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JPH0238933B2 - JIDOSHOTENKENSHUTSUSOCHI - Google Patents
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JPH0238933B2 - JIDOSHOTENKENSHUTSUSOCHI - Google Patents

JIDOSHOTENKENSHUTSUSOCHI

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JPH0238933B2
JPH0238933B2 JP15259484A JP15259484A JPH0238933B2 JP H0238933 B2 JPH0238933 B2 JP H0238933B2 JP 15259484 A JP15259484 A JP 15259484A JP 15259484 A JP15259484 A JP 15259484A JP H0238933 B2 JPH0238933 B2 JP H0238933B2
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JP
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shift
focus
distance measurement
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circuit
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JP15259484A
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Japanese (ja)
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Kunihiko Araki
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明はカメラ等の光学装置における自動焦点
検出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical Field) The present invention relates to an automatic focus detection device in an optical device such as a camera.

(従来技術) 従来、自動焦点検出装置は基線長距離計式焦点
検出光学系を有していてミラーを動かして2重像
合致方式で合焦位置を検出するものや、撮影レン
ズ射出瞳分解によるTTL(Through The
Taking Lens)方式の焦点検出光学系を有して
いて撮影レンズ又は光学素子群を前後に動かして
2重像合致方式で合焦位置を検出するものがあ
る。しかし、これらの自動焦点検出装置では合焦
位置を検出するだけでレンズの合焦位置からのズ
レ量、つまりデフオーカス量を測定することがで
きず、ミラー、撮影レンズ、光電素子群を動かす
必要があつた。また、特開昭54−113334号公報に
は結像レンズが物体を像面上に結像させることが
できる全距離範囲のうち所望の距離範囲選択部で
選択し、結像レンズあるいは受光素子を移動させ
ながら結像レンズ、受光素子を含む再現部で被写
体像のコントラストを検出し、この再現部の出力
信号から前記距離範囲選択部で選択された距離範
囲において結像レンズの合焦位置を検出する自動
焦点検出装置が記載されている。この自動焦点検
出装置では3次元被写体に対して任意の距離範囲
を距離範囲選択部で選択してその距離範囲で結像
レンズの合焦位置を検出することができる。しか
し、結像レンズあるいは受光素子を移動させなが
ら被写体像のコントラストを検出して結像レンズ
の合焦位置を検出するので、結像レンズあるいは
受光素子を移動させずに3次元被写体に対する複
数の合焦位置を検出することはできず、距離範囲
選択部で選択した距離範囲で合焦位置を検出する
ために結像レンズあるいは受光素子を移動させな
ければならない。
(Prior art) Conventionally, automatic focus detection devices have a baseline long-distance meter type focus detection optical system and detect the focus position by moving a mirror and using a double image matching method, or a device that detects the focus position by moving a mirror and using a double image matching method. TTL (Through The
Some cameras have a focus detection optical system of the "Taking Lens" type and detect the focus position using a double image matching method by moving the taking lens or optical element group back and forth. However, these automatic focus detection devices only detect the in-focus position, but cannot measure the amount of deviation of the lens from the in-focus position, in other words, the amount of defocus; it is necessary to move the mirror, photographing lens, and photoelectric element group. It was hot. Furthermore, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 54-113334, a desired distance range is selected from the entire distance range in which the imaging lens can image an object on the image plane, and the imaging lens or light receiving element is selected. While moving, a reproduction section including an imaging lens and a light receiving element detects the contrast of the object image, and from the output signal of this reproduction section, the focal position of the imaging lens is detected within the distance range selected by the distance range selection section. An automatic focus detection device is described. In this automatic focus detection device, an arbitrary distance range with respect to a three-dimensional object can be selected by the distance range selection section, and the in-focus position of the imaging lens can be detected within that distance range. However, since the focusing position of the imaging lens is detected by detecting the contrast of the object image while moving the imaging lens or the light receiving element, it is possible to focus multiple images on a three-dimensional object without moving the imaging lens or the light receiving element. The focal position cannot be detected, and the imaging lens or light receiving element must be moved to detect the focal position within the distance range selected by the distance range selection section.

(目的) 本発明の目的はレンズ等を動かす必要が無く、
かつ3次元被写体に対してその遠近の分布に応じ
て複数のデフオーカス量を検出することができて
そのうち1つのデフオーカス量を任意に選択する
ことができる自動焦点検出装置を提供することに
ある。
(Purpose) The purpose of the present invention is to eliminate the need to move lenses, etc.
Another object of the present invention is to provide an automatic focus detection device that is capable of detecting a plurality of differential focus amounts for a three-dimensional object according to its far and near distribution, and arbitrarily selecting one of the differential focus amounts.

(構成) 以下本発明について実施例をあげて図面を参照
しながら説明する。
(Structure) The present invention will be described below by giving examples and referring to the drawings.

第1図はカメラにおける撮影レンズ射出瞳分割
によるTTL方式焦点検出光学系の一例を示す。
FIG. 1 shows an example of a TTL focus detection optical system using exit pupil division of a photographing lens in a camera.

コンデンサーレンズ11、微小なレンズ群12
よりなる瞳分割光学系により撮影レンズ13の射
出瞳14が分割されて射出瞳14の一部14A,
14Bを通過する撮影レンズ13の結像作用光線
がA群の微小な光電素子A1〜AnとB群の微小な
光電素子B1〜Bnに対応して入射する。これらの
光電素子はA1とB1,A2とB2…AnとBnがそれぞ
れ対になつており、この対になつている2つの光
電素子にはピント検出面の同一場所に入射する光
線のうち射出瞳14の一部14A,14Bを通過
する結像作用光線が対応して入射する。
Condenser lens 11, minute lens group 12
The exit pupil 14 of the photographing lens 13 is divided by a pupil division optical system consisting of a part 14A of the exit pupil 14,
The image-forming light beam of the photographic lens 13 passing through 14B is incident on the minute photoelectric elements A 1 to An of the A group and the minute photoelectric elements B 1 to Bn of the B group. These photoelectric elements are paired with A 1 and B 1 , A 2 and B 2 . . . An and Bn, respectively, and the two photoelectric elements in the pair receive light rays incident on the same location on the focus detection surface. Of these, the imaging effect rays that pass through portions 14A and 14B of the exit pupil 14 enter correspondingly.

第2図は撮影レンズ射出瞳分割によるTTL方
式焦点検出光学系の他の例を示す。
FIG. 2 shows another example of a TTL focus detection optical system using exit pupil division of the photographic lens.

この例では射出瞳14の一部14Aを通過した
結像作用光線がハーフミラー15、プリズム1
6、結像レンズ17を通つて光電素子A1〜Anに
入射し、射出瞳14の一部14Bを通過した結像
作用光線がハーフミラー15で反射されてプリズ
ム18、結像レンズ19を通つて光電素子B1
Bnに入射する。
In this example, the image-forming light beam that has passed through a part 14A of the exit pupil 14 passes through the half mirror 15 and the prism 1.
6. The imaging action light ray enters the photoelectric elements A 1 to An through the imaging lens 17 and passes through a part 14B of the exit pupil 14, is reflected by the half mirror 15, and passes through the prism 18 and the imaging lens 19. Photoelectric element B 1 ~
Incident to Bn.

第3図は基線長距離計式焦点検出光学系の一例
を示す。
FIG. 3 shows an example of a baseline long distance meter type focus detection optical system.

光電素子A1〜Anは被写体からの光線がミラー
20、レンズ21、プリズム22を介して入射
し、光電素子B1〜Bnは被写体からの光線がミラ
ー23、レンズ24、プリズム22を介して入射
する。
The light rays from the subject are incident on the photoelectric elements A 1 to An through the mirror 20, the lens 21, and the prism 22, and the light rays from the subject are incident on the photoelectric elements B1 to Bn through the mirror 23, the lens 24, and the prism 22. do.

光電素子A1〜Az,B1〜Bnはホトダイオードア
レイ、CCD,BBD等が用いられる。
For the photoelectric elements A 1 to Az and B 1 to Bn, a photodiode array, CCD, BBD, or the like is used.

各光電素子群A1〜An,B1〜Bnの出力より形
成されるパターン,の位相ズレj′が0になつ
た2重像合致時が合焦である。今、焦点がある位
置にあつてパターン,が第4図のようになつ
たとすると、パターン,の位相ズレj′を検出
すればそれよりデフオーカス量eを知ることがで
きる。j′は2次元(平面)被写体の場合には第4
図aのように1つの値しかとらないが、2次元
(立体)被写体の場合には第4図bのように複数
の値j1′,j2′をとる。
Focus is reached when the double images match when the phase shift j' of the patterns formed from the outputs of the photoelectric element groups A 1 -An, B 1 -Bn becomes 0. Assuming that the focal point is now at a certain position and the pattern is as shown in FIG. 4, the amount of defocus e can be determined by detecting the phase shift j' of the pattern. j′ is the fourth value in the case of a two-dimensional (plane) object.
As shown in Figure 4, only one value is taken, but in the case of a two-dimensional (stereoscopic) object, multiple values j1 ' and j2 ' are taken as shown in Figure 4b.

j′とeの関係はTTL方式焦点検出光学系では e∝j′/2θF=j′×F(D=f/F≒2θF×f) となる。ただし、Fは測距F値であり、第5図の
ようにDは測距射出瞳有効径、fは撮影レンズ1
3の焦点距離、2θFは合焦位置から射出瞳14A,
14Bを見た角度である。デフオーカス量eは合
焦面Pからピント検出面PDまでの距離であり、
第5図のように測距F値モードの切換によりFが
F1からF2になつた場合には例えばj′にF2/F1を掛け て補正してj′とeとの関係を一定にする必要があ
る。又基線長距離計方式焦点光学系では基準長を
Lとすればe∝j′/Lとなる。
In the TTL focus detection optical system, the relationship between j' and e is e∝j'/2θ F =j'×F (D=f/F≒2θ F ×f). However, F is the distance measurement F value, D is the distance measurement exit pupil effective diameter, and f is the photographing lens 1 as shown in Figure 5.
3 focal length, 2θ F is the exit pupil 14A from the focus position,
This is the angle when looking at 14B. The differential focus amount e is the distance from the focus plane P to the focus detection plane PD,
As shown in Figure 5, F is changed by switching the distance measurement F value mode.
When the value changes from F 1 to F 2 , it is necessary to correct the relationship between j' and e by multiplying j' by F 2 /F 1 , for example, to make the relationship between j' and e constant. In addition, in the baseline long distance meter type focusing optical system, if the reference length is L, then e∝j'/L.

焦点が任意の位置にある時に光電素子群A1
An,B1〜Bnの出力よりj′を求めるにはA群の光
電素子A1〜AnとB群の光電素子B1〜Bnの出力a1
〜an,b1〜bnを一組のメモリに数列として各々
記憶し、その一方の数列に対して他方の数列をシ
フトしてそれらの相関度を検定すればよい。そし
てこれらの相関度を検定するには演算式Yイ=Σ
(ai−bi)q又はYロ=Σ{(ai−bi+1)p−(ai+1
−bi)p}を使用することができる。但しP=1、
2、3…であり、Pが奇数の時にYイ=Σ|ai−
bi|q又はYロ=Σ{|ai−bi+1|p−|ai+1−
bi|p}とする。第4図に示す光電素子群A1
An,B1〜Bnの出力の相関度を上記演算式で演算
した結果Yイ、Yロを第6図に示す。第6図a,
bは2次元被写体の場合〔第4図a〕についての
演算結果を示し、第6図c,dは3次元被写体の
場合〔第4図b〕についての演算結果を示す。3
次元被写体の場合被体の遠近の構成の伴いj′が複
数個発生するが、演算結果Yイによるとそれらの
全てを検出でき、演算結果Yロによると被写体遠
近分布の比率に応じてその中間位置を検出でき
る。
When the focus is at an arbitrary position, the photoelectric element group A 1 ~
To obtain j' from the outputs of An, B 1 to Bn, the outputs a 1 of the photoelectric elements A 1 to An of group A and the photoelectric elements B 1 to Bn of group B
~an, b 1 ~bn may be stored in a set of memories as a number sequence, and the degree of correlation between them may be tested by shifting one number sequence relative to the other number sequence. To test the degree of correlation between these, use the formula Y = Σ
(ai−bi) q or Y lo = Σ{(ai−bi+1) p −(ai+1
−bi) p } can be used. However, P=1,
2, 3..., and when P is an odd number, Y = Σ|ai−
bi| q or Y lo = Σ{|ai−bi+1| p −|ai+1−
Let bi| p }. Photoelectric element group A 1 ~ shown in FIG.
The correlation degrees of the outputs of An, B 1 to Bn are calculated using the above calculation formula, and the results Ya and Yb are shown in FIG. Figure 6a,
6b shows the calculation results for a two-dimensional object [FIG. 4a], and FIGS. 6c and d show the calculation results for a three-dimensional object [FIG. 4b]. 3
In the case of a dimensional object, multiple j′ occur due to the distance composition of the object, but according to the calculation result YA, all of them can be detected, and according to the calculation result YB, the intermediate j' can be detected depending on the ratio of the object perspective distribution. Can detect location.

第7図は本発明の一実施例における電気回路を
示す。
FIG. 7 shows an electrical circuit in one embodiment of the invention.

この実施例では第1図の焦点検出光学系が用い
られ、光電素子群A1〜An,B1〜BnはCCD25
により構成されている。CCD25はコントロー
ル回路26により駆動され光電素子群A1〜An、
B1〜Bnに相当するホトセンサー群27で各入射
光を光電変換して積分し並列にシフトレジスタ2
8に転送して直列に出力する。CCD25の出力
信号a1〜an、b1〜bnはA/D変換器29により
デイジタル信号に変換されてメモリ30,31に
記憶される。この場合メモリ30にはA群の信号
a1〜anが記憶され、同時にメモリ31にB群の
信号b1〜bnが記憶される。メモリ30の出力信
号はメモリ32に転送され、さらにメモリ33に
転送される。メモリ31の出力信号はシフト回路
34でメモリ30の出力信号よりシフトされてメ
モリ35に転送され、さらにモリ36に転送され
る。メモリ30〜33,35,36は信号を同期
して転送し、メモリ32,33,35,36は1
ワード構成となつている。従つてメモリ33内の
信号がaiであればメモリ32の内容はai+1とな
り、メモリ35,36の内容はbi+1−j、bi−
jとなる。ここにjはシフト回路34のシフト量
である。メモリ33,36の出力信号は差動回路
37で差がとられ、その出力信号が累乗回路38
でq乗されて積算回路39で積算されることによ
つてYイ=Σ(ai−bi−j)qなる演算が行なれる。
この演算は各シフト量jについてくり返して行な
われ、コントロール回路26はシフト量jを順次
変化させて行く。ピーク検出回路40は積算路3
9の出力信号のピーク値近傍の第6図aのような
値Yj(min)−1、Yj(min)、Yj(min)+1これら
に対応するシフト量j(min)−1、j(min)+1
を検出する。一方、メモリ33,35の出力信号
は差動回路41で差がとられ、その出力が累乗回
路42でp乗される。又メモリ32,36の出力
信号は差動回路43で差がとられ、その出力が累
乗回路44p乗されて差動回路45で累乗回路4
2の出力との差がとられる。そしてこの差動回路
45の出力が積算回路46で積算されYロ=Σ
{(ai−bi+1−j)p−(ai+1bi−j)p}なる演算
がなされる。この演算は各シフト量jについてく
り返して行なわれる。ゼロクロス検出回路47は
積算回路46の出力信号のゼロ近傍の第6図bの
ような値Yj1′,Yj2′とこれらに対応するシフト量
jロ1,jロ2を検出する。j′演算回路48はピー
ク値検出回路40の出力(j(min)−1、Yj
(min)−1)、(j(min)、Yj(min))、(j(min

+1、Yj(min)+1に対してはこれらより近似2
次曲線Y=Cj2+Dj+Eを求めてそのピーク位置
のYイj′とそれに対応するj′の値jイ(=−D/2C) を算出し、ゼロクロス検出回路47の出力(j
ロ、Yj1′)(jロ2、Yj2′)に対してはこれらを直
線近似してj′ロ=j′ロ1=jロ1−jロ2/Yj1′−Yj2
×Yj1′を算 出する。
In this embodiment, the focus detection optical system shown in FIG.
It is made up of. The CCD 25 is driven by the control circuit 26 and the photoelectric element groups A1 to An,
Each incident light is photoelectrically converted and integrated by the photosensor group 27 corresponding to B1 to Bn, and then sent to the shift register 2 in parallel.
8 and output in series. The output signals a 1 -an, b 1 -bn of the CCD 25 are converted into digital signals by the A/D converter 29 and stored in the memories 30 and 31. In this case, the memory 30 contains the signals of group A.
a 1 to an are stored, and at the same time, signals b 1 to bn of group B are stored in the memory 31. The output signal of memory 30 is transferred to memory 32 and then to memory 33. The output signal of the memory 31 is shifted by the shift circuit 34 from the output signal of the memory 30, transferred to the memory 35, and further transferred to the memory 36. Memories 30 to 33, 35, and 36 synchronously transfer signals, and memories 32, 33, 35, and 36
It has a word structure. Therefore, if the signal in the memory 33 is ai, the contents of the memory 32 will be ai+1, and the contents of the memories 35 and 36 will be bi+1-j, bi-
becomes j. Here, j is the shift amount of the shift circuit 34. The difference between the output signals of the memories 33 and 36 is taken by a differential circuit 37, and the output signal is sent to a power circuit 38.
By raising the value to the q power and integrating it in the integration circuit 39, the calculation Yi=Σ(ai-bi-j) q can be performed.
This calculation is repeated for each shift amount j, and the control circuit 26 sequentially changes the shift amount j. The peak detection circuit 40 is the integration path 3
The values Yj(min)-1, Yj(min), Yj(min)+1 near the peak value of the output signal of No. 9 as shown in FIG. )+1
Detect. On the other hand, a differential circuit 41 calculates the difference between the output signals of the memories 33 and 35, and the output is raised to the pth power by a power circuit 42. Further, the difference between the output signals of the memories 32 and 36 is taken by a differential circuit 43, and the output is raised to the power of a power circuit 44p and then sent to the power circuit 4 by a differential circuit 45.
The difference between the two outputs is taken. Then, the output of this differential circuit 45 is integrated by an integration circuit 46, and Ylo=Σ
The following calculation is performed: {(ai−bi+1−j) p −(ai+1bi−j) p }. This calculation is repeated for each shift amount j. The zero cross detection circuit 47 detects the values Yj 1 ', Yj 2 ' near zero of the output signal of the integration circuit 46 as shown in FIG. 6b, and the corresponding shift amounts j 1 and j 2 . The j′ arithmetic circuit 48 calculates the output of the peak value detection circuit 40 (j(min)−1, Yj
(min)−1), (j(min), Yj(min)), (j(min)
)
+1, Yj (min) +1 is approximated by these 2
The next curve Y=Cj 2 +Dj+E is determined, and the peak position Yj' and the corresponding value j' of j' (=-D/2C) are calculated, and the output of the zero cross detection circuit 47 (j
, Yj 1 ′) (j ro 2 , Yj 2 ′), by linear approximation of these, j ′ ro = j ′ ro 1 = j ro 1 − j ro 2 /Yj 1 ′−Yj 2
Calculate ×Yj 1 ′.

jイ′は3次元被写体に対して複数のj1′,j2′…
…jn′遠方の被写体になるにつれてj1′>j2′>……
jn′という具合にjイ′が小さい値をとるようにす
ると、jイ′の小さい方又は大きい方を選択して
被写体の遠、近を優先させて合焦位置を検出する
ことが可能となる、またYイj′の値の最小値をコ
ントロール回路26で選択することにより上記相
関度が最も大きいj′イを選択することができる。
j′ロは3次元被写体に対して遠近被写体分布の平
均位置を示すので、測距モードとして例えば遠、
近、平均の各重点モードを用意してこれらのうち
の1つを測距モード設定部49で選択的に設定す
れば測距モード設定部49からの各モード設定信
号に応じてコントロール回路26でj′を選択する
ことによりいかなる被写体にも対応することがで
きる。この場合コントロール回路26は遠重点モ
ード又は近重点モードが設定された時にはjイ′
の小さい方の値又は大きい方の値を選択し、平均
重点モードが設定された時にはjイ′を選択し、
通常はYイの最小値に対応するjイ′を選択する
ことになる。
j ′ is a plurality of j 1 ′, j 2 ′... for a three-dimensional object.
…jn′As the subject becomes more distant, j 1 ′>j 2 ′>……
By setting j' to a small value such as jn', it is possible to select the smaller or larger value of j' and prioritize the far and near subjects to detect the in-focus position. , and by selecting the minimum value of the values of Yij' by the control circuit 26, j'i with the highest degree of correlation can be selected.
Since j′ b indicates the average position of the near and far subject distribution for a three-dimensional subject, for example, far,
By preparing near and average priority modes and selectively setting one of them in the distance measurement mode setting section 49, the control circuit 26 can select one of them in response to each mode setting signal from the distance measurement mode setting section 49. By selecting j′, it is possible to correspond to any subject. In this case, the control circuit 26 controls j' when the far point mode or the near point mode is set.
Select the smaller value or the larger value of , and when the average emphasis mode is set, select j',
Normally, j' corresponding to the minimum value of Y is selected.

ピーク検出回路40でピーク検出を行なう時に
シフト回路34で信号b1〜bnをシフトする方向
は信号b1〜bnを1回シフトさせることにより積
算回路39の出力Yイの傾きが判るので、コント
ロール回路26でそれにもとづいてシフト方向を
シト量が少なくなるように決定することができ
る。但し3次元被写体の時は第6図cのようにY
イのピーク値が1つにならないので、シフトを全
量行なう必要がある。ゼロクロス検出回路47で
ゼロクロス検出を行なう時は信号b1〜bnをシフ
トしないても(j=0でも)Yロの正負によりコ
ントロール回路26でシフト方向をシフト量が少
なくなるように決定することができる。
When the peak detection circuit 40 performs peak detection, the direction in which the signals b 1 to bn are shifted by the shift circuit 34 can be controlled by shifting the signals b 1 to bn once to determine the slope of the output Y of the integrating circuit 39. Based on this, the circuit 26 can determine the shift direction so as to reduce the amount of shift. However, when shooting a 3D object, Y as shown in Figure 6c.
Since the peak value of A does not become one, it is necessary to shift the entire amount. When the zero-cross detection circuit 47 performs zero-cross detection, even if the signals b 1 to bn are not shifted (even if j=0), the control circuit 26 can determine the shift direction so that the amount of shift is smaller depending on the sign of Y-ro. can.

2回目以後の1回目と違つたレンズ位置での測
距時は撮影レンズを1回目の測距で合焦位置へ移
動させる限り必要なシフト量jは前回のシフト量
より大きくはならないので、最大シフト量をコン
トロール回路26で決めることができる。このよ
うにシフト方向、シフト量を決定することにより
演算速度を上げることができる。
When performing distance measurement at a different lens position from the first distance measurement, the necessary shift amount j will not be larger than the previous shift amount, so as long as the photographing lens is moved to the in-focus position in the first distance measurement, the maximum The amount of shift can be determined by the control circuit 26. By determining the shift direction and shift amount in this manner, calculation speed can be increased.

上記演算の範囲ORは第8図のように信号b1
bnがl−n≦j≦k−1の範囲でシフトされて
信号ak〜alに相対したものと信号ak〜alとにな
つている。シフト量jの最大値は、使用レンズの
最大繰り出し値の対応して決められ、通常|l−
n|=|k−1|である。
The range OR of the above calculation is as shown in Figure 8, where the signal b 1 ~
bn is shifted within the range l-n≦j≦k-1, and becomes the signal ak-al relative to the signal ak-al. The maximum value of the shift amount j is determined according to the maximum extension value of the lens used, and is usually |l−
n|=|k-1|.

第9図コントロール回路26から得られるデフ
オーカス量eとの関係を示す。
FIG. 9 shows the relationship with the amount of defocus e obtained from the control circuit 26.

又第10図はゼロクロス検出動作を示すフロー
チヤートである。信号b1〜bnのシフトは2進分
類法(逐次比較法)で行ない、最大シフト量
jmaxはjmax∝撮影レンズ最大繰出し量であつ
て、演算範囲が第8図の様になつていると共にj
とYロとの関係が第6図bのようになつているの
で、−(l−n)=k=1=J=jmax/2≦2Nより
必要最小限に決定する。まず積算回路46の出力
Yjが0であれば合焦位置にあるからj′=0とす
る。Yjが0でなければパラメータIをリセツト
しYjの正、負によりシフトの方向及び量を決定
してシフトを行なう。そしてYj=0になればj
=j′であるからシフトを終了する。Yj=0になら
なければシフト量をインクリメントして再び上記
動作を行なう。シフト量が最大値に達すると、
Yjの正、負に応じて積算回路46の出力信号の
ゼロ近傍の値Yj2′又はYj1′とシフト量jロ1,jロ
2よりj′=jロ1−jロ1−jロ2/Yj1′−Yj2′Yj2′な
る演算で j′を求める。ここにYj1′,Yj2′は、ゼロ近傍で最
も近い値でありjロ1、jロ2は、その時のシフト
量である。
FIG. 10 is a flowchart showing the zero-cross detection operation. Shifting of signals b 1 to bn is performed using binary classification method (successive approximation method), and the maximum shift amount is
jmax is jmax∝maximum extension amount of the photographing lens, and the calculation range is as shown in Figure 8, and j
Since the relationship between First, the output of the integration circuit 46
If Yj is 0, it is at the in-focus position, so j'=0. If Yj is not 0, the parameter I is reset, and the direction and amount of shift are determined based on the positive or negative value of Yj, and the shift is performed. And if Yj=0, then j
= j′, so the shift ends. If Yj does not become 0, the shift amount is incremented and the above operation is performed again. When the shift amount reaches the maximum value,
Depending on whether Yj is positive or negative, the near-zero value Yj 2 ′ or Yj 1 ′ of the output signal of the integration circuit 46 and the shift amount j 1 , j ro
2 , find j' by the operation j' = j lo 1 − j lo 1 − j lo 2 /Yj 1 ′−Yj 2 ′Yj 2 ′. Here, Yj 1 ′ and Yj 2 ′ are the closest values in the vicinity of zero, and j 1 and j 2 are the shift amounts at that time.

コントロール回路26は上記の如く選択した
j′とF値モード設定部50からのF値モード信号
よりデフオーカス量eを求めて表示装置51に表
示させると共に減算カウンター52にセツトし、
モーター駆動回路53に回転方向信号及び速度信
号を与えてモーター54を回転させ撮影レンズ1
3を移動させる。パルス発生器5は撮影レンズ1
3の移動量に比例した数のパルスを発生し、この
パルスにより減算カウンター52が減算される。
減算カンター52は0になると、モーター駆動回
路53に停止信号を送つてモーター54を停止さ
せ、これにより撮影レンズが合焦位置で停止す
る。F値モード設定部50からのF値モード信号
によりコントロール回路26がデフオーカス信号
を補正し、(又はF値モード信号によりパルス発
生器55の周期が制御されて)j′とeの関係がF
値モードの切換にかかわらず一定に制御される。
コントロール回路26はピント合わせ中には警告
装置56に警告表示を行なわせる。又メモリ36
の出力信号が積算回路57で積算されて除算回路
58で信号数で除算されることによりΣbi/iな
る演算が行なれて被写体の明るさが測定される。
コントロール回路26は除算回路58の出力信号
によりCCD25の積分時間を制御すると共に自
動露出回路59に測光信号を与えて露出を演算さ
せ、その出力により露出制御を行なう。
The control circuit 26 was selected as described above.
j' and the F-number mode signal from the F-number mode setting section 50, and displays the amount e on the display device 51, and sets it in the subtraction counter 52.
A rotation direction signal and a speed signal are given to the motor drive circuit 53 to rotate the motor 54 and the photographing lens 1 is rotated.
Move 3. Pulse generator 5 is photographing lens 1
A number of pulses proportional to the amount of movement of 3 are generated, and the subtraction counter 52 is subtracted by these pulses.
When the subtraction canter 52 becomes 0, it sends a stop signal to the motor drive circuit 53 to stop the motor 54, thereby stopping the photographing lens at the in-focus position. The control circuit 26 corrects the differential focus signal based on the F value mode signal from the F value mode setting section 50 (or the period of the pulse generator 55 is controlled by the F value mode signal), and the relationship between j' and e is changed to F.
Controlled constant regardless of value mode switching.
The control circuit 26 causes the warning device 56 to display a warning during focusing. Also memory 36
The output signals are integrated by the integrating circuit 57 and divided by the number of signals by the dividing circuit 58, thereby performing the calculation Σbi/i and measuring the brightness of the subject.
The control circuit 26 controls the integration time of the CCD 25 using the output signal of the division circuit 58, and also provides a photometry signal to the automatic exposure circuit 59 to calculate exposure, and performs exposure control based on its output.

(効果) 以上のように本発明によれば第1組の光電素子
群および第2組の光電素子群により被写体像を分
割して検出し、シフト手段により第1組の光電素
子群の力信号に対して前記第2組の光電素子群の
出力信号を相対的にシフトするので、レンズ等を
動かす必要が無くなる。しかも、シフト手段の各
シフト量毎に求めた積算値のうちのピーク値に対
応する前記シフト手段のシフト量を検出すること
によつてデフオーカス量を検出し、3次元の被写
体に対してはその遠近の分布に応じて複数のデフ
オーカス量を検出する演算手段を有するので、レ
ンズ等を動かさずに3次元被写体に対する複数の
デフオーカス量を検出することが可能となる。更
に、測距範囲が互いに異なる遠重点モード、平均
重点モード、近重点モードのうちの1つの測距モ
ードを任意に設定する測距モード設定部と、この
複数個のデフオーカス量のうち前記測距モード設
定部からの測距モード信号に応じたデフオーカス
量を選択するコントロール回路とを設けたので、
レンズ等を動かさずに3次元被写体に対する複数
のデフオーカス量のちの1つのデフオーカス量を
選択することができる。
(Effects) As described above, according to the present invention, the subject image is divided and detected by the first set of photoelectric element groups and the second set of photoelectric element groups, and the force signal of the first set of photoelectric element groups is detected by the shift means. Since the output signals of the second set of photoelectric elements are shifted relative to each other, there is no need to move lenses or the like. Furthermore, the amount of defocus is detected by detecting the shift amount of the shift means that corresponds to the peak value of the integrated value obtained for each shift amount of the shift means. Since it has a calculation means that detects a plurality of defofocus amounts according to the distance distribution, it is possible to detect a plurality of defofocus amounts for a three-dimensional object without moving the lens or the like. Furthermore, a distance measurement mode setting section for arbitrarily setting one of distance measurement modes among a far point mode, an average weight mode, and a near point mode having different distance measurement ranges, and a distance measurement mode setting section for arbitrarily setting one of distance measurement modes having different distance measurement ranges from each other; A control circuit is provided to select the amount of defocus according to the ranging mode signal from the mode setting section.
One defocus amount can be selected from a plurality of defocus amounts for a three-dimensional object without moving the lens or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図〜第3図は焦点検出光学系の各例を示す
正面図、第4図〜第6図は本発明を説明するため
の図、第7図は本発明の一実施例における電気回
路を示すブロツク図、第8図は同電気回路の演算
範囲を示す図、第9図、第10図は本発明を説明
するための図である。 25……CCD、26……コントロール回路、
29……A/D変換器、30〜33,35,36
……メモリ、34……シフト回路、37……差動
回路、40……ピーク検出回路、48……j′演算
回路。
Figures 1 to 3 are front views showing examples of focus detection optical systems, Figures 4 to 6 are diagrams for explaining the present invention, and Figure 7 is an electric circuit in one embodiment of the present invention. FIG. 8 is a diagram showing the calculation range of the electric circuit, and FIGS. 9 and 10 are diagrams for explaining the present invention. 25...CCD, 26...control circuit,
29...A/D converter, 30-33, 35, 36
...Memory, 34...Shift circuit, 37...Differential circuit, 40...Peak detection circuit, 48...J' operation circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 被写体像を分割して検出する第1組の光電素
子群および第2組の光電素子群と、 前記第1組の光電素子群の出力信号に対して前
記第2組の光電素子群の出力信号を相対的にシフ
トするシフト手段と、 このシフト手段により相対的にシフトされた第
1組の光電素子群の出力信号と第2組の光電素子
群の出力信号とについて対応する1対づつの光電
素子の出力信号の差分を累乗して積算し、前記シ
フト手段の各シフト量毎に求めた積算値のうちの
ピーク値に対応する前記シフト手段のシフト量を
検出することによつてデフオーカス量を検出し、
3次元の被写体に対してはその遠近の分布に応じ
て複数のデフオーカス量を検出する演算手段と、 測距範囲が互いに異なる遠重点モード、平均重
点モード、近重点モードのうちの1つの測距モー
ドを任意に設定する測距モード設定部と、 この複数個のデフオーカス量のうち前記測距モ
ード設定部からの測距モード信号に応じたデフオ
ーカス量を選択するコントロール回路と を備えたことを特徴とする自動焦点検出装置。
[Scope of Claims] 1. A first set of photoelectric element groups and a second set of photoelectric element groups that divide and detect a subject image; Shift means for relatively shifting the output signals of the photoelectric element groups, and the output signals of the first set of photoelectric element groups and the output signals of the second set of photoelectric element groups that are relatively shifted by the shift means. Differences between the output signals of the corresponding pairs of photoelectric elements are multiplied and integrated, and the shift amount of the shift means corresponding to the peak value of the integrated values obtained for each shift amount of the shift means is detected. By detecting the amount of defocus,
For a three-dimensional subject, there is a calculation means for detecting multiple amounts of defocus according to the distance distribution of the subject, and a distance measurement method in one of a far-focus mode, an average-focus mode, and a near-focus mode with different distance measurement ranges. It is characterized by comprising a distance measurement mode setting section for arbitrarily setting a mode, and a control circuit for selecting a differential focus amount from among the plurality of differential focus amounts according to a distance measurement mode signal from the distance measurement mode setting section. Automatic focus detection device.
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