JPH0247797B2 - BUNSANGATAJIDOSHIKENSOCHI - Google Patents
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- JPH0247797B2 JPH0247797B2 JP15876181A JP15876181A JPH0247797B2 JP H0247797 B2 JPH0247797 B2 JP H0247797B2 JP 15876181 A JP15876181 A JP 15876181A JP 15876181 A JP15876181 A JP 15876181A JP H0247797 B2 JPH0247797 B2 JP H0247797B2
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自動試験装置の改良に関し、特に、複
数の同一機器を搭載した車両の試験に好適な自動
試験装置に係る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to improvements in automatic test equipment, and particularly to automatic test equipment suitable for testing vehicles equipped with a plurality of identical devices.
鉄道車両の自動試験装置は、各電気回路の絶縁
抵抗測定試験の外、走行駆動制御装置(例えばチ
ヨツパ制御装置)、ブレーキ装置、自動列車制御
装置(ATC)あるいは自動列車運転装置
(ATO)等の性能確認試験を行うものである。こ
の自動試験装置として、従来の単一のコンピユー
タによるものに対し、機能を分散させた、いわゆ
る分散形の自動試験装置が、例えば、特開昭55−
126842号公報に提案されている。すなわち、マイ
クロコンピユータ等を有する専用の試験実行端末
部を多数設け、これらの端末器群に中央処理装置
から、試験実行指令を与えるものである。この分
散形自動試験装置は、配線本数を低減できる外、
拡張性に優れている。 In addition to testing the insulation resistance of each electrical circuit, automatic testing equipment for railway vehicles can also be used to measure the insulation resistance of each electrical circuit, as well as test the running drive control device (e.g. chip control device), brake device, automatic train control device (ATC) or automatic train operation device (ATO), etc. This is a performance confirmation test. As for this automatic test equipment, so-called distributed type automatic test equipment with functions distributed in contrast to the conventional one using a single computer is used.
This is proposed in Publication No. 126842. That is, a large number of dedicated test execution terminals each having a microcomputer or the like are provided, and test execution commands are given to these terminals from a central processing unit. This distributed automatic test equipment not only reduces the number of wires, but also
Excellent expandability.
ところで、例えばチヨツパ電車のチヨツパ制御
装置のように、一編成中に複数の同種制御装置を
備え、かつ、それらは互いに同じように制御され
るべき筋合のものが在る場合、自動試験として
も、同一指令により同時に試験を実行する必要が
ある。この場合、中央処理装置と複数の試験実行
端末器との間のシステム構成が複雑化し、また、
中央処理装置や伝送路の負担が増す欠点がある。 By the way, if there are multiple control devices of the same type in one train set, such as the Chiyotsupa control device of the Chiyotsupa train, and there are devices that should be controlled in the same way, it is possible to perform an automatic test. , it is necessary to carry out tests at the same time according to the same directive. In this case, the system configuration between the central processing unit and multiple test execution terminals becomes complicated, and
This has the disadvantage of increasing the burden on the central processing unit and transmission line.
本発明の目的は、システム構成を簡素化すると
ともに、中央処理装置や伝送路の負担を軽減する
ことのできる自動試験装置を提供することであ
る。 An object of the present invention is to provide an automatic test device that can simplify the system configuration and reduce the burden on the central processing unit and transmission lines.
本発明の特徴とするところは、中央処理装置
と、複数の分散試験端末器と、これらの中央処理
装置および各端末器を結ぶループ伝送路とから成
り、各端末器が、試験実行管理部と試験実行部お
よびこれらの管理部と実行部とを上記ループ伝送
路へ切換え接続する切換手段を備えたことであ
る。 The present invention is characterized by comprising a central processing unit, a plurality of distributed test terminals, and a loop transmission line connecting these central processing units and each terminal. The present invention includes a switching means for switching and connecting the test execution section and the management section and execution section to the loop transmission path.
このように構成することによつて、複数の同種
機器の試験を同時に実行する場合、ひとつの端末
器の管理部と、複数の端末器の試験実行部とによ
り自動試験を実行し、その試験結果をまとめて上
記管理部から中央処理装置へ伝送することがで
き、システム構成を著しく簡略化することができ
る。この場合、望ましくは、端末器をストアード
プログラム方式のコンピユータによつて構成す
る。 With this configuration, when testing multiple devices of the same type at the same time, the management section of one terminal device and the test execution section of multiple terminal devices execute the automatic test and check the test results. can be collectively transmitted from the management section to the central processing unit, and the system configuration can be significantly simplified. In this case, the terminal device is preferably configured with a stored program type computer.
以下に、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。 Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例である分散形車両用
自動試験装置の全体構成図を示す。車両1a〜1
dに搭載されている機器(図示はされていない)
の性能を測定する目的で、ケーブル2a〜2dを
介し、分散試験端末器3a〜3dが接続される。
これら分散試験端末器3a〜3dは、ケーブル4
a〜4d、データ伝送装置5a〜5d、データ伝
送路6、データ伝送装置5eおよびケーブル7を
経て、中央処理装置8に接続され、中央処理装置
8の制御下にある。9はコンソール入出力装置
で、操作者が中央処理装置8と対話しながら試験
を実行する上で不可欠なものである。分散試験端
末器3(3a〜3d)を構成するのは第2図に示
すように、データ伝送装置31、デジタル処理装
置32、試験実行装置33及びコネクタ34であ
る。 FIG. 1 shows an overall configuration diagram of a decentralized automatic test device for vehicles, which is an embodiment of the present invention. Vehicles 1a-1
Equipment installed in d (not shown)
Distributed test terminals 3a to 3d are connected via cables 2a to 2d for the purpose of measuring the performance of .
These distributed test terminals 3a to 3d are connected to the cable 4
a to 4d, data transmission devices 5a to 5d, data transmission line 6, data transmission device 5e, and cable 7, are connected to central processing unit 8, and are under the control of central processing unit 8. Reference numeral 9 denotes a console input/output device, which is essential for an operator to execute a test while interacting with the central processing unit 8. As shown in FIG. 2, the distributed test terminals 3 (3a to 3d) are composed of a data transmission device 31, a digital processing device 32, a test execution device 33, and a connector 34.
本全体構成図にみるごとく、夫々の分散試験端
末器3a〜3dや、夫々のデータ伝送装置5a〜
5eは、ハードウエア的には全く同一構造であ
り、拡張性や保守性の便宜を図つている。データ
伝送に際し、発信する端末器3(含む中央処理装
置8)は、自分のコードと、受信すべき端末器
(含む中央処理装置)のコードを、一般データの
先頭につけることにより、伝送データは全データ
伝送装置5a〜5eに伝わるが、該当するデータ
伝送装置のみがデータを取込み、適宜、データを
ループ伝送路上から消去できる。 As shown in the overall configuration diagram of the book, each distributed test terminal 3a to 3d and each data transmission device 5a to
5e has exactly the same hardware structure and is designed for extensibility and maintainability. When transmitting data, the transmitting terminal 3 (including the central processing unit 8) adds its own code and the code of the receiving terminal (including the central processing unit) to the beginning of the general data. The data is transmitted to all data transmission devices 5a to 5e, but only the relevant data transmission device can take in the data and erase the data from the loop transmission path as appropriate.
第3図は単一の試験の実行の流れを説明する図
である。すなわち、試験実行指令員91の指令を
中央処理装置8内の試験開始処理部81に伝え、
試験開始処理部81は、該当する分散試験端末器
3に試験開始指令を与える。上記端末器3のデイ
ジタル処理装置32内の試験実行処理部321
は、試験実行項目番号格納フイルム322が指示
する試験を実行し、その結果を中央処理装置8内
の試験開始処理部82へ伝える。そしてその結果
を試験結果格納フアイル83に格納する。 FIG. 3 is a diagram illustrating the flow of execution of a single test. That is, the command from the test execution commander 91 is transmitted to the test start processing section 81 in the central processing unit 8,
The test start processing unit 81 gives a test start command to the corresponding distributed test terminal device 3. Test execution processing section 321 in the digital processing device 32 of the terminal device 3
executes the test instructed by the test execution item number storage film 322, and transmits the result to the test start processing section 82 in the central processing unit 8. The results are then stored in the test result storage file 83.
以上は、ハードウエアの構成と、単一の試験方
法の単純簡明さを示したものである。車両の搭載
機器が一編成当り1ケであれば、これですべて満
足行くわけであるが、実際の車両には同一機器が
複数ケ搭載されている場合が多い。例えば、チヨ
ツパ制御装置は、一編成当り、複数ケ搭載されて
おり、かつそれらは同一指令(例えば力行や制御
のノツチ指令)で同時に動作する。これを従来の
考え方を踏撃した形で自動試験を実行するものと
すれば、第4図に示す如き流れとなる。すなわ
ち、搭載機器に対応する複数ケの分散試験端末器
3a〜3d内のデイジタル処理装置32a〜32
dに設けられる試験実行処理部321a〜321
dは、車両に対する同一指令を夫々独立に行な
い、車両搭載機器の応動を取込み、夫々単独に中
央処理装置8内の試験結果処理部82へ試験結果
を伝送する。この方法はデータの流れが輻輳して
おり、複雑かつ信頼性の低下を来す。例えば第4
図と第3図を比較すると、本来試験結果処理部8
2は端末側から送られて来るデータを受けとる機
能であるが、第4図では、複数ケの試験実行処理
部321a〜321dから、ほゞ同時に送られて
来るデータの処理や、何らかの不具合でデータが
届かないときの処理等、本来の機能より低位の機
能として処理すべき機能も合せて処理する必要が
ある。また、車上に対して指令を与える機能は、
第3図では1ケ所で処理しているのに対し、第4
図においては、各々の試験実行処理部321a〜
321dが同一の指令を与えており、いたずらに
複雑化することが判る。 The above illustrates the hardware configuration and the simplicity of a single test method. If only one device is mounted on a vehicle per train, this is sufficient, but in reality, vehicles are often equipped with multiple pieces of the same device. For example, a plurality of chopper control devices are installed in one train set, and they operate simultaneously based on the same command (for example, a notch command for power running or control). If an automatic test is executed based on the conventional concept, the flow will be as shown in FIG. 4. That is, the digital processing devices 32a to 32 in the plurality of distributed test terminals 3a to 3d corresponding to the onboard equipment
Test execution processing units 321a to 321 provided in d
d independently issues the same command to the vehicle, captures the responses of the on-vehicle equipment, and independently transmits the test results to the test result processing unit 82 in the central processing unit 8. This method has a congested data flow, is complex and unreliable. For example, the fourth
Comparing the figure and Figure 3, we can see that the test result processing section 8
2 is a function to receive data sent from the terminal side, but in FIG. It is also necessary to process functions that should be processed as lower-level functions than the original functions, such as processing when information cannot be received. In addition, the function to give commands to the vehicle is
In Fig. 3, processing is performed at one location, whereas
In the figure, each test execution processing unit 321a to
It can be seen that 321d gives the same command, making it unnecessarily complicated.
第5図は本発明の提案するところで、前述の第
4図を改良したものである。すなわち従来の試験
実行処理部321a〜321dを、試験実行管理
部323a〜323d(323b〜323dは図
示せず)と、試験実行部324a〜324dに分
割し、試験実行管理部323aのみが、車上へ指
令を与えるとともに試験実行部324a〜324
dのデータを試験結果処理部82に伝送する。従
つて、中央処理部8側は、第3図と第5図におい
て、全く同一の処理方法でよいことになる。図
中、符号6を付けた情報の流れは、ループ伝送路
6を介する部分を示している。 FIG. 5 is proposed by the present invention and is an improved version of FIG. 4 described above. That is, the conventional test execution processing units 321a to 321d are divided into test execution management units 323a to 323d (323b to 323d are not shown) and test execution units 324a to 324d, and only the test execution management unit 323a is The test execution units 324a to 324
The data of d is transmitted to the test result processing section 82. Therefore, on the central processing unit 8 side, the processing method in FIG. 3 and FIG. 5 may be completely the same. In the figure, the flow of information labeled 6 indicates a portion via the loop transmission line 6.
第6図はこれらの概念をまとめたもので、全体
の機能をレベルl1〜l3の階層化構造的に分割し位
置付けることにより、システム全体が有機的に結
ばれ、かつ単純化するものである。すなわち、分
散試験端末器3a〜3dは、ハードウエア上全く
同一構造のものを、同一レベルで配置することに
より、簡潔さを保ち、ソフトウエア的には、機能
を階層化構造的に構築し、全体の系を簡潔にまと
めるシステムとすることができる。 Figure 6 summarizes these concepts. By dividing and positioning the overall functions in a hierarchical structure at levels l1 to l3 , the entire system is organically connected and simplified. be. That is, the distributed test terminals 3a to 3d maintain simplicity by arranging the hardware with exactly the same structure at the same level, and in terms of software, the functions are constructed in a hierarchical structure. The entire system can be summarized in a concise manner.
また、分散試験端末器3の半自動的処理も容易
となる。すなわち、分散試験端末器3a〜3d
は、全体の系から切り離し、単独で半自動的に動
作させることが必要となる。 Furthermore, semi-automatic processing by the distributed test terminal 3 becomes easy. That is, the distributed test terminals 3a to 3d
It is necessary to separate it from the entire system and operate it semi-automatically on its own.
第7図に於いて、デイジタル処理装置32の内
部を試験実行管理部323と試験実行部324に
分割し、第5図の試験実行管理部323aに対応
するいわゆる親端末器3a内のデイジタル処理装
置32aは、試験実行管理部323aを生かし、
逆に、対応しないいわゆる子端末器3b内のデイ
ジタル処理装置32bは、323bを用いないよ
うに切換える。単独で半自動的に動作させるとき
は、323及び324を共に生かして用いる。こ
れらの関係をより詳細に図解したものを第8図、
第9図に示す。第8図は、親端末器としてデイジ
タル処理装置32aを用いる例を示す。すなわち
切換え手段325aは、データ伝送装置5aと試
験実行管理部323aを接続するよう切換えられ
る。また、子端末器としてデイジタル処理装置3
2bを用いる。このため、データ伝送装置5bと
デイジタル処理装置32b内の試験実行部324
bを接続するように切換える。第9図は、単独で
半自動的な端末器として用いる例を示す。10c
は半自動的操作卓でこれと試験実行管理部323
kを接続するように、切換え手段325cを切換
えている。 In FIG. 7, the inside of the digital processing device 32 is divided into a test execution management section 323 and a test execution section 324, and a digital processing device in a so-called master terminal device 3a corresponding to the test execution management section 323a in FIG. 32a makes use of the test execution management section 323a,
On the other hand, the digital processing device 32b in the so-called child terminal 3b which is not compatible is switched not to use 323b. When operating independently and semi-automatically, both 323 and 324 are used. Figure 8 shows a more detailed illustration of these relationships.
It is shown in FIG. FIG. 8 shows an example in which a digital processing device 32a is used as a parent terminal. That is, the switching means 325a is switched to connect the data transmission device 5a and the test execution management section 323a. In addition, a digital processing device 3 is used as a child terminal device.
2b is used. For this reason, the data transmission device 5b and the test execution unit 324 in the digital processing device 32b
Switch to connect b. FIG. 9 shows an example in which the device is used alone as a semi-automatic terminal device. 10c
This is a semi-automatic operation console and the test execution management section 323
The switching means 325c is switched to connect the terminal k.
ここで、第8図および第9図のように、各端末
器内の切換手段が切換えられた状態での、第5図
に示した試験実行の流れをゼネラル・フローで示
すと第10図のようになる。ステツプ101で、指
令員が、第1図の操作卓9を通して、複数の同種
機器の試験を指令すると、ステツプ102で、中央
処理装置8が、ループ伝送路6へ試験開始命令情
報を送出する。第8図に示すように、端末器3a
の切換手段325aが切換えられているものと
し、かつ、情報の先頭コードがこの端末器3aを
指示するものとすれば、この端末器3aが親端末
器として、ステツプ103にて中央の指示を受ける。
すなわち、親端末器3a内の試験実行管理部32
3aが、試験開始命令を受取り、ステツプ104で、
車上装置と子端末器3bの試験実行部324bへ
指令を与える。車上装置への指令は、車両に力行
あるいは制動のノツチ指令を発生させる等のもの
で、親端末器3aのデイジタル処理装置32a内
の管理部323aから、コネクタ34aを介して
車上へ伝えられる。また、子端末器3bのデイジ
タル処理装置32b内の試験実行部324bに対
しては、第8図のループ伝送路6や、子端末器3
b内の切換手段325bを介して伝送される。 Here, as shown in FIGS. 8 and 9, the flow of the test execution shown in FIG. 5 with the switching means in each terminal device being switched is shown in general flow as shown in FIG. 10. It becomes like this. In step 101, the operator instructs the testing of a plurality of devices of the same type through the operation console 9 shown in FIG. As shown in FIG. 8, the terminal device 3a
Assuming that the switching means 325a has been switched, and the first code of the information indicates this terminal device 3a, this terminal device 3a, as a parent terminal device, receives instructions from the center in step 103. .
That is, the test execution management section 32 in the parent terminal 3a
3a receives the test start command, and in step 104,
A command is given to the on-board device and the test execution unit 324b of the slave terminal 3b. The command to the on-board device is such as to generate a notch command for powering or braking the vehicle, and is transmitted from the management section 323a in the digital processing device 32a of the parent terminal device 3a to the on-board device via the connector 34a. . In addition, for the test execution unit 324b in the digital processing device 32b of the slave terminal 3b, the loop transmission line 6 in FIG.
It is transmitted via the switching means 325b in b.
これにより、ステツプ105で、各試験実行部3
24a,324bなどで試験を実行し、測定デー
タを集める。ステツプ106では、測定の終了ある
いは未終了を判断しており、未終了であればステ
ツプ104へ戻り、測定を繰返す。測定が終了する
と、ステツプ107で、各試験実行部324a,3
24bなどから、必要に応じループ伝送路6を介
して、親端末器3aの試験実行管理部323a
へ、試験(測定)結果を送出する。次いで、ステ
ツプ108で、親端末器3aの試験実行管理部32
3aは、試験結果をまとめて、中央処理装置8へ
伝送し、試験は終了する。 As a result, in step 105, each test execution unit 3
24a, 324b, etc., and collect measurement data. In step 106, it is determined whether the measurement is completed or not, and if it is not completed, the process returns to step 104 and the measurement is repeated. When the measurement is completed, in step 107, each test execution section 324a, 3
24b, etc., via the loop transmission path 6 as necessary, to the test execution management unit 323a of the parent terminal 3a.
Send test (measurement) results to. Next, in step 108, the test execution management section 32 of the parent terminal 3a
3a summarizes the test results and transmits them to the central processing unit 8, and the test ends.
以上は、切換手段325a,325b……を、
ハード部品として持つているものとして説明した
が、各分散試験端末器3a〜3dは、ストアー
ド・プログラム方式のマイクロ・コンピユータを
用いるのが好適であり、この場合、中央からの指
示に基づき、特定の端末器のみが、試験実行管理
プログラムを起動し、他の端末器は、このプログ
ラムをジヤンプし試験実行プログラムのみを起動
することにより切換手段を構成することができ
る。但し、この場合、単独で外部の操作卓から半
自動的試験を行うための切換手段としては、ジヤ
ツクなどのハードが必要である。 The above describes the switching means 325a, 325b...
Although the description has been made assuming that each distributed test terminal device 3a to 3d has a stored program type microcomputer, it is preferable to use a stored program type microcomputer. Only the terminal device starts the test execution management program, and the other terminal devices jump this program and start only the test execution program, thereby forming a switching means. However, in this case, hardware such as a jack is required as a switching means for performing semi-automatic testing independently from an external console.
本発明によれば、自動試験装置のシステム構成
を簡略化できるとともに、中央処理装置や伝送路
の負担を軽減することができる。 According to the present invention, the system configuration of an automatic test device can be simplified, and the burden on the central processing unit and transmission path can be reduced.
第1図は本発明の一実施例である車両自動試験
装置の全体構成図、第2図はその試験実行端末器
の構成例、第3図〜第5図は本発明の原理を説明
するための試験実行の流れ図、第6図〜第9図は
本発明のシステム構成説明図、第10図は本発明
の一実施例における自動試験のゼネラルフローを
示す。
1,1a〜1d……車両(被試験装置)、3,
3a〜3d……分散試験端末器、5,5a〜5e
……データ伝送装置、6……ループ伝送路、8…
…中央処理装置、9,10a〜10c……コンソ
ール入出力装置(操作卓)、32,32a〜32
d……デイジタル処理装置(マイクロコンピユー
タ等)、323,323a〜323d……試験実
行管理部、324,324a〜324d……試験
実行部、325,325a〜325d……切換え
手段。
Fig. 1 is an overall configuration diagram of a vehicle automatic testing device that is an embodiment of the present invention, Fig. 2 is an example of the configuration of its test execution terminal, and Figs. 3 to 5 are for explaining the principle of the present invention. FIGS. 6 to 9 are explanatory diagrams of the system configuration of the present invention, and FIG. 10 is a general flowchart of an automatic test in an embodiment of the present invention. 1, 1a to 1d...vehicle (device under test), 3,
3a to 3d...distributed test terminal, 5, 5a to 5e
...Data transmission device, 6...Loop transmission line, 8...
...Central processing unit, 9, 10a-10c...Console input/output device (operation console), 32, 32a-32
d... Digital processing device (microcomputer etc.), 323, 323a-323d... Test execution management section, 324, 324a-324d... Test execution section, 325, 325a-325d... Switching means.
Claims (1)
上記中央処理装置および各分散試験端末器とを結
ぶループ伝送路とから成り、上記各分散試験端末
器は、試験実行管理部と、試験実行部およびこれ
らの管理部と実行部とを上記ループ伝送路へ切換
え接続する切換手段を備えて成る分散形自動試験
装置。 2 特許請求の範囲第1項において、ループ伝送
路に接続された上記試験実行管理部は、中央処理
装置と各試験実行部との間に上記ループ伝送路を
介して情報の授受を行い、中央処理装置から受取
つた試験開始命令を複数の試験実行部および被試
験装置へ伝えるとともに、複数の試験実行部から
受取つた試験結果情報を中央処理装置へ伝送する
ように構成した分散形自動試験装置。 3 特許請求の範囲第1項において、上記切換手
段は、上記ループ伝送路を介することなしに上記
試験実行管理部を、当該分散試験端末器に直接指
令を与える操作卓へ切換え接続する手段を含む分
散形自動試験装置。 4 特許請求の範囲第1項において、上記各分散
試験端末器は、ストアード・プログラム方式のコ
ンピユータにより上記試験実行管理部、試験実行
部および切換手段を構成し、中央処理装置から受
取つた情報に応じて、試験実行管理部を括かす親
端末器または試験実行部のみを括かす子端末器を
構成して成る分散形自動試験装置。[Claims] 1. A central processing unit, a plurality of distributed test terminals,
It consists of a loop transmission line connecting the central processing unit and each distributed test terminal, and each distributed test terminal has a test execution management section, a test execution section, and a loop transmission path between the management section and the execution section. Distributed automatic test equipment comprising switching means for switching connection to the network. 2. In claim 1, the test execution management unit connected to the loop transmission line sends and receives information between the central processing unit and each test execution unit via the loop transmission line, and A distributed automatic test device configured to transmit a test start command received from a processing device to a plurality of test execution units and a device under test, and to transmit test result information received from the plurality of test execution units to a central processing unit. 3. In claim 1, the switching means includes means for switching and connecting the test execution management section to an operator console that directly issues commands to the distributed test terminal without going through the loop transmission path. Distributed automatic test equipment. 4. In claim 1, each of the distributed test terminals constitutes the test execution management section, the test execution section, and the switching means using a stored program computer, and operates according to information received from the central processing unit. Distributed automatic testing equipment comprising a parent terminal that controls the test execution management section or a child terminal that controls only the test execution section.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15876181A JPH0247797B2 (en) | 1981-10-07 | 1981-10-07 | BUNSANGATAJIDOSHIKENSOCHI |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15876181A JPH0247797B2 (en) | 1981-10-07 | 1981-10-07 | BUNSANGATAJIDOSHIKENSOCHI |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5860395A JPS5860395A (en) | 1983-04-09 |
| JPH0247797B2 true JPH0247797B2 (en) | 1990-10-22 |
Family
ID=15678756
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15876181A Expired - Lifetime JPH0247797B2 (en) | 1981-10-07 | 1981-10-07 | BUNSANGATAJIDOSHIKENSOCHI |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0247797B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2592137B2 (en) * | 1989-07-10 | 1997-03-19 | 本田技研工業株式会社 | Inspection system |
| JP2574202B2 (en) * | 1994-06-13 | 1997-01-22 | 本田技研工業株式会社 | Inspection method of robot controller |
-
1981
- 1981-10-07 JP JP15876181A patent/JPH0247797B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5860395A (en) | 1983-04-09 |
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