JPH0259431B2 - - Google Patents
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- JPH0259431B2 JPH0259431B2 JP57165678A JP16567882A JPH0259431B2 JP H0259431 B2 JPH0259431 B2 JP H0259431B2 JP 57165678 A JP57165678 A JP 57165678A JP 16567882 A JP16567882 A JP 16567882A JP H0259431 B2 JPH0259431 B2 JP H0259431B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、ソレノイド駆動回路の駆動素子の故
障及びソレノイドの短絡、断線をチエツクするソ
レノイド駆動回路のチエツク回路に関するもので
ある。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a check circuit for a solenoid drive circuit that checks for a failure in a drive element of a solenoid drive circuit, and for a short circuit or disconnection of a solenoid.
第1図及び第2図はソレノイド駆動回路の従来
例を示す図、第3図はドツト・インパクト・プリ
ンタの駆動部の概要を示す図である。図におい
て、1は駆動制御回路、2はフライバツク電圧制
御回路、3はインバータ、S1ないしSoはソレノイ
ド、Tr1ないしTrn、Q1とQ2はトランジスタ、
D1ないしDoはダイオード、R1ないしR5は抵抗、
Sはバネ、Mはマグネツト(永久磁石)、Aはア
マチユア、Pは印字ピンを示す。
1 and 2 are diagrams showing a conventional example of a solenoid drive circuit, and FIG. 3 is a diagram showing an outline of a drive section of a dot impact printer. In the figure, 1 is a drive control circuit, 2 is a flyback voltage control circuit, 3 is an inverter, S 1 to S o are solenoids, Tr1 to Trn, Q 1 and Q 2 are transistors,
D 1 to D o are diodes, R 1 to R 5 are resistors,
S indicates a spring, M indicates a magnet (permanent magnet), A indicates an armature, and P indicates a printing pin.
第1図において、ソレノイドS1ないしSnは、
例えばドツト・インパクト・プリンタのヘツド・
マグネツトであり、トランジスタTr1ないし
Trnにより駆動される。駆動制御回路1は、ドツ
ト・インパクト・プリンタに用いられる場合に
は、印字指令に基づいてトランジスタTr1ない
しTrnを選択的に制御して導通せしめ、ソレノイ
ドS1ないしSoを駆動する。ドツト・インパクト・
プリンタの駆動部は、第3図にその概要を示す如
く、通常、印字ピンを固着したアマチユアAが磁
気吸引力によつてマグネツトMに吸着されてい
る。このときバネSは力を蓄えた状態におかれ
る。このようなマグネツトMに対し、ソレノイド
S1ないしSoは、マグネツトMによる磁気吸引力を
除去するのに用いられる。ソレノイドS1ないしSo
が励磁されると、磁気吸引力が除去されるので、
バネSの力によつてアマチユアAが印字面側に移
動し、印字ピンによる印字が行われる。したがつ
て、ソレノイドS1ないしSoの駆動されるデユーテ
イ比は小さく、そのデユーテイで使用される場合
しかソレノイドの発熱等は保証されない。多くの
場合、ソレノイドに連続的に通電すると、発煙や
発火等の危険がある。このようなことが起るの
は、多くはソレノイド駆動素子であるトランジス
タTr1ないしTrnが損壊した場合であり、一点
鎖線内の回路がトランジスタTr1ないしTrnの
損壊を検出するチエツク回路である。チエツク回
路は、ソレノイドS1ないしSoに並列に夫々ダイオ
ードD1ないしDoを介して抵抗R1とR2が接続さ
れ、抵抗R1の両端の電圧がトランジスタQ1のベ
ース・エミツタ間に印加される。トランジスタ
Q1のコレクタには抵抗R3とR4が接続され、抵抗
R4の両端の電圧がトランジスタQ2のベース・エ
ミツタ間に印加される。そしてトランジスタQ2
のコレクタには、抵抗R5を介して電源VLが供給
されると共に、インバータ3が接続される。した
がつてチエツク回路は、ソレノイドS1ないしSoの
うち少なくとも1つに電源が流れていると、トラ
ンジスタQ1が導通し、トランジスタQ1の導通に
よつてトランジスタQ2も導通し、インバータ3
の入力端子が論理「0」レベルになるから、イン
バータ3から出力されるチエツク信号FIRは論理
「1」になる。このチエツク信号FIRは駆動制御
回路1が動作していないときにサンプリングする
と、トランジスタTr1ないしTrnが異常通電し
ているときには論理「1」になる。フライバツク
電圧制御回路2は、ソレノイドS1ないしSoに生じ
るフライバツク電圧を制御し、応答速度の改善を
図るものである。 In FIG. 1, solenoids S 1 to Sn are
For example, the head of a dot impact printer
It is a magnet, and the transistor Tr1 or
Driven by Trn. When used in a dot impact printer, the drive control circuit 1 selectively controls the transistors Tr1 to Trn to conduct on the basis of a print command, thereby driving the solenoids S1 to S0 . dot impact
As shown schematically in FIG. 3, in the printer drive section, normally, an armature A to which a printing pin is fixed is attracted to a magnet M by magnetic attraction force. At this time, the spring S is placed in a state of storing force. For such magnet M, solenoid
S 1 to S o are used to remove the magnetic attraction force caused by the magnet M. Solenoid S 1 to S o
When is excited, the magnetic attraction is removed, so
The armature A is moved toward the printing surface by the force of the spring S, and printing is performed using the printing pin. Therefore, the duty ratio at which the solenoids S 1 to S o are driven is small, and heat generation of the solenoids is guaranteed only when used at that duty. In many cases, if a solenoid is continuously energized, there is a risk of smoke or fire. This often occurs when the transistors Tr1 to Trn, which are solenoid drive elements, are damaged, and the circuit within the dash-dotted line is a check circuit that detects damage to the transistors Tr1 to Trn. In the check circuit, resistors R 1 and R 2 are connected in parallel to solenoids S 1 to S o via diodes D 1 to D o , respectively, and the voltage across resistor R 1 is applied between the base and emitter of transistor Q 1 . applied. transistor
Resistors R 3 and R 4 are connected to the collector of Q 1 , and the resistors
The voltage across R4 is applied between the base and emitter of transistor Q2 . and transistor Q 2
A power supply V L is supplied to the collector of the inverter 3 via a resistor R 5 and the inverter 3 is connected to the collector of the inverter 3 . Therefore, in the check circuit, when power is flowing to at least one of the solenoids S1 to S0 , transistor Q1 becomes conductive, and as transistor Q1 becomes conductive, transistor Q2 also becomes conductive, and the inverter 3
Since the input terminal of the inverter 3 becomes a logic "0" level, the check signal FIR output from the inverter 3 becomes a logic "1". If this check signal FIR is sampled when the drive control circuit 1 is not operating, it becomes logic "1" when the transistors Tr1 to Trn are abnormally energized. The flyback voltage control circuit 2 controls the flyback voltage generated in the solenoids S1 to S0 to improve response speed.
ソレノイドS1ないしSoを駆動するトランジスタ
Tr1ないしTrnとしてNPNタイプのものを用い
た例を示したのが第1図であるが、第2図は、ト
ランジスタTr1ないしTrnとしてPNPタイプの
ものを用い駆動電源側に接続する例を示したもの
である。第2図の駆動回路の構成によると、チエ
ツク回路は、第1図に示したトランジスタQ2と
抵抗R3とR4が不要となり、回路構成が簡素化さ
れる。チエツク回路のチエツク信号FIRは、第1
図に示した回路と同様に、トランジスタTr1な
いしTrnのうち少くとも1個が導通状態にある
と、論理「1」となるので、駆動制御回路1が動
作していないときにこのチエツク信号FIRをサン
プリングすることによつて、トランジスタTr1
ないしTrnの異常通電の有無をチエツクすること
ができる。 Transistor that drives solenoid S 1 or S o
Figure 1 shows an example in which NPN type transistors are used as Tr1 to Trn, while Figure 2 shows an example in which PNP type transistors are used as transistors Tr1 to Trn and are connected to the drive power supply side. It is something. According to the structure of the drive circuit shown in FIG. 2, the check circuit does not require the transistor Q 2 and the resistors R 3 and R 4 shown in FIG. 1, and the circuit structure is simplified. The check signal FIR of the check circuit is
Similar to the circuit shown in the figure, when at least one of the transistors Tr1 to Trn is in a conductive state, the logic becomes "1", so when the drive control circuit 1 is not operating, this check signal FIR is By sampling, transistor Tr1
It is also possible to check whether there is abnormal energization of TRN.
しかしながら、第1図及び第2図に示した従来
のチエツク回路では、ソレノイドS1ないしSoの駆
動素子であるトランジスタTr1ないしTrnの異
常通電はチエツクできても、ソレノイドS1ないし
Soの断線をチエツクすることはできないのが欠点
である。 However, in the conventional check circuit shown in FIGS. 1 and 2, although it is possible to check for abnormal energization of the transistors Tr1 to Trn , which are the drive elements of the solenoids S1 to S0 ,
The disadvantage is that it is not possible to check for disconnections in the SO .
本発明は、上記の欠点を除去するものであつ
て、ソレノイドの駆動素子のチエツクと共にソレ
ノイドのチエツクも可能なソレノイド駆動回路の
チエツク回路を提供することを目的とするもので
ある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to eliminate the above-mentioned drawbacks and to provide a check circuit for a solenoid drive circuit which is capable of checking the solenoid as well as checking the drive element of the solenoid.
そのために本発明のソレノイド駆動回路のチエ
ツク回路は、複数組のソレノイドとソレノイド駆
動素子との直列回路、該直列回路に給電する駆動
電源、及び上記ソレノイド駆動素子をスイツチン
グ制御する駆動制御回路を備えたソレノイド駆動
回路において、上記複数組の直列回路の夫々の直
列接続点に抵抗の一端とダイオードの一端が接続
され、上記抵抗の他端がスイツチング素子の一端
に共通接続され、該スイツチング素子の他端が上
記駆動電源の端子のうち上記ソレノイド駆動素子
の接続側の端子に接続され、上記ダイオードの他
端がチエツク用抵抗回路の一端に接続され、該チ
エツク用抵抗回路の他端が上記駆動電源の端子の
うち上記ソレノイドの接続側の端子に接続される
と共に上記チエツク用抵抗回路がレベル判定回路
に接続されたチエツク回路を備え、上記レベル判
定回路は、上記複数組の直列回路のうち少なくと
も1組の直列回路のソレノイド駆動素子が導通し
且つ当該直列回路のソレノイドが短絡していない
とき、及び/又は上記スイツチング素子が導通し
且つ上記複数組の直列回路のうち少なくとも1組
の直列回路のソレノイドが断線しているときに所
定レベルにあると判定され、上記スイツチング素
子が導通し且つ上記複数組の直列回路の全てのソ
レノイドが断線していないときには所定レベルに
ないと判定されるように判定レベルが定められて
いることを特徴とするものである。
To this end, the check circuit of the solenoid drive circuit of the present invention includes a series circuit of a plurality of sets of solenoids and a solenoid drive element, a drive power source that supplies power to the series circuit, and a drive control circuit that switches and controls the solenoid drive element. In the solenoid drive circuit, one end of a resistor and one end of a diode are connected to each series connection point of the plurality of series circuits, the other end of the resistor is commonly connected to one end of a switching element, and the other end of the resistor is connected to one end of a switching element. is connected to the terminal on the connection side of the solenoid drive element among the terminals of the drive power supply, the other end of the diode is connected to one end of the check resistance circuit, and the other end of the check resistance circuit is connected to the terminal of the drive power supply. A check circuit is provided, which is connected to a terminal on the connection side of the solenoid among the terminals, and in which the check resistance circuit is connected to a level determination circuit, and the level determination circuit is connected to at least one set of the plurality of series circuits. When the solenoid driving element of the series circuit is conductive and the solenoid of the series circuit is not short-circuited, and/or the switching element is conductive and the solenoid of at least one series circuit of the plurality of series circuits is conductive. The determination level is such that it is determined that the switching element is at a predetermined level when the wire is disconnected, and is determined to be not at the predetermined level when the switching element is conductive and all solenoids in the plurality of series circuits are not disconnected. It is characterized by the following:
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明
する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第4図は本発明の1実施例を示す回路図、第5
図は本発明のチエツク回路によるチエツクのアル
ゴリズムを示す図である。第4図において、第2
図と同一の記号のものは第2図と同一のものを示
し、4はチエツク制御回路、5は比較回路、Q3
はトランジスタ、Vrは比較基準電圧、Ra1ない
しRanは抵抗を示す。 FIG. 4 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG.
The figure shows a check algorithm by the check circuit of the present invention. In Figure 4, the second
The same symbols as in the figure indicate the same as in Figure 2, 4 is the check control circuit, 5 is the comparison circuit, Q 3
is a transistor, Vr is a comparison reference voltage, and Ra1 to Ran are resistances.
本発明に適用されるチエツク回路は、第4図に
示すように、ソレノイドS1ないしSoとそれを駆動
するトランジスタTr1ないしTrnとの直列回路
群の夫々の直列接続点にダイオードD1ないしDo
の一端及び抵抗Ra1ないしRanの一端を接続し、
ダイオードD1ないしDoは、その他端を共通接続
して抵抗R1とR2を通してソレノイドS1ないしSo
側の電源端子に接続すると共に、抵抗Ra1ない
しRanは、その他端を共通接続してトランジスタ
Q3を通してトランジスタTr1ないしTrn側の電
源端子に接続する。そして、抵抗R2の両端の電
圧が比較回路5において比較基準電圧Vrと比較
される。比較回路5の出力がインバータ3に送ら
れ、インバータ3の出力がチエツク信号FIRとさ
れる。比較回路5は、トランジスタTr1ないし
Trnのうち少なくとも1個が導通状態で且つ対応
するソレノイドS1ないしSoに正常の駆動電流に近
い電流が流れている場合には出力が論理「0」に
なり、トランジスタTr1ないしTrnの全てが非
導通状態にある場合には出力が論理「1」になる
ようにスライス・レベルが定められるものであ
る。 As shown in FIG. 4, the check circuit applied to the present invention includes diodes D1 to D at each series connection point of a series circuit group of solenoids S1 to S0 and transistors Tr1 to Trn that drive them. o
Connect one end and one end of resistor Ra1 or Ran,
The other ends of the diode D 1 or D o are connected in common and connected through the resistors R 1 and R 2 to the solenoid S 1 or S o.
In addition to connecting the resistors Ra1 to Ran to the side power supply terminal, the other ends of the resistors Ra1 to Ran are connected in common and the transistor
Connect to the power supply terminal of transistor Tr1 or Trn through Q3 . Then, the voltage across the resistor R 2 is compared with the comparison reference voltage Vr in the comparator circuit 5. The output of the comparison circuit 5 is sent to the inverter 3, and the output of the inverter 3 is used as the check signal FIR. The comparison circuit 5 includes transistors Tr1 to
When at least one of the transistors Trn is conductive and a current close to the normal drive current flows through the corresponding solenoid S1 to S0 , the output becomes logic "0" and all of the transistors Tr1 to Trn The slice level is determined so that the output becomes logic "1" when in a non-conducting state.
本発明は、第5図に示すようにテスト1ないし
テスト3を行うことによつて、駆動素子の不良、
駆動素子のドライブ系の不良、ソレノイドの短絡
及びソレノイドの断線を検出するものである。以
下、第4図及び第5図を参照しつつ本発明による
チエツク方式を説明する。 The present invention detects defects in drive elements by performing Tests 1 to 3 as shown in FIG.
This detects defects in the drive system of the drive element, short circuits in the solenoid, and disconnections in the solenoid. The check system according to the present invention will be explained below with reference to FIGS. 4 and 5.
テスト1では、駆動制御回路1がトランジスタ
Tr1ないしTrnを駆動していない状態でチエツ
ク信号FIRをサンプリングする。このときトラン
ジスタQ3も非導通にされる。電源投入時のテス
ト1において、チエツク信号が論理「1」の場合
には、トランジスタTr1ないしTrnの少なくと
も1個が導通していることを意味する。この場合
には、導通しているトランジスタTr1ないし
Trnが不良であると判定される。これを放置する
と、対応するソレノイドS1ないしSoが連続通電さ
れ、先に述べたようにソレノイドS1ないしSoの発
煙や発火等の危険があるため、電源(V+)を切
断する処置がとられる。電源投入時のテスト1に
おいて、チエツク信号が論理「0」の場合には、
次にテスト2が行われる。 In test 1, drive control circuit 1 is a transistor
The check signal FIR is sampled while Tr1 to Trn are not being driven. At this time, transistor Q3 is also rendered non-conductive. In test 1 at power-on, if the check signal is logic "1", it means that at least one of the transistors Tr1 to Trn is conductive. In this case, the conducting transistor Tr1 or
Trn is determined to be defective. If this is left unattended, the corresponding solenoid S 1 to S o will be continuously energized, and as mentioned earlier, there is a risk of smoking or fire from the solenoid S 1 or S o , so it is necessary to take measures to disconnect the power supply (V+). Be taken. In test 1 at power-on, if the check signal is logic "0",
Test 2 is then performed.
テスト2では、駆動制御回路1によつてトラン
ジスタTr1ないしTrnを1個ずつ順次駆動し、
駆動中のチエツク信号FIRをサンプリングする。
このテスト2において、チエツク信号FIRが論理
「1」にならない場合には、駆動信号に対応する
トランジスタTr1ないしTrnが導通しない即ち
ドライブ系の不良か、或は対応するトランジスタ
Tr1ないしTrnが導通しても抵抗R2の両端に電
圧が生じない即ちソレノイドの短絡と判定され
る。この場合には駆動不能アラームが出力され
る。テスト2において、チエツク信号FIRが全ト
ランジスタTr1ないしTrnについて論理「0」
であつた場合には、次にテスト3が行われる。 In test 2, the drive control circuit 1 sequentially drives the transistors Tr1 to Trn one by one.
Sample the check signal FIR during driving.
In this test 2, if the check signal FIR does not become logic "1", the transistors Tr1 to Trn corresponding to the drive signal are not conducting, that is, the drive system is defective, or the corresponding transistor is defective.
Even if Tr1 to Trn are conductive, no voltage is generated across the resistor R2 , that is, it is determined that the solenoid is short-circuited. In this case, a drive failure alarm is output. In test 2, check signal FIR is logic "0" for all transistors Tr1 to Trn.
If so, then test 3 is performed.
テスト3では、全てのトランジスタTr1ない
しTrnが駆動されていない状態の下で、チエツク
制御回路3によつてトランジスタQ3を導通させ、
チエツク信号FIRをサンプリングする。このテス
ト3において、チエツク信号FIRが論理「0」で
ある場合には駆動回路が正常であると判定され
る。駆動回路の正常が確認されると、その後はテ
スト3を繰返し行い、或いはテスト2を行つてそ
の後の故障発生を監視する。テスト3において、
チエツク信号FIRが論理「1」である場合には再
度テスト1が行われる。ここで行われるテスト1
において、チエツク信号FIRが論理「1」の場合
には、先に述べたと同様に、トランジスタTr1
ないしTrnの不良と判定されて電源(V+)切断
の処置がとられるが、チエツク信号FIRが論理
「0」の場合には、ソレノイドS1ないしSoの断線
と判定され、駆動不能アラームを出力する処置が
とられる。即ち、ソレノイドS1ないしSoが断線し
た場合には、テスト2において、トランジスタ
Q1及び抵抗Ra1ないしRanを通してトランジス
タS1ないしSoに流れる電流がその断線したソレノ
イドS1ないしSoに対してのみ流れなくなり、その
結果対応するダイオードD1ないしDoのアノード
電位が上昇し、比較回路5の出力を論理「0」、
チエツク信号FIRを論理「1」にする。しかし、
テスト1では、トランジスタTr1ないしTrnが
不良でない限り、ソレノイドS1ないしSoの正常、
異常に関係なくチエツク信号FIRが論理「0」に
なる。したがつて、ソレノイドの断線は、テスト
1とテスト3の結果によつて判定される。 In test 3, transistor Q3 is made conductive by check control circuit 3 while all transistors Tr1 to Trn are not driven.
Sample the check signal FIR. In this test 3, if the check signal FIR is logic "0", it is determined that the drive circuit is normal. Once it is confirmed that the drive circuit is normal, test 3 is then repeated, or test 2 is performed to monitor the occurrence of subsequent failures. In test 3,
If the check signal FIR is logic "1", test 1 is performed again. Test 1 conducted here
In this case, when the check signal FIR is logic "1", the transistor Tr1
If the check signal FIR is logic "0", it is determined that the solenoid S 1 or S o is disconnected, and a drive failure alarm is output. Actions will be taken to That is, if solenoid S 1 or S o is disconnected, in test 2, the transistor
The current flowing through the transistors S 1 to S o through Q 1 and the resistors Ra 1 to Ran stops flowing only to the disconnected solenoid S 1 to S o , and as a result, the anode potential of the corresponding diode D 1 to D o rises. , the output of the comparison circuit 5 is logic "0",
Set the check signal FIR to logic "1". but,
In test 1, unless transistors Tr1 to Trn are defective, solenoids S1 to S o are normal;
The check signal FIR becomes logic "0" regardless of the abnormality. Therefore, disconnection of the solenoid is determined based on the results of Test 1 and Test 3.
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、従来のチエツク回路にトランジスタと抵抗に
よる簡単な回路を追加するだけで、ソレノイド駆
動回路の駆動素子の故障だけでなく、ドライブ系
やソレノイドの短絡、断線をも検出でき、しか
も、故障の内容を解析できるので故障の内容毎の
対応処置をとることもできる。
As is clear from the above description, according to the present invention, by simply adding a simple circuit using a transistor and a resistor to the conventional check circuit, it is possible to prevent not only the failure of the drive element of the solenoid drive circuit but also the failure of the drive system and solenoid. Short circuits and disconnections can also be detected, and since the details of the failure can be analyzed, countermeasures can be taken for each type of failure.
第1図及び第2図はソレノイド駆動回路の従来
例を示す図、第3図はドツト・インパクト・プリ
ンタの駆動部の概要を示す図、第4図は本発明の
1実施例を示す回路図、第5図は本発明のチエツ
ク回路によるチエツクのアルゴリズムを示す図で
ある。
1……駆動制御回路、2……フライバツク電圧
制御回路、3……インバータ、4……チエツク制
御回路、5……比較回路、S1ないしSo……ソレノ
イド、Tr1ないしTrn、Q1,Q2とQ3……トラン
ジスタ、D1ないしDo……ダイオード、R1ないし
R5及びRa1ないしRan……抵抗、Vr……比較基
準電圧。
1 and 2 are diagrams showing a conventional example of a solenoid drive circuit, FIG. 3 is a diagram showing an outline of a drive section of a dot impact printer, and FIG. 4 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention. , and FIG. 5 are diagrams showing a check algorithm by the check circuit of the present invention. 1...Drive control circuit, 2...Flyback voltage control circuit, 3...Inverter, 4...Check control circuit, 5...Comparison circuit, S1 to S o ...Solenoid, Tr1 to Trn, Q1 , Q 2 and Q 3 ... transistor, D 1 or D o ... diode, R 1 or
R5 and Ra1 or Ran...Resistance, Vr...Comparison reference voltage.
Claims (1)
の直列回路、該直列回路に給電する駆動電源、及
び上記ソレノイド駆動素子をスイツチング制御す
る駆動制御回路を備えたソレノイド駆動回路にお
いて、上記複数組の直列回路の夫々の直列接続点
に抵抗の一端とダイオードの一端が接続され、上
記抵抗の他端がスイツチング素子の一端に共通接
続され、該スイツチング素子の他端が上記駆動電
源の端子のうち上記ソレノイド駆動素子の接続側
の端子に接続され、上記ダイオードの他端がチエ
ツク用抵抗回路の一端に接続され、該チエツク用
抵抗回路の他端が上記駆動電源の端子のうち上記
ソレノイドの接続側の端子に接続されると共に上
記チエツク用抵抗回路がレベル判定回路に接続さ
れたチエツク回路を備え、上記レベル判定回路
は、上記複数組の直列回路のうち少なくとも1組
の直列回路のソレノイド駆動素子が導通し且つ当
該直列回路のソレノイドが短絡していないとき、
及び/又は上記スイツチング素子が導通し且つ上
記複数組の直列回路のうち少なくとも1組の直列
回路のソレノイドが断線しているときに所定レベ
ルにあると判定され、上記スイツチング素子が導
通し且つ上記複数組の直列回路の全てのソレノイ
ドが断線していないときには所定レベルにないと
判定されるように判定レベルが定められているこ
とを特徴とするソレノイド駆動回路のチエツク回
路。1. In a solenoid drive circuit comprising a series circuit of a plurality of sets of solenoids and a solenoid drive element, a drive power supply for supplying power to the series circuit, and a drive control circuit for switching control of the solenoid drive element, the plurality of sets of series circuits One end of a resistor and one end of a diode are connected to each series connection point, the other end of the resistor is commonly connected to one end of a switching element, and the other end of the switching element is connected to one of the terminals of the drive power source for the solenoid drive element. The other end of the diode is connected to one end of the check resistance circuit, and the other end of the check resistance circuit is connected to the connection side terminal of the solenoid among the terminals of the drive power source. and a check circuit in which the check resistor circuit is connected to a level determination circuit, and the level determination circuit is configured such that the solenoid driving element of at least one series circuit among the plurality of series circuits is conductive and the check resistor circuit is connected to a level determination circuit. When the solenoid in the series circuit is not shorted,
and/or it is determined that the switching element is at a predetermined level when the switching element is conductive and the solenoid of at least one series circuit of the plurality of series circuits is disconnected; A check circuit for a solenoid drive circuit, characterized in that a determination level is determined such that it is determined that the level is not at a predetermined level when all solenoids in a set of series circuits are not disconnected.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57165678A JPS5954977A (en) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | Checking circuit for solenoid drive circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57165678A JPS5954977A (en) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | Checking circuit for solenoid drive circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5954977A JPS5954977A (en) | 1984-03-29 |
| JPH0259431B2 true JPH0259431B2 (en) | 1990-12-12 |
Family
ID=15816954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57165678A Granted JPS5954977A (en) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | Checking circuit for solenoid drive circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5954977A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9006091D0 (en) * | 1990-03-17 | 1990-05-16 | Eaton Corp | Transducer fault test logic |
| JPH0652493U (en) * | 1991-03-11 | 1994-07-19 | 利昭 菊地 | Nori smoothing machine |
| JP2013250258A (en) * | 2012-05-01 | 2013-12-12 | Denso Corp | Short-circuit detector |
-
1982
- 1982-09-22 JP JP57165678A patent/JPS5954977A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5954977A (en) | 1984-03-29 |
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