JPH0252832B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0252832B2 JPH0252832B2 JP56115908A JP11590881A JPH0252832B2 JP H0252832 B2 JPH0252832 B2 JP H0252832B2 JP 56115908 A JP56115908 A JP 56115908A JP 11590881 A JP11590881 A JP 11590881A JP H0252832 B2 JPH0252832 B2 JP H0252832B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- medium
- magnetic disk
- recording
- track
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明磁気デイスク装置の記録媒体上にデータ
を記録し、該データを読み取ることにより記録媒
体の正常性を検査する磁気デイスク装置における
磁気デイスク媒体の検査方法に係り、特に記録密
度の低い磁気デイスク媒体に対応したトラツク記
録形式に相当するデータのバイト数を計数してデ
ータの終わりを示す擬似インデツクス信号を発生
することにより記録密度の高い磁気デイスク媒体
にデータを記録する磁気デイスク装置における磁
気デイスク媒体の検査方法に関する。
を記録し、該データを読み取ることにより記録媒
体の正常性を検査する磁気デイスク装置における
磁気デイスク媒体の検査方法に係り、特に記録密
度の低い磁気デイスク媒体に対応したトラツク記
録形式に相当するデータのバイト数を計数してデ
ータの終わりを示す擬似インデツクス信号を発生
することにより記録密度の高い磁気デイスク媒体
にデータを記録する磁気デイスク装置における磁
気デイスク媒体の検査方法に関する。
磁気デイスク装置においては、磁気デイスク媒
体に多数の２値データをレコード形式で磁気記録
するものであるが、この媒体上に欠陥があると、
その部分にはデータが記録出来ず、データに誤り
が発生し、データの信頼性が低下する。
体に多数の２値データをレコード形式で磁気記録
するものであるが、この媒体上に欠陥があると、
その部分にはデータが記録出来ず、データに誤り
が発生し、データの信頼性が低下する。
従つて、このような媒体上の欠陥位置を正確に
把握する必要がある。
把握する必要がある。
一般の磁気デイスク装置においては、磁気デイ
スク媒体面は複数のトラツクで構成され、各トラ
ツクにはインデツクスマークがあり、磁気デイス
ク装置はこのインデツクスマークを起点として各
トラツクにデータを格納し、また各トラツクから
データを読み出すように構成されている。
スク媒体面は複数のトラツクで構成され、各トラ
ツクにはインデツクスマークがあり、磁気デイス
ク装置はこのインデツクスマークを起点として各
トラツクにデータを格納し、また各トラツクから
データを読み出すように構成されている。
このようなデータの読み書きを行うために通常
のプログラムは、予め決められた一定のトラツク
容量を有する媒体を対象として設計されている。
のプログラムは、予め決められた一定のトラツク
容量を有する媒体を対象として設計されている。
しかし更にトラツク容量の大きい媒体が出現し
た場合、この媒体に対する読み書きを行うために
新たにプログラムを作成することは、莫大な工数
を要し得策ではない。
た場合、この媒体に対する読み書きを行うために
新たにプログラムを作成することは、莫大な工数
を要し得策ではない。
そこで従来より、トラツク容量の小さい媒体に
対して開発されたプログラムをトラツク容量の大
きい媒体の読み書きにも適用出来るように、装置
側においてトラツク容量の変換を行うことが行わ
れている。
対して開発されたプログラムをトラツク容量の大
きい媒体の読み書きにも適用出来るように、装置
側においてトラツク容量の変換を行うことが行わ
れている。
その状態を第１図を使用して説明する。
第１図ａは回転時間を一定とし、記録密度低い
すなわちトラツク容量の小さい媒体に対して通常
のプログラムによつてデータを記録した場合のデ
ータフオーマツトの状態を示し、第２図ｂは記録
密度の高い、すなわちトラツク容量の大きい媒体
に対して通常のプログラムを使用してエミユレー
シヨンして第１図ａと同一のデータを記録した場
合のデータフオーマツトの状態を示す。
すなわちトラツク容量の小さい媒体に対して通常
のプログラムによつてデータを記録した場合のデ
ータフオーマツトの状態を示し、第２図ｂは記録
密度の高い、すなわちトラツク容量の大きい媒体
に対して通常のプログラムを使用してエミユレー
シヨンして第１図ａと同一のデータを記録した場
合のデータフオーマツトの状態を示す。
このように第１図ａに示すと同じデータを記録
密度の高い媒体に記録すると第１図ｂに示すよう
に記録密度が高い分だけ距離的に圧縮されたデー
タフオーマツトとなり、記録密度の低い磁気デイ
スク媒体に対応したトラツク記録形式に相当する
データのバイト数を計数してデータの終わりを示
す擬似インデツクス信号を発生する。
密度の高い媒体に記録すると第１図ｂに示すよう
に記録密度が高い分だけ距離的に圧縮されたデー
タフオーマツトとなり、記録密度の低い磁気デイ
スク媒体に対応したトラツク記録形式に相当する
データのバイト数を計数してデータの終わりを示
す擬似インデツクス信号を発生する。
なお、ギヤツプＧの長さは、入出力制御装置
（10C）の制御時間により規定されるものである
から記録密度の高低に関係なく第１図ａと第１図
ｂとは時間が等しくする必要がある。
（10C）の制御時間により規定されるものである
から記録密度の高低に関係なく第１図ａと第１図
ｂとは時間が等しくする必要がある。
即ち、記録密度の高い方がギヤツプのバイト数
を多くする必要がある。
を多くする必要がある。
このように従来より、記録媒体の記録密度が向
上した場合に、従来からあるプログラムが使用出
来るようにするためにトラツクエミレーシヨンを
行つている。
上した場合に、従来からあるプログラムが使用出
来るようにするためにトラツクエミレーシヨンを
行つている。
次に従来より行われている磁気デイスク媒体の
試験方法を第２図を使用して説明する。
試験方法を第２図を使用して説明する。
第２図は、従来の試験方法を説明するためのブ
ロツク図である。
ロツク図である。
シーケンス発生回路１によつてフオーマツト発
生回路２が起動されると、フオーマツト発生回路
２は磁気デイスク装置３の媒体上に第１図に示す
ようなフオーマツトを書き込む。
生回路２が起動されると、フオーマツト発生回路
２は磁気デイスク装置３の媒体上に第１図に示す
ようなフオーマツトを書き込む。
そして次に判定回路４で媒体上に記録されてい
るデータを読み取り、この読み取つたデータをチ
エツクして媒体の正常性を調べ、その結果はシー
ケンス発生回路１へ送られシーケンス発生回路は
次のトラツクへの試験を行うべく次のシーケンス
を発生する。
るデータを読み取り、この読み取つたデータをチ
エツクして媒体の正常性を調べ、その結果はシー
ケンス発生回路１へ送られシーケンス発生回路は
次のトラツクへの試験を行うべく次のシーケンス
を発生する。
このように順次各トラツクに対して試験を行う
ことにより磁気デイスク媒体の試験を行つてい
た。
ことにより磁気デイスク媒体の試験を行つてい
た。
しかしながら従来のこの方法においては、上述
したようなトラツクエミユレーシヨンを行つてい
る場合には、第１図ｂに示したように、連続した
データを記録した場合、記録密度の低い磁気デイ
スク媒体に対応したトラツク記録形式に相当する
データのバイト数を計数してデータの終わりを示
す擬似インデツクス信号を発生するためトラツク
の途中で擬似インデツクス信号が発生される。
したようなトラツクエミユレーシヨンを行つてい
る場合には、第１図ｂに示したように、連続した
データを記録した場合、記録密度の低い磁気デイ
スク媒体に対応したトラツク記録形式に相当する
データのバイト数を計数してデータの終わりを示
す擬似インデツクス信号を発生するためトラツク
の途中で擬似インデツクス信号が発生される。
従つて、従来の試験方法においては、この擬似
インデツクス信号発生点（擬似インデツクスマー
ク）より先の領域の媒体は表面分析が出来ないこ
とになる。
インデツクス信号発生点（擬似インデツクスマー
ク）より先の領域の媒体は表面分析が出来ないこ
とになる。
しかし、データの書込みの方法によつては、こ
の擬似インデツクス信号の発生点が変化する。
の擬似インデツクス信号の発生点が変化する。
即ち、一つのレコードが短く、一つのトラツク
に複数のレコードを記録した場合、レコード間に
ギヤツプが必要となり、仮に、第１図ｂと全体で
同じデータ量であつても、ギヤツプが多くなる分
だけ、擬似インデツクス発生点がトラツクの後方
にずれることになるためである。
に複数のレコードを記録した場合、レコード間に
ギヤツプが必要となり、仮に、第１図ｂと全体で
同じデータ量であつても、ギヤツプが多くなる分
だけ、擬似インデツクス発生点がトラツクの後方
にずれることになるためである。
従つて、第１図ｂのデータの書込み読みだしの
試験では、媒体上の欠陥を全て発見することが出
来ないという問題があつた。
試験では、媒体上の欠陥を全て発見することが出
来ないという問題があつた。
本発明は、上記の問題点を解決し、トラツクエ
ミユレーシヨンが行われている磁気デイスク装置
においても、正確な磁気デイスク媒体の試験を行
うことを可能とする磁気デイスク媒体の検査方法
を提供することを目的とするものである。
ミユレーシヨンが行われている磁気デイスク装置
においても、正確な磁気デイスク媒体の試験を行
うことを可能とする磁気デイスク媒体の検査方法
を提供することを目的とするものである。
本発明は、上記問題点を解決するために、記録
密度の低い磁気デイスク媒体に対応したトラツク
記録形式に相応するデータのバイト数を計数して
データの終わりを示す擬似インデツクス信号を発
生することにより記録密度の高い磁気デイスク媒
体にデータを記録する磁気デイスク装置における
磁気デイスク媒体の検査方法であつて、 最初１個のレコード記録を記録することにより
擬似インデツクス信号が発生するまでの間の媒体
の検査を行い、 次に該レコード部分に複数の小さなレコードを
記録することにより前記擬似インデツクス信号発
生位置より先の領域にレコードを記録可能として
当該領域にデータを記録して媒体の検査を行い、 さらに前記先に検査済の領域に複数の小さなレ
コードを記録することによりその先の領域にレコ
ードを記録可能としてこの領域にデータを記録し
て媒体の検査を行い、以下同様にこの操作を繰り
返すことによりトラツク全部の検査を行うことを
特徴とする磁気デイスク装置における磁気デイス
ク媒体の検査方法により達成される。
密度の低い磁気デイスク媒体に対応したトラツク
記録形式に相応するデータのバイト数を計数して
データの終わりを示す擬似インデツクス信号を発
生することにより記録密度の高い磁気デイスク媒
体にデータを記録する磁気デイスク装置における
磁気デイスク媒体の検査方法であつて、 最初１個のレコード記録を記録することにより
擬似インデツクス信号が発生するまでの間の媒体
の検査を行い、 次に該レコード部分に複数の小さなレコードを
記録することにより前記擬似インデツクス信号発
生位置より先の領域にレコードを記録可能として
当該領域にデータを記録して媒体の検査を行い、 さらに前記先に検査済の領域に複数の小さなレ
コードを記録することによりその先の領域にレコ
ードを記録可能としてこの領域にデータを記録し
て媒体の検査を行い、以下同様にこの操作を繰り
返すことによりトラツク全部の検査を行うことを
特徴とする磁気デイスク装置における磁気デイス
ク媒体の検査方法により達成される。
第３図は、本発明の試験方法を実施するための
試験装置ブロツク図、第４図は本発明の実施例に
よるデータ記録方法を示すものである。
試験装置ブロツク図、第４図は本発明の実施例に
よるデータ記録方法を示すものである。
本発明の試験装置では、シーケンス発生回路１
内のデコーダ１−１により、まずフオーマツト発
生回路２−１が起動され、フオーマツト発生回路
２−１は第４図１に示すようなフオーマツトで磁
気デイスク装置３の媒体上に記録する そして記録完了信号がシーケンス発生回路１へ
送られると次に判定回路４−１を起動する。
内のデコーダ１−１により、まずフオーマツト発
生回路２−１が起動され、フオーマツト発生回路
２−１は第４図１に示すようなフオーマツトで磁
気デイスク装置３の媒体上に記録する そして記録完了信号がシーケンス発生回路１へ
送られると次に判定回路４−１を起動する。
判定回路４−１は媒体上に記録されたデータＲ
０、Ｒ１を読み取り、この続み取つたデータの正
常性をチエツクする。
０、Ｒ１を読み取り、この続み取つたデータの正
常性をチエツクする。
この段階では前述したように記録密度の低い磁
気デイスク媒体に対応したトラツク記録形式に相
当するデータのバイト数を計数してデータの終わ
りを示す擬似インデツクス信号を発生するため擬
似インデツクス信号発生点以降の媒体の表面分折
は行われていない。
気デイスク媒体に対応したトラツク記録形式に相
当するデータのバイト数を計数してデータの終わ
りを示す擬似インデツクス信号を発生するため擬
似インデツクス信号発生点以降の媒体の表面分折
は行われていない。
そこで次にデコーダ１−１によりフオーマツト
発生回路２−１が起動され、第４図２に示すフオ
ーマツトを発生し、媒体上に記録する。
発生回路２−１が起動され、第４図２に示すフオ
ーマツトを発生し、媒体上に記録する。
つまり第４図１において１個のデータＲ１の部
分に複数の小さなデータＲ１〜Ｒ１を記録する。
分に複数の小さなデータＲ１〜Ｒ１を記録する。
このようにすると個々の小さなデータ間には必
ずギヤツプを必要とするため、第４図１の擬似イ
ンデツクス信号発生点までの実際のデータ記録バ
イト数は第４図１に比べ第４図２の方が小さくな
る。
ずギヤツプを必要とするため、第４図１の擬似イ
ンデツクス信号発生点までの実際のデータ記録バ
イト数は第４図１に比べ第４図２の方が小さくな
る。
つまり第４図２において第４図１と同じだけの
データ記録バイト数とするにはさらにＲ１＋１を
書込んだ点で擬似インデツクス信号が発生される
こととなる。
データ記録バイト数とするにはさらにＲ１＋１を
書込んだ点で擬似インデツクス信号が発生される
こととなる。
そしてこの第４図２のフオーマツトを書き込む
ことにより第４図１に比べ更に拡大された領域ま
で表面分析が可能となる。
ことにより第４図１に比べ更に拡大された領域ま
で表面分析が可能となる。
次にフオーマツト発生回路２−３を起動して、
第４図２におけるデータＲ１＋１の部分にも小さ
なデータ書き込むことにより第４図３に示すごと
くデータRm＋１を書き込んだ点に擬似インデツ
クス信号発生点を移動させることが出来る。
第４図２におけるデータＲ１＋１の部分にも小さ
なデータ書き込むことにより第４図３に示すごと
くデータRm＋１を書き込んだ点に擬似インデツ
クス信号発生点を移動させることが出来る。
このため第４図２に比べ更に拡大された領域ま
で表面分折が可能となる。
で表面分折が可能となる。
同様に操作によりデコーダ１−１はフオーマツ
ト発生回路２−４を起動して、第４図４のフオー
マツトを媒体に書き込むことによりトラツク全体
の表面分折ができることになる。
ト発生回路２−４を起動して、第４図４のフオー
マツトを媒体に書き込むことによりトラツク全体
の表面分折ができることになる。
以上説明したように従来開発された磁気デイス
ク装置のプログラムをエミユレーシヨンすること
により記録密度の高い媒体の読み書きを行う装置
において、上述する試験方法を採用することによ
り磁気デイスク媒体の全体に対する試験が可能と
なつた。
ク装置のプログラムをエミユレーシヨンすること
により記録密度の高い媒体の読み書きを行う装置
において、上述する試験方法を採用することによ
り磁気デイスク媒体の全体に対する試験が可能と
なつた。
第１図は磁気デイスク記録媒体上のデータフオ
ーマツトを説明する図、第２図は従来の試験装置
のブロツク図、第３図は、本発明の試験方法を行
うための試験装置の実施例説明図、第４図は、本
発明の実施例によるデータ記録状態を説明する図
である。 さらに図において、１はシーケンス発生回路、
２はフオーマツト発生回路、３は磁気デイスク装
置、４は判定回路、１−１はデコーダを示す。
ーマツトを説明する図、第２図は従来の試験装置
のブロツク図、第３図は、本発明の試験方法を行
うための試験装置の実施例説明図、第４図は、本
発明の実施例によるデータ記録状態を説明する図
である。 さらに図において、１はシーケンス発生回路、
２はフオーマツト発生回路、３は磁気デイスク装
置、４は判定回路、１−１はデコーダを示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 記録密度の低い磁気デイスク媒体に対応した
トラツク記録形式に相当するデータのバイト数を
計数してデータの終わりを示す擬似インデツクス
信号を発生することにより記録密度の高い磁気デ
イスク媒体にデータを記録する磁気デイスク装置
における磁気デイスク媒体の検査方法であつて、 最初１個のレコード記録を記録することにより
擬似インデツクス信号が発生するまでの間の媒体
の検査を行い、 次に該レコード部分に複数の小さなレコードを
記録することにより前記擬似インデツクス信号発
生位置より先の領域にレコードを記録可能として
当該領域にデータを記録して媒体の検査を行い、 さらに前記先に検査済の領域に複数の小さなレ
コードを記録することによりその先の領域にレコ
ードを記録可能としてこの領域にデータを記録し
て媒体の検査を行い、以下同様にこの操作を繰り
返すことによりトラツク全部の検査を行うことを
特徴とする磁気デイスク装置における磁気デイス
ク媒体の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11590881A JPS5818177A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 磁気デイスク装置における磁気ディスク媒体の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11590881A JPS5818177A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 磁気デイスク装置における磁気ディスク媒体の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5818177A JPS5818177A (ja) | 1983-02-02 |
| JPH0252832B2 true JPH0252832B2 (ja) | 1990-11-14 |
Family
ID=14674179
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11590881A Granted JPS5818177A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 磁気デイスク装置における磁気ディスク媒体の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5818177A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02262931A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-25 | Musashi Seimitsu Ind Co Ltd | ボールジョイントの割りピン孔位置決め装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0245157B2 (ja) * | 1980-05-10 | 1990-10-08 | Hitachi Electr Eng | Jikideisukubaitainoketsukankensahoho |
-
1981
- 1981-07-24 JP JP11590881A patent/JPS5818177A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5818177A (ja) | 1983-02-02 |
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