JPH0243201B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0243201B2 JPH0243201B2 JP57112675A JP11267582A JPH0243201B2 JP H0243201 B2 JPH0243201 B2 JP H0243201B2 JP 57112675 A JP57112675 A JP 57112675A JP 11267582 A JP11267582 A JP 11267582A JP H0243201 B2 JPH0243201 B2 JP H0243201B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- value
- compensation
- input
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B11/00—Automatic controllers
- G05B11/01—Automatic controllers electric
- G05B11/36—Automatic controllers electric with provision for obtaining particular characteristics, e.g. proportional, integral, differential
- G05B11/42—Automatic controllers electric with provision for obtaining particular characteristics, e.g. proportional, integral, differential for obtaining a characteristic which is both proportional and time-dependent, e.g. P. I., P. I. D.
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ブレンダー等に用いられ、測定入力
の積算値と設定入力の積算値が一定の比率となる
ようにPI制御を行うブレンドコントローラに関
する。
の積算値と設定入力の積算値が一定の比率となる
ようにPI制御を行うブレンドコントローラに関
する。
最近のブレンドコントローラはマイクロプロセ
ツサを用いて構成され、プログラムによつてその
機能が実現されている。このようなブレンドコン
トローラを機能的に示したのが第1図のブロツク
線図である。第1図において、1はタービン流量
計等からの測定パルス入力PVを受ける測定用入
力端子、2は混合設定器等からの設定パルス入力
SVを受ける設定用入力端子、3,4は各々スケ
ーラで、スケーラ3は測定パルスPVにスケーリ
ング定数K1を乗じ、スケーラ4は設定パルスSV
にスケーリング定数K2を乗じて、スケーリング
を行いそれぞれ単位パルス(例えば10p/)に
直すものである。5は比率設定器で、スケーリン
グ定数K2が乗ぜられた設定パルスに比率αを乗
ずるものである。6は積算偏差検出回路で、スケ
ーリングされた測定パルスの積算値ΣPVと、ス
ケーリングされ比率が乗ぜられた設定パルスの積
算値ΣPVとの積算偏差ΣEoを検出するものであ
る。7ははPI演算回路で、比例ゲインをKP、積
算時間をTIとすると、制御周期Δt毎に次式で定
まる操作出力MVを発生し、制御弁(図示せず)
を操作するものである。
ツサを用いて構成され、プログラムによつてその
機能が実現されている。このようなブレンドコン
トローラを機能的に示したのが第1図のブロツク
線図である。第1図において、1はタービン流量
計等からの測定パルス入力PVを受ける測定用入
力端子、2は混合設定器等からの設定パルス入力
SVを受ける設定用入力端子、3,4は各々スケ
ーラで、スケーラ3は測定パルスPVにスケーリ
ング定数K1を乗じ、スケーラ4は設定パルスSV
にスケーリング定数K2を乗じて、スケーリング
を行いそれぞれ単位パルス(例えば10p/)に
直すものである。5は比率設定器で、スケーリン
グ定数K2が乗ぜられた設定パルスに比率αを乗
ずるものである。6は積算偏差検出回路で、スケ
ーリングされた測定パルスの積算値ΣPVと、ス
ケーリングされ比率が乗ぜられた設定パルスの積
算値ΣPVとの積算偏差ΣEoを検出するものであ
る。7ははPI演算回路で、比例ゲインをKP、積
算時間をTIとすると、制御周期Δt毎に次式で定
まる操作出力MVを発生し、制御弁(図示せず)
を操作するものである。
MV=KP(ΣEo+Δt/TIΣΣEo) ………(1)
このような構成のブレンドコントローラにおい
ては、制御周期Δtに対してパルス入力の周波数
が充分に高ければ分解能が高く、制御上問題はな
い。ところが、周波数が低くなつてくると分解能
が粗くなるので、第2図のタイムチヤートに示す
ようにパルスが入力される毎に積算偏差ΣEoが振
れて、操作出力のリツプルが大きくなり制御が安
定しないという問題がある。そのため、計器とし
て制御可能な周波数の下限が定められているが、
その周波数以下の発信器が使われることがあるの
が実情である。なお第2図のタイムチヤートにお
いては、説明を簡単にするためスケーリング定数
および比率はすべて1で、測定パルスPVと設定
パルスSVは等周期の低周期パルスでバランスし
ている場合で、かつ積算偏差ΣEoの測定値分ΣPV
と設定値分ΣSVとに分けて示してある。
ては、制御周期Δtに対してパルス入力の周波数
が充分に高ければ分解能が高く、制御上問題はな
い。ところが、周波数が低くなつてくると分解能
が粗くなるので、第2図のタイムチヤートに示す
ようにパルスが入力される毎に積算偏差ΣEoが振
れて、操作出力のリツプルが大きくなり制御が安
定しないという問題がある。そのため、計器とし
て制御可能な周波数の下限が定められているが、
その周波数以下の発信器が使われることがあるの
が実情である。なお第2図のタイムチヤートにお
いては、説明を簡単にするためスケーリング定数
および比率はすべて1で、測定パルスPVと設定
パルスSVは等周期の低周期パルスでバランスし
ている場合で、かつ積算偏差ΣEoの測定値分ΣPV
と設定値分ΣSVとに分けて示してある。
本発明は、パルス入力の1パルス以下の値を演
算して補償値を求め、この補償値に基づいてPI
演算のP項の補正を行うようにして、低周波パル
ス入力時の操作出力のリツプルをとり安定した制
御性が得られるようにしたものである。
算して補償値を求め、この補償値に基づいてPI
演算のP項の補正を行うようにして、低周波パル
ス入力時の操作出力のリツプルをとり安定した制
御性が得られるようにしたものである。
第3図は本発明コントローラの機能的な構成の
一実施例を示すブロツク線図で、従来例と異ると
ころは、測定パルス入力PVの1パルス以下の値
を演算し、補償用の測定値PV′を出力する補償用
測定値処理回路8と、設定パルス入力SVの1パ
ルス以下の値を演算し、補償用の設定値SV′を出
力する補償用設定値処理回路9と、補償用測定値
PV′にスケーリング定数K1を乗ずるスケーラ10
と、補償用設定値SV′にスケーリング定数K2を乗
ずるスケーラ11と、スケーリングされた補償用
設定値に比率αを乗ずる比率設定器12と、スケ
ーリングされた補償用測定値の積算値と、スケー
リングされかつ比率が乗ぜられた補償用設定値の
積算値との積算偏差ΣEo′を検出する積算偏差検
出回路13と、積算偏差ΣEo′に比例ゲインKPな
る比例演算を行うP演算回路14と、PI演算回
路7の出力MV1とP演算回路14の出力MV2と
を加算して操作出力MVとする加算回路15を設
け、次式で定まる操作出力MVを生ずるようにし
た点である。
一実施例を示すブロツク線図で、従来例と異ると
ころは、測定パルス入力PVの1パルス以下の値
を演算し、補償用の測定値PV′を出力する補償用
測定値処理回路8と、設定パルス入力SVの1パ
ルス以下の値を演算し、補償用の設定値SV′を出
力する補償用設定値処理回路9と、補償用測定値
PV′にスケーリング定数K1を乗ずるスケーラ10
と、補償用設定値SV′にスケーリング定数K2を乗
ずるスケーラ11と、スケーリングされた補償用
設定値に比率αを乗ずる比率設定器12と、スケ
ーリングされた補償用測定値の積算値と、スケー
リングされかつ比率が乗ぜられた補償用設定値の
積算値との積算偏差ΣEo′を検出する積算偏差検
出回路13と、積算偏差ΣEo′に比例ゲインKPな
る比例演算を行うP演算回路14と、PI演算回
路7の出力MV1とP演算回路14の出力MV2と
を加算して操作出力MVとする加算回路15を設
け、次式で定まる操作出力MVを生ずるようにし
た点である。
MV=KP{(ΣEo+ΣEo′)+Δt/TIΣΣEo}
………(2)
このように構成した本発明の動作を第4図およ
び第5図のタイムチヤートを用いて以下に説明す
る。なお第5図のタイムチヤートは第2図のタイ
ムチヤートと同様にスケーリング定数および比率
がすべて1で、測定パルスPVと設定パルスSVは
等周期の低周波パルスでバランスしており、積算
偏差ΣEoおよびΣEo′を測定値分ΣPV、ΣPV′と設
定値分ΣSV、ΣSV′とに分けて示してある。補償
用の測定値PV′は第4図に示すように、補償用測
定値処理回路8で測定パルス入力PVoが入力され
てからの時間TPを制御周期毎に計数し、平均の
測定パルス周期Toで割算することによつて求め
られる。この補償用の測定値PV′をスケーラ10
でスケーリングした後の積算値ΣPV′は第5図に
示すように測定周期毎に上昇する。そして補償用
の測定値PV′は測定パルスが入力される毎にリセ
ツトされ、その積算値ΣPV′もリセツトされる。
一方実際に入力される測定パルスPVに基づく積
算値ΣPVはパルスが入力される毎に階段状に上
昇するが、この積算値ΣPVに補償用の積算値
ΣPV′を加算すると、第5図に示すように測定周
期毎に上昇し、測定パルスの1パルス以下が補償
される。
び第5図のタイムチヤートを用いて以下に説明す
る。なお第5図のタイムチヤートは第2図のタイ
ムチヤートと同様にスケーリング定数および比率
がすべて1で、測定パルスPVと設定パルスSVは
等周期の低周波パルスでバランスしており、積算
偏差ΣEoおよびΣEo′を測定値分ΣPV、ΣPV′と設
定値分ΣSV、ΣSV′とに分けて示してある。補償
用の測定値PV′は第4図に示すように、補償用測
定値処理回路8で測定パルス入力PVoが入力され
てからの時間TPを制御周期毎に計数し、平均の
測定パルス周期Toで割算することによつて求め
られる。この補償用の測定値PV′をスケーラ10
でスケーリングした後の積算値ΣPV′は第5図に
示すように測定周期毎に上昇する。そして補償用
の測定値PV′は測定パルスが入力される毎にリセ
ツトされ、その積算値ΣPV′もリセツトされる。
一方実際に入力される測定パルスPVに基づく積
算値ΣPVはパルスが入力される毎に階段状に上
昇するが、この積算値ΣPVに補償用の積算値
ΣPV′を加算すると、第5図に示すように測定周
期毎に上昇し、測定パルスの1パルス以下が補償
される。
同様に補償用の設定値SV′も補償用の設定値処
理回路9で設定パルスSVが入力されてからの時
間を制御周期毎に計数し、平均の設定パルス周期
TSで割算することによつて求められる。この補
償用の設定値SV′をスケーラ11でスケーリング
し、かつ比率設定器12で比率を設定した後の積
算値ΣPS′は第5図に示すように測定周期毎に上
昇する。この補償用の設定値SV′も設定パルス
SVが入力される毎にリセツトされ、その積算値
ΣSV′もリセツトされる。したがつて実際に入力
された設定パルスSVに基づく積算値ΣSVがパル
スの入力毎に階段状に上昇しても、この積算値
ΣSVに補償用の積算値ΣSV′を加算したものは第
5図に示すように測定周期毎に上昇し、設定パル
スSVの1パルス以下が補償される。よつて、実
際の積算偏差ΣEoと補償用の積算偏差ΣEo′との和
はバランスした状態では第5図に示すように零と
なり、比例項(P項)で操作出力MVが振れな
い。すなわち低周波領域のパルス入力に対しても
安定した制御性を得ることができる。
理回路9で設定パルスSVが入力されてからの時
間を制御周期毎に計数し、平均の設定パルス周期
TSで割算することによつて求められる。この補
償用の設定値SV′をスケーラ11でスケーリング
し、かつ比率設定器12で比率を設定した後の積
算値ΣPS′は第5図に示すように測定周期毎に上
昇する。この補償用の設定値SV′も設定パルス
SVが入力される毎にリセツトされ、その積算値
ΣSV′もリセツトされる。したがつて実際に入力
された設定パルスSVに基づく積算値ΣSVがパル
スの入力毎に階段状に上昇しても、この積算値
ΣSVに補償用の積算値ΣSV′を加算したものは第
5図に示すように測定周期毎に上昇し、設定パル
スSVの1パルス以下が補償される。よつて、実
際の積算偏差ΣEoと補償用の積算偏差ΣEo′との和
はバランスした状態では第5図に示すように零と
なり、比例項(P項)で操作出力MVが振れな
い。すなわち低周波領域のパルス入力に対しても
安定した制御性を得ることができる。
ところで、補償用の測定値PV′および補償用の
設定値SV′は前回のパルス周期で今回も来るだろ
うという前提に立つており、補償用の積算偏差
ΣEo′は推測値であり、誤差を含んでいる。この
ため補償用の積算偏差ΣEo′でPI制御のI項(積
分項)をも補正するようにすると、推測値の誤差
分と、推測値として積分した分が実パルスとして
入力されたときそれも積分し二重に積分すること
になるなど、積算偏差の誤差が蓄積されて行くこ
とになり、制御結果の測定値と設定値との積算値
の比率に誤差を生ずることになる。そこで本発明
では、補償用の積算偏差ΣEo′により、PI制御の
P項(比例項)のみを補正するようにして、制御
誤差を生じないようにしてある。
設定値SV′は前回のパルス周期で今回も来るだろ
うという前提に立つており、補償用の積算偏差
ΣEo′は推測値であり、誤差を含んでいる。この
ため補償用の積算偏差ΣEo′でPI制御のI項(積
分項)をも補正するようにすると、推測値の誤差
分と、推測値として積分した分が実パルスとして
入力されたときそれも積分し二重に積分すること
になるなど、積算偏差の誤差が蓄積されて行くこ
とになり、制御結果の測定値と設定値との積算値
の比率に誤差を生ずることになる。そこで本発明
では、補償用の積算偏差ΣEo′により、PI制御の
P項(比例項)のみを補正するようにして、制御
誤差を生じないようにしてある。
なお、補償用の測定値PV′および設定値SV′は
前回のパルス周期で今回も来るだろうという前提
に立つているが、実際にはそれよりも遅れること
もあるし、それつきり来ないことがあり、遅れる
程補償値が大きくなり1を越える値になることが
ある。この場合には補償値が1を越えないように
リミツトする手段を設けたり、前回のパルス周期
までまつてもパルスが来なければ、それ以後は
To/TPなる演算または(To−TP)/Toなる演算
を行つて補償値を出力するようにすればよい。ま
た上述では、PI演算回路7の出力MV1とP演算
回路14の出力MV2を加算回路15で加算する
場合を例示したが、第6図に示すようにPI演算
回路の代りにI演算回路7′を用いて、加算回路
16で得た実際の積算偏差ΣEoと補償用の積算偏
差ΣEo′との和にPI演算回路14でKP(ΣEo+
ΣEo′)なるP演算を施し、I演算回路7′で実際
の積算偏差ΣEoに KPΔt/TIΣEo なるI演算を施し、両演算回路の出力を加算器1
5で加算して操作出力MVとしてもよい。さらに
上述では、測定入力と設定入力が共にパルス入力
の場合を例示したが、いずれか一方のみがパルス
入力であつても同様にできる。
前回のパルス周期で今回も来るだろうという前提
に立つているが、実際にはそれよりも遅れること
もあるし、それつきり来ないことがあり、遅れる
程補償値が大きくなり1を越える値になることが
ある。この場合には補償値が1を越えないように
リミツトする手段を設けたり、前回のパルス周期
までまつてもパルスが来なければ、それ以後は
To/TPなる演算または(To−TP)/Toなる演算
を行つて補償値を出力するようにすればよい。ま
た上述では、PI演算回路7の出力MV1とP演算
回路14の出力MV2を加算回路15で加算する
場合を例示したが、第6図に示すようにPI演算
回路の代りにI演算回路7′を用いて、加算回路
16で得た実際の積算偏差ΣEoと補償用の積算偏
差ΣEo′との和にPI演算回路14でKP(ΣEo+
ΣEo′)なるP演算を施し、I演算回路7′で実際
の積算偏差ΣEoに KPΔt/TIΣEo なるI演算を施し、両演算回路の出力を加算器1
5で加算して操作出力MVとしてもよい。さらに
上述では、測定入力と設定入力が共にパルス入力
の場合を例示したが、いずれか一方のみがパルス
入力であつても同様にできる。
以上説明したように本発明においては、パルス
入力の1パルス以下の補償値を測定周期ごとに前
回までのパルス周期を用いて予測し、この予測し
た補償値に基づいてPI制御のP項のみを補正す
るようにしているので、低周波パルス入力に対し
ても制御性が安定で、しかも補正による制御誤差
も生じないブレンドコントローラを得ることがで
きる。
入力の1パルス以下の補償値を測定周期ごとに前
回までのパルス周期を用いて予測し、この予測し
た補償値に基づいてPI制御のP項のみを補正す
るようにしているので、低周波パルス入力に対し
ても制御性が安定で、しかも補正による制御誤差
も生じないブレンドコントローラを得ることがで
きる。
第1図は従来のブレンドコントローラを機能的
に示したブロツク線図、第2図はその動作説明
図、第3図は本発明ブレンドコントローラの一実
施例機能的に示したブロツク線図、第4図および
第5図はその動作説明図、第6図は本発明ブレン
ドコントローラの他の実施例を機能的に示したブ
ロツク線図である。 1……測定用入力端子、2……設定用入力端
子、3,4,10,11……スケーラ、5,12
……比率設定器、6,13……積算偏差検出器、
7……PI演算回路、14……P演算回路、15,
16……加算器、8……補償用測定値処理回路、
9……補償用設定値処理回路。
に示したブロツク線図、第2図はその動作説明
図、第3図は本発明ブレンドコントローラの一実
施例機能的に示したブロツク線図、第4図および
第5図はその動作説明図、第6図は本発明ブレン
ドコントローラの他の実施例を機能的に示したブ
ロツク線図である。 1……測定用入力端子、2……設定用入力端
子、3,4,10,11……スケーラ、5,12
……比率設定器、6,13……積算偏差検出器、
7……PI演算回路、14……P演算回路、15,
16……加算器、8……補償用測定値処理回路、
9……補償用設定値処理回路。
Claims (1)
- 1 測定入力および設定入力の少なくともいずれ
か一方がパルス入力で、測定入力の積算値と設定
入力の積算値が一定の比率になるようにPI制御
を行なうブレンドコントローラにおいて、前記パ
ルス入力のパルスの1パルス以下の補償値を測定
周期毎に前回までのパルス周期を用いて発生する
手段と、この補償値に基づいてPI制御のP項の
みの補正を行なう手段とを設けたとを特徴とする
ブレンドコントローラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11267582A JPS593503A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | ブレンドコントロ−ラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11267582A JPS593503A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | ブレンドコントロ−ラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593503A JPS593503A (ja) | 1984-01-10 |
| JPH0243201B2 true JPH0243201B2 (ja) | 1990-09-27 |
Family
ID=14592658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11267582A Granted JPS593503A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | ブレンドコントロ−ラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593503A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4755924A (en) * | 1985-02-19 | 1988-07-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Process controller having an adjustment system with two degrees of freedom |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5341683A (en) * | 1976-09-27 | 1978-04-15 | Toshiba Corp | Sampling control system |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP11267582A patent/JPS593503A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS593503A (ja) | 1984-01-10 |
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