、前述の如く書
込んだデータは消去することができず、一方製造
者は販売時にはメモリを空白状態にしておかねば
ならないので、上記の如き特定のデータの書込
み、読取りによる検査を製品の全数に対して行な
うことはできず、止むを得ず抜取り検査を行なう
こととなるものであつた。
る如く抜取り検査を余儀なくされ、全数検査を行
なうことはできなかつた。即ち、IC回路の機能
の検査を行なうには、テスト用の特定のデータを
書込んだ後、これを読取つて特定データと比較
し、一致しているか否かにより書込み及び読取り
機能の良否を判定する。ところが、前述の如く書
込んだデータは消去することができず、一方製造
者は販売時にはメモリを空白状態にしておかねば
ならないので、上記の如き特定のデータの書込
み、読取りによる検査を製品の全数に対して行な
うことはできず、止むを得ず抜取り検査を行なう
こととなるものであつた。
このように、抜取り検査のみによつて保証され
る従来のIDカードの信頼性は、IC製造工程及び
モジユール製造工程の信頼性に依存するのみであ
り、最終製品全部についての信頼性を検査するこ
とはできなかつた。ところが、IDカードは銀行、
クレジツトなど金銭に関するデータの入出力が多
く書込みデータの誤りが全くあつてはならない分
野に用いることが多いので、全数検査の必要性が
ある。それにも拘らず、従来のものは前述の理由
で全数検査ができず、製品の信頼性を保証するこ
とが極めて困難である欠点があつた。
る従来のIDカードの信頼性は、IC製造工程及び
モジユール製造工程の信頼性に依存するのみであ
り、最終製品全部についての信頼性を検査するこ
とはできなかつた。ところが、IDカードは銀行、
クレジツトなど金銭に関するデータの入出力が多
く書込みデータの誤りが全くあつてはならない分
野に用いることが多いので、全数検査の必要性が
ある。それにも拘らず、従来のものは前述の理由
で全数検査ができず、製品の信頼性を保証するこ
とが極めて困難である欠点があつた。
本発明は製品全数に対し、書込み読取り機能検
査を行なつた後、良品をさらにＸ線又はβ線によ
り消去し、その後完全消去がされたかどうかの検
査をすることにより、従来の方法の上記の欠点を
除き、製品の全数の検査を行ない、製品の信頼性
を著しく高めることができるIDカードの検査方
法を提供することを目的と、するものである。
査を行なつた後、良品をさらにＸ線又はβ線によ
り消去し、その後完全消去がされたかどうかの検
査をすることにより、従来の方法の上記の欠点を
除き、製品の全数の検査を行ない、製品の信頼性
を著しく高めることができるIDカードの検査方
法を提供することを目的と、するものである。
本発明は、EPROM回路が、不透明な層にてお
おわれて内蔵されているIDカードの検査方法に
おいて、前記EPROM回路に特定のデータを書込
んだ後、該書込みデータを読取り前記特定のデー
タと比較し書込み読取り機能の良否を判定して良
品を選び出し、さらに該良品に書込まれたデータ
をＸ線又はβ線を用いて消去した後、再度読取り
を行い前記書込みデータが完全に消去されている
ことにより良品であるとの判定を行なうことを特
徴とするIDカードの検査方法である。
おわれて内蔵されているIDカードの検査方法に
おいて、前記EPROM回路に特定のデータを書込
んだ後、該書込みデータを読取り前記特定のデー
タと比較し書込み読取り機能の良否を判定して良
品を選び出し、さらに該良品に書込まれたデータ
をＸ線又はβ線を用いて消去した後、再度読取り
を行い前記書込みデータが完全に消去されている
ことにより良品であるとの判定を行なうことを特
徴とするIDカードの検査方法である。
本発明の実施例につき図面を用いて説明する。
図において、Ｓはシステムコントロールユニツ
ト、１はIDカードの送出し機構、２は外観検査
機構、３は書込み読取り照合機能検査機構、４は
消去機構、５は消去確認機構、６は仕分け機構、
７はコンベヤである。
図において、Ｓはシステムコントロールユニツ
ト、１はIDカードの送出し機構、２は外観検査
機構、３は書込み読取り照合機能検査機構、４は
消去機構、５は消去確認機構、６は仕分け機構、
７はコンベヤである。
送り出し機構１は、EPROM回路を内蔵して完
成した製品のIDカード８を収納するトレイ９と、
下端よりIDカード８を一枚づつ押出してコンベ
セ７に供給する供給機１０を有する。１ａは送出
しコントロールユニツトである。外観検査機構２
においてはビデオカメラ１１，１２を備え、外観
検査コントロールユニツト１３を有する。書込み
読取り照合機能検査機構３には、プローブユニツ
ト１４とデータ書込み確認コントロールユニツト
１５を備えている。プローブユニツト１４は矢印
の如く前進、上昇、後退、下降を繰返し、IDカ
ード８の上に下降してＡの位置にて接触し、ID
カード８の移動と共にプローブユニツト１４も移
動し、その間に外部端子を経て内蔵せるEPROM
回路に、テスト用の所定のデータを書込む。プロ
ーブユニツト１４がＢの位置に達するまでの間に
書込まれたデータを読取り、所定のデータと比較
照合して同一であれば良品として次に移送せし
め、異なれば不良品として除去する。プローブユ
ニツト１４はＢ位置にて上昇し、再びＡ位置に戻
る。プローブユニツト１４が複数個あれば連続的
に検査を行なうことができる。
成した製品のIDカード８を収納するトレイ９と、
下端よりIDカード８を一枚づつ押出してコンベ
セ７に供給する供給機１０を有する。１ａは送出
しコントロールユニツトである。外観検査機構２
においてはビデオカメラ１１，１２を備え、外観
検査コントロールユニツト１３を有する。書込み
読取り照合機能検査機構３には、プローブユニツ
ト１４とデータ書込み確認コントロールユニツト
１５を備えている。プローブユニツト１４は矢印
の如く前進、上昇、後退、下降を繰返し、IDカ
ード８の上に下降してＡの位置にて接触し、ID
カード８の移動と共にプローブユニツト１４も移
動し、その間に外部端子を経て内蔵せるEPROM
回路に、テスト用の所定のデータを書込む。プロ
ーブユニツト１４がＢの位置に達するまでの間に
書込まれたデータを読取り、所定のデータと比較
照合して同一であれば良品として次に移送せし
め、異なれば不良品として除去する。プローブユ
ニツト１４はＢ位置にて上昇し、再びＡ位置に戻
る。プローブユニツト１４が複数個あれば連続的
に検査を行なうことができる。
消去機構４においてはＸ線消去コントロールユ
ニツト１６と、鉛隔壁１７の中に設置されたＸ線
照射器１８より成り、IDカード８のIC部分のみ
Ｘ線を照射してデータを消去するようになつてい
る。Ｘ線の代りにβ線、γ線、遠紫外線或いは他
の放射線であつて、カードのプラスチツク層を透
過し、EPROMを消去することが可能であり、か
つ回路を破壊しない線を用いてもよい。放射性物
質から放射される放射線を利用してもよい。利用
する線の強さが強過ぎる場合は、フイルタなどで
適当に弱めればよい。
ニツト１６と、鉛隔壁１７の中に設置されたＸ線
照射器１８より成り、IDカード８のIC部分のみ
Ｘ線を照射してデータを消去するようになつてい
る。Ｘ線の代りにβ線、γ線、遠紫外線或いは他
の放射線であつて、カードのプラスチツク層を透
過し、EPROMを消去することが可能であり、か
つ回路を破壊しない線を用いてもよい。放射性物
質から放射される放射線を利用してもよい。利用
する線の強さが強過ぎる場合は、フイルタなどで
適当に弱めればよい。
消去確認機構５においては、消去確認コントロ
ールユニツト１９と、矢印の如く前進、上昇、後
退、降下を繰返すプローブユニツト２０が備えら
れている。プローブユニツト２０は下降してＣの
位置でIDカード８に接触し、これと共に移動す
る。移動中にEPROM回路中の末消去データの有
無を読取り、書込み読取り照合機能検査機構３に
おいて書込んだデータが全て消去されて残留して
いなければ良品、一部でも残留していれば不良品
と判断し、次の仕分け機構６において良品トレイ
２１と不良品トレイ２２の中に仕分ける。プロー
ブユニツト２０が複数個あれば連続的に検査を行
なうことができる。
ールユニツト１９と、矢印の如く前進、上昇、後
退、降下を繰返すプローブユニツト２０が備えら
れている。プローブユニツト２０は下降してＣの
位置でIDカード８に接触し、これと共に移動す
る。移動中にEPROM回路中の末消去データの有
無を読取り、書込み読取り照合機能検査機構３に
おいて書込んだデータが全て消去されて残留して
いなければ良品、一部でも残留していれば不良品
と判断し、次の仕分け機構６において良品トレイ
２１と不良品トレイ２２の中に仕分ける。プロー
ブユニツト２０が複数個あれば連続的に検査を行
なうことができる。
運転に当たつては、トレイ９より一つづつコン
ベヤ７上に供給されたIDカード８は連続的に右
方へ移動し、外観検査機構２において表裏の外形
寸法、IC端子位置寸法、磁気ストライプ位置寸
法及び絵柄（デザイン）等の外観検査を行なう。
裏面の外観検査を行なう場合にはコンベヤ８のベ
ルトは透明なものを用いる。又は、カードを反転
させる機構をもうけても良い。不合格品は除去さ
れ、合格品がそのまま移動する。
ベヤ７上に供給されたIDカード８は連続的に右
方へ移動し、外観検査機構２において表裏の外形
寸法、IC端子位置寸法、磁気ストライプ位置寸
法及び絵柄（デザイン）等の外観検査を行なう。
裏面の外観検査を行なう場合にはコンベヤ８のベ
ルトは透明なものを用いる。又は、カードを反転
させる機構をもうけても良い。不合格品は除去さ
れ、合格品がそのまま移動する。
書込み読取り照合機能検査機構３においてはＡ
位置でテスト用データが書込まれ、Ｂ位置までに
読出されて比較照合され、書込みデータと読出し
データの一致しないものを不良品として排除し、
良品のみを移送する。
位置でテスト用データが書込まれ、Ｂ位置までに
読出されて比較照合され、書込みデータと読出し
データの一致しないものを不良品として排除し、
良品のみを移送する。
消去機構４においては、IC部分にＸ線を照射
してデータを消去する。
してデータを消去する。
消去確認機構４においては、外部端子を通して
データを読出し、書込み読取り照合機能検査機構
３において書込んだデータが完全に消去されてい
れば良、残つているデータがあれば不良として仕
分け機構６において仕分けるようになつている。
データを読出し、書込み読取り照合機能検査機構
３において書込んだデータが完全に消去されてい
れば良、残つているデータがあれば不良として仕
分け機構６において仕分けるようになつている。
本発明により、製品のIDカード全数に対して、
書込み読出し照合を行なつて書込み機能の検査を
行ない、その上消去して空白状態に戻つたことを
確認する検査も併せ行なうので製品の信頼性を著
しく高めることができるIDカードの検査方法を
提供することができ、実用上極めて大なる効果を
奏する。
書込み読出し照合を行なつて書込み機能の検査を
行ない、その上消去して空白状態に戻つたことを
確認する検査も併せ行なうので製品の信頼性を著
しく高めることができるIDカードの検査方法を
提供することができ、実用上極めて大なる効果を
奏する。
図面は本発明の実施例のフロー図である。
１……送出し機構、１ａ……送出しコントロー
ルユニツト、２……外観検査機構、３……書込み
読取り照合機能検査機構、４……消去機構、５…
…消去確認機構、６……仕分け機構、７……コン
ベヤ、８……IDカード、９……トレイ、１０…
…供給機、１１，１２……ビデオカメラ、１３…
…外観検査コントロールユニツト、１４……プロ
ーブユニツト、１５……データ書込み確認コント
ロールユニツト、１６……Ｘ線消去コントロール
ユニツト、１７……鉛隔壁、１８……Ｘ線照射
器、１９……消去確認コントロールユニツト、２
０……プローブユニツト、２１……良品トレイ、
２２……不良品トレイ。
ルユニツト、２……外観検査機構、３……書込み
読取り照合機能検査機構、４……消去機構、５…
…消去確認機構、６……仕分け機構、７……コン
ベヤ、８……IDカード、９……トレイ、１０…
…供給機、１１，１２……ビデオカメラ、１３…
…外観検査コントロールユニツト、１４……プロ
ーブユニツト、１５……データ書込み確認コント
ロールユニツト、１６……Ｘ線消去コントロール
ユニツト、１７……鉛隔壁、１８……Ｘ線照射
器、１９……消去確認コントロールユニツト、２
０……プローブユニツト、２１……良品トレイ、
２２……不良品トレイ。
Claims (1)
- １ EPROM回路が、不透明な層にておおわれて
内蔵されているIDカードの検査方法において、
前記EPROM回路に特定のデータを書込んだ後、
該書込みデータを読取り前記特定のデータと比較
し書込み読取り機能の良否を判定して良品を選び
出し、さらに該良品に書込まれたデータをＸ線、
β線、遠紫外線又はγ線を用いて消去した後、再
度読取りを行い前記書込みデータが完全に消去さ
れていることにより良品であるとの判定を行なう
ことを特徴とするIDカードの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57227576A JPS59121486A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | Ｉｄカ−ドの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57227576A JPS59121486A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | Ｉｄカ−ドの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59121486A JPS59121486A (ja) | 1984-07-13 |
| JPH0234075B2 true JPH0234075B2 (ja) | 1990-08-01 |
Family
ID=16863075
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57227576A Granted JPS59121486A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | Ｉｄカ−ドの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59121486A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2523007B2 (ja) * | 1988-12-26 | 1996-08-07 | 株式会社セガ・エンタープライゼス | カ―ド読み書き装置のチェック方法 |
| JP2767610B2 (ja) * | 1989-06-17 | 1998-06-18 | 大日本印刷株式会社 | Ｉｃカードのテスト装置 |
| US6394346B1 (en) | 1999-10-07 | 2002-05-28 | Cubic Corporation | Contactless smart card high production encoding machine |
| FR2808878B1 (fr) * | 2000-05-11 | 2002-09-06 | Gemplus Card Int | Procede et dispositif de controle de la fiabilite et de la resistance a la fatigue de circuits electroniques conditionnes sous forme de bande |
| JP4706220B2 (ja) | 2004-09-29 | 2011-06-22 | ソニー株式会社 | 情報処理装置および方法、記録媒体、並びにプログラム |
| JP2011008324A (ja) * | 2009-06-23 | 2011-01-13 | Hioki Ee Corp | 測定データ記録装置および判定方法 |
-
1982
- 1982-12-28 JP JP57227576A patent/JPS59121486A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59121486A (ja) | 1984-07-13 |
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