JPH0248859B2

JPH0248859B2 -

Info

Publication number: JPH0248859B2
Application number: JP58252478A
Authority: JP
Inventors: Robarentei Samu
Original assignee: Owens Illinois Inc
Current assignee: OI Glass Inc
Priority date: 1982-12-30
Filing date: 1983-12-27
Publication date: 1990-10-26
Also published as: FI79613C; ES528533A0; IT8349525A0; NL194894C; FI79613B; GB2133538A; CA1199705A; ZA838351B; NL194894B; BR8307273A; FI834851L; AU2068883A; GB8333314D0; IT1169385B; FR2538904A1; GR79155B; GB2133538B; NL8303860A; JPS59136640A; DE3347472C2

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の技術分野〕本発明は半透明容器の検査装置および検査方
法、特に半透明容器内の放射状反射性欠陥を検出
する装置および方法に関する。

〔発明の技術的背景〕

ガラス容器は通常、鋳型中の半溶融ガラス塊内
部に気体を送り入んで成形される。半溶融ガラス
塊は、鋳型の内壁に伝わつて広がり、容器の底、
側面、そして口を形成する環状縁ができあがる。
このような形成過程において種々の型の欠陥も形
成されることになるが、これらの中のいくつかは
容器から取除かねばならぬ欠陥である。「split
seams」や「vertical checks」として知られる
欠陥は容器の側面に存在し、これがその側面の肉
厚の部分を貫通するまでに発展し、容器を満たし
たり、栓をしたり、あるいはその後の取扱いの最
中に、容器もれが生じたり、ときには粉砕してし
まうほどまでに容器を劣化させることにもなりう
る。「split seams」や「vertical checks」は鏡
状、即ち、反射性のひびであり、容器の長手方向
の軸に平行な面内に存在し、通常はこの容器の長
手方向の軸から放射状に伸びている。ここでは便
宜上、「split seam」欠陥および「vertical
check」欠陥をともに放射状反射性欠陥と総称す
ることにする。

放射状反射性欠陥を検出する検査装置の一例
は、B.B.Mathias等の発明により本願出願人の出
願に係る米国特許第3171033号に開示されている。
この検査装置では、容器の材質を透過することの
できる放射エネルギビームは、容器の縁の内壁
に、半径を含む面に対し鋭角に照射され、単一の
スポツトとなるよう焦点調節される。放射状反射
性欠陥の部分では、その欠陥の反射面によつてビ
ームは反射し、その他の部分ではビームは屈折す
る。容器の縁へ向かうビームの方向に対して75゜
〜105゜の角度に視野が向くようにビームの放射エ
ネルギ検出器が配置される。従つてビームの単一
スポツトの通路内に放射状反射性欠陥が存在する
と、この放射エネルギ検出器が反応することにな
る。この検出器の視野線上に、この検出器に向か
うビームの一部分が検出器の受光面に焦点を結ぶ
ようにさせるための装置が置かれる。検出器が反
応すると、それに応じてその容器を拒絶するメカ
ニズムが作動する。この発明において未解決の大
きな問題点は、放射状反射性欠陥の検出に単一ス
ポツト照射を用いていることに起因する制限であ
る。単一スポツトは容器の縁の部分のみに照射さ
れるため、縁に存在する放射状反射性欠陥のみが
検出可能である。しかしながら、放射状欠陥は容
器の側壁のあらゆるところに形成されるのであ
る。Y.M.Mima等に1979年10月16日に付与され
た米国特許第4171481号には、放射エネルギービ
ームを利用した同様の検査装置が開示されてい
る。しかしこの装置では更に回転多面鏡が設けら
れ、これが回転しながらビームを反射し、容器の
側壁を長手方向にビーム走査させている。この装
置には、また、一対の楕円柱状鏡が設けられ、集
光した光を光電素子アレイ上に焦点合わせでき
る。この装置は容器側面の走査を行なうのである
が、走査を行なうために要求される鏡の形状が複
雑であり、また動作環境の条件が悪いと保守が困
難である。

〔発明の概要〕

本発明の目的は半透明容器の放射状反射性欠陥
を検出し、この反射性欠陥の存在を示す拒絶信号
に応じてその容器を拒絶する、半透明容器の検査
装置および検査方法を提供することである。本装
置は、容器の被検査部分に沿つてこの容器の長手
方向の軸にほぼ平行な方向に延びる細長いイメー
ジを形成させるように光の放射ビームを焦点合わ
せして容器に照射する装置を有する。このビーム
は照射領域の内側表面に、容器の中心から外側に
向かう放射状面に対して鋭角をなす角度で照射さ
れる。本装置はまた、容器の照射部分からの反射
光強度を検出するために容器の照射部分に焦点合
わせされ、照射光の光路に対し75゜〜105゜の角度
をもつて照射部分をとらえることのできる反射光
強度検出装置を有する。この反射光強度検出装置
は、容器の照射部分の各小部分からの各反射光強
度にそれぞれ対応した複数の電気信号を発生す
る。本装置は更に、この複数の電気信号を監視
し、反射性欠陥の存在に反応してこれら複数の電
気信号のうち１つでもあらかじめ設定されたしき
い値を越えた場合に拒絶信号を発生する装置を有
する。

本発明の光照射装置は、複雑な鏡による構成を
避け、光源と、この光源と容器との間に置かれ容
器の長手方向の軸にほぼ平行な方向に伸びる細長
い光のイメージを形成させる円柱状レンズとを用
いている。また、反射光強度検出装置は、電気信
号を発生する光検出素子から成る複数の画素と、
この画素と容器との間に置かれ容器の照射部分の
像を複数の画素上に結ばせるレンズとを有する。
従つて本発明によれば、複雑で調整が困難な鏡機
構を用いることなしに、容器を回転させて容器の
長手方向の全部分について放射状反射性欠陥を発
見する検査を行なうことができる。

〔発明の実施例〕

第１図は、放射状反射性欠陥１１（以下単に
RR欠陥１１と呼ぶ。）を有するガラス製容器１
０の部分断面図である。RR欠陥１１は鏡状の反
射性のひびであり、長手方向面１２内に存在し、
容器１０の長手方向軸１３に対し通常は平行であ
る。また、通常は容器１０の長手方向軸１３から
放射状に延びている。容器１０には光の放射ビー
ムＢが焦点合わせされて照射される。このビーム
Ｂは、容器１０の被検査部分１４に沿つて容器１
０の長手方向軸１３にほぼ平行な方向に延びる細
長いイメージを形成させる。ビームＢは容器１０
の被検査部分１４の内側表面１５に向けて照射さ
れ、被検査部分１４の外側表面１６を通じて放出
される。従つて容器１０を照射する細長いイメー
ジは、容器１０の被検査部分１４のそれぞれ内側
表面１５および外側表面１６にビームＢそれ自身
によつて境界が決定されることにより形成され
る。

ビームＢは容器の内側表面１５に向かつて、長
手方向面１２に対して鋭角Ａをなすように方向づ
けられる。この鋭角Ａは約40゜〜50゜の間の角度で
あればよいが、B.B.Mathias等に付与された米国
特許第3171033号に述べられているように、45゜に
するのが好ましい。ガラス製容器１０が長手方向
軸１３の周りを矢印１７に示す方向に回転され
RR欠陥１１がビームＢの光路に入ると、この
RR欠陥１１はビームＢの一部分B′を約80゜〜100゜
の角度で反射する。鋭角Ａが約45゜であれば、こ
のRR欠陥１１がビームＢを反射する角度は約90゜
となる。米国特許第3171033号に開示されている
ように、反射したビームB′の強度を検知するた
めに容器１０の被検査部分１４に焦点が合わされ
た検出装置１８は、入射ビームＢの光路に対し約
75゜〜105゜の角度をもつ位置に設けられる。

容器１０は、J.R.Johnsonに付与された米国特
許第3313409号に開示された瓶検査装置によつて
扱われる。この検査装置の一部分を第２図および
第３図に示す。この検査装置は、図で２０と一般
的に示した星型輪を有しており、この星型輪は通
常円筒状であるハブ２１によつて形成され、この
ハブ２１は中心から外側へ放射状に延びる水平部
２２を有する。ハブ２１の水平部２２にはその外
周に一定間隔をおいて下側に延びる方向にアーム
２３が取付けられる。この下側に延びるアーム２
３は水平部２４を有し、この水平部２４は外側に
放射状に延び、更に下側に延びる垂直端部２５へ
とつながる。この垂直端部２５の先は逆に内側に
延び水平端部２６を形成する。アーム２３の水平
端部２６は、その下面に取付けられるプレート２
７の取付けに用いられる。各プレート２７は、そ
れが取付けられている水平端部２６に沿つて水平
に外側へ延びる。また各プレート２７はローラ２
８を用いて両側に１本ずつの瓶を運ぶ。二股状プ
レート２９はとなりあつた２つのアーム２３の間
に架設される。各アーム２３には、アングル３１
が適当な留め金具により調整できるように留めら
れる。各二股状プレート２９は一対のローラ３２
を有し、これらのローラはガラス製容器１０の上
端、即ちくびれた首の部分を保持できるようにな
つている。ガラス製容器１０は第２図では実線、
第３図では二点鎖線で示されている。二股状プレ
ート２９には中央に切欠部３３が設けられてい
る。この切欠部３３は容器１０の首の部分を受け
入れるのに十分な大きさをもつ。この切欠部３３
の奥の部分には容器の首の部分を受けるための２
つのローラ３２が、ハブ２１の中心と受け入れら
れた容器１０の中心とを結ぶ直線に対して対称位
置に設けられる。

ハブ２１は円型プレート３４に取付けられ、こ
の円型プレート３４はドライブシヤフト３５の上
端部に固定される。ドライブシヤフト３５は適当
な駆動装置（図には示されていない。）に接続さ
れる。この駆動装置によりドライブシヤフト３５
は回転させられ、星型輪２０全体が回転すること
になる。星型輪２０は容器１０をその保持位置、
即ちポケツトの部分に受け入れ、一連の検査台へ
と運ぶ。このようにして、各容器は一連の検査台
を通過するように移動する。第３図には、これら
一連の検査台のうち、本発明に特に関連した１つ
だけを示す。一連の検査台を通過する際、各容器
は星型輪２０のポケツトの内縁部とサイドレール
３６とにはさまれて保持される。このサイドレー
ル３６は移動中に容器を十分安定して保持できる
ような高さに設けられる。容器は、また検査終了
台（図には示されていない。）を通過する。この
検査終了台では、米国特許第3313409号に開示さ
れているように、欠陥のある容器のみが星型輪２
０に残り、他の正常な容器はベルトコンベアにの
せられる。即ち、星型輪２０が欠陥のある容器を
検査終了台へ運ぶと、シリンダがこれに連結され
ているプランジヤを駆動させ、欠陥のある容器が
星型輪２０から離れるのを妨げるような位置にプ
ランジヤを動かす。このシリンダは瓶の検査装置
に関連したシステム制御装置３７によつて供給さ
れる電気信号により第３図の３７ａに示す破線の
ようにプランジヤを動かし、欠陥のある容器を残
すのである。容器が各台から台へと回転移動する
とき、容器の底は、ほぼ円型をし水平に取付けら
れたテーブル３８の静止面上をすべり動く。サイ
ドレール３６は、検査が行なわれている台にさし
かかるちようど手前で切れる。容器１０が目的と
する検査台にさしかかると、その長手方向軸１３
のまわりに少なくとも360゜回転させられる。この
長手方向軸１３のまわりの容器１０の回転は、糸
状ゴム等が施された摩擦面をもつ回転輪３９によ
つて行なわれる。この回転輪３９は垂直シヤフト
４０の上端に固定され、この垂直シヤフト４０の
下端は瓶の検査装置に関連した駆動装置（図には
示されていない。）によつて駆動される。垂直シ
ヤフト４０と回転輪３９とは、容器１０の長手方
向軸に向かつて、ある程度の弾力性をもつて押し
つけられている。従つて星型輪２０が回転して容
器１０が通過する際に、容器１０の肩の部分には
過度の圧力がかかることはないが、回転輪３９の
表面は、容器１０をその長手方向軸１３のまわり
に回転させるのに必要十分な圧力をもつて容器１
０の肩の部分に接触することになる。

容器１０を照明するための照明装置４１は、円
型テーブル３８に固定された腕金４２によつて支
持される。照明装置４１は光源としての白熱電球
４３と、この白熱電球４３と容器１０との間に置
かれる円柱状レンズ４４を有する。円柱状レンズ
４４は白熱電球４３からの光を、容器１０の円筒
面上に沿つて細長いイメージを形成するように焦
点合わせする。白熱電球４３のフイラメントは円
柱状レンズ４４の長手方向軸に沿うように向けら
れることが好ましい。白熱電球４３および円柱状
レンズ４４は、両方とも腕金４２によつて支持さ
れたハウジング４５に取付けられている。白熱電
球４３からの光が円柱状レンズ４４の平板面を一
様に照らすよう広がるように、開口部４６が白熱
電球４３と円柱状レンズ４４との間に設けられ
る。照射光の細長いイメージ１４は、容器１０の
長手方向軸１３にほぼ平行に伸びる。この様子は
第３図に詳しく示されている。この照射光の細長
いイメージ１４は検出装置１８によつてとらえら
れる。この検出装置１８には、例えば、第３図に
示すような照射光の細長いイメージ１４に焦点合
わせされたソリツドステートカメラ４７を用いる
ことができ、第１図および第２図に示すように反
射光のビームB′の強度を検出する。カメラ４７
は円型テーブル３８によつて支持された腕金４８
に取付けられる。このカメラには、例えば、カリ
フオルニアのSunnyvaleにあるReticon社製
LC110型線走査カメラを用いることができる。こ
のカメラは、光検出ダイオードから成る画素を
256個集めた線形アレイ（図には示されていな
い。）と、この線形アレイ上に細長いイメージ１
４の像を結ばせるために容器１０と線形アレイと
の間に置かれたレンズ３０を有する。線形アレイ
は容器１０の長手方向軸１３に平行になるように
配置され、アレイ上の各画素が容器１０の細長い
イメージ１４に沿つて対応する各部分からの反射
光強度にそれぞれ比例した電気信号を発生するこ
とになる。各画素と容器１０との間に位置するよ
うにカメラ４７に設けられたレンズ３０は、細長
いイメージ１４の像を各画素上に結ばせるよう焦
点合わせを行なう。従つて、本発明では回転輪３
９が容器１０を少なくとも360゜回転させている
間、各画素は細長いイメージ１４をとらえ続ける
ことになり、容器１０の全側面についてRR欠陥
検出のための検査が可能となる。カメラ４７の感
度を更に高めるため、容器１０とカメラ４７との
間に第二の円柱状レンズ４９を置き、第１図の破
線B″に示すように細長いイメージ１４内に存在
するRR欠陥１１からの反射光ビームB′を集光し
て密度を高めることもできる。

本発明に係る装置は、また、カメラ４７内の各
画素によつて発生されバス５０を通じて送られる
複数の電気信号に反応する制御装置５１を有す
る。動作中システム制御装置３７は、容器１０が
検査台に位置し検査準備完了であることを示す存
在信号を信号線５１ａを通じて制御装置５１に送
る。RR欠陥が存在する場合は、カメラ４７内の
各画素から供給される複数の電気信号のうちの１
つが、あらかじめ設定されたしきい値を越え、こ
れにより制御装置５１は信号線５１ｂを通じてシ
ステム制御装置３７へ拒絶信号を送る。システム
制御装置３７はこれに応答して、前述したように
検査終了台においてその欠陥容器を拒絶するよう
にプランジヤを駆動させる。

制御装置５１の詳細な回路構成図を第４図に示
す。カメラ４７と制御装置５１とを接続するバス
５０は、各画素からの複数の電気信号、即ちビデ
オ信号VIDを送る信号線５０ａと、カメラ４７の
個々の画素が参照される周期を表わすクロツク信
号CLKを送る信号線５０ｂと、カメラ４７の各
画素の参照開始を表わす参照可能信号ENBを送
る信号線５０ｃと、を有する。ビデオ信号VIDを
送る信号線５０ａは増幅器５２の入力に接続さ
れ、この増幅器５２の出力はコンパレータ５３の
非反転入力に接続される。コンパレータ５３の反
転入力は、一端を接地した可変抵抗器５４の摺動
端子に接続され、この可変抵抗器の他の一端は正
の電圧Ｖをもつ電源に接続される。コンパレータ
５３の出力は信号線５３ａにより三入力ANDゲ
ート５５の第一の入力に接続され、この三入力
ANDゲート５５の出力となる拒絶信号は信号線
５１ｂを通じてシステム制御装置３７に入力され
る。システム制御装置３７からの信号線５１ａ
は、三入力ANDゲート５５の第二の入力に接続
され、容器１０が検査を行なうための必要な位置
に存在するか否かを伝える。説明を容易にするた
めに、今三入力ANDゲート５５の入力が２つ、
即ち５３ａおよび５１ａしかないと仮定する。こ
の場合、信号線５３ａがハイレベルになつて欠陥
の存在を示し、かつ信号線５１ａがハイレベルに
なつて容器１０が検査を行なうための必要な位置
に存在することを示したときに、拒絶信号が出力
されることになる。一方、信号線５３ａを通じて
コンパレータ５３によつて出力される欠陥信号
は、カメラ４７の各画素からの複数の電気信号の
うちのどれか１つでもRR欠陥１１の存在に反応
して可変抵抗器５４によつてあらかじめ設定され
たしきい値を越えた場合に出力される。

カメラ４７の各画素は細長いイメージ１４を全
長にわたつてとらえることができるように焦点合
わせされるが、制御装置５１は、容器１０の検査
中に集められたデータを一部分に制限する回路を
更に有する。換言すれば、容器１０の各部分のう
ち検査が必要とされる部分に対応する中間部分に
位置する画素だけを選ぶような枠を設け、その枠
の中に入つたデータだけを対象とすればよいので
ある。再び第３図を参照してこのことを説明す
る。この例では、容器１０の肩の部分の湾曲に沿
つた細長いイメージ１４の上部湾曲部分と、容器
１０の底に近い部分の湾曲に沿つた細長いイメー
ジ１４の下部湾曲部分と、は無視するのが好まし
い。このような場合操作者は、容器１０について
の肩部データスイツチ５６を、検査を開始すべき
画素番号Ｓに設定し、容器１０についての底部デ
ータスイツチ５７を、検査を終了すべき画素番号
Ｈに設定する。データスイツチ５６および５７に
よつてそれぞれ設定されたカメラ２７のＳ番目の
画素とＨ番目の画素、即ち検査開始画素と検査終
了画素の間に位置する画素が、カメラ４７の電子
回路によつて参照された時には、デジタルコンパ
レータ５８のＳ入力、Ｈ入力ともにハイレベルに
なる。これによつてデジタルコンパレータ５８
は、Ｓ＝Ｈであることを示す枠内信号即ちハイレ
ベル信号を三入力ANDゲートの第三の入力に信
号線５８９を通じて送る。従つて三入力ANDゲ
ート５５からの拒絶信号は、コンパレータ５３か
らの欠陥信号が検査枠内で生じたときにのみ出力
されることになり、この決定はデジタルコンパレ
ータ５８によつて成される。

開始画素番号Ｓを設定するための回路は、デー
タスイツチ５６と、データスイツチＳ１およびＳ
２のそれぞれによつてそのプリセツト端子Ｐを通
じて設定されるカウンタ６１および６２と、フリ
ツプフロツプ６３とANDゲート６４とを有する
制御ロジツクと、から成る。ここでは２つのカウ
ンタ６１および６２にそれぞれ対応する２つのデ
ータスイツチＳ１およびＳ２を示したが、これは
２つのカウンタで２桁の設定値まで扱える例を示
したもので、開始画素番号を要求どおりの値に設
定するのに必要な桁数に応じてカウンタを設けれ
ばよい。信号線５０ｃを通じて与えられる参照可
能信号ENBは、カウンタ６１および６２の負荷
端子LDおよびフリツプフロツプのセツト入力Ｓ
に入力される。フリツプフロツプ６３のＱ出力は
ANDゲート６４の一方の入力に接続され、AND
ゲート６４の出力はカウンタ６１および６２のカ
ウントダウン入力DNに接続される。信号線５０
ｂによつて供給されるクロツク信号CLKはAND
ゲート６４のもう一方の入力に与えられる。カウ
ンタ６１のボロー出力はカウンタ６２のダウン入
力Ｄに接続される。カウンタ６２のボロー出力
は、デジタルコンパレータ５８のＳ入力と、フリ
ツプフロツプ６３のリセツト端子Ｒとに接続され
る。

動作は次のようになる。カメラ４７からの参照
可能信号ENBがカウンタ６１および６２の両方
のLD端子に入力されると、データスイツチＳ１
およびＳ２によつてあらかじめ設定されていた数
が各カウンタにセツトされる。この参照可能信号
ENBは、また、フリツプフロツプ６３をセツト
する。このフリツプフロツプ６３は、カウンタ６
１および６２へ供給されるクロツク信号CLKの
ゲートとして働く。カウンタ６１および６２は供
給されたクロツク信号CLKにより、セツトされ
た開始画素番号Ｓから０へとカウントダウン動作
を行なう。実際のカメラ４７内の画素の走査は、
これとは逆に０番目の画素からＳ番目の画素へと
走査されることになる。カウンタ６１は下位桁、
カウンタ６２は上位桁に相当する。両カウンタの
値が０になると、即ち、カメラ４７内でＳ番目の
画素が走査されると、カウンタ６２によつて通常
はローレベルにあるデジタルコンパレータ５８の
Ｓ入力がハイレベルにされる。更にこの容器の検
査の準備を行なうため、カウンタ６２はフリツプ
フロツプ６３をリセツトする。デジタルコンパレ
ータ５８のＳ入力がハイレベルになつたことは、
枠内の中間部分の必要とされる画素の走査が開始
されたことを示す。

終了画素番号Ｈを設定するための回路は、デー
タスイツチ５７と、データスイツチＨ１およびＨ
２のそれぞれによつてそのプリセツト端子Ｐを通
じてプリセツトされるカウンタ６５および６６
と、フリツプフロツプ６７とANDゲート６８と
を有する制御ロジツクと、から成る。この回路は
上述の開始画素番号Ｓを設定するための回路と同
様に機能する。しかしながら、カウンタ６６のボ
ロー出力Ｂはインバータ６９を介してデジタルコ
ンパレータ５８のＨ入力に接続されているため、
Ｈ入力は通常はハイレベルになつている。従つて
通常はローレベルになつているデジタルコンパレ
ータ５８のＳ入力がハイレベルになると、Ｓ＝Ｈ
出力がハイレベルとなり、三入力ANDゲート５
５に検査枠内に入つたことを知らせる。あらかじ
め設定された終了画素番号Ｈからカウントダウン
することによつて、カウンタ６５および６６の両
方の値が０になると、カウンタ６６のボロー出力
Ｂがハイレベルとなり、デジタルコンパレータ５
８のＨ入力がローレベルになる。Ｓ入力とＨ入力
との値が相違するため、Ｓ＝Ｈ出力がローレベル
となり、三入力ANDゲート５５に検査枠内から
はずれたことを知らせる。これによつて、三入力
ANDゲート５５はコンパレータ５３からの欠陥
信号が入力されても、拒絶信号を出力することは
禁止される。

以上述べた内容は、本発明を実施する上で発明
者によつて提案された最も好ましい実施例であ
る。しかしながら当業者が、本発明の趣旨から逸
脱しない範囲で、本明細書中の記述、添付図面の
内容に基づいて実施上の詳細な部分に関して種々
の変更をなしうることは明白である。例えば、本
発明によれば、細長いイメージ１４を容器１０の
肩の部分までを照射するように形成し、これに対
応するように線形アレイを形成するかマトリツク
スアレイを用い、細長いイメージ１４の輪郭全体
をとらえるようにすることにより、容器１０の円
筒状側面のみならず肩の部分までをも検査するこ
とができる。上述した実施例の詳細は、当業者が
本発明を容易に実施できるよう配慮したものであ
つて、本発明は詳細にわたつて特定した上述の実
施例の範囲に限定されるべきものではない。

以上説明したように、本発明によれば、容器の
被検査領域に沿つて容器の長手方向に伸びる細長
いイメージを形成するように、ビームを円柱状レ
ンズによつて焦点合せして照射し、かつビームが
被検査領域の内側表面に対して容器中心から外側
へ伸びる放射状面に対して鋭角をなすような角度
で向くように照射しているため、被検査領域にビ
ームを正確に集光させて、そこに存在する放射状
欠陥を精度良く検出することが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る装置による放射状反射性
欠陥を検出するための検査を示す説明図で、ガラ
ス製容器およびカメラの水平断面が示されてい
る。第２図は本発明に係る放射状反射性欠陥を検
出する装置の一部分を示す機構図で、光源とカメ
ラが取付けられている状態が示されている。第３
図は第２図に示す装置を切断面３−３で切断した
断面図で、反射性欠陥の検出に応答して拒絶信号
を発生する制御装置があわせて示されている。第
４図は本発明に係る第３図に示した制御装置の回
路構成図である。１０…ガラス製容器、１１…放射状反射性
（RR）欠陥、１２…容器の長手方向面、１３…
容器の長手方向軸、１４…容器の被検査部分（照
射光の細長いイメージ）、１５…容器の内側表面、
１６…容器の外側表面、１７…矢印、１８…検出
装置、２０…星型輪、２１…ハブ、２２…水平
部、２３…アーム、２４…水平部、２５…垂直端
部、２６…水平端部、２７…プレート、２８…ロ
ーラ、２９…二股状プレート、３０…レンズ、３
１…アングル、３２…ローラ、３３…切欠部、３
４…円型プレート、３５…ドライブシヤフト、３
６…サイドレール、３７…システム制御装置、３
８…円型テーブル、３９…回転輪、４０…垂直シ
ヤフト、４１…照明装置、４２…腕金、４３…白
熱電球、４４…円柱状レンズ、４５…ハウジン
グ、４６…開口部、４７…ソリツドステートカメ
ラ、４８…腕金、４９…第二の円柱状レンズ、５
０…バス、５１…制御装置、５１ａ，５１ｂ…信
号線、５２…増幅器、５３…コンパレータ、５４
…可変抵抗器、５５…三入力ANDゲート、５６
…肩部データスイツチ、５７…底部データスイツ
チ、５８…デジタルコンパレータ、６１，６２…
カウンタ、６３…フリツプフロツプ、６４…
ANDゲート、６５，６６…カウンタ、６７…フ
リツプフロツプ、６８…ANDゲート、６９…イ
ンバータ。

Claims

【特許請求の範囲】１半透明容器の放射状反射性欠陥の存在を示す
拒絶信号に反応して容器を拒絶するための、容器
の反射性欠陥を検出する半透明容器の検査装置で
あつて、光源と、前記光源と前記容器との間に置かれた
円柱状レンズとを有し、前記容器の被検査領域に
沿つて前記容器の長手方向軸にほぼ平行な方向に
伸びる細長いイメージを形成するように前記光源
からの光の放射ビームを前記円柱状レンズにより
焦点合わせして前記容器に照射し、前記ビームが
前記容器の被検査領域の内側表面に向き、かつ、
前記被検査領域に向かつて前記容器の中心から外
側に伸びる放射状面に対して鋭角をなすような角
度に向くように前記容器を照射する照射装置と、前記ビームの光路に対して約70゜〜約105゜の角
度をもつた方向から前記被検査領域をとらえ、前
記被検査領域からの反射光強度を検出するために
前記容器の前記被検査領域に焦点合わせされた装
置であつて、前記容器の前記被検査領域の各対応
した位置からの反射強度にそれぞれ比例した複数
の電気信号を供給する検出装置と、前記複数の電気信号に反応し、反射性欠陥の存
在によつて前記複数の電気信号のうちのどれか１
つでもあらかじめ設定されたしきい値を越えたと
きに拒絶信号を供給する装置と、をそなえることを特徴とする半透明容器の検査装
置。２容器を少なくとも360゜回転させるドライブ機
構を更にそなえ、検出装置が容器の放射状反射性
欠陥を検査するために複数の電気信号の連続した
組を供給することを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の半透明容器の検査装置。３鋭角が約40゜〜50゜の間の角度であることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の半透明容器
の検査装置。４検出装置が、複数の電気信号のうちの１つを
それぞれが供給する複数の画素と、前記複数の画
素と容器との間に置かれた画素用レンズと、を有し、前記画素用レンズが、前記容器の被検査領域の
像を前記複数の画素上に結ばせることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の半透明容器の検査
装置。５画素用レンズと容器との間に更に円柱状レン
ズを設け、複数の画素上に像を結ばせるために、
前記容器の被検査領域からの反射光を前記円柱状
レンズによつてより多く集めるようにしたことを
特徴とする特許請求の範囲第４項記載の半透明容
器の検査装置。６拒絶信号を供給する装置が、複数の電気信号
に応じた入力をもつ増幅器と、前記増幅器の出力
に接続された非反転入力と反転入力とをもつたコ
ンパレータと、正の電源に接続することができ前
記コンパレータの反転入力にあらかじめ設定され
たしきい値を与えるための調整可能な装置と、を
有し、前記調整可能な装置は、増幅された前記複数の
電気信号のうちの１つでも前記あらかじめ設定さ
れたしきい値を越えたときに拒絶信号を出力する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の半
透明容器の検査装置。７検出装置に応じて、複数の電気信号のうちの
１つでもあらかじめ設定されたしきい値を越えた
ときに拒絶信号を有効にする装置を更に有するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第４項記載の半透
明容器の検査装置。８検出装置が複数の電気信号を順番に供給する
ために複数の画素を順番に参照し、これに同期し
たクロツク信号を供給し、拒絶信号を有効にする装置が、コンパレータの出力に接続された第１の入力
と、第２の入力とを有するANDゲートと、２つの入力と、前記ANDゲートの第２の入力
に接続され前記２つの入力が等しいことを示す出
力とを有する入力値コンパレータと、前記クロツク信号に応じ、クロツクパルスの数
が第１の設定値に達したら、前記入力値コンパレ
ータの第１の入力に２つの状態のうちのどちらか
１つを示す第１の信号を供給する第１のカウンタ
装置と、前記クロツク信号に応じ、クロツクパルスの数
が前記第１の設定値より大きい第２の設定値に達
したら、前記入力値コンパレータの第２の入力に
２つの状態のうちのどちらか１つを示す第２の信
号を供給する第２のカウンタ装置と、を有し、前記クロツクパルスの数が、前記第１の設定値
と前記第２の設定値との間であるときに、前記入
力値コンパレータの出力が、前記ANDゲートか
ら出力される前記拒絶信号を有効にすることを特
徴とする特許請求の範囲第７項記載の半透明容器
の検査装置。９容器内の放射状反射性欠陥を検出し、放射状
反射性欠陥の存在を示す拒絶信号に応じて前記容
器を拒絶する半透明容器の検査方法であつて、前記容器の被検査領域に沿つて前記容器の長手
方向軸にほぼ平行な方向に伸びる細長いイメージ
を形成するように、光源からの光の放射ビームを
前記光源と前記容器との間に置かれた円柱状レン
ズにより焦点合せして前記容器に照射する段階
と、前記ビームを前記容器の被検査領域の内側表面
に、かつ、前記被検査領域に向かつて前記容器の
中心から外側に伸びる放射状面に対して鋭角をな
すような角度に向ける段階と、前記ビームの光路に対して約75゜〜約105゜の角
度をもつた方向から、前記被検査領域からの反射
光強度を検出する段階を、前記容器の前記被検査領域の各対応した位置か
らの反射強度にそれぞれ比例した複数の電気信号
を供給する段階と、反射性欠陥の存在によつて、前記複数の電気信
号のうちのどれか１つでもあらかじめ設定したし
きい値を越えたときに拒絶信号を供給する段階
と、を有することを特徴とする半透明容器の検査方
法。１０検査中容器を少なくとも360゜回転し、前記
容器が回転しているときに複数の電気信号の連続
した組を供給し、前記容器の全側壁について放射
状反射性欠陥の検査を行なうことを特徴とする特許請求の範囲第９項記載の半
透明容器の検査方法。１１前記ビームが前記被検査領域の内側表面
に、かつ、前記放射状面に対して約40゜〜50゜の鋭
角をなす方向に向けられることを特徴とする特許
請求の範囲第９項記載の半透明容器の検査方法。１２検出される反射光強度を増加させるため
に、前記容器の前記被検査領域からの反射光をよ
り多く集める段階を更に有することを特徴とする
特許請求の範囲第９項記載の半透明容器の検査方
法。１３複数の電気信号のうちの一部分があらかじ
め設定されたしきい値を越えたときにだけ、拒絶
信号を有効にする段階を更に有することを特徴と
する特許請求の範囲第９項記載の半透明容器の検
査方法。１４半透明容器が少なくとも360゜回転する間
に、前記容器の放射状反射性欠陥を検出するため
に前記容器の全側壁を検査し、反射性欠陥の存在
を示す拒絶信号に応じて前記容器を拒絶するシス
テムに用いる装置であつて、光源と、前記光源と前記容器との間に置かれた
円柱状レンズとを有し、前記容器の被検査領域に
沿つて前記容器の長手方向軸にほぼ平行な方向に
伸びる細長いイメージを形成するように、前記光
源からの光の放射ビームを前記円柱状レンズによ
り焦点合わせして前記容器に照射し、前記ビーム
が前記容器の被検査領域の内側表面に向き、か
つ、前記被検査領域に向かつて前記容器の中心か
ら外側に伸びる放射状面に対して鋭角をなすよう
な角度に向くように前記容器を照射する照射装置
と、前記ビームの光路に対して約75゜〜約105゜の角
度をもつた方向から前記被検査領域をとらえ、前
記被検査領域からの反射光強度を検出するために
前記容器の前記被検査領域に焦点合わせされた装
置であつて、前記容器の前記被検査領域の各対応
した位置からの反射強度にそれぞれ比例した複数
の電気信号を供給する検出装置と、前記複数の電気信号に反応し、反射性欠陥の存
在によつて前記複数の電気信号のうちのどれか１
つでもあらかじめ設定されたしきい値を越えたと
きに拒絶信号を供給する装置と、をそなえることを特徴とする半透明容器の検査装
置。